CN1397013A - 试纸测量方法及测量装置 - Google Patents

Abstract

在一种试纸测量方法中，其中在试纸(4)被移动的同时进行显色测量，检测试纸背景的光学特性R和出现在试纸上的测试线(4b)的光学特性T，并且基于R和T之间的差值或比值来判定该试纸。即使该试纸背景的光学特性呈现出差异，并且即使样品间或试纸间存在着差异，这些差异也可被消除(absorbed)，从而确保准确的判定。

Description

试纸测量方法及测量装置

本申请是基于日本申请号2000-24938、2000-24939和2000-160646的，在此引用其内容作为参考。

背景技术

技术领域

本发明涉及试纸测量方法及测量装置，其中的测量是在试纸被移动的同时进行的。

相关技术说明

已经知道一种试纸测量方法，其中将一试纸浸入尿液、血液、唾液等内并测量结果显色来自动地判断样品是阳性或阴性。

A.上面所提类型试纸测量方法的例子，包括在试纸被移动的同时检测已出现在试纸上的测试线的光学特性T(例如反射强度)的方法。

然而，不同试纸的背景其光学特性相互间是不同的。这就包含了这样的可能性，即仅利用已出现在试纸上的测试线的光学特性T，就不可能获得准确的测量，从而导致错误的判断。

此外，现有的实例中试纸测量装置在试纸移动速度上相互是不同的，从而就不能准确地确认测试线。

鉴于前述的缺陷，本发明的一个目的是提供一种在考虑到不同试纸背景光学特性间的差异时能够获得准确定量测量或定量判定的试纸测量方法，其中在试纸被移动的同时测量试纸的显色。

本发明的再一个目的是提供一种即使试纸测量装置的试纸移动速度相互不同，也能够获得准确定量测量或定量判定的试纸测量方法。

B.上面提到的试纸测量装置的例子包括一装置，该装置被配置以在试纸被移动的同时进行测量。作为用来移动试纸的机构，使用齿轮齿条机构或类似的机构来将马达的旋转改变为线性运动。

然而，使用采用马达的机构会引起试纸测量装置尺寸、重量和能量消耗的增大。因此，就期望一种需要较小能量消耗的紧凑机构。

鉴于前述的缺陷，本发明的另一个目的是提供一种能在简单配置下移动试纸的试纸测量装置，其中在试纸被移动的同时测量试纸的显色。

发明概述

在本说明书中，“定量判定带的是进行阴性或阳性的判定，“定量测量”指的是得到一个数值形式的行列式(determinant)DET。

依照本发明，一种试纸测量方法包括以下步骤：检测试纸背景的光学特性R；检测已出现在试纸上的测试线的光学特性T；和基于所述R和所述T的差值或比值对该试纸进行定量测量或定量判定(权利要求1)。

在此，术语“光学特性”指的是反射强度、透射强度、荧光强度等。

依照该方法，即使不同试纸的背景在光学特性上呈现出差异，这种差异也是可以消除(absorbed)的，从而确保准确的定量测量或定量判定。

本发明可被设置成能估算在试纸开始移动后测试线将出现的时间点，或者测试线将出现的位置，并且当测试线在估算的时间点或估算位置上并不出现时作阴性的判定(权利要求2)。按照这种设置，就可以防止将实际上并不是测试线的部分被错误检测为测试线。

本发明可被设置成能够测量从试纸移动的开始到试纸沿移动方向的最前端被检测到的时间点之间的时间段T1，并且基于所述的时间段T1估算所述测试线出现后的时间段(权利要求3)。当该时间段T1被用作基准时，即使试纸支架在移动速度上相互不同，测试线出现后的时间段也能被精确地估算。

为了识别所述测试线，将被推测为测试线的部分的光学特性与试纸背景的光学特性之间的差值与一个阈值进行比较，当差值大于阈值时，所述部分可被确认为测试线(权利要求4)。这就防止了将干扰错误地判定为测试线。

依照本发明，一种试纸测量方法包括以下步骤：检测已经出现在试纸上的控制线的光学特性C；检测试纸背景的光学特性R；检测已经出现在试纸上的测试线的光学特性T；利用一行列式和一参考值对所述试纸进行定量测量或定量判定，该行列式提供R和T之间的差值或比值，该参考值提供C和R之间的差值或比值(权利要求7)。

该方法的前提是利用控制线将出现在其上的试纸。依照该方法，测量条件的差异可通过测量控制线来消除，试纸背景光学特性的差异可通过检测试纸背景光学特性R来消除。这就对试纸取得了更加准确的定量测量或定量判定。

本发明可被设置成能估算在试纸开始移动后该控制线将出现的时间点，或者该控制线将出现的位置，并且当该控制线在所估算的时间点或估算的位置并不出现时，就判定该试纸是损坏的或检查(Inspection)是错误的(权利要求8)。本发明也可被设置成能在控制线已经出现后，估算测试线将出现的时间点，或者测试线将出现的位置，并且当测试线在所估算的时间点或所估算的位置上并不出现时作阴性的判定(权利要求9)。在上面提及的每一种设置中，都可防止控制线或测试线被错误地检测。

本发明可被设置成该试纸被一试纸支架支撑着，该试纸支架在试纸移动开始的时候被进行检测，并且测量从试纸移动的开始到试纸沿移动方向的最前端被检测到的时间点之间的时间段T1，而且基于该时间段T1估算控制线出现后的时间段T2(权利要求10)。按照这种设置，即使试纸支架在移动速度上相互并不相同，控制线出现后的时间段也可被精确地估算。

本发明可被设置成在控制线已经出现后，估算测试线将出现的时间点T3，并且当测试线在所估算的时间点T3并不出现时作阴性的判定(权利要求11)。按照这种设置，即使试纸支架在移动速度上相互并不相同，测试线出现后的时间段也可被精确地估算。

本发明可被设置成为了识别测试线，将被推测为测试线的部分的光学特性与试纸背景的光学特性之间的差值与一个阈值进行比较，当该差值大于阈值时，上述部分被确认为测试线(权利要求12)；并且为了识别控制线，将被推测为控制线的部分的光学特性与试纸背景的光学特性之间的差值与一个阈值进行比较，当该差值大于阈值时，该部分被确认为控制线(权利要求13)。按照这种设置，就可防止将干扰错误地判定为测试线或控制线。

依照本发明具有上述提及的配置，试纸背景光学特性的差异可被消除，从而就对每个试纸取得了精确的定量测量或定量判定。

即使测量装置在试纸移动速度上是相互不同的，也可精确识别出控制线或测试线。

依照本发明，一种试纸测量装置包括：一被设置成可往复运动的试纸支承台；锁定/解锁装置，当支承台被向上移动至最内部时该锁定/解锁装置能够将支承台锁定在试纸测量装置的主体上，并且能够释放该锁定状态；偏压装置，用来沿支承台从最内部弹出的方向弹性偏压支承台；和阻力产生装置，用来沿支承台从最内部弹出的方向给支承台的运动以阻力(权利要求16)。

依照上述提及的设置，当支承台被解锁并且弹出支撑的试纸时，该支承台以一有限的速度在阻力产生装置的作用下弹出。相应地，即使不使用马达来像通常那样移动支承台，采用简单的配置，本发明也可实现类似于先有技术中的试纸移动。

该支承台被设置成以匀速自动移动(权利要求17)。

本发明的设置是将锁定/解锁装置被设置成当支承台被压入时锁定支承台，且当支承台再次被压入时释放这种锁定状态(权利要求18)。这种设置可以非常简单的操作对试纸开始显色测量。

本发明可被设置成该支承台有一齿条，而且阻力产生装置被设置成给连接在该齿条上的一齿轮以转动阻力(权利要求19)。这种设置易于给具有直线运动的支承台提供阻力。

本发明可被设置成该支承台有一齿条，偏压装置被设置成可转动地偏压连接在该齿条上的齿轮(权利要求20)。这种设置易于偏压具有直线运动的支承台。

附图的简要说明

图1是本发明的试纸测量装置的示意性透视图；

图2是装在其上的上盖1a和电路板被去除的试纸测量装置的平面图；

图3是去除了隔板11的试纸测量装置的平面图；

图4是压缩盘簧14a被用作偏压装置来偏压试纸支承台3的例子的透视图；

图5是说明安装在试纸支承台3上的锁定部件3b的透视图；

图6A至6D是说明锁定部件3b和销钉13之间关系的视图，其中图6A图解了试纸支承台3正被插入时的情形，图6B图解了啮合的位置，图6C和6D均图解了锁定状态已经被释放的情形；

图7是说明试纸支承台3正被推入最内部以锁定支承台3的情形的平面图；

图8是说明锁定状态的沿图7中线X-X所取的剖面图；

图9是说明出现在试纸4上的标记(mark)位置的视图；

图10是说明在试纸支承台3自动移动期间试纸连续测量结果(阳性反应情形中)的曲线图；

图11A是典型的反射强度数据的曲线图，图11B是通过对图11A中数据求微分而得到的曲线图；

图12是说明在试纸支承台3自动移动期间试纸连续测量结果(阴性反应情形中)的曲线图；

图13是说明在支撑试纸支架2的试纸支承台3自动移动期间试纸连续测量结果的曲线图；

图14是说明在支撑试纸支架2的试纸支承台3自动移动期间试纸连续测量结果的曲线图；

图15是说明由微机执行的试纸测量方法的流程图；

图16是说明由微机执行的试纸测量方法的流程图(延续)；

图17是说明分别使用本发明试纸测量装置和通常使用的另一种测量装置来进行测量而得到结果的曲线图。

优选实施例的描述

图1是本发明试纸测量装置示意性的透视图。该试纸测量装置包括一个试纸测量装置主体1和一个每次测量都被改变的试纸支架2。

该试纸测量装置主体1包括一个试纸支承台3，设置成可以往复移动；一个显示器6，用来显示测量结果像阳性、阴性等；和一个电源开关5。该试纸支承台3具有一个凹面部3a，其中放置一个试纸支架2。

该试纸支架2单一结构地支撑试纸4，并在测量完成后被扔掉。

图2是移去了装在其上的上盖1a和电路板的试纸测量装置的平面图。

该试纸测量装置主体1具有一个隔板11，用来限定一空间以引入试纸支承台3。该隔板11带有一个销钉13，该销钉13从隔板11向下伸出(至图2纸平面的背面)。

该隔板11带有窗11a，通过该窗口11a试纸4被进行光学测量。该试纸支承台3被插在隔板11下面。

图3是隔板11被移去的平面图(固定在隔板11上的销钉13实际上是看不见的，但在图3和7中被假想地画出)。矩形的试纸支承台3被这样设置以便可插入试纸测量装置主体1内，并在其一侧被配置一齿条16。该试纸测量装置主体1带有一个与齿条16相啮合的惰齿轮15，和一个与惰齿轮15相啮合的主动齿轮14。

一粘性阻尼器(未示出)被安装在惰齿轮15上。例如，该粘性阻尼器被制成叶轮的形式，与惰齿轮15结合旋转并且被设置在一粘性体像油脂中。

该主动齿轮14被一个扭转盘簧弹性偏压向一个旋转方向。该加偏压的方向对应于试纸支承台3从试纸测量装置主体1弹出的方向。

用于偏压该试纸支承台3的偏压装置并不限于结合有一扭转盘簧的主动齿轮14。可采用其它适合的已知装置，像图4中推动试纸支承台3一个末端的压缩盘簧14a。

该试纸支承台3带有一个锁定部件3b，当试纸支承台3被推进至最内部时，该锁定部件3b相对于试纸测量装置主体1锁住该试纸支承台3，并且该锁定部件3b可通过一预定的操作释放该锁定状态。该锁定部件3b与较早提到的销钉13一起形成锁定/解锁装置。

图5为说明安装在试纸支承台3上的锁定部件3b的透视图。该锁定部件3b是由一种易于滑动的树脂(例如尼龙)制成，并被这样装进一个形成在试纸支承台3上的凹部3c内，以能沿与试纸支承台3插入方向B呈直角的方向A可移动。如图5所示，该锁定部件3b包括用于引导销钉13的槽32、33、34，一台阶(step)部分35和一用来啮合销钉13的突出部31。

当试纸支承台3被插入时，锁定部件3b的槽32被向上移动到销钉3的位置。槽32被逐渐提升，然后垂直落下与槽33相连。槽33沿横方向落下以与更低的槽34相连。槽34被弯曲地提升就像包围着突出部31，然后垂直落下与槽32相连。

该突出部31位于被槽32、34包围的锁定部件3b的中央。该突出部31具有一凹面部分31a，销钉13与该凹面部分31a相啮合。用来引导销钉13的台阶部分35位于该凹面部分31a下面。

图6A至6D图解了锁定部件3b与销钉13的啮合操作。图6A图解了试纸支承台3正被插入的情形，图6B图解了啮合的位置，图6C和6D每一个都图解了锁定状态被释放时的情形。锁定部件3b和凹面部分3c之间的间隙一般用99来表示。

当试纸支承台3被插入时，销钉13被引入槽32内(图6A)。当试纸支承台3被进一步插入时，销钉13落入槽33内。槽32、33之间的分界线沿平面视图倾斜。相应地，当操作者的手离开试纸支承台3时，该锁定部件3b受到相对纸面向上方向的力，从而促使锁定部件3b向上移动。因此，销钉13穿过台阶部分35被安装在锁定部件3b的凹面部分31a上(图6B)。这就锁定了试纸支承台3。

接着，当试纸支承台3被推动一点点时，销钉13就从台阶部分35落入槽34中。当操作者的手离开试纸支承台3时，因为台3受到来自主动齿轮14沿图纸左向的力，所以该试纸支承台3就开始移动。此时，锁定部件3b受到相对纸面向上方向的力，并且因为台阶部分35和槽24之间的分界线是斜向限定的，所以该锁定部件3b就向上移动。因此，销钉13并不回到凹面部分31a，而是落入槽34内(图6C)。

当试纸支承台3被进一步移动时，销钉13沿槽34被提升，然后落入槽32内并接着离开锁定部件3b。

正如前面所讨论的，当试纸支承台3被推向最内部时，试纸支承台3可被相对试纸测量装置主体1锁定，且当试纸支承台3被再次推动时这种锁定状态可以得到释放。

图7是说明试纸支承台3被推入至最内部的锁定状态的平面图。通过销钉13和锁定部件3b突出部31的啮合，该试纸支承台3就被锁定。

图8是沿说明锁定状态的图7的X-X线所取的剖面图。同时也说明上盖1a和装在其上的电路板23。销钉13被置于锁定部件3b的台阶部分35上并且与凹面部分31a啮合。

作为锁定/解锁释放装置，也可使用除图6和7之外的已知装置。

在电路板23上设置有一带有LED的光投影部分21、一带有光电二极管的光接收部分22和一用来检测试纸支承台3位置的开关(switch)41。一透镜21a被设置在该光投影部分21的末端，以调整对试纸4表面的聚焦。该LED的发光波长被设定为由出现在试纸4上的标记所吸取的光的波长(例如，当出现在试纸4上的标记为红色时，该LED发绿光)。该开关41带有一个转动臂41a。通过感测该臂41a的位置，就可检测出试纸支承台3的插入/移出。

在上面提及的配置中，当试纸支承台3被从锁定状态释放时，试纸支承台3基本上以匀速弹出(下文称作“自动移动”)，而且开关41被驱动。在自动移动期间，试纸4的反射强度被用时间量来测量。

下面的描述将讨论一种试纸测量方法，其中放在试纸支承台3中的试纸4在试纸支承台3的自动移动期间被连续的测量。

<第一种试纸测量方法>

图9是说明已出现在试纸4上的标记位置的视图。图9中的箭头D表示试纸支承台3自动移动的方向。一般，控制线4a和测试线4b这两条有色线会出现在试纸4上。在本发明中，控制线4a用于获得一个判定测试线4b反射强度所基于的参考值。

在下面的描述中，测试线4b的反射强度、控制线4a的反射强度和试纸4背景的反射强度被分别用T、C、R来表示。

图10是说明在支撑试纸支架2的试纸支承台3自动移动期间试纸4连续测量结果的曲线图。纵坐标轴表示反射强度(图10中用电压表示，但其单位是可选择的)，横坐标轴表示在开关41从ON变为OFF后自动移动所消逝的时间(毫秒)。纵坐标轴的值越大，反射强度也就越强。

在这个曲线图中，出现了四个谷值a、b、c、d，一个中间部分e和一个山脊(mountain)f。该第一个出现的谷值a代表试纸支架2的试纸露出窗口的一个边缘36。下一个出现的谷值b代表控制线4a，下一个出现的谷值c表示测试线4b，再下一个谷值d代表试纸支架2的试纸露出窗口的一个边缘37。山脊f代表试纸支架2的试纸露出窗口的一个边缘38。谷值a和b之间、谷值b和c之间以及谷值c和d之间的部分表示试纸4的背景部分。

下面的描述将讨论由一安装在电路板23上的微机执行的一种试纸测量方法。

基于对图10中反射强度曲线图的微分运算得到的数据，就可判定谷值或山脊的位置。例如，当反射强度的曲线包括图11A所示的谷值时，由图11A中曲线的微分运算所得到的曲线示于图11B中。相应地，一个从正值到负值的零交叉点就被定义作一个谷值部分，同时一个从负值到正值的零交叉点就被定义作一个山脊。

在自动移动期间，所出现的谷值a和随后的山状部分之间的差值(参看图10中的V1)就可得到。当这个差值第一次超过一第一阈值(例如，32mV)时，谷值a就被视为试纸露出窗口的边缘36。该差值被与该第一阈值相比以消除由于干扰而出现的小的不规则。

随后出现的谷值b和随后的山状部分之间的差值(参看图10中的V2)也可得到。当该差值超过一第二阈值(例如64mV)时，该谷值b就被视为控制线4a。这个差值被与第二个阈值相比以消除由于干扰出现的小的不规则。

随后出现的谷值c和随后的山状部分之间的差值(参看图10的V3)也可得到。当此差值大于一第三阈值(例如，26mV)并且小于第四阈值(例如100mV)时，谷值c被视为测试线4b。该差值被与第三个阈值相比以消除由于干扰出现的小的不规则。该第四个阈值被用于检测边缘37、38。

前述的内容示出了一个阳性反应的判定。在阴性反应的情形下，谷值c并不像图12所示的那样出现。微机将随后出现的谷值d视作谷值c。当谷值d和山脊f之间的差值(参看图12中的V4)超过第四阈值时，就被认为谷值c并不存在，也即，测试线4b不能被检测出。从而，就判定样品是阴性的。

上面提到的判定意思是基于控制线4b来确认谷值b、基于测试线4b来确认谷值c和山状部分。

在此，谷值b处控制线4a的反射强度、谷值c处测试线4b的反射强度和试纸4背景的反射强度分别用C、T、R来表示。背景的反射强度R可被定义为(1)谷值b和c之间山状部分的峰值，或者(2)各个山状部分峰值的中央值或平均值。

微机获得一个依据下面等式的行列式DET：

DET＝(R-T)/(R-C)

根据这个等式，通过得到测试线4b反射强度T和背景反射强度R之间的差值，并且通过获得控制线4a反射强度C和背景反射强度R之间的差值就可以消除背景的影响。进一步，通过用消除了背景影响的控制线4a的反射强度(R-C)来除消除了背景影响的测试线4b的反射强度(R-T)，就可以消除测试条件(例如，试样间的差值、试纸间的差值等)的影响，其中该(R-C)用作一参考值。

为了得到行列式DET，也可以使用下面的等式：

DET＝(R/T)-(R/C)

根据这个等式，通过得到测试线4b反射强度T与背景反射强度R之间的比值，并且通过得到控制线4a反射强度C和背景反射强度R之间的比值，就可以消除背景的影响。进一步，通过从消除了背景影响的测试线4b的反射强度(R/T)减去消除了背景影响的控制线4a的反射强度(R/C)，就可消除测试条件的影响，其中该(R/C)用作一参考值。

微机存储阈值T1和T2以作定量判定(0＜T1＜T2＜1)。通过将所得到的行列式DET与阈值T1、T2进行比较，就可以判定样品是阴性、准阳性或阳性。更具体地讲，当0＜DET＜T1时，样品被判定为阴性，当T1＜DET＜T2时，样品被判定为准阳性，当T2＜DET＜1时，样品被判定为阳性。阈值T1、T2可通过在许多样品上进行测试并挑选一个值来确定，利用该值可以最准确地将患者的情况(qualification)还原出来。

微机将以上面提到方式得到的行列式DET的数值和像阴性、准阳性、阳性的判定结果显示在显示器6上。

<第二种试纸测量方法>

下面的描述将讨论对识别出现在试纸4上的控制线或测试线有所改进的第二种试纸测量方法。

依照第一种试纸测量方法，谷值位置是通过将谷值和山脊之间反射强度的差值与一个阈值相比较来确认。

依照该第二种试纸测量方法，不仅考虑谷值和山脊的反射强度，而且也考虑谷值出现时的时间点。这就进一步降低了对谷值位置检测的错误率，从而就能够得到要确认的谷值的准确位置。

依照该第二种试纸测量方法，试纸支架2的边缘36、37、38被制成外形光滑的，从而这些边缘36、37、38并不出现在测量的强度数据中。相应地，如果没有干扰，则在测试期间第一个出现的谷值对应于控制线4a，下一个格出现的谷值对应于测试线4b。

图13和14中的每个曲线都说明了在支撑试纸支架2的试纸支承台3的自动移动期间对试纸连续测量的结果。纵坐标轴表示反射强度(图13和14中用电压来表示，但其单位是可选择的)，横坐标轴表示行扫描消逝的时间(毫秒)，由于阻尼器粘滞阻力的不同或盘簧硬度的不同，图13和14试纸支承台3自动移动的速度相互也不相同。虽然自动移动速度是不同的，但是下面的操作是相同的。

在每个曲线中，出现了两个谷值i、k。该第一个出现的谷值i代表控制线4a，该下一个出现的谷值k代表测试线4b。谷值i之前的山脊h和谷值i、k之间的山脊j代表试纸4的背景部分。

图15是一个说明由微机执行的该第二种试纸测量方法的流程图。

在开关41由ON变为OFF的时刻(测量开始的时间点)，计时开始(步骤S1、S2)。当在试纸支撑台3自动移动期间试纸沿移动方向的最前端被检测到时，光接收部分22的输出电压就升高。当此输出电压超出一阈值(3V)时(步骤S3)，时间计数值T1被自动记录(步骤S4)。该时间计数值T1，代表在试纸支承台3的自动移动开始后开关41立即从ON变为OFF的时刻光接收部分22的检测位置和试纸沿移动方向的最前端之间的距离L1。

此后，计时开始(步骤S5、S6)，并且判断谷值是否已被检测到(步骤S7)和检测到的谷值是否相当于干扰(步骤S8)。对该谷值的判断可采用结合图11A和图11B讨论的微分方法来进行。正如较早所讨论的，可通过将谷值和随后出现的山状部分之间的差值与阈值相比来进行对干扰的判定。

当检测到并不相当于干扰的谷值i时，将此谷值检测到时刻的时间计数值t设定为T2(步骤S9)，并且判断T2是否小于k1·T1(步骤10)。

T2＜k1·T1

系数k1被设定为为一个值，其等于或稍微大于从试纸沿移动方向的最前端到控制线之间的距离L2与上面提到的距离L1的比值。因此，k1是一个常数，其与试纸支承台3自动移动的速度无关。

当T2＜k1·T1时，微机将该谷值i视作控制线(步骤S11)。当T2≥k1·T1时，这意味着控制线在控制线必定出现的位置上并不能被检测到。因此，就判定试纸是损坏的或检查是错误的(步骤S13)。

此外，当在时限内并没有检测到谷值(步骤S12)或者当所有检测到的谷值都相当于干扰时，就判定试纸是损坏的或检查是错误的(步骤S13)。该时限可以与上面提到的时间k1·T1相同。

图16是说明由微机执行的试纸测量方法的流程图(延续)。

计时开始(步骤S15、16)，并且判断谷值是否已被检测到(步骤S17)，而且判断检测到的谷值是否相当于干扰(步骤S18)。

当检测到并不相当于干扰的谷值时，该谷值检测到时候的时间计数值t被设定为T3(步骤S19)，并且判断T3是否小于k2·T2(步骤S20)。

T3＜k2·T2

系数k2被设定为一个值，其等于或稍微大于从试纸4的控制线到其测试线的距离L3与上面提到的距离L2的比值。因此，k2也是一个常数，其与试纸支承台3自动移动的速度无关。

下面的公式可用于替代上述的一个：

T3＜k3(T1+T2)

系数k3被设定为一个值，其等于或稍微大于从试纸4控制线到其测试线的距离L3与上面提到的距离(L1+L2)的比值。因此，k3也同样是一个常数，其与试纸支承台3自动移动的速度无关。

当满足步骤S20的公式时，检测到的谷值被视为测试线(步骤S21)并且进行定量测量(步骤S22)。更具体地讲，计算控制线的反射强度C、测试线的反射强度T和试纸4背景的反射强度R，并且得到下面的行列式DET：

DET＝(R-T)/(R-C)

微机提供(supply)这个行列式DET。

此外，如较早提到的，存储用于定量判定的阈值T1、T2。然后，通过将得到的行列式DET与阈值T1、T2相比较来判定样品是阴性、准阳性或阳性。

微机将以上面提到方式得到的行列式DET的数值和像阴性、、准阳性或阳性的判定结果显示在显示器6上。

当不满足步骤S20的公式时，这就意味着测试线在测试线必定出现的位置上并没有检测到。因此，就判定该样品是阴性的(步骤S24)。

此外，当在时限内并没有检测到谷值(步骤S23)或者当所有检测到的谷值都相当于干扰时，就可判定该样品是阴性的(步骤S24)。该时限可以与上面提到的时间k2·T2或k3(T1+T2)相同。

在图15和16的处理中，微机执行计时以获取试纸的移动位置。可以设置一传感器并在试纸支承台3或试纸支架2上增添线性刻度以使该传感器读出这些刻度来替代这种计时。

通过定量测量获得的数值可转换为工业领域中通常使用的单位的形式。就此而论，分别通过在相同的试纸上利用本发明的试纸测量装置和通常使用的其它的测量装置来进行测量，绘制一条校准曲线。图17是说明测量结果一个实例的曲线。横坐标轴表示使用已知测量装置(ATT CO.，Ltd制造的密度描记器AE-6920)进行测量得到的测量值，该已知测量装置是基于由一CCD摄相机获得图像数据来进行测量，纵坐标轴表示使用本发明试纸测量装置进行测量而得到的测量值。在将使用本发明试纸测量装置得到的测量值与使用其他测量装置得到的测量值相比时，就可确定一个高达大约0.981的相关系数。

图17曲线中示出的直线是一条采用最小二乘法之类得出的校准曲线。一旦得到该校准曲线，使用本发明试纸测量装置而得到的测量值就可自动以转换为其它单位的形式显示出来。

前面已经讨论了本发明的实施例。然而，本发明不应限于这些实施例，在本发明的范围内可以进行多种改进。例如，即使是带有多个控制线和/或多个测试线的试纸，也可通过将图15和16的算法运用于每条线来对该试纸进行定量测量或定量判定。

此外，对于被安置成其上没有控制线出现的试纸，通过获得测试线反射强度T和试纸背景反射强度R之间的差值R-T或比值R/T可消除试纸背景的影响。这样，根据下面的等式就得到了DET：

DET＝R-T或者

DET＝R/T

在上面提及的实施例中，背景的反射强度R被定义为(1)谷值b和c之间山状部分的峰值，或者(2)各个山状部分峰值的中央值或平均值。作为该过程的替代，(R1-T)可用于替代(R-T)，(R2-C)可用于替代(R-C)，其中R1是直接接近测试线4b处背景的反射强度，R2是直接接近控制线4a处背景的反射强度。这样，即使试纸呈现出不均匀的反射强度分布，也可进行精确的判定。

在上面提及的任何一种试纸测量方法中，试纸的反射强度都要被检验，但是也可以检验透射强度。此外，当试纸发射荧光时，也可检验荧光强度。

Claims (20)

1.一种试纸测量方法，其中的测量是在试纸被移动的同时进行的，包括以下步骤：

检测试纸背景的光学特性R；

检测已出现在所述试纸上的测试线的光学特性T；和

基于所述R和所述T的差值或比值对所述试纸进行定量测量或定量判定。

2.依照权利要求1的试纸测量方法，其中估算在所述试纸开始移动后所述测试线将出现的时间点，或者所述测试线将出现的位置，并且当所述测试线在所述估算的时间点或所述估算的位置并不出现时作阴性的判定。

3.依照权利要求2的试纸测量方法，其中：

该试纸被一试纸支架支撑着，

所述试纸支架在试纸移动开始的时候被进行检测，并且测量从试纸移动的所述开始到所述试纸沿移动方向的最前端被检测到的时间点之间的时间段T1，而且基于所述的时间段T1估算所述测试线出现后的时间段。

4.依照权利要求1的试纸测量方法，其中为了识别所述测试线，将被推测为所述测试线的部分的光学特性与所述试纸背景的光学特性之间的差值与一个阈值进行比较，当所述差值大于所述阈值时，所述部分被确认为所述测试线。

5.依照权利要求1的试纸测量方法，其中存在着多个测试线。

6.依照权利要求1的试纸测量方法，其中利用一校准曲线将所述定量测量的结果依据单位来进行转换。

7.一种试纸测量方法，其中的测量是在试纸被移动的同时进行的，包括以下步骤：

检测已出现在试纸上的控制线的光学特性C；

检测所述试纸背景的光学特性R；

检测已出现在所述试纸上的测试线的光学特性T；

利用一行列式和一参考值对所述试纸进行定量测量或定量判定，所述行列式提供所述R和所述T之间的差值或比值，所述参考值提供所述C和所述R之间的差值或比值。

8.依照权利要求7所述的试纸测量方法，其中估算在所述试纸开始移动后所述控制线将出现的时间点，或者所述控制线将出现的位置，并且当所述控制线在所述估算时间点或所述估算位置并不出现时，就判定所述试纸是损坏的或检查是错误的。

9.依照权利要求8所述的试纸测量方法，其中在所述控制线已出现后，估算所述测试线将出现的时间点，或者所述测试线将出现的位置，并且当所述测试线在所述估算时间点或在所述估算位置并不出现时作阴性的判定。

10.依照权利要求8所述的试纸测量方法，其中

该试纸被一试纸支架支撑着，

所述试纸支架在试纸移动开始的时候被进行检测，并且测量从试纸移动的所述开始到所述试纸沿移动方向的最前端被检测到的时间点之间的时间段T1，而且基于所述的时间段T1估算所述控制线出现后的时间段T2。

11.依照权利要求10所述的试纸测量方法，其中在所述控制线已出现后，估算所述测试线将出现的时间点T3，并且当所述测试线在所述估算的时间点T3并不出现时作阴性的判定。

12.依照权利要求7所述的试纸测量方法，其中为了识别所述测试线，将被推测为所述测试线的部分的光学特性与所述试纸背景的光学特性之间的差值与一个阈值进行比较，当所述差值大于所述阈值时，所述部分被确认为所述测试线。

13.依照权利要求7所述的试纸测量方法，其中为了识别所述控制线，将被推测为所述控制线的部分的光学特性与所述试纸背景的光学特性之间的差值与一个阈值进行比较，当所述差值大于所述阈值时，所述部分被确认为所述控制线。

14.依照权利要求7所述的试纸测量方法，其中存在着多个控制线或多个测试线。

15.依照权利要求7所述的试纸测量方法，其中利用一校准曲线将所述定量测量的结果依据单位来进行转换。

16.一种试纸测量装置，其中的测量是在试纸被移动的同时进行的，该装置包括：

一试纸支承台，被设置成可往复运动；

锁定/解锁装置，当所述支承台被向上移动至最内部时该锁定/解锁装置能够将所述支承台锁定在所述试纸测量装置的主体上，并且能够释放该锁定状态；

偏压装置，用来沿所述支承台从所述最内部弹出的方向弹性偏压所述支承台；和

阻力产生装置，用来沿所述支承台从所述最内部弹出的方向给所述支承台的运动以阻力。

17.依照权利要求16的试纸测量装置，其中所述支承台被设置成以匀速自动移动。

18.依照权利要求16的试纸测量装置，其中所述锁定/解锁装置被设置成当所述支承台被压入时锁定所述支承台，且当所述支承台再次被压入时释放这种锁定状态。

19.依照权利要求16的试纸测量装置，其中

所述支承台有一齿条，和

所述阻力产生装置被设置成给连接在所述齿条上的一齿轮以转动阻力。

20.依照权利要求16的试纸测量装置，其中所述支承台有一齿条，所述偏压装置被设置成可转动地偏压连接在所述齿条上的一齿轮。

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