CN109804237A - 用于样品的分析检查的测试元件分析系统 - Google Patents

Abstract

公开了用于样品的分析检查的测试元件分析系统（110）以及用于样品的分析检查的方法。测试元件分析系统（110）包括测量装置（112），测量装置（112）包括用于至少部分地接收至少一个测试元件（116）的测试元件接受器（114），其中，测试元件接受器（114）包括至少一个第一部分（118）和至少一个第二部分（120），其中，第一部分（118）包括用于置放测试元件（116）的至少一个支撑表面（144），其中，第二部分（120）包括至少一个光学检测器（128），所述光学检测器用于检测在测试元件（116）中包含的至少一种测试化学物质（154）的至少一种检测反应，其中，第二部分（120）可相对于第一部分（118）移动，其中，测试元件接受器（114）配置成将第二部分（120）定位在至少一个位置中，使得测试元件（116）可以插入到测试元件接受器（114）中，且随后将第二部分（120）定位在关闭位置（182）中，使得第二部分（120）的至少一个邻接表面（184）静止在测试元件（116）上。

Description

用于样品的分析检查的测试元件分析系统

技术领域

本发明涉及用于样品的分析检查的测试元件分析系统，并且涉及用于样品、特别是体液的分析检查的方法。根据本发明的装置和方法主要可以在定性或定量地检测样品（诸如，体液的样品）中的至少一种分析物的领域中使用，和/或用于确定样品的至少一个参数。其他应用领域也是可行的。

背景技术

在医疗技术和诊断的领域中，已知用于确定一种或多种分析物在样品（具体地，诸如体液的流体样品）中的存在和/或浓度和/或用于确定样品的至少一个参数的大量装置和方法。在下文中，在不约束本发明的范围的情况下，主要参考在血液样品中的分析物浓度或凝结参数的确定，例如，参考血糖或酮体浓度的确定。作为示例，可以参考可商购的装置和系统，诸如Accu-Chek Active系统、Accu-Chek Mobile系统、Reflotron系统或者cobas h232定点照护系统（Point-of-Care-System），其都由德国罗氏诊断股份有限公司销售。然而，应注意到的是，可以以类似方式使用其他类型的样品或其他类型的分析物或参数。

为了执行快速和简单的测量，已知多种类型的测试元件，其主要基于一种或多种测试化学物质的使用，即，基于适用于执行用于检测分析物或确定参数的检测反应的一种或多种化学物质、一种或多种化学化合物或者一种或多种化学混合物的使用。测试化学物质通常也称为测试物质、测试试剂、测试化学品或者检测物质。对于还可在本发明内使用的可能的测试化学物质和包括这种测试化学物质的测试元件的细节，可以参考J.Hoenes等：The Technology Behind Glucose Meters: Test Strips, Diabetes Technology &Therapeutics（血糖仪背后的技术：测试条、糖尿病技术&治疗药物），卷10，增补1，2008, S-10至S-26。其他类型的测试元件和/或测试物质是可行的，且可以在本发明内使用。

通过使用一种或多种测试化学物质，可以启动检测反应，检测反应的过程取决于待确定的参数或者至少一种分析物的存在和/或浓度。检测反应优选地可以是分析物特定的。通常，如还可以是本发明中的情形那样，当在体液中存在分析物时，测试化学物质适于执行至少一种检测反应，其中，检测反应的程度和/或度通常取决于分析物的浓度。通常，在存在分析物的情况下，测试化学物质可以适于执行检测反应，其中，由于检测反应，体液和测试化学物质中的至少一者的至少一种可检测性质改变。至少一种可检测性质通常可以从物理性质和化学性质中选择。在下文中，在不约束可能的其他实施例的情况下，将主要参考其中一种或多种物理性质（诸如，至少一种电性质和至少一种光学性质中的一者或多者）由于检测反应而改变的检测反应。进一步，在不约束替代解决方案的情况下，将参考其中可光学地检测的至少一种化学性质改变的检测反应，即，将参考光学测试元件。然而，也可使用其他测试元件，诸如，组合的光学和电测试元件。

在使用测量装置和测试元件的典型光学分析物测量系统中的一个技术挑战在于光学检测器相对于测试元件、特别是相对于测试元件的测试场（test field）的准确和精确定位。在典型的光学测量系统中，在用于测试元件的支撑表面和光学检测器之间给定固定距离。然而，在测试元件的光学检测区域或测试场和仪器中的光学系统之间的公差链相当长，且尤其包括测试元件在仪器内的定位公差、仪器的机械和光学部件的公差以及额外地，组装的公差。由于该链，总的公差相当高。因此，测量光学器件的场的深度通常必须适于覆盖宽范围，以便确保，每次当执行测量时，测试元件的光学检测区域被聚焦。这些目标通常对光学测量系统施加强烈的限制。

又一挑战在于如下事实，即，通常存在各种类型的测试元件。因此，同一系统处的一个可能与各种类型的测试元件一起使用。然而，测试元件通常在厚度上改变。由此，使测试元件利用光学检测器被聚焦，即，使测试元件的光学检测区域或者测试场在光学检测器的聚焦范围内的上述问题甚至进一步增加。测试元件的厚度中的改变增加了公差链，且由此，额外增加了对于场的深度的技术挑战和要求。

WO 2011/082344 A2公开了提供了用于对静态地驻留在腔室内的生物流体样品进行成像的方法和设备。该方法包括如下步骤：a）将腔室相对于具有透镜轴线的物镜定位在Z轴位置处，其中，Z轴平行于透镜轴；b）使腔室和物镜中的一者或两者相对于彼此以一速率沿着Z轴移动；以及，c）当腔室和物镜中的一者或两者以一速率相对于彼此在聚焦搜索范围内沿着Z轴移动时，产生生物流体样品的一个或多个图像。

尽管通过上述现有技术实现了优点，但是仍然存在多种技术挑战。因此，具体地，由WO 2011/082344 A2公开的装置和方法通常要求用于优化光学检测器相对于样品的定位的大量的时间和努力，包括获取多个图像。使用大量的计算算法，其相当消耗资源。进一步，该设置要求大量的作用物和空间用于样品移动，这使得该技术非常不适合小型手持装置或者甚至集成的实验室装置。

发明内容

因此，本发明的目的是提供解决这些技术挑战的装置和方法。具体地，将公开用于分析样品的测试元件分析系统和方法，其允许测试元件相对于光学检测器的简单、精确和快速的对准。

通过具有独立权利要求的特征的用于样品的分析检查的测试元件分析系统和方法解决该问题。可以以孤立方式或者以任意组合实现的优选实施例在从属权利要求中列出。

如在下文中使用地，术语“具有”、“包括”或“包含”或者其任何任意文法变型以非排他方式使用。因此，这些术语既可以指的是其中除了通过这些术语引入的特征之外，在该上下文中所描述的实体中不存在另外的特征的情况，也可以指的是在其中存在一个或多个另外的特征的情况。作为示例，表述“A具有B”、“A包括B”和“A包含B”既可以指的是其中除B之外，在A中不存在其他元件的情况（即，其中，A单独地且排他地包括B的情况），也可以指的是其中除了B之外，在实体A中存在一个或多个另外的元件（诸如，元件C、元件C和元件D或者甚至另外的元件）的情况。

进一步，应注意到的是，指示特征或元件可能存在一个或者多于一个的术语“至少一个”、“一个或多个”或者类似的表述通常将在引入相应的特征或元件时被使用仅一次。在下文中，在大多数情形中，当指代相应的特征或元件时，将不重复表述“至少一个”或者“一个或多个”，尽管相应的特征或元件可能存在一个或者多于一个这一事实。

进一步，如在下文中使用地，术语“优选地”、“更优选地”、“特别地”、“更特别地”、“具体地”、“更具体地”或者类似的术语结合可选的特征一起使用，而不约束替代的可能性。因此，通过这些术语引入的特征是可选的特征，且并不意图以任何方式约束权利要求的范围。如技术人员将认识到地，本发明可以通过使用替代特征来执行。类似地，通过“在本发明的实施例中”或者类似的表述引入的特征意图是可选的特征，而不具有关于本发明的替代实施例的任何约束，不具有关于本发明的范围的任何约束并且不具有关于组合以这种方式引入的特征与本发明的其他可选或者非可选特征的可能性的任何约束。

如在本发明内通常使用地，术语“患者”和“用户”可以指的是人类或者动物，独立于人类或者动物分别可能处于健康状态中或者可能罹患一种或多种疾病的事实。作为示例，患者或者用户可以是罹患糖尿病的人类或者动物。然而，额外或替代地，本发明可以应用于其他类型的用户或患者或疾病。

在本发明的第一方面中，公开了用于样品的分析检查的测试元件分析系统。测试元件分析系统包括测量装置。测量装置包括测试元件接受器，其用于至少部分地（即，完全地或部分地）接收至少一个测试元件（具体地，测试条）。测试元件接受器包括至少一个第一部分和至少一个第二部分。第一部分包括至少一个支撑表面，用于置放测试元件。第二部分包括至少一个光学检测器，其用于检测在测试元件中包含的至少一种测试化学物质的至少一种检测反应。第二部分可相对于第一部分移动。进一步，测试元件接受器配置成将第二部分定位在至少一个位置中，使得测试元件可以被插入到测试元件接受器中，且随后将第二部分定位在关闭位置中，使得第二部分的至少一个邻接表面静止在测试元件上。

如在本文中进一步使用地，术语“系统”指的是形成整体的相互作用或者相互依赖的部件的任意集合。具体地，部件可以彼此相互作用，以便实现至少一个共同的功能。至少两个部件可以被独立地操纵，或者可以联接或可连接。因此，术语“测试元件分析系统”通常指的是至少两个元件或者部件的群组，这些元件或者部件能够彼此相互作用以便执行至少一种分析检测，具体地，样品的至少一种分析物的至少一种分析检测。测试元件分析系统通常还可以被称为分析系统、分析套件、传感器系统或者测量系统。

如在本文中进一步使用地，术语“样品”可以指的是所取得的用于分析、测试或者调查的任意材料或材料的组合。样品可以是有限量的某物，其意图类似于且代表更大的量。然而，样品还可包括完整标本。样品可以是固体样品、液体样品或者气体样品、或者这些的组合。具体地，样品可以是流体样品，即，完全地或部分地处于液体状态和/或处于气体状态的样品。样品的量可以能够按照其体积、质量或大小描述。然而，其他尺寸是可行的。样品可以包括仅一种材料或仅一种化合物。替代地，样品可以包括多种材料或化合物。

术语“分析物”通常指的是在样品中可能存在的任意的元素、成分或化合物，且其存在和/或浓度可能是用户、患者或诸如医生的医务人员所关心的。特别地，分析物可以是或者可以包括可参与用户或者患者的新陈代谢的任意化学物质或化学化合物，诸如，至少一种代谢物。至少一种分析物的检测具体地可以是分析物特定的检测。

如在本文中进一步使用地，术语“体液”可以指的是这样的流体：其通常存在于用户或者患者的身体或者身体组织中，和/或其可以由用户或患者的身体产生。作为身体组织的示例，可以提到间质组织。因此，作为示例，体液可以从包括血液和间质流体的组中选择。然而，额外或替代地，可以使用一种或多种其他类型的体液，诸如，唾液、泪液流体、尿或其他体液。因此，具体地，如将在下文中更详细地概述地，传感器可以配置成用于检测在身体组织中的至少一种分析物。

术语“分析检查”通常可以指的是确定至少一种分析物的存在和/或量和/或浓度的过程，或者指的是确定样品的表征样品性质的参数（例如，葡萄糖）的过程。分析检查可以是或者可以包括定性检测，仅仅确定至少一种分析物的存在或至少一种分析物的缺失，和/或可以是或者可以包括定量检测，其确定至少一种分析物的量和/或浓度。作为检测的结果，可以产生表征检测结果的至少一个信号，诸如，至少一个测量信号。至少一个测量信号具体地可以是或者可以包括和/或可以完全地或部分地变换成至少一个电子信号，诸如，至少一个电压和/或至少一个电流。至少一个信号可以是或者可以包括至少一个模拟信号和/或可以是或者可以包括至少一个数字信号。

如上文所描述地，测量装置包括用于至少部分地接收至少一个测试元件的测试元件接受器。测试元件分析系统还可至少包括一个测试元件。术语“测试元件”通常可以指的是能够检测在样品中的分析物或者确定样品的参数的任意装置。测试元件可以具体地是条形测试元件。如在本文中使用地，术语“条形”指的是具有细长形状和厚度的元件，其中，元件沿横向维度的延伸超过元件的厚度，诸如，达至少2倍，优选地达至少5倍，更优选地达至少10倍，且最优选地达至少20倍或者甚至至少30倍。因此，测试元件还可被称为测试条。

测试元件可以具有至少一个载体和至少一种测试化学物质，以用于在存在被包含于样品中的分析物的情况下，执行至少一种检测反应。如在本文中进一步使用地，术语“载体”可以指的是任意元件，诸如，平面状元件，其配置成保持或者承载另一物体。因此，载体还可被称为基板。进一步，载体可以具体地是条形载体。术语“测试化学物质”（也称为测试化学品）可以指的是适于在分析物存在的情况下改变至少一个可检测性质的任意材料或材料组分。具体地，该性质可以是可光学地检测的性质，诸如颜色改变和/或在反射（remissive）性质中的改变。具体地，测试化学物质可以是高度选择性的测试化学物质，其仅在被施加到测试元件的体液样品中存在分析物的情况下改变性质，然而如果不存在分析物，则不发生改变。更优选地，性质的改变或者程度可以取决于在体液中的分析物的浓度，以便允许分析物的定量检测。示例性地，测试化学物质可以是干燥测试化学物质。如在本文中进一步使用地，术语“干燥”可以指的是任意化学物质的至少在很大程度上没有水分的性质。

测试化学物质可以具体地配置成用于执行至少一种可光学地检测的检测反应。如在本文中使用地，术语“可光学地检测的检测反应”指的是检测分析物本身或者辅助化合物的光学可检测性质，该辅助化合物取决于分析物在样品中的存在和/或浓度利用检测反应而产生或转换，所述光学可检测的性质诸如是颜色改变和/或反射性质的改变。可光学地检测的检测反应可以是分析物特定的。进一步，可光学地检测的检测反应可以是定性和/或定量检测。

示例性地，测试元件可以具有至少一个测试场，其包括至少一种测试化学物质。如在本文中进一步使用地，术语“测试场”可以指的是物体的任意区域或地带，在其中进行任意测量，具体地，分析测量。具体地，测试场可能够执行表征分析物或参数的至少一个改变。如上文所描述的测试化学物质可以位于测试场内，特别是在测试场的至少一个表面上。因此，测试场还可被称为测量区或者测量场。进一步，测试元件可以包括配置成用于接收样品的至少一个毛细管。术语“毛细管”通常指的是任意小的细长空隙体积，诸如小管。通常，毛细管可以包括在毫米或亚毫米范围中的尺寸。通常，流体介质可以通过毛细作用迁移通过毛细管，其中，由于在流体介质和面对流体介质的毛细管的表面之间的分子间作用力，在没有类似于重力的外力辅助的情况下，流体介质可以在毛细管的窄空间中流动。

如上文所描述地，测试元件分析系统包括测量装置。如在本文中进一步使用地，术语“测量装置”可以指的是配置成检测至少一个信号的任意装置，优选地电子装置。信号可以是光学信号和/或电化学信号。可以独立于测试元件操纵测量装置，且测量装置可以适于与测试元件相互作用以便执行分析，诸如，通过检测至少一个信号。因此，术语“测量装置”也可以通常指的是如分析装置、如计量器或者如测试装置的测量装置。测量装置还可包括至少一个评估装置（具体地，至少一个处理器），其用于评估利用测量装置执行的至少一个测量。如在本文中进一步使用地，术语“评估装置”可以指的是配置成从数据得到至少一项信息的任意装置。具体地，评估装置可以配置为从至少一个信号得到关于分析物在体液中的存在和/或浓度或者体液的参数的至少一项信息。

如上文所描述地，测量装置包括用于至少部分地接收至少一个测试元件的测试元件接受器。如在本文中进一步使用地，术语“接受器”通常可以指的是配置成至少部分地接收或保持另一物体的任意元件的自由体积。因此，接受器可以具有对应于其他物体的形状，或者反之亦然。示例性地，其他物体、或者至少其他物体的可插入部分可以具有矩形形状，且接受器也可以具有矩形形状。术语“测试元件接受器”通常可以指的是配置成接收或保持任意测试元件的任意接受器。测试元件接受器可以具有沿纵向轴线延伸的细长形状。因此，测试元件接受器可以提供细长通道或开口，其所具有的截面至少广泛地对应于测试元件的截面，且测试元件可以被插入到其中。其他实施例可以是可行的。测试元件可以具体地配置成可逆地搁置到测试元件接受器中。具体地，测试元件可以配置为被定位在测试元件接受器内的特定位置上，使得可以至少在很大程度上抑制测试元件沿至少一个方向的移动。因此，测试元件的测试场可以相对于测量装置位于预定位置中。进一步，在测试条接受器内部，可以提供一个或多个端口或接口以用于电接触和/或光学接触测试条。接口可以示例性地是或者可以包括一个或多个端口。额外地或替代地，其他种类的接口可以是可行的。

进一步，测试元件接受器可以包括至少一个定位元件。进一步，定位元件可以是驱出器元件。定位元件可以配置成用于限制测试元件到测试元件接受器中的插入。具体地，定位元件可以能够沿测试元件的插入方向移动，且定位元件可以配置成用于在使用之后当测试元件接受器处于打开位置中时驱出测试元件。

如上文所描述地，测试元件接受器包括至少一个第一部分和至少一个第二部分。如在本文中进一步使用地，术语“部分”指的是物体的任意部件。因此，多个部件彼此相互作用，且可以形成整体。物体的部件可以被独立地操纵或者可以联接或可连接至彼此。术语“第一部分”和“第二部分”可被认为仅仅是命名，而不对所提到的元件编号或者排序，不指定次序且不排除可能存在多个种类的第一部分和第二部分的可能性。进一步，可能存在诸如一个或多个第三部分的额外部分。

如上文所描述地，第一部分包括用于置放测试元件的支撑表面。如在本文中进一步使用地，术语“支撑表面”指的是配置成保持任意元件的任意表面。具体地，支撑表面可以配置为建立至元件的紧密连接。因此，元件可以配置为松弛地放置在支撑表面上。因此，支撑表面可以是基本平坦表面。具体地，邻接表面可以基本上平行于支撑表面。由此，术语“基本上平行”可以指的是邻接表面平行于支撑表面的性质。示例性地，邻接表面可以精确地平行于支撑表面。然而，小的偏移可以是可行的。具体地，邻接表面可以相对于支撑表面以+/-20°、优选地+/-10°、更优选地+/-5°的角度布置。

如上文所描述地，第二部分包括至少一个光学检测器，其用于检测在测试元件中包含的至少一种测试化学物质的至少一种检测反应。如在本文中进一步使用地，术语“检测器”可以指的是这样的任意装置：其配置成检测在其环境中的事件或改变，以及提供对应输出。术语“光学检测器”通常可以指的是任意的光学仪器，其配置成用于接收电磁辐射，优选地处于红外和/或可见和/或紫外光谱范围中的光。因此，光学检测器可以配置成用于记录图像，其可以被存储在本地、被传送至另一位置或两者。光学检测器可以包括至少一个光源和至少一个光电检测器（photo detector）。进一步，光学检测器可以包括至少一个透镜元件。邻接表面可以位于以下中的一者或两者中：透镜元件的焦平面、和/或光学检测器的基本上理想的物平面。

如上文中概述地，邻接表面可以位于光学检测器的基本上理想物平面中。术语“物平面”可以指的是这样的平面：其在成像光学系统的情形中垂直于光学轴线，且其可以包括至少一个物点。因此，当第二部分静止在测试元件上时，可以利用光学检测器聚焦在测试场上。在理想的情形中，位于一个物平面中的所有物点被投射到一个像平面上。然而，由于畸变，像平面可能会弯曲。因此，如在本文中使用地，术语“基本上理想物平面”可以指的是这样的平面：其基本上垂直于光学轴线，诸如，具有+/-10°、优选地+/-5°、更优选地+/-1°的公差。因此，当邻接表面静止在测试元件上时，可以利用光学检测器聚焦在测试元件的测试场上。

透镜元件可以位于至少一个光源或至少一个光电检测器中的一者或两者的前方。检测器可以被完全地或部分地包括在第二部分中。具体地，光学检测器可以被固定地定位在第二部分内。光学检测器可以配置为评估测试元件的另外的光学信息。示例性地，测试元件可以具有条码，且光学检测器可以配置为评估条码。光学检测器可以配置为结合检测在测试元件中包含的至少一种测试化学物质的至少一种检测反应来评估另外的光学信息。替代地，光学检测器可以配置为与检测在测试元件中包含的至少一种测试化学物质的至少一种检测反应分离地评估另外的光学信息。

进一步，如上文所描述地，第二部分包括至少一个邻接表面。如在本文中进一步使用地，术语“邻接表面”可以指的是任意元件的表面，其配置成支撑被定位到表面上的物体。由此，邻接表面可以具体地是或者可以包括平坦、细长表面，从而提供用于测试元件的接触表面。进一步，可以沿至少一个方向至少在很大程度上防止测试元件的移动。当测试元件接受器关闭时，邻接表面可以平坦地静止在测试元件上，具体地静止在测试元件的盖上。当第二部分相对于第一部分移动时，邻接表面不一定基本上平行于测试元件的载体。在关闭位置中，通过将测试元件的载体夹持在位于第二部分上的邻接表面和第一部分的支撑表面之间，邻接表面基本上平行于测试元件的载体。由此，术语“基本上平行”可以指的是邻接表面平行于载体的性质。示例性地，邻接表面可以精确地平行于载体。然而，小的偏移可以是可行的。具体地，邻接表面可以相对于载体以+/-20°、优选地+/-10°、更优选地+/-5°的角度布置。因此，误差链可以被减小，该误差链可能示例性地由测试化学物质的膨胀所导致。

具体地，邻接表面可以被布置成靠近具有测试化学物质的测试场。进一步，邻接表面可以与测试场分离。因此，测试化学物质可以位于测试元件的前侧上，且测试元件分析系统可以配置为独立于测试化学物质的厚度操作，示例性地，在如上文中所概述的测试化学物质的膨胀的情形中。邻接表面与测试化学物质的分离可以引起改善的卫生状况，因为避免了或者至少在很大程度上减少了测试化学物质从测试元件至测试元件分析系统的夹带或者遗留。进一步，避免或至少在很大程度上减少了测试场的变形或弯曲。

进一步，第二部分可以包括至少两个邻接表面，优选地至少三个邻接表面。邻接表面可以具有矩形或圆形形状。然而，其他形状也可以是可行的。示例性地，邻接表面可以具有U形，其可以至少部分地环绕测试场。由此，U形邻接表面可以在测试场的至少三个侧上环绕测试场。进一步，示例性地，邻接表面可以完全地环绕测试场。由此，邻接表面可以具有在邻接表面的内部地带内的凹部或间隙，且测试场位于该凹部或间隙内。示例性地，邻接表面可以是环形的。U形邻接表面和完全环绕的邻接表面可以引起增加的稳定效果，因为可以防止或者至少在很大程度上减少测试元件沿多个方向的移动。

如上文所描述地，第二部分可相对于第一部分移动。示例性地，当第二部分移动时，第一部分可以静止。替代地，第一部分可以移动，且第二部分静止。此外，第一部分和第二部分可以分别移动。具体地，第二部分可以能够相对于第一部分沿基本上垂直于支撑表面的方向移动。示例性地，第二部分可以能够相对于第一部分沿基本上垂直于支撑表面的方向移动第一部分。由此，术语“基本上垂直”可以指的是其中第一部分和第二部分精确地彼此垂直地定位或者相对于精确垂直位置具有轻微偏移的状态。具体地，第二部分可以能够相对于第一部分以90°+/-30°的角度、优选地以90°+/-20°的角度、更优选地以90°+/-10°、更优选地以90°+/-5°的角度移动。

由于沿基本上垂直于支撑表面方向的移动，可以确保测试元件和具体地包括测试化学物质的测试场的准确和精确的对准。测试元件分析系统可配置成使得，在第二部分被定位且朝第一部分移动之前，测试元件可以被定位在第一部分上。因此，可以避免或至少在很大程度上减少测试元件的倾斜或者横向移位。因此，可靠的测量可以是可行的。

进一步，测试元件接受器可以包括至少一个导引元件，其用于导引第二部分和第一部分的相对移动。导引元件可以是横向导引件的部分，或者反之亦然。如在本文中进一步使用地，术语“导引元件”可以指的是配置成支持另一物体沿期望的方向移动的任意元件。具体地，导引元件可以包括至少一个导引轨道，更优选地至少一个线性导引轨道。

具体地，第一部分可以形成测试元件接受器的固定子组件，且第二部分可以形成测试元件接受器的可移动子组件。如在本文中进一步使用地，术语“子组件”可以指的是部件或部件的群组，其形成整个组件的部分，具体地，装置的部分。进一步，术语“可移动子组件”可以指的是这样的子组件，其可沿至少一个方向移动，具体地，相对于另一子组件移动。光学检测器可以被插入到可移动子组件内的至少一个腔中。相反，术语“固定子组件”可以指的是这样的子组件，其可以停留或静止在一位置中（具体地，在期望位置中），使得可以至少在很大程度上防止子组件的移动。具体地，第二部分可以能够相对于第一部分以线性方式移动。

具体地，可移动子组件可以包括至少一个可移动块，且光学检测器可以被插入到该可移动块中。术语“块”通常可以指的是可以由固体材料制成的任意元件。具体地，块可以具有矩形或立方体形状。然而，其他实施例是可行的。可移动块可以能够以线性方式移动。术语“能够以线性方式移动”可以指的是任意元件能够以笔直方式（诸如，在虚拟直线上）移动的性质。由此，虚拟的直线可以至少基本上没有弯曲。进一步，术语“能够以线性方式移动”可以指的是任意元件能够以恒定方式（诸如，以恒定速率）移动的性质。

第二部分还可至少包括一个对准销，其用于与至少一个对准孔接合。具体地，对准孔可以是测试元件的部分。具体地，第二部分可以包括块，其可沿朝向第一部分的方向线性地移动，且对准销可以被部分地嵌入到块中。进一步，对准销可以配置成相对于至少一个光学检测器定位测试元件。如在本文中进一步使用地，术语“销”可以指的是配置成用于紧固另一物体的任意元件。因此，销可以具体地具有细长形状，且还可以具有配置成静止在表面上的末梢。术语“对准销”通常可以指的是这样的任意销：其配置成将另一物体布置在期望位置中，且至少在很大程度上防止物体在至少一个位置中的移动。对准销可以具体地是或者可以包括柱形对准销，优选地具有圆形截面的柱形对准销。进一步，对准销可以具有至少一个末梢，具体地至少一个渐缩末梢。如在本文中进一步使用地，术语“对准孔”可以指的是在元件内的任意孔，其配置成用于元件在期望位置内的布置。由此，可以沿至少一个方向至少在很大程度上防止元件的移动。对准孔可以具体地配置成被这样的物体穿透：该物体配置成将元件固定保持在至少一个位置内。具体地，对准孔可以分别具有对应于对准销的形状和截面。

如上文所描述地，测试元件接受器配置成将第二部分定位在至少一个位置中，使得测试元件可以被插入到测试元件接受器中，且随后关闭测试元件接受器，使得第二部分的邻接表面静止在测试元件上。通常，术语“位置”可以通常指的是物体的空间位置。进一步，术语“定位”可以指的是将物体带到期望位置中的任意过程，诸如，通过将物体移动到期望位置中。进一步，术语“插入”可以指的是将任意元件至少部分地置放到另一物体中（诸如，置放到物体的接受器中）的过程。此外，术语“关闭”可以指的是密封任意对象（具体地，对象的腔或者孔），使得至少在很大程度上防止被至少部分地接收在对象的腔或者孔中的另一元件的移除的任意过程。术语“静止”可以指的是元件停留在另一物体上或者另一物体内的性质。由此，可以至少在很大程度上防止元件相对于物体的移动。具体地，元件可以配置为停留在其他物体上或在其他物体内，而没有任何显著的额外接触压力。

测试元件接受器可以配置为相对于第一部分将第二部分定位在至少两个不同位置中。至少两个不同位置可以包括打开位置和关闭位置，打开位置用于将测试元件插入到测试元件接受器中和/或从测试元件接受器移除测试元件，关闭位置用于执行测量。术语“关闭位置”和“打开位置”可被认为仅仅是命名，而不对所提到的元件编号或者排序、不指定次序且不排除可能存在多个种类的关闭位置和打开位置的可能性。进一步，可以存在额外的位置。

术语“打开位置”可以指的是其中第一部分和第二部分间隔开，使得测试元件可以被自由地插入到测试元件接受器中的位置。可以给定一个或多于一个打开位置。具体地，对准销可以被定位成使得，在插入期间，测试元件在对准销上滑动，直到对准销搭卡合到测试元件的对准孔中为止。在插入期间，测试元件可以被对准销变形，直到对准销搭卡合到测试元件的对准孔中为止。如在本文中进一步使用地，术语“被变形”可以指的是任意元件具有与该元件的原始形状不同的经更改形状的性质，并且其中，经更改的形状基于被施加到元件的外部力，诸如，机械力。示例性地，元件的原始形状可以对应于平面形状，且经更改的形状可以包括由机械力导致的元件的弯曲。进一步，术语“打开位置”可以指的是其中第一部分和第二部分间隔开，使得测试元件可以从测试元件接受器被自由地移除的位置。具体地，在打开位置中，可以将对准销从对准孔完全拉出。术语“自由地插入”和“自由地移除”通常可以指的是在没有或至少几乎没有任何阻力的情况下，任意元件被至少部分地置放到另一物体中或者从其他物体取出的性质，具体地，可以使得用户能够通过施加仅很小的力而插入元件或者移除元件。

如在其中进一步使用地，术语“关闭位置”可以指的是这样的状态，其中，第一部分和第二部分相对于彼此布置，使得至少很大程度上防止从测试元件接受器移除测试元件。在关闭位置中，测试元件可以由第一部分支撑，且第二部分可以静止在测试元件上。测试元件分析系统可以配置为当测试元件被插入到接受器中且第二部分处于关闭位置中时执行测量。由此，术语“执行测量”可以指的是任意装置检测至少一个信号的性质。示例性地，信号可以是光学信号。具体地，可以利用信号来确定如上文所描述的至少一种分析物的存在和/或量和/或浓度。具体地，对准销可以突伸通过测试元件的对准孔。

进一步，测试元件分析系统可以包括至少一个促动器，其用于驱动第一部分和第二部分的相对移动。如在本文中进一步使用地，术语“促动器”指的是配置成移动或控制机构或系统的任意元件。具体地，促动器可以配置为将第二部分从打开位置移动到关闭位置，且反之亦然。可以通过能量源、通常是电流或机械压力来操作促动器，且促动器可以将能量转换成运动。可以从包括如下的群组选择促动器：机械促动器、电磁促动器、气动促动器。然而，可以应用其他种类的促动器。

促动器可以配置成用于执行预定的移动序列，从而将第二部分顺序地带到至少两个位置中，具体地，带到关闭位置中以及带到打开位置中。进一步，促动器可以配置成用于分别在至少两个位置中的一个中停止移动。进一步，促动器可以配置为使第二部分朝向第一部分移动，且一旦第二部分静止在测试元件上就断开联接。因此，测试元件分析系统可配置成使得第二部分主动地朝向第一部分移动。作为示例，促动器可以配置为使第二部分向下朝向测试元件移动，使得第二部分接触测试元件，且一旦第二部分接触测试元件或静止在测试元件上，第二部分就可以从促动器断开联接，使得防止第二部分的进一步向下移动。

具体地，促动器可以配置成用于分别在关闭位置中和在打开位置中停止移动。进一步，测试元件分析系统可以包括至少一个控制器，其用于控制预定的移动序列。此外，可以通过至少一个弹簧元件偏置第二部分抵靠第一部分，其中，促动器配置成抵抗偏置起作用。

由于如上文所描述的促动器的断开联接，接触压力可通过第二部分的重量限定。因此，通过静止在测试元件上，具体地静止在测试元件的前侧上，邻接表面可以配置为提供用于测试元件的机械支撑。可以避免由促动器导致的额外主动压力。因此，可以避免或至少在很大程度上减少测试元件在关闭位置中的弯曲。进一步，可以避免或至少很大程度上减少测试元件的倾斜和/或变形，倾斜和/或变形可能会将测试场带到理想的光学平面的外部。因此，可靠的测量可以是可行的。

在本发明的又一方面中，公开了用于样品、特别是体液的分析检查的方法。该方法可以包括使用如上文所描述的或者如将在下文中进一步描述的测试元件分析系统。方法包括如在独立权利要求中给定或者如在下文中列出的方法步骤。方法步骤可以以给定次序执行。然而，方法步骤的其他次序是可行的。进一步，方法步骤中的一个或多个可以并行地执行和/或以时间上重叠的方式执行。进一步，方法步骤中的一个或多个可以重复执行。进一步，可能存在未列出的额外方法步骤。

用于样品的分析检查的方法包括如下步骤：

a）提供具有测试元件接受器的测量装置，所述测试元件接受器用于接收至少一个测试元件，其中，所述测试元件接受器包括至少一个第一部分和至少一个第二部分，其中，所述第一部分包括用于置放所述测试元件的至少一个支撑表面，其中，所述第二部分包括至少一个光学检测器，所述光学检测器用于检测在所述测试元件中包含的至少一种测试化学物质的至少一种检测反应，其中，所述第二部分可相对于所述第一部分移动；

b）将所述第二部分定位在一位置中，使得测试元件可以被插入到所述测试元件接受器中；

c）将所述测试元件插入到所述测试元件接受器中；

d）关闭所述测试元件接受器，使得所述第二部分的至少一个邻接表面静止在所述测试元件上。

具体地，在执行步骤b）之后，测试元件、具体地测试场可能会脱离利用检测器的聚焦，且在执行步骤d）之后，测试元件、具体地测试场将利用检测器被聚焦。在步骤d）中，光学检测器朝向测试元件移动。如在本文中使用地，术语“关闭”可以指的是其中第一部分和第二部分彼此靠近的过程，而并非指的是完全关闭测试元件接受器的过程。进一步，可以示例性地通过挡光板触发步骤d）。挡光板可以具体地配置成识别测试元件被插入到测试元件接受器中。进一步，方法可以包括：

e）通过使用用于检测由测试元件所包含的至少一种测试化学物质的至少一种检测反应的光学检测器，来执行至少一个分析测量。

可以具体地在方法步骤d）之后执行执行分析测量的步骤。进一步，方法可以包括：

f）将第二部分定位在打开位置中，其中，在打开位置中，第一部分和第二部分被间隔开，以及

g）从测试元件接受器移除测试元件。

可以具体地在步骤d）或e）之后执行步骤f）和g）。示例性地，可以通过由用户或者患者倾斜测试元件分析系统或者通过由用户或者患者施加小的物理作用到测试元件上来支持测试元件从测试元件分析系统的测试元件接受器的移除。然而，其他实施例可以是可行的。

所提出的用于样品的分析检查的测试元件分析系统、以及所提出的用于样品的分析检查的方法相对于已知的装置和方法提供许多优点。

通常，在基于光学测量系统的常见的测试元件分析系统中，在用于测试元件的支撑表面与光学检测器之间可能存在固定距离。通常，在测试元件的测试场（具体地，测试元件的光学检测区域）和光学检测器之间的公差链可能会非常长（测试元件的位置公差加上第一部分和第二部分的生产公差加上组装公差）。由于该链，公差本身可能会非常高。因此，通常，光学检测器的场的深度应当覆盖宽的范围，具体地以确保测试元件的测试场每次都被聚焦。因此，这可能会是光学检测器的限制。

在测试元件分析系统配置成与多个测试元件系统一起操作的情况下，其中，多个测试元件分别具有不同厚度，则如上文所描述的挑战可能会增加。具体地，在厚度上的改变可能会额外增加到如上文所描述的公差链。因此，可能会再一次增加对于场的深度的要求。

根据本发明的测试元件分析系统可以具有光学检测器，其中，在光学检测器与测试元件的测试场之间的距离是固定的。可以以如下方式来实现这一点：光学检测器能够沿光学检测器的光学轴线的方向移动。在测试元件分析系统本身中没有硬止动限制的情况下，最终（end）位置可以浮动。在光学检测器本身内的部件（即，透镜、传感器、滤镜、照明）的相对距离可以保持固定。限定光学检测器的最终位置的参考区域可以不是测量装置的支撑表面，而是在测试元件的顶侧上的区域，其还可以是测试元件的测试场的参考。

在关闭位置中，第二部分可以配置为向下滑动直到第二部分的邻接表面和/或参考区域与测试元件的参考区域接触为止。光学检测器相对于测试元件内部的测试场的最终位置可以因此独立于测试元件的厚度。

在测试元件的厚度中的改变和大多数组装公差可以至少很大程度上与光学检测不相关，具体地因为这些改变可以被根据本发明的光学检测器的设计所掩盖。因此，在测试元件内部的测试场和光学检测器之间的公差链可以非常短。

可以有利的是，测试元件分析系统内部、具体地测试元件接受器内部的测试元件的支撑表面可以是平坦的。可以至少在很大程度上通过测试元件分析系统的测试接受器的延伸的平坦支撑表面来防止在测试条上的用于光学检测的区域（其通常对应于测试元件的测试场）和在测试条上的参考区域（其与第二部分的邻接表面接触）之间的高度差异。因此，可以有利的是，使用仅一个部分用于该支撑表面的两个区域。也能够通过这种支撑表面实现类似于测试元件的加热的其他功能，从而引起例如包括作为支撑表面或测试元件的平坦加热元件的接受器。

总结本发明的发现，如下实施例是优选的：

实施例1：一种用于样品的分析检查的测试元件分析系统，该测试元件分析系统包括测量装置，所述测量装置包括测试元件接受器，该测试元件接受器用于至少部分地接收至少一个测试元件、具体地测试条，其中，所述测试元件接受器包括至少一个第一部分和至少一个第二部分，其中，所述第一部分包括用于置放所述测试元件的至少一个支撑表面，其中，所述第二部分包括至少一个光学检测器，所述光学检测器用于检测在所述测试元件中包含的至少一种测试化学物质的至少一种检测反应，其中，所述第二部分可相对于所述第一部分移动，其中，所述测试元件接受器配置成将所述第二部分定位在至少一个位置中，使得测试元件可以被插入到所述测试元件接受器中，且随后将所述第二部分定位在关闭位置中，使得所述第二部分的至少一个邻接表面静止在所述测试元件上。

实施例2：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，光学检测器包括至少一个透镜元件，其中，邻接表面位于以下中的一者或两者中：透镜元件的焦平面、光学检测器的基本上理想的物平面。

实施例3：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，光学检测器包括至少一个光源和至少一个光电检测器。

实施例4：根据两个前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，透镜元件位于至少一个光源或至少一个光电检测器中的一者或两者的前方。

实施例5：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，光学检测器被固定地定位在第二部分内。

实施例6：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，第二部分可相对于第一部分沿基本上垂直于支撑表面的方向移动。

实施例7：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，测试元件分析系统还包括至少一个测试元件，所述测试元件具有至少一个载体和至少一种测试化学物质，以用于在样品中包含的分析物（具体地葡萄糖或酮体）存在的情况下，执行至少一种检测反应。

实施例8：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，测试元件是测试条。

实施例9：根据两个前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，测试元件具有至少一个测试场，所述测试场包括至少一种测试化学物质。

实施例10：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，测试化学物质配置成用于执行至少一个可光学地检测的检测反应。

实施例11：根据四个前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，测试化学物质是干燥测试化学物质。

实施例12：根据五个前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，载体是条形载体。

实施例13：根据六个前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，当邻接表面静止在测试元件上时，邻接表面平坦地静止在载体上。

实施例14：根据七个前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，当第二部分相对于第一部分移动时，邻接表面总是平行于支撑表面。

实施例15：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，第二部分还包括至少一个对准销，所述对准销用于与测试元件的至少一个对准孔接合。

实施例16：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，第二部分包括块，所述块可沿朝向第一部分的方向线性移动，其中，对准销被部分地嵌入到块中。

实施例17：根据两个前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，对准销配置成相对于至少一个光学检测器定位测试元件。

实施例18：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，测试元件接受器配置成相对于第一部分将第二部分定位在至少两个不同的位置中，至少两个不同位置包括关闭位置和打开位置，所述关闭位置用于执行测量，所述打开位置用于以下中的至少一者：从测试元件接受器移除测试元件、和将测试元件插入到测试元件接受器中。

实施例19：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，在关闭位置中，测试元件由第一部分支撑，且第二部分静止在测试元件上。

实施例20：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，至少一个光学检测器被完全地或部分地包括在第二部分中。

实施例21：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，支撑表面是基本平坦表面。

实施例22：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，邻接表面基本上平行于支撑表面。

实施例23：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，测试元件接受器包含至少一个导引元件，以用于导引第二部分和第一部分的相对移动。

实施例24：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，导引元件包括至少一个导引轨道，更优选地至少一个线性导引轨道。

实施例25：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，测试元件分析系统还包括至少一个促动器，所述促动器用于驱动第一部分和第二部分的相对移动。

实施例26：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，促动器配置成用于执行预定的移动序列，从而将第二部分顺序地带到至少两个位置中。

实施例27：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，促动器配置成用于分别在至少两个位置的一个中停止移动。

实施例28：根据两个前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，测试元件分析系统包括至少一个控制器，所述控制器用于控制预定的移动序列。

实施例29：根据四个前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，通过至少一个弹簧元件偏置第二部分抵靠第一部分，其中，促动器配置成抵抗偏置起作用。

实施例30：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，测试元件接受器还包括至少一个定位元件，其中，定位元件配置成用于限制测试元件到测试元件接受器中的插入。

实施例31：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，定位元件可沿测试元件的插入方向移动，其中，定位元件配置成用于在使用之后驱出测试元件。

实施例32：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，第一部分形成固定子组件，并且其中，第二部分形成测试元件接受器的可移动子组件。

实施例33：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，光学检测器被插入到在可移动子组件内的至少一个腔中。

实施例34：根据两个前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，可移动子组件包括至少一个可移动块，其中，光学检测器被插入到可移动块中。

实施例35：根据前述实施例中的任一项所述的测试元件分析系统，其中，测量装置还包括至少一个评估装置（具体地，至少一个处理器），以用于评估利用测量装置执行的至少一个测量。

实施例36：一种用于样品（特别是体液）的分析检查的方法，该方法包括：

a）提供具有测试元件接受器的测量装置，所述测试元件接受器用于接收至少一个测试元件，其中，所述测试元件接受器包括至少一个第一部分和至少一个第二部分，其中，所述第一部分包括用于置放所述测试元件的至少一个支撑表面，其中，所述第二部分包括至少一个光学检测器，所述光学检测器用于检测在所述测试元件中包含的至少一种测试化学物质的至少一种检测反应，其中，所述第二部分可相对于所述第一部分移动，

b）将所述第二部分定位在一位置中，使得测试元件可以被插入到所述测试元件接受器中；

c）将所述测试元件插入到所述测试元件接受器中；

d）关闭所述测试元件接受器，使得所述第二部分的至少一个邻接表面静止在所述测试元件上。

实施例37：根据前述实施例所述的方法，其中，该方法包括：使用根据涉及测试元件分析系统的前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统。

实施例38：根据前述方法实施例中的任一项所述的方法，其中，所述方法还包括：

e）通过使用光学检测器来执行至少一个分析测量，所述光学检测器用于检测由测试元件包含的至少一种测试化学物质进行的至少一种检测反应。

实施例39：根据前述方法实施例中的任一项所述的方法，其中，在步骤d）中，光学检测器朝向测试元件移动。

实施例40：根据前述方法实施例中的任一项所述的方法，其中，在执行步骤b）之后，测试场脱离利用光学检测器的聚焦，其中，在执行步骤d）之后，测试场利用光学检测器被聚焦。

附图说明

在优选实施例的随后描述中、优选地结合从属权利要求，将更详细地公开本发明的另外的可选的特征和实施例。在其中，如本领域技术人员将认识到的，可以以孤立方式以及以任何任意可行的组合实现相应的可选特征。本发明的范围不受优选实施例约束。在附图中示意性地描绘实施例。在其中，在这些附图中的相同附图标记指的是相同的或者在功能上相当的元件。

在附图中：

图1A和图1B以透视图（图1A）示出测试元件分析系统的示例性实施例的细节，并且以截面视图（图1B）示出测试元件分析系统的一部分；

图2以截面视图示出测试元件分析系统的示例性实施例的细节；

图3A和图3B以截面视图（图3A）和以透视图（图3B）示出测试元件分析系统的示例性实施例的细节；以及

图4以截面视图示出测试元件分析系统的示例性实施例的细节。

具体实施方式

图1A以透视图示出用于样品的分析检查的测试元件分析系统110的示例性实施例的细节。测试元件分析系统110包括测量装置112。测量装置112包括用于接收至少一个测试元件116的测试元件接受器114。测试元件接受器114包括至少一个第一部分118和至少一个第二部分120。

第一部分118可以形成测试元件接受器114的固定子组件122，且第二部分120可以形成测试元件接受器114的可移动子组件124。具体地，可移动子组件124可以包括至少一个可移动块126。进一步，第二部分120包括至少一个光学检测器128，其用于检测在测试元件116中包含的至少一种测试化学物质的至少一种检测反应。光学检测器128可以被插入或集成到可移动块126中。具体地，光学检测器128可以被插入到可移动子组件124内的至少一个腔130中。

第二部分120可相对于第一部分118移动，如将在下文中更详细地进一步描述地。因此，测试元件分析系统110可以包括至少一个促动器132。促动器132可以配置成用于驱动第一部分118和第二部分120的相对移动。具体地，促动器132可以配置成用于执行预定的移动序列，从而将第二部分120顺序地带到至少一个位置中。进一步，促动器132可以配置成用于分别在至少一个位置中停止移动。进一步，测试元件分析系统110可以包括至少一个控制器134，其用于控制预定的移动序列。此外，测试元件接受器114可以包括至少一个导引元件136，其用于导引第二部分120和第一部分118的相对移动。具体地，导引元件136可以包括至少一个导引轨道138，具体地，至少一个线性导引轨道140。

图1B示出根据图1A的测试元件分析系统110的部分142的截面视图。具体地，在图1B中，示出测试元件116。测试元件116可以放置在第一部分118上。具体地，第一部分118包括至少一个支撑表面144，其用于测试元件116的置放。支撑表面144可以具体地是基本平坦表面146。

测试元件116可以具体地是测试条148。具体地，测试元件116可以具有至少一个载体150和一个盖151，其形成毛细管通道153，该毛细管通道能够将样品运输至测试场152。盖151可以包括开口155，测试化学物质能够被置放到该开口155。进一步，测试元件可以具有至少一个测试场152。测试场152可以包括至少一种测试化学物质154，其用于在存在被包含在样品中的分析物的情况下执行至少一种检测反应。测试化学物质154可以被施加到额外的元件157上，该额外的元件可以是例如透明箔159的透明层。该透明箔159可以以如下方式被安装到盖151，即，被施加在透明箔159上的测试化学物质154面朝毛细管通道153，且被置放在盖151的开口155中。出于如下原因，包括测试化学物质154的测试场152的该布置是有利的：测试化学物质154被置放在与盖151的面对第二部分120且作为用于第二部分120的邻接表面184的接触表面的表面相同的平面中。该布置引起测试场152相对于光学检测器128的精确定位，这独立于测试元件116的所有其他部分，类似于载体150或盖151的厚度或毛细管通道153的厚度。额外地，在使测试化学物质154与样品接触以用于分析检测时可能会发生的测试场152的厚度的增加和膨胀将仅沿朝向毛细管通道153的方向发生。因为光学检测器128的光学聚焦由盖151的面朝第二部分120的表面限定，所以测试场152沿毛细管通道153的方向的膨胀对于光学检测没有影响或者仅仅有减小的影响。测试场152可以提供光学检测区域166。测试化学物质154可以具体地配置成用于执行至少一个可光学地检测的检测反应。测试化学物质154可以具体地是干燥测试化学物质156。测试元件116可以具有背侧158。测试元件116的背侧158可以配置为放置到第一部分118的支撑表面144上。进一步，测试元件116可以具有前侧160。测试元件116的前侧160的至少一个区域162可以配置为用作测试元件接受器114的第二部分120的参考区域164，如将在下文中更详细地进一步描述地。参考区域164可以由盖151的面朝第二部分的一部分的形成。

在图2中，以截面视图示出测试元件分析系统110的细节。如在图2中描绘地，测试元件分析系统110至少在很大程度上对应于如在图1A和图1B中所示出的测试元件分析系统110。因此，可以参考上文中图1A和图1B的描述。

测试元件接受器114配置成将第二部分120定位在至少一个位置中，使得测试元件116可以被插入到测试元件接受器114中。因此，如在图2中所示出，测试元件分析系统110示出处于打开位置168中的第二部分120。由此，第一部分118和第二部分120可以间隔开，使得测试元件116可以被自由地插入到测试元件接受器114内。

第二部分120还可以包括至少一个对准销170，其用于与测试元件116的至少一个对准孔172接合。对准销170和对准孔172可以分别具有圆形截面。进一步，对准销170可以具有末梢174，具体地，渐缩的末梢176。

光学检测器128可以被固定地定位在第二部分120内。第二部分120可以能够相对于第一部分118沿基本上垂直于支撑表面144的方向178移动。进一步，第二部分120、具体地光学检测器128可以能够沿光学检测器128的光学轴线180移动。

图3A和图3B示出测试元件分析系统110的示例性实施例的细节。在图3A中，以截面视图示出测试元件分析系统110，并且在图3B中，以透视图示出测试元件分析系统。如在图3A和图3B中所示出的测试元件分析系统110至少在很大程度上对应于如在图1A至图2中示出的测试元件分析系统110。因此，可以参考在上文中图1A至图2的描述。

如上文所描述地，测试元件接受器114配置成将第二部分120定位在至少一个位置中。测试元件接受器114可配置成使得测试元件116可以被插入到测试元件接受器114中，如在图2中所示出，且随后关闭测试元件接受器114，如在图3A和图3B中所示出。因此，测试元件分析系统110被示出为处于关闭位置182中。在关闭位置182中，第一部分118和第二部分120可以相对于彼此布置，使得至少在很大程度上防止测试元件116从测试元件接受器114的移除。进一步，当第二部分120处于关闭位置182中时，测试元件分析系统110可以配置为执行测量。

第二部分120可以包括至少一个邻接表面184。邻接表面184可以基本上平行于支撑表面144。如在图3A和图3B中描绘地，在关闭位置182中，第二部分120的邻接表面184可以静止在测试元件116上。具体地，在关闭位置182中，邻接表面184平坦地静止在测试元件116上，具体地静止在测试元件116的盖151上。

光学检测器128可以包括至少一个光电检测器186。进一步，光学检测器128可以包括至少一个透镜元件188。透镜元件188可以位于光电检测器186的前方。具体地，邻接表面184可以位于透镜元件188的焦平面190中。因此，邻接表面184还可被称为光学检测器参考区域192。

在测试元件116的光学检测区域166与光学检测器、具体地光学检测器128的光学检测器区域194之间的距离d可以是固定的。在关闭位置中，测试元件116可以因此独立于厚度t。测试元件116的厚度t的改变可以具体地与光学检测器128不相关。

在图4中，示出用于样品的分析检查的测试元件分析系统110的简化实施例的截面视图的细节。测试元件分析系统110包括壳体196，其具有用户接口198，诸如，显示器200以及一个或多个控制元件202。测试元件分析系统110包括至少一个控制器204，作为示例，其可以完全地或者部分地配置为评估装置以用于评估分析。控制器204可以连接至用户接口198。

测试元件分析系统110还包括至少一个测试元件接受器114，其用于接收测试元件116中的一个或多个。测试元件分析系统110还可以包括至少一个光学检测器128，其用于检测样品与测试元件1116所包括的至少一种测试化学物质154（诸如，在至少一个测试场152中所包含的至少一种测试化学物质154）的至少一种分析反应。

测试元件116具体地可以被设计为测试条。光学检测器128可以具有至少一个光源（未描绘）和至少一个光学传感器，以用于对测试场152执行反射（remission）测量。

测试元件分析系统110还可以包括用于加热测试元件116的至少一个加热元件206。加热元件206可以包括面对测试元件116的前表面208（测试元件116可以静止在其上）以及在相对侧上的后表面210。

在前表面208上，可限定有效区域212，该有效区域面对包含测试场152的测试元件116的地带。在有效区域212外部，可限定非有效区域214，如将在下文中更详细地解释地。有效区域212可以通过至少一个热绝缘元件216与非有效区域214分离。

在后表面210上，加热元件206可以包括一个或多个加热器218。进一步，加热元件206可以包括一个或多个热传感器元件220，其用于检测加热元件206的温度。加热器218和热传感器元件220两者都可以直接地或间接地连接至控制器204。

附图标记列表

110 测试元件分析系统

112 测量装置

114 测试元件接受器

116 测试元件

118 第一部分

120 第二部分

122 固定子组件

124 可移动

126 可移动块

128 光学检测器

130 腔

132 促动器

134 控制器

136 导引元件

138 导引轨道

140 线性导引轨道

142 部分

144 支撑表面

146 基本平坦表面

148 测试条

150 载体

151 盖

152 测试场

153 毛细管通道

154 测试化学物质

155 开口

156 干燥测试化学物质

157 额外元件

158 背侧

159 透明箔

160 前侧

162 区域

164 参考区域

166 光学检测区域

168 打开位置

170 对准销

172 对准孔

174 末梢

176 渐缩末梢

178 方向

180 光学轴线

182 关闭位置

184 邻接表面

186 光电检测器

188 透镜元件

190 焦平面

192 光学检测器参考区域

194 光学检测器区域

196 壳体

198 用户接口

200 显示器

202 控制元件

204 控制器

206 加热元件

208 前表面

210 后表面

212 有效区域

214 非有效区域

216 热绝缘元件

218 加热器

220 热传感器元件

Claims (15)

1.一种用于样品的分析检查的测试元件分析系统（110），所述测试元件分析系统包括测量装置（112），所述测量装置（112）包括用于至少部分地接收至少一个测试元件（116）的测试元件接受器（114），其中，所述测试元件接受器（114）包括至少一个第一部分（118）和至少一个第二部分（120），其中，所述第一部分（118）包括用于置放所述测试元件（116）的至少一个支撑表面（144），其中，所述第二部分（120）包括至少一个光学检测器（128），所述光学检测器用于检测在所述测试元件（116）中包含的至少一种测试化学物质（154）的至少一种检测反应，其中，所述第二部分（120）能够相对于所述第一部分（118）移动，其中，所述测试元件接受器（114）配置成将所述第二部分（120）定位在至少一个位置中，使得测试元件（116）能够被插入到所述测试元件接受器（114）中，且随后将所述第二部分（120）定位在关闭位置（182）中，使得所述第二部分（120）的至少一个邻接表面（184）静止在所述测试元件（116）上。

2.根据前述权利要求所述的测试元件分析系统（110），其中，所述光学检测器（128）包括至少一个透镜元件（188），其中，所述邻接表面（184）位于以下中的一者或两者中：所述透镜元件（188）的焦平面（190）、所述光学检测器（128）的基本上理想的物平面。

3.根据前述权利要求所述的测试元件分析系统（110），其中，所述光学检测器（128）包括至少一个光源和至少一个光电检测器（186），其中，所述透镜元件（188）位于所述至少一个光源或所述至少一个光电检测器（186）中的一者或两者的前方。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述光学检测器（128）被固定地定位在所述第二部分（120）内。

5.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述第二部分（120）能够相对于所述第一部分（118）沿基本上垂直于所述支撑表面（144）的方向（178）移动。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试元件分析系统（110）还包括至少一个促动器（132），所述促动器用于驱动所述第一部分（118）和所述第二部分（120）的相对移动，其中，所述促动器（132）配置成用于执行预定的移动序列，从而将所述第二部分（120）顺序地带到至少两个位置中。

7.根据前述权利要求所述的测试元件分析系统（110），其中，所述促动器（132）配置成用于分别在至少两个位置中的一个中停止移动。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试元件分析系统（110）还包括至少一个测试元件（116），所述测试元件具有至少一个载体（150）和至少一种测试化学物质（154），以用于在存在被包含于所述样品中的分析物的情况下执行至少一种检测反应。

9.根据前述权利要求所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试化学物质（154）是干燥测试化学物质（156）。

10.根据前述两项权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，当所述邻接表面（184）静止在所述测试元件（116）上时，所述邻接表面（184）平坦地静止在所述载体（150）上。

11.根据前述三项权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，当所述第二部分（120）相对于所述第一部分（118）移动时，所述邻接表面（184）总是平行于所述第一部分（118）的支撑表面（144）。

12.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述第二部分（120）还包括至少一个对准销（170），所述至少一个对准销用于与所述测试元件（116）的至少一个对准孔（172）接合。

13.根据前述权利要求中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试元件接受器（114）配置成相对于所述第一部分（118）将所述第二部分（120）定位在至少两个不同位置处，所述至少两个不同位置包括打开位置（168）和关闭位置（182）；所述打开位置用于以下中的至少一者：将所述测试元件（116）插入到所述测试元件接受器（114）中、和从所述测试元件接受器（114）移除所述测试元件（116）；所述关闭位置用于执行测量。

14.一种用于样品的分析检查的方法，所述方法包括：

a）提供具有测试元件接受器（114）的测量装置（112），所述测试元件接受器用于接收至少一个测试元件（116），其中，所述测试元件接受器（114）包括至少一个第一部分（118）和至少一个第二部分（120），其中，所述第一部分（118）包括至少一个支撑表面（144）以用于置放所述测试元件（116），其中，所述第二部分（120）包括至少一个光学检测器（128）以用于检测在所述测试元件（116）中包含的至少一种测试化学物质（154）的至少一种检测反应，其中，所述第二部分（120）能够相对于所述第一部分（118）移动，

b）将所述第二部分（120）定位在一位置中，使得测试元件（116）能够被插入到所述测试元件接受器（114）中；

c）将所述测试元件（116）插入到所述测试元件接受器（114）中；

d）关闭所述测试元件接受器（114），使得所述第二部分（120）的至少一个邻接表面（184）静止在所述测试元件（116）上。

15.根据前述方法权利要求中的任一项所述的方法，其中，在执行步骤b）之后，所述测试场（152）脱离利用所述光学检测器（128）的聚焦，其中，在执行步骤d）之后，所述测试场（152）利用所述光学检测器（128）被聚焦。