TW533464B - Cooling chamber of etcher and method of using the same - Google Patents
Cooling chamber of etcher and method of using the same Download PDFInfo
- Publication number
- TW533464B TW533464B TW91104640A TW91104640A TW533464B TW 533464 B TW533464 B TW 533464B TW 91104640 A TW91104640 A TW 91104640A TW 91104640 A TW91104640 A TW 91104640A TW 533464 B TW533464 B TW 533464B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- cooling chamber
- etching machine
- patent application
- scope
- item
- Prior art date
Links
Description
533464 A7 B7 五、發明説明() 發明領域: (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 本發明係有關於一種蝕刻機之冷卻室及其使用方法, 特別是有關於一種具有可用來加熱晶圓之例如為石英燈之 加熱裝置’以使4結至晶圓表面的〉臭化氮(h y d r 〇 g e η bromide ; HB〇等製程物質蒸發且由排氣管排出之蝕刻機之 冷卻室及其使用方法。 發明背景: 在半導體製程中,蝕刻(etch)被用來將某種材質自晶圓 表面上移除。而乾式蝕刻(又稱為電漿蝕刻)則是目前最常 使用的姓刻方式,其以氣體為主要的蝕刻媒介,並藉由電 漿能量來驅動反應。 電漿對姓刻製程有物理性與化學性兩方面的影響。首 先,電漿會將蝕刻氣體分子分解,產生能快速蝕去材料的 高活性分子。此外’電衆也會把這些化學成份離子化,使 其帶有電荷。晶圓則是置於帶負電的陰極上。當帶正電荷 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 的離子被帶負電的陰極吸引,並加逮向陰極方向前進時^ 其便會以垂直角度撞擊到晶圓表面,如此即可獲得絕佳的 垂直ϋ刻。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐)^-------- — A7 B7 1 '發明説明() (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 上述電漿蝕刻製程必須在電漿蝕刻機中以所需的製程 物質來進行。當此電漿蝕刻製程完成後,晶圓通常必須進 行進一步的處理,以利進行後續製程。此進一步的處理例 如可令晶圓進入如第1圖所繪示之習知蝕刻機之冷卻室中 如以靜置冷卻。第1圖中所繪示的冷卻室包括主體10、接 合板20、以及支撐板25等元件。主體1〇具有晶圓出入口 3〇以及排氣管40。晶圓出入口 30位於主體10的其中一 端,用以使晶圓9 0從此晶圓出入口 3 0進入主體1 〇中。排 氣營4 0連接至主體1 0的另一端’用以使如溴化氫等製程 物質排出至主體10外。接合板20連接至晶圓出入口 3〇, 用以使主體10連接至蝕刻機(未繪示)。支撐板25固定於 主體10之内部空間,用以支撐晶圓90。此外,上述排氣 官4 〇中的體積流率例如可為約5 C F Μ。 缝濟部智慧財產局員工消費合作社印製 晶圓9 0除在上述冷卻室中靜置約2 0秒以進行冷卻 外’更可利用抽氣功能將殘留的製程物質,例如為溴化氫, 緩由排氣管4 0排出至冷卻室外。如溴化氫之製程物質在蝕 刻反應室中原為氣體,但殘留的溴化氫氣體到了冷卻室中 常常會發生冷凝至晶圓9 0表面之情況,進一步導致晶圓表 面產生微粒缺陷。 習知為了解決上述因殘留製程物質凝結在晶圓表面而 造成微粒缺陷之問題,係在晶圓進行後續蝕刻後檢測(after 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) 533464 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明( etch inspection ; AEI)之前条 " ^ y 行硬烤(hardbake)步驟。所 έ月硬烤,係指晶圓在送往下— 個氣裎之前,必須經過一烘 烤步驟,以進一步將凝結至3 曰日W表面的殘留製程物質蒗 並帶離晶圓表面。然而,此廊# 衣7视貝…、^ 此硬烤之做法不僅麻煩,而且費 恰,因此有必要尋求其它的解決方法。 、 發明目的及概述: 鑒於上述發明背景中,習土丄ώ 白知如漠化氫之製程物質在蝕 刻反應室中原為氣體,但殘塑 , 戈留的溴化氫氣體到了冷卻室中 苇常會發生冷减至晶圓表面之产 之匱况,進一步導致晶圓表面 產生微粒缺陷。此外,習知Α 马了解決上述因殘留製程物質 凝結在晶圓表面而造成微粒缺陷 、 研丨曰之問題,係在晶圓進行後 續姓刻後檢測之前先進行硬堵牛 更烤步驟。然而,此硬烤之做法 不僅麻煩,而且費時。因此本發 a ^ ^ ^ 令心明之一目的為提供一種蝕 刻機之冷卻室及其使用方法,可用 j用以使凝結至晶圓表面的 溴化氫等製程物質蒸發且由排氣管排出至冷卻。
本發明之另一目的為提供一插為亡i,地 A ^ 1/n 楂蝕刻機之冷卻室及其使 用方法’可用以減少晶圓上微粒缺陷的發生。 本發明之又一目的為提供一種蝕刻機之冷卻室及其使 用方法,可用以省去後續硬烤之步驟。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) .......••…I*·…t.........、可.........線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 533464 A7 B7 五、發明説明() (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 依據本發明之上述目的,因此本發明提供一種蝕刻機 之冷卻室’適用於將凝結至置於此冷卻室中之晶圓上的製 私物貝蒸發且排出至此冷卻室外,其中此冷卻室至少包 括:主體’具有孔洞於此主體之表面、晶圓出入口於此主 體之一端、以及排氣管連接至此主體之另一端;以及包括 例如燈罩與燈泡之加熱裝置,與該主體相連接,其中此燈 泡可用以加熱晶圓。 依據本發明之上述目的,因此本發明提供一種蝕刻機 之冷卻室之使用方法,至少包括下列步驟:首先,將晶冬 (front open unified pod ; FOUP)中的晶圓傳送至冷卻室中; 接著,開啟例如為石英燈泡之加熱裝置的電源達例如約工5 秒後再將電源關閉;接著,將晶圓靜置並冷卻例如約i 〇 秒;然後,傳送晶圓至晶盒中。 圖式簡單說明: 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本發明的較佳實施例將於往後之說明文字中輔以下列 圖示做更詳細的闡述,其中: 第1圖係繪示習知蝕刻機之冷卻室之立體圖; 第2圖係繪示本發明之一較佳實施例之蝕刻機之冷卻 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x297公釐) 533464 A7 B7 五、發明説明() 室的立體圖; (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 第3圖係繪示本發明之蝕刻機之冷卻室的運作原理之 不意圖; 第4圖係繪示本發明之蝕刻機之冷卻室的使用方法之 流程圖;以及 第5圖係繪示本發明之蝕刻機之冷卻室的石英燈泡之 加熱時間與晶圓溫度之關係圖。 圖號對照說明: 10 主體 20 接合板 25 支撐板 30 晶圓出入口 40 排氣管 90 晶圓 1 10 主體 120 接合板 125 支樓板 130 晶圓出入口 140 排氣管 150 孔洞 160 燈罩 170 燈泡 180 開口 190 晶圓 200 溴化氫分子 210 箭號 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 3 1 0傳送晶圓至冷卻室中 3 20開啟燈泡之電源達例如約1 5秒後再將電源關閉 3 3 0將晶圓靜置並冷卻例如約1 0秒 3 40傳送晶圓至晶盒 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) 533464 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明() 發明詳細說明: 本發明係有關於一種具有可用來加熱冷卻室中的晶圓 之石英燈以使凝結至晶圓表面的溴化氫等製程物質蒸發且 由排氣管排出至冷卻室外之蝕刻機之冷卻室及其使用方 法。請參考第2圖所繪示之本發明之一較佳實施例之蝕刻 機之冷卻室的立體圖。第2圖中所繪示的冷卻室包括主體 1 10、接合板120、支撐板125、燈罩160、以及燈泡170 等元件。主體1 1 0具有孔洞1 5 0、晶圓出入口 1 3 0、以及排 氣管140。孔洞150用以使燈罩160連接至主體且位於主 體11 0的其中一個表面上,例如可為上表面。晶圓出入口 1 3 0位於主體1 1 0的其中一端,用以使晶圓1 90從此晶圓 出入口 130進入主體110中。排氣管140連接至主體110 的另一端,用以使如溴化氫等製程物質排出至主體 110 外。接合板1 2 0連接至晶圓出入口 1 3 0,用以使主體1 1 0 連接至蝕刻機(未繪示)。支撐板1 2 5固定於主體1 1 0之内 部空間,用以支撐晶圓1 9 0。燈罩1 6 0具有開口 1 8 0且以 此開口 1 80連接至上述主體1 1 0之孔洞1 50。燈泡1 70置 於此燈罩1 60中且可用以加熱晶圓1 90。燈泡1 70的種類 例如可為石英燈泡。因石英燈泡可耐高熱且可在短時間内 快速加熱晶圓1 90,藉以儘可能縮短製程時間,故為本發 明之一較佳實施例。然本發明中的燈泡1 70並不限定使用 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) .......——_i——裝.........訂.........線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 533464 A7 B7 五、發明説明() (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 石英燈泡,任何可達成本發明之加熱功能之其它種類的燈 泡,皆在本發明之範圍内。再者,燈泡1 7 0的功率例如可 為約1 0 0 0瓦且燈泡1 7 0的操作電壓例如可為約1 2 0伏特。 此外,上述排氣管1 40中之體積流率例如可為約5CFM。 上述燈泡1 70的數目原則上僅需一個即可。但亦可同 時使用複數個功率較小的燈泡,再配合複數個燈罩160, 亦同樣可達成本發明所述之加熱功能。 請參考第3圖所繪示之本發明之蝕刻機之冷卻室的運 作原理之示意圖。如第3圖中所繪示,燈泡1 70以熱輻射 的形式將熱量傳遞至晶圓1 90的表面,藉以使晶圓1 90 的表面之溫度上升,進一步使凝結在晶圓1 90的表面之例 如為溴化氩分子200之製程物質蒸發。蒸發成為氣態之溴 化氫分子200再如箭號210所示由排氣管(未繪示)排出至 冷卻室(未緣示)外。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 接著以第4圖來說明本發明之蝕刻機之冷卻室的使用 方法之流程。首先,如步驟3 1 0所示,將晶盒中的晶圓傳 送至冷卻室中。接著,如步驟3 2 0所示,開啟燈泡之電源 達例如約1 5秒後再將電源關閉。接著,如步驟3 3 0所示, 將晶圓靜置並冷卻例如約1 0秒。接著,如步驟3 40所示, 傳送晶圓至晶盒中。經上述步驟後,即可將凝結在晶圓表 8 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) 533464 A7 B7 五、發明説明() 面上的例如溴化氫等製程物質蒸發為氣體且由排氣管排出 至冷卻室外,進一步可減少晶圓上微粒缺陷的發生。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 第5圖係繪示本發明之蝕刻機之冷卻室的石英燈泡之 加熱時間與晶圓溫度之關係圖。此第5圖係以1 000瓦之功 率之石英燈泡施以1 2 0伏特之操作電壓進行量測所獲得的 加熱時間與晶圓可到達溫度之關係圖。此石英燈泡雖具有 最高1 000伏特之功率,但實際上可僅使用部分功率。第5 圖中分別繪示出50%功率、60%功率、70%功率、80%功率、 90%功率、以及100%功率所對應之曲線。由此第5圖中可 看出若要使晶圓表面的溫度達到例如1 70°C之需求溫度, 則使用1 00%功率的情況下僅需加熱約20秒,而使用50% 功率的情況下卻需要較400秒更長的時間。 以上述本發明之一較佳實施例之具有加熱石英燈泡之 冷卻室來加熱晶圓,不僅可將凝結在晶圓表面的製程物質 蒸發,而且因此可省去原本在後續製程必須進行的硬烤步 驟。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 綜合上述,本發明之一優點為提供一種蝕刻機之冷卻 室及其使用方法,可用以使凝結至晶圓表面的溴化氫等製 程物質蒸發且由排氣管排出至冷卻室外。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐) 533464 A7 B7 五、發明説明() 本發明之另一優點為提供一種蝕刻機之冷卻室及其使 用方法,可用以減少晶圓上微粒缺陷的發生。 本發明之又一優點為提供一種蝕刻機之冷卻室及其使 用方法,可用以省去後續硬烤之步驟。 如熟悉此技術之人員所瞭解的,以上所述僅為本發明 之較佳實施例而已,並非用以限定本發明之申請專利範 圍;凡其它未脫離本發明所揭示之精神下所完成之等效改 變或修飾,均應包含在下述之申請專利範圍内。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 10 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐)
Claims (1)
- 533464 A8 B8 C8 D8經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 申請專利範圍 1. 一種蝕刻機之冷卻室,適用於將凝結至置於該冷卻 室中之一晶圓上之一製程物質蒸發且排出至該冷卻室外, 其中該冷卻室至少包括: 一主體,具有一孔洞於該主體之一表面、一晶圓出入 口於該主體之一端、以及一排氣管連接至該主體之另一 端;以及 一加熱裝置,與該主體相連接。 2. 如申請專利範圍第1項所述之蝕刻機之冷卻室,其 中該製程物質為溴化氫(hydrogen bromide ; HBr)。 3 .如申請專利範圍第1項所述之蝕刻機之冷卻室,其 中該加熱裝置至少包括: 一燈罩,具有一開口 ,其中該開口連接至該孔洞;以 及 一燈泡,置於該燈罩中,其中該燈泡可用以加熱該晶 圓。 4.如申請專利範圍第3項所述之蝕刻機之冷卻室,其 中該燈泡可為石英燈泡。 5 .如申請專利範圍第3項所述之蝕刻機之冷卻室,其 中該燈泡之功率為約1 0 0 0瓦。 .......::裝.........訂.........線 (請先閲讀背面之注意事項再塡寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) 533464 A B CD經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 申請專利範圍 6. 如申請專利範圍第3項所述之蝕刻機之冷卻室,其 中該燈泡之一操作電壓為約1 2 0伏特。 7. 如申請專利範圍第3項所述之蝕刻機之冷卻室,其 中該燈泡之一電源開啟時間為約1 5秒。 8 ·如申請專利範圍第3項所述之蝕刻機之冷卻室,其 中關閉該燈泡後該晶圓靜置冷卻約1 0秒。 9.如申請專利範圍第1項所述之蝕刻機之冷卻室,其 中該排氣管中之一體積流率為約5CFM。 1 0. —種蝕刻機之冷卻室,適用於將凝結至置於該冷卻 室中之一晶圓上之一製程物質蒸發且排出至該冷卻室外, 其中該冷卻室至少包括: 一主體,具有一孔洞於該主體之一表面、一晶圓出入 口於該主體之一端、以及一排氣管連接至該主體之另一 端; 一燈罩,具有一開口 ,其中該開口連接至該孔洞;以 及 一燈泡,置於該燈罩中,其中該燈泡可用以加熱該晶 圓。 12 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 533464 8 8 8 8 A B CD 六 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 申請專利範圍 1 1 .如申請專利範圍第1 0項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中該製程物質為溴化氫。 1 2 .如申請專利範圍第1 0項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中該燈泡可為石英燈泡。 1 3 .如申請專利範圍第1 0項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中該燈泡之功率為約1 000瓦。 1 4.如申請專利範圍第1 0項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中該燈泡之一操作電壓為約1 2 0伏特。 1 5 .如申請專利範圍第1 0項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中該燈泡之一電源開啟時間為約1 5秒。 1 6.如申請專利範圍第1 0項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中關閉該燈泡後該晶圓靜置冷卻約1 〇秒。 1 7.如申請專利範圍第1 0項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中該排氣管中之一體積流率為約5CFM。 1 8. —種蝕刻機之冷卻室,適用於將凝結至置於該冷卻 13 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) .......-·:」----裝.........、可.........線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 533464 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六 A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 室中之一晶圓上之一製程物質蒸發且排出至該冷卻室外, 其中該冷卻室至少包括: 一主體,具有複數個孔洞於該主體之一表面、一晶圓 出入口於該主體之一端、以及一排氣管連接至該主體之另 一端; 複數個燈罩,其中每一該些燈罩具有一開口且該開口 連接至每一該些孔洞;以及 複數個燈泡,其中每一該些燈泡置於每一該些燈罩中 且該些燈泡可用以加熱該晶圓。 1 9 .如申請專利範圍第1 8項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中該製程物質為溴化氫。 2 0 .如申請專利範圍第1 8項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中該些燈泡可為石英燈泡。 2 1 .如申請專利範圍第1 8項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中該些燈泡之一操作電壓為約1 20伏特。 2 2 .如申請專利範圍第1 8項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中該些燈泡之一電源開啟時間為約1 5秒。 2 3 .如申請專利範圍第1 8項所述之蝕刻機之冷卻室, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 533464 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 其中關閉該些燈泡後該晶圓靜置冷卻約1 0秒。 24 .如申請專利範圍第1 8項所述之蝕刻機之冷卻室, 其中該排氣管中之一體積流率為約5CFM。 2 5. —種蝕刻機之冷卻室之使用方法,適用於將凝結至 置於該冷卻室中之一晶圓上之一製程物質蒸發且排出至該 冷卻室外,其中該蝕刻機之冷卻室之使用方法至少包括: 傳送該晶圓至該冷卻室中,其中該冷卻室具有一燈 泡; 開啟該燈泡之電源達一第一時間後再關閉;以及 將該晶圓靜置並冷卻一第二時間。 2 6 .如申請專利範圍第 2 5項所述之蝕刻機之冷卻室之 使用方法,其中該製程物質為溴化氫。 2 7 .如申請專利範圍第2 5項所述之蝕刻機之冷卻室之 使用方法,其中該燈泡可為石英燈泡。 2 8 .如申請專利範圍第 2 5項所述之蝕刻機之冷卻室之 使用方法,其中該燈泡之功率為約1 〇〇〇瓦。 2 9.如申請專利範圍第 2 5項所述之蝕刻機之冷卻室之 15 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 8 8 8 8 A B c D 533464 々、申請專利範圍 使用方法,其中該燈泡之一操作電壓為約1 2 0伏特。 3 0 .如申請專利範圍第2 5項所述之蝕刻機之冷卻室之 使用方法,其中該第一時間為約1 5秒。 3 1 .如申請專利範圍第2 5項所述之蝕刻機之冷卻室之 使用方法,其中該第二時間為約1 0秒。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW91104640A TW533464B (en) | 2002-03-12 | 2002-03-12 | Cooling chamber of etcher and method of using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW91104640A TW533464B (en) | 2002-03-12 | 2002-03-12 | Cooling chamber of etcher and method of using the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW533464B true TW533464B (en) | 2003-05-21 |
Family
ID=28788538
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW91104640A TW533464B (en) | 2002-03-12 | 2002-03-12 | Cooling chamber of etcher and method of using the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TW533464B (zh) |
-
2002
- 2002-03-12 TW TW91104640A patent/TW533464B/zh not_active IP Right Cessation
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW204411B (zh) | ||
KR102520345B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
TWI656574B (zh) | Heat treatment device, heat treatment method and memory medium | |
US8475602B2 (en) | Substrate cleaning method and apparatus | |
TW552307B (en) | Heated and cooled vacuum chamber shield | |
TW565623B (en) | Temperature control system for process chamber | |
TW529116B (en) | Method and apparatus for conditioning an electrostatic chuck | |
JP2008311298A (ja) | 載置台およびそれを用いたプラズマ処理装置 | |
TW201117676A (en) | Substrate treatment apparatus | |
WO2005116758A2 (en) | Cleaning a mask substrate | |
TWI520260B (zh) | Substrate adsorption method, substrate disconnection method and substrate processing device | |
WO2002093623A3 (en) | Assembly comprising heat distributing plate and edge support | |
JPH0697149A (ja) | 蒸気乾燥法 | |
TWI299976B (en) | Air blown chip heat dissipation device and manufacturing method thereof | |
TW533464B (en) | Cooling chamber of etcher and method of using the same | |
TW378347B (en) | Device and method of forming photoresist layer on semiconductor device | |
JPH07183279A (ja) | 処理装置 | |
TWI814810B (zh) | 蝕刻有機區域之方法 | |
TW501174B (en) | Photoresist baking device | |
JP2004079682A (ja) | 基板処理装置 | |
JPS63114118A (ja) | 薄膜加工用圧着ヒ−タ支持装置 | |
US20120312698A1 (en) | Method for initializing or removing contaminants from a deposition chamber and method of manufacturing the chamber | |
JPH0645335U (ja) | 基板加熱処理装置 | |
JP7290413B2 (ja) | 真空処理装置 | |
JP2010177239A (ja) | 半導体ウェハ処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |