TW504566B - Device for monitoring a coating of a fluid or paste-like medium onto a substrate - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 32
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims abstract description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 title 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 27
- 230000002079 cooperative effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000008021 deposition Effects 0.000 abstract 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 16
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 5
- 239000000084 colloidal system Substances 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 239000011111 cardboard Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000002775 capsule Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 1
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
- G01N27/221—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance by investigating the dielectric properties
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
- G01B7/08—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means
- G01B7/085—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means for measuring thickness of coating
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/26—Oils; Viscous liquids; Paints; Inks
- G01N33/32—Paints; Inks
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05C—APPARATUS FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05C11/00—Component parts, details or accessories not specifically provided for in groups B05C1/00 - B05C9/00
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
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Description
504566 A7 B7 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 五、發明說明( 發明領域: 本發明係有關於一種如申請專利範圍第丨項前言部份 所疋我用以監控液漿狀之媒介層於基座上附著之裝置。 發明背景: 相關習知裝置係描述於參閱德國專利文件4 2 1 7 .7 3 6 C2。其中,每一電極係一感應器,該感應器係一高頻振盪 電路之元件,藉此,當於電極間媒介層之相對絕緣常數發 生改變時,該電極可探測到一頻率之變化。 於該設計中,該感應器係具有電容性,即,其用作為 電容器插設於該高頻振盪電路之中1取決於兩電極間媒介 層之類形,亦即取決於是否有空氣摻入,或基底内有無設 有膠條’及該膠條之不同厚度,該結構之電容值會隨之發 生改變。唯,該系統之電容很大程度上取決於材料之相對 絕緣常數,這裡認為空氣,膠條,紙之相對絕緣常數值相 差很遠。 i 然,系統電容之特性改變亦會改變藉以判定如基底有 無包含膠條之頻率。 習知監控液漿狀媒介層於基底上之附著體之裝置工作 情況良好。但,其於某些情形下可能會產生錯誤。 發明目的及概述: 基於德國專利文件4 2 1 7 7 3 6 C 2所揭露之習知裝 置’本發明之目的在於,提供一種於本申請專利範圍第夏 第3頁 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線· 504566 A7 五、發明說明( 項t前序部分所定義具有提升之 測量要求之裝置。 …〜精確性的 前述習知裝置之缺陷係通過本發明於申請專利範圍第 1項所提供之特徵加以解決’藉此’本發明可測量於兩電極 間等效基底與媒介層附著混合體之虛數部分,並通過測試 用之電子技術可以決定其特徵信號。 本發明之關鍵係在於該絕緣常數為一複數,即其包各 了-實數部分及一虛數部分。且,有關材料尤其是例如用 於紙板,紙墊等上的膠條之液漿狀膠體之重要性的實驗, 已、’ ’λ 員示’該絕緣常數之虛數部分會變大,有時甚至比實 數部分大一個數量級。 根據實際經驗發現,本發明推斷,考慮到絕緣常數之 虛數邵分之較大數值,當判定了所測材料之種類後,對虛 數部分之測量將變得更簡單可靠。 相關公式之推導簡要討論如下。相關之進一步細節係 了於論文”Frequenz-Zugang der komplexen 、j
Permittivit?t”,FH Duesseldorf [Germany] Lab0r Werkstoffkunde » 4 September 1 9 9 8,PP 1-14 中 找到。 當一絕緣材料置於一交互電場内,所觀察到之個別細 微影響可由如下一合成絕緣常數做最好之闡述° e Γ= εΓ 丨-jC, 其中ε r,與ε r,,係分別為絕緣常數s r之實數部分及 虚數部分。 第4頁 本紙張尺度冢標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 504566 A7 五、發明說明( .影響1¾絕緣常數值之特定細微現象在此將不 基本上,其包括對齊程度,離子及電子偏振之影響。述。 緣常數,及其兩個部分係強烈頻率相關。 孩絶 該術語ε 係描述絕緣損失,其係相應為膠鳢所 收 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 能量之測量。 琢等絕緣損失表現係如歐姆熱損失一樣。該事 由所謂正切函數損失以表示 tan 5 = er,,/er,。 第1、2圖說明了該問題。第i圖圖示了一 s除損红& 容器之等效電路。當施加一交流電U,於電容器 ^ 起一電流I,該電流包括兩部分,即建立於理想办。^ ,、 免各器中> 電流I。,及與之及與之並聯且通過一電阻之損 电成I , 以熱損耗表示電容器中之絕緣損耗。 ν 第2圖係兩部分,即損耗電流及通過理想化 m 、 电备器之 電流之圖解,兩電流相加以表示流過實際電容器恭 、苞 >瓦總 和。 其由以下等效電路推導出。 Y = G + j ω C 其中Υ係阻抗值,G係損耗性電阻,j ω C係無損耗之 電容器之電抗。 如果,一測試物被置於該電容器中, Y 一 j 〇 * C material。 平行板電容器之電容值由公式 C = ε 〇 ε r A / d 得出, 實亦 可 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ^---------線' 第5頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公釐) 504566 A7 B7 五、發明說明() .其中A係平行板電容器其中一塊板之面積,d係該等 板間之距离,ε r係該材料之相對絕緣常數。 以上之兩公式直接導出 Y =丨)*e〇A/d 使用以下公式 C 〇 = £ 〇 A / d 則 G + j6J*C = j6L)*(er, - j^rf,) +C〇 G + j ω * C = 6;*er’’*C〇+ jw*er’*C0, 其中 C = ε rf*C0。 然而,這指出了僅有絕緣常數之實數部分才算電容 值。据此,以往之習知電容值測量方法無法探測合成部分 之絕緣常數。 請現在注意以下表1及表2。 表1 ---------- ——*—訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
Cr/pF 1.4 C ε /pF 0 . 2 f/MHZ 0.075 0.1 0.15 0.2 0.3 0.5 1 C/pF 100.28 99.8 99.17 98.74 98.16 96.44 96.41 CK/pF 99.48 98.0 97.37 96.94 96.94 95.64 94.61 G/ps 1.38 1.74 2.43 3.10 4.42 7.03 13.18 第6頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 504566 Α7 Β7 五、發明說明() CL/pF 18.93 18.93 18.93 18.92 18.82 18.92 18.92 Cln/pF 17.13 17.13 17.13 17.12 17.12 17.12 17.12 Sr 5.68 5.72 5.68 5.66 5.63 5.58 5.52 εΓ" 0.17 0.16 0.15 0.14 0.14 0.13 0.12 tan δ 0.03 0.028 0.026 0.025 0.025 0.023 0.022 表2 Cr/pF 1 . 4 C ε / pF 0.2 ----------‘——«衣 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 舰HZ 0.075 0.1 0.15 0.2 0.3 0.5 1 C/pF 1187 965 879 653 548 459 381 CK/Pf 1185.4 963.4 877.4 651.4 546.4 457.4 379.4 G/ps 4074 4163 4293 4374 4447 4620 4935 CL/pF 16.55 16.55 16.55 16.54 , 16.54 16.54 16.54 CWpF 14.95 1495 14.95 14.94 14.94 14.94 14.94 £r 79.3 64.44 58.7 43.6 36.6 30.6 25.4 6rn 578.3 443.2 304.7 233.0 157,9 98.4 52.6 tan (5 7.29 6.88 5.19 5.34 4.31 3.22 2.07 表1顯示了一組將紙插入平行板電容器之板間得出之 測試值。表2顯示了設置於電容器間包括有一對夾著膠層 的紙層之絕緣體之對應測量值。 第7頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 訂---------線- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 504566 A7 五、發明說明( ----- B7 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 .用於該等表枚 格中之符號如下’ c r係考慮了平行板電容 器邊緣場之測試檨0 < m时電容值之電容部分;C e係考慮了對地 漏磁場之電容部分· 刀,f係應用之頻率,C係測量出之電容 值 c κ係修正 < 電容值,c L κ係測試系統不包括測試樣品 之修正電容值,Γ ^係絶緣體之阻抗,C L係測試系統不包括 測試樣品之電交估 • 值’ ε r,係絕緣常數之實數部分,ε r,,係絕 緣系數之虛數部公^ 双那刀’ t a n 5係損耗因數。 、、基 % y〈貧訊亦可參閱前述j Pr〇chetta PhD之 論文。 從表格申UT «ϊ·+ 又即4楚得出,當絕緣體係膠體,絕緣常 數之虛數部分絡盤# 、、’值ε r比真貫疋件ε r ’要大一個或幾個 數ΐ級。因此’測量該絕緣常數之虛數部分對於位於一對 電極間之絕緣體將更具啟示性。此係本發明之關鍵。 根據以上内容’更進-步清楚的是,膠體ε Γ ”與紙ε ,之比率比膠體,之比率要大兩個數量級。 於本發明之一較佳實施中,虛尊岸緣常數部分之測量 係通過測試經過基底之電流,或電流降來完成。這一過程 考慮了當測量電流時’絕緣體之虛數絕緣常數部分尤其容 易測量。根據上面之内容,可得出: G = ω * ε r 丨,* C 0 〇 該公式說明了損耗部分G係直接與虛數絕緣常數部分 成比率。因此,測量該損耗電流可立即得出希望之結果。 …於本發明-進-步之較佳實施中,該電流或電料之 測量係通過一電流控制之電壓放大器來實現,尤其採用 第8頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐 --------- L------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 504566 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明() 電流電壓(I - U )轉換器。藉此,微小之電流可以憑簡單有效 之方式進行測量β 於本發明之一較佳設計中,電流電壓轉換器係連於一 依次與第一運算放大器之輸出端相連之加法器上。此結構 可於孩電流電壓轉換器輸出端對探測信號進行便利簡單之 進一步處理。 於本發明之又一實施例中,一第一移相器係設置於第 一運具放大器之輸入端與一交流電恩源間。該第一移相器 之功用係在於彌補於電流電壓(I_U)轉換器之輸出端之電 流電壓漂移β 於本發明之再一較佳實施例中,該移相器係反相作 用。於該種情況下,當調整一空感應器時,即無基底,無 媒介層之情況,該裝置可依照於加法器之輸出端之測試結 果係為0之方式進行調整。於該種情況下,當一絕緣體被 置於電極間,微小之測試電壓可被便利地處理。 於本發明之另一較佳實施例中,電流電壓轉換器包括 • « 具有一第三運算放大器之電路。藉該特徵可實現電流電壓 轉換器經濟簡單之製造。 於本發明之再一較佳實施例中,第三運算放大器之第 一輸入端,特別係反相輸入端,係與感應電極之一直接連 接。藉此方式,一信號可被探測到而無干擾之虞。 於本發明之又一較佳實施例中,該等兩電極係設置於 該基底之不同侧。該結構係猶如具有兩平板之平板電容 器,該基底,有或無媒介層,係可移動於兩平板間。且, 第9頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ---------\ —1 ----訂 --------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 504566 Α7 Β7 五、發明說明() 藉此設計可實現透過基底,以及透過與該基底面呈橫向設 置之媒介層之測量。該過程使簡便測量成為可能。 本發明之再替換叹计係將兩電極設置於該基底之同 一侧。於此種情況中’該絕緣常數之虛數部分係產生於該 等此次位於與基底所在平面至少部分平行之平面上之兩電 極中間。 本發明之其它優點係表現於以下描述之申請專利範圍 之附屬項,以及所附圖示之圖解實施例中。 m之額輩說明t· 第1圖係實際損耗性電容器之等效電路。 第2圖係用以說明於第1圖中所示兩電流部分之電流示意 圖。 第3圖係用於本發明裝置中之測試電路之功能塊示意圖。 第4圖係包括有兩個平面電極及於該等電極間夾設一定長 度材料之感應器之局部示意圖 第5圖係第3圖測試電路之整體電路示意圖。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖號#照說明L 10 感應器 11 、1 2 電極 13 材料 14 膠體 15 測試電路 16 交流電壓源 17 放大器 18 轉換器 19 加法器 2 0 第一反相移相器 第10頁 本紙張尺度適用冲國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 504566 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明() 21.第一運算放大器 22第二運算放大器 2 3整流器 2 4第二移相器 2 5 測試電極1 5之輸出端 2 6 低通濾波器 27第四運算放大器 28運算放大器 29第三運算放大器之反相輸入端 30 第三運算放大器之輸出端 3 1 百萬歐姆電阻 發明詳細說明: 本發明用以監控液漿狀媒介層於基底上附著之裝置, 部分描述如下。本發明係包括僅圖示於第4圖之感應器 10。於第4圖之實施例中,該感應器1〇基本上係具有一 對基本平坦電極11、12之平行板電容器。一定長度之材 料1 3係設置於第4圖所示之兩電極1 1、1 2間,而膠體 14係附著於該一定長度材料13上之朝向上方電極11 一 側0 本發明之整體設計,操作及涉及膠體附著監控裝置相 關問題,係大體參考德國專利文件4 2 1 7 1 3 6 C 2及3 9 3 4 8 5 2 C 2。 本發明之裝置與上述兩文件之描述之本質不同係在於 所用感應器之種類及採用之技術,如測試電路。 本發明之裝置係可進一步監控媒介層之附著,尤其 於膠體,藉以於製造線上對於紙板類,和由塑料薄片及非 織物制造之尿布或類似物品中所用合適之膠條做出判定 第11頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ί-------------^--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 504566 A7 _ B7 五、發明說明() 亦或於不合適膠條之情況下,發出警報或其它動作。 請參閱第3圖,亦被稱為感應又之感應器1〇係被插入 一由標號1 5整體標示之測試電路。該測試電路1 $包括於 第3圖及第5圖中係设计為Wien_R〇binson振盪器之交 流電塵源1 6。 該振盪器首先與一圖示具有1.6放大係數之放大器I? 相連’該交流電源信號然後施加於第一電極1 2,即第4圖 上之較低者。第4圖實施例上之相對電極1 1,即較高者, 係直接與電流電壓(I - U )轉換器1 8 (請參閱第3圖)連接。 該轉換器係用於感應器1 0之損耗電流之測量。 該I-U轉換器18之輸出端係與一加法器19相連。 由交流電源1 6引出之一根第二導線係連入一第一反 相移相器2 0。該移相器2 0之輸出端係連於一第一運算放 大器21之輸入端。該第一運算放大器21之輸出端係連入 加法器1 9之輸入端。 上述電路支路之目的係在於用筹厂*移相器2 0以將正 弦交流電壓與I - U轉換器1 8之象限偏移後之輸出相匹 配。 通過增加從第一運算放大器21及I-U轉換器18中之 輸出值,該測試值,亦即感應器1〇中之損耗電流值,已原 則上確定。 然而,為以更為精確之方式進行測量,本發明係採用 一進一步之結構,亦即第一移相器20之輸出端係連於一第 二運算放大器22之輸入端。該輸出端亦依次連於加法器 第12頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ---------14 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線#· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 504566 A7 B7 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 五、發明說明( 19。該支路之意義於下面做進一步闡述。 此外,該加法器19之輸出端係連於一整流器23。一 第二反相移相器2 4係於整流器2 3及交流電源1 6間形成 單獨支路。 該等剛才描述之支路係配合如下:於加法器1 9以外即 位於該加法器1 9之輸出端之交流電源讦通過第一移相器 2 4以一正直流電總出現於整流器2 3之輸出端之方式被進 行調整匹配該特徵顯然於隨後之信號處理上具有優勢° 低通濾波器2 6,係設置於整流器2 3與測試電極1 5 之輸出端2 5。該低通濾波器亦提供測試中習知基本優點。 最後,第四運算放大器之輸入信號被使用。 第5圖係詳細描述第3圖之電路。相同之元件或功能 塊係以同一標號注釋。然,第二運算放大器2 2因非必要, 故於第3圖中省略。 第5圖係描述其基本包括有一運算放大器28之電流 電壓轉換器1 8。 ‘; 藉此方式,一習知商用級元件如L F 4 1 2可被使用,其 它剩餘元件如移相器2 0、2 4,第一運算放大器21,第四 運算放大器2 7,加法器1 9,低通濾波器2 6,以及交流電 壓源1 6均可適用商用級元件❶ 列於該電路中之電容及電阻係基本合適;然而,該特 定明細係應理解為僅起舉例說明作用。 一1百萬歐姆電阻31係跨設於第三運算放大器28之 反相輸入端29與其輸出端30間。 第13頁 一 —K—訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 504566 A7 B7 五、發明說明() .所討論實施例之感應器1 0之電極1 1、1 2係設置成一 平行板電容器之平行板。然,本發明之精神蓋不可限制於 該幾何形狀。原則上,任何電極之幾何形狀均可適用於虛 數部分絕緣係數之測量。 一範圍係0至1 7 0度之移相功能係可實現於該等移相 器之位置上。該特徵基本上可僅用以調整輸出值。出於相 同之目的,控制電壓USTAB1與USTAB2係採用於第一 第二運算放大器21、22上(請參閱第3圖)。當電極間缺 少絕緣媒介層時,實現平衡之功能係被採取。控制電壓係 連續於0至1 0伏間調整。 舉例說明,採用測試頻率為1 0 0 k Η z。然,從幾赫茲 至幾十幾百兆赫玆(Μ Η ζ )之頻率亦可採用。特定頻率係取 決於所要附著之液漿狀媒介層。取決於膠體之種類,虛構 絕緣常數部分之值或虛數部分與真實絕緣常數部分之比率 可能隨之變化。然而,於監控過程中通常一旦頻率被確立 將保持恒定。 ; i 第3圖與第5圖中之放大器1 7係僅供選擇。但,據 測其功用十分優良。 一----------1 ^--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
Claims (1)
- 504566 A8 B8 C8 D8 第號專利案年//月修正 六、申請專利範圍 修正本户年A> I 1. 一種監控液漿狀之媒介層(14)於基底(13)上附著之裝 置,包括: 至少一個設置於與基底(1 3 )設有一定較小距離之兩電 極(1 1、1 2 )上之感應器(1 〇 ),該等電極施加於媒介層 (1 4 )及基底(1 3 ) —交流電壓,該基底係相對於該感應器 (1 0 )具活動性;及 一與感應器(10)相連且可發射反映基底(13)與媒介層 (1 4 )合並於一起之特徵信號電路; 其中該裝置係測量位於兩電極(1 1、1 2 )間基底(1 3 )與 媒介層(1 4 )之絕緣常數之虛數部分,以及測試電路係通 過測試值以判定特徵信號。 2 ·如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中測量絕緣常數 之虛數部分係通過對基底(1 3 )及媒介層(1 4 )之電流或電 流降之測量來實現。 3 ·如申請專利範圍第2項所述之裝置,其中電流或電流降 之測量係通過一電流.控制電壓放大器(1 8 ),特別係一電 流電壓轉換器來實現。 4 ·如申請專利範圍第3項所述之裝置,其中電流電壓轉換 器(18)係連於一依次與第一運算放大器(21)之輸出端相 連之加法器(1 9 )。 第15頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------------------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 504566 六 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 ____D8 _^—----- 申請專利範圍 5 .如申請專利範圍第1至4項中任一項所述之裝置’其中 交流電源(1 6 )係提供交流電。 6 ·如申請專利範圍第4項所述之裝置,其中第一移相器 (2 0 )係設置於第一運算放大器(2 1 )之輸入端與交流電源 (1 6 )間。 7 ·如申請專利範圍第5項所述之裝置,其中第一移相器 (2 0 )係設置於第一運算放大器(2 1 )之輸入端與交流電源 (1 6 )間。 8 ·如申請專利範圍第6項所述之裝置,其中一第二運算放 大器(2 2 )係設置於第一移相器(2 0 )與加法器(1 9 )之 間。 9 ·如申請專利範圍第4項或第8項所述之裝置,其中一整 流器(2 3 )係設置於該加法器(1 9 )與測試電路(2 5 )之輸 出端之間。 1 0 ·如申請專利範圍第7項所述之裝置,其中一整流器(2 3 ) 係設置於該加法器(1 9 )與測試電路(2 5 )之輸出端之間。 1 1 ·如申請專利範圍第9項所述之裝置,其中一第二移相器 (2 4 )係設置於該整流器(2 3 )與該交流電壓源(1 6 )之 第16頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 0 ml ·ϋ 1· ·Β1> tMMm ί i. mmmmt emmt §mmmm ϋ * n 1 mmmm§ I— n —Bi n J 1 in —a— —ϋ ϋ 11 II I (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) 504566 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 夂、申請專利範圍 間。 1 2 .如申請專利範圍第1 〇項所述之裝置,其中一第二移相 器(24 )係設置於該整流器(2 3 )與該交流電壓源(1 6 )之 間。 1 3 ·如申請專利範圍第6項所述之裝置’其中該移相器係用 以反相。 1 4 ·如申請專利範圍第1 2項所述之裝置,其中該移相器係 用以反相。 1 5 ·如申請專利範圍第1 1項所述之裝置,其中一低通濾波 器(2 6 )係設置於該整流器(2 3 )與該測試電路(2 5 )之輸 出端之間。 1 6 ·如申請專利範圍第1 4項所述之裝置,其中一低通濾波 器(2 6 )係設置於該整流器(2 3 )與該測試電路(2 5 )之輸 出端之間。 1 7 ·如申請專利範圍第5項所述之裝置,其中一放大器(丨7 ) 係設置於該感應器(1 0 )與該交流電壓源(1 6 )之間。 1 8 .如申請專利範圍第1 5項所述之裝置,其中一放大器 第17頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公f ) --------------------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 504566 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 (1 7 )係設置於該感應器(1 〇 )與孩叉流電壓源(1 6 )之 間。 1 9 ·如從申請專利範圍第3項所述之裝置’其中該電流電壓 轉換器(18)包括一包括有一第三運算放大器(28)之電 路。 2 0 ·如從申請專利範圍第1 8項所述之裝置,其中該電流電 壓轉換器(18)包括一包括有一第三運算放大器(28)之電 路。 21 .如申請專利範圍第1 9項所述之裝置,其中該第三運算 放大器(2 8 )之第一輸入端(2 9 ),特別係反相輸出端,係 直接與該感應器(1 0 )之電極之一(1 1 )相連。 2 2 ·如申請專利範圍第2 0項所述之裝置,其中該第三運算 放大器(2 8 )之第一輸入端(2 9 ),特別係反相輸出端,係 直接與該感應器(1 0 )之電極之一(1 1 )相連。 2 3 ·如申請專利範圍第1 9項或第2 1項所述之裝置,其中 一南電阻’尤其係百萬歐姆級’係跨設於該第二運算放 大器(28)之第一輸入端(29)與輸出端(3〇)之間。 2 4 ·如申請專利範圍第2 2項所述之裝置,其中一高電阻, 第18頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公釐) -----------Φ--------1T---------$ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 504566 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 尤其係百萬歐姆級,係跨設於該第三運算放大器(2 8 )之 第一輸入端(2 9 )與輸出端(3 0 )之間。 2 5 ·如申請專利範圍第5項所述之裝置,其中該等兩電極 (1 1、1 2 )係設置於該基底(1 3 )之不同側。 2 6 ·如申請專利範圍第2 3項所述之裝置,其中該等兩電極 (1 1、1 2 )係設置於該基底(1 3 )之不同側。 2 7 ·如申請專利範圍第2 4項所述之裝置,其中該等兩電極 (1 1、1 2 )係設置於該基底(1 3 )之不同側。 2 8 .如申請專利範圍第5項所述之裝置,其中該交流電源係 一 Wien-Robinson 振盪器。 2 9 .如申請專利範圍第2 3項所述之裝置,其中該交流電源 係一 Wien-Robinson 振盪器。 3 0 .如申請專利範圍第2 4項所述之裝置,其中該交流電源 係一 Wien-Robinson 振盪器。 3 1 ·如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該等兩電極 (1 1、1 2 )係設置於該基底(1 3 )之同一側。 第19頁 i紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------------------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 504566 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 3 2 ·如申請專利範圍第2 8項所述之裝置,其中該等兩電極 (1 1、1 2 )係設置於該基底(1 3 )之同一側。 3 3 ·如申請專利範圍第3 0項所述之裝置,其中該等兩電極 (1 1、1 2 )係設置於該基底(1 3 )之同一側。 ------------鲁--------1---------線· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第20頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19937387A DE19937387C1 (de) | 1999-08-07 | 1999-08-07 | Vorrichtung zur Überwachung eines Auftrags eines flüssigen bis pastenförmigen Mediums auf ein Substrat |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW504566B true TW504566B (en) | 2002-10-01 |
Family
ID=7917607
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW089115891A TW504566B (en) | 1999-08-07 | 2000-08-07 | Device for monitoring a coating of a fluid or paste-like medium onto a substrate |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6529016B1 (zh) |
EP (1) | EP1079203B1 (zh) |
JP (1) | JP2001099802A (zh) |
KR (1) | KR20010030053A (zh) |
CN (1) | CN1292498A (zh) |
AT (1) | ATE229168T1 (zh) |
CA (1) | CA2314813A1 (zh) |
DE (2) | DE19937387C1 (zh) |
TW (1) | TW504566B (zh) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB0006144D0 (en) * | 2000-03-14 | 2000-05-03 | Isis Innovation | Position and electromagnetic field sensor |
EP1336838A3 (de) * | 2002-02-16 | 2004-07-28 | Romani, Foud, Dr. | Verfahren und Einrichtung zum Prüfen der Haftung von Kunststoffbeschichtungen auf Oberflächen von Gegenständen |
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JP7113427B2 (ja) * | 2018-09-26 | 2022-08-05 | 横河電機株式会社 | 測定装置、および測定方法 |
CN112275549B (zh) * | 2020-10-22 | 2022-05-24 | 浙江庞度环保科技股份有限公司 | 一种可降解包装盒涂胶装置 |
KR102530748B1 (ko) * | 2021-01-29 | 2023-05-11 | 주식회사 지앤시바이오 | 나노선 fet를 이용한 샘플 검출 장치 및 방법 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5019951B1 (zh) * | 1971-07-02 | 1975-07-10 | ||
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JP2922376B2 (ja) * | 1992-12-26 | 1999-07-19 | キヤノン株式会社 | シート厚測定装置 |
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DE59814414D1 (de) * | 1997-12-18 | 2010-01-07 | Uster Technologies Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung von Anteilen fester Stoffe in einem Prüfgut |
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-
1999
- 1999-08-07 DE DE19937387A patent/DE19937387C1/de not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-07-07 AT AT00114600T patent/ATE229168T1/de not_active IP Right Cessation
- 2000-07-07 EP EP00114600A patent/EP1079203B1/de not_active Revoked
- 2000-07-07 DE DE50000860T patent/DE50000860D1/de not_active Revoked
- 2000-08-02 CA CA002314813A patent/CA2314813A1/en not_active Abandoned
- 2000-08-03 KR KR1020000045110A patent/KR20010030053A/ko not_active Application Discontinuation
- 2000-08-04 CN CN001208837A patent/CN1292498A/zh active Pending
- 2000-08-07 US US09/634,712 patent/US6529016B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-08-07 JP JP2000238567A patent/JP2001099802A/ja active Pending
- 2000-08-07 TW TW089115891A patent/TW504566B/zh not_active IP Right Cessation
-
2002
- 2002-09-11 US US10/241,627 patent/US6642723B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6642723B2 (en) | 2003-11-04 |
JP2001099802A (ja) | 2001-04-13 |
EP1079203B1 (de) | 2002-12-04 |
US6529016B1 (en) | 2003-03-04 |
DE50000860D1 (de) | 2003-01-16 |
KR20010030053A (ko) | 2001-04-16 |
CN1292498A (zh) | 2001-04-25 |
CA2314813A1 (en) | 2001-02-07 |
US20030067310A1 (en) | 2003-04-10 |
ATE229168T1 (de) | 2002-12-15 |
EP1079203A1 (de) | 2001-02-28 |
DE19937387C1 (de) | 2001-03-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |