TW496949B - Test strip measuring method and device - Google Patents

Description

496949 i、發明說明（1) 【發明背景】 【發明領域】 本發明係關於試驗片測f 片時可實施測量。 【先前技術之說明】 已知一種試驗片測量方^^ 液、唾液或是其它地方，然 判斷試樣是否是陽性或是 A ·以上所述之試驗片測量 法，當一試驗片正被移動， 如··反射強度）會出現在試 不過’在不同的試驗片基 意味著僅僅使用出現在試驗 無法完成準確的測量，有可 此外，亦有例子顯示於試 速度上彼此相異，而無法準 鏗於先前所述，本發明之 片正被移動於測量試驗片的 種試驗片測量方法能夠考慮 的變化，而完成準確的定量 本發明之另一個目的，旨 使試驗片測量裝置在試驗片 成準確的定量測量或是定性 B •上述之試驗片測量裝置 方法及裝置，其中當移動試驗 ’其中試驗片浸沒在尿、血 後測量顏色的結果，可自動地 性。 方法的實施例，包括偵測的方 一試驗線的光學特性T (例 驗片上。 礎，其光學特性彼此不同。此 片的試驗線之光學特性T，將 能導致錯誤的判斷。 驗片測量裝置，在試驗片移動 確地識別試驗線。 目的旨在提供，當同樣的試驗 顏色之減驗片測量方法中，一 不同的試驗片基礎之光學特性 測i或疋定性的判斷。 在提供一試驗片測量方法，縱 移動速度上彼此互異，能夠完 判斷。 的實施例，包括當一試驗片正

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^6949 五、發明說明（2) - I I- 被移動可實施測量之裝置可實〃、曰 片之裝置，將使用用於改變^ ^測W。作為用於移動試驗 條與齒輪的裘置或者類似^置。力機的旋轉為線性運轉之齒 不過，使用機裝置之用途，會造成試驗片 :加其大與電力耗損。如此’要求低電力耗損之 精巧裝置，已為長期的願望。 鑑於先前所述，本發明之另一個目的旨在提供當同樣的 試驗片正被移動時’用於測量試驗片的顏色之試驗片測量 方法，一種試驗片測量裝置能夠以簡單的安置移動試驗 片。 / 【發明之概述】 在本說明書中，Π定性判斷Π係關於陰性或是陽性的判 崎，而”定量測量Π係關於以數字形式表示所求得之測定值 ε>ετ。 如本發明，一試驗片測量方法包括步驟如下：彳貞測一試 驗片基礎的光學特性R ;偵測已經出現在試驗片上之試驗 線的光學特性Τ ;及以R與Τ之間的差值或是比率為基準， 在試驗片上實施定量測量或是定性判斷（申請專利範圍第 1項）。 此處，，1光學特性η 一詞係關於反射強度，穿透強度，螢 光強度等等。 依據此方法，縱使不同的試驗片之基礎所呈現光學特性 會有變化，此變化能被吸收，如此可確定準確的定量測量 或是定性判斷。

90102163.ptd 第7頁 五、發明說明（3) ___ 本每月可女排估計試驗線在試 :的時間，點，或者是試驗線將出現二位置，二Vi將出 r , ] 或在估計的位置沒有出現時，可判if a ^ 二^範圍第2項）。在此項安排下，耐為陰:生 不^驗線的部分被錯誤地㈣為試驗線。 ^上 試於ΐ : Τ ΐ排測量一段時間T1 ’係從試驗片開始r㈣ 間’:基^取：=:動的方向被摘測的時間點，及：⑴寺 利範圍第3項）。‘^\=士現之後估計出一段時間（申請專 之移動速产彼士田- 作基準，縱使試驗片夾持器 ^ ^ 不同，在試驗線將出現之後的一段時卩卩介 可準確地被估計出。 奴4間亦 為識別试驗線，在個抓3 )々入 試驗片基礎的光學線之部分的光學特性，與 比，及當差值較：：!間’其兩者的差值應與起點值相 線（申；專利二值時此了上述的部分可識別為試驗 驗線所造成的干ΐ項）。此可避免因錯誤地判斷為試 如本發明’一試驗片 在試驗片上出現之押二绫的包括步驟如下：偵測已經 的光學特性…貞測工已在^ 特性Τ ;及以測定值盘夫老:π上出現之试驗線的光學 量測量或是定性判斷、/、則考值/使用，在試驗片上實施定 為基準，及參考值以以R、m之間的差值或是比率 請專利範圍第7項）。人 &的差值或是比率為基準（申 方法J提為使用控制線將會出現之試驗片。如此方

90102163.ptd 49694y 五、發明說明（4) 法，測量條你 使七沾上 件的變化能藉 基礎的光學特性 R予以吸收 定性判斷。 之變化 測量控制線 此將在試驗片 藉偵挪 予以 試驗片 吸收，及試 基礎的 驗片 本發明可安 上完成更準確的Λ的光Λ特性 排，估計控制線在 疋量測量或是 將出現的時間點，武;踝在試驗片已細門私夕 線在估計的時門赴:戈者疋控制線將出現的：始私動之後 #是失效的二估計的位置沒有出現時 當控制 發明可安姑是錯誤的（申請專利^ ^三可判斷軾驗 二時間點，或，控制線已經出現之後，估%τ人項）。本 ::=:戈估計的位置沒有出：可：： 專利乾圍弟9項）。在上述的了匈崎為陰性（申請 偵測控制線或是試驗線。°、女排中’能防止錯誤地 本毛月可女排，試驗片由試驗片。 開始移動的時間偵測試驗 二夹持，在試驗片 η’其係從試驗片移動開始；;:片：f測量-段時間 向被谓測之時間點，及以T1^:取：端於移動的方 之後，估計出一段時間Τ2 (申請專^ # 控制線將出現 項安排中，在控制線將出現後之 J ’ 10 :)。在此 持私動速度方面彼此不同亦能夠準確地估計出。片夹 將出i; m’在控制線已經出現之後，估計出試驗線 锊勺犄間點丁3，及當試驗線在估計的時間點T3沒有屮 見守，可判斷為陰性（申請專利範圍第丨丨項）。在此 排中，在試驗線將出現後之一段時間，縱使試驗片失持= 90102163.ptd 第9頁 五、發明說明（5) 在移動逮度方面彼此 本發明可安排，為 5亦能準確地估計出 ::學特性，與試驗：基，在假設是試驗線之部分 值與起點值相&，及學特性之間，其兩者。 :識：為試驗線（申請專起點值時，…部分 光學特性之間，其兩者學特'性，與試驗片基礎的 大於起點值時，上述的部::起點值相比，&當差值較 圍第13項）。在此項安排;可f別為控制線（申請專利範 線或控制線而產生的干擾。，此防止因錯誤地判斷為試驗 女具有上述的安排之本 之變化能予以吸收，如此丄—丄，試驗片基礎的光學特性 量測量或是定性判斷。 母一試驗片上可完成準確的定 縱使測量裝置在試心y 或是試驗線能有把握地識：動速度方面彼此相異，控制線 如本發明，一種試驗片 之夾持試驗片檯子；於；:-個可往復移動 到試驗片測量裝置之主體，$ =内°卩蚪，能夠鎖緊檯子 鎖/開鎖裝置；用來從最？ 鎖緊的狀態之閉 斜檯子之傾斜裝置；從最内;ζ出出 =之方向有彈性地傾 移動施予阻力之阻力施予“=;:之方向針對檯子之 如上述的安排，當檯子打利範圍第16項）。 時，檯子則在阻力施m::;失持的試驗片彈出 因此，縱使沒有如習知使用馬達來：d t彈出。 运木和動檯子，本發明能以 90102163.ptd 第10頁 五、發明說明（6) 簡單的配置完成類似先前技術之 可自動地以不變的速度配置檯〜夕；：驗片。 )。 于（申請專利範圍第1 7項 本發明可安排配置閉鎖/開鎖裝 緊接子’及當檯子再次推人日寺鬆開在當^子推入時鎖 範圍第18項）。此項安排能以非^ 狀恶（申請專利 測量。 $間早的操作開始顏色之 本發明可安排，檯子具有齒條， 輪給予旋轉性的f且力配置阻力施”4 了連；到齒條之齒 第Π項）。此項安排能容易地施’（申，專利範圍 檯子。 卞阻力到呈現線性運動之 本發明可安排，搞 齒條之齒輪配置傾‘置，二為了旋轉地傾斜連接 【較佳具二性運動之棱子。 圖1係本發明> ^ Α 量裝置包括，—χ 1双片、測里t置的透視略圖。試驗片測 量而改變之一1 ^驗片測里裝置之主體1，與可因各項測 =之忒驗片夾持器2。 试^片測量襞置 配置為可往復地 ’ 一夾持試驗片的檯子3被 如陽性、陰性或复動，一顯示器6用於展示一測量結果諸 子3具有一凹邱q他及一電源開關5。夾持試驗片的檯 試驗片失持器^其中放置一試驗片爽持器2。 完成後隨即丟棄。統一的結構失持一試驗片4，並在測量

90102163.ptd 第11頁 496949 五、發明說明（7) =式二片測量裝置之平面圖，其中移開-上蓋1a與 一緊固的電路板。 試驗片測量裝置之主體！具有一隔板u，用於限定 空間使夾持試驗片的檯子3可以引。祐 1 〇 , ^ ^ 板 11 具有一銷 P板11 :右、@ ( @ ®2中之紙平面的背面）伸出。 持==窗lla ’藉此試驗片4可進行光學測量。夹 持试&片的檯子3插進隔板J i之下。 上f不係/板11移除後之平面圖（緊固隔板η的銷13實際 持ί 是想像地於圖3與7中說明）。配置矩形的夾 :偏的檯子3，使其可插進試 又 有可與齒條π緊密配合之惰齒輪主體1具 合之驅動齒輪丨4。 人h间輪1 5緊密配 ^占f生制振器（未顯示）裝在 :振器以動葉輪的形式做成，其“：1 上上。例如’黏性 轉：及配置在諸如油脂之黏性體中…輪15結合且可旋 驅動齒輪1 4藉扭轉式的盤繞彈益 二的。傾斜之方向對應於夾：試：彈性地傾斜向—旋 測$裝置之主體1彈出的方向。、S ’欢片的檯子3從試驗 合扭轉失持試驗片的檯子3之傾斜穿詈 1式的盤繞彈簧之驅動齒^^置，不限定於結 ;置堵如I缩式盤繞彈簣14a， 亦.能適用其他已知之 ~端，如圖4所示。 力夹持試驗片的檯 “持試驗片的檯子3具有鎖元件仏 〃可當夾持試驗片 496949

的檯子3被推入最内部時於試 夾持試驗片的庐早3，男拉葙止二則里衣置之主體1上鎖緊 能。連n I、+至 0 、先堍定的操作鬆開此鎖緊狀 心圖5是Λ的銷U與此鎖元件3b構成閉鎖/開鎖裝置 件3b。鎖Λ生圖’係§兄明裝在夾持試驗片的檯子3上之鎖元 在是由光滑的樹脂（例…龍）做成：

V 向:Λ/广驗片的檯子3之凹部3c内，以致沿方 :件V包括 夾持試驗片的檯子3之方向b成直角。鎖 34及:ί ;圖5所示，用於引進銷13之槽32、33與 〆水&人銷1 3接合之階梯部35與凸出物3 1。 到Γ驗片的檯子3插人時，鎖元件3b之槽32則上移 33相連。ϋ。槽32逐漸地抬起，然後垂直地落下並與槽 才連才曰3 3沿橫方向落下並盘低神3 4相 曰 地抬起好像環繞一凸出物3卜;;=。槽成拱形 連。 兀凸出物31然後垂直地落下並與槽32相 出物”在由槽32、34環繞的鎖元件3b之中心。凸 二,3」J有—與銷13相接合之凹部3ia。配置在凹部3 下疋 用以插入銷1 3之階梯部3 5。 之接合操作。圖6A係 圖6B係說明接合位 被鬆開之狀態。鎖元 圖6 A到6 D係說明鎖元件3 b對於銷1 3 說明夾持試驗片的檯子3插入的狀態 置’及圖6 C與6 D係各自說明鎖緊狀態 件3b與凹部3c之間隙通常指定為99。 當^持試驗片的檯.子3插入時，銷13引入槽32内（圖㈤ )二§夾持試驗片的檯子3進一步插入時，銷13則落入押 。槽32與33之界限傾向於平的高度。因此，當操作"

五、發明說明（9) j t :夾持试驗片的檯子3離開時，鎖- 千面而言為向上方向的力量， 鎖兀件3b受到對於紙 此，藉階梯部35，銷13安裝到件鎖元件3b向上移動。因 )。、此鎖緊夾持試驗片的檯子3。兀件3b之凹部31a (圖⑽ 後，當猶微推動夾持 部35落下到槽34。當操作者：^檯子3時，銷13從階梯 開枯，夾持試驗片的檯子3 ' «夾持试驗片的檯子3離 於繪圖紙上向左方向之驅動齒；;;動，因為檯子3正受到位 3b文到對於紙平面而言為向上=勺力量。此時，鎖元件 因階梯部35與槽34之界限定兔^ °之力量而向上移動，此 到凹部31a，而是落入槽為傾1的。因此，銷13無法轉 當夾持試驗片的檯子3進二圖6C)。 起，然後落入槽32内，接著脫::動時，銷13沿㈣ 如前述所討論，當夹持試件3b。 時，夾持試驗片的檯子3對 片的檯子3被推進最内部 動時能鬆開。 田持5式驗片的檯子3再被推 圖7是平面圖，係說明夾 部之鎖緊狀態。藉銷〗3盥、/式匙片的檯子3被推進到最内 鎖緊夾持試驗片的檯子3、。兀件扑之凸出物31之接合，可 圖8為一剖視圖，係沿 說明上蓋la與緊固其’上°的㈤中X — X線說明鎖緊的狀態。亦 階梯部35且與凹部31a接合。路板23。銷13置於鎖元件3b之 作為閉鎖/開鎖之鬆開^晉 夏，亦可使用除了圖6與圖7所 ΨΛ 90102163.ptd 第14頁 496949 五、發明說明（10) 示之已知的裝置。 配置在電路板23上是一具有—LED之光線投射部21，一 具有二光電二極管之光線接收部2 2，及一開關4丨用以偵測 夹持喊驗片的檯子3的位置。配置一透鏡2丨a在光線投射部 2 1勺員而用以调整到试驗片4表面上的焦聚。L E D之光線 發射波長設定為將在試驗片4上出現之符號能吸收之光線 的波長（例如，當在試驗片4上出現的符號是紅色，UD則 發射綠光）。開關41具有一可旋轉的臂41a。藉感測出臂 4 1 a的位置，即可偵測夾持試驗片的檯子3之插入/移除。 1上1的安排中，當夾持試驗片的檯子3從鎖緊的狀態 中桑a開日守’夾持试驗片的檯子3實際上以均勻的速率彈出 、（^可歸於”自動的行進”），及啟動開關41。當自動的行 進日守’試驗片4的反射強度則經過一段時間的測量。 以下說明將討論試驗片測量方法，其中被夾持在夾持試 馬双片的檯子3的試驗片4，當夾持試驗片的檯子3自動地行 進時’將持續不斷地予以測量。 【第一個試驗片測量方法】 f 9係說明出現在試驗片4之符號的位置之圖。在圖9中 =箭號D表示夾持試驗片的檯子3之自動的行進方向。通 ^兩條有顏色的線即控制線4a與試驗線4b將會出現在試 2片4上。在本發明中，以判斷試驗線4b之反射強度為基 準’控制線4 a用於求得一參考值。 在以下說明中，試驗線4b之反射強度’控制線4a之反射 強度與試驗片4基礎的反射強度，將分別指定為T、c、R。

五 發明說明（11) 口口圖1 0為一曲線圖，係說明試驗片4，备 ^^^ :2之失持試驗片之檯子3自動的行進日/鱼^持試驗片失持 ，標軸代表反射強度（在圖i◦中以：量：結果。 疋早位可隨意選擇），而橫座標轴 ，為早位表示，但 之後自動行進所逝去的時間# (2立=關41已從⑽改 軸的值愈大，反射強度愈強。 毛/ )。縱座標 Θ 在此曲線中，出現四個波谷a、b、c、d 一 φ 及-波峰卜第—個出現的波谷8代表試驗-片二部^ :“:片曝光視窗的一邊36。下一個出現的波 表；之 ;;;下一個波谷C代表試驗線4b，及下-個波谷2表\ 試驗片曝光視窗的一邊37。波峰f代表試i 的ίί 驗片曝光視窗的—邊38。在波谷之間 生σ刀，波谷b與C之間的部分，及波谷c與(1之間 表試驗片4的基礎部。 > 〕口【刀代 以下說明將討論試驗片測量方法，由裝設在電路板2 3 微電腦執行。 、，藉微分圖1 0中反射強度的曲線圖求得的資料為基準，而 判斷波谷或波峰的位置。例如，當反射強度的曲線圖包括 圖1 1 A所示之波谷，微分圖丨丨A中曲線圖而求得的曲線則如 圖11 B所不。因此，從負值到正值的零交叉點，定義為一 波谷部，而從正值到負值的零交叉點則定義為一波峰。 當自動行進時，可求得出現的波谷a與隨後的波峰部之 間的差值（參見圖丨〇中v丨）。對於第一次，當此差值超出 第一個起點值（例如，32mV )時，波谷&可視為試驗片曝

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=;:ί3-6個於干擾出、 不規則，此 求得在隨後出現的波谷]3與隨後之波 (參見圖10中V2)。當此差值超出第：之間的差值 64.V )時，波谷b可視為控制線“ 起點值（例如’ 現的微小不規則，此差值可與第二個起胃广除由於干擾出 求得在隨後出現的波谷c與隨後的波峰直比較。 26mV )及小於第四個起點值（例如，i 〇〇 ”、、值:： 為試驗線4b。為了消除由於干擾出現的微小)波 =可與第三個起點值比較。帛四個起點值用在偵測邊37、 前述顯示陽性反應的判斷。在陰性反應的情況中，波谷 C不會出ί見，如圖12所示。微電腦會將隨後出現的波別識 別為波谷c。當波谷d與波峰f (參見圖丨2中V4 )之間的差 值超過第四個起點值時，可視為不存在之波谷。，即，無 法偵測試驗線4b。如此，可判斷試樣是陰性的。 上述的判斷意指’以控制線4a為基準識別波谷b，以試 驗線4b為基準識別波谷c，及識別波峰。 此處’在波谷b之控制線4a的反射強度，在波谷c之試驗 線4b的反射強度’及試驗片4基礎的反射強度，將分別指 定為C、T、R。基礎反射強度r可定義為（})波谷b與c之 間波峰部的頂值，或（2 )各波峰部的頂值之中間值或是 平均值。

90102163.ptd 第17頁 496949 五、發明說明（13) 依據以下方程式，微電腦可求得一測定值DET : DET = (R -T ) /(R -C) 依據此方程式，基礎影響，藉求得試驗線扑的反射強度 T與基礎反射強度R之間的差值’及求得控制線乜的反射強 度C與基礎反射強度R之間的差值，而予以消除。此外，試 驗條件的影響（例如，樣品之間的差別，試驗片之間的差 別等），藉帶有已消除之基礎影響的試驗線4b之反射強度 的（R —T )，除以帶有已消除之基礎影響的控制線“之反 射強度的（R — C )，而予以消除，此（R 一 c )可作為一參 考值。 ， / 為求得測定值D E T，亦可使用以下方程式·· DET = (R /T ) -(R 依據此方程式，基礎的影響 度Τ與基礎的反射強度R之間的 射強度C與基礎的反射強度R之 外，試驗條件的影響，從帶有 4b之反射強度的（R /T )，減 控制線4a之反射強度的（R /C) 可作為一參考值。 ’藉求得試驗線4 b的反射強 比率’及求得控制線4a的反 間的比率，而予以消除。此 已消除之基礎影響的試驗線 去帶有已消除之基礎影響的 ’而予以消除，此（r /c) 斷（G<T1<T2<1)而儲存起點他、 樣是b 定值贈與起點似1⑴，可判斷試 時，試樣可或是陽性。更明確地，當0 <DET<T1 為部份陽性，生，當T1<DET<T2時’試樣可判斷 及tT2<DET<l時，試樣可判斷為 啤

496949 五、發明說明（14) ，：而2:ϊ實:!多數試樣之試驗，與以更準確地重現 病人舅格而擇疋一值的方式，予以決定。 數ΐ:示Γ判二電杲腦f示以上述方式求得的測定值det的 數子值及w斷結果啫如陰性、部份陽性、 【第二個試驗片測量方法】 以下說明將討論第二個試驗片測量 甘虹&人u / 上出現的控制線或試驗線之識別有所改進八/釦 間；測量方法，波谷位置是藉波谷與波峰之 門反射強度的是值，與起點值相比較， 如第二個試驗片測量方法，不 =1^別。 度，而且對當波谷出現時的時間點反射強 可降低波谷位置之錯誤债測的比率，而：：二考慮。此更 谷位置。 向此識別一準確的波 如第二個試驗片測量， 3:，做成平滑的形狀，而該等；3片6失^ 肓料中不會出現。因此， 7、38在測量強度 個出現的油穴t 4 ， 干&，當試驗時，第一 驗線：對應控制線4a，及第二個出現的波谷對；試 圖上3與圖“各別為曲線圖，係說 夹持一試給 八付$驗片的檯子 結果。縱座器2而自動的行進時試驗片連續測量的 特，作、3 f示轴代表反射強度（在圖13與14中單位為伏 子3由於制振马宅秒）。圖1^興14，在夾持試驗片的； 振為之黏性阻力不同或是盤繞的彈簧之硬产不

90102163 Ptd 第19頁 失的時^ ί可隨意選擇）’而橫座標軸代表線掃描之消 子3由於制振早。位為毫秒）。圖13與14，在夾持試驗片的檯 496949 五、發明說明（15) 同’而在自動行進的速度上為各自不同的圖。縱使自動行 進的速度不同，以下進行的程序是相同的。 •在各曲線圖中，出現兩個波谷i、k。第一個出現的波谷 1代表控制線4a，及次一個出現的波谷k代表測試驗4b。在 波谷i之前的波峰h，及在波谷i、k之間的波峰j，代表試 驗片4的基礎部。 圖1 5為一流程圖，係說明由微電腦執行的第二個試驗片 測量方式。 當開關41從ON改到OFF時（測量開始的時間點），開始 計算時間（SI、S2步驟）。當試驗片沿移動方向之最前 端，而夾持試驗片的檯子3自動的行進時，予以偵測，光 線接收部2 2之輸出電壓增加。在輸出電壓超過起點值（3 v )(S3步驟）之時，登記一時間計算值T1 ( S4步驟）。此 時間計算值T1代表一距離L1，其在光線接收部22之偵測位 置’此當開關4 1從ON改到OFF並即刻地在夾持試驗片的檯 子3開始自動的行進之後，與試驗片沿移動的方向之最前 端之間。

之後’計時開始（S5、S6步驟），及判斷波谷是否已被 偵測（S 7步驟）及被偵測的波谷是否對應干擾（S 8步驟 )。此波谷判斷可以微分方式做成，如圖丨丨A與圖丨丨b中相 關的討論。亦可做出干擾的判斷，如先前的討論，藉波谷 與隨後出現的波峰部之間的差值，與起點值相比較。 士當偵測波谷i沒有對應干擾時，在此波谷偵測的時間之 時間計算值ΐ，設定為T2 (S9步驟）及判斷T2是否小於

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κι · T1 (S10 步驟） Τ2 <K1 · ΤΙ 係數Κ 1設定的值等於或稍大於從試驗片π 最前端到控制線之距離L2，與上述的距離=移動的方向之 因此，Κ1係一常數，其與夾持試驗片的檯之間的比率一。 進速度沒有關係。 3之自動的行 當 Τ2 <Κ1 · T1 時 )。當T2 -ΚΙ · T1 位置無法被彳貞測。 (S 1 3步驟）。 ，微電腦視此波谷 時，此意指控制線 因此判斷試驗片失 1為控制線（S 1 1步驟 在控制線應該出現的 效或者檢查錯誤 此外，當在時限内沒有偵測出波谷（S12步驟）或者偵 測所有的波谷對應干擾，可判斷試驗片失效或者檢查錯誤 (S 1 3步驟）。此時限可能與上述的時間κ i · τ j相同。 圖1 6為一流程圖，係說明由微電腦執行之試驗片測量方 法。 計時開始（S1 5、1 6步驟），及判斷波谷是否已經被债 測出（S 1 7步驟），及判斷被偵測之波谷是否對應干擾 (S 1 8步驟）。 當偵測出一波谷沒有對應干擾時，在此波谷偵測之時間 的計時值t則被設定為T3 (S19步驟）及判斷T3是否小於 K2.T2(S20 步驟）。 T3 <Κ2 · Τ2 係數Κ 2設定的值等於或稍微大於從試驗片4的控制線到 其中的試驗線之距離L3，與上述的距離L2之間的比率。因

90102163.ptd 第21頁 4969^9 $、發明說明（17) 此，K2亦是一常數，其與夾持試驗片的檯子3之自動的行 ^^速度沒有關係。 以下方程式可用以代替上一個。 T3 <K3(T1 +T2) 係數Κ3設定的值等於或略大於從試驗片4的控制線到其 中的試驗線之距離L3，與上述的距離（L丨+ L2 )之間的比 率。因此，K3亦是一常數，其與夾持試驗片的檯子3之自 動的行進速度沒有關係。 當達到S20步驟的方程式之要求時，被偵測出的波谷應 視為试驗線（S 2 1步驟）及實施一定量測量（$ 2 2步驊）〇 更明碟地’得計算出控制線的反射強度C，試驗線的反射 強度T，及試驗片4的基礎之反射強度R，及求得以下測定 值DET :

DET 微電腦供應此測定值D E 了。 起ΐ外秋：則匕:：在定性判斷之起點值T1、T2應儲存 ^ ^ 'T2"tb 微電腦在顯示器6可顯- / 士疋4^性°

之數字值，及判斷社果貝:二上述/夕求得的測定值DET 當沒有達到S2〇步;^Λ 或是陽性° 在試驗線應該出現的^方^式之要求時，此意指試驗線 是陰性的（S24步驟） 有被横測出。因此可判斷試樣 此外田在日^'限内偵測無波谷（S23步驟）或是當偵測

第22頁 496949 五 _ 發明說明（18) 所有的波谷皆對應干擾，可判斷試樣是陰性（S24步鱗 )。此時限可能與時間K2 · T2或K3(T1 +T2)相同/ A 在圖15與16之程序進行中，微電腦執行計時以獲得試驗 片之移動位置。如代替此計時的方式，可配置一感測器^ 在夾持試驗片的檯子3或試驗片夾持器2劃上線性刻度， 得測感器讀出此刻度。 ^ i 由定量測量求得的數字值能轉變為在此工業領域内共 使用的單位。於此關係中，藉使用本發明之試驗片測^ ^ 置與使用其它共用的測量裝置，在同樣的試驗片上分$ 實施測量，以構成一校準曲線。圖丨7為一曲線圖，係說 測量結果之實施例。橫座標軸代表測量值，其用已知的、、貝I 量裝置（濃度曲線圖AE-6 9 2 0，由ATTO有限公司製作）\測 是以CCD照相機求得的影像資料為基礎而實施試驗片的测 量，實施測量而求得的，而縱座標軸代表用本發明的諱、 片測量裝置，實施測量而求得的測量值。當由本發明的= ，片測量裝置求得的測量ϋ，與由其它測量装置求得的 置值相比較時，可建立一相關性的係數，約與〇 · 9 8 1同 高。 ，一· 圖1 7中曲線圖所示之直線為一校準曲線，係準備為最 平=法或其它。當此校準曲線求得後，以本發明的試 測S裝置求得的測量值，將自動地呈現並轉換為其它 位。 前述已經討論本發明的具體例。不過’本發明不應限 為廷些具體例’而在本發明範圍Θ，可做各種的修改。例

說明（19) 五' 發明說 如 i甚^在具有多數的控制線與/或多數的試驗線之試驗 ^ ’藉應用在圖1 5與1 6中之各線上阿拉伯數念 'β^方钇曰» « 卞nt數 、她疋1測1或是定性判斷。 礎卜’如配置試驗片@其上沒有控制線出現，試驗片基 楚的w響，藉在試驗線的反射強度τ與試驗片基 原之間所求得R—τ差值或!^/^比率，將予以消除。於 此情況中，依據以下方程式求得!)]^ : ’、 、 DET — 丁或是 DET / τ 在上述的具體例中，基礎的反射強度R定義為（丨）波谷 b與c之間波峰部的頂值，或是（2 )各自的波峰部之頂值 的中間值或平均值。如不用此程序，（r 1 一 τ )可用以代 替（R~T)，及（R2—C)可用以代替（R—C)，其中R1 疋I；鄰者试驗線4b之基礎的反射強度，及R2是緊鄰著控制 線4a之基礎的反射強度。於此情況中，縱使試驗片呈現的 反射強度分佈不均勻，亦能做準確的判斷。 上述各試驗片測量方法中，可檢驗試驗片的反射強度， 亦能檢驗穿透強度。此外，當試驗片發出螢光時，亦能檢 驗螢光強度。 【元件編 ί虎之說 明 ] 1 言式 驗 片 測 量 裝 置之主體 la 上 蓋 2 試 驗 片 失 持 器 3 夾 持 試 驗 片 之 檯子

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五、發明說明（20) 3 a 凹部 3b 鎖元件 3c 凹部 4 試驗片 4a 控制線 4b 試驗線 5 電源開關 6 顯示器 11 隔板 11a 視窗 13 銷 14 驅動齒輪 14a 壓縮式的盤繞彈簧 15 惰齒輪 16 齒條 21 光線投射部 21a 鏡片 22 光線接收部 23 電路板 31 凸出物 31a 凹部 32 槽 33 槽 34 槽 90102163.ptd 第25頁 496949 五、發明說明（21) 35 36 37 38 41 41a 99 階梯部 邊 邊 邊 開關 可旋轉的臂 鎖元件3 b與凹部3 c之間隙 1ΪΒ 90102163.ptd 第26頁 496949 圖式簡單說明 圖1係本發明之試驗片測量裝置的透視略圖； 圖2係試驗片測量裝置之平面圖，其中移開一上蓋1 a與 一緊固的電路板； 圖3係試驗片測量裝置之平面圖，其中移開一隔板1 1 ; 圖4係一實施例之透視圖，其中一壓縮式盤繞的彈簧1 4a 作為傾斜裝置，用以傾斜夾持試驗片之檯子3 ; 圖5為一透視圖，係說明一鎖元件3 b，其裝在夾持試驗 片之檯子3 ; 圖6A到圖6D係說明一鎖元件3b與一銷13之關係圖，其中 圖6A說明夾持試驗片之檯子3正被插入的狀態，圖6B說明 接合的位置，及圖6C與6D則各自說明鎖緊狀態被鬆開之狀 態； 圖7為一平面圖，係說明夾持試驗片之檯子3被推入到最 内部，使得檯子3被鎖緊之狀態； 圖8為一剖視圖，係沿圖7中X-X線說明鎖緊的狀態； 圖9係說明出現在試驗片4之符號的位置之圖； 圖1 0為一曲線圖，係說明當夾持試驗片之檯子3自動的 行進時，一試驗片連續測量的結果（在陽性反應的情形 )； 圖11 A係典型的反射強度資料之曲線圖，而圖11 B係為圖 1 1 A中資料的微分所得到之曲線圖； 圖1 2為一曲線圖，係說明當夾持試驗片之檯子3自動地 行進時，一試驗片連續測量的結果（在陰性反應的情形

90102163.ptd 第27頁 496949 圖式簡單說明 圖1 3為一曲線圖，係說明當夾持一試驗片夾持器2之夾 持試驗片的檯子3自動地行進時，一試驗片連續測量的結 果； 圖1 4為一曲線圖，係說明當夾持一試驗片夾持器2之夾 持試驗片的檯子3自動地行進時，一試驗片連續測量的結 果； 圖1 5為一流程圖，係說明由微電腦執行的一試驗片測量 方法； 圖1 6為一流程圖（連續性），係說明由微電腦執行一試 驗片測量方法的情形；及 圖1 7為一曲線圖，係說明透過使用本發明之試驗片測量 裝置與普通使用的另一種測量裝置分別地實施測量所得到 之結果。

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Claims (1)

1. 496949 六、申請專利範圍 1. 一種試驗片測量方法，其中當一試驗片正被移動可實 施測量，包括的步驟： 偵測一試驗片基礎的光學特性R ; 偵測一已經在該試驗片上出現之試驗線的光學特性T ; 及 實施一定量測量或是一定性判斷’在該試驗片上以該R 與該T之間的差值或比率為基礎。 2 ·如申請專利範圍第1項之試驗片測量方法，其中可估 計該試驗線在該試驗片已開始移動之後將出現的時間，或 該試驗線將出現的位置，及當該試驗線在該估計的時間點 或該估計的位置沒有出現時，判斷為陰性。 3. 如申請專利範圍第2項之試驗片測量方法，其中 試驗片由一試驗片夹持裔央持’ 該試驗片夾持器於試驗片移動開始的時間即被偵測，所 測量一段時間T1，係從該試驗片移動開始，到該試驗片沿 移動的方向之最前端被偵測的時間點，及以該段時間T1為 基準，估計該試驗線將出現之後的一段時間。 4. 如申請專利範圍第1項之試驗片測量方法，其中為識 別該試驗線，以假設是該試驗線之部份的光學特性’與該 試驗片基礎之光學特性，其兩者之間的差值與起點值相比 較，及當該差值大於該起點值時，該部份可識別為該試驗 線。 5 ·如申請專利範圍第1項之試驗片測量方法，其中有多 條的試驗線。

   90102163.ptd 第29頁 496949 六、申請專利範圍 6. 如申請專利範圍第1項之試驗片測量方法’其中該定 量測量的結果，於使用校準曲線中，在單位方面可以轉 換。 7. —種試驗片測量方法，其中當一試驗片移動可實施測 量，包括的步驟： 偵測一控制線的光學特性R，其已經在一試驗片上出 現； 偵測該試驗片基礎的光學特性R， 偵測一試驗線的光學特性T ’其已經在該試驗片上出 現；及 實施一定量測量或是一定性判斷，其在該試驗片上使用 一測定值與一參考值，該測定值以該R與該T之間的差值或 是比率提供，及該參考值以該C與該R之間的差值或是比率 提供。 8. 如申請專利範圍第7項之試驗片測量方法，其中可估 計該控制線在該試驗片已開始移動之後將出現的時間，或 該控制線將出現的位置，及當該控制線在該估計的時間點 或該估計的位置沒有出現時’判斷該試驗片是失效抑或檢 查錯誤的。 9. 如申請專利範圍第8項之試驗片測量方法，其中在該 控制線已經出現之後，估計該試驗線將出現的時間點，或 該試驗線將出現的位置’及當該試驗線在該估計的時間點 或該估計的位置沒有出現時，判斷為陰性。 1 0.如申請專利範圍第8項之試驗片測量方法，其中

   90102163.ptd 第30頁 496949 六、申請專利範圍 該試驗片由一試驗片爽持器夾持’ 該試驗片夾持器於試驗片移動開始的時間即被偵測，所 測量一段時間τ 1，係從試驗片該移動開始，到該試驗片沿 移動方向的最前端被偵測的時間點，及以該段時間T1為基 準，估計該控制線將出現之後的一段時間T2。 1 1.如申請專利範圍第1 0項之試驗片測量方法，其中在 該控制線已經出現之後，估計該試驗線將出現的時間點 T 3，及當該試驗線在該估計的時間點T 3沒有出現時，判斷 為陰性。 1 2.如申請專利範圍第7項之試驗片測量方法，其中為識 別該試驗線’假設該試驗線之部份的光學特性’與該試驗 片基礎之光學特性，其兩者之間的差值與起點值相比較， 及當該差值大於該起點值時，該部份可識別為該試驗線。 1 3.如申請專利範圍第7項之試驗片測量方法，其中為識 別該控制線，假設該控制線之部份的光學特性，與該試驗 片基礎之光學特性，其兩者之間的差值與起點值比較，及 當該差值大於該起點值時，該部份可識別為該控制線。 1 4.如申請專利範圍第7項之試驗片測量方法，其中有多 條的控制線或是多條的試驗線。 1 5.如申請專利範圍第7項之試驗片測量方法，其中該定 量測量的結果，於使用校準曲線時，在單位方面可以轉 換。 1 6. —種試驗片測量裝置，其中當一試驗片正被移動可 實施測量，包括：

   90102163.ptd 第31頁 496949 六、申請專利範圍 一配置為可往復運動之夾持試驗片的檯子； 閉鎖/開鎖裝置，當該檯子移動到最内部時，其能夠鎖 緊該檯子到該試驗片測量裝置的主體上，及能夠鬆開此鎖 緊狀態； 傾斜裝置，用來有彈性地沿著該檯子從該最内部彈出的 方向傾斜該檯子；及 阻力施予裝置，用來沿著該檯子從最内部彈出的方向， 對該檯子的動作施予阻力。 1 7.如申請專利範圍第1 6項之試驗片測量裝置，其中配 置該檯子，可自動地以一均勻的速度行進。 1 8.如申請專利範圍第1 6項之試驗片測量裝置，其中配 置該閉鎖/開鎖裝置於該檯子被推入時可鎖緊該檯子，及 當該檯子再次推動時，可鬆開此鎖緊狀態。 1 9.如申請專利範圍第1 6項之試驗片測量裝置，其中 該棱子具有一齒條，及 配置該阻力施予裝置，以對連接該齒條的齒輪供給一旋 轉的阻力。 2 0.如申請專利範圍第1 6項之試驗片測量裝置，其中該 檯子具有一齒條，及配置該傾斜裝置，以旋轉地傾斜連接 該齒條的齒輪。

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