TWI626436B

TWI626436B - 光學檢測系統

Info

Publication number: TWI626436B
Application number: TW106111668A
Authority: TW
Inventors: 林洺樞; 陳盈廷; 陳旺初; 張景裕
Original assignee: 台達電子工業股份有限公司
Priority date: 2016-09-21
Filing date: 2017-04-07
Publication date: 2018-06-11
Also published as: CN107860712A; TW201814274A; CN107860712B

Abstract

一種光學檢測系統，包括一發光模組、一檢測試片以及一接收模組。發光模組包括一光源及一第一遮光單元，光源提供一光束。第一遮光單元具有一第一孔隙，第一孔隙與光源對應設置。一檢測試片包括一卡匣及一試紙條。卡匣具有一第一視窗、一第二視窗及一檢體開口，檢體開口設置於卡匣的一表面，第一視窗與第二視窗對應設置並分別開設於卡匣的相對兩側。試紙條設置於卡匣內。接收模組包括一第二遮光單元及一光學感測器。第二遮光單元具有一第二孔隙，第二孔隙與第二視窗對應設置。光學感測器接收該光束並發出一量測信號。

Description

光學檢測系統

本發明係關於一種光學檢測系統，特別是關於一種用於檢測一檢測試片的光學檢測系統。

現行的側流層析法(Lateral Flow Assay, LFA)技術因使用方便且製程技術成熟，被廣泛應用於快篩檢測相關領域之中，而其檢測結果除了肉眼判斷以外，反射式光學檢測及互補性氧化金屬半導體(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，CMOS)影像擷取裝置亦是常見的判讀技術。然而，當使用肉眼判斷檢測結果時，除了存在人為判斷的差異外，對於呈色較不明顯的微弱反應，常常導致使用者誤判；而反射式光學檢測技術則是僅能偵測到檢測試紙條表面的顏色變化，對於潛藏在試紙條纖維內部的顏色變化無法反應到檢測信號中。此外，反射式光學檢測信號容易受到試紙條表面與光學讀取裝置的距離變化影響，量測變異較大且需要精確的機構配合，因此無法適用於便攜式檢測的需求。

另外，CMOS影像擷取裝置可透過相機拍攝快篩試紙條的影像，再藉由影像分析技術來圈選特定反應區塊影像的色彩或明暗並加以量化，雖然解決了肉眼判斷的問題，但其靈敏度的判讀極限並未有明顯的提升。因此，如何提升檢測儀器的方便性及靈敏度已成為檢測試片讀取裝置發展的主要議題。

有鑑於上述課題，本發明之目的為提供一種穿透式光學檢測系統，以降低判讀裝置設計的複雜度並提高檢測的可靠度，亦可感測潛藏於試紙條內部的反應信號，進而提升檢測的靈敏度。

為達上述目的，依據本發明之一種光學檢測系統包括一發光模組、一檢測試片以及一接收模組。發光模組包括一光源及一第一遮光單元，光源提供一光束。第一遮光單元具有一第一孔隙，第一孔隙與光源對應設置。檢測試片包括一卡匣及一試紙條。卡匣具有一第一視窗、一第二視窗及一檢體開口，檢體開口設置於卡匣的一表面，第一視窗與第二視窗對應設置並分別開設於卡匣的相對兩側，第一視窗與第一孔隙對應設置。試紙條設置於卡匣內。接收模組包括一第二遮光單元及一光學感測器。第二遮光單元具有一第二孔隙，且第二孔隙與第二視窗對應設置。光學感測器用以接收光束並發出一量測信號。其中，光束經由第一孔隙出射第一遮光單元後，光束依序穿透第一視窗、試紙條、第二視窗並經由第二孔隙入射於第二遮光單元內。

在一實施例中，試紙條包含至少一測試帶及一質控帶，且測試帶及質控帶分佈於第一視窗與第二視窗於試紙條上的垂直投影面的交集範圍內。

在一實施例中，第一孔隙的直徑小於或等於測試帶的寬度及質控帶的寬度。

在一實施例中，第二孔隙的直徑小於或等於第一孔隙的直徑。

在一實施例中，第一孔隙的直徑介於0.1~5.0mm。

在一實施例中，光源為一發光二極體，且試紙條更具有一呈色材料，發光二極體發射的光波長為呈色材料吸收的光波長。

在一實施例中，光源、第一孔隙、第二孔隙以及光學感測器共同構成一光學檢測路徑，光學檢測路徑實質垂直於檢測試片。

在一實施例中，更包括一試片移動裝置，用以固定並帶動檢測試片沿第一視窗的長軸方向作直線運動，使光束沿長軸方向照射到部分的卡匣及第一視窗。

在一實施例中，試片移動裝置為一自動驅動裝置或一手動驅動裝置。

在一實施例中，自動驅動裝置包括一滑軌、一螺桿、一齒輪或一皮帶等傳動裝置，並連接一馬達。

在一實施例中，手動驅動裝置係搭配一卡槽滑塊及一滑槽的設計，以一手指直接移動檢測試片作直線運動。

在一實施例中，更包括一信號分析模組，信號分析模組包括一信號分析單元以及一信號演算單元。信號分析單元接收量測信號，並依據量測信號輸出一參數，其中參數為一背景信號參數、一質控信號參數、一測試信號參數或一第一視窗時間參數。信號演算單元運用至少一參數作運算推算出待測檢體中的特定物質濃度。

在一實施例中，光學檢測系統係藉由一穿透式光學檢測路徑量測潛藏在試紙條之纖維內部的一檢測信號。

承上所述，本發明之光學檢測系統是藉由穿透式光學檢測路徑量測潛藏在試紙條纖維內部的檢測信號，提升檢測訊號的強度；利用光學檢測路徑的掃描式設計，沿檢測試片的第一視窗的長軸方向依序掃描第一視窗內的試紙條空白區塊、測試帶以及質控帶，以減少光學感測器的數量，降低讀取裝置設計的複雜度，並增加檢測試片上測試帶數量增減的彈性，同時降低對測試帶及質控帶的畫線精度要求。最後，利用第一孔隙及第二孔隙的配合，以增加量測信號的可靠度，提高量測信號的訊雜比及強度，進而達到提升檢測儀器的方便性及靈敏度之目的。

以下將參照相關圖式，說明依本發明一實施例的一種光學檢測系統，其中相同的元件將以相同的參照符號加以說明。

請同時參照圖1、圖2、圖3A以及圖3B，圖1為本發明一實施例的一種光學檢測系統的示意圖，圖2為本發明一實施例的光學檢測路徑的示意圖，為求畫面簡潔，故省略檢測試片的卡匣，圖3A為本發明一實施例的檢測試片立體示意圖，圖3B為圖3A所示檢測試片的爆炸示意圖。

本發明提供一種光學檢測系統OD包括一發光模組1、一檢測試片2以及一接收模組3。發光模組1包括一光源11及一第一遮光單元12，光源11提供一光束111，而第一遮光單元12具有一第一孔隙121，且第一孔隙121與光源11對應設置，使光束111經由第一孔隙121出射第一遮光單元12。

而檢測試片2包括一卡匣21及一試紙條22，其中卡匣21具有一第一視窗211、一第二視窗212及一檢體開口213，檢體開口213設置於卡匣21的一表面，第一視窗211與第二視窗212對應設置並分別開設於卡匣21的相對兩側，第一視窗211與第一孔隙121對應設置，且試紙條22設置於卡匣21內，使光束111出射第一遮光單元12後，光束111依序穿透第一視窗211及試紙條22，並經由第二視窗212出射檢測試片2。

其接收模組3包括一第二遮光單元31元及一光學感測器32。第二遮光單元31元具有一第二孔隙311，且第二孔隙311與第二視窗對應設置，使光束111出射檢測試片後，經由第二孔隙311入射於第二遮光單元31內，而光學感測器32用以接收光束111並發出一量測信號。光束111經由第一孔隙121出射第一遮光單元12後，光束111依序穿透第一視窗211、試紙條22、第二視窗212並經由第二孔隙311入射於第二遮光單元31內。

本發明提供的光學檢測系統是藉由穿透式光學檢測路徑量測潛藏在試紙條纖維內部的檢測信號，其中，光束經由第一孔隙出射第一遮光單元後，光束依序穿透第一視窗、試紙條、第二視窗並經由第二孔隙入射於第二遮光單元內。因此在本實施例中，光源11、第一孔隙121、第二孔隙311以及光學感測器32共同構成一光學檢測路徑OP，而光學檢測路徑OP實質垂直於檢測試片2。檢測試片2的檢測反應區域為鏤空式設計，因此檢測試片2具有第一視窗211與第二視窗212彼此對應設置，試紙條22包含至少一測試帶T及一質控帶C，且測試帶T及質控帶C分佈於第一視窗211與第二視窗212於試紙條22上的垂直投影面的交集範圍內，換句話說，試紙條22上測試帶T及質控帶C分佈的區域，使光束111從發光模組1出射後，即可入射於第一視窗211，穿透試紙條22上的測試帶T或質控帶C，最後經由第二視窗212出射檢測試片2，使測試帶T或質控帶C的檢測信號被接收模組3所接收。

在本實施例中，第一孔隙121的直徑介於0.1~5.0mm，且第一孔隙121的直徑小於或等於測試帶T的寬度及質控帶C的寬度時，可使光束111穿透於測試帶T或質控帶C時，光束111的寬度小於測試帶T的寬度及質控帶C的寬度，再加上第二孔隙311的直徑小於第一孔隙121的直徑，可使光學感測器32於接收光束111時，可過濾掉過多的接收雜訊，達到提升量測信號的可靠度。

藉由透光式光學檢測路徑的設計，光源與光學感測器的位置為固定，因此檢測信號不易受到試紙條與光學感測器的間距變動所影響，且第一孔隙的直徑小於或等於測試帶及質控帶的寬度，且第二孔隙的直徑小於或等於第一孔隙的直徑，可以減少光源強度不均的問題，於檢測時不需使用光學擴散片，且僅需使用單一光學感測器，可使檢測儀器的機構較為精簡，亦可簡化量測校正的作業。

在本實施例中，光學檢測系統OD更包括一試片移動裝置4，試片移動裝置4用以固定並帶動檢測試片2沿第一視窗211的長軸方向MA ₂₁₁作直線運動，使光束沿長軸方向MA ₂₁₁照射到部分的卡匣21及第一視窗211。更進一步說明，利用試片移動裝置4帶動檢測試片2與固定位置的光學檢測路徑OP產生直線相對運動，使光學檢測路徑OP沿第一視窗211的長軸方向MA ₂₁₁依序照射到部分的卡匣21、進入第一視窗211內試紙條22的空白區塊221、測試帶T及質控帶C、再照射到試紙條22的空白區塊221，最後光學檢測路徑OP離開第一視窗211照射至部分的卡匣21後，檢測試片2即停止運動。

在本實施例中，試片移動裝置4為一自動驅動裝置或一手動驅動裝置；自動驅動裝置是以滑軌、螺桿、齒輪或皮帶等傳動裝置，連接馬達所構成（圖式未示），使檢測試片2沿第一視窗211的長軸方向MA ₂₁₁作直線運動，而手動驅動裝置是搭配卡槽滑塊及滑槽的設計（圖式未示），以手指直接移動檢測試片2作直線運動。

藉由掃描式光學檢測路徑，使檢測試片與光學檢測路徑產生直線相對運動，使光學檢測路徑依序掃描試紙條上各測試帶及質控帶，可克服因製程變異與產品相容性所造成光學感測器與試紙條的位移問題，更可降低試紙條製作的精度要求，並增加測試帶的數量增減的彈性。

請同時參照圖4、圖5及圖6，圖4為本發明一實施例的輸出量測信號的電位波形示意圖，圖5為本發明另一實施例的輸出量測信號的電位波形示意圖，圖6為本發明一實施例的測試帶訊號雜訊比的示意圖。

在一實施例中，光源11為一發光二極體，且試紙條22更具有一呈色材料222，發光二極體發射的光波長為呈色材料222吸收的光波長，而呈色材料222塗佈於試紙條22上各測試帶T及質控帶C。因此，當光束111通過各測試帶T或質控帶C時，部分光波長將被呈色材料222吸收，使光束111的光強度減弱，光學感測器32接收到光束111的光強度變化後，反應於輸出的量測信號。

在一實施例中，光學檢測系統OD更包括一信號分析模組，信號分析模組包括一信號分析單元以及一信號演算單元。信號分析單元接收量測信號，並依據量測信號輸出一參數，其中參數為一背景信號參數、一質控信號參數、一測試信號參數或一第一視窗時間△A參數。一信號演算單元運用至少一參數作運算並輸出一訊號雜訊比。

以下將利用圖4、圖5及圖6說明本實施例信號分析模組的運作模式。

當光學檢測路徑OP沿第一視窗211的長軸方向MA ₂₁₁依序掃描檢測試片2時，即得到如圖4所示的輸出量測信號的電位波形，橫軸為光學檢測路徑OP檢測的採樣時間，縱軸為量測信號的電壓大小。由於檢測試片2的卡匣21為不透光材質，因此光學檢測路徑OP檢測到的量測信號接近零點的信號，隨著檢測試片2持續推進，當光學檢測路徑OP開始進入到第一視窗211時，光束111通過具透光性試紙條22的空白區塊221時，量測信號急遽增加，將其時間軸設為零點。其後，當測試帶T及質控帶C分別通過光學檢測路徑OP時，部分光波長被呈色材料222吸收，光束111的光強度減弱，得到兩個明顯的沉降量測信號即為測試帶信號及質控帶信號（圖式中T及C處）。而當光學檢測路徑OP開始離開到第一視窗211時，光束111照射於檢測試片2的卡匣21時，量測信號回歸於接近零點處，至此完成整個檢測程序。

前述的檢測程序，試片移動裝置4為自動驅動裝置或是手動驅動裝置皆可使用，檢測試片2推進速度的快慢，僅影響整體量測訊號的反應時間長短，而沉降的量測信號（圖式中T及C處）不受推進速度的影響，因此可作為量測與分析的依據。

以下將定義具特徵意義的參數與數值：

第一視窗時間△A係指光束111開始進入第一視窗211，至離開第一視窗211的歷經時間。

背景信號係指光束111通過具透光性試紙條22的空白區塊221，其量測信號的平均值Vav。

測試帶信號T係指光束111通過測試帶T，其量測信號的最低值。

質控帶信號C係指光束111通過質控帶C，其量測信號的最低值。

△T = ABS│背景信號 – 測試帶信號│

△C = ABS│背景信號 – 質控帶信號│

測試帶訊號雜訊比SNR(T) = △T / 背景信號

質控帶訊號雜訊比SNR(C) = △C / 背景信號

將具透光性試紙條22的空白區塊221的量測信號平均值Vav設為背景信號，並分別計算測試帶T與質控帶C的沉降量測信號（圖式中T及C處）為測試帶信號T及質控帶信號C，將測試帶信號T及質控帶信號C分別與背景信號的差值（△T、△C）與背景信號作正規化（Normalization），即可得到測試帶訊號雜訊比SNR(T)及質控帶訊號雜訊比SNR(C)。

如圖4，在此定義之下的量測信號數值為0〜1之間；當光束111尚未進入於第一視窗211時，光束111照射於檢測試片2的卡匣21時，光束111被卡匣21遮蔽，幾乎沒有光束111進入光學感測器32中，其量測信號數值趨近於0；當光束111進入於第一視窗211，照射於試紙條22上的空白區塊221時，會有大量的光束111通過試紙條22，進入光學感測器32中，其量測信號數值急遽增加，使反應曲線由零點處向上，隨後當質控帶C與測試帶T分別通過檢測路徑時，因部分光強為呈色材料222吸收，可分別看到兩個清楚的沉降信號，當檢測的光束111通過第一視窗211後，光束111再次被卡匣本體21遮蔽而回復到零點，分別計算質控帶C與測試帶T沉降信號與與背景信號的差值，即可分別得到測試帶訊號雜訊比SNR(T)及質控帶訊號雜訊比SNR(C)。而隨著檢測試片2待檢測標的濃度的增加，其訊號雜訊比SNR的數值將會隨著測試帶T與質控帶C內的呈色材料222聚集密度增加而逐漸升高。

進一步探討光學檢測路徑OP中的第一孔隙121與第二孔隙311不同的直徑寬度對量測信號的影響，即得到如圖5所示的輸出量測信號的電位波形示意圖。當發光模組1固定波長及頻率的光源11條件之下，且當第一孔隙121的直徑固定為1.0mm時，第二孔隙311分別以0.1mm、0.3mm的條件對hCG樣品蛋白濃度為100mIU的檢測試片2做檢測，並對所得到的輸出量測信號的電位波形的第一視窗時間△A進行正規化（Normalization）。

以下將介紹第一視窗時間進行正規化（Normalization）的運算方式，在此定義具特徵意義的參數與數值：

第一視窗時間△A=A1-A0

時間差值△a ₁= a ₁- a ₀

時間差值△a ₂= a ₂- a ₀

時間差值△a _n= a _n- a ₀

第一視窗時間進行正規化= △a ₁ _… _n/△A

如圖4所示，當光束111開始進入第一視窗211，光束111通過試紙條22的空白區塊221，先將光學感測器32開始接收到量測信號的時間點設為時間軸零點A0、a ₀，光束111離開第一視窗211的時間軸為A1，A1-A0為△A，即為第一視窗時間。在第一視窗時間內，每個量測信號的時間值分別為a ₁、a ₂…a _n，與時間軸零點的時間值a ₀相減後，可得到每個量測信號的時間差值分別為△a ₁、△a ₂…△a _n。最後將所有時間差值△a ₁、△a ₂…△a _n分別除上第一視窗時間△A，即完成完整的量測訊號的第一視窗時間△A進行正規化。

經由量測訊號的第一視窗時間△A進行正規化後，當第一孔隙121的直徑固定為1.0mm時，第二孔隙311的直徑為0.3mm的量測信號電位波形高於第二孔隙311的直徑為0.1mm的量測信號電位波形。因此，本實施例的光學檢測系統OD，於固定第一孔隙121直徑，固定出光條件下，增加第二孔隙311的直徑會導致背景信號與量測信號同時提升。而進一步分析兩者的測試帶訊號雜訊比SNR(T)，如圖5所示，卻發現第二孔隙311的直徑為0.1mm的測試帶訊號雜訊比SNR(T)曲線，高於第二孔隙121的直徑為0.3mm的測試帶訊號雜訊比SNR(T)曲線。

此外，如圖5所示，當試片移動裝置4係利用手動驅動裝置移動檢測試片2時，雖然會造成各別量測信號的第一視窗時間△A的量測長短差異，但其量測信號經過正規化後，各別測試帶信號T及質控帶信號C的沉降量測信號時間點一致，因此，第一視窗時間△A正規化有助於後續量測信號分析流程的簡化。

光學檢測系統OD係藉由第一孔隙121與第二孔隙311的搭配，限制照射在檢測試片2上的光束111寬度，限制測試帶T及質控帶C區域以外的背景信號進入光學感測器32，可避免試紙條22空白區塊221與測試帶T或質控帶C的量測信號同時進入光學感測器32中，導致背景信號及訊號雜訊比SNR上升的現象。

圖6為本實施例的測試帶訊號雜訊比的示意圖，以不同hCG樣品蛋白濃度0.25mIU、100mIU的檢測試片2與第一孔隙121、第二孔隙311相互配合，並分析各別的測試帶訊號雜訊比SNR(T)值變化。在本實施例中，當第一孔隙121的直徑固定為0.1mm時，第二孔隙311的直徑為1.0mm的測試帶訊號雜訊比SNR(T)值高於第二孔隙311的直徑為6.0mm的測試帶訊號雜訊比SNR(T)值。而當第二孔隙311的直徑固定為6.0mm時，第一孔隙121的直徑為0.1mm的測試帶訊號雜訊比SNR(T)值高於第一孔隙121的直徑為1.0mm的測試帶訊號雜訊比SNR(T)值。由此得知，無論在固定第一孔隙121或第二孔隙311的直徑固定條件下，縮小另一孔隙的直徑均可提升檢測訊號雜訊比SNR值，且藉由第一孔隙121與第二孔隙311的配合，可得到清楚且易於分析的量測信號電位波形及可得較佳的訊號雜訊比SNR值。特別是將第一孔隙121的直徑縮小為0.1mm及第二孔隙311的直徑都縮小為1.0mm的條件下，可得到最佳的訊號雜訊比SNR值。

如圖6所示，藉由上述訊號雜訊比SNR值的量化，可進一步推算出檢測試片2之待檢測標的濃度。

綜上所述，本發明之光學檢測系統是藉由穿透式光學檢測路徑量測潛藏在試紙條纖維內部的檢測信號，提升檢測訊號的強度；利用光學檢測路徑的掃描式設計，沿檢測試片的第一視窗的長軸方向依序掃描第一視窗內的試紙條空白區塊、測試帶以及質控帶，以減少光學感測器的數量，降低讀取裝置設計的複雜度，並增加檢測試片上測試帶數量增減的彈性，同時降低對測試帶及質控帶的畫線精度要求。

本發明之光學檢測系統利用穿透式光學檢測路徑中的第一孔隙及第二孔隙相互配合，以增加量測信號的可靠度，提高量測信號的訊雜比及強度，提升量測信號的訊號雜訊比SNR值，進而降低檢測試片的最低檢測極限（Limitation of Detection, LOD），進而達到提升檢測儀器的方便性及靈敏度之目的。

1：發光模組 11：光源 111：光束 12：第一遮光單元 121：第一孔隙 2：檢測試片 21：卡匣 211：第一視窗 212：第二視窗 213: 檢體開口 22：試紙條 221：空白區塊 222：呈色材料 3：接收模組 31：第二遮光單元 311：第二孔隙 32：光學感測器 4：試片移動裝置 C：質控帶、質控帶信號 T：測試帶、測試帶信號 MA ₂₁₁：長軸方向 OD：光學檢測系統 OP：光學檢測路徑 SNR、SNR(21)、SNR(221)、SNR(T)、SNR(C) ：訊號雜訊比 Vav：平均值 A0、A1、 a ₀、 a ₁、a ₂、a _n：時間值 △A：第一視窗時間 △a ₁、△a ₂、△a _n：時間差值

圖1為本發明一實施例的一種光學檢測系統的示意圖。圖2為本發明一實施例的光學檢測路徑的示意圖。圖3A為本發明一實施例的檢測試片立體示意圖。圖3B為圖3A所示檢測試片的爆炸示意圖。圖4為本發明一實施例的輸出量測信號的電位波形示意圖。圖5為本發明另一實施例的輸出量測信號的電位波形示意圖。圖6為本發明一實施例的測試帶訊號雜訊比的示意圖。

Claims

一種光學檢測系統，包括：一發光模組，包括：一光源，提供一光束；及一第一遮光單元，具有一第一孔隙，該第一孔隙與該光源對應設置；一檢測試片，包括：一卡匣，具有一第一視窗、一第二視窗及一檢體開口，該檢體開口設置於該卡匣的一表面，該第一視窗與該第二視窗對應設置並分別開設於該卡匣的相對兩側，該第一視窗與該第一孔隙對應設置；及一試紙條，設置於該卡匣內；以及一接收模組，包括：一第二遮光單元，具有一第二孔隙，且該第二孔隙與該第二視窗對應設置；及一光學感測器，用以接收該光束並發出一量測信號，其中，該光束經由該第一孔隙出射該第一遮光單元後，該光束依序穿透該第一視窗、該試紙條、該第二視窗並經由該第二孔隙入射於該第二遮光單元內。
如申請專利範圍第1項所述的光學檢測系統，其中該試紙條包含至少一測試帶及一質控帶，且該測試帶及該質控帶分佈於該第一視窗與該第二視窗於該試紙條上的垂直投影面的交集範圍內。
如申請專利範圍第2項所述的光學檢測系統，其中該第一孔隙的直徑小於或等於該測試帶的寬度及該質控帶的寬度。
如申請專利範圍第1項所述的光學檢測系統，其中該第二孔隙的直徑小於或等於該第一孔隙的直徑。
如申請專利範圍第1項所述的光學檢測系統，其中該第一孔隙的直徑介於0.1~5.0mm。
如申請專利範圍第1項所述的光學檢測系統，其中該光源為一發光二極體，且該試紙條更具有一呈色材料，該發光二極體發射的光波長為該呈色材料吸收的光波長。
如申請專利範圍第1項所述的光學檢測系統，其中該光源、該第一孔隙、該第二孔隙以及該光學感測器共同構成一光學檢測路徑，該光學檢測路徑實質垂直於該檢測試片。
如申請專利範圍第1項所述的光學檢測系統，更包括：一試片移動裝置，用以固定並帶動該檢測試片沿該第一視窗的長軸方向作直線運動，使該光束沿該長軸方向照射到部分的該卡匣及該第一視窗。
如申請專利範圍第8項所述的光學檢測系統，其中該試片移動裝置為一自動驅動裝置或一手動驅動裝置。
如申請專利範圍第9項所述的光學檢測系統，其中該自動驅動裝置包括一滑軌、一螺桿、一齒輪或一皮帶等傳動裝置，並連接一馬達。
如申請專利範圍第9項所述的光學檢測系統，其中該手動驅動裝置係搭配一卡槽滑塊及一滑槽的設計，以一手指直接移動該檢測試片作直線運動。
如申請專利範圍第1項所述的光學檢測系統，更包括一信號分析模組，包括：一信號分析單元，接收該量測信號，並由該量測信號擷取參數，其中該參數為一背景信號參數、一質控信號參數、一測試信號參數或一第一視窗時間參數；以及一信號演算單元，運用至少一該參數作運算推算出待測檢體中的特定物質濃度。
如申請專利範圍第1項所述的光學檢測系統，其係藉由一穿透式光學檢測路徑量測潛藏在該試紙條之纖維內部的一檢測信號。