JPS6318632A - 基板搬送装置 - Google Patents

基板搬送装置

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JPS6318632A
JPS6318632A JP61162134A JP16213486A JPS6318632A JP S6318632 A JPS6318632 A JP S6318632A JP 61162134 A JP61162134 A JP 61162134A JP 16213486 A JP16213486 A JP 16213486A JP S6318632 A JPS6318632 A JP S6318632A
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JP
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reticle
cassette
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JP61162134A
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English (en)
Inventor
Kazuo Iizuka
和夫 飯塚
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Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/66Containers specially adapted for masks, mask blanks or pellicles; Preparation thereof
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
    • G03F7/70741Handling masks outside exposure position, e.g. reticle libraries

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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、半導体製造装置、特にマスクやレチクル等の
薄板状の物体(以下、基板という)を自動的に交換する
装置等で用いられる基板搬送装置に関する。
このような基板搬送装置は、例えば、露光用基板(マス
クまたはレチクル)を個別に収納するカセットを複数個
収納するカセットライブラリを備えた基板自動交換装置
において、所望とする基板が入ったカセットをライブラ
リから装置本体側に搬入し、カセットから基板を取り出
してゴミ検査装置に送り込み、ゴミ検査された基板を露
光位置まで送り込むとともに、基板を交換する際に不必
要になった基板を前記カセットに収納しこのカセットを
もとのライブラリまで戻す装置として好適に用いられる
[従来の技術」 従来、この種の装置は、装置本体に固定されたカセット
ライブラリに収納された複数のカセットから、所望とす
る基板をライブラリ内で取り出し、長い搬送経路をたど
)て基板のゴミ検査装置へ、また、ゴミ検査された基板
を再び長い搬送経路をたどって本体装置内露光位置まで
送り込むように構成されていた。
[発明が解決しようとする問題点] このため、その搬送経路中で、搬送中の基板へのゴミ付
着の確率が高くなり、特にステッパ等のようにルチクル
のパターンを縮小して数多くウェハ側に焼き付ける装置
においては、各ショット毎のチップのゴミによる不良品
率が高くなる、などという大欠点を有していた。また、
このような長い搬送経路の全体に渡って7囲気を清浄化
することは極めて困難である。
本発明の目的は、上述の従来形における問題点に鑑み、
基板を容器に格納して収納する基板収納位置と所定の受
け渡し位置との間で基板を搬送する基板搬送装置におい
て、搬送中における基板へのゴミ付着率を低減すること
ある。
[問題点を解決するための手段] 上記目的を達成するため本発明では、基板搬送領域を、
基板を収納容器ごと搬送する領域と基板単体で搬送する
領域とに壁等で分割し、基板を単体搬送する小容積の領
域をより高度なりリーンボックス化している。
[作用および効果コ このように本発明によれば、基板を車体で搬送する領域
を高度にクリーンボックス化してしAるため、搬送され
る基板の清浄度を保存した搬送、および外部の浮a塵の
影習を影響を受けなし1搬送を実現することができる。
なお、本発明では、高度にクリーンボックス化する領域
を小容積に限定することにより、このようなりリーンボ
ックス化を実現可能にしている。
[実施例コ 第1図は、本発明の一実施例に係る縮小投影露光装置(
ステッパ)の全体外観図を示す。同図において、1は全
体空調チャンバ、2は8勅型レチクルカセツトライブラ
リである。
第2図は、第1図の全体空調チャンバ1の一部を透視し
た図である。同図において、10はステッパ本体、11
と12はそれぞれステッパ本体lOを構成する結像レン
ズと照明装置、13はステッパ本体10によってレチク
ル6のパターンが焼付けられる被露光体例えば半導体ウ
ェハである。
第3図は、レチクル搬送システムの説明図である1図中
、4は特願昭60−214591号、特願昭60−21
4592号および特願昭60−293630号で提示し
たレチクルカセット(基板収納容器)、5は上記特願昭
80−293630号で提示したカセットホルダ、6は
レチクル、7はバーコードリーダ・パターン位置検知装
置である。P、は第1のカセット収納位置で、ライブラ
リ2の位置に相当する。P2はカセット収納位置P1か
ら取り出したカセットホルダ5を所定の位置まで昇降さ
せるエレベータ位置、P3はエレベータ位置P2からカ
セットホルダ5ごと送り込まれたカセット4からレチク
ル6を抜き出すレチクル抜き出し位置(第2のカセット
収納位置)、P4はレチクル6を上方に送る機構との受
け渡し位置(第1の受け渡し位置)、P、はレチクル異
物検査位置、P6はレチクルを露光位置まで搬入搬出す
る機構との受け渡し位置(第2の受け渡し位置)、P7
は露光位置、P、は露光工程を終えたレチクル6をカセ
ット4内に収納する空力セット待機位置である。
上記構成において、レチクルカセットライブラリ2(第
1のカセット収納位置P、)に積層状に配置されたレチ
クルカセット4は、露光装置本体のコンソールによる指
令により、エレベータ機構かむかえにきてカセット収納
位置P1からホルダ5ごとエレベータ位置P2に穆され
、ここで所定の高さまで昇降され、さらにレチクル抜き
出し位置p3 (第2のカセット収納位置)に送り込ま
れ収納される。第2のカセット収納位置P3にレチクル
カセット4およびカセットホルダ5が収納されると、こ
の位置P、にあるカセット開閉用駆動源(図示せず)が
働き、カセット4が開けられ、内部のレチクル6を抜き
出し可能な状態にする。
カセット4の上蓋および下蓋の形状により、この開状態
では、カセット4の横方向から内部のレチクル6の有無
検知が可能となっている。
次いで、図示しないレチクル抜ぎ出し機構が動作し、レ
チクル抜き出し位置P3において開放されたカセット4
からレチクル6を抜き出す。抜き出されたレチクル6は
第1の受け渡し位置P4を通過してレチクル異物検査位
置P5に入り、ここで上記抜き出し機構により異物検査
光下をスキャンされ、レチクル6上にある異物の有無お
よび所在位置が確認される。この段階で工程使用不能と
判定されたレチクル6は前述とは逆の動作によって、も
とのレチクルカセットライブラリ2内に戻される。
異物検査の結果、工程使用可能と判定されたレチクル6
は、第1の受け渡し位置P4に送られ、この位置で下側
に待機していた上下搬送機構に受け渡され、第2の受け
渡し位置P6まで上昇する。
この位置でレチクル6を露光装置内部まで送り込む送り
込み機構に受け渡し、露光位置P7まで搬送するのであ
るが、レチクルバーコードリーダ・パターン位置検知ユ
ニット7は、この搬送中、送り込まれるレチクル6をス
キャンし、そのレチクル6のパターン位置がレチクル端
面に対してどの程度ずれて製作されているかを検知する
。同時に、そのレチクルがらみの露光工程条件をレチク
ルに書き込まれたバーコードパターンにより読み取り、
露光装置本体のコンソールにデータを送り、レチクル6
が露光位置P7へ搬送されるまでに、露光工程がらみの
機成的な設定を終了してしまうようにしている。
一方、前述の第2のカセット収納位置P3でレチクル6
を抜き出されたカセット4は、開閉機構により閉じられ
、レチクル6の上下完遂および露光位置P7への送り込
み動作中にレチクル収納位置P6まで送られ、露光工程
終了により戻されて来るレチクル6をこの位置で待機し
ている。
露光工程を終了したレチクル6は、前述の送り込み機構
により第2の受け渡し位置P6に搬送され、この位置で
待機しているレチクル収納機構に受け渡される。すると
、収納位置P6にあるカセット開閉機構駆動源が働き、
収納位置P8で待機中のカセット4が開放される。この
状態でレチクル収納機構によりレチクル6がカセット4
に収納され、再び開閉機構が働いてカセット4は閉じら
れる。
レチクル6を収納されたカセット4は、カセット入れ換
え機構より、再びレチクル抜き出し位置P3に戻され、
この位置で待機しているエレベータ機構によりエレベー
タ位置P2を経てもとのレチクルカセットライブラリ2
内の収納位置P1に戻される。
前述のカセット入れ換え機構では、2つのカセットを収
納することができる。このため、次工程のレチクルを事
前に指令しておけば、工程終了したレチクルが戻される
前に次工程のレチクルを異物検査まで終了させ、第1の
受け渡し位置P4において、第2の受け渡し位置P8か
ら前工程のレチクルが排出された(レチクル収納位置P
、で待機中のカセットに収納されること)直後に次のレ
チクルを送り込むことができる。
ところで、従来の自動レチクル交換位置においては、レ
チクルをライブラリ内でカセットから取り出して、露光
位置までの長い経路を往復させていた。このため、搬送
中のレチクルへのゴミ付着の確率が高くなり、特にステ
ッパ等のように、レチクルのパターンを1枚のウェハ上
の多数箇所に繰返し焼付ける装置においては、各ショク
I−ごと、または各チップごとのゴミによる不良品率が
高くなるという大欠点があった。この実施例においては
、上述のように、ライブラリ2(カセット収納位置P、
)と空調チャンバ1のカセット抜き出し位置P2  (
またはカセット待機位置pa)との間はレチクル6をカ
セット4ごと搬送することにより、上記大欠点の解消を
図っている。
第4図は、第1図の8動型カセツトライブラリ2を裏面
から見た外観図、つまり、露光装置内に自動交換機で送
り込むべきレヂクルカセット4がカセットホルダ5ごと
搬出される側の外観図である。同図において、ライブラ
リ本体2には、このライブラリ2に収納されているカセ
ットの名称、レチクルの素性を示すパラメータ等が格納
された読み書き可能な記憶素子を含む記憶手段21が取
付けられている。22はライブラリのカセット収納部の
扉で、このライブラリ本体2の表面および裏面に構成さ
れている。
図示矢印Aは、自動交IM mによるレチクルカセット
4の抜ぎ出し方向を示している。
この移動型カセットライブラリは、全体空調チャンバエ
またはステッパ本体と結合、切りlff1ff l、が
自在で、かつ、ライブラリ相互または他のレチクル関連
装置との互換性を良くしてあり、所定のカセット枚数を
収納したライブラリ2を工程または製造品1重に合せて
順次交換できるように移動可能型の形態をとっている。
このため、多品種少量生産型ラインに対応すべく多種の
基板を収納するカセットライブラリ毎、オンライン等に
よる交換が可能となり、露光装置本体内に送り込むレチ
クルカセットの交換に際し、温調チャンバにより露光装
置が温度的に安定しているときに温調チャンバの窓を開
けて人手で交換作業を行なうことによる温調チャンバ内
および露光装置の温度変動という事態を防止することが
できる。
また、上記形態をとれば、第11図に示すようにパター
ンジェネレータ1aやスタンドアローン型のゴミ検査i
1bやレチクル洗浄装置IC1あるいはべりタルはり合
せ装置(図示せず)等、レチクルまわりの保守点検機と
の接続が容易で、レチクルの交換、保守および点検等の
際に人間を介さずに済み、無廖環境に対しての冗長性を
増すことができる。
第4図において、記憶手段21は、ライブラリ2に収納
されているレチクルカセット内のレチクルの名称と収納
位置、およびステッパにおけるレチクルまわりの初期設
定項目等、装置動作に必要なパラメータを記録している
書き込み、消去自在な記憶素子が構成され、全体空調チ
ャンバ1またはステッパ本体に構成された読み取り手段
と、接合可能な位置関係にあり、接合状態とすることに
より前記パラメータをステッパ本体コンソール3に送り
込むことが可能になフている。
第5図は、ライブラリ2内におけるカセットホルダ5の
収納状況および手動による出し入れ(図示矢印B)およ
び自動機による出し入れ(図示矢印A)時の動作につい
て示している。同図において、4は前述のレチクルカセ
ット、5はカセットホルダである。 23.25はコロ
列、24は可動なコロ列フレーム、26はライブラリ筐
体兼ガイドレールである。27はコロ列フレーム24に
構成されたストッパ機構で、カセットホルダ5をライブ
ラリ内でガタつかせないようにしている。28はコロ、
29はホルダ5をコロ列フレームに24.24間に保持
するためのストッパである。このカセットライブラリ2
の左右各段は、それぞれ同様に構成されている。
ライブラリ2におけるカセットホルダ5の移動方向およ
びストロークは、人間の手による矢印Bのカセット設定
と、自動搬送機による矢印への出し入れ動作に対応する
ため、ライブラリ2の表側方向にホルダ5の長さ分、裏
面方向にホルダ5の抜き差し可能なストロークが必要に
なる。また、ライブラリ2は、全体空調チャンバ1また
はステッパ本体と接合、離反の関係にあることから、ラ
イブラリ2内には、8動用の駆動源となるアクチュエー
タは存在せず、ホルダ5の出し入れは、人間の手、また
は自動機から伝達されるDカによって行なわれる。
第5図の2段目は、カセットホルダ5がライブラリ2か
ら抜ぎ出された状態を示す。つまり、自1’l搬送機の
エレベータ機構(図示せず)が所望とするカセットホル
ダ5の位置に対向した時、エレベータ機構のアクチュエ
ータはストッパ29をつかまえてコロ列フレーム24を
図示位置まで引き抜き、さらにストッパ29を解除する
。続いて、エレベータ機構に構成されている抜き出しフ
ックがカセットホルダ5についているツメ5aをつかま
え、カセットホルダ5を図示位置まで抜き出す。これに
より、カセットホルダ5がライブラリ2外に出ることに
なる。
また、この2段目に示しているホルダ5が抜き出された
状態では、ストッパ機構27が図示のごとくレール26
に支持された状態にあるので、戻ってきたホルダ5に対
してストッパの役割をし、カセットホルダ5をコロ列フ
レーム24に対して常時定位置に収納することができる
第5図の第3段目は、人間の手によるカセット交換時の
状態を示す。この状態ではストッパ機構27は支持する
レール26から外れて解除状態となり、またカセットホ
ルダ5はツメ5aがコロ列フレーム24に固定されてい
るストッパ部材24aに当接することにより停止するの
で、矢印Bの方向からのカセット交換が容易になる。
第6図は、第2図の露光装置を右側面から見た説明図で
ある。
同図において、レチクルカセットライブラリ2は露光装
置チャンバ(全体空調チャンバ)1と当接し、この状態
で露光装置チャンバ側に構成されたロック部材15と、
カセットライブラリ2側に構成されたつかまえコロ2a
の結合が起こり、チャンバlとライブラリ2との相対位
置が固定される。
そして、レチクルカセットライブラリ2に構成された記
憶手段21に格納されているデータは露光装置チャンバ
1に構成された読み取り手段16により読み取られ、ラ
イブラリ2内に収納されている各レチクルの収納段位置
、およびレチクルがらみの各種工程のパラメータ等のデ
ータが本体に送られて本体の記憶手段にプールされる。
本体側の指定により抜き出されたレチクルはエレベータ
位置P2でエレベータ機構に乗って第2のカセット収納
位置P3に送り込まれる。この位置はレチクルカセット
ライブラリ2内の中腹部に位置し、レチクルカセットラ
イブラリ2内にある各カセット位置に対し、その高低差
による嶺送時間の違いを極力少なくしている。また、レ
チクルカセットライブラリ2を使用せずマニュアルにて
カセットを設置する時にはレチクル抜き出し位置P3に
カセットを置いてやるようにすれば、レチクル抜ぎ出し
位置P、は、露光装置の設置されている床面からの高さ
が1m20cm程度であるから、位置関係として人手に
よる操作設定容易である。
本実施例の機構および各機能の主なねらいは、いかに搬
送中のレチクルに対し、廖の付着を防止して送り込める
かということであり、特にレチクル単体を搬送している
時における外部からの浮遊芯の付着を防ぐために、異物
検査ユニット8のクリーンボックス化、およびカセット
外に出たレチクルの搬送領域のクリーンボックス化を2
重のボックス8 a、 8 b、 5i18 c、なら
びに空調装置等により実現している。つまり、カセット
入れ換え機構およびカセット開閉機構からの発塵および
浮遊塵をレチクル搬送領域内部に浸入させないため、各
部の気圧を、異物検査ユニット8(ボックス8a内)で
最も高く、次いでレチクル搬送領域(ボックス8b内)
、チャンバ内部1(ボックス8b外)およびチャンバ外
の順となるように揚圧化している。第6図中、8Cはレ
チクル搬送領域からレチクル異物検査ユニット8への浮
遊皿の流入を遮断する扉である。また、101は空調ユ
ニット、102は冷却機、103は送風機、104は加
熱機、105はフィルタ、106は温度センサである。
21bはシール材である。
第7図は第3図で示した基本構成のうち、露光装置に固
定されたレチクル抜き出し位置P3からレチクル収納位
置P8までの各動作機構の実施外観図である。
第7図において、カセットライブラリ2からホルダ5ご
と抜き出されたカセット4はレチクル抜き出し位置(第
2のカセット収納位置)P3に送り込まれ、上下り勅型
ホルダ支持台71に載置固定される。この位置P3には
、カセット4を構成している上蓋と下蓋を分離するカセ
ット開閉機構が構成されており、上下8勤型ホルダ支持
台71にホルダ5が送り込まれ固定されたことを確認し
た時点以後、このカセット開閉機構が作動し、カセット
4の上蓋が開放され、内部にあるレチクル6がカセット
4外から取り出し可能になる。この状態になった時レチ
クル抜き出しフォーク30がカセット4内にあるレチク
ル6を抜き出し、その抜き出し方向の延長上にあるレチ
クル異物検査ユニット8(第6図)内に定速で送り込む
。一方、レチクル6がカセット4外に出たことを確認し
たら、カセット開閉機構が作動し、カセット4は閉じら
れる。
レチクル抜き出し位置P3にあるボルダ支持台は上下移
動型ホルダ支持台71と姿勢保持型ホルダ支持台72の
上下に2つが設けられており、カセッ)・4が空になっ
たことを確認されて閉じられると、下位置の上下6励型
ホルダ支持台71と上位置にある姿勢保持型ホルダ支持
台72が上下位置を交換できるようになっている。これ
により、前述の空になったカセット4は上位置(レチク
ル収納位置pa)へ送り込まれ、この位置P6で前述の
露光位UP7へ搬送されたレチクルが露光工程の終了に
よって戻されレチクル収納位eP8に搬入されるまで待
機している。
第6図を参照して、カセット4から抜き出されたレチク
ル6は、通常、そのままレチクル異物検査ユニット8内
に送り込まれる。しかし、レチクル6にペリクル防慶膜
が付けられていた場合、現在のレチクル異物検査ユニッ
トの構成上、ペリクル防膳膜のフレームにより、レチク
ル6のフレーム内部で検査不可能な領域(レチクル6と
ペリクル防匹膜フレームの接合隅部)がある。この部分
を検査するためには、レチクル6を180°平面回転し
た後もう一度、レチクル検査ユニット8でその領域の検
査をするようになる。この平面回転機才11を有してい
るのが受け渡し位置P 4にある02機41が40であ
る。
第7図に戻って、レチクル6がレチクル異物検査ユニッ
トによって異物検査を完了して受け渡し位置P4に戻っ
てくると、θZ機構40はレチクル抜き出しフォーク3
0の下側よりレチクル4をすくい上げるようにフォーク
30から取り出し、露光装置のレチクル設定方向に合せ
てθ回転させ、Z機構による上昇動作で受け渡し位置P
6に送る。
このθZ機構40によるθ回転量は、コンソールからの
入力または記憶手段21からの読み取りデータに基いて
基板ごとに1/4回転ピッチで3/4回転まで設定する
ことができる。このθZ機構40により、この装置にお
いては、種々の装置に使用されている多種多様なレチク
ルカセットおよびそのカセット内のレチクルの設定方向
にも人手によるカセット内レチクルの方向合せという面
倒な仕事なしに、レチクルカセット内およびレチクルの
清浄度を維持した状態で各種装置との間を無人オンライ
ンでレチクル交換することができる。つまりマシンコン
パチビリティを向上させることができる。
位置P6では、レチクル搬送機構50に構成された開閉
動作を有するレチクルハンド52.53が開状態で待機
しておりその位置でレチクル6を位置決め下側支持して
受け取る。レチクル6を受け渡し位置P aで受け取っ
たレチクル搬送ハンド51は、レチクル6の直交する2
端面を突き当て状態で下面支持しながら露光装置内の露
光位置P7に直線搬送する。この直線搬送中の1ケ所に
バーコードリーダ・パターン位置検知ユニット7が構成
されており、レチクル6が定速で搬送されている間に指
定レチクルの確認、露光装置のレチクルがらみのパラメ
ータ読み取り、および現在つかんでいるレチクル6のパ
ターンが露光装置の中心に対してどれ程ずれているかを
検知して、搬送終了までに露光位置の設定を終えてしま
うようにしである。
露光位置Pアに到若したレチクル搬送ハンド51は、レ
チクルハンド52.53を開いてその位置でレチクル6
を放しレチクル6を露光装置の受け台(図示せず)に載
置する。その後、レチクル搬送ハンド51は、レチクル
ハンド52.53を開状態としたまま、露光工程終了を
待機する。
露光工程を終了したレチクル6はレチクル搬送ハンド5
1によって露光位置P7から受け渡し位置P6へ搬送さ
れる。受け渡し位置P6では前述のθZ機構40が下側
初期位置に下降退避し、レチクル収納フォーク90がレ
チクル受け渡し準備を完了している。
レチクル搬送ハンド51が受け渡し位置P8にてレチク
ル6をレチクル収納フォーク9oに載置した時、レチク
ルハンド52.53は開状態になる。これにより、機構
(51と90)同志が干渉することなく、レチクル収納
フォーク90は前述のレチクル収納位置P♂に待機して
いる空のレチクルカセットへのレチクルの収納が可能で
ある。
レチクル収納位置P8にも前記レチクル抜き出し位置P
、のものと開様の開閉機構駆動7原があリ、その動作に
よって位置P8で待機中のカセット4を開放し、カセッ
ト4内にレチクルがないことを確認した後レチクル収納
フォーク90を動作してレチクル6をカセット4内に収
納する。収納後、レチクル収納フォーク90がカセット
4から外に出ると、カセット開閉機構駆r#J源が動作
し、カセット4が閉状態になる。
その後、前記ホルダ支持台は再び上下の入れ換え動作を
してカセット4を下位置(レチクル抜き出し位置)P3
 にて待機させる。このカセット4はカセット搬出機構
によりレチクルライブラリに戻される。
これら一連の動作に対して、カセット搬送m構の動作、
レチクル抜き出し動作、レチクル異物検査、θZ動作、
レチクル搬送動作、レチクル収納動作、カセット上下入
れ換え動作、ライブラリへのカセット収納、供給動作を
シリーズ的に動作させると、工程ごとのレチクル交換時
間は3〜4分程費やしてしまう。これに対し、本実施例
では第2のカセット収納位置に2つのホルダ支持台71
゜72を設け、ライブラリ2から搬出されたカセット4
は、レチクル抜き出し位置P3にてレチクルの抜き出し
動作をレチクル抜き出しフォーク30によって行なって
空になった後、上蓋を閉じカセット上下入れ換え動作に
よってレチクル収納位置P8に送り、代って姿勢保持型
ホルダ支持台72をレチクルの抜き出し位置P3に来さ
せ、この姿勢保持型ホルダ支持台72に次工程で必要と
するレチクルのカセットを搬送載置することができるよ
うにしている。したがって、本実施例では、予め露光装
置が現工程を終了する時間または露光処理するクエへ枚
数の処理時間をもとに交換時期を算定し、そのカセット
搬送時間、レチクル異物検査時間等機絨動作として起こ
る所要時間を見越して次工程レチクルの各搬送動作を開
始すれば、次工程のレチクルはθZ機構40上に待機さ
せることができ、前工程のレチクルが露光工程を終了し
てレチクル収納位置P8に送られた時に次工程のレチク
ルを截せたθZ機構40が上昇動作して受け渡し位置P
6に来るようなシーケンスプログラムを付加してやれば
、上記交換時間は30秒以下に減少させることができる
第8図は、第7図のカセット入れ換え機構70の動作説
明図である。
次に、第7および8図を参照しながらカセット入れ換え
機構70について説明する。図中、71.72はホルダ
支持台、73.73はホルダ支持台71.72に固定さ
れたプーリ、74はプーリ73.73の軸を規定の間隔
で回転自在に支持するアームである。アーム74はプー
リ73.73間の中点位置75で水平動作スライダ76
に回転支持され、上下のプーリ73をベルト77で連結
されている。このため、支持アーム74は回転中心75
に対して回転可能となるがその回転動作に対してホルダ
支持台71.72は平行姿勢を変えないで上下動作可能
になっている。上下8動型ホルダ支持台71は、上下ガ
イド79とこれを支持する3つのコロ78により、水平
姿勢状態でZ方向にのみ昇降可能に拘束されている。水
平励作スライダ76は、上下移動型ホルダ支持台71の
上下動作に伴なってアーム中心75を支持しながら水平
方向に移動可能であり、全体の重量を軸80両端の2ケ
所で支えている。81はアーム中心75を固定している
軸80を水平動作スライダ76に対しアーム74を回転
させる回転型のアクチュエータである。
第7図の状態でアーム74に図面手前から見て反時計方
向の回転入力を与えると、上下8勅型ホルダ支持台71
は水平支持されたままZ方向に上昇する。また、姿勢保
持型ホルダ支持台72は上下し勤型ホルダ支持台71の
姿勢が水平であるのでプーリ73、73およびベルト7
7の動作により同様の水平姿勢を保ったまま軸80を回
転軸に円弧運動する。しかし、軸80は水平動作スライ
ダ76に支持されているのでホルダ支持台71の8動に
伴って図中で左へ向けて水平に穆動し、このため、ホル
ダ支持台72は第8図に示すように円弧運動と水平運動
とを合成した軌跡を描いて8動する。つまり、第8図に
おいて、第7図と同様の状態からアーム74を反時計方
向に180°回転すると、ホルダ支持台71は71′の
位置を経て72の位置に垂直に上昇すると同時に、ホル
ダ支持台72は72′の位置を経て71の位置に回転移
動する。これにより、ホルダ支持台71と72の位置が
入れ替わる。もとの状態に戻すためには、アーム74を
今度は時計方向に180°回転すればよい。
姿勢保持型ホルダ支持台72は、8′#J′#J作の末
端では略水平に動作するため、第7図の82のごとくダ
ンパーと固定機構を働かせれば衝磐を少なく動作させる
ことができる。なお、上下8D型ホルダ支持台71の動
作は軸80の回転中心まわりの回転動作により、動作末
端では減速機構になっている。
また、アーム74が軸80の回転中心まわりで回転動作
するのに対し、ホルダ支持台71.72は軸80を中心
にカウンタバランスの形態をとっているため回転動作に
必要な力はあまり大きくない。
第9図はレチクル送り込み機構の説明図で、第9図(a
)はレチクルを掴んで露光位置P7まで搬送した状態、
第9図(b)は第2の受け渡し位置P6でレチクルを開
放した状態を示す。
図中、52は位置決めXY基準コロ付ハンド、53はY
基準コロ付ハンド、56は開閉操作アクチュエータ、6
0はスライダ、61は回転軸、62はレバー、63はロ
ーラ、62aはレバー回転軸、52bはバネ、65は平
ベルト、66はスライダストッパ、67は外カバー、6
8は駆動プーリ、69は従動プーリ、70aはスライド
レールである。
スライダ60は平ベルト65の両端を固定し、ベルト6
5はレバー回転軸62aを中心にレバー62で支持され
たローラ63を介して弓長られ、レバー62はベルト6
5のたるみ取りにバネ62bにより張力を与えら  。
れていて、これらのレバー62およびバネ62bはスラ
イダ60の左右に構成されている。ベルト65は左右に
ある従動プーリ69を経由して駆動プーリ68まで張ら
れている。第9図(a)に示すように露光位置P7まで
来たスライダ60は、その軌道であるスライドレール7
0a上に固定されたスライダストッパ66に突き当り、
その状態から脂肪プーリ68を小量回転させると、図示
のように左側の張力T1が高くなり右側の張力T2が低
くなるためその差分子 +  T 2がスライダ60を
スライダストッパ66に押し当てる。この押し当て力が
安定していればこの位置での再現性が高くなる。
この原理は左右両位置について同様である。
平ベルト65はレチクル搬送ハンド51のスライド部の
高さ方向の厚み分の幅をもっており、外カバー67はレ
チクル送り込み機構51のレチクル搬送ハンド51のス
ライドする部分を除いて全てカバーリングしてあり、前
述のスライド部の窓がその開口を略的に塞いでいる。こ
のように構成した時にこの空間内の任意の位置で排気(
図示せず)してやれば、空間内は負圧化し、スライド動
作による発車が外部に出す、搬送機構により発慶してし
まった塵が搬送中のレチクルに付着することがなくなる
第9図(b)に示す第2の受け渡し位M P 6に来た
レチクル搬送ハンド51も前述同様の手法でスライドス
トッパ66に押し当てられこの位置(停止位置)での再
現性を良くしである。
これらの停止位置で開閉操作アクチュエータ59が作動
すると、その作用点は結合軸58を移動させる。XY基
準コロ付ハンド52およびY基準コロ付ハンド53はそ
れぞれスライダ60に構成された左右の回転軸61を支
点にもったレバーであり、結合軸58より連結関係にあ
るため、図のようにハンド開状態ができ、前記のθZ機
構40や、レチクル収納フォーク90とのレチクルの授
受が可能である。
第10図は、レチクルを位置決めハンドリングしている
状態の図で、レチクルを掴んでいる状態のレチクル基板
の整合原理を示す。
前述のようにハンド52と53は、開閉操作アクチュエ
ータの動作により、図示のごとく閉状態を作っている。
54、55.56はコロで、ハンド52には2つ、ハン
ド53には1つが取り付けである。レチクルは一般的に
正方形をしているため、コロ55.56の外周とレチク
ルの端面が当接しもう1つのコロ54の外周に他の一端
が当接するように押し付けてやればレチクルの外形整合
が可能になる。
57、57は回転中心を円の中心から偏心させたところ
にもった外周の摩擦係数の高い偏心コロで、図示の逆方
向力F、、F2が常時働くように内蔵のバネが人りてい
てレチクルのない状態では57aの位置で停止している
。ハンド閉状態でレチクルを挾み込んだ時、XYY準コ
ロ付ハンド52とY基準コロ付ハンド53は図示Fと同
様の方向に動き、Fなる力をレチクルに与える。52と
53の両ハンドに構成されている偏心コロ57は、57
bのように回転する。この時、F)F2>Flの関係を
つくり、かつ、両ハンド52.53の閉状態の位置を連
結軸S8のストローク規正で固定してやると左右の偏心
コロ57の動作およびその外周とレチクル端面との摩擦
係数と偏心コロ57の57aに戻ろうとする力によりF
l 、F2なる力が発生し、それらの分力はコロ54.
55.56の外周に対してレチクルを押しつける力、f
−、fyl、fy2なる力を発生させ、レチクルをハン
ド上に端面整合できる。
この状態で受け渡し位置P6から露光位置P7まで搬送
する経路中にバーコードリーダ・パターン位置検知7を
配置し搬送中のレチクルのパターン位置を計測してやれ
ば、このパターン位置がレチクル基板の整合端面からど
れくらいの位置に離れているかということがわかり、こ
れをそのレチクルの製造誤差に対処した本体装置のメカ
ニカルな設定データとして使用することかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、本発明の一実施例に係る投影露
光装置の外観図、 第3図は、本発明のレチクル搬送システムの説明図、 第4図は、υ勤型カセ5・ドライブラリの裏面外観図、 第5図は、ライブラリ内部の説明図、 第6図は、装置右側から見た説明図、 第7図は、装置内のレチクル抜き出し位置ないしレチク
ル収納位置の各動作機構の実施外観図、第8図は、カセ
ット入れ換え機構動作説明図、第9図は、レチクル送り
込み機構の説明図、第10図は、レチクルハンドリング
機イ1カの整合原理説明図、 第11図は、移動型カセットライブラリを他周辺機器と
接合配置した説明図である。 1ニスチツパの全体空調チャンバ 2:移動型カセットライブラリ 4:基板収納ケース 5:カセットホルダ 6:レチクル 7:バーコードリーダ・パターン位置検査装置P1 ;
第1のカセット収納位置 F2 :エレベータ位置 F3 ;第2のカセット収納位置 F4 :第1の受け渡し位置 PS ニレチクル異物検査位置 F6 ・第2の受け渡し位置 F7 :露光位置 F8 =空カセット待機位置 15:チャンバ側につけられた記憶内容読み取り手段 21:記憶手段 21b:シール材 22ニライブラリの扉 23:コロ 24:コロ列フレーム 25ニガイドコロ 26:レール 27:ストッパ 29:ストツバ 30ニレチクル抜ぎ出しフォーク 40:θZ機構 50ニレチクル送り込み機構 51ニレチクル搬送ハンド 52:位置決めXY基基準コロ付シン・53:Y基準コ
ロ付ハンド 54、55.56:コロ 57:(偏心コロ 58:結合軸 59:開閉操作アクチュエータ 60ニスライダ 61 : 回 中云 軸 62 :  し )て − 62aニレバー回転軸 62b:バネ 63:ローラ 64:ストッパ 65:平ベルト 66:スライダストッパ 67:外カバー 68:駆動プーリ 69:従動プーリ 70aニスライドレール 70:カセット入れ換え機構 71・土下穆勤型ホルダ支持台 72:姿勢保持型ホルダ支持台 73ニブ−リ フ4:支持アーム 76:水平動作スライダ 77:ベルト 78:コロ 79;ガイド 80:軸 81:回中云アクチュエータ 82:ダンパ 101:空調ユニット 102 :冷却器 103:送Jii1機 104:個別加熱器 105:フィルタ 106:温度センサ。 特許出願人   キャノン株式会社 代理人 弁理士   伊 東 辰 雄 代理人 弁理士   伊 東 哲 也 第10図 (a) 卦 (Cン 第11図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、基板を容器に格納して収納する基板収納位置と所定
    の受け渡し位置との間で基板を搬送する基板搬送装置で
    あって、上記基板収納位置と所定の中継位置との間の第
    1の経路を基板を容器ごと搬送する第1の搬送手段と、
    該中継位置と上記受け渡し位置との間の第2の経路を基
    板を容器から取り出した状態で搬送する第2の搬送手段
    と、第1の経路と第2の経路との間で清浄度を段階的に
    上げる手段とを備えたことを特徴とする基板搬送装置。
JP61162134A 1986-07-11 1986-07-11 基板搬送装置 Pending JPS6318632A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61162134A JPS6318632A (ja) 1986-07-11 1986-07-11 基板搬送装置
US07/528,903 US4999671A (en) 1986-07-11 1990-05-29 Reticle conveying device

Applications Claiming Priority (1)

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JP61162134A JPS6318632A (ja) 1986-07-11 1986-07-11 基板搬送装置

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JPS6318632A true JPS6318632A (ja) 1988-01-26

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ID=15748683

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JP61162134A Pending JPS6318632A (ja) 1986-07-11 1986-07-11 基板搬送装置

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