TWI335440B - - Google Patents

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TWI335440B TW096123872A TW96123872A TWI335440B TW I335440 B TWI335440 B TW I335440B TW 096123872 A TW096123872 A TW 096123872A TW 96123872 A TW96123872 A TW 96123872A TW I335440 B TWI335440 B TW I335440B
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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    • GPHYSICS
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Description

1335440 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種觸控板檢測技術,特別是關於一種 /用噴嘴氣流I生氣流_於—待測觸控板以產生觸控信 號之非接觸式觸控板檢測方法及裝置。 【先前技術】
隨著科技越趨發達,眾多電子、資訊、通訊之控制功 能從傳統按鍵式開關提升至以觸控式功能之輸入裝置,不 再偶限於以鍵盤按鍵或滑氣之輸入操作方式,使用者僅需 以手指於觸控板(T_h Panel)上移動及觸壓即可進行輸 入及操作之功能。 觸控板被廣泛應用在例如可攜式筆記型電腦之顯示 益、可^式個人行動電話之輸人功能、各式資訊家電設備、 公共育訊系統設備、辦公室自動化設置·..等。
參閱第1圖所示,係顯示習知觸控板各相關構件之立 體分解圖,該習知之觸控板100係包括有一玻璃 1 UCHass Substraie),在其表面塗佈有一層透明導電層例 如氧化_IT0導電層),玻璃基板11#透明導電層⑴ 組成-導電玻璃。導電玻璃上設有一薄膜12,該薄膜12 之底面亦塗佈有-透明導電層12卜其係相對應於玻璃美 板11之透日月導電層⑴。在玻璃基板u之透明導電層^ 與薄膜之透明導電層121之間具有複數個絕緣隔點η, 用以隔開該透明導電層U1與透明導電層l2i。通常在該 1^35440 薄膜12之表面更設有一保護層14。 玻璃基板11之透明導電層U1與薄臈12之透明導電 層12!分別延伸連接有信號接點112、122,以供一信號傳 輸線15連接’以將該觸控板1〇〇t觸壓操作時所產^二 壓信號傳送出。 . 在製作該觸控板100時,其製程主要是在—玻璃其板 上經過塗佈防蝕印刷、蝕刻剝膜、絕緣隔點印刷、銀ς印 刷、絕緣層印刷、框膠印刷等製程,以製備完成一導電玻 璃。而在導電薄膜方面亦以類似之製程予以完成。然後再 將該導電玻璃及導電薄膜予在經過上下疊置組合、切割、 壓合排線後,而完成觸控板之製備。 在完成該觸控板之後,都會經過線性測試之步驟,以 驗證該觸脑是否符合預定之電氣雜及品質要求。線性 測試係屬於電氣特性測試之一重要測試項目。 在傳統的線性測試方法中(參閱第2圖所示),一般都 是採用實際觸壓檢測之方法,其録觸料⑽上配置一 觸壓筆2,並使該觸壓筆2實際觸壓於該觸控板_之表 面。而在信號的連接方面,其係、將信號傳輸線15連接至一 測試機台3,該測試機台3中建置有預設之信號讀取及分 析程式,可經由信號傳輸,線15讀取該觸控板1〇〇之信號, 並將該讀取之信號予以分析處理後,顯示於制試機台3 之顯示裝置4上。在進行測試時’係以觸壓筆2在觸控板 100上依預定之X軸向及Υ轴向檢測路徑L觸壓、劃線、 位移’使觸控板100因受麼觸而使觸控板1〇〇中玻璃基板 6
S 1335440 11之透料電Uii與薄膜12之透料㈣i2i兩者形 成接觸產生觸壓信號,此觸壓信號經信號傳輸線15 測試機台3後,由該測試機台3讀取及分析處理後, 在該測試機台3之顯示裝置4上顯示檢測軌跡l,,可 以判斷是否符合線性測試之要求。 八队 【發明内容】
本發明所欲解決之技術問題 然而,在採行習知觸壓筆來進行檢測觸控板之技術 ,中〜、仙直接觸壓觸控板表面之方式來進行測試,觸麼 筆本身會對待測觸控板造成很大的變數。例如,觸塵 施加廢力至觸控板表面時,其卿之❹大小、割設位移 ㈣,須由特㈣治具或控制設備予以達成,如果設計不 备’觸星筆之筆尖或觸控板本身的表面不
=面造成到傷、刮痕或損害简輕微= ’艮在曰後產品銷售至市面時,亦會被 良品。如果在進行測試時,該 貝者°心為疋不 =朗[筆經由該微粒雜質觸麼至觸控板之表面時,亦 έ傷及该觸控板之表面。 緣此,本發明之主要目的即 控板檢測方法,期以絲^ ^ _非接觸式之觸 預定的測試非接觸之方式即可對待測觸控板進行 線性—目的是提供-種利用氣流來進行觸控板 奴“方法,其配合空氣喷嘴所形成之氣流施屋 7 1335440 至觸竿板之表面以使觸控板產生觸壓信號,以取代傳統觸 控筆觸壓觸控板產生該觸壓信號之技術。 麥發明之另一目的是提供一種可同時進行觸控板線性 測試及清除觸控板表面微粒雜質之方法,其在進行觸控板 線性測試時,可同時將可能,附著於觸控板表面之微粒雜質 予以清除。 本發明之另一目的是提供一種非接觸式之觸控板檢測 裝置’其由-空氣喷嘴、—空氣源、—測試機台所組成, 該空氣源中之氣體供應至該空氣喷嘴時,由該空氣噴嘴之 氣流噴出端形成一氣流施加至該觸控板之表面,使該觸控 板因應地產生一對應於該氣流之觸壓信號,該觸壓信號經 由信號傳輸線送至測試機台。 本發明解決問題之技術手段
本發明為解決習知技術之問題所採狀技術手段係以 -空氣噴嘴配置在該觸控板之表面’並在該 該觸控板之表面間設定-預定間距,該空时嘴在導^ 會在該空氣喷嘴之氣流噴出端形成一 在一檢測裝置之控制之下,該空氣喷嘴在該 生面依一預定位移路徑進行位移,由該觸控板產 ==噴嘴之位移路徑之觸壓信號。檢測裝置 線性測叙ίΓ ,據以判斷該觸控板是否符合
8 S 1335440 本發明對照先前技術之功效 本發明藉由產生之氣流施加至觸控板之表面,可模擬 如同傳統以觸控筆實際在觸控板表面觸壓位移所產生之觸 壓L號,在不貫際接觸觸控板表面之狀況下,即可達到觸 控板之電氣特性之測試。採用本發明之技術,不會對觸控 板之表面造成損傷、到傷、到痕、或破裂之危險,故有效 提昇了觸控板的檢測技術,也提昇了產品的產品良率。再 者於進行本發明之非接觸式檢測時,其產生之氣流除了 可鉍壓至觸控板之表面以使觸控板產生觸壓信號之外,亦 同時對觸控板表面進行微粒雜質清除之工作,如此可簡化 總體程序’有狀善了傳統技射必須以各郷序來達到 檢測、清理之問題。 本發明所採用的具體實施例,將藉由以下之實施例及 附呈圖式作進一步之說明。
【實施方式】 參閱第3圖所示,係顯示本發明非接觸式觸控板檢測 方法之裝置配置示意圖。如圖所示,本發明傳、在—已製備 好_控板100上配置—空氣喷嘴5,該空氣嘴嘴5底端 之虱流噴出端51與觸控板100之有效觸控區域110之表面 間設定一預定之適當間距。 忒f氣噴嘴5經由—導管52及一氣流開關單元53連 通於一空氣源54,故該空氣源54可經由該氣流開關單元53 之控制及Vt 52之導引而供應―預^壓力之空氣至該空氣
='S 9 1335440 喷嘴5。 該觸控板100經由信號傳輸線15連接至一測試機台 6,該測試機台6中亦建置有預設之信號讀取及分析程式, 可經由信號傳輸線15讀取該觸控板1〇〇之信號,並將該讀 取之信號予以分析處理後,顯示於該測試機台6之顯示裝 置61上。該測試機台6可為一專用於對觸控板測試的電腦 設備’亦可為一般電腦裝置建置預設之信號讀取及分析程 式、以及可連接於待測觸控板之電腦裝置。 該測試機台6可經由一位移控制信號S1控制一位移 控制機構62之動作,進而控制空氣喷嘴5依一預定位移路 徑進行位移。測試機台6亦可以經由一開關控制信號82控 制氣流開關單元53之動作,以控制空氣源54中之空氣是 否導入至二氣喷嘴5。該氣流開關單元5 3可為一電磁控制 閥或等效的氣流控制閥件》 第4圖係顯示本發明非接觸式觸控板檢測方法之流程 圖,茲同時配合第3圖對本發明之檢測方法作進一步的說 明如下: 首先是將一製備完成之觸控板100經由信號傳輸線15 連接至測試機台100(步驟101)、以及將空氣噴嘴5配置在 觸控板100上,並使該空氣喷嘴5底端之氣流嘴出端51與 觸控板100之有效觸控區域110之表面間設定一預定之適 當間距(步驟102)。 此時,亦將空氣噴嘴5、導管52、氣流開關單元53、 空氣源54、位移控制機構62予以正確連接。第$圖顯示 10 1335440 -空%喷嘴5配置在觸控板之表面且在未施加氣流至 該觸控板100之表面時之剖視示意圖。 、在完成上述之前置準備步驟後,即可開始進行下一步 的測試。在測試機台6之控制之下,使空氣源54中之空氣 可經由氣流開關單元53及導管52而供應至空㈣嘴5(步 驟103),而使空氣噴嘴5底端之氣流喷出端51向觸控板⑽ 之有效觸控區域110方向形成-氣流F(步驟1〇4)。
同時,在測試機台6之控制之下,由位移控制機構^ 驅動該空㈣嘴5在該觸控板1⑼之表面依-預定位移路 控1進行位移(步驟105)。 ”只月_ 一且pm住极η;υ之表面 广崎嘴5之氣流噴出端51產生-氣流F施加至該觸控 〇〇之表面時之剖視示意圖。如圖所示,觸控板⑽之
空ί喷嘴5底端之氣流喷出端51所產生之氣流F. ^㈣成_ “’使觸控板⑽中玻璃基板U之透, :層m與缚膜12之透明導電層121兩者形成接觸,^ 觸控板1〇〇會因應地產生—對應於該空氣喷嘴5之位移马 徑I之各個觸壓位置之序列觸m信號 經由信號傳輸線is送至賴台物腎觸R心 亦可 从 逆之方法,即可模擬如同傳統以觸控筆奋 板表面職位移所赵之卿信號。經由本發明= 11 切5440 ^ 在該賴機台6之顯示裝置61上顯示出對應於該 ^嘴嘴5位在驗板⑽上㈣之特信號之序列觸壓 測試機台6在接收該觸控板1〇〇在空氣喷嘴$之位移 :所,各個觸壓信號時(步驟1〇7),可在測試機台6 上顯示出對應於該空氣喷嘴5之路徑信號之
以判^ G8),故技術人員即可依據各個觸屋信號據 =斷_控板1〇〇是否符合線性測試及其它電氣特性之 要求(步驟109)。 心之實施例可知’本發明所提供之非接觸式觸控 ^檢測方法及裝置確具«上之利㈣值,故本發明業已 二合於專社要件。㈣上之敘㈣為本發明之較佳實施 ^兄明’凡精於此項技藝者當可依據上述之糾而作其它 種之改良,惟這些改變仍屬於本發明之發明精神及以下 所界定之專利範圍中。
【圊式簡單說明】 第1圖係顯示習知觸控板各相關構件之立體分解圖。 *圖係顯示在進行傳統觸控板線性檢測時之裝置配置示 圖。 。…具示本發明非接觸式觸控板檢測方法之裝置配置示 意圖》 A圖係顯示本發明非接觸式觸控板檢測方法之流程圖。 第5圖顯示一空氣喷嘴配置在觸控板之表面且空氣喷嘴之
12 丄〇j)440 -氣流喷出端在未施加氣流至該觸控板之表面時之剖 .視示意圖。 第6圖顯示一空氣喷嘴配置在觸控板之表面且空氣噴嘴之 軋流喷出端產生一氣流施加至該觸控板之表面時之 剖視示意圖。 .
【主要元件符號說明】 100 觸控板 110 有效觸控區域 11 玻璃基板 111 透明導電層 112 信號接點 12 薄膜 121 透明導電層 122 信號接點 13 絕緣隔點 14 保護層 15 信號傳輸線 2 觸壓筆 3 測試機台 4 顯示裝置 5 空氣噴嘴 51 氣流噴出端 52 導管 13 ./ 1335440 53 氣流開關單元 54 空氣源 6 . 測試機台 61 顯示裝置 62 位移控制機構 SI 位移控制信號 S2 開關控制信號 I 預定位移路徑 F 氣流

Claims (1)

  1. 十、,請專利範圍: h一種非接觸式觸控板檢測方法,用以對一製備完成之觸 控板進行線性測試,該方法包括下列步驟: (a)將一具有氣流喷出端之空氣噴嘴配置在該觸控板之表 面,並在該氣流噴出端與該觸控板之表面間設定一預 定間距; ⑻將-空氣源導人至該空氣喷嘴,以在該空氣噴嘴之氣 流噴出端形成一氣流噴向該觸控板; ⑷驅動該空氣噴嘴在該觸控板之表面依―财位移路徑 進行位移; ⑷由該觸控板產生—賴於該空氣喷嘴之位移路徑 個觸壓信號; ⑷接收該觸控板在空氣喷嘴之位移路徑所產生之各個觸 歷h,據關斷該觸控板是否符合線性測試之要 2.如申知專利範圍第 項所述之非接觸式觸控板檢測方 法空氣喷嘴係由—氣流開關單元連接於一空義 源’由該氣流開闕單元控制該空氣源是否供應 氣 喷嘴。 ===== 個觸壓信號顯示在一顯示裝置之步驟。 4· 一種非接觸式觸控板檢測裝置,包括: -空氣喷嘴’具有一氣流噴出端,其氣流喷出端係配置 在一待測觸控板之表面,並與該觸控板之表面間設定 一預定間距; 一空氣源,經由一導管連通於該空氣喷嘴,用以供應一 氣體至該空氣喷嘴; 一測試機台,經由一信號傳輸線連接於該待測觸控板, 用以接收該觸控板所產生之觸壓信號; 其^該空氣源中之氣體供應至該空氣喷嘴時,由該空氣 噴背之氣流喷出端形成—氣流施加至該觸控板之表面, 使該觸控板因應地產生i應於該氣流之顧信號,該 觸壓信號經由信號傳輸線送至測試機台。 ^申請專利範圍第4項所述之非接觸式觸控板檢測裝 其中4空氣噴嘴與該空氣源之間更裝設有—氣流開 们Γ疋’、相試機台經由—開關控制信號控制該氣流開 早70進而控制該空氣源是否供應空氣至該空氣噴嘴。 置二寻:乾圍第4項所述之非接觸式觸控板檢測装 兮包括有—位移控制機構,連接於該空氣喷嘴, °乡/則試機台抗< + , 一位移控制信號控制該位移控制機構, 該空氣噴嘴依财位移路徑進行位移。
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