TW515194B - Image sensor used for image inputting device - Google Patents
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Description
515194 五、發明說明（l) 【發明所屬之技術範疇】 衫像輸入部 本發明係關於一種使用於影像輸入裝置之 的影像偵知器。 【習知之技術】 第8圖為表示於特開平4 —1 1 1 664號公告之習知例工 像偵知器之構成的剖面圖。第9圖為從第8圖之F方向看、的^ 側視圖。在圖中，1 〇丨係影像偵知器；i 〇 2係位於原稿疒、 面之玻璃板；1 03係偵知器框架；i 〇4係由直線狀並2 數個LED所構成，照明行走於玻璃板1〇2上之原稿ιΐ3表面 之線狀光源，1 〇 6係直線狀並列之複數個透鏡所構成， 從原稿11 3表面來之反射光正立等倍成像之桿狀透鏡陣 列；107係配置桿狀透鏡陣列1〇6之偵知器框架1〇3的長 溝；108係供桿狀透鏡陣列1〇6發出之出射光通過之偵、知 1 03的長形孔；丨09係把桿狀透鏡陣列丨〇6固定於偵知器框^ 架1 03之螺絲；i丨〇係由直線狀並列之複數個受光元件所 成，接受藉由桿狀透鏡陣列1〇6而成像的從原稿113表面 ,^射光的之偵知器1C ;丨丨丨係搭載有偵知器IC1 1〇的偵知 益基板；112係在桿狀透鏡陣列1〇6之縱向（在第8圖中係
:、平面垂直的方向）上，設置於偵知器框架丨〇 3兩端之側 板。 J 9 β旦又/ / 1 〇圖係表不於特開平4一 1 1 1 664號公告之f知例 2的::像偵知器之構成的剖面圖。第"圖係由第1〇圖 方向看的側視圖。在圖中，121係影像谓知器；122係安裝
2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第6頁 五、發明說明（2) 於側板112，壓緊桿狀透 π — 透鏡陣列壓著固定於彈菩 之彈簧；1 23係把桿狀 第8圖與第9圖中使用同：： =、、、糸。其他構成元件因為與在 此省略詳細之說明。 疏之物件相同或同等之故，在 ，明桿狀透鏡陣列之動作。 第1 2圖為說明桿狀透 ⑽係如第12圖所示，把以=動作之圖。桿狀透鏡陣列 射而成像於Q點。在此，由= 表面之光反 止之光學距離X，與從㈣到透鏡陣列106中心為 先學距離γ相等。因此，摘知器組立日寺，胸 整桿狀透鏡陣列之位置使其位^ ϋ ’、凋 I /、m於從原稿11 3表面來的反射 光的成像位置。藉此，影像偵知器才能對焦。 、詳細說明係，在習知例i中，如第9圖中之箭頭所示， 使透鏡106上下移動〇而且，在偵知器IC11〇位於從原稿 11 3表面來之反射光之成像位置時，把螺絲丨〇 9鎖緊，把桿 狀透鏡陣列106壓著固定於與偵知器框架1〇3之螺絲1〇9對 向之壁面上。如此一來，可以把偵知器丨C丨丨〇調整到位於 從原稿11 3表面來之反射光之成像位置上。 習知例2中，如第11圖中箭頭所示桿狀透鏡陣列1 〇 6藉 由彈簧122之作用，而以鎖緊螺絲123向上側移動；以鬆開 螺絲123向下側移動。因此’在偵知器IC110位於從原稿 • 11 3表面來之反射光之成像位置時，停止螺絲1 2 3之旋轉。 如此一來，玎以把偵知器1 c 11 〇調整到位於從原稿11 3表面 來之反射光之成像位置上。
2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第7頁 515194 五、發明說明（3) ' ---- 接下來說明動作。 原稿1 1 3行走於玻璃板丨〇 2上時，線光源丨〇 4透過玻璃 板102照明原稿113之表面。照明光依原稿113表面之影像 濃淡而反射。由原稿113表面來的光係通過桿狀透鏡陣列 106，再通過偵知器框架103之長形孔1〇8成像於谓知器 I C11 0上，而偵知裔！ c丨i 〇接受光之照射。依從原稿丨丨3表 面來的反射光之強度，藉由偵知器Icn〇作光電變換，原 稿11 3表面影像之濃淡資訊藉由偵知器基板丨丨丨而輸出到外 【發明欲解決之課題】 習知例1之影像偵知器因為係前述之構成，因此有以 下之問題。第13圖係表示螺絲鎖緊時，由上侧所見偵知器 框架之長形孔及長形溝槽之狀態。第14圖係表示由上側所 見長形孔之端部之構成。如第13圖所示’ #由鎖緊螺絲 109而價知器框架103之長形溝槽1〇?及長形孔ι〇8變寬，债 知器框架1〇3與桿狀透鏡陣列1〇6之間發生間隙。债知器框 =03之長形孔1()8係如第14圖所示，沒有達到偵知器框架 103兩端之側板m，，而且在兩端部上，與偵知器框架1〇3 邦换，/ ^此H溝槽1 Q 7及長形孔1Q 8係巾央部比兩端 /擴大很夕。因此’由偵知器框架103和桿狀透鏡陣列106 之間的間隙會漏光，而和從原稿來在偵知器IC110上成像 之反射光重疊，而有無法取得原稿11q 淡資訊的問題。. 〗原“113表面影像之正確濃
515194 五、發明說明（4) 又，藉由鎖緊螺碎丨 列106表面旋轉而切削斤19，螺絲109尖端會在桿狀透鏡陣 異物。因此，異物會！透鏡陣列m的表面，進而產生 106之間的間隙而停在伯、益框架103與桿狀透鏡陣列 #而卑德夕、曲、* 一 貞知态1C1 1 〇上，而有妨礙原稿1 1 3 表面影像之》辰淡貧訊的取得之問題。 和以 又，藉由鎖緊螺絲1〇9，偵知器框架！ 1 0 7以及長形孔會變寬，伯 食开/溝槽 ^ 1 Τ夹σ卩之1尺寸比兩端部的ίί尺寸變得争 _ 尺、之大小疋依照螺絲鎖緊扭力。因此，# 計與影像價知器m鄰接配置之零件形狀之問題有難以-又，如習知例2之影像偵知器僅固定桿狀 之兩端侧，影像偵知器121如果是長尺寸的兄=6 透鏡陣在製造時的反㈣自重而造成之扭 之偵知器IC11 0在桿狀透鏡陣列丨〇 6之全部長产曰 到由原稿113表面來的反射光之成像位置上'"的又問題，、。法調整 即’會有在桿狀透鏡陣列丨〇6之全長上都無法 。亦 題。 …/蚵焦之問 又’在桿狀透鏡陣列1 〇 6僅固定兩端部時，& 器121變成長形的話，在環境溫度變化時，因為4像，知 架1 0 3與桿狀透鏡陣列1 〇 6的線膨脹係數不同，…傭知器框 鏡陣列產生扭曲，偵知器IC會有偏離由原稿丨丨3而使桿狀透 反射光之成像位置的問題。亦即，會有焦點表面來的 本發明之主要目的係，考慮到前述問題，2，問題。 取得原稿影像的濃淡資訊。 ’使能夠正確
2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第9頁 M5194 五、發明說明（5) 又，第1附屬目的係，使能夠得二 濃淡資訊取得的影像偵知器。 妨礙原稿影像的 又，第2附屬目的係，使能夠得 不會變化的影像偵知器。 彳貞知裔框架之外形 使能夠得到在4 〇 牡幹狀透鏡陣列全 八，弟4附屬目的係，使能夠得到 焦點也不會偏離之影像偵知器。 使衣扰溫度變 又，第3附屬目的係 長都能對焦的影像偵知器 又，第4附屬目的係 化 【解決課題之手段】 關於本發明之影像偵知器 面；桿狀透鏡陣列，將由前述廣光源，照明原稿表 成像；受光元件’接受藉由前述桿的反射光予以 射光；框架，固定前述桿狀 透鏡陣列而成像之反 件，支撐前述受光元件 ^二=及支持調整構 光元件間之距離，把前述d#狀透鏡陣列與前述受 像位置。 又先疋件配置於前述反射光之成 關於本發日月之^吾彡# 射面、與前述入射面對 刀，扣狀透鏡陣列具有··入 之第1側面、以及盥第 =射面、彺長度方向平行延伸 之第"匡架部係密著：，二 器配置於框架之第！與透鏡陣列之第1側面，影像偵知 框架部係密著於桿狀、框架部分之間，以使框架之第2 狀透鏡陣列之第2側面。 2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第10頁 515194 五、發明說明（6) 關於本發明之影像偵知器係，框架具有：由桿狀透鏡 陣列而來之出射光通過的長形孔；桿狀透鏡陣列係密著於 鄰接長形孔一端之框架面上，以使桿狀透鏡陣列覆蓋長形 孔一端，。 關於本發明之影像偵知器之支持調整部係包括：板狀 構件，包括：面狀支持部，支持受光元件；面狀調整部， 連接前述支持部而且連接框架端面配置，可以在該端面上 移動；固定構件，調整桿狀透鏡陣列與受光元件之間距 離，為了使受光元件配置於反射光之成像位置，而使板狀 構件在端面上移動後，將調整部在複數處所固定於端面 上。 關於本發明之影像偵知器之固定構件係在3個處所以 上將調整部固定於端面上。 關於本發明之影像偵知器係，包括：遮蔽構件，遮蔽 在支持部與框架之間，由外部到受光元件之路徑。 關於本發明之影像偵知器之支持調整構件係包括：面 狀支持構件，支持受光元件；調整構件，在複處處所支持 支持構件，而且以使受光元件配置於反射光之成像位置為 目的，調整支持構件與框架間之距離；彈性構件，配置於 支持構件與框架之間，而且使支持構件呈朝遠離框架之推 壓。 ’ 關於本發明之影像偵知器之調整構件係，在3處以上 支持支持構件。 關於本發明之影像偵知器係，包括：遮蔽構件，遮蔽
2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第11頁 五、發明說明（7) 在支持構件與框架之間，由 F到党光元件之路徑 【發明之較佳實施型 實施型態1 〜】 以下針對本發明 型態1之影像偵知哭的槿。第1圖係表示本發明之實施 視圖。第3圖為第/圖圖。第2圖係第1圖之A-A 圖。可是，在第2圖中 σ I看的影像偵知器的側視 表示一部分之構成要素/在表不主要部分。在第3圖中，僅 於原稿行走面之玻璃· " 1係衫像偵知器，2係位 框架部分5所構成的璃偵板知器3:义= 板2之上而照明原稿表面的 1木），6係行走於玻璃 知『匡架3而保持線光源6之二光 由桿狀透鏡陣列8而4成^= &透面鏡/列⑽接受藉 器1c (受光元件）；10係搭载心==4射光之偵知 11係由支持偵知器！ C 9盥#知戰偵1C 9的债知器基板； 與連接川…2^與==1;°二面連 分12, 第2部分13(調整部）所構成之L型;反== 形成於L型板11之箆？邱八]Q ) ’ 1 4係 L却杯Π夕繁9抑 之螺孔；15係設於螺孔14，把 邛女1 3固定於偵知器框架3端面之 定構件）；16係配置於價知器基板1〇以及第2樞年=(固 以遮蔽由景》像—口器i外部到偵知器旧之路後，木之間， 之光或異物通過路徑到達偵知器IC9之隔板（遮蔽構件部 2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第12頁
515194 五、發明說明（8) ) 即使[型板1 1與Y貞知考其仏ϊ n l 塞通路，· 17係設置於谓知°器、架3之=?動，也能確保阻 桿狀透鏡陣列8係，由沿著縱向並二的側板。 成。桿狀透鏡陣列8之與縱直^面:之複數透鏡所構 表示，在第2圖中之橫向係與剖面圖/第1圖 面8a對向，·第射面83 ’·出射_，與該入射 第1側面8c對向二狀C透；：向平行延伸；第2侧面⑸，與 部分4密著於浐壯、#并*間以使偵知器框架3之第1框架 竿3之ΙΙΛ 陣列8之第1側面8c上，而偵知器框 Ϊ。因此;;:ΓΛ著於桿狀透鏡陣列8之第2側面8d i觸=干狀透鏡陣列8之第1側面8c與第1框架部分4之 ίΓ之接刀觸邱以Λ桿狀透鏡陣列8之第2側面8d與第2框架部 刀5之接觸口p刀上沒有間隙。第丨框架 ==第1側面8c之密著狀態般地，^ 鏡陣列8 ;以第3 ’把第1框架部分4固定於桿狀透 ’ 框术部分5與第2側面8 d之接觸面，把第？ 框^部分5固定於桿狀透鏡陣列8，U使第2框架部分5保持 與桿狀透鏡陣列8之第2側面8d之密著狀態。其固定方法、 係’在第1框架部分4與第i側面8c之接觸面的全部或」 分上，設置面雙面膠或接著劑等；在第2框架部分5鱼° 側面8d之接觸面的全部或一部分上，言免置面雙面膠或 第1，2框架部分4，5係，在上部上，有配置線光則
2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第13頁 五、發明說明（9) 以及保持構件γ之凹部。. 、 以及第2框架部分5之上來 ，、=第1框架部分4之上端 桿狀透鏡陣列8之第〗側=支；過： 基板10之下方，一直延 以及谓知器 藉此，與桿狀透鏡陣列8之縱6 、兄陣列8之第2側面8d。 成為U字型。 早训之縱向垂直的谓知器框架3之截面 i θ ^光源6係/σ著桿狀透鏡陣列之縱向延伸。線来满fi 口 要疋旎照明行走於玻璃板2上申、線先源L、 都可以。例如，沿著桿狀透何的構成 燈管，源6即使設置 係以兩^或在複數處所保持線光源6。 呆.寺構件7 偵知器IC 9係由沿著桿狀透鏡陣 框架3兩端兮§•署夕/日，丨1 7 j在"ί貞知器 側板! 7之間存在門+板V/以， 端部與側板17“門隙了使由桿狀透鏡陣列8之 U间之間隙進入之光不會到達偵知5| ΤΓΟ二 ::整摘知器1C9之長度。福知器基板10係沿著桿狀透鏡 ^列8之縱向延伸，達到設置在偵知器框架3兩端之側板 之凹部：益IC9與偵知器基板!。係配置於υ型读知器框架3 垂直於桿狀透鏡陣列8之縱向的L型板丨丨之戴面 /。型板11係沿著桿狀透鏡陣列8之縱向延伸，到％ 於，知器框架3兩端之側板17 型板η之第】部分置 於垂直桿狀透鏡陣列8之出射方向。偵知器框架3的第】、框 第14頁 2103-4120-PF;Ahddub.ptd 515194 五、發明說明（ίο) 架部分4係，在延伸至桿狀透鏡陣列8之第2側面8d之部 分，包括有與桿狀透鏡陣列8之出射方向和與桿狀透鏡 列8縱向平行之端面4a。L型板丨丨之第2部分13位於盥浐 透鏡陣列8之出射方向及桿狀透鏡陣列8縱向平行/以干 第1框架部分4之端面4a相接之位置。形成於[型板丨丨之 部分13之螺孔14的直徑係、，比設置於另一邊之螺絲^ 徑還大。因此，L型板U之第2部分13僅能在^框 之端面4a上移動螺孔14與螺絲15之直徑差。亦即，l 11僅能以螺孔14與螺絲15之直徑差，作上下移動。 係形成於複數處所，L型板U之第2部分13係調節過第2 分13之位置後，藉由設置於各螺孔14之螺絲15，以複數^ 所固定於第1框架部分4的端面4a。特別是，影像谓知器广 係長形物時，螺孔丨4形成於3處以上，藉由設置於各螺1 14,螺絲15 ’以3處以上机型板u之第2 固於 框架部分4之端面4a。 疋於弟1 隔板1 6係設置於偵知器基板丨〇之上，埋 架3之第2框架部分5以；5庙i：叫A J , Λ 、偵矣為框 、σ為基板1 0之間。與桿狀透鏡 陣列8縱向相垂直的隔板16之 。 ^ ^ 二板「。偵知器框架3之第2框架部分5係、二 ^凹部…以及咬合凸部5a。此凸心係沿著桿狀^^車板 ^狀透縱Λ延伸’達到偵知器框架3兩端之側板17。當調整 之隔板1 6凹部ι 6a以及第2框架部分凸部5a之咬合狀 515194 五、發明說明（11) 態，而上下移動。隔板丨6係以如同 =係當要適應偵知器框架3之第2框二材 交大或變小時’隔板16能因應距離：變 ::器設於胸框架3之第2框架部分5與债 還有，在實施型態1，本發明中之支持調整 =1型以板r絲r繼。又， 以及L型板11之第1部分12所構成。 ^ f此實施型態之影像偵知器1中，影像偵知器1組立 後藉由上下移動L型板11而調整桿狀透鏡陣列g與彳貞 ic9之間的距離。而且，當@知器IC9位於由原稿^來之^ 射光的成像位置時，藉由鎖緊螺絲丨5來固定L型板丨1。如 此一來，就可以將偵知器IC9配置於由原稿18來之反射光 的成像位置。亦即，可以對焦於影像偵知器上。在此，螺 孔14與螺絲15之直徑差，就成為：u型隔板16的凹部16a與 偵知器框架3之第2框架部分5的凸部5a之間；以及l型板n 與债知器框架3之第1框架部分4之間的調整餘裕。 其次，在施行偵知器IC9之位置調整後，針對影像偵 知器1之動作做說明。 、 當原稿18在玻璃板2上行走時，線光源6透過玻璃板2 照明原稿表面。照射光係以對應原稿丨8表面影像濃淡之強 弱而反射。由原稿1 8表面來的反射光係，通過桿狀透鏡陣 列8，成像於偵知器I C9上，而由偵知器I C9受光。由原稿 1 8表面來的反射光藉由偵知器丨C9依照對應之反射光強度
2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第16頁 515194 五、發明說明（12) 做光電變換，原稿18表面影像之濃淡資 1 0輸出至外部。 &暴板 如上所述，依照此實施型態i來看的話，影像偵知 組立時桿狀透鏡陣列8被偵知器框架3固定，以L型板u ^ 上下移動來調整桿狀透鏡陣列8與偵知器丨c 9間之距離，者 偵知器IC位於由原稿丨8來的反射光之成像位置時， 二 絲15來固定L型板11，因此，藉由調整偵知器IC9之位置Γ 使偵知器IC9位於由原稿丨8來的反射光之成像位置，亦 即’可以得到在影像偵知器上聚焦之效果。 又，依照此實施型態i來看的話，偵知器框架3的第1 框架部分4密著於桿狀透鏡陣列8之第J側面8c，第2框架呻 分5密著於桿狀透鏡陣列8之第2側面8d，因此桿狀透鏡陣σ 列8之第1側面8c與第i框架部分4之接觸部分，以及桿狀透 鏡陣列8之第2側面8d與第2框架部分5之接觸部分上沒有間 隙。因此，從桿狀透鏡陣列8之第i側面8c與第i框架部分4 之接觸部分，以及桿狀透鏡陣列8之第2側面8d與第2框架 部分5之接觸部分上不會漏光，而有能正確取得原稿18表 面影像之正確濃淡資訊之效果。又，異物不會通過桿狀透 鏡陣列8之第1側面8c與第1框架部分4之間，以及桿狀透鏡 陣列8之第2側面8d與第2框架部分5之間而付著於偵知器 IC9，因此有不會妨礙原稿18表面影像之濃淡資訊取得的 效果。 藉由上下移動L型板 之間的距離，當偵知 又，依照此實施型態1來看的話 11來調整桿狀透鏡陣列8與偵知器ϊ C9
2103-4120-PF;Ahddub.ptd $ 17頁 515194 五、發明說明 =1C位於由原稿丨8來的反射光之成像位置 =定L型板U，使偵知器IC9位於由原稿18來的反射Z ，，位置，因此，當偵知器IC9位於由原稿18來的反射光 合變=位置時，第1框架部分4以及第2框架部分5的外形不 ‘ ϊ ΐ攻ΐ可得到容易設計影像偵知器1周圍配置之零件 开\依照此實施型態1來看的話，若影像偵知器1為長 ^ p由型板11因為係藉由螺絲1 5以3處以上來固定，因 入二影1象偵知器1為長形物時，橫貫桿狀透鏡陣列8縱向 ς範圍’都能調整桿狀透鏡陣列8與偵知器IC9之間的距 又，依照此實施型態i來看的話，若影 形物時，L·型板11因為係藉由螺 、态1為長 使環境變化，也可以得到精處… 面來的反射光之成像位置的效不會偏離由原稿以表 又’依照此實施型態！來看的話 器框架3 <第2框架部分5與伯 =板16 °又置於谓知 蔽由尺寸不確定之影像摘知器？：上板0之。間，因為會遮 因此可以得到能防止異物由:° ,夂知器IC9之路徑， 果。 、物由衫像偵知器1外部侵入之效 而且，在實施型態1中，、e 遮蔽由影像偵·知器2 1外部到偵知、、^明過使用隔板1 6來 如實施型態2之密封構件也、^ 之路控，但是使用 實施型態2 ， T以。
2103-4120-PF；Ahddub-Ptcl 第18頁 五、發明說明 截面Πΐ表示本發明之實施型態2之影像偵知” °第5圖係、第4圖的c部分的放大圖 ^成的 之衫像偵知器的D-D截面圖。第，6圖係第4圖 =，。可是，在第V:圖；:以 ,/、表不一部分之構成構件。在圖中，2 i #刀|在第 8之V22,知器框架（框架），2二』 部Έ知态框架22的長形溝槽，24係形成於長形、、冓样】:广列 4，通過由捏处、乐拉咏d。 丄 取1心屏槽2 3底 搭載有229透之7知列= = = = =，_ =知器框架22推壓之彈簧（彈性、，“ J25 土離 像偵知器2 1外部到偵知器丨c 9之路徑之密8係遮蔽由影 二)。，防止外部光線或異物經過前述路徑達到偵知遮器蔽構 連接長形溝槽23底面23a的偵知器框年2 上端係以桿狀透鏡陣列8之出射面覆蓋形孔Μ 密著於與摘知器框架22長形孔 陣列8係 叫。因此，桿狀透鏡陣列8與偵知= = ==面 底面23a之間沒有間㉟。桿狀透鏡陣列8 、开"冓?23 架22長形溝槽23之底面23a密著之狀態，’在、、;债知器框 與谓知器框架22長形溝槽23之接觸面或干透鏡陣列8 桿狀透鏡陣列8固定於偵知器框架22上卜二^分都是把 U疋方法係，在
515194 五、發明說明（15) 桿狀透鏡陣列8與偵知器框架22長形溝槽23之接觸面的全 部或一部分上，以雙面膠或接著劑來接著。 伯知器框架2 2係’在上部包括有配置線光源6以及保 持構件7之凹部，在下部包括有配置偵知器丨c 9以及偵知器 基板2 5之凹部。玻璃板2係以偵知器框架2 2之上端來支 持0 偵ϋ為基板2 5係沿著桿狀透鏡陣列§縱向延伸，達到 設置於偵知器框架22兩端之側板17。偵知器基板“係，位 於垂直桿狀透鏡陣列8之出射方向之位置。在桿 列8之縱向與垂直方向（在第4圖中係左方）中，偵知 板。之2端部中以端與偵知器框架以相接觸整;土 係貝通偵知器基板25，而鎖入债知器框架2 =26 配置於調整螺絲26之軸部26 坪/ 2?係， 27之力壓著；^哨答蜾^9R 偵知益基板25係藉由彈簧 基板25，可以碉整偵1轉调整螺絲26而上下移動偵知器 離。參傻ΙΓ 基板25與偵知器框架22間之辟 基板Μ精由调整螺絲26之頭部26b，在3處以上支^貞整知螺器 向（在第4圖中係右方广狀，透鏡陣列8之縱向以及垂直方 端部與偵知器框_ 2 2之門…置於偵知器基板2 5之另一 狀透鏡陣列8與谓知器丄二構件28係’在調整完畢桿 其他之構成 間的距離後才設置的。
’、，在第1圖到第3圖中與賦予同一# 515194 五、發明說明（16) 號之=同-或等同之物’因此’在此省略詳細說明。 ^退有，在實施型態2中，在本發明中之支持調敕姓μ 係由：偵知器基板25、調整螺絲26、以及彈筈27°°正牛 在此實施型態之影像偵知器21中，在影二偵m。 立後，旋轉調整螺絲26來調整偵知器基板25偵1， 2=距離。而且，在…IC9位於由原稿;二知二 反射光之成像位置時，停止旋轉調整螺絲26。如' 把偵知器IC9配置於由原稿18表面來的反射光之成位< ’ 上。之後_，把密封構件28配置於遮蔽住由外部到 IC9之路徑。藉此，就可以在影像偵知器2丨上對焦、。 此，在調整偵知器基板25與偵知器框架22間之距離 知器基板25之-端部係在偵知器框架22之表面上滑動。、 拄Ϊί所述’在此實施型態2中，在影像價知器21組立 夺，杯狀透鏡陣列8被偵知器框架2 2所固定，旋轉敕 二6 t調整偵知器基板25與偵知器框架22間之距離广因為 f二偵知益K9位於由原稿18表面來的反射光之成像位置’、、、 日.：止方疋轉调整螺絲26，肖由調整偵知器之位 :使f 9位於由原稿18表面來的反射光之成像位了 置’亦即’可以得到在影像偵知器21上對焦之效果。 以r = ί 施型態2中’把偵知器框架22之長形孔24 -4 Γ γ Λ 車列8之出射面覆蓋，因為桿狀透鏡陣列8與偵 = 長形溝槽23底面23“目密著，因此，在桿： 干狀透鏡陣列8與偵知器框架2 2之長形溝槽
2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第21頁 515194 五、發明說明（17) 13ί面2=間不會漏光’而有可以正確取得原稿18表面 象之正確k淡資訊的效果。又，異 陣綱偵知器框架22之長形溝槽23底面23a之間而干= 具有不會妨礙取得原稿18表面影像之 正確》辰 >火貝的效果。 又’在此實施型態2中，#由旋轉調整螺絲26而調整 與偵知器框架間之距離，當偵知器1C9位於 Π ί:來的反射光之成像位置時停止旋轉調整螺絲 ' ^器1。位於由原稿18表面來的反射光之成像位 f席因此，當债知器1C9位於由原稿18表面來的反射光之 =位置時，债知器框架22之外形不會變形，而可以得到 谷易设計影像偵知器2 1周圍配置之零件形狀之效果。 士又，在此實施型態2+ ，若影像偵知器21為長形物 %，偵知器基板25因為係藉由調整螺絲26之頭部26b以3處 以上來固定，因此即使影像偵知器21為長形物時，橫貫桿 狀j鏡陣列8縱向全範圍，都能調整桿狀透鏡陣列8與偵知 is IC 9之間的距離。 又，在此實施型態2中，若影像偵知器21為長形物 日、，偵知器基板25因為係藉由調整螺絲26之頭部26b以3處 二ί來固定，即使環境變化，也可以得到偵知器IC9不會 偏離由原稿1 8表面來的反射光之成像位置的效果。 又i在此實施型態2中，密封構件28在調整後，設置 於偵知器基板2 5之端部與偵知器框架2 2之間，因為會遮蔽 由影像偵知器21外部到偵知器IC9之路徑，所以可以得到
五、發明說明（18) 防止異物由影像偵知 還有，在此每π卜部侵入之效果。 接上下移動之狀況，= ’係說明把偵知器基板2 5直 上下移動支持構件之爐^ ^知器基板25設置支持構件，而 又，在此實施型態2中，总上 28來遮蔽由影像 ^ ’係說明使用定型的密封構件 使用沒有固定形狀二，部到偵知器IC9之路徑，但是 〜狀之凝膠狀物也可以。 【發明之效果】 如上所述，本發 原稿表面；桿狀透鏡陣〜偵知器係包括：光源，照明 像；受光元件，接為a ^丄使由原稿表面來的反射光成 框架，固定桿狀透；‘旱：J鏡陣列而成像之反射光； 件’調整桿狀透鏡陣列」受持：整構件’支持受光元 配置於反射光之成像位 2件間之距離，使受光元件 置，可以得到使受光元彳Ξ此，藉由調整受光元件之位 成像位置上的效果。 、由原稿表面來之反射光的 藉由本發明，框架自 架部分，桿狀透鏡陣列包括·· 之第1框架部分與第2框 射面對向；第1側面，'縱向平、面；出射面，與前述入 1側面對向，❿a，桿 ^伸，第2側面，與前述第 係與桿狀透鏡陣列之第1側面密著框条之第1框架部分 與桿狀透鏡陣列之第2側面=者因=，第2框架部分係 口此由桿狀透鏡陣列一 五、發明說明（19) 邊側面與第】框架部分之接觸 框架部分之接觸部分不會漏°，刀及由另—邊側面與第2 面影像濃淡資訊之效果7又，有可以正確取得原稿表 邊側面與第1框架部分之門’ /、物不會由桿狀透鏡陣列一 部分之間通過而付著於受曰光_=及由另一邊側面與第2框架 稿表面影像濃淡資訊之效果=上而有不會妨礙取得原 藉由本發明，框架孫台 射光通過的長形孔，使桿以發出之出 此，桿狀透鏡陣列與框==孔—端的框架面上’因 光，而有能夠正確取得原搞矣^子周圍部分之間不會漏 又，異物不會通過桿狀透鏡^ = 炎 而付著於受光元件上，而右框木長形孔周圍的部分 淡資訊之效果。 s妨礙取得原稿表面影像濃 藉由本發明，支持調整 括：支持受光元件之面:板狀構件，包 連接框架端面，在前述端上别述支持部連接而且 及固定構件，調整桿ί;以二移：之面狀調整部；以 了使受光元件位於反射光m與受光元件間之距離，為 面上移動後，把調整部在複而使板狀構件在端 之距離後，將調整部固透=列：=元件間 ΐ像位置’因此’可以得到容易調整受光元件位置之效' 果。又，框架外形不會變形，而有容易設計配置於周圍之 酾 第24頁 2103-4120-PF；Ahddub.ptd 五、發明說明（20) 零件形狀之效果 藉由本么明，固疋構件在3個處所以上把敕 內％面上，所以，橫貫桿狀透鏡陣列之c固定 =的π以得到r”整桿狀透鏡陣列與受光圍 ^ ε1 *又，此夠付到即使環境溫度變化，受光 ^ :原私表面而來之反射光的成像位置上也不會變在 精由本發明，在支持部與框架之間，因 =括有遮蔽由外部到受光元件侔1象偵知器 夠得到防止異物由外部侵入之效^遮蔽構件，所以，能 支持2=:明調件係包括：面狀支持構件， 且調整支持構件;框=之::數件，而 構Γ;構件，配置於支=與 1之叉符構件呈遠離框架之離勢， 而 元件=ΐΠ::ί:Γ與框架間之距離，把受光 置容易調整之效S。 因此可以得到受光元件位 易設計周圍配置零件之效】架外形不變形，而可以得到容 端面上而構：二象】，構件係以3處以上把調整部固定於 •陣列之延長方：的内因;b::以：到橫貫桿狀透鏡 陣列與受光元件門a 可以付到忐夠調整桿狀透鏡 溫度變化，受光^株，離的效果。又’能夠得到即使環境 疋件在由原稿表面而來之反射光的成像位 議 2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第25頁 五、發明說明（21) 置上也不會變形之敦果 藉由本發明，在支持 以遮蔽由外部到受光：;牛路 蔽^ 夠仔到防止異物由外部侵人之效^遽蔽構件，所以，能 【圖式簡單說明】 第1圖係表示本發明之楚 成的剖面圖。 只施型態中影像偵知器之構 第2圖係在第1圖中的旦 第3圖係在第1圖中的：1知器的A-A剖面視圖。 第4圖係表示本發:之 =器的β視圖。 成的剖面圖。 Κ ；^型態中影像偵知器之構 第5圖係第4圖中之c邱八认4 第6圖係第4圖中圖。 第7圖係第4圖中的影像偵面視圖。 第8圖係表示第i習知例 ： ：E;Ed剖面視圖。 圖。 / 、知器之構成的剖面 第9圖係第8圖之F側面視圖。 第1 〇圖係表示第2習知例之 圖。 / 、α器之構成的剖面 第11圖係第10圖中之G侧面視圖。 第12圖係提供說明桿狀透鏡 第1 3圖係提供說明在第i習知例之動上之圖面： 螺絲鎖緊時，偵知器框架之長形孔以、為中，以 長形溝槽之狀態的 2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第26頁 515194 五、發明說明（22) 圖面。 偵 第1 4圖係提供說明在第1習知例之影像偵知器中 知器框架長孔端部之構成的圖面。 符號說明】 1，21影像偵知器 3，22偵知器框架（框架 4 a端面 6 線光源（光源） 8桿狀透鏡陣列 8b 反射面 8d 第2側面 1 0，2 5偵知器基板 12第1部分 14 螺孔 15a 凸部 1 6 a 凹部 18 原稿 2 3 a底面 2 6調整螺絲（調整構件： 26b頭部 28密封劑（遮蔽構件） 2 玻璃板 )4第1框架部分 5 第2框架部分 7 保持構件 8a 入射面 8c 第1側面 9偵知器I C (受光元件） 11 L型板（板狀構件） 13 第2部分（調整部） 1 5 螺絲（固定構件） 1 6 隔板（遮蔽構件） 17側板 23 長形溝槽 24 長形孔 2 6 a軸部 2 7 彈簧（彈性構件）
2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第27頁
Claims (1)
- 六、申請專利範圍 1丄一種影像偵知器’其特徵 光源，照明原稿表面； 、匕括： 梓狀透鏡陣列，將由前述 成像； 界&表面而來的反射光予以 光;受光元件，接受藉由前述桿狀透鏡陣列而成像之反射 框架，目定前述桿狀透鏡陣列 支持调整構件，支撐前述受 鏡陣列與前述受光元件間之距離先調士前述桿狀透 前述反射光之成像位置。 把則述受光元件配置於 框架24申2=圍第1項所述之影像债知器，其中， 第框架部分以及第2框架部分； 、梓狀透鏡陣列係具有：入射面、盥俞、+、λ ^ μ 初射面、縱向平行延伸之第丨側面1及’ ’前第側:^ 向之第2側面；而且前述框架的第i框二與二述第 述側面’前述框架的第2框架部分密著於前 达杯狀透鏡陣列之第2側面式地，桿狀 述框架的第I及第2框架部分之間。遷兄陣列配置於則 加3·如申請專利範圍第I項所述之影像偵知器，其中， 框架具有由桿狀透鏡陣列而來的出射光通 孔、， 桿狀透鏡陣列密著於鄰接前述長孔_端之前述框架的月面述 上’以便以前述桿狀透鏡陣列覆蓋前述長孔之一端。 4·如申請專利範圍第I項所述之影像偵知器，直 支持調整部包括： 第28頁 2l03-4l20-PF;Ahddub.ptd A x申請專利範圍 狀調ί:構：接3 ::狀支持部’支持受光元件、 在該端：上移動:i持 連接框架端面配置々 件間：：：件而：I調整前述桿狀透鏡陣列和前述~ ，使别述板狀構件在前述端面上移先f成像位 硬數個處所固定於前述端面。 灸，使前述調整 固定之影像偵知器，其中， η ^ ^ 上將凋整部固定於端面上。 Τ 6·如申請專利範圍第4項 包括··遮蔽構件，在支持 a加之如像谓知裔，其中， 光元件之路徑。 、/、私木之間，遮蔽由外部至受 支持範圍第1項所述之影像偵知器，其中， 面狀支持構件，支持受光元件； =構件，以複數處所支持 框:Γ距離’使前述受光 且將前述Li構:ε:J:JJ::J件與前述框架之間’ * 件及前述框架❶ 述框木之方向推壓前述支持構 L如申請專利範圍第7項所 调正構件在3處以上支持支持構件。〜像偵知盗，其中’ 申月專利耗圍第7項所述之影像偵知器，其中， 第29頁 2103-4120-PF；Ahddub.ptd 515194 六、申請專利範圍 在支持構件與框架之間，包括有遮蔽由外部到受光元件之 路徑的遮蔽構件。 iHii 2103-4120-PF;Ahddub.ptd 第30頁
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