KR102227900B1 - 샘플의 분석 검사를 위한 테스트 엘리먼트 분석 시스템 - Google Patents

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Abstract

샘플의 분석 검사를 위한 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 및 샘플의 분석 검사를 위한 방법이 개시된다. 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 측정 디바이스 (112) 를 포함하고, 상기 측정 디바이스 (112) 는 적어도 하나의 테스트 엘리먼트 (116) 를 적어도 부분적으로 수용하기 위한 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 을 포함하며, 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 은 적어도 하나의 제 1 부분 (118) 및 적어도 하나의 제 2 부분 (120) 을 포함하고, 상기 제 1 부분 (118) 은 상기 테스트 엘리먼트 (116) 의 배치를 위한 적어도 하나의 지지면 (144) 을 포함하고, 상기 제 2 부분 (120) 은 테스트 엘리먼트 (116) 에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질 (154) 의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기 (128) 를 포함하며, 상기 제 2 부분 (120) 은 상기 제 1 부분 (118) 에 대해 이동가능하고, 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 은 테스트 엘리먼트 (116) 가 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 내로 삽입될 수도 있도록 하는 적어도 하나의 위치에 상기 제 2 부분 (120) 을 포지셔닝하고, 그 후에 상기 제 2 부분 (120) 의 적어도 하나의 접합면 (184) 이 상기 테스트 엘리먼트 (116) 상에 놓이도록 하는 폐쇄 위치에 상기 제 2 부분 (120) 을 포지셔닝하도록 구성된다.

Description

샘플의 분석 검사를 위한 테스트 엘리먼트 분석 시스템
본 발명은 샘플의 분석 검사를 위한 테스트 엘리먼트 분석 시스템 및 샘플, 특히 체액의 분석 검사 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 디바이스들 및 방법들은 주로 체액의 샘플과 같은 샘플에서 적어도 하나의 분석물을 정성적으로 또는 정량적으로 검출하고 및/또는 샘플의 적어도 하나의 파라미터를 결정하는 분야에서 사용될 수도 있다. 다른 적용 분야들이 가능하다.
의료 기술 및 진단 분야에서, 샘플, 특히 체액과 같은 유체 샘플에서 하나 이상의 분석물들의 존재 및/또는 농도를 결정하고, 및/또는 샘플의 적어도 하나의 파라미터를 결정하기 위한 다수의 디바이스들 및 방법들이 알려져 있다. 본 발명의 범위를 제한하지 않고, 하기에서, 주로 혈액 샘플들에서 응고 파라미터 또는 분석물 농도의 결정, 예를 들어 혈당 또는 케톤 신체 농도의 결정이 참조된다. 예를 들어, Accu-Chek Active 시스템, Accu-Chek Mobile 시스템, Reflotron 시스템 또는 cobas h 232 Point-of-Care-System 과 같은 상업적으로 입수가능한 디바이스들 및 시스템들이 모두 독일의 Roche Diagnostics GmbH 에 의해 참조될 수도 있다. 그러나, 다른 유형의 샘플 또는 다른 유형의 분석물 또는 파라미터가 유사한 방식으로 사용될 수도 있음에 유의해야 한다.
빠르고 간단한 측정을 수행하기 위해, 분석물을 검출하기 위한 검출 반을을 수행하거나 파라미터를 결정하기 위해 구성된, 하나 이상의 테스트 화학물들의 사용, 즉 하나 이상의 화학 물질들, 하나 이상의 화학 화합물들 또는 하나 이상의 화학 혼합물들의 사용에 기초하는 여러 유형의 테스트 엘리먼트가 알려져 있다. 테스트 화학물질은 종종 테스트 물질, 테스트 시약, 테스트 화학물 또는 검출 물질로도 지칭된다. 본 발명 내에서 사용될 수도 있는 잠재적 테스트 화학물질 및 그러한 테스트 화학물질을 포함하는 테스트 엘리먼트의 세부 사항에 대해서는 J. Hoenes 등: The Technology Behind Glucose Meters: Test Strips, Diabetes Technology & Therapeutics, Vol. 10, Supplement 1, 2008, S-10 내지 S-26 이 참조될 수도 있다. 다른 유형들의 테스트 엘리먼트들 및/또는 테스트 물질들이 가능하며, 본 발명 내에서 사용될 수도 있다.
하나 이상의 테스트 화학물질을 사용함으로써, 검출 반응이 개시될 수도 있으며, 그 과정은 적어도 하나의 분석물의 존재 및/또는 농도 또는 결정될 파라미터에 의존한다. 검출 반응은 바람직하게는 분석물에 특정될 수도 있다. 통상적으로, 본 발명에서의 경우에 따라, 테스트 화학물질은 분석물이 체액에 존재할 때 적어도 하나의 검출 반응을 수행하도록 적응되며, 여기서 검출 반응의 규모 및/또는 정도는 통상적으로 분석물의 농도에 의존한다. 일반적으로, 테스트 화학물질은 분석물의 존재시 검출 반응을 수행하도록 적응될 수도 있고, 여기서 체액 및 테스트 화학물질 중 적어도 하나의 적어도 하나의 검출가능한 특성은 검출 반응으로 인해 변화된다. 적어도 하나의 검출가능한 특성은 일반적으로 물리적 특성 및 화학적 특성 중에서 선택될 수도 있다. 다음에서, 잠재적인 다른 실시형태들을 제한하지 않고, 적어도 하나의 전기적 특성 및 적어도 하나의 광학적 특성 중 하나 이상과 같은 하나 이상의 물리적 특성이 검출 반응으로 인해 변화되는, 검출 반응이 주로 참조될 것이다. 또한, 대안적인 해결책을 제한하지 않고, 광학적으로 검출가능한 적어도 하나의 화학적 특성이 변화되는 검출 반응, 즉 광학 테스트 엘리먼트가 참조될 것이다. 그러나, 결합된 광학 및 전기 테스트 엘리먼트와 같은 다른 테스트 엘리먼트도 또한 사용가능하다.
측정 디바이스 및 테스트 엘리먼트를 사용하는 통상적인 광학 분석물 측정 시스템에서의 한가지 기술적 과제는 테스트 엘리먼트, 특히 테스트 엘리먼트의 테스트 분야에 대한 광학 검출기의 정확하고 정밀한 포지셔닝에 있다. 통상적인 광학 측정 시스템에서, 테스트 엘리먼트에 대한 지지면과 광학 검출기 사이에는 고정된 거리가 주어진다. 그러나, 테스트 엘리먼트의 광학 검출 영역 또는 테스트 필드와 기기 내의 광학 시스템 간의 허용오차 체인은 다소 길며, 그 중에서도 기기 내부의 테스트 엘리먼트의 포지셔닝 허용오차, 기기의 기계 및 광학 부분의 허용오차, 및 추가적으로 어셈블링의 허용오차를 포함한다. 이 체인의 결과로, 총 허용오차는 다소 높다. 따라서 측정 광학의 피사계 심도 (filed of depth) 는 통상적으로, 측정이 수행될 때마다 테스트 엘리먼트의 광학 검출 영역이 초점이 맞도록 보장하기 위해, 광범위를 포괄하는데 적합해야 한다. 이들 타겟들은 일반적으로 광학 측정 시스템에 강력한 제한을 부과한다.
추가의 과제는 통상적으로 다양한 유형의 테스트 엘리먼트가 존재한다는 사실에 있다. 따라서, 동일한 시스템에 있는 것은 여러 유형의 테스트 엘리먼트와 함께 사용될 수도 있다. 그러나, 테스트 엘리먼트는 통상적으로 두께가 다양하다. 따라서, 테스트 엘리먼트가 광학 검출기와 초점이 맞게 하는, 즉 테스트 엘리먼트의 광 검출 영역 또는 테스트 필드를 광학 검출기의 초점 범위에 가져오는데 있어 상기 언급된 문제가 더욱 증가된다. 테스트 엘리먼트의 두께 변화들은 허용오차 체인과 합쳐지고, 그에 따라 피사계 심도에 대한 기술적 과제와 요건을 추가로 증가시킨다.
WO 2011/082344 A2 는 챔버 내에 정적으로 (quiescently) 상주하는 생물학적 유체 샘플을 이미징하는 방법 및 장치를 개시한다. 그 방법은: a) 렌즈 축을 갖는 대물 렌즈에 대하여 Z 축 위치에 챔버를 포지셔닝하는 단계 (상기 Z 축은 렌즈 축과 평행함); b) 챔버와 대물 렌즈 중 하나 또는 양자를 Z 축을 따른 속도로 서로에서 대해 이동시키는 단계; 및 c) 챔버와 대물 렌즈 중 하나 또는 양자가 Z 축을 따라 초점 탐색 범위 내에서 서로에 대한 속도로 이동할 때 생물학적 유체 샘플의 하나 이상의 이미지들을 생성하는 단계를 포함한다.
전술한 종래 기술에 의해 달성되는 장점에도 불구하고, 몇 가지 기술적 과제가 남아있다. 따라서, 특히, WO 2011/082344 A2 에 개시된 디바이스 및 방법은 통상적으로 복수의 이미지를 획득하는 것을 포함하여, 샘플에 대한 광학 검출기의 포지셔닝을 최적화하기 위해 많은 시간과 노력을 요구한다. 오히려 자원 소비적인 광범위한 계산 알고리즘이 사용된다. 또한, 셋업은 소형 핸드헬드 디바이스들 또는 통합된 실험실 디바이스들에 적합하지 않은 이 기술을 제공하는 샘플 이동을 위해 볼륨있는 액터와 공간을 요구한다.
따라서, 본 발명의 목적은 이러한 기술적 과제를 해결하는 디바이스 및 방법을 제공하는 것이다. 특히, 광학 검출기에 대한 테스트 엘리먼트의 간단하고, 정밀하고 신속한 정렬을 허용하는, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 및 샘플을 분석하기 위한 방법이 개시되어야 한다.
이러한 문제는, 독립 청구항들의 특징부와 함께, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 및 샘플의 분석 검사를 위한 방법에 의해 해결된다. 격리된 방식으로 또는 어떠한 임의의 조합으로 실현될 수도 있는 선호된 실시형태들은 종속 청구항들에 나열된다.
다음에서 사용되는 바와 같이, 용어들 "갖는다 (have)", "구비한다 (comprise)" 또는 "포함한다 (include)" 또는 그 어떠한 임의의 문법적 변형물들은 비-배타적인 방식으로 사용된다. 따라서, 이들 용어들은, 이들 용어들에 의해 도입되는 특징에 더해서, 어떤 추가적인 특징들도 이 문맥에서 설명된 엔터티에 존재하지 않는 상황 및 하나 이상의 추가적인 특징들이 존재하는 상황 양쪽을 지칭할 수도 있다. 일 예로서, 표현들 "A 는 B 를 갖는다", "A 는 B 를 구비한다" 및 "A 는 B 를 포함한다" 는, B 이외에, A 에 다른 엘리먼트가 존재하지 않는 상황 (즉, A 가 단독으로 및 배타적으로 B 로 구성되는 상황), 및 B 이외에, 엔터티 A 에 엘리먼트 C, 엘리먼트들 C 및 D 또는 더 추가적인 엘리먼트들과 같은 하나 이상의 추가적인 엘리먼트들이 존재하는 상황 양자 모두를 지칭할 수도 있다.
추가로, 특징 또는 엘리먼트가 1 회 또는 1 회 초과로 존재할 수도 있음을 표시하는 용어들 "적어도 하나", "하나 이상" 또는 유사한 표현들은 개별 특징 또는 엘리먼트를 도입할 때 통상적으로 오직 1 회만 사용될 것임이 주목될 것이다. 다음에서, 대부분의 경우, 개별 특징 또는 엘리먼트를 지칭할 때, 표현들 "적어도 하나" 또는 "하나 이상" 은, 개별 특징 또는 엘리먼트가 1 회 또는 1 회 초과로 존재할 수도 있다는 사실에도 불구하고, 반복되지 않을 것이다.
추가로, 다음에서 사용되는 바와 같이, 용어들 "바람직하게", "더 바람직하게", "특히", "더 특히", "구체적으로", "더 구체적으로" 또는 유사한 용어들은 대안적인 가능성들을 제한하지 않고도 옵션적인 특징들과 함께 사용된다. 따라서, 이들 용어들에 의해 도입된 특징들은 옵션적인 특징들이고, 어떠한 방식으로든 청구항들의 범위를 제한하도록 의도되지 않는다. 본 발명은, 당업자가 인식할 바와 같이, 대안적인 특징들을 사용함으로써 수행될 수도 있다. 유사하게, "본 발명의 일 실시형태에 있어서" 또는 유사한 표현들에 의해 도입된 특징들은, 본 발명의 대안적인 실시형태들에 관한 어떠한 제한없이, 본 발명의 범위에 관한 어떠한 제한들없이, 그리고 본 발명의 다른 옵션적인 또는 비-옵션적인 특징들과 그러한 방식으로 도입된 특징들을 결합할 가능성에 관한 어떠한 제한없이, 옵션적인 특징들인 것으로 의도된다.
본 발명에서 일반적으로 사용되는 바와 같이, 용어 "환자" 및 "사용자" 는 각각 인간 또는 동물이 각각 건강한 상태에 있을 수도 있거나 또는 하나 이상의 질병들에 걸릴 수도 있다는 사실과는 독립적으로, 인간 또는 동물을 지칭할 수도 있다. 예를 들어, 환자 또는 사용자는 당뇨병에 걸린 인간 또는 동물일 수도 있다. 그러나, 부가적으로 또는 대안적으로, 본 발명은 다른 유형의 사용자 또는 환자 또는 질병에 적용될 수도 있다.
본 발명의 제 1 양태에 있어서, 샘플의 분석 검사를 위한 테스트 엘리먼트 분석 시스템이 개시된다. 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 측정 디바이스를 포함한다. 측정 디바이스는 하나 이상의 테스트 엘리먼트, 특히 테스트 스트립을 적어도 부분적으로, 즉 완전히 또는 부분적으로 수용하기 위한 테스트 엘리먼트 리셉터클을 포함한다. 테스트 엘리먼트 리셉터클은 적어도 하나의 제 1 부분 및 적어도 하나의 제 2 부분을 포함한다. 제 1 부분은 테스트 엘리먼트의 배치를 위한 적어도 하나의 지지면을 포함한다. 제 2 부분은 테스트 엘리먼트에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기를 포함한다. 제 2 부분은 제 1 부분에 대해 이동가능하다. 또한, 테스트 엘리먼트 리셉터클은 테스트 엘리먼트가 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로 삽입될 수도 있도록 하는 적어도 하나의 위치에 제 2 부분을 포지셔닝하고, 그 후에 제 2 부분의 적어도 하나의 접합면이 테스트 엘리먼트 상에 놓이도록 하는 폐쇄 위치에 제 2 부분을 포지셔닝하도록 구성된다.
본원에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "시스템" 은 전체를 형성하는 상호작용하는 또는 상호 의존적인 구성요소 부분들의 임의의 세트를 지칭한다. 구체적으로, 구성요소들은 적어도 하나의 공통 기능을 수행하기 위해 서로 상호작용할 수도 있다. 적어도 2 개의 구성요소들은 독립적으로 취급될 수도 있거나 또는 커플링되거나 연결가능할 수도 있다. 따라서, 용어 "테스트 엘리먼트 분석 시스템" 은 일반적으로 적어도 하나의 분석 검출, 구체적으로 샘플의 적어도 하나의 분석물의 적어도 하나의 분석 검출을 수행하기 위해 서로 상호 작용할 수 있는 적어도 2 개의 엘리먼트 또는 구성요소의 그룹을 지칭한다. 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 일반적으로 분석 시스템, 분석 키트, 센서 시스템 또는 측정 시스템으로도 지칭될 수도 있다.
본 명세서에서 더 사용된 바와 같이, 용어 "샘플" 은 분석, 테스트 또는 조사를 위해 취해진 임의의 재료 또는 재료의 조합을 지칭할 수도 있다. 샘플은 더 많은 양과 유사하고 더 많은 양을 표현하려고 하는 제한된 양의 무엇일 수도 있다. 그러나, 샘플은 또한, 전체 표본을 포함할 수도 있다. 샘플은 고체 샘플, 액체 샘플 또는 기체 샘플 또는 이들의 조합일 수도 있다. 구체적으로, 샘플은 유체 샘플, 즉 완전히 또는 부분적으로 액체 상태 및/또는 가스 상태에 있는 샘플일 수도 있다. 샘플의 양은 그 부피, 질량 또는 크기와 관련하여 기술가능할 수도 있다. 그러나, 다른 치수들도 가능하다. 샘플은 단지 하나의 재료 또는 단지 하나의 화합물을 포함할 수도 있다. 대안적으로, 샘플은 몇 가지 재료 또는 화합물을 포함할 수도 있다.
용어 "분석물" 은 일반적으로 샘플에 존재할 수도 있는 임의의 엘리먼트, 성분 또는 화합물을 지칭하며, 그 존재 및/또는 농도는 사용자, 환자 또는 의사와 같은 의료진에게 관심이 있을 수도 있다. 특히, 분석물은 적어도 하나의 대사물과 같이 사용자 또는 환자의 신진 대사에 참여할 수도 있는 임의의 화학 물질 또는 화학 화합물일 수도 있거나 이를 포함할 수도 있다. 적어도 하나의 분석물의 검출은 구체적으로 분석물 특정 검출일 수도 있다.
본 명세서에서 더 사용된 바와 같이, 용어 "체액" 은 전형적으로 사용자 또는 환자의 신체 또는 신체 조직에 존재하고 및/또는 사용자 또는 환자의 신체에 의해 생성될 수도 있는 유체를 지칭할 수도 있다. 신체 조직의 일 예로서, 간질 조직 (interstitial tissue) 이 명명될 수도 있다. 따라서, 일 예로서, 체액은 혈액 및 간질액으로 구성된 군으로부터 선택될 수도 있다. 그러나, 부가적으로 또는 대안적으로 타액, 눈물, 소변 또는 다른 체액과 같은 하나 이상의 다른 유형의 체액이 사용될 수도 있다. 따라서, 보다 상세히 후술되는 바와 같이, 센서는 신체 조직에서 적어도 하나의 분석물을 검출하도록 구성될 수도 있다.
용어 "분석 검사" 는 일반적으로 적어도 하나의 분석물의 존재 및/또는 양 및/또는 농도를 결정하는 프로세스 또는 포도당과 같은 샘플의 특성들을 특징으로 하는 샘플의 파라미터를 결정하는 프로세서를 지칭할 수도 있다. 분석 검사는 간단히 적어도 하나의 분석물의 존재 또는 적어도 하나의 분석물의 부재를 결정하는 질적 검출일 수도 있거나 또는 이를 포함할 수도 있고, 및/또는 적어도 하나의 분석물의 양 및/또는 농도를 결정하는 양적 검출일 수도 있거나 또는 이를 포함할 수도 있다. 검출의 결과로서, 적어도 하나의 측정 신호와 같이, 검출 결과를 특징짓는 적어도 하나의 신호가 생성될 수도 있다. 적어도 하나의 측정 신호는 구체적으로 적어도 하나의 전압 및/또는 적어도 하나의 전류와 같은 적어도 하나의 전자 신호일 수도 있거나 또는 이를 포함할 수도 있고 및/또는 그 신호로 완전히 또는 부분적으로 변환될 수도 있다. 적어도 하나의 신호는 적어도 하나의 아날로그 신호일 수도 있거나 또는 이를 포함할 수도 있고 및/또는 적어도 하나의 디지털 신호일 수도 있거나 또는 이를 포함할 수도 있다.
전술한 바와 같이, 측정 디바이스는 적어도 부분적으로 적어도 하나의 테스트 엘리먼트를 수용하기 위한 테스트 엘리먼트 리셉터클을 포함한다. 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 적어도 하나의 테스트 엘리먼트를 더 포함할 수도 있다. 용어 "테스트 엘리먼트" 는 일반적으로 샘플 내의 분석물을 검출하거나 또는 샘플의 파라미터를 검출하는 것이 가능한 임의의 디바이스를 지칭할 수도 있다. 테스트 엘리먼트는 구체적으로 스트립형 테스트 엘리먼트일 수도 있다. 본원에 사용된 바와 같이, 용어 "스트립형 (strip-shaped)" 은 신장된 형상 및 두께를 갖는 엘리먼트를 지칭하며, 여기서 측면 치수에 있어서 엘리먼트의 연장은 엘리먼트의 두께를 예컨대, 적어도 2 배까지, 바람직하게 적어도 5 배까지, 보다 바람직하게 적어도 10 배까지, 가장 바람직하게는 적어도 20 배 또는 심지어 적어도 30 배까지 초과한다. 따라서, 테스트 엘리먼트는 또한 테스트 스트립으로 지칭될 수도 있다.
테스트 엘리먼트는 샘플에 함유된 분석물의 존재시 적어도 하나의 검출 반응을 수행하기 위해 적어도 하나의 테스트 화학물질 및 적어도 하나의 캐리어를 가질 수도 있다. 본 명세서에서 더 사용된 바와 같이, 용어 "캐리어" 는 다른 대상을 보유 또는 운반하도록 구성된, 평면 엘리먼트와 같은 임의의 엘리먼트를 지칭할 수도 있다. 따라서, 캐리어는 또한 물질로 지칭될 수도 있다. 또한, 캐리어는 구체적으로 스트립형 캐리어일 수도 있다. 테스트 화학물로도 지칭되는 용어 "테스트 화학물질" 은 분석물의 존재시 적어도 하나의 검출가능한 특성을 변화시키도록 적응된 임의의 재료 또는 재료들의 조성을 지칭할 수도 있다. 구체적으로, 이 특성은 색 변화 및/또는 경감 특성의 변화와 같은 광학적으로 검출가능한 특성일 수도 있다. 구체적으로, 테스트 화학물질은 분석물이 테스트 엘리먼트에 적용된 체액의 샘플에 존재하는 경우에만 특성을 변화시키는, 고도 선택 테스트 화학물질일 수도 있지만, 분석물이 존재하지 않는 경우에는 어떤 변화도 발생하지 않는다. 보다 바람직하게는, 특성의 정도 또는 변화는 분석물의 정량적 검출을 허용하기 위해, 체액에서의 분석물의 농도에 의존할 수도 있다. 예시적으로, 테스트 화학물질은 건식 테스트 화학물질일 수도 있다. 본 명세서에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "건식 (dry)" 은 적어도 수분이 매우 부족한 임의의 화학물질의 특성을 지칭할 수도 있다.
테스트 화학물질은 적어도 하나의 광학적으로 검출가능한 검출 반응을 수행하도록 구체적으로 구성될 수도 있다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, 용어 "광학적으로 검출가능한 검출 반응" 은 컬러 변화 및/또는 경감 특성들의 변화와 같은 샘플에서 분석물의 존재 및/또는 농도에 의존하여 검출 반응으로 생성되거나 변환되는 부가 화합물 또는 분석물 자체의 광학적으로 검출가능한 특성의 검출을 지칭한다. 광학적으로 검출가능한 검출 반응은 분석물 특정적일 수도 있다. 또한, 광학적으로 검출가능한 검출 반응은 정성적 및/또는 정량적 검출일 수도 있다.
예시적으로, 테스트 엘리먼트는 적어도 하나의 테스트 화학물질을 포함하는 적어도 하나의 테스트 필드를 가질 수도 있다. 본원에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "테스트 필드" 는 대상의 임의의 영역 또는 지역을 지칭할 수도 있고, 여기서 임의의 측정, 구체적으로 분석 측정이 수행된다. 구체적으로, 테스트 필드는 분석물 또는 파라미터에 대해 특징적인 적어도 하나의 변화를 수행하는 것이 가능할 수도 있다. 위에서 설명된 것과 같은 테스트 화학물질은 테스트 필드 내에, 특히 테스트 필드의 적어도 하나의 표면 상에 로케이팅될 수도 있다. 따라서, 테스트 필드는 측정 존 또는 측정 필드로도 지칭될 수도 있다. 또한, 테스트 엘리먼트는 샘플을 수용하도록 구성된 적어도 하나의 모세관을 포함할 수도 있다. 용어 "모세관" 은 일반적으로 소형 튜브와 같은 임의의 소형의 긴 공극 용적을 지칭한다. 일반적으로, 모세관은 밀리미터 또는 서브-밀리미터 범위의 치수들을 포함할 수도 있다. 통상적으로, 유체 매질은 모세관 작용에 의해 모세관을 통해 이동할 수도 있는데, 여기서 유체 매질은 유체 매질과 유체 매질을 대면하는 모세관의 표면 사이의 분자간 힘에 기인한 중력과 같은 외부 힘의 도움없이 모세관의 좁은 공간들에서 흐를 수도 있다.
앞서 설명된 것과 같이, 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 측정 디바이스를 포함한다. 본 명세서에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "측정 디바이스" 는 적어도 하나의 신호를 검출하도록 구성된 임의의 디바이스, 바람직하게는 전자 디바이스를 지칭할 수도 있다. 신호는 광학 신호 및/또는 전기화학적 신호일 수도 있다. 측정 디바이스는 테스트 엘리먼트와 독립적으로 처리될 수도 있고, 에컨대 적어도 하나의 신호를 검출함으로써 분석을 수행하기 위해 테스트 엘리먼트와 상호 작용하도록 적응될 수도 있다. 따라서, 용어 "측정 디바이스" 는 종종 측정 디바이스로서, 분석 디바이스로서, 계측기로서 또는 테스트 디바이스로서도 지칭될 수도 있다. 측정 디바이스는 측정 디바이스로 수행된 적어도 하나의 측정을 평가하기 위한 적어도 하나의 평가 디바이스, 특히 적어도 하나의 프로세서를 더 포함할 수도 있다. 본 명세서에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "평가 디바이스" 는 데이터로부터 적어도 하나의 정보 아이템을 도출하도록 구성된 임의의 디바이스를 지칭할 수도 있다. 특히, 평가 디바이스는 적어도 하나의 신호로부터 체액 내의 분석물의 존재 및/또는 농도 또는 체액의 파라미터에 관한 적어도 하나의 정보 항목을 도출하도록 구성 될 수있다.
전술한 바와 같이, 측정 디바이스는 적어도 부분적으로 적어도 하나의 테스트 엘리먼트를 수용하기 위한 테스트 엘리먼트 리셉터클을 포함한다. 본 명세서에서 더 사용 된 바와 같이, 용어 "리셉터클" 은 일반적으로, 다른 대상을 적어도 부분적으로 수용하거나 또는 보유하도록 구성된 임의의 엘리먼트의 자유 체적을 지칭할 수도 있다. 따라서, 리셉터클은 다른 대상에 대응하는 형상을 가질 수도 있거나 그 반대일 수도 있다. 예시적으로, 다른 대상 또는 다른 대상의 적어도 삽입가능한 부분은 직사각형 형상을 가질 수도 있고, 리셉터클도 또한 직사각형 형상을 가질 수도 있다. 용어 "테스트 엘리먼트 리셉터클" 은 일반적으로 임의의 테스트 엘리먼트를 수용하거나 보유하도록 구성된 임의의 리셉터클을 지칭할 수도 있다. 테스트 엘리먼트 리셉터클은 종방향 축을 따라 연장되는 긴 형상을 가질 수도 있다. 따라서, 테스트 엘리먼트 리셉터클은 적어도 광범위하게 테스트 엘리먼트의 단면에 대응하고 테스트 엘리먼트가 삽입될 수도 있는 단면을 갖는 연장된 채널 또는 개구를 제공할 수도 있다. 다른 실시형태들이 가능할 수도 있다. 테스트 엘리먼트는 구체적으로, 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로 가역적으로 배치되도록 구성될 수도 있다. 구체적으로, 테스트 엘리먼트는 적어도 하나의 방향으로의 테스트 엘리먼트의 이동이 적어도 상당히 억제될 수도 있도록, 테스트 엘리먼트 리셉터클 내의 특정 위치에 위치되도록 구성될 수도 있다. 따라서, 테스트 엘리먼트의 테스트 필드는 측정 디바이스에 대해 미리 결정된 위치에 로케이팅될 수도 있다. 또한, 테스트 스트립 리셉터클 내부에는, 테스트 스트립에 전기적으로 및/또는 광학적으로 접촉하기 위해 하나 이상의 포트들 또는 인터페이스들이 제공될 수도 있다. 인터페이스는 예시적으로 하나 이상의 포트일 수도 있거나 또는 이를 포함할 수도 있다. 부가적으로 또는 대안적으로, 다른 종류의 인터페이스가 가능할 수도 있다.
또한, 테스트 엘리먼트 리셉터클은 적어도 하나의 포지셔닝 엘리먼트를 포함할 수도 있다. 또한, 포지셔닝 엘리먼트는 이젝터 엘리먼트일 수도 있다. 포지셔닝 엘리먼트는 테스트 엘리먼트의 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로의 삽입을 제한하도록 구성될 수도 있다. 구체적으로, 포지셔닝 엘리먼트는 테스트 엘리먼트의 삽입 방향으로 이동가능할 수도 있고, 포지셔닝 엘리먼트는 테스트 엘리먼트 리셉터클이 개방 위치에 있을 때, 사용 후에 테스트 엘리먼트를 방출하도록 구성될 수도 있다.
앞서 설명된 것과 같이, 테스트 엘리먼트 리셉터클은 적어도 하나의 제 1 부분 및 적어도 하나의 제 2 부분을 포함한다. 본 명세서에서 추가로 사용되는 바와 같이, 용어 "부분" 은 대상의 임의의 구성요소를 지칭한다. 따라서, 여러 구성요소들이 서로 상호작용하여 전체를 형성할 수도 있다. 대상의 구성요소들은 독립적으로 취급될 수도 있거나 또는 서로 커플링되거나 연결가능할 수도 있다. 용어 "제 1 부분" 및 "제 2 부분" 은 명명된 엘리먼트들을 넘버링 또는 랭킹하지 않고, 순서를 지정하지 않고 그리고 여러 종류의 제 1 부분들과 제 2 부분들이 존재할 수도 있는 가능성을 제외하고, 오직 명명법으로 만 간주될 수도 있다. 또한, 하나 이상의 제 3 부분들과 같은 부가적인 부분들이 존재할 수도 있다.
전술한 바와 같이, 제 1 부분은 테스트 엘리먼트를 배치하기 위한 지지면을 포함한다. 본원에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "지지면" 은 임의의 엘리먼트를 보유하도록 구성된 임의의 표면을 지칭한다. 구체적으로, 지지면은 엘리먼트에 대한 밀접한 연결을 확립하도록 구성될 수도 있다. 따라서, 상기 엘리먼트는 지지면 상에 느슨하게 놓이도록 구성될 수도 있다. 따라서,지지면은 본질적으로 편평한 면일 수도 있다. 구체적으로, 접합면은 지지면과 본질적으로 평행할 수도 있다. 따라서, 용어 "본질적으로 평행한" 은 지지면에 평행한 접합면의 특성을 지칭할 수도 있다. 예시적으로, 접합면은 지지면과 정확히 평행할 수도 있다. 그러나, 작은 일탈들이 가능할 수도 있다. 구체적으로, 접합면은 지지면에 +/- 20°, 바람직하게는 +/- 10°, 보다 바람직하게는 +/- 5° 의 각도로 배열될 수도 있다.
앞서 설명된 것과 같이, 제 2 부분은 테스트 엘리먼트에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기를 포함한다. 본 명세서에서 추가로 사용되는 바와 같이, 용어 "검출기" 는 그 환경에서의 이벤트들 또는 변화들을 검출하고 대응하는 출력을 제공하도록 구성된 임의의 디바이스를 지칭할 수도 있다. 용어 "광학 검출기 (optical detector)" 는 일반적으로 전자기 방사, 바람직하게는 적외선 및/또는 가시광 및/또는 자외선 스펙트럼 범위의 광을 수신하도록 구성된 임의의 광학 기기를 지칭할 수도 있다. 따라서, 광학 검출기는 국부적으로 저장되거나, 다른 로케이션으로 송신되거나 또는 이들 양자일 수도 있는 이미지들을 기록하도록 구성될 수도 있다. 광학 검출기는 적어도 하나의 광원 및 적어도 하나의 광 검출기를 포함할 수도 있다. 또한, 광학 검출기는 적어도 하나의 렌즈 엘리먼트를 포함할 수도 있다. 접합면은 렌즈 엘리먼트의 초점면 및/또는 광학 검출기의 본질적으로 이상적인 대상 평면 중 하나 또는 양자에 로케이팅될 수도 있다.
전술한 바와 같이, 접합면은 광학 검출기의 본질적으로 이상적인 대상 평면에 위치될 수도 있다. 용어 "대상 평면" 은 이미징 광학 시스템의 경우에 광학 축에 수직이고 적어도 하나의 대상 지점을 포함할 수도 있는 평면을 지칭할 수도 있다. 따라서, 제 2 부분이 테스트 엘리먼트 상에 놓일 때, 테스트 필드는 광학 검출기와 초점이 맞을 수도 있다. 이상적인 경우에, 하나의 대상 평면에 위치한 모든 대상 지점이 하나의 이미지 평면 상에 투영된다. 그러나, 수차 (aberration) 로 인해, 이미지 평면은 만곡될 수도 있다. 따라서, 본 명세서에 사용된 바와 같이, 용어 "본질적으로 이상적인 대상 평면" 은 예컨대, +/- 10°, 바람직하게는 +/- 5°, 더 바람직하게는 +/- 1° 의 허용오차로, 광학축에 본질적으로 수직하는 평면을 지칭할 수도 있다. 따라서, 접합면이 테스트 엘리먼트 상에 놓일 때, 테스트 엘리먼트의 테스트 필드는 광학 검출기와 초점이 맞을 수도 있다.
렌즈 엘리먼트는 적어도 하나의 광원 또는 적어도 하나의 광 검출기 중 하나 또는 양자의 전방에 위치될 수도 있다. 검출기는 제 2 부분에 완전히 또는 부분적으로 포함될 수도 있다. 구체적으로, 광학 검출기는 제 2 부분 내에 고정되어 포지셔닝될 수도 있다. 광학 검출기는 테스트 엘리먼트상의 추가 광학 정보를 평가하도록 구성될 수도 있다. 예시적으로, 테스트 엘리먼트는 바 코드를 가질 수도 있고, 광학 검출기는 바코드를 평가하도록 구성될 수도 있다. 광학 검출기는 테스트 엘리먼트에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하는 것과 결합하여 추가의 광학 정보를 평가하도록 구성될 수도 있다. 대안적으로, 광학 검출기는 테스트 엘리먼트에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하는 것과 분리하여 추가의 광학 정보를 평가하도록 구성될 수도 있다.
또한, 전술한 바와 같이, 제 2 부분은 적어도 하나의 접합면을 포함한다. 본 명세서에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "접합면" 은 표면 상에 위치되는 대상을 지지하도록 구성된 임의의 엘리먼트의 표면을 지칭할 수도 있다. 따라서, 접합면은 구체적으로 테스트 엘리먼트에 대한 접촉면을 제공하는 편평하고 긴 표면일 수도 있거나 또는 이를 포함할 수도 있다. 또한, 테스트 엘리먼트의 이동은 적어도 하나의 방향에서 적어도 상당히 방지될 수도 있다. 접합면은 테스트 엘리먼트 리셉터클이 폐쇄될 때 테스트 엘리먼트 상에, 구체적으로 테스트 엘리먼트의 커버 상에 편평하게 놓일 수도 있다. 제 2 부분이 제 1 부분에 대해 이동될 때, 접합면은 테스트 엘리먼트의 캐리어와 본질적으로 평행하지 않아야 한다. 폐쇄 위치에서, 이는 제 2 부분 상에 로케이팅된 접합면과 제 1 부분의 지지면 사이에 테스트 엘리먼트의 캐리어를 클램핑함으로써 테스트 엘리먼트의 캐리어에 본질적으로 평행하다. 따라서, 용어 "본질적으로 평행한" 은 캐리어에 평행한 접합면의 특성을 지칭할 수도 있다. 예시적으로, 접합면은 캐리어와 정확히 평행할 수도 있다. 그러나, 작은 일탈들이 가능할 수도 있다. 구체적으로, 접합면은 캐리어에 +/- 20°, 바람직하게는 +/- 10°, 보다 바람직하게는 +/- 5° 의 각도로 배열될 수도 있다. 결과적으로, 테스트 화학물질의 팽창으로 인해 예시적으로 발생할 수도 있는 에러들의 체인이 감소될 수도 있다.
구체적으로, 접합면은 테스트 화학물질을 갖는 테스트 필드의 옆에 배열될 수도 있다. 또한, 접합면은 테스트 필드로부터 분리될 수도 있다. 따라서, 테스트 화학물질은 테스트 엘리먼트의 전면에 위치될 수도 있으며, 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 예시적으로 위에서 설명한 테스트 화학물질의 팽창의 경우에 테스트 화학물질의 두께와 독립적으로 동작하도록 구성될 수도 있다. 테스트 화학물질로부터의 접합면의 분리는, 테스트 엘리먼트로부터 테스트 엘리먼트 분석 시스템으로의 테스트 화학물질의 혼입 (entrainment) 또는 잔재 (carry-over) 가 회피되거나 적어도 상당히 감소될 때, 증가된 위생을 초래할 수도 있다. 또한, 테스트 필드의 변형 또는 만곡 (bending) 이 회피되거나 또는 적어도 상당히 감소된다.
또한, 제 2 부분은 적어도 2 개의 접합면, 바람직하게는 적어도 3 개의 접합면을 포함할 수도 있다. 접합면은 직사각형 또는 둥근 형상을 가질 수도 있다. 그러나, 다른 형상도 또한 가능할 수도 있다. 예시적으로, 접합면은 테스트 필드를 적어도 부분적으로 둘러쌀 수도 있는 U 형상을 가질 수도 있다. 이에 따라, U 형상의 접합면은 테스트 필드의 적어도 3 개의 측면에서 테스트 필드를 둘러쌀 수도 있다. 또한, 예시적으로 접합면은 테스트 필드를 완전히 둘러쌀 수도 있다. 이에 따라, 접합면은 접합면의 내부 영역 내에 리세스 또는 갭을 가질 수도 있고, 테스트 필드는 리세스 또는 갭 내에 로케이팅된다. 예시적으로, 접합면은 링 형상일 수도 있다. U 형상의 접합면과 완전히 둘러싸는 접합면은, 테스트 엘리먼트의 여러 방향에서의 이동이 방지되거나 적어도 상당히 감소될 수도 있으므로, 증가된 안정화 효과를 초래할 수도 있다.
앞서 설명된 것과 같이, 제 2 부분은 제 1 부분에 대해 이동가능하다. 예시적으로, 제 1 부분은 제 2 부분이 이동하는 동안 정지할 수도 있다. 대안적으로, 제 1 부분은 이동할 수도 있고, 제 2 부분은 정지할 수도 있다. 또한, 제 1 부분 및 제 2 부분은 각각 이동할 수도 있다. 구체적으로, 제 2 부분은 지지면에 본질적으로 수직인 방향으로 제 1 부분에 대해 이동가능할 수도 있다. 예시적으로, 제 2 부분은 지지면에 본질적으로 수직인 방향으로 제 1 부분에 대해 제 1 부분을 이동가능할 수도 있다. 따라서, 용어 "본질적으로 수직하는" 은 상태를 지칭할 수도 있고, 여기서 제 1 부분 및 제 2 부분은 서로 정확히 수직으로 또는 정확한 수직 위치로부터 약간 일탈하여 포지셔닝된다. 구체적으로, 제 2 부분은 제 1 부분에 대하여 90°+/- 30° 의 각도로, 바람직하게는 90°+/- 20° 의 각도로, 보다 바람직하게는 90°+/- 10° 의 각도로, 보다 바람직하게는 90°+/- 5° 의 각도로 이동가능할 수도 있다.
지지면에 본질적으로 수직인 방향으로의 이동으로 인해, 테스트 엘리먼트와 특히 테스트 화학물질을 포함하는 테스트 필드의 정확하고 정밀한 정렬이 보장될 수도 있다. 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 테스트 엘리먼트가 제 2 부분이 위치되고 제 1 부분을 향해 이동되기 전에 제 1 부분 상에 포지셔닝될 수도 있도록, 구성될 수도 있다. 따라서, 테스트 엘리먼트의 기울어진 또는 측방향 변위는 적어도 상당히 회피되거나 감소될 수도 있다. 따라서, 신뢰할말한 측정이 가능할 수도 있다.
또한, 테스트 엘리먼트 리셉터클은 제 2 부분과 제 1 부분의 상대적인 이동을 가이드하는 적어도 하나의 가이드 엘리먼트를 포함할 수도 있다. 가이드 엘리먼트는 측방향 가이드의 일부이거나 또는 그 반대일 수도 있다. 본 명세서에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "가이드 엘리먼트" 는 다른 대상의 원하는 방향에서의 이동을 지지하도록 구성되는 임의의 엘리먼트를 지칭할 수도 있다. 구체적으로, 가이드 엘리먼트는 적어도 하나의 가이드 레일, 보다 바람직하게는 적어도 하나의 선형 가이드 레일을 포함할 수도 있다.
구체적으로, 제 1 부분은 고정된 서브 어셈블리를 형성할 수도 있고, 제 2 부분은 테스트 엘리먼트 리셉터클의 이동가능한 서브 어셈블리를 형성할 수도 있다. 본 명세서에서 추가로 사용되는 바와 같이, 용어 "서브 어셈블리" 는 전체 어셈블리, 특히 디바이스의 부분을 형성하는 구성요소 또는 구성요소들의 그룹을 지칭할 수도 있다. 또한, 용어 "이동가능한 서브 어셈블리" 는 적어도 하나의 방향으로, 구체적으로 다른 서브 어셈블리에 대해 이동가능한 서브 어셈블리를 지칭할 수도 있다. 광학 검출기는 이동가능한 서브 어셈블리 내의 적어도 하나의 공동에 삽입될 수도 있다. 반대로, 용어 "고정된 서브 어셈블리" 는 위치, 구체적으로는 원하는 위치에 머무르거나 또는 놓일 수도 있는 서브 어셈블리를 지칭할 수도 있어서, 서브 어셈블리의 이동이 적어도 상당히 방지될 수도 있다. 구체적으로, 제 2 부분은 제 1 부분에 대해 선형 방식으로 이동가능할 수도 있다.
구체적으로, 이동가능한 서브 어셈블리는 적어도 하나의 이동가능한 블록을 포함할 수도 있으며, 광학 검출기는 이동가능한 블록 내로 삽입될 수도 있다. 용어 "블록" 은 일반적으로 고체 재료로 제조될 수도 있는 임의의 엘리먼트를 지칭할 수도 있다. 구체적으로, 블록은 직사각형 또는 정육면체 형상을 가질 수도 있다. 여전히, 다른 실시형태들이 가능하다. 이동가능한 블록은 선형 방식으로 이동가능할 수도 있다. 용어 "선형 방식으로 이동가능한" 은 가상 직선과 같이 직선 방식으로 이동되는 것이 가능한 임의의 엘리먼트의 특성을 지칭할 수도 있다. 따라서, 가상 직선은 적어도 본질적으로 만곡으로부터 자유로울 수도 있다. 추가로, 용어 "선형 방식으로 이동가능한" 은 일정한 속도와 같이 일정한 방식으로 이동되는 것이 가능한 임의의 엘리먼트의 특성을 지칭할 수도 있다.
제 2 부분은 적어도 하나의 정렬 홀과 맞물리기 위한 적어도 하나의 정렬 핀을 더 포함할 수도 있다. 구체적으로, 정렬 홀은 테스트 엘리먼트의 부분일 수도 있다. 구체적으로, 제 2 부분은 제 1 부분을 향한 방향으로 선형으로 이동가능한 블록을 포함할 수도 있고, 정렬 핀은 블록 내로 부분적으로 임베디드될 수도 있다. 또한, 정렬 핀은 적어도 하나의 광학 검출기에 대해 테스트 엘리먼트를 포지셔닝하도록 구성될 수도 있다. 본 명세서에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "핀" 은 다른 대상을 고정시키도록 구성된 임의의 엘리먼트를 지칭할 수도 있다. 따라서, 핀은 구체적으로 긴 형상을 가질 수도 있고, 또한 표면 상에 놓이도록 구성된 팁을 가질 수도 있다. 용어 "정렬 핀" 은 일반적으로 다른 대상을 원하는 위치에 배열하고 적어도 하나의 위치에서 대상의 이동을 적어도 상당히 방지하도록 구성된 임의의 핀을 지칭할 수도 있다. 정렬 핀은 구체적으로, 원통형 정렬 핀, 바람직하게는 원형 단면을 갖는 원통형 정렬 핀일 수도 있거나 또는 이를 포함할 수도 있다. 또한, 정렬 핀은 적어도 하나의 팁, 구체적으로 적어도 하나의 테이퍼드 팁을 가질 수도 있다. 본 명세서에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "정렬 홀" 은 원하는 방식 내에서 엘리먼트의 정렬을 위해 구성된 엘리먼트 내의 임의의 홀을 지칭할 수도 있다. 그에 따라, 엘리먼트의 이동은 적어도 하나의 방향에서 적어도 상당히 방지될 수도 있다. 정렬 홀은 적어도 하나의 위치 내에 엘리먼트를 고정 시키도록 구성된 대상에 의해 관통되도록 구체적으로 구성될 수도 있다. 구체적으로, 정렬 홀은 각각, 정렬 핀에 대응하는 형상 및 단면을 가질 수도 있다.
앞서 설명된 것과 같이, 테스트 엘리먼트 리셉터클은 테스트 엘리먼트가 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로 삽입될 수도 있도록 적어도 하나의 위치에 제 2 부분을 포지셔닝하고, 그 후에 제 2 부분의 접합면이 테스트 엘리먼트 상에 놓이도록 테스트 엘리먼트 리셉터클을 폐쇄하도록 구성된다. 일반적으로, 용어 "위치 (position)" 는 일반적으로 대상의 공간적인 로케이션을 지칭할 수도 있다. 또한, 용어 "포지셔닝하는 (positioning)" 은 대상을 원하는 위치로 이동시키는 것과 같이 대상을 원하는 위치로 가져오는 임의의 프로세스를 지칭할 수도 있다. 또한, 용어 "삽입하는 (inserting)" 은 임의의 엘리먼트를 적어도 부분적으로 다른 대상, 예컨대 대상의 리셉터클 내로 위치시키는 프로세스를 지칭할 수도 있다. 그 이외에도, 용어 "폐쇄하는 (closing)" 은 임의의 대상, 구체적으로 그 대상의 공동 또는 홀을 실링하는 임의의 프로세스를 지칭할 수도 있으며, 따라서 대상의 공동에서 또는 홀에서 적어도 부분적으로 수용된 다른 엘리먼트의 제거가 적어도 상당히 방지된다. 용어 "놓여있는 (resting)" 은 다른 대상 위에 또는 내에 머무르는 엘리먼트의 특성을 지칭할 수도 있다. 따라서, 대상에 대한 엘리먼트의 이동은 적어도 상당히 방지될 수도 있다. 구체적으로, 상기 엘리먼트는 임의의 실질적인 추가 접촉 압력 없이 다른 대상 상에 또는 내에 머무르도록 구성될 수도 있다.
테스트 엘리먼트 리셉터클은 제 1 부분에 대해 적어도 두 개의 별개의 위치들에 제 2 부분을 포지셔닝하도록 구성될 수도 있다. 적어도 2 개의 별개의 위치들은 테스트 엘리먼트를 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로 삽입하고 및/또는 테스트 엘리먼트를 테스트 엘리먼트 리셉터클로부터 제거하기 위한 개방 위치와, 측정을 수행하기 위한 폐쇄 위치를 포함할 수도 있다. 용어 "폐쇄 위치" 및 "개방 위치" 는 명명된 엘리먼트들을 넘버링 또는 랭킹하지 않고, 순서를 지정하지 않고 그리고 여러 종류의 폐쇄 위치들과 개방 위치들이 존재할 수도 있는 가능성을 제외하고, 오직 명명법으로만 간주될 수도 있다. 또한 추가 위치들이 존재할 수도 있다.
용어 "개방 위치" 는 테스트 엘리먼트가 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로 자유롭게 삽입될 수도 있도록 제 1 부분과 제 2 부분이 이격되는 위치를 지칭할 수도 있다. 1 또는 1 초과의 개방 위치가 주어질 수도 있다. 구체적으로, 정렬 핀은 정렬 핀이 테스트 엘리먼트의 정렬 홀 내로 스냅 (snap) 할 때까지, 테스트 엘리먼트가 삽입 중에 정렬 핀 위로 슬라이딩하도록 위치될 수도 있다. 삽입 동안, 정렬 핀이 테스트 엘리먼트의 정렬 홀 내로 스냅할 때까지, 테스트 엘리먼트가 정렬 핀에 의해 변형될 수도 있다. 본 명세서에서 추가로 사용되는 바와 같이, 용어 "변형되는" 은 엘리먼트의 원래 형상과는 상이한 변경된 형상을 갖는 임의의 엘리먼트의 특성을 지칭할 수도 있고, 변경된 형상은 엘리먼트에 인가되는 외부 힘, 예컨대 기계적 힘에 기초한다. 예시적으로, 엘리먼트의 원래 형상은 평면 형상에 대응할 수도 있고, 변경된 형상은 기계적 힘에 의해 야기된 엘리먼트의 만곡을 포함할 수도 있다. 추가로, 용어 "개방 위치" 는 테스트 엘리먼트가 테스트 엘리먼트 리셉터클로부터 자유롭게 제거될 수도 있도록 제 1 부분과 제 2 부분이 이격되는 위치를 지칭할 수도 있다. 구체적으로, 개방 위치에서, 정렬 핀은 정렬 홀로부터 완전히 철수될 수도 있다. 용어들 "자유롭게 삽입되는" 및 "자유롭게 제거되는" 은 일반적으로 다른 대상 내로 적어도 부분적으로 배치되거나 임의의 저항 없이 또는 적어도 거의 임의의 저항 없이 다른 대상으로부터 취해진 임의의 엘리먼트의 특성을 지칭할 수도 있으며, 따라서 구체적으로 사용자는 오직 작은 힘만을 인가함으로써 엘리먼트를 삽입 또는 제거하도록 인에이블될 수도 있다.
본 명세서에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "폐쇄 위치" 는 제 1 부분과 제 2 부분이 서로에 대하여 배열되어 테스트 엘리먼트 리셉터클로부터 테스트 엘리먼트의 제거가 적어도 상당히 방지되는 상태를 지칭할 수도 있다. 폐쇄 위치에서, 테스트 엘리먼트는 제 1 부분에 의해 지지될 수도 있고, 제 2 부분은 테스트 엘리먼트 상에 놓일 수도 있다. 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 테스트 엘리먼트가 리셉터클 내로 삽입되고 제 2 부분이 폐쇄 위치에 있을 때 측정을 수행하도록 구성될 수도 있다. 따라서, 용어 "측정을 수행하는" 은 적어도 하나의 신호를 검출하는 임의의 디바이스의 특성을 지칭할 수도 있다. 예시적으로, 신호는 광학 신호일 수도 있다. 구체적으로, 신호는 전술한 바와 같이 적어도 하나의 분석물의 존재 및/또는 양 및/또는 농도를 결정하는데 활용될 수도 있다. 구체적으로, 정렬 핀은 테스트 엘리먼트의 정렬 홀을 통해 돌출될 수도 있다.
또한, 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 제 2 부분과 제 1 부분의 상대적인 이동을 구동하는 적어도 하나의 액추에이터를 포함할 수도 있다. 본 명세서에서 추가로 사용된 바와 같이, 용어 "액추에이터" 는 메커니즘 또는 시스템을 이동 시키거나 제어하도록 구성된 임의의 엘리먼트를 지칭한다. 구체적으로, 액추에이터는 제 2 부분을 개방 위치로부터 폐쇄 위치로 또는 그 반대로 이동시키도록 구성될 수도 있다. 액추에이터는 에너지원, 전형적으로 전류 또는 기계적 압력에 의해 동작될 수도 있으며, 에너지를 운동으로 변환할 수도 있다. 액추에이터는 기계식 액추에이터, 전자기 액추에이터, 공압식 액추에이터로 구성된 그룹으로부터 선택될 수도 있다. 그러나, 다른 종류의 액추에이터들이 적용될 수도 있다.
액추에이터는 미리 결정된 순서의 이동들을 수행하고, 순차적으로 제 2 부분을 적어도 2 개의 위치로, 구체적으로 폐쇄 위치 및 개방 위치로 배치하도록 구성될 수도 있다. 또한, 액추에이터는 각각 적어도 2 개의 위치 중 하나의 위치에서 이동을 정지시키도록 구성될 수도 있다. 또한, 액추에이터는 제 2 부분이 제 1 부분을 향해 이동하고 제 2 부분이 테스트 엘리먼트 상에 놓이자마자 디커플링하도록 구성될 수도 있다. 따라서, 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 제 2 부분이 제 1 부분을 향하여 능동적으로 이동되도록 구성될 수도 있다. 일 예로서, 액추에이터는 제 2 부분이 테스트 엘리먼트와 접촉하도록 테스트 엘리먼트를 향해 제 2 부분을 하향으로 이동시키도록 구성될 수도 있으며, 제 2 부분이 테스트 엘리먼트와 접촉하거나 테스트 엘리먼트 상에 놓이자마자, 제 2 부분은 제 2 부분의 추가의 하향 이동이 방지되도록 액추에이터로부터 디커플링될 수도 있다.
구체적으로, 액추에이터는 각각 폐쇄 이치 및 개방 위치에서 이동을 정지시키도록 구성될 수도 있다. 또한, 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 미리 결정된 순서의 이동들을 제어하기 위해 적어도 하나의 제어기를 포함할 수도 있다. 게다가, 제 2 부분은 제 1 부분에 대해 적어도 하나의 스프링 엘리먼트에 의해 바이어싱될 수도 있으며, 여기서 액추에이터는 바이어스에 대해 작용하도록 구성된다.
전술한 것과 같은 액추에이터의 디커플링으로 인해, 접촉 압력은 제 2 부분의 중량에 의해 정의될 수도 있다. 따라서, 접합면은 테스트 엘리먼트, 특히 테스트 엘리먼트의 전면에 놓임으로써 테스트 엘리먼트에 대한 기계적 지지를 제공하도록 구성될 수도 있다. 액추에이터에 의해 야기되는 추가적인 활성 압력은 회피될 수도 있다. 따라서, 폐쇄 위치에서의 테스트 엘리먼트의 만곡이 회피될 수도 있거나 또는 적어도 상당히 감소될 수도 있다. 또한, 테스트 엘리먼트의 캔팅 (canting) 및/또는 변형은 적어도 상당히 회피되거나 감소될 수도 있으며, 이는 테스트 필드를 완벽한 광학 평면 외부로 가져올 수 있다. 따라서, 신뢰할말한 측정이 가능할 수도 있다.
본 발명의 추가 양태에 있어서, 샘플, 특히, 체액의 분석 검사를 위한 방법이 개시된다. 이 방법은 전술한 것과 같거나 추가로 하기에 설명될 것과 같은 테스트 엘리먼트 분석 시스템을 사용하는 단계를 포함할 수도 있다. 이 방법은 독립 청구항들에서 주어진 바와 같은 그리고 하기에 열거된 것과 같은 방법 단계들을 포함한다. 방법 단계는 주어진 순서로 수행될 수도 있다. 그러나, 방법 단계의 다른 순서가 가능하다. 또한, 하나 이상의 방법 단계는 병렬로 및/또는 시간 오버랩핑 방식으로 수행될 수도 있다. 또한, 하나 이상의 방법 단계가 반복적으로 수행될 수도 있다. 또한, 열거되지 않은 추가적인 방법 단계가 존재할 수도 있다.
샘플의 분석 검사를 위한 방법은 다음 단계들을 포함한다:
a) 적어도 하나의 테스트 엘리먼트를 수용하기 위한 테스트 엘리먼트 리셉터클을 갖는 측정 디바이스를 제공하는 단계로서, 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클은 적어도 하나의 제 1 부분 및 적어도 하나의 제 2 부분을 포함하며, 상기 제 1 부분은 테스트 엘리먼트의 배치를 위한 적어도 하나의 지지면을 포함하고, 상기 제 2 부분은 상기 테스트 엘리먼트에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기를 포함하고, 상기 제 2 부분은 상기 제 1 부분에 대해 이동가능한, 상기 측정 디바이스를 제공하는 단계;
b) 상기 테스트 엘리먼트가 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로 삽입될 수도 있도록 하는 위치에 상기 제 2 부분을 포지셔닝하는 단계;
c) 상기 테스트 엘리먼트를 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로 삽입하는 단계;
d) 상기 제 2 부분의 적어도 하나의 접합면이 상기 테스트 엘리먼트 상에 놓이도록 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클을 폐쇄하는 단계.
구체적으로, 단계 b) 를 수행한 후에, 테스트 엘리먼트, 구체적으로 테스트 필드는 검출기와 초점이 맞지 않을 수도 있고, 단계 d) 를 수행한 후에, 테스트 엘리먼트, 구체적으로 테스트 필드는 검출기와 초점이 맞을 것이다. 단계 d) 에서, 광학 검출기는 테스트 엘리먼트를 향해 이동된다. 본원에 사용된 것과 같이, 용어 "폐쇄하는" 은 제 1 부분 및 제 2 부분이 서로 근접하는 프로세스를 지칭할 수도 있고, 테스트 엘리먼트 리셉터클을 완전히 폐쇄하는 프로세스를 지칭하지 않을 수도 있다. 또한, 단계 d) 는 예시적으로 광 배리어에 의해 트리거될 수도 있다. 광 배리어는 테스트 엘리먼트가 테스트 엘리먼트 리셉터클에 삽입되는 것을 인식하도록 구체적으로 구성될 수도 있다. 또한, 상기 방법은:
e) 테스트 엘리먼트에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기를 사용함으로써 적어도 하나의 분석 측정을 수행하는 단계를 포함할 수도 있다.
분석 측정을 수행하는 단계는 구체적으로 방법 단계 d) 후에 수행될 수도 있다. 또한, 상기 방법은:
f) 제 2 부분을 개방 위치에 포지셔닝하는 단계로서, 상기 개방 위치에서 제 1 부분과 제 2 부분이 이격되는, 상기 제 2 부분을 개방 위치에 포지셔닝하는 단계, 및
g) 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클로부터 상기 테스트 엘리먼트를 제거하는 단계;
단계 f) 및 단계 g) 는 단계 d) 또는 단계 e) 후에 구체적으로 수행될 수도 있다. 예시적으로, 테스트 엘리먼트 분석 시스템의 테스트 엘리먼트 리셉터클로부터 테스트 엘리먼트를 제거하는 단계는 사용자 또는 환자에 의해 테스트 엘리먼트 분석 시스템을 기울임으로써 또는 사용자 또는 환자에 의해 테스트 엘리먼트 상에 작은 물리적 노력을 인가함으로써 지원될 수도 있다. 그러나, 다른 실시형태들이 가능할 수도 있다.
샘플의 분석 검사를 위한 제안된 테스트 엘리먼트 분석 시스템 및 샘플의 분석 검사를 위한 제안된 방법은 다른 공지된 디바이스들 및 방법들에 비해 많은 장점을 제공한다.
일반적으로, 광학 측정 시스템에 기초한 공통의 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 테스트 엘리먼트에 대한 지지면과 광학 검출기 사이에는 고정된 거리가 있을 수도 있다. 일반적으로, 테스트 엘리먼트의, 특히 테스트 엘리먼트의 광학 검출 영역의 테스트 필드와 광학 검출기 사이의 허용오차 체인은 매우 길 수도 있다 (테스트 엘리먼트의 위치 허용오차 플러스 제 1 부분과 제 2 부분의 생산 허용오차 플러스 어셈블리 허용오차). 이 체인의 결과, 허용오차 자체가 매우 높을 수도 있다. 따라서, 일반적으로 광학 검출기의 피사계 심도는 넓은 범위를 커버해야 하며, 특히 테스트 엘리먼트의 테스트 필드가 매번 초점이 맞도록 보장해야 한다. 따라서, 이것은 광학 검출기의 한계일 수도 있다.
테스트 엘리먼트 분석 시스템이 여러 테스트 엘리먼트 시스템과 함께 동작하도록 구성되는 경우에, 여러 테스트 엘리먼트가 각각 상이한 두께를 갖는 경우, 전술한 바와 같은 과제가 증가할 수도 있다. 특히, 두께의 변화는 전술한 바와 같은 허용오차 체인에 추가될 수도 있다. 따라서, 피사계 심도에 대한 요건이 한 번 더 증가할 수도 있다.
본 발명에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 광학 검출기를 가질 수도 있고, 광학 검출기와 테스트 엘리먼트의 테스트 필드 사이의 거리는 고정된다. 이것은 광학 검출기가 광학 검출기의 광학축 방향으로 이동가능한 방식으로 실현될 수도 있다. 테스트 엘리먼트 분석 시스템 자체에서 강한 정지 제한 없이 단부 위치가 플로팅할 수도 있다. 광학 검출기 자체, 즉 렌즈, 센서, 필터, 조명 내의 구성요소들의 상대적 거리는 고정되어 유지될 수도 있다. 광학 검출기에 대한 단부 위치를 정의하는 기준 영역은 측정 디바이스의 지지면이 아니라, 오히려 테스트 엘리먼트의 테스트 필드의 기준일 수도 있는 테스트 엘리먼트의 상부면 상의 영역일 수도 있다.
폐쇄 위치에서, 제 2 부분의 기준 영역 및/또는 접합면이 테스트 엘리먼트의 기준 영역과 접촉할 때까지, 제 2 부분이 아래로 슬라이딩하도록 구성될 수도 있다. 따라서, 테스트 엘리먼트 내부의 테스트 필드에 대한 광학 검출기의 단부 위치는 테스트 엘리먼트의 두께와 독립적일 수도 있다.
테스트 엘리먼트의 두께의 변화 및 대부분의 어셈블리 허용오차는 구체적으로 이들 변화들이 본 발명에 따른 광학 검출기의 설계에 의해 커버될 수도 있기 때문에, 광학 검출과 적어도 상당히 관련이 없을 수도 있다. 따라서, 테스트 엘리먼트 내부의 테스트 필드와 광학 검출기 사이의 허용오차 체인은 매우 짧을 수도 있다.
테스트 엘리먼트 분석 시스템 내부의, 구체적으로 테스트 엘리먼트 리셉터클 내부의 테스트 엘리먼트의 지지면은 편평할 수도 있는 것이 유리할 수도 있다. 통상적으로 테스트 엘리먼트의 테스트 필드에 대응하는 테스트 스트립 상의 광학 검출을 위한 영역과 제 2 부분의 접합면과 접촉하는 테스트 스트립 상의 기준 영역 사이의 높이 차이는 테스트 엘리먼트 분석 시스템의 테스트 리셉터클의 연장된 편평한 지지면에 의해 적어도 상당히 방지될 수도 있다. 따라서, 이 지지면의 양자의 영역들에 대해 오직 하나의 부분만을 사용하는 것이 유리할 수도 있습니다. 또한 테스트 엘리먼트의 가열과 같은 다른 기능은 이러한 지지면에 의해 달성될 수도 있으며, 그 결과 예를 들어, 지지면 또는 테스트 엘리먼트로서 편평한 가열 엘리먼트를 포함하는 리셉터클을 생성한다.
본 발명의 결과들을 요약하면, 다음 실시형태들이 바람직하다:
실시형태 1: 샘플의 분석 검사를 위한 테스트 엘리먼트 분석 시스템으로서, 측정 디바이스를 포함하고, 상기 측정 디바이스는 적어도 하나의 테스트 엘리먼트, 특히 테스트 스트립을 적어도 부분적으로 수용하기 위한 테스트 엘리먼트 리셉터클을 포함하며, 테스트 엘리먼트 리셉터클은 적어도 하나의 제 1 부분 및 적어도 하나의 제 2 부분을 포함하고, 상기 제 1 부분은 상기 테스트 엘리먼트를 배치하기 위한 적어도 하나의 지지면을 포함하고, 상기 제 2 부분은 테스트 엘리먼트에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기를 포함하며,상기 제 2 부분은 상기 제 1 부분에 대해 이동가능하고, 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클은 테스트 엘리먼트가 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클에 삽입될 수도 있도록 하는 적어도 하나의 위치에 상기 제 2 부분을 포지셔닝하고, 그 후에 제 2 부분의 적어도 하나의 접합면이 테스트 엘리먼트 상에 놓이도록 하는 폐쇄 위치에 제 2 부분을 포지셔닝하도록 구성된다.
실시형태 2: 선행하는 실시형태에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 광학 검출기는 적어도 하나의 렌즈 엘리먼트를 포함하고, 상기 접합면은 상기 렌즈 엘리먼트의 초점면, 상기 광학 검출기의 본질적으로 이상적인 대상 평면 중 하나 또는 양자에 로케이팅된다.
실시형태 3: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 광학 검출기는 적어도 하나의 광원 및 적어도 하나의 광 검출기를 포함한다.
실시형태 4: 2 개의 선행하는 실시형태에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 렌즈 엘리먼트는 적어도 하나의 광원 또는 적어도 하나의 광 검출기 중 하나 또는 양자의 전방에 로케이팅된다.
실시형태 5: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 광학 검출기는 제 2 부분 내에 고정하여 포지셔닝된다.
실시형태 6: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 제 2 부분은 지지면에 실질적으로 수직한 방향으로 제 1 부분에 대해 이동가능하다.
실시형태 7: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 적어도 하나의 캐리어를 갖는 적어도 하나의 테스트 엘리먼트 및 샘플에 포함된 분석물, 구체적으로 포도당 또는 케톤체의 존재시 적어도 하나의 검출 반응을 수행하기 위한 적어도 하나의 테스트 화학물질을 더 포함한다.
실시형태 8: 선행하는 실시형태에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 테스트 엘리먼트는 테스트 스트립이다.
실시형태 9: 2 개의 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 테스트 엘리먼트는 적어도 하나의 테스트 화학물질을 포함하는 적어도 하나의 테스트 필드를 갖는다.
실시형태 10: 선행하는 실시형태에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 테스트 화학물질은 적어도 하나의 광학적으로 검출가능한 검출 반응을 수행하도록 구성된다.
실시형태 11: 4 개의 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 테스트 화학물질은 건식 테스트 화학물질이다.
실시형태 12: 5 개의 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 테스트 화학물질은 건식 테스트 화학물질이다.
실시형태 13: 6 개의 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 접합면은 상기 접합면이 상기 테스트 엘리먼트 상에 놓일 때 상기 캐리어 상에 편평하게 놓인다.
실시형태 14: 7 개의 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 제 2 부분은 상기 제 1 부분에 대해 이동되고, 상기 접합면은 항상 상기 지지면과 평행한다.
실시형태 15: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 제 2 부분은 상기 테스트 엘리먼트의 적어도 하나의 정렬 홀과 맞물리기 위한 적어도 하나의 정렬 핀을 더 포함한다.
실시형태 16: 선행하는 실시형태에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 제 2 부분은 제 1 부분을 향하는 방향으로 선형 이동가능한 블록을 포함하고, 상기 정렬 핀은 상기 블록 내에 부분적으로 임베드된다.
실시형태 17: 2 개의 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 정렬 핀은 적어도 하나의 광학 검출기에 대하여 테스트 엘리먼트를 포지셔닝하도록 구성된다.
실시형태 18: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클은 상기 제 2 부분을 상기 제 1 부분에 대해 적어도 2 개의 별개의 위치에 포지셔닝하도록 구성되고, 상기 적어도 2 개의 별개의 위치는 측정을 수행하기 위한 폐쇄 위치 및 상기 테스트 엘리먼트를 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클로부터 제거하고 상기 테스트 엘리먼트를 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로 삽입하기 위한 개방 위치를 포함한다.
실시형태 19: 선행하는 실시형태에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 폐쇄 위치에서 상기 테스트 엘리먼트는 상기 테스트 엘리먼트 상에 놓인 제 1 부분 및 제 2 부분에 의해 지지된다.
실시형태 20: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 적어도 하나의 광학 검출기는 제 2 부분에 완전히 또는 부분적으로 포함된다.
실시형태 21: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 지지면은 본질적으로 편평한 표면이다.
실시형태 22: 선행하는 실시형태에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 접합면은 본질적으로 상기 지지면과 평행한다.
실시형태 23: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클은 상기 제 2 부분과 제 1 부분의 상대적인 이동을 가이드하기 위한 적어도 하나의 가이드 엘리먼트를 포함한다.
실시형태 24: 선행하는 실시형태에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 가이드 엘리먼트는 적어도 하나의 가이드 레일, 보다 바람직하게는 적어도 하나의 선형 가이드 레일을 포함한다.
실시형태 25: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 상기 제 1 부분과 제 2 부분의 상대적인 이동을 구동하기 위한 적어도 하나의 액추에이터를 더 포함한다.
실시형태 26: 선행하는 실시형태들에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 액추에이터는 미리 결정된 순서의 이동들을 수행하여, 제 2 부분을 적어도 2 개의 위치들로 순차적으로 배치하도록 구성된다.
실시형태 27: 선행하는 실시형태에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 액추에이터는 각각 적어도 2 개의 위치 중 하나에서 상기 이동을 정지시키도록 구성된다.
실시형태 28: 2 개의 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 미리 결정된 순서의 이동들을 제어하기 위한 적어도 하나의 제어기를 포함한다.
실시형태 29: 4 개의 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 제 2 부분은 상기 제 1 부분에 대해 적어도 하나의 스프링 엘리먼트에 의해 바이어싱되고, 상기 액추에이터는 상기 바이어스에 대해 작용하도록 구성된다.
실시형태 30: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클은 적어도 하나의 포지셔닝 엘리먼트를 더 포함하고, 상기 포지셔닝 엘리먼트는 상기 테스트 엘리먼트의 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로의 삽입을 제한하도록 구성된다.
실시형태 31: 선행하는 실시형태에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 포지셔닝 엘리먼트는 상기 테스트 엘리먼트의 삽입 방향으로 이동가능하고, 상기 포지셔닝 엘리먼트는 사용 후에 상기 테스트 엘리먼트를 방출하도록 구성된다.
실시형태 32: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 제 1 부분은 고정된 서브 어셈블리를 형성하고, 상기 제 2 부분은 테스트 엘리먼트 리셉터클의 이동가능한 서브 어셈블리를 형성한다.
실시형태 33: 선행하는 실시형태에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 광학 검출기는 이동가능한 서브 어셈블리 내의 적어도 하나의 공동 내로 삽입된다.
실시형태 34: 2 개의 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 이동가능한 서브 어셈블리는 적어도 하나의 이동가능한 블록을 포함하고, 상기 광학 검출기는 상기 이동가능한 블록 내로 삽입된다.
실시형태 35: 선행하는 실시형태 중 어느 하나에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템에서, 상기 측정 디바이스는 상기 측정 디바이스로 수행되는 적어도 하나의 측정을 평가하기 위한 적어도 하나의 평가 디바이스, 구체적으로 적어도 하나의 프로세서를 더 포함한다.
실시형태 36: 샘플, 특히 체액의 분석 검사를 위한 방법으로서, 상기 방법은,
a) 적어도 하나의 테스트 엘리먼트를 수용하기 위한 테스트 엘리먼트 리셉터클을 갖는 측정 디바이스를 제공하는 단계로서, 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클은 적어도 하나의 제 1 부분 및 적어도 하나의 제 2 부분을 포함하며, 상기 제 1 부분은 테스트 엘리먼트의 배치를 위한 적어도 하나의 지지면을 포함하고, 상기 제 2 부분은 상기 테스트 엘리먼트에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기를 포함하고, 상기 제 2 부분은 상기 제 1 부분에 대해 이동가능한, 상기 측정 디바이스를 제공하는 단계;
b) 상기 테스트 엘리먼트가 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로 삽입될 수도 있도록 하는 위치에 상기 제 2 부분을 포지셔닝하는 단계;
c) 상기 테스트 엘리먼트를 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 내로 삽입하는 단계;
d) 상기 제 2 부분의 적어도 하나의 접합면이 상기 테스트 엘리먼트 상에 놓이도록 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클을 폐쇄하는 단계를 포함한다.
실시형태 37: 선행하는 실시형태에 따른 방법에서, 상기 방법은 테스트 엘리먼트 분석 시스템을 지칭하는 선행하는 청구항들 중 어느 한 항에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템을 사용하는 단계를 포함한다.
실시형태 38: 선행하는 방법 실시형태들 중 어느 하나에 따른 방법에서, 상기 방법은,
e) 테스트 엘리먼트에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기를 사용함으로써 적어도 하나의 분석 측정을 수행하는 단계를 더 포함한다.
실시형태 39: 선행하는 방법 실시형태들 중 어느 하나에 따른 방법에서, 상기 단계 d) 에서, 상기 광학 검출기는 상기 테스트 엘리먼트를 향해 이동된다.
실시형태 40: 선행하는 방법 실시형태들 중 어느 하나에 따른 방법에서, 단계 b) 를 수행한 후에, 상기 테스트 필드는 상기 광학 검출기와 초점이 맞지 않고, 단계 d) 를 수행한 후에, 상기 테스트 필드는 상기 광학 검출기와 초점이 맞는다.
추가적인 옵션적인 특징들 및 본 발명의 실시형태들이 바람직한 실시형태들의 후속 설명에서, 바람직하게는 종속항들과 함께, 좀더 자세히 개시될 것이다. 여기서, 각각의 옵션적인 특징들은, 숙련 기술자가 알 수 있는 바와 같이, 어떤 임의의 실현가능한 조합으로 뿐만 아니라 분리된 방식으로 실현될 수도 있다. 본 발명의 범위는 바람직한 실시형태들에 의해 한정되지 않는다. 실시형태들이 도면들에 개략적으로 도시된다. 여기서, 이들 도면들에서 동일한 참조 번호들은 동일한 또는 기능적으로 비견할만한 엘리먼트들을 지칭한다.
도면들에서:
도 1a 및 도 1b 는 테스트 엘리먼트 분석 시스템의 예시적인 실시형태의 세부사항을 투시도 (도 1a) 로 도시하고 테스트 엘리먼트 분석 시스템의 일부의 세부사항을 단면도 (도 1b) 로 도시한다.
도 2 는 테스트 엘리먼트 분석 시스템의 예시적인 실시 예의 세부사항을 단면도로 도시한다.
도 3a 및 도 3b 는 테스트 엘리먼트 분석 시스템의 예시적인 실시형태의 세부사항을 단면도 (도 3a) 및 투시도 (도 3b) 로 도시한다.
도 4 는 테스트 엘리먼트 분석 시스템의 예시적인 실시 예의 세부사항을 단면도로 도시한다.
도 1a 는 샘플의 분석 검사를위한 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 의 예시적인 실시형태의 세부사항을 투시도로 도시한다. 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 측정 디바이스 (112) 를 포함한다. 측정 디바이스 (112) 는 적어도 하나의 테스트 엘리먼트 (116) 를 수용하기 위한 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 을 포함한다. 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 은 적어도 하나의 제 1 부분 (118) 및 적어도 하나의 제 2 부분 (120) 을 포함한다.
제 1 부분 (118) 은 고정된 서브 어셈블리 (122) 를 형성할 수도 있고, 제 2 부분 (120) 은 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 의 이동가능한 서브 어셈블리 (124) 를 형성할 수도 있다. 구체적으로, 이동가능한 서브 어셈블리 (124) 는 적어도 하나의 이동가능한 블록 (126) 을 포함할 수도 있다. 또한, 제 2 부분 (120) 은 테스트 엘리먼트 (116) 에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기 (128) 를 포함한다. 광학 검출기 (128) 는 이동간으한 블록 (126) 내로 삽입되거나 통합될 수도 있다. 구체적으로, 광학 검출기 (128) 는 이동가능한 서브 어셈블리 (124) 내의 적어도 하나의 공동 (130) 내로 삽입될 수도 있다.
제 2 부분 (120) 은 이하 더 상세히 설명되는 것과 같이, 제 1 부분 (118) 에 대해 이동가능하다. 그러므로, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 적어도 하나의 액추에이터 (132) 를 포함할 수도 있다. 액추에이터 (132) 는 제 1 부분 (118) 과 제 2 부분 (120) 의 상대적인 운동을 구동하도록 구성될 수도 있다. 구체적으로, 액추에이터 (132) 는 미리 결정된 시퀀스의 이동들을 수행하도록 구성되어, 제 2 부분 (120) 을 적어도 하나의 위치 내로 순차적으로 배치할 수도 있다. 또한, 액추에이터 (132) 는 각각 적어도 하나의 위치에서 이동을 정지시키도록 구성될 수도 있다. 또한, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 미리 결정된 순서의 이동들을 제어하기 위해 적어도 하나의 제어기 (134) 를 포함할 수도 있다. 또한, 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 은 제 2 부분 (120) 과 제 1 부분 (118) 의 상대적인 이동을 가이드하기 위해 적어도 하나의 가이드 엘리먼트 (136) 를 포함할 수도 있다. 구체적으로, 가이드 엘리먼트 (136) 는 적어도 하나의 가이드 레일 (138), 구체적으로 적어도 하나의 선형 가이드 레일 (140) 을 포함할 수도 있다.
도 1b 는 도 1a 에 따른 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 의 부분 (142) 의 단면도를 도시한다. 구체적으로, 도 1b 에서, 테스트 엘리먼트 (116) 가 도시된다. 테스트 엘리먼트 (116) 는 제 1 부분 (118) 상에 놓일 수도 있다. 구체적으로, 제 1 부분 (118) 은 테스트 엘리먼트 (116) 를 배치하기 위한 적어도 하나의 지지면 (144) 을 포함한다. 지지면 (144) 은 구체적으로 본질적으로 편평한 표면 (146) 일 수도 있다.
테스트 엘리먼트 (116) 는 구체적으로 테스트 스트립 (148) 일 수도 있다. 구체적으로, 테스트 엘리먼트 (116) 는 샘플을 테스트 필드 (152) 로 전송할 수 있는 모세관 채널 (153) 을 형성하는 적어도 하나의 캐리어 (150) 와 하나의 커버 (151) 를 가질 수도 있다. 커버 (151) 는 테스트 화학물질이 배치될 수 있는 개구 (155) 를 포함할 수도 있다. 또한, 테스트 엘리먼트는 적어도 하나의 테스트 필드 (152) 를 가질 수도 있다. 테스트 필드 (152) 는 샘플에 함유된 분석물의 존재시 적어도 하나의 검출 반응을 수행하기 위해 적어도 하나의 테스트 화학물질 (154) 을 포함할 수도 있다. 테스트 화학물질 (154) 은 투명 층, 예를 들어 투명 포일 (159) 일 수도 있는 추가의 엘리먼트 (157) 상에 도포될 수도 있다. 이 투명 포일 (159) 은 투명 포일 (159) 상에 도포된 테스트 화학물질 (154) 이 모세관 채널 (153) 을 대면하고 커버 (151) 의 개구 (155) 에 배치되는 방식으로 커버 (151) 에 장착될 수도 있다. 테스트 화학물질 (154) 을 포함하는 테스트 필드 (152) 의 이러한 배열은 다음과 같은 이유로 유리하다: 테스트 화학물질 (154) 은 제 2 부분 (120) 을 대면하는 커버 (151) 의 표면과 동일한 평면이고 제 2 부분 (120) 의 접합면 (184) 을 위한 접촉면이다. 이러한 배열은 캐리어 (150) 또는 커버 (151)의 두께 또는 모세관 채널 (153) 의 두께와 같은, 테스트 엘리먼트 (116) 의 모든 다른 부분과 독립적인 광학 검출기 (128) 에 대한 테스트 필드 (152) 의 정확한 포지셔닝을 초래한다. 부가적으로, 테스트 화학물질 (154) 이 분석 검출을 위해 샘플과 접촉하게 될 때 발생할 수도 있는 테스트 필드 (152) 두께의 팽창 및 증가는 오직 모세관 채널 (153) 을 향하는 방향에서만 발생할 것이다. 광학 검출기 (128) 의 광학 초점은 제 2 부분 (120) 을 대면하는 커버 (151) 의 표면에 의해 정의되기 때문에, 모세관 채널 (153) 의 방향으로의 테스트 필드 (152) 의 팽창은 광학 검출에 어떤 영향도 미치지 않거나 오직 감소된 영향만을 미친다. 테스트 필드 (152) 는 광학 검출 영역 (166) 을 제공할 수도 있다. 테스트 화학물질 (154) 은 적어도 하나의 광학적으로 검출가능한 검출 반응을 수행하도록 구체적으로 구성될 수도 있다. 테스트 화학물질 (154) 은 구체적으로 건식 테스트 화학물질 (156) 일 수도 있다. 테스트 엘리먼트 (116) 는 구체적으로 뒷면 (158) 을 가질 수도 있다. 테스트 엘리먼트 (116) 의 뒷면 (158) 은 제 1 부분 (118) 의 지지면 (144) 상에 놓이도록 구성될 수도 있다. 또한, 테스트 엘리먼트 (116) 는 전면 (160) 을 가질 수도 있다. 테스트 엘리먼트 (116) 의 전면 (160) 의 적어도 하나의 영역 (162) 은 추가로 아래에서 더 상세히 설명되는 바와 같이 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 의 제 2 부분 (120) 에 대한 기준 영역 (164) 으로서 기능하도록 구성될 수도 있다. 기준 영역 (164) 은 제 2 부분을 대면하는, 커버 (151) 의 부분에 의해 형성될 수도 있다.
도 2 에서, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 의 세부사항이 단면도로 도시된다. 도 2 에 도시된 것과 같은 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 도 1a 및 도 1b 에 도시된 바와 같은 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 에 적어도 상당 부분 대응한다. 따라서, 상기 도 1a 및 도 1b 의 설명을 참조할 수도 있다.
테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 은 테스트 엘리먼트 (116) 가 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 내로 삽입될 수도 있도록 하는 적어도 하나의 위치에 제 2 부분 (120) 을 포지셔닝하도록 구성된다. 따라서, 도 2 에 도시된 바와 같은 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 개방 위치 (168) 에서 제 2 부분 (120) 을 도시한다. 따라서, 제 1 부분 (118) 및 제 2 부분 (120) 은 테스트 엘리먼트 (116) 가 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 내로 자유롭게 삽입될 수도 있도록 이격될 수도 있다.
제 2 부분 (120) 은 테스트 엘리먼트 (116) 의 적어도 하나의 정렬 홀 (172) 과 맞물리기 위한 적어도 하나의 정렬 핀 (170) 을 더 포함할 수도 있다. 정렬 핀 (170) 및 정렬 홀 (172) 은 각각 원형의 단면을 가질 수도 있다. 또한, 정렬 핀 (170) 은 팁 (174), 구체적으로 테이퍼드 팁 (176) 을 가질 수도 있다.
광학 검출기 (128) 는 제 2 부분 (120) 내에 고정하여 포지셔닝될 수도 있다. 제 2 부분 (120) 은 지지면 (114) 에 본질적으로 수직인 방향 (178) 으로 제 1 부분 (118) 에 대해 이동가능할 수도 있다. 또한, 제 2 부분 (120), 구체적으로 광학 검출기 (128) 는 광학 검출기 (128) 의 광학 축 (180) 을 따라 이동 가능할 수도 있다.
도 3a 및 도 3b 는 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 의 예시적인 실시형태의 세부사항을 도시한다. 도 3a 에서, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 단면도로 도시되고, 도 3b 에서, 테스트 엘리먼트 분석 시스템은 사시도로 도시된다. 도 3a 및 도 3b 에 도시된 것과 같은 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 도 1a 내지 도 2 에 도시된 바와 같은 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 에 적어도 상당 부분 대응한다. 따라서, 상기 도 1a 내지 도 2 의 설명을 참조할 수도 있다.
전술한 바와 같이, 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 은 제 2 부분 (120) 을 적어도 하나의 위치에 포지셔닝하도록 구성된다. 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 은 도 2 에 도시된 바와 같이 테스트 엘리먼트 (116) 가 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 내로 삽입될 수도 있도록 그리고 도 3a 및 도 3b 에 도시된 바와 같이 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 을 순차적으로 폐쇄하도록 구성될 수도 있다. 따라서, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 폐쇄 위치 (182) 에 도시된다. 폐쇄 위치 (182) 에서, 제 1 부분 (118) 및 제 2 부분 (120) 은 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 로부터 테스트 엘리먼트 (116) 의 제거가 적어도 상당히 방지되도록 서로에 대해 배열될 수도 있다. 또한, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 제 2 부분 (120) 이 폐쇄 위치 (182) 에 있을 때 측정을 수행하도록 구성될 수도 있다.
제 2 부분 (120) 은 적어도 하나의 접합면 (184) 을 포함할 수도 있다. 접합면 (184) 은 지지면 (144) 과 본질적으로 평행할 수도 있다. 폐쇄 위치 (182) 에서, 도 3a 및 도 3b 에 도시된 바와 같이, 제 2 부분 (120) 의 접합면 (184) 은 테스트 엘리먼트 (116) 상에 놓일 수도 있다. 구체적으로, 폐쇄 위치 (182) 에서, 접합면 (184) 은 테스트 엘리먼트 (116) 상에, 구체적으로는 테스트 엘리먼트 (116) 의 커버 (151) 상에 편평하게 놓인다.
광학 검출기 (128) 는 적어도 하나의 광 검출기 (186) 를 포함할 수도 있다. 또한, 광학 검출기 (128) 는 적어도 하나의 렌즈 엘리먼트 (188) 를 포함할 수도 있다. 렌즈 엘리먼트 (188) 는 광 검출기 (186) 의 전방에 로케이팅될 수도 있다. 구체적으로, 접합면 (184) 은 렌즈 엘리먼트 (188) 의 초점면 (190) 에 로케이팅될 수도 있다. 따라서, 접합면 (184) 은 또한 광학 검출기 기준 영역 (192) 으로 지칭될 수도 있다.
테스트 엘리먼트 (116) 의 광학 검출 영역 (166) 과 광학 검출기, 특히 광학 검출기 (128) 의 광학 검출기 영역 (194) 사이의 거리 d 는 고정될 수도 있다. 따라서, 폐쇄 위치에서, 테스트 엘리먼트 (116) 는 두께 t 와 독립적일 수도 있다. 테스트 엘리먼트 (116) 의 두께 t 의 변화는 특히 광학 검출기 (128) 에 관련되지 않을 수도 있다.
도 4 에서, 샘플의 분석 검사를 위한 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 의 간략화된 실시형태의 단면도의 세부사항들이 도시된다. 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 디스플레이 (200) 및 하나 이상의 제어 엘리먼트 (202) 와 같은 사용자 인터페이스 (198) 를 갖는 하우징 (196) 을 포함한다. 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 일 예로서, 분석을 평가하기 위한 평가 디바이스로서 완전히 또는 부분적으로 구성될 수도 있는 적어도 하나의 제어기 (204) 를 포함한다. 제어기 (204) 는 사용자 인터페이스들 (198) 에 접속될 수도 있다.
테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 테스트 엘리먼트 (116) 중 하나 이상을 수용하기 위한 적어도 하나의 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 을 더 포함한다. 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 테스트 엘리먼트 (116) 에 포함되는 적어도 하나의 테스트 화학 물질 (154), 예를 들어, 적어도 하나의 테스트 필드 (152) 에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질 (154) 로 샘플의 적어도 하나의 분석 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기 (128) 를 더 포함할 수도 있다.
테스트 엘리먼트 (116) 는 구체적으로 테스트 스트립으로 설계될 수도 있다. 광학 검출기 (128) 는 테스트 필드 (152) 상에서 감소 측정들을 수행하기 위해, 적어도 하나의 광원 (도시되지 않음) 및 적어도 하나의 광학 센서를 가질 수도 있다.
테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 테스트 엘리먼트 (116) 를 가열하기 위한 적어도 하나의 가열 엘리먼트 (206) 를 더 포함한다. 가열 엘리먼트 (206) 는 테스트 엘리먼트 (116) 가 놓일 수도 있는, 테스트 엘리먼트 (116) 를 대면하는 전면 (208) 과, 대향측 상에 후면 (210) 을 포함할 수도 있다.
전면 (208) 에는, 테스트 필드 (152) 를 포함하는 테스트 엘리먼트 (116) 의 영역과 대면하는 활성 영역 (212) 이 정의될 수도 있다. 활성 영역 (212) 의 외부에는, 이하 더 상세히 설명되는 것과 같이, 비활성 영역 (214) 이 정의될 수도 있다. 활성 영역 (212) 은 적어도 하나의 열 절연 엘리먼트 (216) 에 의해 비활성 영역 (214) 으로부터 분리될 수도 있다.
후면 (210) 에서, 가열 엘리먼트 (206) 는 하나 이상의 히터들 (218) 을 포함할 수도 있다. 또한, 가열 엘리먼트 (206) 는 가열 엘리먼트 (206) 의 온도를 검출하기 위한 하나 이상의 열 센서 엘리먼트 (220) 를 포함할 수도 있다. 히터 (218) 및 열 센서 엘리먼트 (220) 는 직접 또는 간접 양자로 제어기 (204) 에 연결될 수도 있다.
도면 부호들의 리스트
110 테스트 엘리먼트 분석 시스템
112 측정 디바이스
114 테스트 엘리먼트 리셉터클
116 테스트 엘리먼트
118 제 1 부분
120 제 2 부분
122 고정된 서브 어셈블리
124 이동가능
126 이동가능한 블록
128 광학 검출기
130 공동
132 액추에이터
134 제어기
136 가이드 엘리먼트
138 가이드 레일
140 선형 가이드 레일
142 부분
144 지지면
146 본질적으로 편평한 표면
148 테스트 스트립
150 캐리어
151 커버
152 테스트 필드
153 모세관 채널
154 테스트 화학물질
155 개구
156 건식 테스트 화학물질
157 추가의 엘리먼트
158 뒷면
159 투명 포일
160 전면
162 영역
164 기준 영역
166 광학 검출 영역
168 개방 위치
170 정렬 핀
172 정렬 홀
174 팁
176 테이퍼드 팁
178 방향
180 광학 축
182 폐쇄 위치
184 접합면
186 광 검출기
188 렌즈 엘리먼트
190 초점면
192 광학 검출기 기준 영역
194 광학 검출기 영역
198 사용자 인터페이스
200 디스플레이
202 제어 엘리먼트
204 제어기
206 가열 엘리먼트
208 전면
210 후면
212 활성 영역
214 비활성 영역
216 열 절연 엘리먼트
218 히터
220 열 센서 엘리먼트

Claims (15)

  1. 샘플의 분석 검사를 위한 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 으로서,
    상기 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 측정 디바이스 (112) 를 포함하고, 상기 측정 디바이스 (112) 는 적어도 하나의 테스트 엘리먼트 (116) 를 적어도 부분적으로 수용하기 위한 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 을 포함하며,
    상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 은 적어도 하나의 제 1 부분 (118) 및 적어도 하나의 제 2 부분 (120) 을 포함하고, 상기 제 1 부분 (118) 은 상기 테스트 엘리먼트 (116) 의 배치를 위한 적어도 하나의 지지면 (144) 을 포함하고, 상기 제 2 부분 (120) 은 상기 테스트 엘리먼트 (116) 에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질 (154) 의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기 (128) 를 포함하며, 상기 제 2 부분 (120) 은 상기 제 1 부분 (118) 에 대해 이동가능하고, 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 은 테스트 엘리먼트 (116) 가 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 내로 삽입될 수 있도록 하는 적어도 하나의 위치에 상기 제 2 부분 (120) 을 포지셔닝하고, 그 후에 상기 제 2 부분 (120) 의 적어도 하나의 접합면 (184) 이 상기 테스트 엘리먼트 (116) 상에 놓이도록 하는 폐쇄 위치 (182) 에 상기 제 2 부분 (120) 을 포지셔닝하도록 구성되며, 상기 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 상기 제 1 부분 (118) 과 상기 제 2 부분 (120) 의 상대적인 이동을 구동하기 위한 적어도 하나의 액추에이터 (132) 를 더 포함하고, 상기 액추에이터 (132) 는 미리 결정된 순서의 이동들을 수행하여, 상기 제 2 부분 (120) 을 적어도 2 개의 위치들로 순차적으로 배치하도록 구성되고, 상기 액추에이터 (132) 는 각각, 상기 적어도 2 개의 위치들 중 하나에서 상기 이동을 정지시키도록 구성되며, 상기 액추에이터 (132) 는 상기 제 2 부분 (120) 을 상기 제 1 부분 (118) 을 향해 이동시키고, 상기 제 2 부분 (120) 이 상기 테스트 엘리먼트 (116) 상에 놓이자마자 디커플링하도록 구성되고,
    상기 액추에이터 (132) 의 상기 디커플링으로 인해 상기 제 2 부분 (120) 의 중량에 의해 접촉 압력이 정의되는, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110).
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 부분 (120) 은 상기 테스트 엘리먼트 (116) 의 적어도 하나의 정렬 홀 (172) 과의 맞물림을 위한 적어도 하나의 정렬 핀 (170) 을 더 포함하는, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110).
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 광학 검출기 (128) 는 적어도 하나의 렌즈 엘리먼트 (188) 를 포함하고, 상기 접합면 (184) 은 상기 렌즈 엘리먼트 (188) 의 초점면 (190), 상기 광학 검출기 (128) 의 본질적으로 이상적인 대상 평면 중 하나 또는 양자에 로케이팅되는, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110).
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 광학 검출기 (128) 는 적어도 하나의 광원 및 적어도 하나의 광 검출기 (186) 를 포함하며, 상기 렌즈 엘리먼트 (188) 는 상기 적어도 하나의 광원 또는 상기 적어도 하나의 광 검출기 (186) 중 하나 또는 양자의 전방에 로케이팅되는, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110).
  5. 제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
    상기 광학 검출기 (128) 는 상기 제 2 부분 (120) 내에 고정하여 포지셔닝되는, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110).
  6. 제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
    상기 제 2 부분 (120) 은 상기 지지면 (144) 에 본질적으로 수직한 방향 (178) 으로 상기 제 1 부분 (118) 에 대해 이동가능한, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110).
  7. 제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
    상기 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 상기 샘플에 포함된 분석물의 존재시 적어도 하나의 검출 반응을 수행하기 위한 적어도 하나의 테스트 화학물질 (154) 및 적어도 하나의 캐리어 (150) 를 갖는 적어도 하나의 테스트 엘리먼트 (116) 를 더 포함하는, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110).
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 테스트 화학물질 (154) 은 건식 테스트 화학물질 (156) 인, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110).
  9. 제 7 항에 있어서,
    상기 접합면 (184) 은 상기 접합면 (184) 이 상기 테스트 엘리먼트 (116) 상에 놓일 때 상기 캐리어 (150) 상에 평평하게 놓이는, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110).
  10. 제 7 항에 있어서,
    상기 제 2 부분 (120) 이 상기 제 1 부분 (118) 에 대해 이동될 경우, 상기 접합면 (184) 은 상기 제 1 부분 (118) 의 상기 지지면 (144) 에 항상 평행하는, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110).
  11. 제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
    상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 은 상기 제 2 부분 (120) 을 상기 제 1 부분 (118) 에 대해 적어도 2 개의 별개의 위치들에 포지셔닝하도록 구성되고, 상기 적어도 2 개의 별개의 위치들은 상기 테스트 엘리먼트 (116) 를 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 내로 삽입하는 것 및 상기 테스트 엘리먼트 (116) 를 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 로부터 제거하는 것 중 적어도 하나를 위한 개방 위치 (168) 및 측정을 수행하기 위한 폐쇄 위치 (182) 를 포함하는, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110).
  12. 샘플의 분석 검사를 위한 방법으로서,
    a) 적어도 하나의 테스트 엘리먼트 (116) 를 수용하기 위한 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 을 갖는 측정 디바이스 (112) 를 제공하는 단계로서, 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 은 적어도 하나의 제 1 부분 (118) 및 적어도 하나의 제 2 부분 (120) 을 포함하며, 상기 제 1 부분 (118) 은 상기 테스트 엘리먼트 (116) 의 배치를 위한 적어도 하나의 지지면 (144) 을 포함하고, 상기 제 2 부분 (120) 은 상기 테스트 엘리먼트 (116) 에 포함된 적어도 하나의 테스트 화학물질 (154) 의 적어도 하나의 검출 반응을 검출하기 위한 적어도 하나의 광학 검출기 (128) 를 포함하며, 상기 제 2 부분 (120) 은 상기 제 1 부분 (118) 에 대해 이동가능하며, 테스트 엘리먼트 분석 시스템 (110) 은 상기 제 1 부분 (118) 과 상기 제 2 부분 (120) 의 상대적인 이동을 구동하기 위한 적어도 하나의 액추에이터 (132) 를 더 포함하고, 상기 액추에이터 (132) 는 미리 결정된 순서의 이동들을 수행하여, 상기 제 2 부분 (120) 을 적어도 2 개의 위치들로 순차적으로 배치하도록 구성되고, 상기 액추에이터 (132) 는 각각, 상기 적어도 2 개의 위치들 중 하나에서 상기 이동을 정지시키도록 구성되며, 상기 액추에이터 (132) 는 상기 제 2 부분 (120) 을 상기 제 1 부분 (118) 을 향해 이동시키고, 상기 제 2 부분 (120) 이 상기 테스트 엘리먼트 (116) 상에 놓이자마자 디커플링하도록 구성되고, 상기 액추에이터 (132) 의 상기 디커플링으로 인해 상기 제 2 부분 (120) 의 중량에 의해 접촉 압력이 정의되는, 상기 측정 디바이스 (112) 를 제공하는 단계;
    b) 테스트 엘리먼트 (116) 가 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 내로 삽입될 수 있도록 하는 위치에 상기 제 2 부분 (120) 을 포지셔닝하는 단계;
    c) 상기 테스트 엘리먼트 (116) 를 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 내로 삽입하는 단계;
    d) 상기 제 2 부분 (120) 의 적어도 하나의 접합면 (184) 이 상기 테스트 엘리먼트 (116) 상에 놓이도록 상기 테스트 엘리먼트 리셉터클 (114) 을 폐쇄하는 단계를 포함하는, 샘플의 분석 검사를 위한 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    단계 b) 를 수행한 후에, 테스트 필드 (152) 는 광학 검출기 (128) 와 초점이 맞지 않고,
    단계 d) 를 수행한 후에, 상기 테스트 필드 (152) 는 상기 광학 검출기 (128) 와 초점이 맞는, 샘플의 분석 검사를 위한 방법.
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