TW412461B - Diamond disk for trimming wafer polishing pad and method for making the same - Google Patents
Diamond disk for trimming wafer polishing pad and method for making the same Download PDFInfo
- Publication number
- TW412461B TW412461B TW088116681A TW88116681A TW412461B TW 412461 B TW412461 B TW 412461B TW 088116681 A TW088116681 A TW 088116681A TW 88116681 A TW88116681 A TW 88116681A TW 412461 B TW412461 B TW 412461B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- diamond
- scope
- patent application
- item
- trimming
- Prior art date
Links
Description
412461 A7 B7 五、發明說明(/) 本發明係為一種修整晶圓拋光墊的鑽石碟及其製法, 其可將鑽石均勻地分佈在鑽石碟上,並可擁有厚度均勻的 焊料金屬層’而可提供晶圓拋光墊良好的修整效果,且可 擁有較長的使用壽命者。 矽晶圓(Silicon ffafer)為半導體產業的核心材料。 石夕晶圓的表面要恨平滑,才能用來製造晶片(chip),因此 必須以拋光方法精密加工。拋光時除了以微細磨粒研磨外 1也常加入酸液加速侵蝕。這種機械及化學並用的拋光方 法稱為 CMP (Chemical Mechanical Polishing)。在進行 CMP時’數個矽晶圓各以圓盤蓋住並壓在旋轉的拋光墊上 。墊上另以懸臂注入研磨液。研磨液可為酸或鹼性,視所 被研磨的材質而定,如研磨氧化物通常以驗性溶液,而研 磨金屬材料(如鎢或銅)則多使用酸性溶液。研磨時產生的 碎屑多隨水沖走’但也有些碎屑會混入拋光墊。這些碎屑 累積後會使拋光墊硬化失去拋光晶圓的功能。但如果在拋 光時隨時以鑽石碟扒除積垢則可大幅延長拋光墊的壽命。 例如拋光八吋晶圓時,拋光不及百片(每片約一分鍾)後, 拋光墊就會因積垢太多而使晶圓拋光速率大減。乃至不堪 使用°但右在抛光時以鑽石碟φγ除積垢則可使拋光塾的有 效壽命延長至500片以上。 鑽石碟的功能除扒除積垢外,也會使拋光墊的表面粗 fe ’這樣fe浮的游離磨粒才能附在拋光墊表層來抛光晶圓 。鑽石碟也可使游離磨料散開使其均勻的分佈在整個拋光 塾上以提而抛光的效率ΰ Ρ張尺度適用中囹0家標準(CNS)A4規格(21〇 X 297公发) (靖先閱11背面之注意事項再填寫本頁) i --------訂.--------终 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制批
AlMil 五、發明說明( 傳=鑽石碟中較常見者料電鍍鑽石碟,其結構係 乃::::示,於該種鑽石碟(20)上的鑽石⑴) =電鍍嶋(22)裏,附著很不牢固。鑽石 而括傷械式的卡在位置上,摩擦抛光《極易脫落 9 π X , 有甚者,鑽石掉出後留下坑洞(2 圓。雷I累積加厚。厚層的積垢脫落時也會括傷晶 鑽石的:附者的鑽石突出量少,不能有效的修整拋光墊。 禮石雄 不平均使括除積垢的效率大打折扣。電鍍的 鐵石=通:形狀較不規則使其修整拋光塾的效率更低。除 达之夕’電鍍鎳在酸液裏絲較快使鑽石更易掉落。 另-型式之傳統鑽石碟是將鑽石以合金硬焊在襟片上 …。構ir、如第二圖所不’這種方法提高鑽石㈡1 )在 鑽碟(3 0 )上的附著力,但卻不能解決鑽石分 的問題。更有甚者,鑽石(31)在硬焊時會被融您的焊 枓拉聚成堆狀。鑽石(3丄)的聚集降低了修整抛光墊的 政率。更有甚者焊料層(3 2 )會因鑽石(3丄)的靠攏 而加厚’使排屑更形因難。鑽石稀#之外,更脉除積垢 ’而且因撞擊力道集中容易脫落使晶圓到傷。鑽石距離畛 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制么 遠也會使焊料廣變薄,其低窪之處乃成積垢沉積之所。除 此之外以硬洋法附著鑽石仍無法避免焊料被酸液侵敍, 使鑽石脫落。 亦即現有之鑽石碟具有以下之缺點: 一 ·鑽石附者不牢固: 鑽石脫粒會到傷晶圓; 本紙張尺度適用中s闼家標準(CNsuTTi^T^Tir A7 B7 412461 五、發明說明(』) 二‘鑽石分佈不均勻: 間距太遠無法有效刮除積垢; 間距太近會夾帶阻塞的積垢; 三·結合劑被酸液溶蝕: 酸液會使得結合鑽石之結合劑溶蝕,使鑽石鬆. 動並脫落; 四·鑽石突出量不能控制: 太小散不開磨料,翻不動纖維,也扒不動積垢 1 太大會損壞拋光墊; 五·結合劑不夠硬: 易被磨泥磨損。 、本發明人有鑑於傳統式之鑽石碟未能滿足使用者之需 求,乃根據上述缺點徹底改弦更張,發展出了鑽石分佈均 勻且結合牛固之修整晶圓拋光墊的鑽石碟及其製法。 本發明的主要目的在於提供一種修整晶圓拋光墊的鑽 石碟及其製法,其以適切的加工方式,將錢石均句而穩固 的焊固於鑽石碟上,以提供晶圓抛光塾最佳的整修效果者 〇 為使貴審查委員進一步瞭解前述目的及本發明之結 構特徵,兹附以圖式詳細說明如后: (—)圖式部分: 第-圖:係本發明之鑽石碟剖面示意圖。 5 t 纸張中關家 --_____ {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) i裝--------訂---------緩 經濟部智慧財產局負工消費合作社印製 412461 Α· Β7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(士) 第一圖·係傳統電鍍鑽石碟之剖面示意圖。 第二圖:係傳統硬焊鑽石碟之剖面示意圖, (1 1 )鑽石 (2 0 )鑽石碟 (2 2 )電鍍層 (3 0 )鑽石碟 (3 2 )焊料層 本發明之製法首先是將焊料本身或其粉末混以有機黏 結劑(如:臘)經過滾筒壓碾製成厚度均一的薄皮金屬層 ,再以具有規則性分佈之孔洞的模板將鑽石導入焊料製金 屬層並卡進定位,讓鑽石依規則性排列在焊料金屬層上, 然後再進行硬焊,藉由前述之安排,使得在硬焊時鑽石的 位置被強制定位形成極規則的矩陣排列。 尤有進者’焊料金屬層的厚度十分均勻。在焊料金屬 層之上更可彼覆一薄層(<3μπ〇類鑽碳(Diam〇nd—Like Carbon 或 DLC) ° DLC 可以物理氣相沉積(physical Vapor Deposition或PVD)的方法塗佈在鑽石碟上。])LC極耐酸鹼 的侵#,即使是王水亦不能動它分亳,因此可保障谭料不 被溶掉n 配合第一圖觀之,在本發明之鑽石碟(1 0 )上所排 列的鑽石(1 1 )粒控為US mesh400(約40 m)至 6 (二)圖號部分 (10)鑽石碟 (12)焊料層 (21)鑽石 (2 2 〇 )坑洞 (31)鑽石 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝 訂------------竣 本紙張尺度滷用中囤國家標準(CNSM4规ίΜΐυ ^<297公釐) Λ7 B7 412461 五、發明說明() 3〇(US)(600 ym),且最大的鑽石不比最小的鑽石大2 〇% ,而各鑽石(1 1 )的間距為其粒徑的2至6倍,又鑽石 的頂端尚低差小於鑽石粒度的1/4,而焊料金屬層(1 2)的厚度為鑽石粒度的;[/5至4/5,該金屬層(1 2 )的成分包含> 2 wt%的鉻,而能夠提供極佳的硬度與 耐磨度。 本發明所製的鑽石碟修整器的鑽石分佈不僅均勻,而 且可以排列成各種圖案。由於鑽石間距可以控制,所以在 拋光墊上#八除積培不僅快速,而且完全鑽石距陣也會使磨 料散開均勻。焊料厚度不僅一致而且可以控制,使鑽石的 突出量達到最佳值,不僅可確保鑽石不脫粒,而且可使排 屑暢通更能避免積垢的附著。DLC的塗佈更可保護鑽石碟 使其不被酸鹼侵蝕’大幅延長修整拋光墊的使用壽命。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝 -----訂---------竣 經濟部智慧財產局員工消費合作社印 7 本紙張尺度適用中1园家標準(CNS)A‘l規格(21ϋ X 297公沒)
Claims (1)
- 412461 A5 B8 C8 DS 申請專利範圍1. 一種修整晶圓拋光墊的鑽石 果’其係以焊料金屬 層將鑽石結合在鑽石碟表面上,其中: a·鑽石的分佈均勾, b·附著鑽石的金屬層的厚度均勻。 2. 如申請專利範圍第1項所述之修整晶圓抛光塾的 ’其中鑽石的分佈為規則性的排列。 .如申請專利範圍第2項所述之修整晶圓拋光墊的 ,其中鑽石的間距為其粒徑的2至6倍。 如申請專利範㈣1項所述之修Μ隨光塾的 ,其中金屬層的厚度為鑽石粒徑的〜 {請‘先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) I I -- n 經濟部智慧財產局員工消費合作社印泣 5.如中請專利範圍第!項所述之修整晶圓搬先塾的 鑽石碟,其中金屬層的成分包含大於的鉻。 6 .如申凊專利範圍第5項所述之修整晶圓拋光墊的 鑽石碟’其中金屬層乃以硬焊方法粘附鑽石。 7 ’如申請專利範圍第1項所述之修整晶圓拋光墊的 鑽石碟,其中鑽石的粒.彳坐為US mesh^〇〇(約4〇 # m)至30(US)(600# m)。 8 ·如申請專利範圍第7項所述之修整晶圚拋光墊的 鑽石碟,其中最大的鑽石不比最小的鑽石大2 。 9 .如申請專利範圍第1項所述之修整晶圓拋光墊的 鑽石碟,其中鑽石的頂端高低差小於鑽石粒徑的1/4。 1 〇 .如申請專利範圍第1項所述之修整晶圓拋光墊 的鑽石碟,其中鑽石碟的表面塗佈一層類鑽碳。 ----壯衣--------訂---------線 ί?8 4124Μ---__S 六、申請專利範圍 1 1如申s月專利範圍第1 0項所述之修整晶圓拋光 塾的鑽石碟,其中類鑽碳的厚度小於3㈣ "1 2 _ 一種製造如申請專利範圍第1項之修整晶圓拋 光塾的鑽石碟的製法’其是先將焊料製成厚度均—的薄皮 :屬層’再以具有規則性分佈之孔洞的模板將鑽石導入焊 為裝成之金y|層並卡進定位,讓鑽^依規職排列在谭料 金屬層上,然後再進行硬焊。 1 3 ·如申請專利範圍第1 2項所述之製法,其中金 屬層乃以滾筒壓碾製成。 ’ 1 4 *如申請專利範圍第1 2項所述之製法,其中在 硬焊完成後於金屬層上披覆一層類鑽碳。 1 5 .如申請專利範圍第1 4項所述之製法,其中該 類鑽碳是以物理氣相沈積方法塗佈在鑽石碟上。 ^--------^---------^ (請羌閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局3工消f合作钍印則么 本紙浓反度適用中囚國家瞟準 規格(21l) x 297公笼)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW088116681A TW412461B (en) | 1999-09-29 | 1999-09-29 | Diamond disk for trimming wafer polishing pad and method for making the same |
JP2000026534A JP2001105326A (ja) | 1999-09-29 | 2000-02-03 | 化学機械的ポリシングマット修整ディスク及びその製法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW088116681A TW412461B (en) | 1999-09-29 | 1999-09-29 | Diamond disk for trimming wafer polishing pad and method for making the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW412461B true TW412461B (en) | 2000-11-21 |
Family
ID=21642430
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW088116681A TW412461B (en) | 1999-09-29 | 1999-09-29 | Diamond disk for trimming wafer polishing pad and method for making the same |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001105326A (zh) |
TW (1) | TW412461B (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100491077C (zh) * | 2003-05-13 | 2009-05-27 | 中国砂轮企业股份有限公司 | 在制造中能个别调整磨粒的修整盘及其制造方法 |
US7717972B2 (en) | 2006-07-26 | 2010-05-18 | Kinik Company | Diamond disc manufacturing process |
CN101879706B (zh) * | 2009-05-08 | 2012-01-11 | 中国砂轮企业股份有限公司 | 钻石研磨碟及其制造方法 |
CN114770781A (zh) * | 2022-06-22 | 2022-07-22 | 成都泰美克晶体技术有限公司 | 一种sc晶片改弦定位装置及其使用方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20030006793A (ko) * | 2001-07-16 | 2003-01-23 | 프리시젼다이아몬드 주식회사 | 다이아몬드계 치(齒)공구의 제조방법 및 이에 의해 제조된치(齒)공구 |
JP2005288685A (ja) * | 2004-03-10 | 2005-10-20 | Read Co Ltd | 研磨布用ドレッサー及びその製造方法 |
TWI290337B (en) * | 2005-08-09 | 2007-11-21 | Princo Corp | Pad conditioner for conditioning a CMP pad and method of making the same |
JP4710774B2 (ja) | 2005-11-09 | 2011-06-29 | 株式会社日立製作所 | 研磨定盤の製造方法 |
JP5429844B2 (ja) * | 2007-10-04 | 2014-02-26 | Mipox株式会社 | クリーニングテープ及びその製造方法 |
JP5255860B2 (ja) * | 2008-02-20 | 2013-08-07 | 新日鉄住金マテリアルズ株式会社 | 研磨布用ドレッサー |
CN111230758B (zh) * | 2020-03-05 | 2021-09-21 | 华侨大学 | 大粒径金刚石磨具的磨粒表面微去除方法及其制造方法 |
-
1999
- 1999-09-29 TW TW088116681A patent/TW412461B/zh not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-02-03 JP JP2000026534A patent/JP2001105326A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100491077C (zh) * | 2003-05-13 | 2009-05-27 | 中国砂轮企业股份有限公司 | 在制造中能个别调整磨粒的修整盘及其制造方法 |
US7717972B2 (en) | 2006-07-26 | 2010-05-18 | Kinik Company | Diamond disc manufacturing process |
US8387942B2 (en) | 2006-07-26 | 2013-03-05 | Kinik Company | Dies for manufacturing diamond discs |
CN101879706B (zh) * | 2009-05-08 | 2012-01-11 | 中国砂轮企业股份有限公司 | 钻石研磨碟及其制造方法 |
CN114770781A (zh) * | 2022-06-22 | 2022-07-22 | 成都泰美克晶体技术有限公司 | 一种sc晶片改弦定位装置及其使用方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001105326A (ja) | 2001-04-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6368198B1 (en) | Diamond grid CMP pad dresser | |
US6884155B2 (en) | Diamond grid CMP pad dresser | |
US7201645B2 (en) | Contoured CMP pad dresser and associated methods | |
TW412461B (en) | Diamond disk for trimming wafer polishing pad and method for making the same | |
US7393264B1 (en) | Tools for polishing and associated methods | |
KR100413371B1 (ko) | 다이아몬드 그리드 화학 기계적 연마 패드 드레서 | |
JP2002210659A (ja) | グリッド状ダイヤモンド配列の化学的機械的平坦化技術パッド仕上げ用具 | |
US20080096479A1 (en) | Low-melting point superabrasive tools and associated methods | |
US20070037493A1 (en) | Pad conditioner for conditioning a cmp pad and method of making such a pad conditioner | |
TW201350271A (zh) | 具有超研磨砂粒強化的化學機械研磨修整器墊片 | |
GB2263911A (en) | Abrasive tools | |
US20090090066A1 (en) | Grinding tool and manufacturing method thereof | |
TW201309416A (zh) | 化學機械拋光墊調整器 | |
JP2006130586A (ja) | Cmpコンディショナおよびその製造方法 | |
KR100645748B1 (ko) | 다이아몬드 공구 제조방법 및 이를 이용한 다이아몬드 공구 | |
US20030109204A1 (en) | Fixed abrasive CMP pad dresser and associated methods | |
JP7281502B2 (ja) | 研磨パッドドレッサーおよびその製造方法 | |
KR100363693B1 (ko) | 화학적 기계적 연마 패드 드레서 및 그 제조 방법 | |
TW200916262A (en) | Contoured cmp pad dresser and associated methods | |
EP1779971A1 (en) | Pad conditioner for conditioning a CMP pad and method of making such a pad conditioner | |
JP3695842B2 (ja) | ウエハの研磨装置及びウエハの研磨方法 | |
US6702654B2 (en) | Conditioning wheel for conditioning a semiconductor wafer polishing pad and method of manufacture thereof | |
JP4136714B2 (ja) | 超砥粒研削砥石 | |
JP3202191B2 (ja) | 超砥粒砥石 | |
JP2005028525A (ja) | 超砥粒研削砥石 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |