TWI309222B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TWI309222B
TWI309222B TW94129280A TW94129280A TWI309222B TW I309222 B TWI309222 B TW I309222B TW 94129280 A TW94129280 A TW 94129280A TW 94129280 A TW94129280 A TW 94129280A TW I309222 B TWI309222 B TW I309222B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
piece
work
web
workstation
predetermined
Prior art date
Application number
TW94129280A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200708462A (en
Inventor
shao-ren Lv
wen-cheng Zhang
Original Assignee
Utechzone Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Utechzone Co Ltd filed Critical Utechzone Co Ltd
Priority to TW094129280A priority Critical patent/TW200708462A/zh
Publication of TW200708462A publication Critical patent/TW200708462A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI309222B publication Critical patent/TWI309222B/zh

Links

Landscapes

  • Specific Conveyance Elements (AREA)
  • Sliding-Contact Bearings (AREA)

Description

1309222 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 承般*發月&有關於—種工作系統’特別是指—種且有二 【先前:】數料_、統上移載的雙承盤工細。 載:Γ:系統係用以移載複數料片,在系統對料片移 =中’料片通過複數工作站,該等工作站可為檢測儀 片工作的裝置。以工作站是檢測儀並用以 執订檢測功能來說,該承盤工作系統即為一檢測系統η。 /閱圖1、圖2 ’在此以習知之晶圓料片檢測機 說明,其包含前述檢測系統^、—輸送“ 12 一中沖 制一進料機械手臂14,及—出料機械手臂15。 该輸送系統12用以輸人及輸出托盤16,該托盤^可 置多數個待檢測料片⑹,並從輸送系統^之一進口位 未示)進入’經中央控制單元13統籌控制而被輸送至 厂檢剛糸統U附近。進料機械手臂14將托盤^上之待檢 則料片161置入檢測系統u _,中央控制單元則依是否 達到檢測標準而分別收集—符合檢測標準的料片i6i,透過 出料機械手臂15置放料送系統12之—特定位置上的托 盤Μ收集’·未符合檢測標準的料片161,則置放於輸送系 統12之另一特定位置上的托盤16收集。 檢測系統U包含-工作承盤⑴、四台檢測儀心、 ll2b、112c、112d’及二翻轉裝置113。其中,每一檢測儀 U2係為感光耦合裝置(Charge c〇up〗ed Devic幻簡稱 1309222 攝像儀,各設置於該工作承盤〗丨丨之 叫’力對每一通過苴 -作區的料片161數位存像,並將數據送㈣央控制單^ 13加以比對,其中檢測儀U2a、mb負責檢測料片⑹之 正面而檢測儀收、_則負責檢測料片⑹之反面。 =作承盤⑴係呈圓形並於其頂面靠近外緣處 =^用以夾置料片⑹用的治具114,㈣工作⑲ ^ 6G度㈣角度持續順時針旋轉後並作預定時間 的停留:且檢測儀〗12之工作區域與工作承盤⑴之各個治 具114每次所停留的位置相對應。 將托機械手f 14配合工作承盤111每次停留的時間, 將托盤16上的所有料片161以每次一個 承盤111之並中一'.Λ呈七 、砂王以工作 +…”中…具114内。以其中-料片161而言,其 檢測系統11中的檢測過程包括下述六個步驟: 。一、進料機械手臂14將該料片161移至-治具114内 二、、該料片⑹受治具114夾持而隨該承盤lu旋轉移 具U4轉往檢測儀112a之工作區域下停留,使料 …正面文檢’在這停留時間内該進料機械手臂Μ又將 料片161補入工作承盤ill之另-個治具114内。 卩承盤111再旋轉60度,先前在該檢測儀112a 品域下的治具114移轉至檢測儀⑽之卫作區域下, —1/ 161正面停留再受檢;同時,進料機械手臂14又補 ;片ί61於工作承盤111之另一治具114上,而原來由進 料機械手劈14 a 向原术由進 補入的料片161則隨著治具U4被移轉至檢 1309222 測儀112a停留受檢。因此,工作承盤U1每一次旋轉而停 留,該等機械手臂14及檢測儀i12a、U2b皆重複一次動作 並互相配合。 四..完成檢測儀112b檢測的料片161持續因工作承盤 111的旋轉而抵達檢測儀U2c。配合參閱圖3,由於檢測儀 112c係用以檢測料片161之背面,因此當工作承盤丨丨丨旋 轉到位並作停留,-位於工作承盤lu與檢測儀mc之間 的翻轉裝置113將該料片161由正面以吸嘴117從治具114 内吸起,使該料>;161自ji作承盤lu如圖中箭號〗方向作 18〇度垂直翻轉,翻轉後該料片161之背面朝上並置於檢測 儀1…之卫作區域,待檢測完畢之後,翻轉裝置ιΐ3又將 料片⑹沿反箭號!的方向翻轉⑽度回來,再置回原來放 置該料片161的治具114上。 卜々傲丄丄丄的硬轉 而抵達檢測儀112d而進行如同卜汁沾料
檢測方式。 $仃如冋上述的枓片⑹翻轉的背面 1 i d T乃1 G I隨著工作承般 料的抵Γ片輸出位置116並作停留讀^ 對==側的出料機械手臂15將該料… 舍好σ檢’貝J才承準而發屮批人 a 該料…至輸送系:特::料置機械手… 放,如此,從料片⑹的輸入至Η置上的托盤16置 托^上的料片⑹皆檢不斷的循環直至該等 7 1309222 由以上可知,工作承盤lu每次旋轉後所停留的時間, 相當於配合各元件的工作時間,以六片進料的工作承盤⑴ 來說,除了輸入與輸出步驟之外,主要還有檢測兩次料片 ⑹正面及兩次料片161背面,其中又以料片i6i背面的檢 測耗時最久,以上述的過程看來每一背面檢 —翻轉裝置113將粗η〗以… 而要叹有 測完再反, Μ具114㈣起後翻轉’待檢 二 …置放於治具114内’因此以時間上來說,除 了人反轉之而時外尚需加上料月161受檢測儀Η ^的基本時間,因此社作承盤⑴每—次的停留時間^ 1配合該—翻轉而延君,因此拖緩了總體檢測的效率。 【發明内容】 因此’本發明之目的,即在提供一種利用二工作 分別對於料片的IP c = t ^ 作系統。 、®工作以提高工#效率的雙承盤工 包含-第-承盤、至少一第一工作站 第一工作站,及一翻轉裝置 本發明雙承盤卫作系統係用以移載複數料片, 一第一 :¾無、f_ 一第二承盤、至少 可供==複數間隔設置於該承盤頂面近外緣處且各 立每1 m卩m繞細減轉,並使 其母—㊅置部依衫時抵達至少-預^作位置、至Γ 預定搬移位置。 至少— 作位罟料叹置於該第-承盤之-側且對應其預定工 ,兮承盤之一权置部抵達該預定工作位置 "卫作站可對該設置部上的料片工作;第二工作站 1309222 設置於該第二承盤之— ^ ^對應其n作位置處,當胃 第-承盤之u部抵達㈣定 可對該設置部上的料片工作。 "亥第一工作站 每-工作站可為檢測儀或是任何可對科片工作 ,而所述之工作位署总* 展置 置係為工作站所能完成其工作内容 效區域,且該承盤的預定工 作區。 ™立罝即對應每一工作站的工 該翻轉裝置設置於兮笛 墙 第一、第二承盤之間,當該第- 承盤之一设置部上之料片姆兮楚 窨邱垃嬙J去 、、、〜第一工作站的工作,且該設 置邛接續抵達該預定搬移位置時, T成翻轉裝置將該設置部 上之料片持起後翻面,並置放 .^ 置放於5亥第一承盤1,藉此該第 一工作站可接續對該料片工作。 【實施方式】 有關本發明之前述及其他技術内容、特點與功效,在 以下配合參考圖式之一個較佳實施例的詳細說明中,將可 清楚的呈現。 參閱圖4,本發明雙承盤工作 —糸、,死之較佳實施例係應用 f一晶圓料片檢測機中,作為一檢測系統3使用。該晶圓 料片檢測機更包含-輸送系統2、_中央控制單元4、一進 料機械手臂5,以及一出料機輔丰辟 機械手# 6。該檢測系統3包含 —第一承盤31、四個工作站32、— 弟一承盤33、一第一翻 轉裝置34,及一第二翻轉裝置3 Μ其中’工作站的數目可 依工作目的及需求作調整,本竇 ^ +貫知例中,該等工作站32即 為CCD攝像儀,用以檢測每一料 枓片71之正、反兩面而分為 1309222 第—正面攝像儀321、一第二正面攝像儀 面攝像儀323,及一第二反面攝像儀324。…2、—第—反 載滿料片7丨的托盤7透過該輸送2朝該 3移送’進料機械手臂5可將該托盤7上的料片71」統 入檢測系統3,由各攝像儀321〜324 &測 = 32W24檢測出的數據即傳送至該中央控制單元4交 ,然後分別將符合或未符合檢測標準的料片71 “料機 手臂6將該料片71置於該輸送系統2之托盤7上收集 :例中’第一承…第二承盤33具有相同的 二構、規格以及運作模式,其中第—承盤31係專供攝像儀 321、322檢測料g +工工 尬 儀⑺” 之正面’而第二承盤33係專供攝像 儀324檢測料片71之背面。該等承盤31、33皆且有 四個平均設置於承盤31、33頂面而鄰近外緣且各可供二料 片71置放的設置部,而實施例中的每-設置部是為一'可夾 置-料片71的治具35。其中,該等攝像儀32ι〜似之 區皆能對應到各承盤31、33之治具35所預定停留的位置 上0 該第一承盤每次以9G度的順時針角度繞其心轴持 續旋轉後並作預定時間的停留,而每一次的停留,該進料 機械手臂5可將托盤7上的料片71 一次以一個的方式持起 ,並以料片71正面朝上的方向置人對應治具35内。 方才置入治具35内的料片71隨即受該治具^炎持並 隨著第一承盤31、經90度的旋轉而抵達下一預定停留的位 置’而該位置則為該第一正面攝像儀321的工作區域,在 10 1309222 述進料及檢測之動作 dr迢的時間内’該第一正面攝像儀32i對該一料片η進 行攝影並將數據傳往中央控制單丨4比對,同時,該進料 機械手臂5再將一新的料片7i置入下一個治具35上。如 此又第it面攝像儀321檢測的該料片71以相同的方式 再以90度的旋轉而抵達下—個預定停留的位置,並受工作 區位在該位置上的第二正面攝像冑322檢測,同時,該 料機械手f 5及該第—正面攝像儀321又分別重複—次上 。亥第一承盤33同樣具有四個平均設置於該承盤頂 面而鄰近外緣且各可供-料片71置放的治具35,而該第_ 翻轉裝置34則設置於二承盤31、33之間。參閱圖5及圖6 ,該第-翻轉裝置34包括一具有一吸嘴⑷的第一取放臂 341及—具有一吸嘴344的第二取放臂342,位於該第二正 面攝像儀322的工作區的治具35經由第—承盤31持續旋 轉9〇度而抵達到一搬移位置311停留,此時容置該料片η 的治具35打開並由該第—取放f 341之吸嘴由正面吸起該 料片並朝第一取放臂341迴轉18〇度而使該料片 面且移出第一承盤3卜由第二取放臂342之吸嘴344從料 片7】之反面吸起且承接,再沿圖5 t箭號π方向置入該第 =盤33之-搬移位置311上的治具%内,此時移動到對 立置上的治具35亦已為打開而供料片71置入的狀態。 ' :上此時5亥料片71已經翻面’接下來該第二承盤33 亦以母··人90度的順時針方向直續旋轉後作預定時間的停留 ’並且逐—通過該第—反面攝料323及該第二反面攝像 11 1309222 的工作區域檢測,並由該等檢測裝 $ /由·»r n » 夏 ' 324 據再傳至該t切制單元4比對 在財㈣料,本實施财 方向係同樣為順時針旋轉且皆為间牛― 的疑轉 宽n , 疋轉且白為问步的動作’也就是說告 弟-承盤3】順時針旋轉9〇度 ^田 針旋轉90谇乐—承盤33也順時 、,轉纟,並作相同時間的停留。第二承盤3 逆時針的方向旋轉,/λ可以 ^ /、需使第一及第二反面攝像儀+ 工作區配合第二承盤33 輯儀324之 此外,卫作站32的數目可如留的位置即可。 咅料㈣f求增減,但要注 忍的疋該等承盤31、33上的、、Λ且以如 戈〆王 毒-計的"具35數目以及承盤31、33 每_人㈣轉㈣度亦需隨工作站Κ的數目調整。 通過該等反面攝像儀323、324工 ^ Μ 5 __ 44 u ±Λ . 乍區的一具35將被 方疋轉至#片輸出位置37停留,被 35打開並由該第二_裝置38將㈣U 71從該治且的治具 持起後翻面’使得該料片71正面再声朝上°〆〜、35内 械手臂6從正面承接料片71並由該中〜控制單元=料機 機械手臂6依照是否符合檢測的標準而將該 於該輸送系統2之托盤7上收集。 彳片71置敌 歸納上述,本發明雙承盤工作系 33同步的動作使㈣71於該等承盤3卜3兩承盤卜 攝像儀32卜324之取像,相較 移载並受各 詻昍茲士德λ船 知早一承盤的結構,太 =雙承盤31、33的設計’專以第—承盤31檢‘ 將料片/番rm 33 _科片71之背面’因此可 將抖片71翻轉的動作與定點檢測的動作分開,不需如2 12 1309222 2在m翻出、檢測、翻回,因此每次承盤3卜33 ρ, χ 縮 亦即大幅縮短料片71檢測時 間’提高整體效率。 &惟以上所述者,僅為本發明之較佳實施例而已,當不 =此限定本發明實施之範圍,即大凡依本發明中請專利 已圍及發明說明内容所作之簡單的等效變化與修飾,皆仍 屬本發明專利涵蓋之範圍内。
【圖式簡單說明】 圖1是-俯視圖,說明習知承盤工作系統為一檢測系 統’而該-檢測系統應祕—晶圓料片檢測機中; 圖2是一侧視圖’說明治具因工作承盤的旋轉而轉往 個檢測儀之作區域下停留並使料片正面受檢; 圖3疋侧視圖,說明第一翻轉裝置將一料片從一治 具上由正面吸起’並朝—第三個檢測儀作⑽度翻轉後停 留受檢’檢測後該第一翻轉裝置又將料片反方向翻轉回來 而再置回該治具上; 圖4是-晶圓料片檢測機之示意圖,說明本發明雙承 盤工作系統之較佳實施例係使用於該晶圓料片檢測機之一 檢測系統中; 圖5疋侧視圖,說明本實施例中之一第一翻轉裝置 將-位於一搬移位置上的料片由一第一取放臂之吸嘴由正 面吸起’並朝該第二承盤迴# 18G度而使該料片翻後,由 該第二取放臂之吸嘴由料片之反面吸起且承接,·及 圖6是-類似圖5之視圖,第二取放臂之吸嘴承接該 13 1309222 第一取放臂上之料片,再以料片反面朝上之方向置入該第 二承盤之一搬移位置上的治具。
14 1309222 【主要元件符號說明】 2 ....... ----輸送糸統 3 ....... •…檢測系統 31…… …·第一承盤 311 ···. …·搬移位置 32…… …·工作站 321… —苐 正面攝像儀 322 ·· •…第二正面攝像儀 323 ·_·_ …·弟 反面攝像儀 324… •…第二反面攝像儀 33…… •…第二承盤 34…… •…第一翻轉裝置 341 ··· …·第一取放臂 342 …·第二取放臂 343 ..... ••吸嘴 344 ••吸嘴 35....... ••治具 36....... ••料片輸入位置 37....... ••料片輸出位置 38....... ••第二翻轉裝置 4 ........ ••中央控制單元 5 ........ …進料機械手臂 6 ........ …出料機械手臂 7 ........ ••托盤 71....... ••料片 I〜Π 箭號
15

Claims (1)

1309222 十、申專利_說”替換修…:97.12) 卞申請專利範圍: 1. 一種雙承盤工作系統,用以移載複數料片,包含: 帛纟盤與一第二承盤’各具有複數間隔設置於 έ亥承盤頂面近外繞盧日& „·ρ 7 卜緣處a各可供-料片置放的設置部;每 一承盤繞其心軸旋轉,並使其每—設置部依序定時抵達 至少-預定工作位置、至少—預定搬移位置; 至少-第-工作站,每一第一工作站設置於該第一 承盤之—側且對應其職工作位置處,當該第-承盤之 一没置部抵達該預定工作位 置部上的料片工作; §" 可對該设 至夕帛—工作站’每—第二卫作站設置於該第二 承盤之-側且對應其預定卫作位置處,當該第二承盤之 -設置部抵達該預定工作位置,該第二工作站可對該設 置部上的料片工作;及 …一第—翻轉裝置,設置於該第―、第二承盤之間, 田°玄第-承盤之—設置部上之料片經該第-工作站的工 作’且該設置部接續抵達該預定搬移位置時該第一翻 轉裝置將㈣置部上之料片持起後翻面,並置放於該第 承盤上,藉此該第二工作站可接續對該料片工作, 其中,該第-翻轉裴置包括一具有一吸嘴的第一取 放臂及一具有-吸嘴的第二取放臂,該第一取放臂之吸 嘴由正面吸起該抵達該預定搬移位置的料片,並朝該第 一承盤翻轉180度而使該料片翻面,由該第二取放臂之 吸嘴由料片之反面吸起且承接置入該第二承盤之設置部 16 1309222 第㈣2咖號專利申請案說明書替換頁(修正日期AM) 上, 其中,該第-承盤、第二承盤大小相同且每次 固定角度持續旋轉後作預定時間的停留。 2.依據申請專利範圍第丨項所述之雙承盤工 — Ί卜糸統,复φ ,母一承盤停留時間等同於該第一翻轉裝 ,、甲 二取放臂作業的時間。 、第 3·依=請專利範圍第丨項所述之雙承盤工作系統 ,該苐一承盤、第二承盤同向旋轉。 "中 4.依據中請專利範圍第1項所述之雙承盤工作系統,复 :每-承盤之設置部數量為四,且每次以%。持續旋^ -5·依據f請專利範圍第4項所述之雙承盤工作系統, ,该第-、第二工作站的數量分別為二,每—: 該承盤旋轉一圈而循環的過程中,在四次停留隨 分別是用來被放入一料片、承载料片以供—工作站;: =工作、承載料片以供另一工作站對該料 = 及讓該料片被移出。 .以 6·依Y請專利範圍第1項所述之雙承盤卫作系、統,更包含 該::翻:裝置’當該第二承盤之一設置部上之料片經 〇第一工作站的工作,且該設 位置時’該設置部上之料片心=該預定搬移 後準備被移出。 一-翻轉裝置持起翻面 7·依Γ料㈣㈣1項料之雙承盤工作“,其中 母—設置部是為一可夾置一钮μ 灭置科片的治具’當一料片被 17 1309222 第0 941 29280號專利申請案說明書替換頁(修正日期:97.12) 放入時,對應的治具將打開並待料片置上後夾置,當該 料片需被移出,該治具再度打開。 18
TW094129280A 2005-08-26 2005-08-26 Double bearing plates working system TW200708462A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW094129280A TW200708462A (en) 2005-08-26 2005-08-26 Double bearing plates working system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW094129280A TW200708462A (en) 2005-08-26 2005-08-26 Double bearing plates working system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200708462A TW200708462A (en) 2007-03-01
TWI309222B true TWI309222B (zh) 2009-05-01

Family

ID=45071993

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW094129280A TW200708462A (en) 2005-08-26 2005-08-26 Double bearing plates working system

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TW200708462A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI504883B (zh) * 2013-11-21 2015-10-21 King Yuan Electronics Co Ltd 料盤晶片自動檢驗及包裝設備

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI504883B (zh) * 2013-11-21 2015-10-21 King Yuan Electronics Co Ltd 料盤晶片自動檢驗及包裝設備

Also Published As

Publication number Publication date
TW200708462A (en) 2007-03-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI363429B (en) Device and method for joining substrates
TW201001602A (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP6122299B2 (ja) 処理装置、処理方法、及びデバイスの製造方法
JP5507586B2 (ja) 積層電池の製造過程に用いられる検査装置
JP2008203280A (ja) 欠陥検査装置
TWI675428B (zh) 基板材旋轉裝載器
JP4618859B2 (ja) 積層ウエハーのアライメント方法
TWI309222B (zh)
JP6007171B2 (ja) 基板処理システム、基板搬送方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
TWI437226B (zh) 檢測方法、檢測處理系統、處理裝置、檢測裝置、製造/檢測裝置及製造/檢測方法
JP5743437B2 (ja) 露光装置、露光方法、搬送方法及びデバイスの製造方法
JP5868257B2 (ja) ワークの位置検出方法及びそれを用いたワークの搬送方法
TWI309331B (en) Lens assembly machine
KR20180092771A (ko) 검사 장치, 및 그 장치를 이용한 검사 방법
TW201037312A (en) Micro-sensing IC test sorting machine
JP2014132672A (ja) 基板処理装置、基板処理方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
TWI585393B (zh) 料件檢查系統及料件檢查方法
JPS6318632A (ja) 基板搬送装置
JP2012203265A (ja) 反転装置及びそれを用いた露光装置並びに露光方法
JPH07251921A (ja) 反転装置及び露光システム
JP5459820B2 (ja) 表裏反転装置、表裏反転装置を備えたテストハンドラ
TW200921833A (en) Automatic positioning system of wafer developing and fixing machine
TW445475B (en) Manufacturing method for automatically placing metal touch-sensing elastic pieces
JPS6322411A (ja) レチクル搬送装置
TW432570B (en) Method and apparatus for inspecting an object

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees