TW498161B - Test apparatus and method for touch panel - Google Patents

Description

498161 發明說明（1) 本發明係有關於一種觸控面板之測試裝置及方法， 要用於測试觸控面板產品之不良率與偏差率，且特別使 一標準面板做為測試標準值，加以比較，以得到測試結用 果，並以回饋控制方式決定測試位置與測試壓力，以$ ^ 精確之定位與壓力控制，使測試結果更為精確，同時減t 誤差發生的可能性。 'v 隨著電腦設備的普及 平刖八 蔣作間單化和可攜帶性捭 加，觸控面板（touch panel )已廣泛使用於日常生活中，曰 隨處可見。例如電腦螢幕所使用的觸控式螢幕板、輸入用 的，控式書寫板、計算機或行動電話所使用的觸控式數 _ 板等，均為觸控面板的實施例。由於觸控面板内部設有 1 細之觸控訊號電路，故必須採用具有效率且精確的品質^ 制流程’ t能保證觸控面板產品的可靠度 人工測試觸控面板作業已不人日#官，& U二^ 1寻、、元的 L ^ ^ | 个且 而改採用專為觸控面 板所設計的測試裝置來進行測試作業。 用哥 ^ 習知的觸控面板測試裝 專利編號第295647號中所揭 有套裝測試軟體之電腦設| 測試機中所具有的一測試筆· 並藉由一筆壓調整控制卡做 介面’用以控制點壓測試機 試筆之行進速度，藉以決定 測量值與既有之標準理想I 觸控面板之品質是否合於測 置以及方法，可參見中華民國 蝽的專利。此一習知專利以具 ’連結一點壓測試機，由點壓 、’點壓於待測之觸控面板上， 為電腦設備與點壓測試機間之曝 之測試壓力，同時自動控制測 點壓之測試點位置，將所得之 比對’以得到测試結果，決定 試標準。

0675-5780TWF-ptd 五、發明說明（2) 剛述習知專利的缺點如下所述。首先，習知專利中的 •點$測試機在測量觸控面板時，係採用速度控制的方式來 决疋點壓測試機所移動的位置；即測試筆所測量的位置， 係由電服没備控制測試筆的移動速度決定，如此在速度受 ，制的情況下’可根據時間來決定測試位置。然而，測試 筆在向觸控面板的邊界位置接近時，測試筆的移動速度漸 減而由邊界位置開始向觸控面板中央移動時，測試筆的 移動速度漸增；在加減速的過程之中，由於測試筆移動速

度並未處於穩定狀態，因此通常無法在邊界位置附近取得 測減點之精確測試結果。 另$ ’别述習知專利採用預先測得之既有測試標準 ^與貫際測試的測量值比對後得到測試結果；然而， =I圖所示，在一觸控面板丨〇〇上進行實際測試時，測試 $ 測試路徑如實線所示；由於既有測試標準值並非 =$所得，而是預先測定，因此實際測試取 ==112、114、116、"8，並非都能完全對應於 心值中所定義之測試標準點位置102、1〇4、1〇6、

Ζ’Λ能Λ為觸控面板放置定位的誤差，《是點壓測髮 、 、機斋位置誤差，例如測試筆安裝時的誤差等， 式點即產生偏移量D，因而造成測試、#差 八，2如將合於測試標準值之測試面板誤判為不合標 板、、則上述習知技術的缺點，本發明提供-種觸控 ^忒衣置及方法，能有效改善上述習知技術對 以及测試點定位不精確的缺點，以提昇測試， j

五、發明說明（3) 本發明之觸控面板測試裝 已知測試結果為合格之標準 2測試方法，係、利用- 值後，測試待測之觸控面板時，^先測試，取得測試標準 值比對，修正測試點位置，以取1f用測量值與測試標準 彳 > 差而造成測試結果的誤差 7之疋位，避免 :式精確定出測試點之位置以老J:利用回饋控制的 寸規格的觸控面板均可進行測試。' D i力，且針對不同尺 本發明之目的，尤於接 及方法’利用-既有之標準面：C之測試裝置以 =差=取得測試標準值’以消除二點二機而不預先

標準測試點產生:與標準面板之T 判。 果不會產生改變而造成誤 本毛明之另一目的，在於提 一 置以及方法，直接以位置而不以速度 如此可精確控制测試筆於觸控面板上移動=的移動， 移動速度的限制，即使測試點非常接==，而不受 也能精確測量結果。 币接迎觸控面板之邊界，

本發日月P 置以及方法，種觸控面…試裝 如常見的類比I針對不同型式與尺寸大小的觸控面板，例 且可一次測1式觸控面板或數位式觸控面板等加以測試， 合於測試標準數觸控面板，以決定觸控面板的品質是否 為使本發明之上述及其他㈣、特徵和優點能更明顯 i 498161 五、發明說明（4) · 易懂，下文特舉一較佳實施例，並配合所附圖式做詳細說 明。 ， 圖式簡單說明： · 第1圖係顯示習知技術中觸控面板測試點與標準測試 點產生偏移之示意圖； · 第2圖係本發明之一實施例中觸控面板測試裝置的方 塊圖， 第3a圖係前述實施例中點壓測試機的正視圖； 第3b圖係前述實施例中點壓測試機的立體圖； 第4a圖係本發明之另一實施例中點壓測試機的正視 t· 圖； 第4b圖係本發明之另一實施例中點壓測試機的立體 圖 第5圖係本發明之一實施例中測試筆結構的正視圖； 第6圖係本發明之另一實施例中類比式觸控面板的測 試結果， 第7圖係本發明之另一實施例中數位式觸控面板的測 試結果。

符號說明： 1 0〜觸控面板；1 0 2、1 0 4、1 0 6、1 0 8〜測試標準點； 11 2、11 4、11 6、11 8〜測試點；2 0〜電腦設備；2 1 0〜位 置控制介面卡；3 0〜點壓測試機；3 1 0〜工作平台；31 2〜 第一方向滑軌；314〜第二方向滑軌；32 0〜測試筆；322 〜壓電感應元件；324〜彈性構件；40〜量測介面控制

0675-5780TWF-ptd 第7頁 498161 五、發明說明（5) 卡；5 〇〜待測觸控面板。 實施例詳細說明： 每浐，ί見第2圖，顯示本發明之觸控面板測試裝置的〜 Π :丄包括電腦設備2〇，點壓測試機3°，以及〜 第面卡40。其中點壓測試機3〇之結構如第圖以： 50 ，包括一工作平台310，用以放置觸控面板 b (] ’例如由大體垂直的黛一 構成的-X-Y平台，：有第一方？上第二方向(Y輪)所 向滑細上的第二；ίϊ二向=312與設置在第〜方 以Et沒认細w L 门，月軌314 ’以及一測試筆320，用

如第&所/面且5〇，以進行測試。測試筆320的架構則 如弟5圖所不，具有一彈性構件324， 、J 大體垂直於X-Y平台的Z圭由）產哇遝士 ° 一 向（即 Ρ7 π ^ 、 幻乙苹由）產生彈力，以產生測試壓力， 一1電感應70件322，連接於彈性構件324，用u | & 壓力回饋信號。 傅L 用以產生 定如if ^須說Γ本實施例中之點壓測試機30，並非限 結構。請參見如第4a圖以及;=所而其他不同的 例的點壓測試機3。，其結ΚΙ所另-實施 嬰如咕 舟Y 弟一方向滑執3 1 4並未設 •苐一方向滑軌312上，而係直接設置於工作平么 ί丄if 一方向/軌312係用以帶動觸控面板50滑；，不 同於第3圖中的帶動第二方向滑執314滑動。 前述電腦設備20係用以供操作者輸入測試參數， 測試起始點位置、測試點間距、測試面積、測試容 差、以及測試壓力；且根據前述測試參數，決定觸控面板

0675-5780TWF-ptd $ 8頁 498161 五、發明說明（6) 之測試點，並透過一位置控制介面卡21 〇，產生控制信 號’例如脈衝電壓等；然後控制信號被傳送至點壓 30中，用U分別驅動工作平台31〇之第一方向滑轨 二方向滑軌314帶動測試筆320至觸控面板之測試點，且控 制測試筆320產生測試壓力，點壓於測試點之位置，以進二 行測量。 ·· 點壓測試機3 0之測量動作如下所述。前述控制信號驅 動工作平台3 1 0與測試筆3 2 0的移動過程中，工作平台3 1 〇 的弟 方向滑執312與弟一方向滑執314於位置移動時，會 產生位置回饋信號’並將位置回饋信號傳回至電腦設備2 〇 之位置控制介面卡2 1 0，藉由回饋控制的動作以精確決定 測試筆320的實際位置是否正確於測試點測量。同時，'測 試筆32 0於測試點進行測量，可得到測試點之測量值，例 如觸控面板50於該測試點之電導通、電阻抗等，並可測量 出實際的測試壓力’得到壓力回饋信號，例如以壓電材料 構成一壓電感應元件3 2 2，受測試壓力擠壓下產生的電壓 變化等。然後，測試筆3 2 0將測量值與壓力回饋信號傳送 至量測控制介面卡40。

量測控制介面卡40接收到測量值與壓力回饋信號時， 將測量值傳回至電腦設備2 0，而壓力回饋信號則需先經由 轉換，變為壓力回饋值後，再傳回電腦設備2 〇。電腦設備 20接收測量值、位置回饋值與壓力回饋值後，將位置回饋 值與壓力回饋值則經由回饋控制之流程，產生並再次送出 控制信號；測量值則加以比對後，得到測試結果，例如觸

0675-5780TWF-?td 頁 --___ 五、發明說明（7) 控面板的合 出。 在此必 備2 0可由各 過螢幕以及 電腦之週邊 至一鏈結網 此即可節省 外，本發明 式觸控面才反 試裝置加以 中類比式觸 一實施例中 以下詳 在對待測觸 面板測試動 試機3 0之卫 板同型，但 格之比較標 測試參數， 積、測試容 輸入测 分析，即可 距之格狀區 格與否、測量值、合格率等，並加以儲存與輸 頊特別說明，本實施例之測試裝置中，電腦設 種不同的週邊設備輸出測試結果，例如一般透 印表機輸出測試結果；但本發明也可採用其他 輪出設備，例如透過一網路卡與路由器，連接 路’將測試結果輸出至遠端的一飼服器中，如 本發明之觸控面板測試裝置所占有的=間。另 並未限定測試特定種類的觸控面板，舉凡數位 或類比式觸控面板，均可用本發明所提供之測 测試。如第6圖所示，即為本發明之一實施例 控面板的測試結果；第7圖則顯示本發明之另 數位式觸控面板的測試結果。 述本發明之觸控面板測試方法的步驟。首先， 控面板50正式進行測試之前，必須先 作，將未圖示之一標準面板放置；= = 作平台3 1 0上’該標準面板為與待測的觸控面 已知測试結果之標準觸控面板，為測試是否合 準，並由電腦設備2 0輸入操作者所預先設定的 例如測試起始點位置、測試點間距、測試面 許誤差、以及測試壓力等等。 試參數後，電腦設備20根據前述測試參數加以 將標準面板之測試面積沿X軸與γ軸劃分成等間 域，並决疋標準面板上之複數測試標準點，由

498161 五、發明說明（8) 這些標準點以及前述 號，例如脈衝電壓等 30。點壓測試機30接 作，對標準面板的測 即為測試標準值，並 備2 0中。如此即完成 標準面板測試完 點壓測試機30之工作 避免待測觸控面板5 〇 步驟；即先由電腦設 中之一第一測試標準 試點。 測4參數中的測試壓力產 ’然後，將控制信號送至 ，控制信號後，即依前述 試標準點進行測量，以得 將前述測試標準值儲存於 標準面板的測試動作。 畢後，將前述待測觸控面 平台3 1 〇上，以進行測試（ 的定位誤差，必須先進行 備2 0根據前述標準面板的 點’決定待測觸控面板5〇 生控制信 點壓測試機 的測量動 到測量值， 前述電腦設 板50放置於 首先，為 一原點校正 測試標準點 的一第一測

然後’將測试筆3 2 0移動至該第一測試點，並在該第 一測試點周圍之一小區域範圍内，依前述測量動作測量待 測觸控面板5 0 ’並與前述第一測試標準點之測試標準值比 對，以修正前述第一測試點之位置到與測試標準值最接近 的一點；其中第一測試點周圍小區域的範圍大小可於測試 參數中設定，或是由電腦設備2 0事先決定。如此，只要待 測觸控面板5 0為一品質合於標準之觸控面板，即可依測量 值找出最精確之第一測試點位置，並依此修正後之第一測 試點，決定前述待測觸控面板之複數測試點。 決定待測觸控面板5 0之測試點後，電腦設備2 0即可控 制點壓測試機’依前述測量動作，於測試點測量待測觸 控面板5 0，以得到測量值，傳回電腦設備2 0後，與前述測

0675-5780TWF-ptd 第11頁 498161 五、發明說明（9) 試標準值比對，以得到、儲存以及輸出待測觸控面板5 0的 測試結果。 雖然本發明已以數個較佳實施例揭露如上，然其並非 用以限定本發明，任何熟習此項技藝者，在不脫離本發明 之精神和範圍内，仍可作些許的更動與潤飾，因此本發明 之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

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Claims (1)

1. 4^5101

   Ji正才' 用以測試觸控面板，包 案號 891234R2 六、申請專利範圍 1 · 一種觸控面板之測試裝置， 括： 電腦設備’用以輸入測試參數 壓力回饋值，且根據前述測，式 、,Τ收位置回饋值與 述壓力回饋值，產生並送出沐 ^ 严啼始，接跄、目丨曰 、疋/則试點與測試壓力之控制 k被後#收測篁值，並根據前述測量值之比對，以得到 測试結果，並將珂述測試結果儲存與輸出； 點壓測試機，用以接你浩 ^ ^ ^ ^ ,用X接收則述控制信號，並根據前述控 U Ϊ疋别f測試點與前述測試壓A，對前述觸控面板 進仃測里以=到測量信號、壓力回饋信號以及前述位置 回饋值、’纟將刖述位置回饋值傳回至前述電腦設備，且傳 送鈾述測里k遽與前述壓力回鑛信號；以及 一里，^制介面卡，連接於前述點壓測試機，用以接 收刚述測篁#號與前述壓力回饋信號，並將前述測量信號 轉換成前述測量值’且將前述壓力回饋信號轉換成前述壓 力回饋值，傳回至前述電腦設備。 2 ·如申請專利範圍第1項所述觸控面板之測試裝置， 其中别述電細设備具有一位置控制介面卡，用以根據前述 測試點產生前述控制信號，且將前述控制信號送至前述點 壓測試機，並接收前述位置回饋值。 3·如申請專利範圍第1項所述觸控面板之測試裝置， 其中前述測試參數包括測試起始點位置、測試點間距、測 試面積、測試容許誤差、以及測試壓力。 4 ·如申請專利範圍第1項所述觸控面板之測試裝置， 其中前述控制信號係為脈衝電壓。

   0675-5780TWFl.ptc 498161 案號 89123463 iri 曰 修正 六、申請專利範圍 5. 如申請專利範 其中前述電腦設備係 結網路，用以輸出前 6. 如申請專利範 其中前述觸控面板係 7. 如申請專利範 其中前述觸控面板係 8. —種觸控面板 測試機，用以測量待 將已知測試結果 中，並輸入測試參數 前述電腦設備根 上之複數測試標準點 試標準點測量前述標 述測試標準值儲存於 將前述待測觸控 前述電腦設備根 準點，決定前述待測 前述電腦設備控 點周圍之一小區域内 第一測試標準點之測 點之位置，並根據修 測觸控面板之複數測 前述電腦設備控 量前述待測觸控面板 twite! 圍第1項所述觸控面板之測試裝置， 透過一網路卡與路由器，連接至一鏈 述測試結果至遠端。 圍第1項所述觸控面板之測試裝置， 類比式觸控面板。 圍第1項所述觸控面板之測試裝置， 數位式觸控面板。 測試方法’措由電腦設備’控制點壓 測觸控面板，包括下列步驟： 之一標準面板放置於前述點壓測試機 於前述電腦設備； 據前述測試參數，決定前述標準面板 後，控制前述點壓測試機，於前述測 準面板，以得到測試標準值，並將前 前述電腦設備中； 面板放置於前述點壓測試機中； 據前述測試標準點中之一第一測試標 觸控面板的一第一測試點； 制前述點壓測試機，於前述第一測試 ，測量前述待測觸控面板，並與前述 試標準值比對，以修正前述第一測試 正後之前述第一測試點，決定前述待 試點；以及 制前述點壓測試機，於前述測試點測 ，以得到測量值，並將前述測量值與

   0675-5780TWFl.ptc 第14頁 498161 i ΟΙ ’.卞 卜‘ I’ 案號89123463 丨年曰’丨 修正 六、申請專利範圍 ·一… 、’：:::::[] 前述測試標準值比對，以得到、儲存以及輸出測試結果。 9.如申請專利範圍第8項所述之觸控面板測試方法， 更包括下列步驟： 前述電腦設備傳送控制信號至前述點壓測試機，以控 制前述點壓測試機之測試點位置與測試壓力，並由前述點 壓測試機傳送位置回饋值至前述電腦設備，且透過一量測 介面控制卡傳送壓力回饋值與測量值至前述電腦設備後， 更新前述控制信號。 1 0.如申請專利範圍第8項所述之觸控面板測試方法， 其中前述測試參數包括測試起始點位置、測試點間距、測 試面積、測試容許誤差、以及測試壓力。

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