TWI279565B - Dock plate with the function of cleaning and cooling - Google Patents
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1279565 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種測試裝置,更 測气私壯m i 士 7 m 又将別有關一種用於電性 、以封衣構^承置封農構造之測試座的固定板。 【先前技術】
之後積體^路^ (IGehiP)在封以料構造Wge) 測試機台對封裝構造進行電性測試,以確保 、至各戶知的封裝構造,其品質特性符合客戶的要求。 現請參考第1圖,其顯示習知 — 、 彳/、承載待測封裝構造以進 灯測試的測試座1 〇 〇之立體圖。 厶11Λ 版口 4測试座100具有一承置 口 Π 0 ’用於承載一待測之封裝槿 3了衣褥造,该承置台110略呈 矩形之底壁120具有探針ι3〇,用 υ用以支撐亚電連接置於該 承置台11 0内之封裝構造;由哕s 田Θ承置台110的底壁12〇周 緣向上延伸的侧壁140 ±,具有穿通該側壁14〇的開口 150。為了方便測試起見’常需要利用一個固定板,將上述 之測試座1 00固定於一外部的測試機台上。 、第2圖為習知測試座固定板之立體圖,其可固定第!圖 之測試座1GG ’該固定才反goo具有板狀外形,於其上則有 一穿通的承放口 210,可用以容納及固定該測試座1〇〇。 第3圖為顯示第2圖之固定板2〇〇結合第!圖之測試座 100之剖面圖。該容承有測試座1〇〇之固定板2〇〇,係裝設 於一外部之測試機380上。測試時,待測之封裝構造39〇 係置於該承置台Π 0中,藉由該封裝構造390底部的輸出 端3 92與該等探針130電連接,該等探針13〇則與該外部 01046-TW/ASE-1490 5 !279565 之测試機3 8 〇雷、金士立 進行電性挪試。mi 4機380能對該封I構造390 播、Λ而,在挪試過程中會產生高孰,孰量传隹φ 構造_底部的下方。由 :、‘,、、里料中於該封裝 為該固定板200所擋住,執量\、去通140的開。150 成該等輸出端392熔化产:、’精政出,有可能會造 毁損,造成測試成本的^ f,導致探針咖因高溫而 屑,同時探針二裝構造39°本身的重量而卡沾錫 130之間也會卡附使用時掉落 二,漸多時會造成電性测試不良(碎二 的浪費。…清潔’而造成測試時間成本 有鐘於此,便有須將羽田 上述之問題。 自用的測試座以板改良,以解決 【發明内容】 本發明之目的在於提供-種用於電性測試封裝構、 承置封裝構造之測試座固定拓 ^ ^ 、, 疋板’可清潔測試座内的摄斜, 增加測貨良率,及降低測試時針 用壽命。 刼針之/皿度,以增加探針使 為達上述目的,本發明於測試座固定板上設置導氣通 道’使其可與測試座侧邊的開口相連通’藉由導氣通道注 入高壓氣體’以將氣體導入測試座内,達到清潔及降溫的 01046-TW / ASE-1490 6 1279565 效果。 了讓本發明之上述和其他 下々枯m 、他目的、心徵、和優點能更明 卜文特舉本發明實施例,並 H 口所附圖示,作詳細說 L灵施方式】 4。。現第4圖’其顯示根據本發明之測試座固定相 4〇〇用於電性測試封裝構造時,固定i 座。固疋承置封裝構造之測言3 压禳测试座固定板400具有一永飨α w Λ ^ 承放口 410,用以容納石 疋=座,該測試座以側邊具有穿通開口之測試座, 例如弟1圖之測試座100。該固定板4〇。還i有至少一· 設於表面的輸氣管42。,其一端開口似位於該承放口 41 周緣、,另—端開口 424則可與—外部的送氣單& (圖未示 連通於4固定板400的表面可設有至少一條凹槽43〇 用以容納該輸氣管42〇。 現」青茶考帛5圖’其顯示根據本發明之測試座固定板 4〇〇,容納有測試座100,該測試座1〇〇係藉由該固定板4〇〇 固定於一外部的測試機380上。該輸氣管42〇的開口 422 係舁忒測4座1 〇 〇的開口 1 5 0相連通,由外部送氣單元(圖 未示)所產生的氣體,可由該輸氣管420的開口 424送入, /口著3輸氣管4 2 0而進入該測試座的承置台11 〇中。當對 封I構造進行電性測試時,一封裝構造39〇係置於該承置 台110中,該封裝構造390底部的輸出端392與位在該承 置。11 0底壁1 2 0上的複數個探針1 3 0電連接,該等探針 130則與該外部之測試機38〇電連接,使該測試機38〇能 01046-TW/ASE-1490 7 1279565 對該封裝構造390進行電性測試。為使該輸氣管420更易 與該測試座1 〇〇的開口 1 5〇相連通,可於兩者間設置一氣 嘴 426。
測試進行中,由該送氣單元所送出之低溫氣體,經由該 輸氣管420穿過該測試座1〇〇的開口 15〇而進入該封裝構 造390底部下方與該承置台n〇底壁ι2〇上方之間的空間 中’降低因測試所產生的高溫,使為錫球的輸出端392不 會因此而熔化,該等探針i 3〇亦不會因此而毀損,可延長 該等楝針130的使用壽命。再者,因該封裝構造39〇本身 的重量而導致其底部的錫球392卡沾於該等探針13〇上所 形成的錫屑,以及掉落於該承置台i丨〇内的髒污、碎屑等, 可於省封1構造390被取出時,一併吹出該承置台i丨〇外, 不會因該等髒污’造成電性測試不良,亦不需因此常常將 該測試座100取下清潔,可防止測試時間的浪費。 第6目為根據本發明《測試座固定板的另一實施態 樣’該測試座固定才反400,相似於第5圖之測試座固定板 4 0 0 ’所不同的是,測試座固定 — 压口疋板400的内部具有作用與該 輸乳官420相同的輸氣通道42〇 7 , υ - 端開口 422,位在該 承放口 410周緣,可與該測試 L 1 υ υ的開口 i 5 〇相連通, 另一端開口 424,則可與一外邱的、芝# 计认々、、、, 卜^的运乳單元(圖未示)連接。 以輸氣通道420’可使由該外部之 一 # ^ r 1 Πη A 、乳早兀所產生的氣體, 牙過该測试座1 〇〇的開口 i 5() 下方盥He W 該封裝構造390底部 :方…置自110底壁12。上方 試座固定板400,其餘部分的 門中上相 400,在此不再贅述。 ,、作用,相同於該固定板 01046-TW/ASE-1490 8 Ϊ279565 廣瞭解到各種增添、修改和取代可 例’必 施例,而不會脫離如所;本發明較佳實 ::::;- 於报多形式、結構、佈置、比例、材::=月:使用 口务 门、 T 70件和組件的修 用因此’本文於此所揭示的實施例於所有觀點,應被視 雍:以說明本發明,而非用以限制本發明。本發明的範圍
=後^請專利範圍所界定’並涵蓋其合法均等物,並 不限於先前的描述。 01046-TW/ASE-1490 9 1279565 【圖式簡單說明】 第1圖:為習知供承載待測封裝構造以進行測試的測試 座之立體圖 第2圖··為習知測試座固定板之立體圖,其可固定第1 圖之測試座。 第3圖:其顯示第2圖之測試座固定板結合第1圖之測 試座之剖面圖,並將其固定於一外部的測試機上。 第4圖:為顯示根據本發明之測試座固定板之立體圖, 用於電性測試封裝構造時,固定承置封裝構造之測試座。 第5圖:為顯示根據本發明之測試座固定板,容納有第 1圖之測試座之剖面圖,其將該測試座固定於一外部的測 試機上。 第6圖:為顯示根據本發明之測試座固定板的另一實施 態樣之剖面圖,其容納有第1圖之測試座,並將該測試座 固定於一外部的測試機上。 【圖號說明】 100 測試座 110 承置台 120 底部 130 探針 140 側壁 150 開口 200 測試座固定板 210 承放口 380 測試機 390 封裝構造 392 輸出端 400 測試座固定板 01046-TW/ASE-1490 10 1279565 400’ 測試座固定板 410 承放口 420 輸氣管 420! 輸氣管 422 開口 422, 開口 424 開口 424, 開口 426 氣嘴 430 凹槽 ❿ 01046-TW/ASE-1490 11
Claims (1)
1279565 十、申請專利範圍: 1、 一種測試座固定板,用於電性測試封裝構造時,固定承 置封裝構造之測試座於一外部之測試機上,該測試座具 有至少一個穿通其側壁的開口,該測試座固定板包含·· 一承放口,用以容納及固定該測試座;及 至少一條輸氣管,設於該測試座固定板的表面,其一 端開口位於該承放口周緣,可與該測試座的開口相連 通,另一端開口則可與一外部之送氣單元相連通; 其中一氣體可由該送氣單元產生,並沿著該輸氣管經 由該測試座之開口注入該測試座中,以清潔及冷卻該測 試座。 2、 依申請專利範圍第丨項之測試座固定板,其中該輸氣管 係藉由氣嘴與該測試座的開口相連通。 3、 依申請專利範圍第2項之測試座固定板,其另包含至少 一條設於表面的凹槽,用以容納該輸氣管。 4、 一種測試座固定板,用於電性測試封裝構造時,固定承 置封裝構造之測試座於一外部之測試機上,該測試座具 有至少一個穿通其侧壁的開口,該測試座固定板包含·· 一承放口,用以容納及固定該測試座;及 至少一條輸氣通道,設於該測試座固定板的内部,其 一端開口位於該承放口周緣,可與該測試座的開口相連 通,另一端開口則可與一外部之送氣單元相連通; 其中一氣體可由該送氣單元產生,並沿著該輸氣通道 01046-TW/ASE-1490 12 1279565 經由該測試座之開口注入該測試座中,以清潔及冷卻該 測試座。
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