JP4696959B2 - 光学検出装置 - Google Patents
光学検出装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4696959B2 JP4696959B2 JP2006045737A JP2006045737A JP4696959B2 JP 4696959 B2 JP4696959 B2 JP 4696959B2 JP 2006045737 A JP2006045737 A JP 2006045737A JP 2006045737 A JP2006045737 A JP 2006045737A JP 4696959 B2 JP4696959 B2 JP 4696959B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- light
- sample
- signal component
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
前記励起光により、前記試料表面から発光する複数の光を検出部で検出する蛍光検出手段と、
前記試料と前記蛍光検出手段との間に設けられ、前記試料からの光を通過させるレンズとを備え、前記シグナル成分における蛍光強度を測定する光学検出装置であって、
前記レンズは、前記試料のシグナル成分と前記検出部との光軸を合わせるかまぼこ形又は球面形を呈する複数の凸レンズと、前記凸レンズの間に形成した平面部とを前記蛍光検出手段側の一面に有すると共に、前記試料側の他面が平面であり、
平面となった前記他面側の前記凸レンズの焦点位置に、前記シグナル成分からの光が前記凸レンズを通過するようにした絞りが設けられることを特徴とする。
11、13…凸レンズ
21…検出素子
3…近赤外線カットフィルタ
4…シャープカットフィルタ
5…スリット
6…偏光フィルタ
7…絞りスリット
81…LED 82…平凸レンズ 83…熱線カットフィルタ
Claims (2)
- 複数のシグナル成分とノイズ成分とが交互に配置された蛍光領域を表面にもつ試料の試料表面に励起光を照射する励起光照射手段と、
前記励起光により、前記試料表面から発光する複数の光を検出部で検出する蛍光検出手段と、
前記試料と前記蛍光検出手段との間に設けられ、前記試料からの光を通過させるレンズとを備え、前記シグナル成分における蛍光強度を測定する光学検出装置であって、
前記レンズは、前記試料のシグナル成分と前記検出部との光軸を合わせるかまぼこ形又は球面形を呈する複数の凸レンズと、前記凸レンズの間に形成した平面部とを前記蛍光検出手段側の一面に有すると共に、前記試料側の他面が平面であり、
平面となった前記他面側の前記凸レンズの焦点位置に、前記シグナル成分からの光が前記凸レンズを通過するようにした絞りが設けられることを特徴とする光学検出装置。 - 前記レンズは、更に、前記凸レンズの焦点位置に、前記励起光の照射による前記ノイズ成分からの光が絞られる絞りが設けられ、前記ノイズ成分が前記レンズを介して前記検出部に到達する請求項1に記載の光学検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006045737A JP4696959B2 (ja) | 2006-02-22 | 2006-02-22 | 光学検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006045737A JP4696959B2 (ja) | 2006-02-22 | 2006-02-22 | 光学検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007225400A JP2007225400A (ja) | 2007-09-06 |
JP4696959B2 true JP4696959B2 (ja) | 2011-06-08 |
Family
ID=38547359
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006045737A Expired - Fee Related JP4696959B2 (ja) | 2006-02-22 | 2006-02-22 | 光学検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4696959B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5011244B2 (ja) * | 2008-09-19 | 2012-08-29 | 富士フイルム株式会社 | 被験物質の検出方法 |
CN104280088B (zh) * | 2013-07-11 | 2017-07-07 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种标定容器中有效的均匀发光气体体积的方法 |
CN103454259A (zh) * | 2013-09-05 | 2013-12-18 | 凌中鑫 | 一种基于上转发光技术的生物传感器 |
CN111257613B (zh) * | 2020-03-24 | 2022-01-21 | 陕西师范大学 | 基于手性电磁场的荧光传感器及系统 |
JP2022118476A (ja) * | 2021-02-02 | 2022-08-15 | 浜松ホトニクス株式会社 | 照射光学系、照射装置、及び、光学測定装置 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002153414A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-05-28 | Asahi Optical Co Ltd | 電子内視鏡及び電子内視鏡システム |
JP2002168787A (ja) * | 2000-12-04 | 2002-06-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像読み取り方法および装置 |
JP2002543378A (ja) * | 1999-04-27 | 2002-12-17 | カール ツァイス イェナ ゲーエムベーハー | 物体アレイを光学的に評価する装置 |
JP2003042954A (ja) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | 生化学解析用データの生成方法および装置 |
JP2005526254A (ja) * | 2002-05-17 | 2005-09-02 | アプレラ コーポレイション | 励起光源を備える光学機器 |
WO2005088280A1 (ja) * | 2004-03-17 | 2005-09-22 | Olympus Corporation | 光測定装置及び光測定方法 |
JP2005274355A (ja) * | 2004-03-25 | 2005-10-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | 蛍光画像取得装置 |
JP2005274579A (ja) * | 1998-05-16 | 2005-10-06 | Applera Corp | Dnaのポリメラーゼ連鎖反応をモニタする装置 |
-
2006
- 2006-02-22 JP JP2006045737A patent/JP4696959B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005274579A (ja) * | 1998-05-16 | 2005-10-06 | Applera Corp | Dnaのポリメラーゼ連鎖反応をモニタする装置 |
JP2002543378A (ja) * | 1999-04-27 | 2002-12-17 | カール ツァイス イェナ ゲーエムベーハー | 物体アレイを光学的に評価する装置 |
JP2002153414A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-05-28 | Asahi Optical Co Ltd | 電子内視鏡及び電子内視鏡システム |
JP2002168787A (ja) * | 2000-12-04 | 2002-06-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像読み取り方法および装置 |
JP2003042954A (ja) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | 生化学解析用データの生成方法および装置 |
JP2005526254A (ja) * | 2002-05-17 | 2005-09-02 | アプレラ コーポレイション | 励起光源を備える光学機器 |
WO2005088280A1 (ja) * | 2004-03-17 | 2005-09-22 | Olympus Corporation | 光測定装置及び光測定方法 |
JP2005274355A (ja) * | 2004-03-25 | 2005-10-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | 蛍光画像取得装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007225400A (ja) | 2007-09-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6818702B2 (ja) | 光学検査装置及び光学検査方法 | |
JP2019194613A (ja) | プリズム結合システム及び湾曲部品を特徴付ける方法 | |
US6819422B2 (en) | Measuring method for immunochromatographic test strip | |
JP2018528390A (ja) | 放射線搬送体および光学センサ中での放射線搬送体の使用 | |
JP4696959B2 (ja) | 光学検出装置 | |
US10495576B2 (en) | Surface-plasmon enhanced fluorescence measurement method, surface-plasmon enhanced fluorescence measurement device, and analytical chip | |
JP2009216532A (ja) | 蛍光検出方法および蛍光検出装置 | |
US6879399B2 (en) | Measuring method for immunochromatographic test strip | |
US9958319B2 (en) | Method and device for determining a critical angle of an excitation light beam | |
EP3159677B1 (en) | Detection device | |
JP2015532422A (ja) | 分析物を検出するための方法 | |
KR102220353B1 (ko) | 이미지센서를 이용한 시간제어측정 형광 리더기 시스템 | |
US8541760B2 (en) | Method for calibrating a deflection unit in a TIRF microscope, TIRF microscope, and method for operating the same | |
KR101774886B1 (ko) | 자동초점 면역 크로마토그래피 고감도 검출 시스템 | |
FI96451C (fi) | Refraktometri | |
KR20150029290A (ko) | 진단 스트립 리더기 | |
JP2010091428A (ja) | 走査光学系 | |
JP2022519845A (ja) | 試料の分析方法、分析装置およびコンピュータプログラム | |
US6804007B2 (en) | Apparatus for multiplexing two surface plasma resonance channels onto a single linear scanned array | |
JP2013053919A (ja) | ヘイズ値測定装置及びヘイズ値測定方法 | |
JP7043577B2 (ja) | 光学検査装置、方法及びプログラム | |
WO2016152707A1 (ja) | 測定方法、測定装置および測定チップ | |
US20240102916A1 (en) | Emission optical system, emission device, and optical measurement device | |
JP2008267959A (ja) | 検査装置 | |
JP6114097B2 (ja) | 表面プラズモン増強蛍光測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081031 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101202 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110114 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110201 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110214 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |