CN107957416B - 用于样品的分析检验的测试元件分析系统 - Google Patents

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Abstract

公开了一种用于样品的分析检验的测试元件分析系统、一种用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的方法、以及一种用于样品的分析检验的方法。测试元件分析系统包括：测量装置，其包括用于接收测试元件的测试元件容座，测试元件容座包括第一部分和第二部分，第一部分包括用于放置测试元件的支撑表面，第二部分包括用于与测试元件的对准孔接合的对准销，第二部分能够沿基本上垂直于支撑表面的方向相对于第一部分而移动，测试元件容座配置成相对于第一部分将第二部分定位在至少三个不同位置中，包括用于将测试元件插入到测试元件容座中的中间位置、用于执行测量的闭合位置、以及用于从测试元件容座移除测试元件的开启位置。

Description

用于样品的分析检验的测试元件分析系统
技术领域
本发明涉及一种用于样品的分析检验的测试元件分析系统、一种用于将测试元件定位在用于执行特别是体液的样品的分析检验的测量用装置中的方法、以及一种用于特别是体液的样品的分析检验的方法。根据本发明的装置和方法主要可被使用在如下的领域中：定性或定量检测样品（诸如，体液的样品）中的至少一种分析物和/或用于确定样品的至少一个参数。其他应用领域是可行的。
背景技术
在医学技术和诊断的领域中，已知用于确定样品（具体地，诸如体液的流体样品）中的一或多种分析物的存在和/或浓度，和/或用于确定样品的至少一个参数的大量装置和方法。在不限制本发明的范围的情况下，下文中，主要参考对血液样品中的凝血参数或分析物浓度的确定（例如，对血糖或酮体浓度的确定）。作为示例，可参考商购的装置和系统，诸如Accu-Chek®信息（Inform）系统、CoaguChek®系统或Reflotron®系统，其全部由德国罗氏诊断有限公司（Roche Diagnostics GmbH）提供。然而，应注意，可采用类似的方式使用其他类型的样品或其他类型的分析物或参数。
为了执行快速且简单的测量，已知若干类型的测试元件，这些测试元件主要是基于一或多种测试化学品的使用，即基于一种或多种化学物质、一种或多种化学化合物或者一种或多种化学混合物的使用，所述测试化学品适合于执行用于检测分析物或确定参数的检测反应。测试化学品常常也称为测试物质、测试试剂、测试化学制品（test chemistry）或被称为检测器物质。对于也可使用在本发明内的潜在测试化学品和包括此类测试化学品的测试元件的细节，可参考J. Hoenes等人：血糖仪背后的技术：测试条，糖尿病技术和治疗，第10卷，附录1，2008年，S-10到S-26（The Technology Behind Glucose Meters: TestStrips, Diabetes Technology & Therapeutics, Vol. 10, Supplement 1, 2008, S-10to S-26）。其他类型的测试元件和/或测试物质是可行的，并且可使用在本发明内。
通过使用一或多种测试化学品，可使检测反应开始，所述检测反应的历程取决于至少一种分析物的存在和/或浓度或取决于待确定的参数。检测反应优选地可以是分析物特定的。通常，正如本发明中也是这种情况，测试化学品适合于在体液中存在分析物时执行至少一种检测反应，其中，检测反应的范围和/或程度通常取决于分析物的浓度。一般地，测试化学品可适合于在分析物存在时执行检测反应，其中，体液和测试化学品中的至少一者的至少一种可检测性质由于检测反应而改变。至少一种可检测性质一般地可选自物理性质和化学性质。下文中，在不限制潜在的其他实施例的情况下，将主要参考其中一或多种物理性质（诸如，至少一种电性质和至少一种光学性质中的一者或多者）由于检测反应而改变的检测反应。进一步地，在不限制替代解决方案的情况下，将参考其中至少一种光学可检测的化学性质被改变的检测反应，即，参考光学测试元件。然而，其他测试元件（诸如，经组合的光学测试元件和电学测试元件）也是可用的。
使用测量装置和测试元件（也称为测试载体）的典型分析物测量系统中的一项技术挑战存在于对测试元件的准确和精确定位, 特别地对测试元件的测试场的准确和精确定位。具体地，在光学测量系统中、还有在电化学测量系统或使用光学测量与电化学测量两者的测量系统中，测试场必须精确地对准在测量装置内。因此，作为示例，在光学测量系统中，测试元件的光学区（诸如，光学测试场）和分析装置（其也常常称为计量器）的光学检测系统必须对准。为此，已知若干种技术，诸如使用对准销或使用测量装置的电连接器来达到定位的目的。不过，具体地在将电连接器用于定位的情况下，对准精确度依然是个问题。
在US 7 041 254 B2中，公开了用于确定含水流体中的化学和生化组分的浓度的装置、系统、方法和试剂盒（kit）。本装置包括限定纵向轴线并且包括远端边缘的测试条，所述远端边缘配置成用于插入到测量仪器中并具有形成在远端边缘中以与测量仪器的对准构件接合的对准凹口。对准凹口具有相对的边缘，其中，所述相对的边缘的至少一部分与纵向轴线成基本上平行的关系。在使用本装置中，将装置插入到具有对准销的测量仪器中。当与对准销操作地接合时，凹口起到将装置维持在基本上无移动的位置中的作用。
EP 0 371 003 B1公开了一种用于评估平坦测试载体以用于分析确定体液组分的设备。所述设备具有测量单元和定位器件，所述定位器件定位测试载体并将其稳固地保持在测量位置中，使得其测试场存在于对测量单元而言确切的位置中。为评估测试载体，设备包括孔口元件，所述孔口元件具有适合于按压在覆盖层上的接触表面，所述测试载体具有覆盖层，覆盖层以在测试载体的一个边缘上垂下的方式被固定。孔口元件和定位器件中的至少一者经安装并且能够被操作成使得：接近覆盖层的最后阶段中的接触表面适合于相对于测试载体关于倾斜轴线作倾斜移动，所述倾斜轴线位于紧密接近于覆盖层的固定边缘处。在不同的实施例中，定位器件包括至少第一和第二保持器件，第一保持器件稳固地将测试载体保持成靠近插入端部，并且第二保持器件稳固地将测试载体保持成靠近其操纵端部。定位器件还包括支撑表面，在支撑表面上，测试载体至少部分地位于其测量位置中。定位器件还包括张紧元件，张紧元件使测试载体沿在第一保持器件与第二保持器件之间的其纵向轴线在测量位置中张紧。本发明的设备准许简单操纵和评估的精密性。
在EP 0 376 111 B1中，公开了一种测试载体分析系统，其由测试载体和关联的评估设备组成。评估设备具有用于确切定位测试载体的定位装置。将与测试载体的凹部接合的固定元件用于这一目的。通过以下事实来实现改进的操纵性质，具有最低可能的设计费用与良好的位置精度：定位装置包括用于结束引入测试载体的止动件，测试载体支架在水平平面中至少在凹部附近支撑测试载体，固定元件包括限制其到凹部中的穿透深度的头部止动件（bit stop），并且固定元件的致动机关被设计和安置成使得在测量位置中力被施加在测试载体上，所述力具有在到止动件上的方向上平行于止动件的表面的分量以及在到测试载体支架的方向上垂直于其表面的分量两者。
尽管通过上述现有技术实现了一些优点，但依然存在若干技术挑战。因此，作为示例，已知使用光学与电化学测量两种原理的测试元件。在使用这两种检测方法的情况下，测试载体通常必须相对于光学检测系统精确对准，并且进一步地必须电联接到电连接器。然而同时，实现和满足这些要求与目标常常强加了一些严苛的设计约束。在许多情况下，具有所期望的公差的电连接器是不可获得的。将测试元件固定在两个不同的位置处（诸如，通过使用对准销和电连接器）导致固定发生超定（over determination），这常常受到对准元件的公差不足的困扰。
另外，在一些系统中，测试元件容座的闭合和测试元件在测试元件容座内的固定是由测试元件自身作用在杠杆上等而开始的。在这些系统中，测试元件可由于沿纵向方向作用在测试元件上的力而弯曲，这可能导致测试元件的未对准。在其他系统中，在使测试元件的插入和测试元件的夹持或固定分离的情况下，在插入与固定之间回出现时间延迟，在所述时间延迟期间会出现未对准。具体地，在用户正利用手持式系统移动的情况下，在测试条的插入与测量装置的闭合之间存在机械冲击或移动的高风险。在这种情况下，现在未对准的测试元件可能甚至由随后测量装置的测试元件容座的闭合而被损坏。
另外的挑战存在于使用期间必须克服外力来固定测试元件的事实。因此，作为示例，用户会设法在测量期间或在测试条被固定在测量装置内的其他情形下拉出测试条。
发明内容
待解决的问题
因此，本发明的目标是提供解决这些技术挑战的装置和方法。具体地，应公开一种测试元件分析系统和一种用于分析样品的方法，所述系统和方法允许精确和可靠地定位测试元件，由此提高测量的机械稳定性和再现性。
这个问题是通过具有独立权利要求的特征的以下各者来解决的：一种测试元件分析系统、一种用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的方法、以及一种用于样品的分析检验的方法。可以以孤立的方式或以任何任意组合实现的优选实施例在从属权利要求中列出。
如下文中所使用，术语“具有”、 “包括（comprise）”或“包含（include）”或其任何任意的语法上的变化是以非排他的方式使用的。因此，这些术语既可指在该上下文中所描述的实体中除这些术语所介绍的特征之外不存在另外的特征的情形，又可指存在一个或多个另外的特征的情形。作为示例，表述“A具有B”、“A包括B”以及“A包含B”既可指在A中除B之外不存在其他元件的情形（即，A单独地且排他地由B组成的情形），又可指在实体A中除B之外还存在一个或多个另外的元件（诸如，元件C、元件C和D或甚至另外的元件）的情形。
另外，应注意的是，指示特征或元件会出现一次或不只一次的术语“至少一个”、“一个或多个”或类似表述在介绍相应的特征或元件时通常将只使用一次。在下文中，在大多数情况下，当涉及相应的特征或元件时，将不重复该表述“至少一个”或“一个或多个”，尽管事实上相应的特征或元件可出现一次或不止一次。
另外，如下文中所使用，在不限制替代可能性的情况下，术语“优选地”、“更优选地”、“特别地”、“更特别地”、“具体地”、“更具体地”或类似术语与可选的特征相结合使用。因此，由这些术语介绍的特征是可选的特征，且并不旨在以任何方式限制权利要求的范围。如技术人员将认识到的，可通过使用替代性特征来执行本发明。类似地，由“在本发明的实施例中”或类似表述介绍的特征旨在为可选特征，而不对本发明的替代性实施例作任何限制、不对本发明的范围作任何限制以及不对以这种方式介绍的特征与本发明的其他可选或非可选特征相结合的可能性作任何限制。
如一般地在本发明内所使用的，术语“患者”和“用户”可指人类或动物，而不依赖于人类或动物分别可处于健康状态或可患有一种或多种疾病的事实。作为示例，患者或用户可以是患有糖尿病的人类或动物。然而，另外地或替代地，可将本发明应用于其他类型的用户或患者或疾病。
在本发明的第一方面中，公开了一种用于样品的分析检验的测试元件分析系统，样品特别地是体液。测试元件分析系统包括测量装置。测量装置包括用于至少部分地接收至少一个测试元件的测试元件容座，测试元件具体地是测试条。测试元件容座包括至少一个第一部分和至少一个第二部分。第一部分包括用于放置测试元件的至少一个支撑表面，并且第二部分包括用于与测试元件的至少一个对准孔接合的至少一个对准销。第二部分能够沿基本上垂直于支撑表面的方向相对于第一部分移动。测试元件容座配置成相对于第一部分将第二部分定位在至少三个不同位置中。至少三个不同位置包括用于将测试元件插入到测试元件容座中的中间位置、用于执行测量的闭合位置和用于从测试元件容座移除测试元件的开启位置。在闭合位置中，对准销突出穿过对准孔。在开启位置中，第一部分和第二部分被隔开，使得可从测试元件容座自由地移除测试元件。另外地，在中间位置中，第一部分和第二部分被隔开，使得可将测试元件插入到测试元件容座中，而对准销定位成使得测试元件在插入期间由对准销而弹性地变形，直到对准销卡入到对准孔中。如本文中进一步使用的，术语“弹性地变形”是指元件所具有的如下的任意性质：元件能够暂时地变形使得该元件能够在被拉扯、伸展、挤压、弯曲等之后（诸如，一般在经变形之后）恢复到原始形状。
如本文中进一步使用的，术语“系统”是指任意一组形成整体的相互作用或相互依赖的部件零件。具体地，部件可彼此相互作用，以便满足至少一个常见功能。至少两个部件可加以独立地操纵，或可被联接或是能够连接的。因此，术语“测试元件分析系统”一般指一组至少两个元件或部件，这些元件或部件能够相互作用以便通过与任意测试元件相互作用来执行至少一种分析检测，具体地，对样品的至少一种分析物的至少一种分析检测。测试元件分析系统一般也可称为分析系统、分析试剂盒、传感器系统或测量系统。
如本文中进一步使用的，术语“样品”可指被拿来用于分析、测试或调查的任意材料或材料组合。样品可以是有限量的某种东西，其旨在类似于和表示更大的量。然而，样品也可包括完整样本。样品可以是固体样品、液体样品或气体样品，或这些的组合。具体地，样品可以是流体样品，即完全或部分地处于液体状态和/或处于气体状态的样品。一定量的样品可以是能够就其体积、质量或尺寸来描述的。然而，其他尺寸是可行的。样品可包括仅一种材料或仅一种化合物。替代地，样品可包括若干种材料或化合物。
术语“分析物”一般指可存在于样品中的任意元素、组分或化合物，并且用户、患者或医务人员（诸如，医师）会对其存在和/或浓度感兴趣。特别地，分析物可以是或可包括可参与用户或患者的新陈代谢的任意化学物质或化学化合物（诸如，至少一种代谢物）。对至少一种分析物的检测具体地可以是分析物特定的检测。
如本文中进一步使用的，术语“体液”可指通常存在于用户或患者的身体或身体组织中和/或可由用户或患者的身体产生的流体。作为身体组织的示例，间质组织可被提到。因此，作为示例，体液可选自由血液和间质流体组成的组。然而，另外地或替代地，可使用一或多种其他类型的体液，诸如唾液、泪液、尿或其他体液。在检测至少一种分析物期间，体液可存在于身体或身体组织内。因此，具体地，如下文将进一步概述的，传感器可配置成用于检测身体组织中的至少一种分析物。
术语“分析检验”一般可指确定至少一种分析物的存在和/或量和/或浓度的过程，或指确定样品的参数的过程，所述参数具有样品的性质的特性，例如，血糖。分析检验可以是或可以包括定性检测，所述定性检测简单地确定至少一种分析物的存在或至少一种分析物的缺乏，和/或可以是或可以包括定量检测，所述定量检测确定至少一种分析物的量和/或浓度。作为检测的结果，可产生将检测的成果特征化的至少一个信号，诸如至少一个测量信号。具体地，所述至少一个测量信号可以是或可以包括至少一个电子信号，诸如至少一种电压和/或至少一种电流。至少一个信号可以是或可以包括至少一个模拟信号，和/或可以是或可以包括至少一个数字信号。
如上文所描述的，测量装置包括用于至少部分地接收至少一个测试元件的测试元件容座。具体地，测试元件分析系统可包括具有至少一个对准孔的至少一个测试元件。术语“测试元件”可一般指能够检测样品中的分析物或能够确定样品的参数的任意装置。具体地，测试元件可以是条状测试元件。如本文中所使用，术语“条状”是指具有长形的形状和厚度的元件，其中，元件在横向尺寸中的延伸超过了元件的厚度，诸如超过至少2倍、优选地至少5倍、更优选地至少10倍且最优选地至少20倍或甚至至少30倍。因此，测试元件也可称为测试条。
测试元件可具有至少一个测试场，包括至少一种测试化学品，用于在存在包含于样品中的分析物时执行至少一种检测反应，分析物具体地是血糖。术语“测试化学品”（也称为测试化学制品）可指适合于在分析物存在时改变至少一种可检测性质的任意材料或材料组合。一般地，该性质可选自电化学可检测性质和/或光学可检测性质，诸如，颜色变化和/或缓解性质（remissive property）的变化。具体地，测试化学品可以是高度选择性的测试化学品，其只有在施加到测试元件的体液的样品中存在分析物的情况下才改变性质，而如果分析物不存在则不发生改变。更优选地，性质的程度或改变可取决于体液中的分析物的浓度，以便允许定量检测分析物。
测试化学品可配置成用于执行电化学检测反应和光学检测反应中的至少一者。电化学检测反应和/或光学检测反应可以是分析物特定的。进一步地，电化学检测反应和/或光学检测反应可以是定性和/或定量检测。如本文中所使用，术语“光学检测反应”是指对分析物自身或辅助化合物（auxiliary compound）的光学可检测性质的检测，所述光学可检测性质取决于样品中的分析物的存在和/或浓度而在检测反应内产生或转化，诸如，颜色改变和/或缓解性质的改变。
如本文中所使用的，术语“电化学检测反应”是指通过电化学手段对分析物的电化学可检测反应的检测。进一步地，术语“电化学检测”可指对至少一种任意分析物的电化学可检测性质的检测，诸如电化学检测反应。因此，例如，通过将一个或多个电极电位（诸如，工作电极的静电电位）与一个或多个另外的电极（诸如，对电极或参考电极）的静电电位相比较，电化学检测反应可得到检测。因此，测试元件可示例性地为电化学测试元件。术语“电化学测试元件”可指配置成用于实施至少一种电化学检测的任意测试元件。
如上文所描述的，测试元件可具有至少一个测试场，至少一个测试场包括至少一种测试化学品，用于在存在包含于样品中的分析物时执行至少一种检测反应。如本文中进一步使用的，术语“测试场”可指物体的任意区或区域，在该区或区域中实施任意测量，具体地实施分析测量。具体地，测试场可以是能够执行作为分析物或参数的特征的至少一种改变。如上文所描述的测试化学品可位于测试场内，特别地位于测试场的至少一个表面上。因此，测试场也可称为测量区或测量场。
进一步地，测试元件可包括配置成用于接收和运送样品的至少一个毛细管。术语“毛细管”一般是指能够将毛细管作用运用到液体或流体上的任意长形的空隙体积或管腔（诸如，小管或槽）。一般地，毛细管可包括在毫米或亚毫米范围中的尺寸。通常，流体介质可以由毛细管作用迁移穿过毛细管，其中，由于在流体介质与毛细管的面向流体介质的表面之间的分子间作用力，流体介质可在无外力（如重力）的帮助下沿毛细管的狭窄空间而流动。
如上文所描述的，测试元件分析系统包括测量装置。如本文中进一步使用的，术语“测量装置”可指配置成检测至少一种信号的任意装置，优选地是电子装置。所述信号可以是光学信号和/或电化学信号。测量用装置可以独立于测试元件来操纵，并且可适合于与测试元件相互作用以便执行分析，诸如，通过检测至少一个信号。因此，术语“测量装置”也可常常称为测量用装置、分析装置、计量器或测试装置。
测量装置还可包括用于评估利用测量装置执行的至少一种测量的至少一个评估装置，评估装置具体地是至少一个处理器。如本文中所使用的，术语“评估装置”可指配置成从数据导出至少一个信息项的任意装置。具体地，评估装置可配置成从至少一个信号导出关于体液中的分析物的存在和/或浓度或体液的参数的至少一个信息项。
测量装置可包括至少一个检测器，所述检测器用于检测样品或其至少一种组分与测试元件的至少一种成分之间的至少一种检测反应，测试元件的至少一种成分具体地是测试元件的至少一种测试化学品。具体地，检测器可被完全或部分地包括在第二部分中。示例性地，检测器可以是第二部分的一部分，或可形成为第二部分的部件。因此，检测器可配置成当第二部分移动时而移动。然而，其他实施例可以是可行的。对准销可配置成相对于检测器来使测试元件定位。如本文中所使用，术语“检测器”可指配置成检测其环境中的事件或变化并提供对应的输出或信号的任意装置。检测器可示例性地为光学检测器。术语“光学检测器”可一般指配置成用于接收电磁辐射的任意光学仪器，优选地接收在红外和/或可见和/或紫外光谱范围中的光。因此，光学检测器可配置成用于记录图像，所述图案可存储在本地、传输到另一个位置或既存储在本地又传输到另一个位置。进一步地，检测器可示例性地为电化学检测器。术语“电化学检测器”可一般指配置成用于确定由电化学反应产生的电流或电位的任意电化学仪器。
如上文所描述，测量装置包括用于至少部分地（即，完全或部分地）接收至少一个测试元件的测试元件容座。如本文中进一步使用的，术语“容座”可一般指自由体积的任意元件，其配置成至少部分地接收或容纳另一物体。因此，容座可具有如下形状：至少广泛地对应于其他物体，或反之亦然。示例性地，所述其他物体或其他物体的至少可插入部分可具有矩形形状，并且容座也可具有矩形形状。术语“测试元件容座”一般可指配置成接收或保持任意测试元件的任意容座。测试元件容座可具有沿纵向轴线延伸的长形的形状。因此，测试元件容座可提供具有对应于测试元件的截面的截面并且测试元件可插入到其中的长形的通道、槽或开口。其他实施例可以是可行的。具体地，测试元件可配置成可逆地放入到测试元件容座中。具体地，测试元件可配置成定位在测试元件容座内的特定位置上，使得可至少在大的程度上抑制测试元件沿至少一个方向的移动。因此，测试元件的测试场可相对于测量装置位于预定的位置中。进一步地，在测试条容座内，可提供一个或多个端口接口以用于与测试条电性地和/或光学地相互作用。接口可示例性地是或可包括一个或多个端口。另外地或替代地，其他种类的接口可以是可行的。
测试元件可至少部分地被接收在测试元件容座中。术语“接收”可一般指物体完全或至少部分地位于或被插入到容座中或到另一元件的开口中的状态。因此，物体的一部分可位于另一元件外。替代地，测试元件可完全位于或容纳在测试元件容座中。
测试元件容座可成形为与测试元件互补。因此，测试元件容座和测试元件可配置成建立适形连接。具体地，测试元件容座可配置成诸如通过使用对准销将测试条保持在预定的位置中。另外，可应用其他保持元件，诸如弹簧元件。此外，测试条容座可配置成形成反向支承件（counter-bearing）。反向支承件可配置成按压抵靠测试元件。
测试元件容座还可包括用于测试元件的侧向导引部。如本文中进一步使用的，术语“侧向导引部”可指配置成支持另一物体在所期望的方向内的移动的任意元件，具体地在所期望的侧向方向内。因此，具体地，当对准孔被对准销接合时，侧向导引部可至少在大的程度上防止测试元件在测试元件容座内旋转。具体地，可至少在大的程度上防止测试元件围绕对准销和/或由对准销限定的轴线的旋转。具体地，侧向导引部可包括测试元件容座的侧壁。进一步地，测试元件容座可包括用于导引第二部分和第一部分的相对移动的至少一个导引元件。导引元件可以是侧向导引部的一部分，或反之亦然。如本文中进一步使用的，术语“导引元件”可指配置成支持另一物体在期望方向内的移动的任意元件。具体地，导引元件可包括至少一个导轨，更优选地包括至少一个线性导轨。进一步地，测试元件容座可包括至少一个抵接元件。在中间位置中，抵接元件可配置成用于限制测试元件到测试元件容座中的插入。具体地，抵接元件可能够沿测试元件的插入方向来移动，并且抵接元件可配置成用于当测试元件容座处于开启位置中时在使用之后弹出测试元件。
如上文所描述的，测试元件容座包括至少一个第一部分和至少一个第二部分。如本文中进一步使用的，术语“部分”是指物体的任意部件。因此，若干部件彼此相互作用，并且可形成一个整体。物体的这些部件可独立地操纵，或可彼此联接或是可连接的。术语“第一部分”和“第二部分”可仅被认为是命名的名称，而没有对所命名的元件进行编号或排名、没有指定次序且没有排除可存在若干种第一部分和第二部分的可能性。另外，可存在额外的部分，诸如，一个或多个第三部分。
如上文所描述的，第一部分包括用于放置测试元件的支撑表面。如本文中进一步使用的，术语“支撑表面”是指配置成保持任意元件的任意表面。具体地，支撑表面可配置成与元件建立紧密连接。因此，元件可配置成松弛地位于支撑表面上。因此，支撑表面可以是基本上平坦的表面。
如上文所描述的，第二部分包括用于与对准孔接合的对准销。如本文中进一步使用的，术语“销”可指配置成用于紧固另一物体的任意元件。因此，具体地，销可具有细长的形状，并且可进一步具有配置成搁置在表面上的尖端。术语“对准销”可一般指配置成将另一物体布置在所期望的位置中并且至少在大的程度上防止该物体沿至少一个位置移动的任意的销。具体地，对准销可以是或可以包括圆柱形对准销，优选地是具有圆形截面的圆柱形对准销。进一步地，对准销可具有至少一个尖端，具体地具有至少一个锥形尖端。如本文中进一步使用的，具体地，术语“锥形尖端”是指如下的尖端，其中，所述尖端的端部具有小于在销的中心区段内的截面的截面。锥形尖端可示例性地具有选自由圆锥形状、圆形形状、具有单侧平缓斜率的锥形尖端组成的组的形状。具体地，对准销可具有圆柱形部分和锥形尖端，其中，在闭合位置中，圆柱形部分可在对准孔内，其中，在中间位置中，在对准销已卡入到对准孔中之后，锥形尖端可在对准孔内。具体地，在中间位置中，尖端可穿透穿过支撑表面的平面，其中，在开启位置中，对准销可不穿透穿过支撑表面的平面。另外，在闭合位置中，对准销，具体地对准销的锥形尖端可穿透穿过支撑表面的平面。
如本文中进一步使用的，术语“对准孔”可指在元件内的配置成用于将所述元件布置在所期望的位置内的任意孔。由此，可至少在大的程度上防止元件沿至少一个方向的移动。具体地，对准孔可配置成被如下的物体穿透，所述物体配置成将元件固定保持在至少一个位置内。具体地，对准孔可具有分别对应于对准销的形状和截面。
另外，第二部分可包括在闭合位置中与支撑表面或与位于此支撑表面上的测试元件相互作用的至少一个抵接表面。由此，在闭合位置中，抵接表面可搁置在测试元件上。术语“搁置”可指元件停留在另一物体上或停留在其内的性质。由此，可至少在大的程度上防止元件相对于该物体的移动。如本文中进一步使用的，术语“抵接表面”可指任意元件的如下的表面，所述表面配置成保持或支撑定位到所述表面上的物体。由此，具体地，抵接表面可以是或可以包括提供用于测试元件的接触表面的平坦、长形的表面。另外，可至少在大的程度上防止测试元件沿至少一个方向的移动。抵接表面可基本上平行于支撑表面。由此，术语“基本上平行”可指抵接表面平行于支撑表面的性质。示例性地，抵接表面可恰好平行于支撑表面。然而，小的偏差可以是可行的。具体地，抵接表面可布置成与支撑表面成+/- 20°的角度，优选地成+/- 10°的角度，更优选地成+/- 5°的角度。进一步地，对准销可从抵接表面突出。由此，术语“突出”可指任意元件从另一物体伸出来的性质。具体地，对准销可定位成基本上垂直于抵接表面。如本文中进一步使用的，术语“基本上垂直”可指两个或更多个物体布置成恰好彼此垂直或略有偏差的性质。具体地，对准销可定位成与抵接表面成90°+/- 20°的角度，优选地成90° +/- 10°的角度，更优选地成90° +/- -5°的角度。
如上文所描述的，第二部分能够沿基本上垂直于支撑表面的方向相对于第一部分而移动。示例性地，当第二部分移动时，第一部分可静止。替代地，第一部分可移动，并且第二部分静止。此外，第一部分和第二部分分别可移动。由此，术语“基本上垂直”可指其中第一部分和第二部分定位成恰好彼此垂直或与恰好垂直位置略有偏差的状态。示例性地，第一部分和第二部分可定位成相对于彼此成90° +/- 30°的角度，优选地成90° +/- 20°的角度，更优选地成90° +/- 10°的角度，更优选地成90° +/- 5°的角度。
具体地，第一部分可形成测试元件容座的固定式子组件，并且第二部分可形成测试元件容座的可移动式子组件。如本文中进一步使用的，术语“子组件”可指一个部件或形成整个组件的一部分的一组部件，组件具体地是装置。进一步地，术语“可移动式子组件”可指能够沿至少一个方向移动的子组件，具体地，相对于另一子组件来移动。相反，术语“固定式子组件”可指如下的子组件，所述子组件可停留或搁置在某个位置中，具体地，在所期望的位置中，使得可至少在大的程度上防止所述子组件的移动。具体地，第二部分可能够以线性方式相对于第一部分而移动。
第二部分可包括能够沿基本上垂直于支撑表面的方向线性地移动的块。术语“块”可一般指可由固体材料制成的任意元件。具体地，块可具有矩形或立方体形状。但是，其他实施例是可行的。块可包括至少一个平坦的表面，例如，平坦的抵接表面。由此，对准销可以至少部分地和/或集成到块中。术语“能够以线性方式而移动”和“能够线性地移动”可指任意元件能够以直线方式（诸如，在虚拟直线上）移动的性质。由此，虚拟直线可至少基本上无弯曲。另外，术语“能够以线性方式而移动”和“能够线性地移动”可指任意元件能够恒定地移动（诸如，可以以恒定的速度）移动的性质。
一般地，术语“位置”可一般指物体的空间位置。进一步地，术语“定位”可指使得物体进入到所期望的位置中（诸如，通过使物体移动到所期望的位置中）的任意过程。术语“闭合位置”、“中间位置”和“开启位置”可仅被认为是命名的名称，而没有对所命名的元件进行编号或排名、没有指定次序且没有排除可存在若干种闭合位置、中间位置和开启位置的可能性。另外，可存在额外的位置。
测试元件可配置成被插入到容座中。由此，术语“插入”可指将任意元件至少部分地放置到另一物体中（诸如，放置到物体的容座中）的过程。测试元件分析系统可配置成使得：当第二部分处于中间位置中时，可将测试元件插入到测试元件容座中。因此，术语“中间位置”可指如下的位置，其中第一部分和第二部分被隔开，使得可将测试元件插入到测试元件容座中。如上文所描述的，对准销定位成使得测试元件在插入期间由对准销而暂时地且弹性地变形，直到对准销卡入到对准孔中。如本文中进一步使用的，术语“经变形”可指如下性质：任意元件具有与该元件的原始形状不同的经改变的形状并且其中所述经改变的形状是基于施加到元件的外力（诸如，机械力）。示例性地，元件的原始形状可对应于平面形状，并且经改变的形状可包括元件由机械力造成的弯曲。另外，术语“卡入到某物中”可一般指如下的机构，其中元件被放置到另一物体中（诸如，放置到容座中或放置到其他物体的孔中）。
术语“开启位置”可指如下的位置，其中第一部分和第二部分被隔开，使得可从测试元件容座自由地移除测试元件。具体地，在开启位置中，对准销可被从对准孔完全拉出来，并且因此即使例如当从测试元件容座移除测试元件时测试元件在平行于支撑表面的平面中移动，仍与对准孔不存在任何接触。术语“被自由地移除”可一般指如下的性质：任意元件无任何阻力地或至少几乎无任何阻力地从其他元件中被取走，具体地使得可以使用户通过只施加小的力就能够插入或移除元件。
如其中进一步使用的，术语“闭合位置”可指如下的状态，其中对准销突出穿过测试元件的对准孔。在闭合位置中，测试元件可由第一部分支撑，并且第二部分可搁置在测试元件上。测试元件分析系统可配置成当将测试元件插入到容座中并且第二部分进入到闭合位置中时执行测量。由此，术语“执行测量”可指任意装置检测至少一个信号的性质。示例性地，所述信号可以是光学信号和/或电化学信号。具体地，可利用所述信号来确定至少一种分析物的存在和/或量和/或浓度，如上文所描述的那样。
另外，测试元件分析系统可包括用于驱动第一部分和第二部分的相对移动的至少一个致动器。如本文中进一步使用的，术语“致动器”是指配置成移动、定位或控制元件、机构或系统的任意元件。具体地，致动器可配置成将第二部分从第一位置移动到第二位置，或反之亦然。致动器可通过能量源（通常是电流或机械压力）来操作，并且可将能量转化成移动。致动器可选自由以下各者组成的组：机械致动器、电磁致动器、气动致动器。然而，可应用其他种类的致动器。致动器可配置成用于执行一连串预定的移动，即相继地使得第一部分和第二部分进入到中间位置中、到闭合位置中和到开启位置中。因此，测试元件分析系统可包括用于控制一连串预定的移动的至少一个控制器。进一步地，致动器可配置成用于分别在中间位置中、在闭合位置中和在开启位置中使移动停止。具体地，第二部分可由至少一个弹簧元件被偏置抵靠第一部分，其中，致动器配置成抵抗所述偏置而作用。
在本发明的另外的方面中，公开了一种用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的方法，所述样品特别地是体液。所述方法可包括使用如上文所描述或如下文将进一步描述的测试元件分析系统。所述方法包括如独立权利要求中给出且如下列出的方法步骤。可按给定的次序来执行所述方法步骤。然而，方法步骤的其他次序是可行的。另外，可并行地和/或以适时重叠的方式来执行所述方法步骤中的一者或多者。另外，可重复执行所述方法步骤中的一者或多者。另外，可存在未列出的额外方法步骤。
用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的方法包括以下步骤：
a)提供测量装置，测量装置具有用于至少部分地接收至少一个测试元件的测试元件容座，其中，所述测试元件容座包括至少一个第一部分和至少一个第二部分，其中，所述第一部分包括用于放置所述测试元件的至少一个支撑表面，其中，所述第二部分包括用于与所述测试元件的至少一个对准孔接合的至少一个对准销，其中，所述第二部分能够沿基本上垂直于所述支撑表面的方向相对于所述第一部分而移动，
b)将所述第二部分定位在中间位置中，其中，在所述中间位置中，所述第一部分和所述第二部分被隔开，使得可将所述测试元件插入到所述测试元件容座中，
c)将具有至少一个对准孔的至少一个测试元件插入到所述测试元件容座中，其中，所述测试元件在所述插入期间由所述对准销而暂时地并弹性地变形，直到所述对准销卡入到所述对准孔中，
d)将所述第二部分定位成处于闭合位置中，其中，在所述闭合位置中，所述对准销突出穿过所述对准孔，
e)将所述第二部分定位成处于开启位置中，其中，在所述开启位置中，所述第一部分和所述第二部分被隔开，以及
f)从所述测试元件容座移除所述测试元件。
术语“暂时地”可一般指过程仅持续一段时间并且不具有永久性质的任意性质。将第二部分定位在闭合位置中可示例性地由光遮挡件触发。具体地，光遮挡件可配置成识别到测试元件被插入到测试元件容座中。另外，可选地，可通过以下步骤来支持从测试元件分析系统的测试元件容座移除测试元件：由用户或患者使测试元件分析系统倾斜，或由用户或患者将小的物理作用施加到测试元件上，所述物理作用可由相应传感器来检测。然而，其他实施例可以是可行的。
在本发明的另外的方面中，公开了一种用于样品的分析检验的方法，所述样品特别地是体液。所述方法包括如上文所描述或如下文将进一步描述的用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的方法的方法步骤。另外，所述方法包括用于检测样品中的至少一种分析物的至少一个测量步骤。具体地，可在方法步骤d)与e)之间执行所述测量步骤。然而，其他实施例可以是可行的。
用于样品的分析检验的所提出的测试元件分析系统以及用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的所提出的方法和用于样品的分析检验的所提出的方法提供了胜于已知装置和方法的许多优点。
一般地，在常见的测试元件分析系统（诸如常见的光学测量系统）中，测试元件（具体地是测试条）的光学区和测量装置（诸如计量器）的光学检测系统必须非常精确地对准。另外，在基于电化学测量系统的常见的测试元件分析系统中，正常情况下可由测量装置的电连接器来使测试元件对准。然而，由此，将测试元件定位在测量装置中会通常不像经由对准销那样精确。
在使用两种检测方法的情况下，测试元件通常必须就光学测量系统而言被对准得非常好并且经由电连接器电联接。通常，利用常见的设计可不容易一同满足这两个要求。通常，电连接器会并非足够精确，并且利用额外的对准销，测试元件可通常被固定在两个不同位置处并且可因此在机械上被超定。
示例性地，可应用ZIF（零注射力）连接器。具体地，ZIF连接器可以是有利的，因为对准销可能够将测试元件机械地定位在测量装置中。因此，测试元件能够通常被非常好地对准到光学测量系统。然而，同样就应用ZIF连接器而言，会存在必须得到确保的若干特征。具体地，在当用户插入测试元件时与存在到电连接器的连接的时间之间，测试元件的位置会是不明确的，具体地因为在这两种情形之间会存在时间延迟。特别是当用户利用手持式计量器正在移动时，对于此会存在高的风险。这会是危险的，因为当电连接器闭合时，电连接器或测试条可被损坏。另外，会必须克服任何径向力来固定测试元件，例如当用户在测试元件处拉扯时。如果情况是这样，则电连接器会被损坏。
根据本发明的测试元件分析系统可提供许多优点。具体地，可经由对准销来固定测试元件。对准销可能够沿轴向方向而移动。具体地，可存在三个不同位置。在中间位置中，可将测试元件插入到测试元件容座中，具体地，通过滑动跨越对准销的尖端。具体地，尖端可为圆锥状。如果测试元件的对准孔位于对准销下方，则测试元件可卡入到所限定的位置中。测试元件可被固定以防就其本身而言从测试元件分析系统中掉落出来。然而，用户可能够用小的力来移除测试元件。
在闭合位置中，对准销可向下移动。现在，对准销与测试元件的对准孔之间的间隙可被最小化，因为对准销的圆柱形部分可位于对准孔中。因此，测试元件可非常好地被固定和定位在测试元件分析系统内。即使用户继续拉测试元件，测试元件在测试元件分析系统内的位置仍可以是稳定的。因此，测试元件可被固定。另外，测试元件与光学检测系统的对准也可得到确保。
当测量完成时，对准销可向上移动，直到对准销的尖端完全离开测试元件的对准孔。在开启位置中，测试元件可以是能够自由移动的。具体地，可不再存在由对准销对测试元件的任何机械固定。在这个位置中，测试元件能够容易地从测试元件分析系统移除，具体地从测试元件容座移除。因此，可保证测试元件不会损坏ZIF连接器。
概括本发明的发现，以下实施例是优选的：
实施例1：一种用于样品的分析检验的测试元件分析系统，所述测试元件分析系统包括测量装置，所述测量装置包括用于至少部分地接收至少一个测试元件的测试元件容座，所述测试元件具体地是测试条，其中，所述测试元件容座包括至少一个第一部分和至少一个第二部分，其中，所述第一部分包括用于放置所述测试元件的至少一个支撑表面，其中，所述第二部分包括用于与所述测试元件的至少一个对准孔接合的至少一个对准销，其中，所述第二部分能够沿基本上垂直于所述支撑表面的方向相对于所述第一部分而移动，其中，所述测试元件容座配置成相对于所述第一部分将所述第二部分定位在至少三个不同位置中，所述至少三个不同位置包括用于将所述测试元件插入到所述测试元件容座中的中间位置、用于执行测量的闭合位置以及用于从所述测试元件容座移除所述测试元件的开启位置，
-其中，在所述闭合位置中，所述对准销突出穿过所述对准孔，
-其中，在所述开启位置中，所述第一部分和所述第二部分被隔开，使得可从所述测试元件容座自由地移除所述测试元件，并且
-其中，在所述中间位置中，所述第一部分和所述第二部分被隔开，使得可将所述测试元件插入到所述测试元件容座中，而所述对准销定位成使得所述测试元件在所述插入期间由所述对准销而弹性地变形，直到所述对准销卡入到所述对准孔中。
实施例2：根据前一实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件分析系统还包括具有所述至少一个对准孔的至少一个测试元件。
实施例3：根据前一实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件是测试条。
实施例4：根据前述两个实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件具有包括至少一种测试化学品的至少一个测试场，所述测试化学品用于在存在包含于所述样品中的分析物时执行至少一种检测反应，所述分析物具体地是血糖。
实施例5：根据前一实施例所述的测试元件分析系统，其中，测试化学品配置成用于执行光学检测反应和电化学检测反应中的至少一者。
实施例6：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，在所述闭合位置中，所述测试元件由所述第一部分支撑，并且所述第二部分搁置在所述测试元件上。
实施例7：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，在所述开启位置中，所述对准销从所述对准孔被完全拉出来。
实施例8：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件容座还包括用于所述测试元件的侧向导引部，其中，当所述对准孔被所述对准销接合时，所述侧向导引部至少在大的程度上防止所述测试元件在所述测试元件容座内旋转。
实施例9：根据前一实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述侧向导引部包括所述测试元件容座的侧壁。
实施例10：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述第二部分包括块，所述块能够沿基本上垂直于所述支撑表面的方向而线性地移动，其中，所述对准销至少部分地集成到所述块中。
实施例11：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述测量装置包括至少一个检测器，所述检测器用于检测所述样品或其至少一种组分与所述测试元件的至少一种成分之间的至少一种检测反应，所述测试元件的至少一种成分具体地是所述测试元件的至少一种测试化学品。
实施例12：根据前一实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述至少一个检测器被完全或部分地包括在所述第二部分中。
实施例13：根据前述两个实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述对准销配置成相对于所述至少一个检测器来定位所述测试元件。
实施例14：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述支撑表面是基本上平坦的表面。
实施例15：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述第二部分包括在所述闭合位置中与所述支撑表面相互作用的至少一个抵接表面，其中，在所述闭合位置中，所述抵接表面搁置在所述测试元件上。
实施例16：根据前一实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述抵接表面基本上平行于所述支撑表面。
实施例17：根据前述两个实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述对准销从所述抵接表面突出。
实施例18：根据前述三个实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述对准销定位成基本上垂直于所述抵接表面。
实施例19：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，在所述中间位置中，所述对准销的尖端穿透穿过所述支撑表面的平面，其中，在所述开启位置中，所述对准销不穿透穿过所述支撑表面的平面。
实施例20：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述第二部分能够以线性方式相对于所述第一部分而移动。
实施例21：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件容座包含用于导引所述第二部分和所述第一部分的相对移动的至少一个导引元件。
实施例22：根据前一实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述导引元件包括至少一个导轨，更优选地包括至少一个线性导轨。
实施例23：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件分析系统还包括用于驱动所述第一部分和所述第二部分的相对移动的至少一个致动器。
实施例24：根据前一实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述致动器配置成用于执行一连串预定的移动，即相继地使得所述第一部分和所述第二部分进入到所述中间位置中、所述闭合位置中和所述开启位置中。
实施例25：根据前一实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述致动器配置成用于分别在所述中间位置中、在所述闭合位置中和在所述开启位置中使移动停止。
实施例26：根据前述两个实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件分析系统包括用于控制一连串预定的移动的至少一个控制器。
实施例27：根据前述四个实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述第二部分由至少一个弹簧元件而偏置抵靠所述第一部分，其中，所述致动器配置成抵抗所述偏置而作用。
实施例28：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述对准销是圆柱形对准销，优选地是具有圆形截面的圆柱形对准销。
实施例29：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述对准销具有至少一个锥形尖端。
实施例30：根据前一实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述锥形尖端具有选自由圆锥形状、圆形形状、具有单侧平缓斜度的锥形尖端组成的组的形状。
实施例31：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述对准销具有圆柱形部分和锥形尖端，其中，在所述闭合位置中，所述圆柱形部分在所述对准孔内，其中，在所述中间位置中，在所述对准销已卡入到所述对准孔中之后，所述锥形尖端在所述对准孔内。
实施例32：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件容座还包括至少一个抵接元件，其中，在所述中间位置中，所述抵接元件配置成用于限制所述测试元件到所述测试元件容座中的插入。
实施例33：根据前一实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述抵接元件能够沿所述测试元件的插入方向而移动，其中，所述抵接元件配置成用于当所述测试元件容座处于所述开启位置中时在使用之后弹出所述测试元件。
实施例34：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述第一部分形成所述测试元件容座的固定式子组件，并且其中，所述第二部分形成所述测试元件容座的可移动式子组件。
实施例35：根据前述实施例中的任一者所述的测试元件分析系统，其中，所述测量装置还包括用于评估利用所述测量装置执行的至少一种测量的至少一个评估装置，具体地，至少一个处理器。
实施例36：一种用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的方法，所述样品特别地是体液。所述方法包括：
a)提供测量装置，测量装置具有用于至少部分地接收至少一个测试元件的测试元件容座，其中，所述测试元件容座包括至少一个第一部分和至少一个第二部分，其中，所述第一部分包括用于放置所述测试元件的至少一个支撑表面，其中，所述第二部分包括用于与所述测试元件的至少一个对准孔接合的至少一个对准销，其中，所述第二部分能够沿基本上垂直于所述支撑表面的方向相对于所述第一部分而移动，
b)将所述第二部分定位在中间位置中，其中，在所述中间位置中，所述第一部分和所述第二部分被隔开，使得可将所述测试元件插入到所述测试元件容座中，
c)将具有至少一个对准孔的至少一个测试元件插入到所述测试元件容座中，其中，所述测试元件在所述插入期间由所述对准销而暂时地并弹性地变形，直到所述对准销卡入到所述对准孔中，
d) 将所述第二部分定位成处于闭合位置中，其中，在所述闭合位置中，所述对准销突出穿过所述对准孔，
e)将所述第二部分定位成处于开启位置中，其中，在所述开启位置中，所述第一部分和所述第二部分被隔开，以及
f)从所述测试元件容座移除所述测试元件。
实施例37：根据前述实施例的方法，其中，所述方法包括使用根据涉及测试元件分析系统的前述实施例中的任一者的测试元件分析系统。
实施例38： 一种用于样品的分析检验的方法，所述样品特别地是体液，其中，所述方法包括根据涉及用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的前述实施例中的任一者的方法步骤，其中所述方法还包括用于检测所述样品中的至少一种分析物的至少一个测量步骤。
实施例39：根据前一实施例所述的方法，其中，在用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的方法的方法步骤d)与e)之间执行所述测量步骤。
附图说明
将在优选实施例的后续描述中优选地结合从属权利要求更详细地公开本发明的另外的可选特征和实施例。其中，如技术人员将意识到的，可以以隔离的方式以及以任何任意的可行组合来实现相应的可选特征。本发明的范围不受优选实施例的限制。诸图中示意性地描绘了实施例。其中，这些图中的相同参考数字是指相同或功能上可比的元件。
在附图中：
图1A到图1B以截面图（图1A）示出了测试元件分析系统的细节以及以截面图（图1B）示出了测试元件分析系统的一部分的详细视图；
图2A到图2B以截面图（图2A）示出了测试元件分析系统的细节以及以截面图（图2B）示出了测试元件分析系统的一部分的详细视图；
图3A到图3B以截面图（图3A）示出了测试元件分析系统的细节以及以截面图（图3B）示出了测试元件分析系统的一部分的详细视图；以及
图4以截面图示出了测试元件分析系统的示例性实施例的细节。
具体实施方式
图1A以截面图示出了用于样品的分析检验的测试元件分析系统110。另外，图1B以截面图示出了图1A的测试元件分析系统110的一部分112的详细视图。测试元件分析系统110包括测量装置114。测量装置114包括用于至少部分地接收至少一个测试元件118的测试元件容座116。具体地，测试元件118可以是测试条120。测试元件容座116包括至少一个第一部分122和至少一个第二部分124。第一部分122可形成测试元件容座116的固定式子组件125，并且第二部分可形成测试元件容座116的可移动式子组件127。第一部分122包括用于放置测试元件118的至少一个支撑表面126。第二部分124包括用于与测试元件118的至少一个对准孔130接合的至少一个对准销128。第二部分124能够沿基本上垂直于支撑表面126的方向132相对于第一部分122而移动。另外，测试元件容座116配置成相对于第一部分122将第二部分124定位在至少三个不同位置中。在图1A和图1B中，示出了第二部分124的中间位置134。在中间位置134中，第一部分122和第二部分124被隔开，使得可将测试元件118插入到测试元件容座116中。由此，对准销128定位成使得测试元件118在插入期间由对准销128而暂时变形，直到对准销128卡入到对准孔130中（如图1中所示）。
第二部分124可包括块136，块136能够沿基本上垂直于支撑表面的方向132而线性地移动。具体地，对准销128可至少部分地嵌入和/或集成到块136中。在另一实施例中，对准销128不是单独的部分，而是块136自身具有形成对准销128的几何结构。测量装置114可包括至少一个检测器138，检测器138用于检测样品或其至少一种组分与测试元件118的至少一种成分140之间的至少一种检测反应，测试元件118的至少一种成分140具体地是测试元件118的至少一种测试化学品142。检测器138可被完全或部分地包括在第二部分124中，具体地包括在块136中。检测器138可示例性地为光学检测器144。
具体地，对准销128可以是圆柱形对准销146。圆柱形对准销146可具有圆形截面。进一步地，对准销130可具有尖端148。具体地，尖端148可以是锥形尖端150。在中间位置134中，对准销128的尖端148可穿透穿过支撑表面126的平面152。进一步地，在中间位置134中，当对准销128已卡入到测试元件118的对准孔130中时，锥形尖端150可以在对准孔130内。因此，在中间位置134中，第一部分122和第二部分124可被隔开，使得可将测试元件118插入到测试元件容座116中。
具体地，支撑表面126可以是基本上平坦的表面154。第二部分124可包括至少一个抵接表面156。抵接表面156可基本上平行于支撑表面126。进一步地，对准销128可从抵接表面156突出。具体地，对准销128可定位成基本上垂直于抵接表面156。
测试元件容座116还可包括用于测试元件118的侧向导引部158。侧向导引部158可配置成当测试元件118的对准孔130被对准销128接合时至少在大的程度上防止测试元件118在测试元件容座116内旋转。具体地，侧向导引部158可包括测试元件容座116的侧壁160。具体地，侧向导引部158可相对于测试元件118的纵向侧（未示出）来定位，并且可配置成至少部分地防止测试元件116围绕对准销128旋转。
另外，测试元件分析系统110可包括用于驱动第一部分122和第二部分124的相对移动的至少一个致动器162。具体地，致动器162可配置成用于执行一连串预定的移动，即相继地使得第一部分122和第二部分124进入到中间位置134中和另外的位置中，如将在图2A到图3B中进一步描述的。
图2A以截面图示出了如图1A和图1B中所图示说明的测试元件分析系统110。因此，可参考上文图1A到图1B的描述。然而，在图1A中，第二部分124是闭合位置164。图2B示出了图2B的测试元件分析系统的部分112的详细视图。
在闭合位置164中，对准销突出穿过对准孔130。具体地，测试元件118可由第一部分122支撑，并且第二部分124可搁置在测试元件118上。具体地，抵接表面156可配置成与支撑表面126相互作用。由此，抵接表面156可配置成搁置在测试元件118上。测试元件118可被固定和定位在测试元件容座116内。即使用户继续拉测试元件118，测试元件118在测试元件容座116内的位置仍可以是稳定的。在闭合位置164中，可具体地经由测量装置114来实施测量，所述测量具体地是用于检测样品中的至少一种分析物的测量。
图3A以截面图示出了如图1A到图2B中所图示说明的测试元件分析系统110。因此，可参考上文图1A到图2B的描述。然而，在图3A中，第二部分124处于开启位置166中。图3B示出了图3B的测试元件分析系统的部分112的详细视图。
在开启位置166中，第一部分122和第二部分124被隔开，使得可从测试元件容座116自由地移除测试元件118。具体地，在开启位置166中，对准销128可从对准孔130被完全拉出来。在开启位置166中，可从测试元件容座116移除测试元件118。可不再存在对测试元件的任何机械固定。
在图4中，示出了用于样品的分析检验的测试元件分析系统110的简化实施例的截面图的细节。测试元件分析系统110包括外壳168，外壳168具有用户接口170，诸如，显示器172和一个或多个控制元件174。测试元件分析系统110可包括至少一个控制器176，作为示例，控制器176可完全或部分地配置成用于评估分析结果的评估装置145，具体地，配置成至少一个处理器147。控制器176可连接到用户接口170。评估装置145可以是测量装置114的一部分。
测试元件分析系统110还可包括用于接收测试元件118的至少一个测试元件容座116。测试元件分析系统110还可包括用于检测样品与由测试元件118包括的至少一种测试化学品142（诸如，包含在至少一个测试场178中的至少一种测试化学品142）的至少一种分析反应的光学检测器144。
具体地，可将测试元件118设计为测试条120。光学检测器144可具有至少一个光源（未描绘）和至少一个光学传感器，以用于在测试场178上执行缓解测量（remissionmeasurement）。
测试元件分析系统110还可包括用于加热测试元件118的至少一个加热元件180。加热元件180可包括：面向测试元件118的前面182，测试元件118可搁置在前面182上；以及在相对侧上的背面184。
在前面182上，可限定作用区186，作用区186面向测试元件118的包含测试场178的区域。在作用区186外部，可限定非作用区188。作用区186可由至少一个热绝缘元件190与非作用区188分离。
在背面184上，加热元件180可包括一个或多个加热器192。进一步地，加热元件180可包括用于检测加热元件180的温度的一个或多个热传感器元件194。加热器192和热传感器元件194既可直接地又可间接地连接到控制器176。
附图标记列表
110：测试元件分析系统
112：部分
114：测量装置
116：测试元件容座
118：测试元件
120：测试条
122：第一部分
124：第二部分
125：固定式子组件
126：支撑表面
127：可移动式子组件
128：对准销
130：对准孔
132：方向
134：中间位置
136：块
138：检测器
140：成分
142：测试化学品
144：光学检测器
145：评估装置
146：圆柱形对准销
147：处理器
148：尖端
150：锥形尖端
152：平面
154：基本上平坦的表面
156：抵接表面
158：侧向导引部
160：侧壁
162：致动器
164：闭合位置
166：开启位置
168：外壳
170：用户接口
172：显示器
174：控制元件
176：控制器
178：测试场
180：加热元件
182：前面
184：背面
186：作用区
188：非作用区
190：热绝缘元件
192：加热器
194：热传感器元件

Claims (16)

1.一种用于样品的分析检验的测试元件分析系统（110），所述测试元件分析系统（110）包括测量装置（114），所述测量装置（114）包括用于至少部分地接收至少一个测试元件（118）的测试元件容座（116），其中，所述测试元件容座（116）包括至少一个第一部分（122）和至少一个第二部分（124），其中，所述第一部分（122）包括用于放置所述测试元件（118）的至少一个支撑表面（126），其中，所述第二部分（124）包括用于与所述测试元件（118）的至少一个对准孔（130）接合的至少一个对准销（128），其中，所述第二部分（124）能够沿基本上垂直于所述支撑表面（126）的方向（132）相对于所述第一部分（122）而移动，其中，所述测试元件容座（116）配置成相对于所述第一部分（122）将所述第二部分（124）定位在至少三个不同位置中，所述至少三个不同位置包括用于将所述测试元件（118）插入到所述测试元件容座（116）中的中间位置（134）、用于执行测量的闭合位置（164）以及用于从所述测试元件容座（116）移除所述测试元件（118）的开启位置（166），
- 其中，在所述闭合位置（164）中，所述对准销（128）突出穿过所述对准孔（130），
- 其中，在所述开启位置（166）中，所述第一部分（122）和所述第二部分（124）被隔开，使得可从所述测试元件容座（116）自由地移除所述测试元件（118），并且
- 其中，在所述中间位置（134）中，所述第一部分（122）和所述第二部分（124）被隔开，使得可将所述测试元件（118）插入到所述测试元件容座（116）中，而所述对准销（128）定位成使得所述测试元件（118）在所述插入期间由所述对准销（128）而弹性地变形，直到所述对准销（128）卡入到所述对准孔（130）中。
2.根据权利要求1所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试元件分析系统（110）还包括具有所述至少一个对准孔（130）的至少一个测试元件（118）。
3.根据权利要求1或2中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，在所述闭合位置（164）中，所述测试元件（118）由所述第一部分（122）支撑，并且所述第二部分（124）搁置在所述测试元件（118）上。
4.根据权利要求1或2中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，在所述开启位置（166）中，所述对准销（128）从所述对准孔（130）被完全拉出来。
5.根据权利要求1或2中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试元件容座（116）还包括用于所述测试元件（118）的侧向导引部（158），其中，当所述对准孔（130）被所述对准销（128）接合时，所述侧向导引部（158）至少在大的程度上防止所述测试元件（118）在所述测试元件容座（116）内旋转。
6.根据权利要求1或2中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述第二部分（124）包括块（136），所述块（136）能够沿基本上垂直于所述支撑表面（126）的方向（132）而线性地移动，其中，所述对准销（128）至少部分地集成到所述块（136）中。
7.根据权利要求1或2所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测量装置（114）包括至少一个检测器（138），所述检测器（138）用于检测所述样品或其至少一种组分与所述测试元件（118）的至少一种成分（140）之间的至少一种检测反应。
8.根据权利要求7所述的测试元件分析系统（110），其中，所述至少一个检测器（138）被完全或部分地包括在所述第二部分（124）中。
9.根据权利要求7所述的测试元件分析系统（110），其中，所述对准销（128）配置成相对于所述至少一个检测器（138）来定位所述测试元件（118）。
10.根据权利要求1或2中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述第二部分（124）包括在所述闭合位置（164）中与所述支撑表面（126）相互作用的至少一个抵接表面（156），其中，在所述闭合位置（164）中，所述抵接表面（156）搁置在所述测试元件（118）上。
11.根据权利要求1或2中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，在所述中间位置（134）中，所述对准销（128）的尖端（148）穿透穿过所述支撑表面（126）的平面（152），其中，在所述开启位置（166）中，所述对准销（128）不穿透穿过所述支撑表面（126）的所述平面（152）。
12.根据权利要求1或2中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试元件容座（116）包含用于导引所述第二部分（124）和所述第一部分（122）的相对移动的至少一个导引元件。
13.根据权利要求1或2中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试元件分析系统（110）还包括用于驱动所述第一部分（122）和所述第二部分（124）的相对移动的至少一个致动器（162）。
14.一种用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的方法，所述方法包括：
a) 提供测量装置（114），所述测量装置（114）具有用于至少部分地接收至少一个测试元件（118）的测试元件容座（116），其中，所述测试元件容座（116）包括至少一个第一部分（122）和至少一个第二部分（124），其中，所述第一部分（122）包括用于放置所述测试元件（118）的至少一个支撑表面（126），其中，所述第二部分（124）包括用于与所述测试元件（118）的至少一个对准孔（130）接合的至少一个对准销（128），其中，所述第二部分（124）能够沿基本上垂直于所述支撑表面（126）的方向（132）相对于所述第一部分（122）而移动，
b) 将所述第二部分（124）定位在中间位置（134）中，其中，在所述中间位置（134）中，所述第一部分（122）和所述第二部分（124）被隔开，使得可将所述测试元件（118）自由地插入到所述测试元件容座（116）中，
c) 将具有至少一个对准孔（130）的至少一个测试元件（118）插入到所述测试元件容座（116）中，其中，所述测试元件（118）在所述插入期间由所述对准销（128）而暂时地并弹性地变形，直到所述对准销（128）卡入到所述对准孔（130）中，
d) 将所述第二部分（124）定位成处于闭合位置（164）中，其中，在所述闭合位置（164）中，所述对准销（128）突出穿过所述对准孔（130），
e) 将所述第二部分（124）定位成处于开启位置（166）中，其中，在所述开启位置（166）中，所述第一部分（122）和所述第二部分（124）被隔开，以及
f) 从所述测试元件容座（116）移除所述测试元件（118）。
15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述样品是体液的样品。
16.一种用于样品的分析检验的方法，其中，所述方法包括根据权利要求14或15中的任一项所述的方法步骤，其中，所述方法还包括用于检测所述样品中的至少一种分析物的至少一个测量步骤。
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