TW495477B - Automatic printing of caution labels for moisture-sensitive devices - Google Patents

Automatic printing of caution labels for moisture-sensitive devices Download PDF

Info

Publication number
TW495477B
TW495477B TW90115095A TW90115095A TW495477B TW 495477 B TW495477 B TW 495477B TW 90115095 A TW90115095 A TW 90115095A TW 90115095 A TW90115095 A TW 90115095A TW 495477 B TW495477 B TW 495477B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
moisture
label
level
dry
warning
Prior art date
Application number
TW90115095A
Other languages
English (en)
Inventor
Saragarvani Pakerisamy
Kesmond Kwek
Original Assignee
Advanced Micro Devices Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US09/761,180 external-priority patent/US6573200B2/en
Application filed by Advanced Micro Devices Inc filed Critical Advanced Micro Devices Inc
Application granted granted Critical
Publication of TW495477B publication Critical patent/TW495477B/zh

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65CLABELLING OR TAGGING MACHINES, APPARATUS, OR PROCESSES
    • B65C9/00Details of labelling machines or apparatus
    • B65C9/46Applying date marks, code marks, or the like, to the label during labelling

Landscapes

  • Auxiliary Devices For And Details Of Packaging Control (AREA)
  • Packages (AREA)

Description

495477 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(i ) [技術領域] 本發明疋關於積體電路封裝技術,並且更明確地,是 關於乾燥封裝製程之標示標籤於忌濕氣裝置。 [背景技藝] 由於吸收濕氣,半導體裝置(以下所稱之「裝置」一詞, 為半導體裝置之簡稱)如固態表面安裝裝置(surface mount device SMD)在以焊接劑迴焊時會受損害。當封裝體曝露在 焊接劑迴焊之高溫,半導體裝置之塑膠封裝内部之濕氣之 瘵氣壓快速的增加。在某些情況下,此壓力從晶片及/或導 線架導致塑膠内部損害'不會延伸至封裝體外面之内部破 片、焊結損壞、纏線、焊結凸起、晶片凸起、薄膜破裂、 或焊結底下之凹洞。在最嚴重之情況,此壓力會造成外部 的封裝體破裂。這一般歸類為「氣爆」現象,因為内部壓 力導致封裝體膨脹然後產生可聽到砰聲 之破裂。 表面安裝裝置更容易具有這樣之問題,其次是貫穿 孔,廷是因為它們在焊接劑迴焊時曝曬在高溫。對貫穿孔 之裝置而s,焊接操作發生在電路板底下而電路板屏蔽熱 的焊接劑於貫穿孔之裝置。 … '再者,§使用塑膠封裝膠體材料,由於塑膠為濕氣能 自然滲透之材料,故濕氣導致的損害之風險更高。封裝體 内之溼氣會增加而達到周圍環境之相對濕度。 因此控制封裝體内濕氣含量對降低濕氣導致的損害之 風險很重要。冑了避免吸收濕氣,將忌濕氣裝置封裝於乾 ---------------------訂 *-------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 外 5477 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Α7 Β7 五、發明說明(2 ) 燥封裝袋内,此乾燥封裝袋含有乾燥劑材料與溼度指示 卡’而乾燥劑材料與濕度指示卡及忌濕氣裝置密封於濕度 屏障袋(moisture barrier bag,MBB)内。乾燥劑材料是吸收 性強的材料如矽膠以用來維持濕度屏障袋内低的相對渔 度。漫度指示卡是一種印有溼式化學劑之卡片以使得當超 過預設濕度卡片之顏色由藍變成粉紅。 由交互連接與封裝電子電路研究院(Interc〇nneeting and Packaging Electronic Circuits,IPC)及聯合電子裝置工 程委員會(Joint Electronic Device Engineering Council JEDEC)所發展之ipc/jedec j-STD-033標準包含處理、封 裝、運送與使用忌濕氣表面黏著裝置之要求。特別是,此 標準要求使用濕度屏障袋以包裝忌濕氣裝置應該標示忌濕 氣之警示標籤。忌濕氣之警示標籤之範例如第丨圖所示。 貼於濕度屏障袋之外部表面之警示標籤以反映袋内之 特疋產品而變化。標籤標示袋子之内容以及包含袋子密封 之曰期、乾燥封裝袋之到期日、與產品處理綱要。 還有,警示標籤含有由IPC/JEDEC J-STD-020A標準 定義之忌濕氣含量位準。忌濕氣含量位準標示在打開濕度 屏障袋後及忌濕氣裝置架置於電路板之前用以保存忌濕氣 裝置之時限,並且標示保存所維持之溫度與濕度。離袋後 之時限依據產品之濕度感測而定。若從開始曝露至在架置 於電路板之離袋時間過久’產品應在規定時段於規定之溫 度烘乾。 IPC/JEDEC J-STD-09 0A ^ μ ^ μ 厂㈣ ί不準疋義6個不同的忌濕氣 衣紙浪尺艾過用中國國私f票準(CNS)A4規丨各(210 X 297公餐) 91837 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) n ^^1 i -i HI n i H 一 * u if m It m I ϋ— I 線—申· 495477 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 五、發明說明(3 ) 含量位準,歸屬於位準1到位準6。輕古 > 較回的位準標示較高 的感測度。特別是,位準1對應至扁 千丁魘主在不超過溫度30〇C以及 相對濕度不超過85%之無限曝露時間。位準2、2a、3、4、 5以及5a分別地要求曝露時間不超過!年、4週、小 時、72小時、48小時以及24小時。位準6依產品而定。 直接根據乾燥封裝袋上之特定指示。位準2到位準6規定 袋外保存在不超過溫度⑽以及相對濕度不超過侧。 測試產品以決定它們的忌濕氣含量位準。在位準Μ 成失敗之產品然後以較高之位準測試直到通過為止。特定 之環境壓力步驟使產品接受模擬終端使用應用之環境之狀 况接續之電性測試與檢驗步驟決定忌濕氣裝置在環境壓 力步驟中是否損壞。 、 旦產品被判定是忌濕氣的(即未通過位準丨之測 試),此產品則封入乾燥封裝袋並受限於IPC/JEDEC弘 STD-033之標準所規定之乾燥封裝處理程序。特別是,預 先列〜卩之警不標籤貼在乾燥封裝袋之外部表面以標示產品 之忌濕氣含量位準。 *然而,乾燥封裝袋產品之標籤是手動的。因此,錯誤 之才示籤可能貼於乾燥包。由於不正確之離袋曝露時間,而 導致裝置之引入濕氣故障。 一於疋,較佳的是提供自動化系統以列印正確等級之警 不枯藏於乾燥封裝袋產品,而貼標蕺過程中避免發生失錯 誤。 [發明揭示] ^尺度標準(CNS)A4規格。〇 χ ” 一 ! ) j 91837 ^ ^---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 495477 A7
經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 X 消 費 合 作 巧土 五、發明說明(4 ) 本發明提供一種新的系統以自動地產生忌濕氣半導體 裝置之警示標籤,此忌濕氣半導體裝置封裝在乾燥封裝袋 内。此系統包含掃瞄器以掃瞄代表密封在乾燥封裝袋内2 忌濕氣裝置之彳示記資訊之標記標鐵,以及且有包人#〜 忌濕氣裝置之忌濕氣含量位準之查詢表之計算器。計算器 依掃瞄器產生之標記信號尋找查詢表之指定至忌濕氣=置 之忌濕氣含量位準。由計算器判定的忌濕氣含量位準即供 給標籤格式化設備以產生標示忌濕氣含量位準之標鐵。# 藏格式化設備可控制印表機以列印已產生之警示標籤。 在本發明之較佳實施例,忌濕氣等級遵照IPC/JEDEC J-STD-020A標準。查詢表更包含裝置之型式資訊與導線數 目。 根據本發明之方法,當操作員貼標籤在含有忌濕氣裝 置之乾燥封裝袋,自動地列印警示標籤。掃瞄代表密封在 乾燥封裝袋内之封裝體之標記資訊之標記標藏以產生代表 封裝體之標記信號。根據標記信號,查詢預設的查詢表之 指定至封裝體之忌濕氣含量位準。根據查詢表找到之忌濕 氣含量位準,自動地產生警示標籤。 從以下之詳細說明,本發明之其他目的與優點對熟習 本技術領域之一般技藝人士是顯而易見,其中僅揭示與說 明本發明之較佳實施例,僅藉以說明實施本發明之最佳模 式。並且將了解,本發明能有其他與不同之實施例,而它 們之細節能有不同明顯範例之變型,此皆不悖離本發明。 於是’圖式與說明視為自然地解說,而非限制。 不紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(2】〇x 297公琴) 91837 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂i •線丨-- A7 -------gL —___ 五、發明說明(5 ) [圖式之簡單說明] 第1圖表示IPC/JEDEC J-STD-033標準定義的檠示样 籤。 v (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 第2圖為根據本發明之自動列印警示標籤之系統之方 塊圖。 [發明之實施模式] 如同上述’測試積體電路封裝以決定它們的忌濕氣含 里位準。未通過位準丨測試要求之封裝體接著以較高位準 之測試直到通過。因此,每一個忌濕氣裝置建立一個特定 之忌濕氣含量位準。 由交互連接與封裝電子電路研究院(Interc〇nnecting and Packaging Electronic Circuits,IPC)及聯合電子裝置工 程委員會(Jomt Electronic Device Engineering Council, JEDEC)所發展之IPC/JEDEC j_STD-〇33標準包含處理、封 裝運送與使用忌濕氣表面黏著裝置之要求。特別是,此 標準定義封裝忌濕氣裝置之乾燥封裝製程。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 乾燥封裝製程之第一步是藉由在125艺烘乾成品45 至15.5小時(依封裝體而定)而移除封裝體内累積之任何濕 氣。在烘乾後24至50小時内(依封裝體而定),在部分真 空下將產品密封入乾燥封裝袋(即濕氣屏障袋)。 根據IPC/JEDEC J-STD_033標準,警示標籤應貼於每 一個乾燥封裝袋之外部表面。警示標籤應包含密封在乾燥 封裝袋内之特定積體電路封裝之忌濕氣含量位準。 通常預先印好不同忌濕氣等級之警示標籤。根據規 91837 衣紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(2]〇χ 297公餐) A7 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印i 五、發明說明(6 ) 格’操作貝以手裔y ;登找1、女A,丄 ^ 特定的乾燥封裝袋之標籤,並 且在乾無封裝袋貼上標籤。麸 * ^ , a λ ^ ^ ^ … 手動貼標籤之程序易於 標籤。錯誤之邀示伊籤舍:::乾無封裝袋貼上不正確之 紫署叙會導致客戶將從袋子取出之忌濕氣 裝置保存超過由验罢+ ρ、 心濕氣含量位準所界定之袋外曝露 、\。此’此裝置在接焊劑迴焊時會受到損害。 為了避免乾無封裝之舞 払 本發明提供一種在乾 製程自動列印警示標籤之系統。如第2圖所示,用 列特不標籤之系統10包含掃瞎器12、具有查詢 16之計算機14、標籤格式化設備18、及印表機20。 J詢表16可包含裝置資訊如封裝型式、導線數目、裝 不不。己號碼、及指定於裝置之忌濕氣含量位準。例如, 可在,理乾燥封裝製程之電腦提供查詢表。 ^每個乾燥封裝袋包含標示乾燥封裝袋内容之標記標 戴,如’乾燥封裝袋之内容可以由製造批次號碼標示。 呆< 員使用連接至計算機14之掃瞄器12以掃瞄製程手冊 上之製造批次號碼。 掃田器12所掃瞄之乾燥封裝袋之製造批次號碼作為 上=“查為表16之指標。使用此標記資訊,計算機丨4查 赐二—°旬表16之與乾燥封裝袋之標記資訊相關之資料。具 。之计算機14判定指定於封裝在乾燥封裝袋内之裝置 之忌濕氣含量位準。 ^ 生代表忌濕氣含量位準與其他相關資訊 之l號,亚且傳送此信號給標籤格式化裝置1 $,此標籤格 0 > In n n ϋ n d l I n I I « I— n I I I— n n I n t I n - i I ·ϋ ί I n (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 —-------B7_____ 五、發明說明(7 ) 式化裝置18包含產生警示標籤需要之資訊。例如,使用由
備 a 司(Digital Equipment Corporation)製造之 VAX 工作站以執行標籤袼式化功㉟,並且產生警示標籤。連接 至標籤格式化裝置18之印表機2〇列印具有指定至密封在 c燥封裝‘内之封裝體之忌濕氣含量位準之警示標籤。 因此,根據本發明,當操作員貼標籤在含有忌濕氣裝 置之乾燥封裝^自動地列印警示標籤。掃代表密封在 乾燥封裝袋内 < 封裝^之標€資訊之批次號碼或標記標藏 以產生代表封裝體之標記信號。根據標記信號,查詢預設 的查珣表之指定於封裝體之忌濕氣含量位準。根據查詢表 找到之忌濕氣含量位準,自動地產生警示標籤。 在本文之揭示,僅揭露與說明本發明之較佳實施例, 仁如本文中所描述’須了解在本發明概念内可以有本發明 之變型。例如’掃猫器、計算機以及標籤格式化設備可以 結合為用以處理乾燥封裝製程之單一工作站。 [符號說明] 裝--------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟邹智慧財產局員工消費合作、社印製 10 自動列 印警示標籤之系統 12 掃瞄器 14 計算機 16 查詢表 18 標藏格式化設備 20 印表機 7

Claims (1)

  1. 495477 SI —一 -------—— --- 六、申請專郷® 1· 一種用於自動地產生封裝在乾燥封裝袋之忌濕氣半導 體裝置之警示標籤之系統,該系統包含: 掃瞄器,用以掃瞄代表密封在該乾燥封裝袋内之忌 濕氣裝置之標記資訊之標記標籤以產生標記作號· 計算機,具有包含指定於該忌濕氣裝置之忌濕氣含 量位準之查詢表,該計算機依該掃瞄器產生之該標記信 號尋找該查詢表之指定至該忌濕氣裝置之該忌濕氣含 量位準;以及 標籤袼式化設備’依該計算機所提供的該忌濕氣含 ΐ位準產生標示忌濕氣含量位準之警示標藏。 2 ·如申明專利祝圍第1項之系統,其中該忌濕氣含量位準 係遵循 IPC/JEDEC J-STD-020A 標準。 3.如申請專利範圍第1項之系統,更包含印表機,回應該 標籤格式化設備而列印該警示標籤。 4 ·如申請專利範圍第1項之系統,其中該查詢表更包含半 導體裝置之型式與半導體裝置導線數目之資訊。 5. —種用於自動地產生封裝在乾燥封裝袋之忌濕氣半導 體裝置之警示標籤之方法,該方法包含以下步驟: 掃瞎代表密封在該乾燥封裝袋内之半導體裝置之 才示記資訊之標記標籤以產生代表該裝置之標記信號; 根據該標記信號,尋找預設之查詢表之指定至該忌 濕氣裝置之忌濕氣含量位準;以及 根據該查詢表所找到之該忌濕氣含量位準而產生 警示標籤。 --------------裳i (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 訂· -線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規, 297公釐) 8 91837 495477 A8B8C8D8 .六、申請專利範圍 6.如申請專利範圍第5項之方法,更包含列印該警示標籤 之步驟。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 9 91837 -------------裝--------訂· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 線·
TW90115095A 2000-06-28 2001-06-21 Automatic printing of caution labels for moisture-sensitive devices TW495477B (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US21443100P 2000-06-28 2000-06-28
US09/761,180 US6573200B2 (en) 2001-01-18 2001-01-18 Automatic printing of caution labels for moisture-sensitive devices

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW495477B true TW495477B (en) 2002-07-21

Family

ID=26908996

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW90115095A TW495477B (en) 2000-06-28 2001-06-21 Automatic printing of caution labels for moisture-sensitive devices

Country Status (3)

Country Link
AU (1) AU2001275266A1 (zh)
TW (1) TW495477B (zh)
WO (1) WO2002000505A2 (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7402835B2 (en) 2002-07-18 2008-07-22 Chevron U.S.A. Inc. Heteroatom-containing diamondoid transistors
US7049374B2 (en) 2002-07-18 2006-05-23 Chevron U.S.A. Inc. Heterodiamondoids
US7224532B2 (en) 2002-12-06 2007-05-29 Chevron U.S.A. Inc. Optical uses diamondoid-containing materials

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2718064B1 (fr) * 1994-03-31 1996-06-07 Aetsrn Procédé automatique d'étiquetage et de contrôle de poches de sang en retour d'analyse et machine en comportant application.

Also Published As

Publication number Publication date
WO2002000505A3 (en) 2002-05-23
WO2002000505A2 (en) 2002-01-03
AU2001275266A1 (en) 2002-01-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI221958B (en) Apparatus and method to handle power supply failures for a peripheral device
TWI343024B (en) A system and method for smart radio frequency identification tags
JP2002308437A (ja) Rfidタグを用いた検査システム
US9104924B2 (en) Temperature tracking device and method using same
TW495477B (en) Automatic printing of caution labels for moisture-sensitive devices
TW306051B (zh)
EP0589156B1 (en) A semiconductor device packaging medium having a vacuum seal indicator card
JP2005532619A (ja) カードを取り扱うための方法及び装置
JP5678377B2 (ja) 配送用容器の横長封印シール及び封印方法
CN205451142U (zh) 用于物流包裹的rfid电子标签及物流包裹
CN110040310A (zh) 一种可追溯产品包装方法及装置
JP2011161422A (ja) 封入物検査システム、封入物検査方法、及び封入物検査装置
US8749377B2 (en) Temperature tracking device and method using same
JP5001470B1 (ja) 封入封緘システム及びその処理方法
US6573200B2 (en) Automatic printing of caution labels for moisture-sensitive devices
TW423127B (en) Package structure and method
JP2001175854A (ja) 画像による良否検査装置
TW463340B (en) Method to accurately define the decapsulated area of plastic package
TW447063B (en) Intelligent testing machine
JP4639108B2 (ja) 梱包内容確認用ラベルの印字システム
CN109409488A (zh) 防揭抗介质rfid标签
KR200280827Y1 (ko) 접착이 용이한 습도지시카드
JP2004246411A (ja) 印刷装置、印刷物管理装置、印刷物管理システム、印刷物作成方法、印刷物管理方法、印刷物作成プログラム、印刷物管理プログラム
JP2005122545A (ja) 封筒処理方法
JP2008143671A (ja) 情報制御システムおよびそのシステムを利用する装置

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees