TW496949B - Test strip measuring method and device - Google Patents
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Description
496949 i、發明說明(1) 【發明背景】 【發明領域】 本發明係關於試驗片測f 片時可實施測量。 【先前技術之說明】 已知一種試驗片測量方^^ 液、唾液或是其它地方,然 判斷試樣是否是陽性或是 A ·以上所述之試驗片測量 法,當一試驗片正被移動, 如··反射強度)會出現在試 不過’在不同的試驗片基 意味著僅僅使用出現在試驗 無法完成準確的測量,有可 此外,亦有例子顯示於試 速度上彼此相異,而無法準 鏗於先前所述,本發明之 片正被移動於測量試驗片的 種試驗片測量方法能夠考慮 的變化,而完成準確的定量 本發明之另一個目的,旨 使試驗片測量裝置在試驗片 成準確的定量測量或是定性 B •上述之試驗片測量裝置 方法及裝置,其中當移動試驗 ’其中試驗片浸沒在尿、血 後測量顏色的結果,可自動地 性。 方法的實施例,包括偵測的方 一試驗線的光學特性T (例 驗片上。 礎,其光學特性彼此不同。此 片的試驗線之光學特性T,將 能導致錯誤的判斷。 驗片測量裝置,在試驗片移動 確地識別試驗線。 目的旨在提供,當同樣的試驗 顏色之減驗片測量方法中,一 不同的試驗片基礎之光學特性 測i或疋定性的判斷。 在提供一試驗片測量方法,縱 移動速度上彼此互異,能夠完 判斷。 的實施例,包括當一試驗片正
90102163.ptd 第6頁
^6949 五、發明說明(2) - I I- 被移動可實施測量之裝置可實〃、曰 片之裝置,將使用用於改變^ ^測W。作為用於移動試驗 條與齒輪的裘置或者類似^置。力機的旋轉為線性運轉之齒 不過,使用機裝置之用途,會造成試驗片 :加其大與電力耗損。如此’要求低電力耗損之 精巧裝置,已為長期的願望。 鑑於先前所述,本發明之另一個目的旨在提供當同樣的 試驗片正被移動時’用於測量試驗片的顏色之試驗片測量 方法,一種試驗片測量裝置能夠以簡單的安置移動試驗 片。 / 【發明之概述】 在本說明書中,Π定性判斷Π係關於陰性或是陽性的判 崎,而”定量測量Π係關於以數字形式表示所求得之測定值 ε>ετ。 如本發明,一試驗片測量方法包括步驟如下:彳貞測一試 驗片基礎的光學特性R ;偵測已經出現在試驗片上之試驗 線的光學特性Τ ;及以R與Τ之間的差值或是比率為基準, 在試驗片上實施定量測量或是定性判斷(申請專利範圍第 1項)。 此處,,1光學特性η 一詞係關於反射強度,穿透強度,螢 光強度等等。 依據此方法,縱使不同的試驗片之基礎所呈現光學特性 會有變化,此變化能被吸收,如此可確定準確的定量測量 或是定性判斷。
90102163.ptd 第7頁 五、發明說明(3) ___ 本每月可女排估計試驗線在試 :的時間,點,或者是試驗線將出現二位置,二Vi將出 r , ] 或在估計的位置沒有出現時,可判if a ^ 二^範圍第2項)。在此項安排下,耐為陰:生 不^驗線的部分被錯誤地㈣為試驗線。 ^上 試於ΐ : Τ ΐ排測量一段時間T1 ’係從試驗片開始r㈣ 間’:基^取:=:動的方向被摘測的時間點,及:⑴寺 利範圍第3項)。‘^\=士現之後估計出一段時間(申請專 之移動速产彼士田- 作基準,縱使試驗片夾持器 ^ ^ 不同,在試驗線將出現之後的一段時卩卩介 可準確地被估計出。 奴4間亦 為識別试驗線,在個抓3 )々入 試驗片基礎的光學線之部分的光學特性,與 比,及當差值較::!間’其兩者的差值應與起點值相 線(申;專利二值時此了上述的部分可識別為試驗 驗線所造成的干ΐ項)。此可避免因錯誤地判斷為試 如本發明’一試驗片 在試驗片上出現之押二绫的包括步驟如下:偵測已經 的光學特性…貞測工已在^ 特性Τ ;及以測定值盘夫老:π上出現之试驗線的光學 量測量或是定性判斷、/、則考值/使用,在試驗片上實施定 為基準,及參考值以以R、m之間的差值或是比率 請專利範圍第7項)。人 &的差值或是比率為基準(申 方法J提為使用控制線將會出現之試驗片。如此方
90102163.ptd 49694y 五、發明說明(4) 法,測量條你 使七沾上 件的變化能藉 基礎的光學特性 R予以吸收 定性判斷。 之變化 測量控制線 此將在試驗片 藉偵挪 予以 試驗片 吸收,及試 基礎的 驗片 本發明可安 上完成更準確的Λ的光Λ特性 排,估計控制線在 疋量測量或是 將出現的時間點,武;踝在試驗片已細門私夕 線在估計的時門赴:戈者疋控制線將出現的:始私動之後 #是失效的二估計的位置沒有出現時 當控制 發明可安姑是錯誤的(申請專利^ ^三可判斷軾驗 二時間點,或,控制線已經出現之後,估%τ人項)。本 ::=:戈估計的位置沒有出:可:: 專利乾圍弟9項)。在上述的了匈崎為陰性(申請 偵測控制線或是試驗線。°、女排中’能防止錯誤地 本毛月可女排,試驗片由試驗片。 開始移動的時間偵測試驗 二夹持,在試驗片 η’其係從試驗片移動開始;;:片:f測量-段時間 向被谓測之時間點,及以T1^:取:端於移動的方 之後,估計出一段時間Τ2 (申請專^ # 控制線將出現 項安排中,在控制線將出現後之 J ’ 10 :)。在此 持私動速度方面彼此不同亦能夠準確地估計出。片夹 將出i; m’在控制線已經出現之後,估計出試驗線 锊勺犄間點丁3,及當試驗線在估計的時間點T3沒有屮 見守,可判斷為陰性(申請專利範圍第丨丨項)。在此 排中,在試驗線將出現後之一段時間,縱使試驗片失持= 90102163.ptd 第9頁 五、發明說明(5) 在移動逮度方面彼此 本發明可安排,為 5亦能準確地估計出 ::學特性,與試驗:基,在假設是試驗線之部分 值與起點值相&,及學特性之間,其兩者。 :識:為試驗線(申請專起點值時,…部分 光學特性之間,其兩者學特'性,與試驗片基礎的 大於起點值時,上述的部::起點值相比,&當差值較 圍第13項)。在此項安排;可f別為控制線(申請專利範 線或控制線而產生的干擾。,此防止因錯誤地判斷為試驗 女具有上述的安排之本 之變化能予以吸收,如此丄—丄,試驗片基礎的光學特性 量測量或是定性判斷。 母一試驗片上可完成準確的定 縱使測量裝置在試心y 或是試驗線能有把握地識:動速度方面彼此相異,控制線 如本發明,一種試驗片 之夾持試驗片檯子;於;:-個可往復移動 到試驗片測量裝置之主體,$ =内°卩蚪,能夠鎖緊檯子 鎖/開鎖裝置;用來從最? 鎖緊的狀態之閉 斜檯子之傾斜裝置;從最内;ζ出出 =之方向有彈性地傾 移動施予阻力之阻力施予“=;:之方向針對檯子之 如上述的安排,當檯子打利範圍第16項)。 時,檯子則在阻力施m::;失持的試驗片彈出 因此,縱使沒有如習知使用馬達來:d t彈出。 运木和動檯子,本發明能以 90102163.ptd 第10頁 五、發明說明(6) 簡單的配置完成類似先前技術之 可自動地以不變的速度配置檯〜夕;:驗片。 )。 于(申請專利範圍第1 7項 本發明可安排配置閉鎖/開鎖裝 緊接子’及當檯子再次推人日寺鬆開在當^子推入時鎖 範圍第18項)。此項安排能以非^ 狀恶(申請專利 測量。 $間早的操作開始顏色之 本發明可安排,檯子具有齒條, 輪給予旋轉性的f且力配置阻力施”4 了連;到齒條之齒 第Π項)。此項安排能容易地施’(申,專利範圍 檯子。 卞阻力到呈現線性運動之 本發明可安排,搞 齒條之齒輪配置傾‘置,二為了旋轉地傾斜連接 【較佳具二性運動之棱子。 圖1係本發明> ^ Α 量裝置包括,—χ 1双片、測里t置的透視略圖。試驗片測 量而改變之一1 ^驗片測里裝置之主體1,與可因各項測 =之忒驗片夾持器2。 试^片測量襞置 配置為可往復地 ’ 一夾持試驗片的檯子3被 如陽性、陰性或复動,一顯示器6用於展示一測量結果諸 子3具有一凹邱q他及一電源開關5。夾持試驗片的檯 試驗片失持器^其中放置一試驗片爽持器2。 完成後隨即丟棄。統一的結構失持一試驗片4,並在測量
90102163.ptd 第11頁 496949 五、發明說明(7) =式二片測量裝置之平面圖,其中移開-上蓋1a與 一緊固的電路板。 試驗片測量裝置之主體!具有一隔板u,用於限定 空間使夾持試驗片的檯子3可以引。祐 1 〇 , ^ ^ 板 11 具有一銷 P板11 :右、@ ( @ ®2中之紙平面的背面)伸出。 持==窗lla ’藉此試驗片4可進行光學測量。夹 持试&片的檯子3插進隔板J i之下。 上f不係/板11移除後之平面圖(緊固隔板η的銷13實際 持ί 是想像地於圖3與7中說明)。配置矩形的夾 :偏的檯子3,使其可插進試 又 有可與齒條π緊密配合之惰齒輪主體1具 合之驅動齒輪丨4。 人h间輪1 5緊密配 ^占f生制振器(未顯示)裝在 :振器以動葉輪的形式做成,其“:1 上上。例如’黏性 轉:及配置在諸如油脂之黏性體中…輪15結合且可旋 驅動齒輪1 4藉扭轉式的盤繞彈益 二的。傾斜之方向對應於夾:試:彈性地傾斜向—旋 測$裝置之主體1彈出的方向。、S ’欢片的檯子3從試驗 合扭轉失持試驗片的檯子3之傾斜穿詈 1式的盤繞彈簧之驅動齒^^置,不限定於結 ;置堵如I缩式盤繞彈簣14a, 亦.能適用其他已知之 ~端,如圖4所示。 力夹持試驗片的檯 “持試驗片的檯子3具有鎖元件仏 〃可當夾持試驗片 496949
的檯子3被推入最内部時於試 夾持試驗片的庐早3,男拉葙止二則里衣置之主體1上鎖緊 能。連n I、+至 0 、先堍定的操作鬆開此鎖緊狀 心圖5是Λ的銷U與此鎖元件3b構成閉鎖/開鎖裝置 件3b。鎖Λ生圖’係§兄明裝在夾持試驗片的檯子3上之鎖元 在是由光滑的樹脂(例…龍)做成:
V 向:Λ/广驗片的檯子3之凹部3c内,以致沿方 :件V包括 夾持試驗片的檯子3之方向b成直角。鎖 34及:ί ;圖5所示,用於引進銷13之槽32、33與 〆水&人銷1 3接合之階梯部35與凸出物3 1。 到Γ驗片的檯子3插人時,鎖元件3b之槽32則上移 33相連。ϋ。槽32逐漸地抬起,然後垂直地落下並與槽 才連才曰3 3沿橫方向落下並盘低神3 4相 曰 地抬起好像環繞一凸出物3卜;;=。槽成拱形 連。 兀凸出物31然後垂直地落下並與槽32相 出物”在由槽32、34環繞的鎖元件3b之中心。凸 二,3」J有—與銷13相接合之凹部3ia。配置在凹部3 下疋 用以插入銷1 3之階梯部3 5。 之接合操作。圖6A係 圖6B係說明接合位 被鬆開之狀態。鎖元 圖6 A到6 D係說明鎖元件3 b對於銷1 3 說明夾持試驗片的檯子3插入的狀態 置’及圖6 C與6 D係各自說明鎖緊狀態 件3b與凹部3c之間隙通常指定為99。 當^持試驗片的檯.子3插入時,銷13引入槽32内(圖㈤ )二§夾持試驗片的檯子3進一步插入時,銷13則落入押 。槽32與33之界限傾向於平的高度。因此,當操作"
五、發明說明(9) j t :夾持试驗片的檯子3離開時,鎖- 千面而言為向上方向的力量, 鎖兀件3b受到對於紙 此,藉階梯部35,銷13安裝到件鎖元件3b向上移動。因 )。、此鎖緊夾持試驗片的檯子3。兀件3b之凹部31a (圖⑽ 後,當猶微推動夾持 部35落下到槽34。當操作者:^檯子3時,銷13從階梯 開枯,夾持試驗片的檯子3 ' «夾持试驗片的檯子3離 於繪圖紙上向左方向之驅動齒;;;動,因為檯子3正受到位 3b文到對於紙平面而言為向上=勺力量。此時,鎖元件 因階梯部35與槽34之界限定兔^ °之力量而向上移動,此 到凹部31a,而是落入槽為傾1的。因此,銷13無法轉 當夾持試驗片的檯子3進二圖6C)。 起,然後落入槽32内,接著脫::動時,銷13沿㈣ 如前述所討論,當夹持試件3b。 時,夾持試驗片的檯子3對 片的檯子3被推進最内部 動時能鬆開。 田持5式驗片的檯子3再被推 圖7是平面圖,係說明夾 部之鎖緊狀態。藉銷〗3盥、/式匙片的檯子3被推進到最内 鎖緊夾持試驗片的檯子3、。兀件扑之凸出物31之接合,可 圖8為一剖視圖,係沿 說明上蓋la與緊固其’上°的㈤中X — X線說明鎖緊的狀態。亦 階梯部35且與凹部31a接合。路板23。銷13置於鎖元件3b之 作為閉鎖/開鎖之鬆開^晉 夏,亦可使用除了圖6與圖7所 ΨΛ 90102163.ptd 第14頁 496949 五、發明說明(10) 示之已知的裝置。 配置在電路板23上是一具有—LED之光線投射部21,一 具有二光電二極管之光線接收部2 2,及一開關4丨用以偵測 夹持喊驗片的檯子3的位置。配置一透鏡2丨a在光線投射部 2 1勺員而用以调整到试驗片4表面上的焦聚。L E D之光線 發射波長設定為將在試驗片4上出現之符號能吸收之光線 的波長(例如,當在試驗片4上出現的符號是紅色,UD則 發射綠光)。開關41具有一可旋轉的臂41a。藉感測出臂 4 1 a的位置,即可偵測夾持試驗片的檯子3之插入/移除。 1上1的安排中,當夾持試驗片的檯子3從鎖緊的狀態 中桑a開日守’夾持试驗片的檯子3實際上以均勻的速率彈出 、(^可歸於”自動的行進”),及啟動開關41。當自動的行 進日守’試驗片4的反射強度則經過一段時間的測量。 以下說明將討論試驗片測量方法,其中被夾持在夾持試 馬双片的檯子3的試驗片4,當夾持試驗片的檯子3自動地行 進時’將持續不斷地予以測量。 【第一個試驗片測量方法】 f 9係說明出現在試驗片4之符號的位置之圖。在圖9中 =箭號D表示夾持試驗片的檯子3之自動的行進方向。通 ^兩條有顏色的線即控制線4a與試驗線4b將會出現在試 2片4上。在本發明中,以判斷試驗線4b之反射強度為基 準’控制線4 a用於求得一參考值。 在以下說明中,試驗線4b之反射強度’控制線4a之反射 強度與試驗片4基礎的反射強度,將分別指定為T、c、R。
五 發明說明(11) 口口圖1 0為一曲線圖,係說明試驗片4,备 ^^^ :2之失持試驗片之檯子3自動的行進日/鱼^持試驗片失持 ,標軸代表反射強度(在圖i◦中以:量:結果。 疋早位可隨意選擇),而橫座標轴 ,為早位表示,但 之後自動行進所逝去的時間# (2立=關41已從⑽改 軸的值愈大,反射強度愈強。 毛/ )。縱座標 Θ 在此曲線中,出現四個波谷a、b、c、d 一 φ 及-波峰卜第—個出現的波谷8代表試驗-片二部^ :“:片曝光視窗的一邊36。下一個出現的波 表;之 ;;;下一個波谷C代表試驗線4b,及下-個波谷2表\ 試驗片曝光視窗的一邊37。波峰f代表試i 的ίί 驗片曝光視窗的—邊38。在波谷之間 生σ刀,波谷b與C之間的部分,及波谷c與(1之間 表試驗片4的基礎部。 > 〕口【刀代 以下說明將討論試驗片測量方法,由裝設在電路板2 3 微電腦執行。 、,藉微分圖1 0中反射強度的曲線圖求得的資料為基準,而 判斷波谷或波峰的位置。例如,當反射強度的曲線圖包括 圖1 1 A所示之波谷,微分圖丨丨A中曲線圖而求得的曲線則如 圖11 B所不。因此,從負值到正值的零交叉點,定義為一 波谷部,而從正值到負值的零交叉點則定義為一波峰。 當自動行進時,可求得出現的波谷a與隨後的波峰部之 間的差值(參見圖丨〇中v丨)。對於第一次,當此差值超出 第一個起點值(例如,32mV )時,波谷&可視為試驗片曝
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=;:ί3-6個於干擾出、 不規則,此 求得在隨後出現的波谷]3與隨後之波 (參見圖10中V2)。當此差值超出第:之間的差值 64.V )時,波谷b可視為控制線“ 起點值(例如’ 現的微小不規則,此差值可與第二個起胃广除由於干擾出 求得在隨後出現的波谷c與隨後的波峰直比較。 26mV )及小於第四個起點值(例如,i 〇〇 ”、、值:: 為試驗線4b。為了消除由於干擾出現的微小)波 =可與第三個起點值比較。帛四個起點值用在偵測邊37、 前述顯示陽性反應的判斷。在陰性反應的情況中,波谷 C不會出ί見,如圖12所示。微電腦會將隨後出現的波別識 別為波谷c。當波谷d與波峰f (參見圖丨2中V4 )之間的差 值超過第四個起點值時,可視為不存在之波谷。,即,無 法偵測試驗線4b。如此,可判斷試樣是陰性的。 上述的判斷意指’以控制線4a為基準識別波谷b,以試 驗線4b為基準識別波谷c,及識別波峰。 此處’在波谷b之控制線4a的反射強度,在波谷c之試驗 線4b的反射強度’及試驗片4基礎的反射強度,將分別指 定為C、T、R。基礎反射強度r可定義為(})波谷b與c之 間波峰部的頂值,或(2 )各波峰部的頂值之中間值或是 平均值。
90102163.ptd 第17頁 496949 五、發明說明(13) 依據以下方程式,微電腦可求得一測定值DET : DET = (R -T ) /(R -C) 依據此方程式,基礎影響,藉求得試驗線扑的反射強度 T與基礎反射強度R之間的差值’及求得控制線乜的反射強 度C與基礎反射強度R之間的差值,而予以消除。此外,試 驗條件的影響(例如,樣品之間的差別,試驗片之間的差 別等),藉帶有已消除之基礎影響的試驗線4b之反射強度 的(R —T ),除以帶有已消除之基礎影響的控制線“之反 射強度的(R — C ),而予以消除,此(R 一 c )可作為一參 考值。 , / 為求得測定值D E T,亦可使用以下方程式·· DET = (R /T ) -(R 依據此方程式,基礎的影響 度Τ與基礎的反射強度R之間的 射強度C與基礎的反射強度R之 外,試驗條件的影響,從帶有 4b之反射強度的(R /T ),減 控制線4a之反射強度的(R /C) 可作為一參考值。 ’藉求得試驗線4 b的反射強 比率’及求得控制線4a的反 間的比率,而予以消除。此 已消除之基礎影響的試驗線 去帶有已消除之基礎影響的 ’而予以消除,此(r /c) 斷(G<T1<T2<1)而儲存起點他、 樣是b 定值贈與起點似1⑴,可判斷試 時,試樣可或是陽性。更明確地,當0 <DET<T1 為部份陽性,生,當T1<DET<T2時’試樣可判斷 及tT2<DET<l時,試樣可判斷為 啤
496949 五、發明說明(14) ,:而2:ϊ實:!多數試樣之試驗,與以更準確地重現 病人舅格而擇疋一值的方式,予以決定。 數ΐ:示Γ判二電杲腦f示以上述方式求得的測定值det的 數子值及w斷結果啫如陰性、部份陽性、 【第二個試驗片測量方法】 以下說明將討論第二個試驗片測量 甘虹&人u / 上出現的控制線或試驗線之識別有所改進八/釦 間;測量方法,波谷位置是藉波谷與波峰之 門反射強度的是值,與起點值相比較, 如第二個試驗片測量方法,不 =1^別。 度,而且對當波谷出現時的時間點反射強 可降低波谷位置之錯誤债測的比率,而::二考慮。此更 谷位置。 向此識別一準確的波 如第二個試驗片測量, 3:,做成平滑的形狀,而該等;3片6失^ 肓料中不會出現。因此, 7、38在測量強度 個出現的油穴t 4 , 干&,當試驗時,第一 驗線:對應控制線4a,及第二個出現的波谷對;試 圖上3與圖“各別為曲線圖,係說 夹持一試給 八付$驗片的檯子 結果。縱座器2而自動的行進時試驗片連續測量的 特,作、3 f示轴代表反射強度(在圖13與14中單位為伏 子3由於制振马宅秒)。圖1^興14,在夾持試驗片的; 振為之黏性阻力不同或是盤繞的彈簧之硬产不
90102163 Ptd 第19頁 失的時^ ί可隨意選擇)’而橫座標軸代表線掃描之消 子3由於制振早。位為毫秒)。圖13與14,在夾持試驗片的檯 496949 五、發明說明(15) 同’而在自動行進的速度上為各自不同的圖。縱使自動行 進的速度不同,以下進行的程序是相同的。 •在各曲線圖中,出現兩個波谷i、k。第一個出現的波谷 1代表控制線4a,及次一個出現的波谷k代表測試驗4b。在 波谷i之前的波峰h,及在波谷i、k之間的波峰j,代表試 驗片4的基礎部。 圖1 5為一流程圖,係說明由微電腦執行的第二個試驗片 測量方式。 當開關41從ON改到OFF時(測量開始的時間點),開始 計算時間(SI、S2步驟)。當試驗片沿移動方向之最前 端,而夾持試驗片的檯子3自動的行進時,予以偵測,光 線接收部2 2之輸出電壓增加。在輸出電壓超過起點值(3 v )(S3步驟)之時,登記一時間計算值T1 ( S4步驟)。此 時間計算值T1代表一距離L1,其在光線接收部22之偵測位 置’此當開關4 1從ON改到OFF並即刻地在夾持試驗片的檯 子3開始自動的行進之後,與試驗片沿移動的方向之最前 端之間。
之後’計時開始(S5、S6步驟),及判斷波谷是否已被 偵測(S 7步驟)及被偵測的波谷是否對應干擾(S 8步驟 )。此波谷判斷可以微分方式做成,如圖丨丨A與圖丨丨b中相 關的討論。亦可做出干擾的判斷,如先前的討論,藉波谷 與隨後出現的波峰部之間的差值,與起點值相比較。 士當偵測波谷i沒有對應干擾時,在此波谷偵測的時間之 時間計算值ΐ,設定為T2 (S9步驟)及判斷T2是否小於
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κι · T1 (S10 步驟) Τ2 <K1 · ΤΙ 係數Κ 1設定的值等於或稍大於從試驗片π 最前端到控制線之距離L2,與上述的距離=移動的方向之 因此,Κ1係一常數,其與夾持試驗片的檯之間的比率一。 進速度沒有關係。 3之自動的行 當 Τ2 <Κ1 · T1 時 )。當T2 -ΚΙ · T1 位置無法被彳貞測。 (S 1 3步驟)。 ,微電腦視此波谷 時,此意指控制線 因此判斷試驗片失 1為控制線(S 1 1步驟 在控制線應該出現的 效或者檢查錯誤 此外,當在時限内沒有偵測出波谷(S12步驟)或者偵 測所有的波谷對應干擾,可判斷試驗片失效或者檢查錯誤 (S 1 3步驟)。此時限可能與上述的時間κ i · τ j相同。 圖1 6為一流程圖,係說明由微電腦執行之試驗片測量方 法。 計時開始(S1 5、1 6步驟),及判斷波谷是否已經被债 測出(S 1 7步驟),及判斷被偵測之波谷是否對應干擾 (S 1 8步驟)。 當偵測出一波谷沒有對應干擾時,在此波谷偵測之時間 的計時值t則被設定為T3 (S19步驟)及判斷T3是否小於 K2.T2(S20 步驟)。 T3 <Κ2 · Τ2 係數Κ 2設定的值等於或稍微大於從試驗片4的控制線到 其中的試驗線之距離L3,與上述的距離L2之間的比率。因
90102163.ptd 第21頁 4969^9 $、發明說明(17) 此,K2亦是一常數,其與夾持試驗片的檯子3之自動的行 ^^速度沒有關係。 以下方程式可用以代替上一個。 T3 <K3(T1 +T2) 係數Κ3設定的值等於或略大於從試驗片4的控制線到其 中的試驗線之距離L3,與上述的距離(L丨+ L2 )之間的比 率。因此,K3亦是一常數,其與夾持試驗片的檯子3之自 動的行進速度沒有關係。 當達到S20步驟的方程式之要求時,被偵測出的波谷應 視為试驗線(S 2 1步驟)及實施一定量測量($ 2 2步驊)〇 更明碟地’得計算出控制線的反射強度C,試驗線的反射 強度T,及試驗片4的基礎之反射強度R,及求得以下測定 值DET :
DET 微電腦供應此測定值D E 了。 起ΐ外秋:則匕::在定性判斷之起點值T1、T2應儲存 ^ ^ 'T2"tb 微電腦在顯示器6可顯- / 士疋4^性°
之數字值,及判斷社果貝:二上述/夕求得的測定值DET 當沒有達到S2〇步;^Λ 或是陽性° 在試驗線應該出現的^方^式之要求時,此意指試驗線 是陰性的(S24步驟) 有被横測出。因此可判斷試樣 此外田在日^'限内偵測無波谷(S23步驟)或是當偵測
第22頁 496949 五 _ 發明說明(18) 所有的波谷皆對應干擾,可判斷試樣是陰性(S24步鱗 )。此時限可能與時間K2 · T2或K3(T1 +T2)相同/ A 在圖15與16之程序進行中,微電腦執行計時以獲得試驗 片之移動位置。如代替此計時的方式,可配置一感測器^ 在夾持試驗片的檯子3或試驗片夾持器2劃上線性刻度, 得測感器讀出此刻度。 ^ i 由定量測量求得的數字值能轉變為在此工業領域内共 使用的單位。於此關係中,藉使用本發明之試驗片測^ ^ 置與使用其它共用的測量裝置,在同樣的試驗片上分$ 實施測量,以構成一校準曲線。圖丨7為一曲線圖,係說 測量結果之實施例。橫座標軸代表測量值,其用已知的、、貝I 量裝置(濃度曲線圖AE-6 9 2 0,由ATTO有限公司製作)\測 是以CCD照相機求得的影像資料為基礎而實施試驗片的测 量,實施測量而求得的,而縱座標軸代表用本發明的諱、 片測量裝置,實施測量而求得的測量值。當由本發明的= ,片測量裝置求得的測量ϋ,與由其它測量装置求得的 置值相比較時,可建立一相關性的係數,約與〇 · 9 8 1同 高。 ,一· 圖1 7中曲線圖所示之直線為一校準曲線,係準備為最 平=法或其它。當此校準曲線求得後,以本發明的試 測S裝置求得的測量值,將自動地呈現並轉換為其它 位。 前述已經討論本發明的具體例。不過’本發明不應限 為廷些具體例’而在本發明範圍Θ,可做各種的修改。例
說明(19) 五' 發明說 如 i甚^在具有多數的控制線與/或多數的試驗線之試驗 ^ ’藉應用在圖1 5與1 6中之各線上阿拉伯數念 'β^方钇曰» « 卞nt數 、她疋1測1或是定性判斷。 礎卜’如配置試驗片@其上沒有控制線出現,試驗片基 楚的w響,藉在試驗線的反射強度τ與試驗片基 原之間所求得R—τ差值或!^/^比率,將予以消除。於 此情況中,依據以下方程式求得!)]^ : ’、 、 DET — 丁或是 DET / τ 在上述的具體例中,基礎的反射強度R定義為(丨)波谷 b與c之間波峰部的頂值,或是(2 )各自的波峰部之頂值 的中間值或平均值。如不用此程序,(r 1 一 τ )可用以代 替(R~T),及(R2—C)可用以代替(R—C),其中R1 疋I;鄰者试驗線4b之基礎的反射強度,及R2是緊鄰著控制 線4a之基礎的反射強度。於此情況中,縱使試驗片呈現的 反射強度分佈不均勻,亦能做準確的判斷。 上述各試驗片測量方法中,可檢驗試驗片的反射強度, 亦能檢驗穿透強度。此外,當試驗片發出螢光時,亦能檢 驗螢光強度。 【元件編 ί虎之說 明 ] 1 言式 驗 片 測 量 裝 置之主體 la 上 蓋 2 試 驗 片 失 持 器 3 夾 持 試 驗 片 之 檯子
90102163.ptd 第24頁 496949
五、發明說明(20) 3 a 凹部 3b 鎖元件 3c 凹部 4 試驗片 4a 控制線 4b 試驗線 5 電源開關 6 顯示器 11 隔板 11a 視窗 13 銷 14 驅動齒輪 14a 壓縮式的盤繞彈簧 15 惰齒輪 16 齒條 21 光線投射部 21a 鏡片 22 光線接收部 23 電路板 31 凸出物 31a 凹部 32 槽 33 槽 34 槽 90102163.ptd 第25頁 496949 五、發明說明(21) 35 36 37 38 41 41a 99 階梯部 邊 邊 邊 開關 可旋轉的臂 鎖元件3 b與凹部3 c之間隙 1ΪΒ 90102163.ptd 第26頁 496949 圖式簡單說明 圖1係本發明之試驗片測量裝置的透視略圖; 圖2係試驗片測量裝置之平面圖,其中移開一上蓋1 a與 一緊固的電路板; 圖3係試驗片測量裝置之平面圖,其中移開一隔板1 1 ; 圖4係一實施例之透視圖,其中一壓縮式盤繞的彈簧1 4a 作為傾斜裝置,用以傾斜夾持試驗片之檯子3 ; 圖5為一透視圖,係說明一鎖元件3 b,其裝在夾持試驗 片之檯子3 ; 圖6A到圖6D係說明一鎖元件3b與一銷13之關係圖,其中 圖6A說明夾持試驗片之檯子3正被插入的狀態,圖6B說明 接合的位置,及圖6C與6D則各自說明鎖緊狀態被鬆開之狀 態; 圖7為一平面圖,係說明夾持試驗片之檯子3被推入到最 内部,使得檯子3被鎖緊之狀態; 圖8為一剖視圖,係沿圖7中X-X線說明鎖緊的狀態; 圖9係說明出現在試驗片4之符號的位置之圖; 圖1 0為一曲線圖,係說明當夾持試驗片之檯子3自動的 行進時,一試驗片連續測量的結果(在陽性反應的情形 ); 圖11 A係典型的反射強度資料之曲線圖,而圖11 B係為圖 1 1 A中資料的微分所得到之曲線圖; 圖1 2為一曲線圖,係說明當夾持試驗片之檯子3自動地 行進時,一試驗片連續測量的結果(在陰性反應的情形
90102163.ptd 第27頁 496949 圖式簡單說明 圖1 3為一曲線圖,係說明當夾持一試驗片夾持器2之夾 持試驗片的檯子3自動地行進時,一試驗片連續測量的結 果; 圖1 4為一曲線圖,係說明當夾持一試驗片夾持器2之夾 持試驗片的檯子3自動地行進時,一試驗片連續測量的結 果; 圖1 5為一流程圖,係說明由微電腦執行的一試驗片測量 方法; 圖1 6為一流程圖(連續性),係說明由微電腦執行一試 驗片測量方法的情形;及 圖1 7為一曲線圖,係說明透過使用本發明之試驗片測量 裝置與普通使用的另一種測量裝置分別地實施測量所得到 之結果。
90102163.ptd 第28頁
Claims (1)
- 496949 六、申請專利範圍 1. 一種試驗片測量方法,其中當一試驗片正被移動可實 施測量,包括的步驟: 偵測一試驗片基礎的光學特性R ; 偵測一已經在該試驗片上出現之試驗線的光學特性T ; 及 實施一定量測量或是一定性判斷’在該試驗片上以該R 與該T之間的差值或比率為基礎。 2 ·如申請專利範圍第1項之試驗片測量方法,其中可估 計該試驗線在該試驗片已開始移動之後將出現的時間,或 該試驗線將出現的位置,及當該試驗線在該估計的時間點 或該估計的位置沒有出現時,判斷為陰性。 3. 如申請專利範圍第2項之試驗片測量方法,其中 試驗片由一試驗片夹持裔央持’ 該試驗片夾持器於試驗片移動開始的時間即被偵測,所 測量一段時間T1,係從該試驗片移動開始,到該試驗片沿 移動的方向之最前端被偵測的時間點,及以該段時間T1為 基準,估計該試驗線將出現之後的一段時間。 4. 如申請專利範圍第1項之試驗片測量方法,其中為識 別該試驗線,以假設是該試驗線之部份的光學特性’與該 試驗片基礎之光學特性,其兩者之間的差值與起點值相比 較,及當該差值大於該起點值時,該部份可識別為該試驗 線。 5 ·如申請專利範圍第1項之試驗片測量方法,其中有多 條的試驗線。90102163.ptd 第29頁 496949 六、申請專利範圍 6. 如申請專利範圍第1項之試驗片測量方法’其中該定 量測量的結果,於使用校準曲線中,在單位方面可以轉 換。 7. —種試驗片測量方法,其中當一試驗片移動可實施測 量,包括的步驟: 偵測一控制線的光學特性R,其已經在一試驗片上出 現; 偵測該試驗片基礎的光學特性R, 偵測一試驗線的光學特性T ’其已經在該試驗片上出 現;及 實施一定量測量或是一定性判斷,其在該試驗片上使用 一測定值與一參考值,該測定值以該R與該T之間的差值或 是比率提供,及該參考值以該C與該R之間的差值或是比率 提供。 8. 如申請專利範圍第7項之試驗片測量方法,其中可估 計該控制線在該試驗片已開始移動之後將出現的時間,或 該控制線將出現的位置,及當該控制線在該估計的時間點 或該估計的位置沒有出現時’判斷該試驗片是失效抑或檢 查錯誤的。 9. 如申請專利範圍第8項之試驗片測量方法,其中在該 控制線已經出現之後,估計該試驗線將出現的時間點,或 該試驗線將出現的位置’及當該試驗線在該估計的時間點 或該估計的位置沒有出現時,判斷為陰性。 1 0.如申請專利範圍第8項之試驗片測量方法,其中90102163.ptd 第30頁 496949 六、申請專利範圍 該試驗片由一試驗片爽持器夾持’ 該試驗片夾持器於試驗片移動開始的時間即被偵測,所 測量一段時間τ 1,係從試驗片該移動開始,到該試驗片沿 移動方向的最前端被偵測的時間點,及以該段時間T1為基 準,估計該控制線將出現之後的一段時間T2。 1 1.如申請專利範圍第1 0項之試驗片測量方法,其中在 該控制線已經出現之後,估計該試驗線將出現的時間點 T 3,及當該試驗線在該估計的時間點T 3沒有出現時,判斷 為陰性。 1 2.如申請專利範圍第7項之試驗片測量方法,其中為識 別該試驗線’假設該試驗線之部份的光學特性’與該試驗 片基礎之光學特性,其兩者之間的差值與起點值相比較, 及當該差值大於該起點值時,該部份可識別為該試驗線。 1 3.如申請專利範圍第7項之試驗片測量方法,其中為識 別該控制線,假設該控制線之部份的光學特性,與該試驗 片基礎之光學特性,其兩者之間的差值與起點值比較,及 當該差值大於該起點值時,該部份可識別為該控制線。 1 4.如申請專利範圍第7項之試驗片測量方法,其中有多 條的控制線或是多條的試驗線。 1 5.如申請專利範圍第7項之試驗片測量方法,其中該定 量測量的結果,於使用校準曲線時,在單位方面可以轉 換。 1 6. —種試驗片測量裝置,其中當一試驗片正被移動可 實施測量,包括:90102163.ptd 第31頁 496949 六、申請專利範圍 一配置為可往復運動之夾持試驗片的檯子; 閉鎖/開鎖裝置,當該檯子移動到最内部時,其能夠鎖 緊該檯子到該試驗片測量裝置的主體上,及能夠鬆開此鎖 緊狀態; 傾斜裝置,用來有彈性地沿著該檯子從該最内部彈出的 方向傾斜該檯子;及 阻力施予裝置,用來沿著該檯子從最内部彈出的方向, 對該檯子的動作施予阻力。 1 7.如申請專利範圍第1 6項之試驗片測量裝置,其中配 置該檯子,可自動地以一均勻的速度行進。 1 8.如申請專利範圍第1 6項之試驗片測量裝置,其中配 置該閉鎖/開鎖裝置於該檯子被推入時可鎖緊該檯子,及 當該檯子再次推動時,可鬆開此鎖緊狀態。 1 9.如申請專利範圍第1 6項之試驗片測量裝置,其中 該棱子具有一齒條,及 配置該阻力施予裝置,以對連接該齒條的齒輪供給一旋 轉的阻力。 2 0.如申請專利範圍第1 6項之試驗片測量裝置,其中該 檯子具有一齒條,及配置該傾斜裝置,以旋轉地傾斜連接 該齒條的齒輪。90102163.ptd 第32頁
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