KR20020086489A

KR20020086489A - 테스트 스트립 측정 방법 및 장치

Info

Publication number: KR20020086489A
Application number: KR1020027009905A
Authority: KR
Inventors: 모리마사아키; 니노미야마사오; 이노우에토모쿠니; 이케가미에이지; 타나카아키라
Original assignee: 오츠카 세이야쿠 가부시키가이샤
Priority date: 2000-02-02
Filing date: 2001-01-30
Publication date: 2002-11-18
Also published as: AR027933A1; WO2001057502A1; AU774242B2; EG22901A; HK1051895A1; CN1164927C; CA2397525A1; AU2885601A; DE60141507D1; TW496949B; MXPA02007463A; MY138075A; KR100522341B1; CA2397525C; ATE460658T1; EP1259799A1; EP1259799B1; CN1397013A; BR0107984A

Abstract

테스트 스트립(4)이 이동되는 동안 착색 측정이 수행되는 테스트 스트립 측정 방법에서, 테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성들(R)과 테스트 스트립에 나타나는 테스트 라인(4b)의 광학 특성들(T)을 검출하고, R과 T간의 차 또는 비에 기초하여 테스트 스트립이 판정된다. 테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성들에 편차들이 존재하고, 샘플들 간에 또는 테스트 스트립들 간에 편차들이 있음에도 불구하고, 그러한 편차들은 흡수되므로, 정확한 판정을 확신할 수 있다.

Description

테스트 스트립 측정 방법 및 장치{Test strip measuring method and device}

테스트 스트립을 소변(urine), 혈액(blood), 타액(saliva) 등에 담그고, 그 결과의 착색(coloration)을 측정하여 견본(specimen)이 양성(positive)인지 또는 음성(negative)인지를 자동적으로 판정하기 위해 측정되는 테스트 스트립 방법이 공지되어 있다.

A. 앞서 언급된 타입의 테스트 스트립 측정 방법의 예들은 테스트 스트립이 이동되는 동안, 테스트 스트립 상에 나타나는 테스트 라인의 광학 특성들(T)(예를 들어, 반사 강도)를 검출하는 방법을 포함한다.

그러나, 다른 테스트 스트립들의 그라운드들의 광학 특성들은 서로 변한다. 이것은 테스트 스트립 상에 나타나는 테스트 라인의 광학 특성들(T)의 단순한 사용으로는, 어떤 정확한 측정도 달성될 수 없고, 잘못된 판정을 초래하게 될 가능성을 포함한다.

또한, 테스트 스트립 측정 장치들의 테스트 스트립 이동 속도가 서로 달라 테스트 라인을 정확하게 식별하지 못하는 경우들이 있다.

앞서 말한 것을 고려하여, 본 발명의 목적은 테스트 스트립이 이동되는 동안 테스트 스트립의 착색을 측정하는 테스트 스트립 측정 방법에서, 고려되는 다른 테스트 스트립들의 그라운드들의 광학 특성들의 편차들을 갖는 정확한 정량(quantity) 측정 또는 정성(quality) 판정을 달성할 수 있는 테스트 스트립 측정 방법을 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 테스트 스트립 측정 장치들이 테스트 스트립 이동 속도에서 서로 다를지라도, 정확한 정량적 측정 또는 정성적 판정을 달성할 수 있는 테스트 스트립 측정 방법을 제공하는 것이다.

B. 앞서 언급된 테스트 측정 장치의 예들은, 테스트 스트립이 이동되는 동안 측정을 행하도록 구성된 장치를 포함한다. 테스트 스트립을 이동시키기 위한 메커니즘으로서, 모터의 회전을 직선 운동으로 변화시키기 위한 랙ㆍ피니언 메커니즘 등이 사용된다.

그러나, 모터를 사용하는 메커니즘의 사용은 테스트 스트립 측정 장치가 크기, 중량 및 전력 소비가 증가하게 된다. 따라서, 전력 소비가 보다 낮은 컴팩트 메커니즘이 오랫동안 요구되어 왔다.

앞서 말한 것을 고려하여, 본 발명의 또 다른 목적은 테스트 스트립이 이동되는 동안 테스트 스트립의 착색을 측정하기 위한 테스트 스트립 측정 장치에서, 간단한 구성으로 테스트 스트립을 이동시킬 수 있는 테스트 스트립 측정 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 출원은 일본에서 출원된 출원번호 제2000-24938호, 제2000-24939호, 제2000-160646호에 기초한 것이며, 그 내용은 본 명세서에 참조된다.

본 발명은 테스트 스트립이 이동되는 동안 측정이 수행되는 테스트 스트립 측정 방법 및 장치에 관한 것이다.

도 1은 본 발명의 테스트 스트립 측정 장치의 개략적인 투시도이다.

도 2는 상부 커버(1a)와 그 커버에 고정되는 회로 보드를 분해한 테스트 스트립 장치의 평면도이다.

도 3은 간막이판(11)을 분해한 테스트 스트립 측정 장치의 평면도이다.

도 4는 압축 코일 스프링(14a)이 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)을 바이어싱하는 바이어싱 수단으로서 사용되는 일례의 투시도이다.

도 5는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)에 장착되는 록킹 부재(3b)를 나타내는 투시도이다.

도 6A 내지 도 6D는 록킹 부재(3b)와 핀(13)간의 관계를 나타내는 도면이며, 도 6A는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)이 삽입된 상태를 나타내고, 도 6B는 맞물린 위치를 나타내며, 도 6C 및 도 6D 각각은 록킹 상태를 해제한 상태를 나타낸다.

도 7은 테이블(3)을 록킹하도록 가장 안쪽 부분으로 테스트 스트립 테이블(3)을 푸쉬인한 상태를 나타내는 평면도이다.

도 8은 록킹된 상태를 나타내는 도 7의 라인 X-X를 따라 절취된 단면도이다.

도 9는 테스트 스트립(4) 상에 나타나는 마크 부분을 나타내는 도면이다.

도 10은 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 동안에 테스트 스트립의 연속 측정 결과(양성 반응의 경우)를 나타내는 그래프이다.

도 11A는 통상적인 반사 강도 데이터의 그래프이고, 도 11B는 도 11A의 데이터를 미분함으로써 얻어지는 그래프이다.

도 12는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 동안에 테스트 스트립의 연속 측정 결과(음성 반응의 경우에)를 나타내는 그래프이다.

도 13은 테스트 스트립 홀더(2)를 홀딩하는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 동안에 테스트 스트립의 연속 측정 결과를 나타내는 그래프이다.

도 14는 테스트 스트립 홀더(2)를 홀딩하는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 동안에 테스트 스트립의 연속 측정 결과를 나타내는 그래프이다.

도 15는 마이크로컴퓨터에 의해 실행되는 테스트 스트립 측정 방법을 나타내는 플로우 챠트이다.

도 16은 마이크로컴퓨터에 의해 실행되는 테스트 스트립 측정 방법을 나타내는 플로우 챠트(계속)이다.

도 17은 본 발명의 테스트 스트립 측정 장치 및 통상 사용되는 또다른 측정 장치를 사용하여 각각 행해지는 측정을 통해 얻어지는 결과를 나타내는 그래프이다.

발명의 요약

본 명세서에서, "정성적 판정"은 음성 또는 양성 판정을 언급하고, "정량적 측정"은 결정치(DET)를 수치 형태로 획득하는 것을 언급한다.

본 발명에 따르면, 테스트 스트립 측정 방법은 테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성들(R)을 검출하는 단계와; 상기 테스트 스트립에 나타나는 테스트 라인의 광학 특성들(T)을 검출하는 단계; 및 상기 R과 상기 T 간의 차 또는 비에 기초하여 상기 테스트 스트립에 대하여 정량(quantitative) 측정 또는 정성(qualitative) 판정을 행하는 단계를 포함한다(청구항 1).

여기서, 용어 "광학 특성들"은 반사 강도(reflection intensity), 투과 강도(transmission intensity), 형광 강도(fluorescence intensity) 등을 언급한다.

본 발명에 따르면, 다른 테스트 스트립들의 그라운드들이 광학 특성들에 편차가 존재할지라도, 그러한 편차들은 흡수될 수 있고, 따라서 정확한 정량적 측정 또는 정성적 판정을 확신할 수 있다.

본 발명은, 상기 테스트 스트립이 이동하기 시작한 후 상기 테스트 라인이 나타날 시점 또는 상기 테스트 라인이 나타날 위치가 추정되고, 상기 테스트 라인이 상기 추정된 시점 또는 상기 추정된 위치에 나타나지 않는 경우에는 음성 판정(judgment negativity)을 행하도록 구성될 수 있다(청구항 2). 그러한 구성에서, 실제로 테스트 라인이 아닌 부분이 테스트 라인으로 잘못 검출되는 것을 방지할 수 있다.

본 발명은, 테스트 스트립 이동 개시로부터 이동 방향으로 테스트 스트립의 선두 단이 검출되는 시점까지의 시간 주기(T1)이 측정되고, 그 시간 주기(T1)에 기초하여, 테스트 라인이 나타난 후의 시간 주기가 측정되도록 구성될 수 있다(청구항 3). 시간 주기(T1)을 기준으로 사용되는 경우, 테스트 라인이 나타난 후의 시간 주기는 테스트 스트립의 이동 속도에 편차가 있어도 정확하게 추정될 수 있다.

테스트 라인을 식별하기 위하여, 테스트 라인으로 가정되는 부분의 광학 특성들과 테스트 스트립의 그라운드 광학 특성들간의 차는 임계치와 비교될 수 있고, 그 차가 임계치보다 큰 경우에는 앞서 언급된 부분은 테스트 라인으로 식별될 수 있다(청구항 4). 이것은 노이즈가 테스트 라인으로 잘못 판정하는 것을 방지한다.

본 발명에 따르면, 테스트 스트립 측정 방법은, 테스트 스트립에 나타나는 제어 라인의 광학 특성들(C)을 검출하는 단계와; 상기 테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성들(R)을 검출하는 단계와; 상기 테스트 라인에 나타나는 테스트 라인의 광학 특성들(T)을 검출하는 단계; 및 결정치와 기준치를 이용하여 상기 테스트 스트립에 대하여 정량적 측정 또는 정성적 판정을 행하는 단계를 포함한다. 그 결정치는 상기 R과 상기 T간의 차 또는 비에 기초하고, 기준치는 상기 C와 상기 R간의 차 또는 비에 기초한다(청구항 7).

이러한 방법은 제어 라인이 나타나는 테스트 스트립 사용을 가정한 것이다. 이 방법에 따르면, 측정 조건의 편차들은 제어 라인을 측정함으로써 흡수될 수 있고, 테스트 스트립들의 그라운드들의 광학 특성들의 편차들은 테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성들(R)을 검출함으로써 흡수될 수 있다. 이것은 테스트 스트립에 대한 보다 정확한 정량적 측정 또는 정성적 판정을 달성한다.

본 발명은, 상기 테스트 스트립이 이동하기 시작한 후에 상기 제어 라인이 나타날 시점 또는 상기 제어 라인이 나타날 위치가 추정되고, 상기 제어 라인이 상기 추정된 시점 또는 상기 추정된 위치에 나타나지 않은 경우에는 상기 테스트 스트립이 결함이 있거나 또는 검사가 잘못된 것으로 판정되도록 구성될 수 있다(청구항 8). 본 발명은, 상기 제어 라인이 나타난 후에 상기 테스트 라인이 나타나는 시점 또는 상기 테스트 라인이 나타나는 위치가 추정되고, 상기 테스트 라인이 상기 추정된 시점 또는 상기 추정된 위치에 나타나지 않는 경우에는 음성 판정이 행해지도록 구성될 수 있다(청구항 9). 앞서 언급된 각각의 장치들에서, 제어 라인 또는 테스트 라인이 잘못 검출되는 것을 방지할 수 있다.

본 발명은, 상기 테스트 스트립은 테스트 스트립 홀더에 의해 홀딩되고, 상기 테스트 스트립 홀더는 테스트 스트립 이동 개시 시에 검출되며, 상기 테스트 스트립 이동 개시로부터 그 이동 방향으로의 상기 테스트 스트립의 선두 단이 검출되는 시점까지의 시간 주기(T1)가 추정되고, 상기 시간 주기(T1)에 기초하여 상기 제어 라인이 나타난 후의 시간 주기(T2)가 추정되도록 구성될 수 있다(청구항 10). 이러한 구성에서, 제어 라인이 나타난 이후의 시간 주기는, 테스트 스트립 홀더들이 이동 속도가 다른 것들과 다를지라도 정확하게 추정될 수 있다.

본 발명은, 상기 제어 라인이 나타난 후에 상기 테스트 라인이 나타날시점(T3)이 추정되고, 상기 테스트 라인이 상기 추정된 시점(T3)에 나타나지 않는 경우 음성 판정이 행해지도록 구성될 수 있다(청구항 11). 이러한 구성에서, 테스트 라인이 나타난 이후의 시간 주기는 테스트 스트립 홀더들이 이동 속도가 서로 다를지라도 정확하게 추정될 수 있다.

본 발명은, 상기 테스트 라인을 식별하기 위해, 상기 테스트 라인으로 가정되는 부분의 광학 특성들과 상기 테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성들간의 차가 임계치와 비교되고, 상기 임계치보다 큰 경우에는 상기 부분이 상기 테스트 라인으로 식별되고(청구항 12), 상기 제어 라인을 식별하기 위해, 상기 제어 라인으로 가정되는 부분의 광학 특성들과 상기 테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성들간의 차가 임계치와 비교되고, 상기 차가 상기 임계치보다 큰 경우에는 상기 부분이 상기 제어 라인으로 식별되도록(청구항 제13) 구성될 수 있다. 이러한 구성에서, 노이즈가 테스트 라인 또는 제어 라인으로 잘못 판정하는 것을 방지할 수 있다.

앞서 언급된 구성을 갖는 본 발명에 따르면, 테스트 스트립들의 그라운드들의 광학 특성들의 편차들이 흡수될 수 있으므로, 각각의 테스트 스트립에 관한 정확한 정량적 측정 또는 정성적 판정을 달성할 수 있다.

측정 장치들이 테스트 스트립 이동 속도가 서로 다를지라도, 제어 라인 또는 테스트 라인은 안전하게 식별될 수 있다.

본 발명에 따르면, 테스트 스트립 측정 장치는 왕복으로 이동할 수 있도록 구성된 테스트 스트립 홀딩 테이블과; 상기 테이블이 가장 안쪽 부분까지 이동된경우 상기 테스트 스트립 측정 장치의 본체에 상기 테이블을 록킹할 수 있고, 이러한 록킹된 상태를 해제할 수 있는 록킹/언록킹(locking/unlocking) 수단과; 상기 테이블이 상기 가장 안쪽 부분으로부터 튀어나오는 방향으로 상기 테이블을 탄성적으로(resiliently) 바이어싱하기 위한 바이어싱 수단; 및 상기 테이블이 상기 가장 안쪽 부분으로부터 튀어나오는 방향으로 상기 테이블의 움직임(motion)에 대해 저항을 제공하기 위한 저항 제공 수단을 포함한다(청구항 16).

앞서 언급된 구성에 따르면, 테이블이 테스트 스트립이 홀딩된 채로 언록킹되어 튀어나올 때, 그 테이블은 저항 제공 수단의 동작 하에서 제한 속도로 튀어나온다. 따라서, 종래와 같이 테이블을 이동시키기 위한 모터를 사용하지 않고도, 본 발명은 단순한 구성으로 종래와 유사한 테스트 스트립 이동을 달성할 수 있다.

상기 테이블은 균일한 속도로 자동적으로 이동(automatically traveling)하도록 구성되어 있다(청구항 17).

본 발명은, 상기 록킹/언록킹 수단은 상기 테이블이 푸쉬-인(push-in)된 경우에 상기 테이블을 록킹하고, 상기 테이블이 다시 푸쉬인될 경우에 이러한 록킹 상태를 해제하도록 구성될 수 있다(청구항 18). 그러한 구성은 매우 간단한 동작으로 테스트 스트립의 착색 측정을 개시할 수 있다.

본 발명은, 상기 테이블은 랙(rack)을 갖고, 상기 저항 제공 수단은 상기 랙에 접속된 기어에 회전 저항을 제공하도록 구성될 수 있다(청구항 19). 그러한 구성은 직선 운동을 나타내는 테이블에 저항을 보다 용이하게 부여할 수 있다.

본 발명은, 테이블에 랙이 구비되고, 바이어싱 수단이 상기 랙에 접속되는기어를 회전 바이어싱하도록 구성될 수 있다(청구항 20). 이러한 구성에 의하면 직선 운동을 나타내는 테이블을 보다 용이하게 바이어싱할 수 있다.

양호한 실시예들의 기술

도 1은 본 발명의 테스트 스트립 측정 장치의 개략 투시도이다. 테스트 스트립 측정 장치는 테스트 스트립 측정 장치 본체(1)와 각 측정마다 치환되는 테스트 스트립 홀더(2)를 포함한다.

테스트 스트립 측정 장치 본체(1)는, 왕복 이동 가능하게 구성된 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)과, 양성, 음성 등과 같은 특정 결과를 디스플레이하는 디스플레이 장치(6)와 파워 스위치(5)를 포함한다. 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)에는 테스트 스트립 홀더(2)가 설치되는 오목부(3a)가 설치되어 있다.

테스트 스트립 홀더(2)는 테스트 스트립(4)을 일체로 홀딩하고 측정 완료 후에 버려지게 된다.

도 2는 상부 커버(1a) 및 이 커버에 고정된 회로 보드를 분해한 테스트 스트립 측정 장치의 평면도이다.

테스트 스트립 측정 장치 본체(1)에는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)을 도입하는 스페이스를 규정하는 간막이판(11)이 설치되어 있다. 이 간막이판(11)에는 이 간막이판(11)으로부터 하향(도 2의 지면의 이면측)으로 돌출하는 핀(13)이 설치되어 있다.

간막이판(11)에는 테스트 스트립(4)을 광학 측정하기 위한 창(11a)이 설치되어 있다. 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)은 이 간막이판(11) 아래에 삽입된다.

도 3은 간막이판(11)을 분해한 상태를 도시하는 평면도이다(간막이판(11)에 고정되는 핀(13)은 사실상 도시되지 않았지만, 도 3 및 도 7에서는 가상적으로 도시되고 있다). 장방형 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)은 테스트 스트립 측정 본체(1)에 삽입되도록 구성되고, 그 한쪽 측에는 랙(16)이 형성된다. 테스트 스트립 측정 장치 본체(1)에는 랙(16)과 맞물리는 아이들 기어(15)와 이 아이들 기어(15)와 맞물리는 구동 기어(14)가 설치된다.

점성 댐퍼(도시되지 않음)는 아이들 기어(15)에 장착된다. 예를 들면, 점성 댐퍼는 아이들 기어(15)와 공동으로 회전할 수 있는 날개바퀴 형태로 제조되어 그리스 등의 점성체에 배치된다.

구동 기어(14)는 비틀림 코일 스프링에 의해 한 회전 방향으로 탄성적으로 바이어싱된다. 바이어싱 방향은 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)이 테스트 스트립 측정 장치 본체(1)로부터 튀어나오는 방향에 상당한다.

테스트 스트립 홀딩 테이블(3)을 바이어싱하는 바이어싱 수단은 비틀림 코일 스트링을 구체화한 구동 기어(14)에 한정되지 않는다. 도 4에 도시되는 바와 같이 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 일단을 푸쉬하는 압축 코일 스프링(14a)과 같은 다른 공지된 수단이 채용될 수도 있다.

테스트 스트립 홀딩 테이블(3)에는, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)을 가장 안쪽 부분까지 푸쉬인했을 때 테스트 스트립 측정 장치 본체(1)에 대하여 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)을 록킹하고, 소정 동작에 의해 이 록킹 상태를 해제하는 록킹 부재(3b)가 설치된다. 앞서 언급된 핀(13)과 함께, 이 록킹 부재(3b)는 록킹/언록킹 수단을 형성한다.

도 5는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)에 장착된 록킹 부재(3b)를 도시하는 투시도이다. 록킹 부재(3b)는 쉽게 미끄러지는 수지(예를 들면, 나일론)로 제조되며, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 삽입 방향 B에 대하여 수직 방향 A로 이동 가능하도록 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)에 형성되는 오목부(3c)에 장착된다. 도 5에 도시되는 바와 같이, 록킹 부재(3b)는 핀(13)을 도입하는 홈(32, 33, 34)과, 단부(step portion)와, 핀(13)과 맞물리는 돌기(31)를 포함한다.

테스트 스트립 홀딩 테이블(3)이 삽입되는 경우, 록킹 부재(3b)의 홈(32)은 핀(14)의 위치까지 이동된다. 홈(32)은 서서히 상승되고, 그런 다음 수직으로 떨어져서 홈(33)에 도달하게 된다. 홈(33)은 횡 방향으로 떨어져서 보다 낮은 홈(34)에 도달하게 된다. 홈(34)은 마치 돌기(31)를 에워싸는 것처럼 아치형으로 상승되고, 그런 다음 수직으로 떨어져서 홈(32)에 도달하게 된다.

돌기(31)는 홈(32, 34)에 의해 에워싸여지는 록킹 부재(3b)의 중앙에 배치된다. 돌기(31)에는 핀(13)이 맞물리는 오목부(31a)가 설치된다. 오목부(31a) 아래에는 핀(13)을 도입하는 단부(35)가 배치된다.

도 6A 내지 도 6D는 핀(13)에 대하여 록킹 부재(3b)의 맞물림 동작을 도시하고 있다. 도 6A는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)이 삽입되는 상태를 도시하고, 도 6B는 맞물림 위치를 도시하고, 도 6C 및 도 6D는 록킹 상태가 해제된 상태를 도시한다. 99는 록킹 부재(3b)와 오목부(3c)간의 갭을 나타낸다.

테스트 스트립 홀딩 테이블(3)이 삽입되는 경우, 핀(13)은 홈(32)(도 6A)에 도입된다. 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)이 또 삽입되는 경우에는, 핀(13)은 홈(33)으로 떨어진다. 홈(32, 33)간의 경계는 정면도에서 기울어져 있다. 따라서, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)에서 오퍼레이터의 손을 때면, 록킹 부재(3b)는 용지면에 대하여 상향으로 힘을 받게 되어, 상향으로 이동된다. 따라서, 핀(13)은 단부(35)를 통해 록킹 부재(3b)(도 6B)의 오목부에 끼워 맞춰진다. 이로 인해 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)이 록킹된다.

테스트 스트립 홀딩 테이블(3)을 조금 푸쉬했을 때, 핀(13)은 단부(35)에서 홈(34)으로 떨어진다. 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)에서 오퍼레이터의 손을 때면, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)은, 테이블(3)이 구동 기어(14)에 의해 지면의 좌측 방향으로 힘을 받게 되기 때문에 이동하기 시작한다. 이 때, 록킹 부재(3b)는 용지면에 대하여 상향으로 힘을 받게 되고, 단부(35)와 홈(34)간의 경계가 비스듬하게 형성되기 때문에 상향 이동된다. 따라서, 핀(13)은 오목부(31a)로 되돌아오지 않고, 홈(34)에 떨어진다(도 6C).

테스트 스트립 홀딩 테이블(3)을 또 이동시킨 경우, 핀(13)은 홈(34)을 따라 상승되어, 홈(32)에 떨어지고, 그 후에 록킹 부재(3b)로부터 분리된다.

앞서 언급된 바와 같이, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)은, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)을 가장 안쪽으로 푸쉬할 경우 테스트 스트립 측정 장치 본체(1)에 대하여 록킹될 수 있으며, 이 록킹 상태는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)을 다시 푸쉬할 경우 해제될 수 있다.

도 7은 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)을 가장 안쪽으로 푸쉬한 록킹 상태를 도시하는 평면도이다. 핀(13)과 록킹 부재(3b)의 돌기(31)를 맞물림으로써, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)은 록킹된다.

도 8은 록킹 상태를 도시하는 도 7의 선 X-X를 따라 절취되는 단면도이다. 상부 커버(1a) 및 이것에 고정된 회로 보드(23)도 기술되고 있다. 핀(13)은 록킹 부재(3b)의 단부(35)에 구성되어 오목부(31a)와 맞물리게 된다.

록킹/언록킹 수단에 대하여, 도 6 및 도 7에 도시되는 것 이외에도 공지된수단이 사용될 수도 있다.

회로 보드(23)에는, LED를 구비한 투광부(21)와, 포토다이어드를 구비한 수광부(22) 및 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 위치를 검출하기 위한 스위치(41)가 배치된다. 렌즈(21a)는 투광부(21)의 선단에 배치되어 테스트 스트립(4)의 표면에 포커스가 맞춰진다. LED의 발광 파장은 테스트 스트립에 나타나는 마크에 의해 흡수되도록 광 파장으로 설정된다(예를 들면, LED는 테스트 스트립(4)에 나타나는 마크가 적색인 경우에 녹색 광을 발광한다). 스위치(41)는 회전 가능한 아암(41a)을 구비한다. 아암(41a)의 위치를 감지함으로써, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 삽입/제거가 검출된다.

앞서 언급된 구성에서, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)을 록킹 상태로부터 해제한 경우, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)은 대체로 균일한 속도로 튀어나오고(이후, "자동 이동(automatic traveling)"라 칭해짐), 스위치(41)는 동작된다. 자동 이동 중에, 테스트 스트립(4)의 반사 강도는 경시적으로 측정된다.

테스트 스트립 홀딩 테이블(3)에 홀딩되는 테스트 스트립(4)이 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 동안에 연속 특정되는 테스트 스트립 측정 방법에 대하여 이하에서 기술된다.

<제 1 테스트 스트립 측정 방법>

도 9는 테스트 스트립(4)에 나타나는 마크의 위치를 기술화는 도면이다. 도 9에서 화살표 D는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 방향으로 나타낸다. 통상적으로, 제어 라인(4a)과 테스트 라인(4b)의 2개 착색 라인이 테스트스트립(4)에 나타나게 된다. 본 발명에서, 제어 라인(4a)은 테스트 라인(4b)의 반사 강도를 판정하기 위한 기준치를 얻는데 사용된다.

이하의 기술에서, 테스트 라인(4b)의 반사 강도, 제어 라인(4a)의 반사 강도 및 테스트 스트립(4)의 그라운드의 반사 강도는 T, C, R로 각각 나타낸다.

도 10은 테스트 스트립 홀더(2)를 홀딩하는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 동안에 테스트 스트립(4)의 연속 측정 결과를 도시하는 그래프이다. 종축은 반사 강도를 나타내고(단위는 임의적이지만, 도 10에서 전압으로 나타낸다), 횡축은 스위치(41)가 ON에서 OFF로 변화된 후의 자동 이동 경과 시간(단위 msec)을 나타낸다. 종축의 값이 커질수록, 반사 강도는 강하게 된다.

이 그래프에서, 4개의 마루(a, b, c, d), 중간부(e), 산(f)이 나타난다. 첫 번째 나타나는 마루(a)는 테스트 스트립 홀더(2)의 테스트 스트립 노출 창의 엣지(36)를 나타낸다. 다음에 나타나는 마루(b)는 제어 라인(4a)을 나타내고, 그 다음 마루(c)는 테스트 라인(4b)을 나타내고, 그 다음 마루(d)는 테스트 스트립 홀더(2)의 테스트 스트립 노출 창의 엣지(37)를 나타낸다. 산(f)은 테스트 스트립 홀더(2)의 테스트 스트립 노출 창의 엣지(38)를 나타낸다. 마루(a, b)간의 부분, 마루(b, c)간의 부분, 마루(c, d)간의 부분은 테스트 스트립(4)의 그라운드 부분을 나타낸다.

회로 보드(23)에 장착된 마이크로컴퓨터에 의해 실행되는 테스트 스트립 측정 방법에 대하여 이하에서 기술한다.

도 10의 반사 강도의 그래프를 미분함으로써 얻어지는 데이터에 기초하여,마루 또는 산의 위치를 판정한다. 예를 들면, 반사 강도의 그래프가 도 11A에 도시된 바와 같은 마루를 포함하는 경우, 도 11A의 그래프를 미분함으로써 얻어지는 곡선은 도 11B에 도시된 바와 같이 된다. 따라서, 부(negative)에서 정(positive)으로 되는 제로 크로스 점은 마루로 정의하고, 양에서 부로 되는 제로 크로스 점은 산으로 정의한다.

자동 이동 동안에, 나타나는 마루와 그 이후의 산간의 차(도 10에 V1)가 얻어진다. 이 차가 처음으로 제1 임계치(예를 들면, 32mV)를 초과하는 경우에, 마루(a)는 테스틀 스트립 노출 창의 엣지(36)로 간주된다. 노이즈로 인해 나타나는 작은 불규칙함을 제거하기 위하여 그 차를 제1 임계치와 비교한다.

그 다음에 나타나는 마루(b)와 그 다음의 산간의 차(도 10에서 V2)가 얻어진다. 이 차가 제2 임계치(예를 들면, 64mV)를 초과하는 경우, 마루(b)는 제어 라인(4a)으로 간주된다. 노이즈로 인해 나타나는 적은 불규칙함을 제거하기 위하여 상기 차와 제2 임계치를 비교한다.

다음에 나타나는 마루(c)와 그 다음의 산간의 차(도 10에서 V3)가 얻어진다. 이 차가 제3 임계치(예를 들면, 26mV)보다 크고 제4 임계치(예를 들면, 100mV)보다 작은 경우, 마루(c)는 테스트 라인(4b)로 간주된다. 노이즈로 인해 나타나는 적은 불규칙함으로 제거하기 위하여 상기 차와 제3 임계치를 비교한다. 제4 임계치는 엣지(37, 38)를 검출하는데 사용된다.

지금까지의 기술은 양성 반응의 판정을 나타내고 있다. 음성 반응의 경우에, 마루(c)는 도 12에 도시된 바와 같이 나타나지 않는다. 마이크로컴퓨터는 다음에나타나는 마루(d)를 마루(c)로 인식한다. 마루(d)와 산(f)간의 차(도 12에서 V4)가 제4 임계치를 초과하는 경우, 마루(c)가 존재하지 않은 것으로 간주된다. 즉, 테스트 라인(4b)이 검출되지 않는다. 따라서, 샘플은 음성으로 판정된다.

앞서 언급된 판정에 의해, 제어 라인(4a)에 기초하는 마루(b)와, 테스트 라인(4b)에 기초하는 마루(c)와, 각 산부를 식별하게 된다.

여기서, 마루(b)에서의 제어 라인(4a)의 반사 강도, 마루(c)에서의 테스트 라인(4b)의 반사 강도, 테스트 스트립(4)의 그라운드의 반사 강도를 각각 C, T, R로 나타낸다. 그라운드의 반사 강도(R)는 (1) 마루(b, c)간의 산부의 피크치로 정의되거나, 또는 (2) 각 산부의 피크치의 중앙치 또는 평균치로 정의된다.

마이크로컴퓨터는 이하의 식에 따른 결정치 DET를 구한다.

DET=(R-T)/(R-C)

상기 식에 따르면, 그라운드의 영향은, 테스트 라인(4b)의 반사 강도(T)와 그라운드의 반사 강도(R)간의 차를 구하고, 제어 라인(4a)의 반사 강도(C)와 그라운드 반사 강도(R)간의 차를 구함으로써 제거된다. 또한, 테스트 조건(예를 들면, 샘플간의 차, 테스트 스트립간의 차 등)의 영향은, 그라운드 영향을 제거한 테스트 라인(4b)의 반사 강도(R-T)를 그라운드 영향을 제거한 제어 라인(4a)의 반사 강도(R-C)로 나눔으로써 제거되며, 이 (R-C)는 기준치로 제공된다.

결정치 DET를 구하기 위하여, 이하의 식이 사용될 수도 있다:

DET=(R/T)-R/C)

상기 식에 따르면, 그라운드의 영향은, 테스트 라인(4b)의 반사 강도(T)와그라운드의 반사 강도(R)간의 비를 구하고, 제어 라인(4a)의 반사 강도와 그라운드의 반사 강도(R)간의 비를 구함으로써 제거된다. 또한, 테스트 조건의 영향은 그라운드 영향을 제거한 제어 라인(4a)의 반사 강도(R/C)를 그라운드 영향을 제거한 테스트 라인(4b)의 반사 강도(R/T)에서 뺌으로써 제거되며, 이 (R/C)는 기준치로서 제공된다.

마이크로컴퓨터는 정성적 판정을 위한 임계치(T1, T2)(0<T1<T2<1)를 기억하고 있다. 구해진 결정치 DET와 임계치(T1, T2)를 비교함으로써, 샘플이 음성, 의사-양성, 또는 양성인지를 판정한다. 구체적으로 말하면, 샘플은 0<DET<1일 경우 음성으로 판정되고, T1<DET<T2일 경우는 의사-양성으로 판정되고, T2<DET<T1일 경우는 양성으로 판정된다. 임계치(T1, T2)는 다수의 샘플에 대하여 테스트를 행하고, 각 환자의 정성이 가장 정확하게 재생될 수 있는 값으로 선택된다.

마이크로컴퓨터는 앞서 언급된 방법으로 얻어지는 결정치 DET의 수치와, 음성, 의사-양성, 양성 등의 판정 결과를 디스플레이 장치(6)에 디스플레이한다.

<제2 테스트 스트립 측정 방법>

테스트 스트립(4)에 나타나는 제어 라인 또는 테스트 라인 식별에 있어서 개량된 제2 테스트 스트립 측정 방법에 대하여 이하에서 기술한다.

제1 테스트 스트립 측정 방법에 따르면, 마루 위치는 마루와 산간의 반사 강도의 차를 임계치와 비교함으로써 식별된다.

제2 테스트 스트립 측정 방법에 따르면, 마루 및 산의 반사 강도뿐만 아니라 마루가 나타나는 시점도 고려한다. 이것은 또한 마루 위치의 잘못된 검출의 비율을낮게 하고, 정확한 마루 위치를 식별할 수 있게 한다.

제2 테스트 스트립 측정 방법에 따르면, 테스트 스트립 홀더(2)의 엣지(36, 37, 38)의 형태를 평탄하게 하여 엣지(36, 37, 38)가 측정된 강도 데이터에 나타나지 않도록 하고 있다. 따라서, 노이즈가 전혀 없는 경우, 테스트 동안 첫 번째로 나타나는 마루는 제어 라인(4a)에 대응하고, 다음에 나타나는 마루는 테스트 라인(4b)에 대응한다.

도 13 및 도 14 각각은 테스트 스트립 홀더(2)를 홀딩하는 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 동안에 테스트 스트립의 연속 측정 결과를 나타내는 그래프이다. 종축은 반사 강도를 나타내고(단위는 임의적이지만, 도 13 및 도 14에서는 전압을 나타낸다), 횡축은 라인 스캔의 경과 시간(단위 msec)을 나타낸다. 도 13과 도 14의 차이는, 댐퍼의 점성 저항의 차 또는 코일 스프링의 경도(硬度)의 차로 인해 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 속도가 서로 상이하다는 것이다. 자동 이동 속도가 상이하여도, 이하의 처리는 동일하다.

각각의 그래프에서, 2개의 마루(i, k)가 나타난다. 첫 번째로 나타나는 마루(i)는 제어 라인(4a)을 나타내고, 다음에 나타나는 마루(k)는 테스트 라인(4b)을 나타낸다. 마루(i) 이전의 산(h)과, 마루(i, k)간의 산(j)은 테스트 스트립(4)의 그라운드 부분을 나타낸다.

도 15는 마이크로컴퓨터에 의해 실행되는 제2 테스트 스트립 측정 방법을 나타내는 플로우 챠트이다.

스위치가 ON에서 OFF로 변화되는 시점(측정 개시 시점)에서, 타임 카운트를개시한다(단계 S1, S2). 이동 방향의 테스트 스트립의 선두 단이 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 동안에 검출되는 경우, 수광부(22)의 출력 전압은 증가된다. 출력 전압이 임계치(3V)를 초과하는 시점에서(단계 S3), 타임 카운트치(T1)가 등록된다(단계 S4). 이 타임 카운트치(T1)는, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 개시 직후 ON에서 OFF로 스위치(41)가 변화되는 시점에서의 수광부(22)의 검출 부분과 이동 방향의 테스트 스트립의 선두단과의 거리(L1)를 나타낸다.

그 후, 타임 카운트가 개시되고(단계 S5, S6), 마루가 검출되었는지(단계 S7)와 검출된 마루가 노이즈에 대응하는지(단계 S8)를 판정한다. 이 마루 판정은 도 11A 및 도 11B를 이용하여 설명되는 미분하는 방법에 의해 행해질 수 있다. 노이즈에 관한 판정은 앞서 언급된 바와 같이 마루와 그 다음에 나타나는 산 부분간의 차를 임계치와 비교함으로써 행해질 수 있다.

노이즈에 대응하지 않는 마루(i)를 검출한 경우, 이 마루 검출의 시점에서의 타임 카운트치(t)는 T2로 설정되고(단계 S9), T2가 k1, T1보다 작은 지의 여부를 판정한다(단계 S10)

T2<k1·T1

계수 k1은 이동 방향의 테스트 스트립의 선두 단에서 제어 라인까지의 거리(L2)와 앞서 언급된 거리(L1)와의 비와 같거나 또는 약간 큰 값으로 설정된다. 따라서, k1은 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 속도와는 전혀 관계가 없는 상수이다.

T2<k1·T1인 경우, 마이크로컴퓨터는 상기 마루(i)를 제어 라인으로 간주한다(단계 S11). T2≥k1·T1인 경우, 제어 라인이 나타나야 하는 위치에서 제어 라인이 검출되지 않음을 의미한다. 따라서, 테스트 스트립에 결함이 있거나 또는 검사가 잘못된 것으로 판정된다(단계 S13).

또한, 타임 리미트 이내에서 어떠한 마루도 검출되지 않았거나(단계 S12) 또는 검출된 모든 마루가 노이즈에 대응하는 경우, 테스트 스트립에 결함이 있거나 또는 검사가 잘못된 것으로 판정된다(단계 S13). 이 타임 리미트는 앞서 언급된 타임 k1·T1과 동일한 값으로 하여도 된다.

타임 카운트를 개시하고(단계 S15, S16), 마루가 검출되었는지의 여부를 판정하고(단계 S17), 검출된 마루가 노이즈에 대응하는 지의 여부를 판정한다(단계 S18).

노이즈에 대응하지 않는 마루가 검출된 경우, 이 마루 검출 시점에서의 타임 카운트치는 T3으로 설정되고(단계 S19), T3이 k2·T2보다 작은 지의 여부를 판정한다(단계 S20).

T3<k2·T2

계수 T3<k2·T2는, 테스트 스트립(4)의 제어 라인에서 그 테스트 라인까지의 거리(L3)와 앞서 언급된 거리(L2)와의 비와 같거나 또는 약간 큰 값으로 설정된다. 따라서, k2도 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 속도와 전혀 관계가 없는 상수이다.

상기의 식 대신에 이하의 식을 이용할 수 있다.

T3<k3(T1+T2)

계수 k3은, 테스트 스트립(4)의 제어 라인에서 그 테스트 라인까지의 거리(L3)와 앞서 언급된 거리(L1+L2)간의 비와 같거나 또는 약간 큰 값으로 설정된다. 따라서, k3도 테스트 스트립 홀딩 테이블(3)의 자동 이동 속도와 전혀 무관한 상수이다.

단계 20의 식이 충족되는 경우, 검출된 마루는 테스트 라인으로 간주되고(단계 S21), 정량적 측정이 행해진다(단계 S21). 구체적으로는, 제어 라인의 반사 강도(C), 테스트 라인의 반사 강도(T) 및 테스틀 스트립(4)의 그라운드의 반사 강도(R)가 산출되며, 이하의 결정치 DET가 구해진다:

DET=(R-T)/(R-C)

마이크로컴퓨터는 상기 결정치 DET를 출력한다.

또한, 앞서 언급된 바와 같이, 정량적 측정을 위한 임계치(T1, T2)를 기억하고 있다. 그런 다음, 구해진 결정치 DET와 임계치(T1, T2)를 비교하여 샘플이 음성, 의사-양성, 또는 양성인지를 판정한다.

마이크로컴퓨터는 앞서 언급된 방법으로 얻어진 결정치 DET의 수치와, 음성, 의사-양성, 양성 등의 판정 결과를 디스플레이 장치(6)에 디스플레이한다.

단계 20의 식이 충족되지 못하는 경우, 이것은 테스트 라인이 나타나야 하는 위치에서 테스트 라인이 검출되지 않음을 의미한다. 따라서, 샘플을 음성으로 판정한다(단계 S24).

또한, 어떠한 마루도 타임 리미트 내에서 검출되지 않은 경우(단계 23) 또는 검출된 모든 마루가 노이즈에 해당하는 경우, 샘플은 음성으로 판정된다(단계 S24). 이 타임 리미트는 타임 k2·T2 또는 k3(T1+T2)과 동일한 값으로 해도 된다.

도 15 및 도 16의 처리에서, 마이크로컴퓨터는 테스트 스트립의 이동 위치를 알기 위하여 타임 카운트를 실행한다. 이러한 타임 카운트 대신에, 센서를 구성하고, 테스트 스트립 홀딩 테이블(3) 또는 테스트 스트립 홀더(2)에 직선 눈금을 형성하여 센서가 그 눈금을 독취하게 한다.

정량적 측정에 의해 얻어진 수치는 당업계에서 통용되는 단위로 변환될 수 있다. 이러한 관계에서, 본 발명의 테스트 스트립 측정 장치와 통용되는 다른 측정 장치를 사용하여 동일한 테스트 스트립을 각각 측정함으로써 교정 곡선을 형성한다. 도 17은 측정 결과의 일례를 나타내는 그래프이다. 종축은, CCD 카메라에 의해 얻어지는 이미지 데이터에 기초하는 테스트 스트립의 측정을 행하도록 구성된 공지된 측정 장치(ATTO 주식회사 덴시토그래프 AE-6920)를 이용한 측정에 의해 얻어지는 결정치를 나타내고, 횡축은 본 발명의 테스트 스트립 측정 장치를 이용한 측정에 의해 얻어지는 결정치를 나타낸다. 본 발명의 테스트 스트립 측정 장치에 의해 얻어지는 결정치를 다른 측정 장치에 의해 얻어진 결정치와 비교한 경우, 약 0.981정도로 큰 상관 계수가 얻어진다.

도 17의 그래프에 도시되는 직선은 최소 자승법 등을 이용하여 작성되는 교정 곡선이다. 이 교정 곡선을 한 번 구한 경우에, 본 발명의 테스트 스트립 장치를 이용하여 얻어지는 결정치는 다른 단위로 변환될 때 자동적으로 디스플레이될 수있다.

이상에서는 본 발명의 실시예에 대하여 논의하고 있다. 그러나, 본 발명은 이러한 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 범위 내에서 다양한 변경이 행해질 수 있다. 예를 들면, 복수의 제어 라인 및/또는 복수의 테스트 라인을 갖는 테스트 스트립에서도 그 라인에 도 15 및 도 16의 알고리즘을 각각 적용함으로써 정량적 측정 또는 정성 측정이 행해질 수 있다.

또한, 어떠한 제어 라인이 나타나지 않는 테스트 스트립에 대해서, 테스틀 스트립의 그라운드의 영향은, 테스트 라인의 반사 강도(T)와 테스트 스트립의 그라운드의 반사 강도(R)간의 차(R-T) 또는 비(R/T)를 구함으로써 제거될 수 있다. 이러한 경우에, 식 DET=R-T 또는 DET=R/T에 따라 DET를 구할 수 있다.

앞서 언급된 실시예에서, 그라운드의 반사 강도(R)는 (1) 마루(b, c)사이의 산 부분의 피크치, 또는 (2) 각 산 부분의 피크치의 중앙치 또는 평균치로 정의된다. 이러한 절차 대신에, (R1-T)는 (R-T) 대신에 사용되고, (R2-C)는 (R-C) 대신에 사용될 수 있으며, 여기서 R1은 테스트 라인(4b)의 가장 가까운 그라운드의 반사 강도이고, R2는 제어 라인(4a)의 가장 가까운 그라운드의 반사 강도이다. 이 경우, 테스트 스트립의 반사 강도의 분포가 고르지 않은 경우에도, 정확한 판정이 행해질 수 있다.

앞서 언급된 각각의 테스트 스트립 측정 방법에서, 테스트 스트립의 반사 강도를 체크하고 있지만, 투과 강도를 체크하여도 된다. 또한, 테스트 스트립이 형광을 발광하는 경우에, 형광 강도가 체크될 수 있다.

Claims

테스트 스트립이 이동되는 동안 측정이 수행되는 테스트 스트립 측정 방법에 있어서,

테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성들(R)을 검출하는 단계와;

상기 테스트 스트립에 나타나는 테스트 라인의 광학 특성들(T)을 검출하는 단계; 및

상기 R과 상기 T 간의 차 또는 비에 기초하여 상기 테스트 스트립에 대하여 정량(quantitative) 측정 또는 정성(qualitative) 판정을 행하는 단계를 포함하는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 테스트 스트립이 이동하기 시작한 후 상기 테스트 라인이 나타날 시점 또는 상기 테스트 라인이 나타날 위치가 추정되고, 상기 테스트 라인이 상기 추정된 시점 또는 상기 추정된 위치에 나타나지 않는 경우에는 음성 판정(judgment negativity)을 행하는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 2 항에 있어서,

상기 테스트 스트립은 테스트 스트립 홀더에 의해 홀딩되고,

상기 테스트 스트립 홀더는 테스트 스트립 이동 개시 시에 검출되며, 상기테스트 스트립 이동 개시로부터 그 이동 방향으로의 상기 테스트 스트립의 선두 단(forefront end)이 검출되는 시점까지의 시간 주기(T1)이 측정되고, 상기 시간 주기(T1)에 기초하여, 상기 테스트 라인이 나타난 후의 시간 주기가 추정되는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 테스트 라인을 식별하기 위해, 상기 테스트 라인으로 간주되는 부분의 광학 특성들과 상기 테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성간의 차는 임계치와 비교되고, 상기 차가 상기 임계치보다 더 큰 경우, 상기 부분은 상기 테스트 라인으로 식별되는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 1 항에 있어서,

복수의 테스트 라인들이 존재하는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 정량적 측정의 결과는 교정 곡선을 이용하여 유니트로 변환되는, 테스트 스트립 측정 방법.
테스트 스트립이 이동되는 동안 측정이 수행되는 테스트 스트립 측정 방법에 있어서,

테스트 스트립에 나타나는 제어 라인의 광학 특성들(C)을 검출하는 단계와;

상기 테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성들(R)을 검출하는 단계와;

상기 테스트 라인에 나타나는 테스트 라인의 광학 특성들(T)을 검출하는 단계; 및

결정치와 기준치를 이용하여 상기 테스트 스트립에 대하여 정량적 측정 또는 정성적 판정을 행하는 단계로서, 상기 결정치는 상기 R과 상기 T간의 차 또는 비에 기초하고, 상기 기준치는 상기 C와 상기 R간의 차 또는 비에 기초하는, 상기 판정을 행하는 단계를 포함하는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 7 항에 있어서,

상기 테스트 스트립이 이동하기 시작한 후에 상기 제어 라인이 나타날 시점 또는 상기 제어 라인이 나타날 위치가 추정되고, 상기 제어 라인이 상기 추정된 시점 또는 상기 추정된 위치에 나타나지 않은 경우에는 상기 테스트 스트립이 결함이 있거나 또는 검사가 잘못된 것으로 판정되는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 8 항에 있어서,

상기 제어 라인이 나타난 후에 상기 테스트 라인이 나타나는 시점 또는 상기 테스트 라인이 나타나는 위치가 추정되고, 상기 테스트 라인이 상기 추정된 시점 또는 상기 추정된 위치에 나타나지 않는 경우에는 음성 판정이 행해지는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 8 항에 있어서,

상기 테스트 스트립은 테스트 스트립 홀더에 의해 홀딩되고,

상기 테스트 스트립 홀더는 테스트 스트립 이동 개시 시에 검출되며, 상기 테스트 스트립 이동 개시로부터 그 이동 방향으로의 상기 테스트 스트립의 선두 단이 검출되는 시점까지의 시간 주기(T1)가 추정되고, 상기 시간 주기(T1)에 기초하여 상기 제어 라인이 나타난 후의 시간 주기(T2)가 추정되는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 10 항에 있어서,

상기 제어 라인이 나타난 후에 상기 테스트 라인이 나타날 시점(T3)이 추정되고, 상기 테스트 라인이 상기 추정된 시점(T3)에 나타나지 않는 경우 음성 판정이 행해지는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 7 항에 있어서,

상기 테스트 라인을 식별하기 위해, 상기 테스트 라인으로 가정되는 부분의 광학 특성들과 상기 테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성들간의 차가 임계치와 비교되고, 상기 차가 상기 임계치보다 큰 경우에는 상기 부분이 상기 테스트 라인으로 식별되는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 7 항에 있어서,

상기 제어 라인을 식별하기 위해, 상기 제어 라인으로 가정되는 부분의 광학 특성들과 상기 테스트 스트립의 그라운드의 광학 특성들간의 차가 임계치와 비교되고, 상기 차가 상기 임계치보다 큰 경우에는 상기 부분이 상기 제어 라인으로 식별되는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 7 항에 있어서,

복수의 제어 라인들 또는 복수의 테스트 라인들이 존재하는, 테스트 스트립 측정 방법.
제 7 항에 있어서,

상기 정량적 측정의 결과는 교정 곡선을 이용하여 유니트로 변환되는, 테스트 스트립 측정 방법.
테스트 스트립이 이동되는 동안 측정이 수행되는 테스트 스트립 측정 장치에 있어서,

왕복으로 이동할 수 있도록 구성된 테스트 스트립 홀딩 테이블과;

상기 테이블이 가장 안쪽 부분까지 이동된 경우 상기 테스트 스트립 측정 장치의 본체에 상기 테이블을 록킹할 수 있고, 이러한 록킹된 상태를 해제할 수 있는 록킹/언록킹(locking/unlocking) 수단과;

상기 테이블이 상기 가장 안쪽 부분으로부터 튀어나오는 방향으로 상기 테이블을 탄성적으로(resiliently) 바이어싱하기 위한 바이어싱 수단; 및

상기 테이블이 상기 가장 안쪽 부분으로부터 튀어나오는 방향으로 상기 테이블의 움직임(motion)에 대해 저항을 제공하기 위한 저항 제공 수단을 포함하는, 테스트 스트립 측정 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 테이블은 균일한 속도로 자동적 이동(automatically traveling)하도록 구성되어 있는, 테스트 스트립 측정 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 록킹/언록킹 수단은 상기 테이블이 푸쉬-인(push-in)된 경우에 상기 테이블을 록킹하고, 상기 테이블이 다시 푸쉬인된 경우에 이러한 록킹 상태를 해제하도록 구성되어 있는, 테스트 스트립 측정 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 테이블은 랙(rack)을 갖고,

상기 저항 제공 수단은 상기 랙에 접속된 기어에 회전 저항을 제공하도록 구성되어 있는, 테스트 스트립 측정 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 테이블은 랙을 갖고, 상기 바이어싱 수단은 상기 랙에 접속된 기어를 회전적으로 바이어싱하도록 구성되어 있는, 테스트 스트립 측정 장치.