TW388823B - Boundary scan testing device - Google Patents

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TW388823B
TW388823B TW087102705A TW87102705A TW388823B TW 388823 B TW388823 B TW 388823B TW 087102705 A TW087102705 A TW 087102705A TW 87102705 A TW87102705 A TW 87102705A TW 388823 B TW388823 B TW 388823B
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TW
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test
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boundary
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signal
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TW087102705A
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Joseph M Lagrotta
James L Hutchinson
Daniel G Bihn
Kenneth P Parker
David J Rustici
Original Assignee
Hewlett Packard Co
Matsushita Electric Ind Co Ltd
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Description

五、發明説明(l ) 本發明係關於積體電路的邊界掃瞄測試裝置:,並且特別 是關於可依據一組分離邊界掃瞄測試、向,量產生器所產生之 邊界掃瞄測試向量而在一組邊界掃瞄元件上進行邊界掃瞄 測試的一種邊界掃瞄測試元件》 VLSI電路技術由於VLSI電路的複雜性增加、對於更高性 能以及更小尺寸的要求而快速地改變。由於更新技術、更髙 產量的要求壓力、以及較短的上市時間表而使得改進在所有 層級之VLSI積體電路製造測試技術之增加重要性浮現。邊界 掃瞄測試方法是已知的一種技術。一般而言,邊界掃瞄測試 是用以將一種順序電路測試產生問題映射成爲一種組合電 路測試產生問題的一種技術。電路必須被預先設計以包含掃. 瞄通道測試硬體,它可包含隔離或者整合的掃瞄或者影子暫 存器》 第1圖是一組習見的邊界掃瞄測試元件的方塊圖,一般 以10示之。如第1圖所展示,邊界掃瞄測試元件1〇包含一.組 • · 經濟部中央橾準局男工消費合作社印裝 C請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) 邊界掃瞄測試向量產生器12。邊界掃瞄測試向量產生器12接 收一組邊界掃瞄說明語言(BSDL)檔案2和電腦輔助設計(CAD) 資料4作爲輸入· BSDL檔案2包含在30展示之一組邊界掃瞄元 件的邊界掃瞄胞結構之說明•以及移至各種邊界掃瞄模式的 命令。CAD資料4包含具有元件邊界掃瞄胞數目、連接接脚數 目以及連接接脚信號名稱的電路圈資訊》邊界掃瞄測試向量 產生器12依據BSDL檔案2和CAD資料4產生邊界掃瞄測試向 量。邊界掃猫測試元件10可被設定以在各種測試條件之下經 由一組測試條件控制器14測試邊界掃瞄元件30 ·.邊界掃瞄測 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS > A4规格(210X297公釐) 經濟部中央揉準局員工消费合作社印裝 A7 B7 五、發明説明(> ) ' * * 試元件1〇包含從邊界掃瞄測試向量產生器12接收邊界掃瞄 測試向量並且從測試條件控制器1 4接收測試條件資料,並且 產生測試執行資料的一組測試執行資料產生器16。 第1圖之習見邊界掃瞄測試元件10也包含一組測試執行 器20 »測試執行器20包含依據從測試執行資料產生器16接收 的測試執行資料而控制整個邊界掃瞄測試之執行的一組測 試控制器21*測試執行器20也包含當邊界掃瞄測試被執行時 分析所發生的錯誤原因和錯誤位置之一組錯誤分析器22· — 組測試信號處理器26也可被提供於測試執行器20中以便對 於測試控制器2 1輸入並且输出邊界掃瞄測試信號。測試執行 器20可進一步地包含將來自邊界掃瞄測試的結果資料記錄 成爲一組資料記錄檔案25之一組結果資料記錄器24。 ' 邊界掃瞄測試元件1〇可被使用以測試在一組邊界掃瞄 元件之內的組合邏輯。第1圖所展示的邊界掃瞄元件30包含, 爲展示用的,三組邊界掃瞄胞31-33。如在習見技術中已知, 一組邊界掃瞄元件可包含任何數目的邊界掃瞄胞•如第1圇 所展示•各個邊界掃瞄胞31-3 3包含具有端點的測試資料输入 (TDI)、測試資料输出(TDO)、測試時脈(TCK)和測試模式選 擇(TMS)之邊界掃瞄測試信號端點。測試信號處理器26也可 包含邊界掃瞄測試信號端點TDI、TDO、TCK和TMS »在第1 圖所展示的實施例中,邊界掃瞄胞31-3 3和測試信號處理器26 的TCK和TMS端點被連接在一起使得各組邊界掃瞄胞31-3 3 同時接收相同測試時脈和測試模式選擇信號。如第1圖之實 施例所展示,測試信號處理器26的TDO端點被零氣地連接到 5 本紙張尺度逍用中國國家梯準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
A7 _B7___ 五、發明説明()) 1 邊界掃瞄胞31的TDI端點、邊界掃瞄胞31之TDO端點被電氣 (請先閱讀背面之注f項再填寫本頁) 地連接到邊界掃瞄胞32之TDI '邊界掃瞄胞32的TDO端點被
電氣地連接到邊界掃瞄胞33的TDI、以及邊界掃瞄胞33之TDO 端點被電氣地連接到測試信號處理器26之TDI端點·此外’ 逢界掃瞄胞31的邊界掃瞄測試輸出端點A1和A2被電氣地連 接到邊界掃瞄胞32的邊界掃瞄測試輸入端點B1和B2。邊界掃 瞄胞31之端點A1和邊界掃瞄胞32的端點B1也被電氣地連接 到連接器36的一組第一端點,並且邊界掃瞄胞3 1之端點A2和 邊界掃瞄胞32的端點B2被連接到連接器36的一組第二端 點。另外,邊界掃瞄胞32之邊界掃瞄測試輸出端點C1和C2被 電氣地連接到邊界掃瞄胞33的邊界掃瞄測試輸入端點D1和 D2»邊界掃瞄測試元件10之測試執行器20中的一組數位輸入 /输出(I/O)控制器23输入並且输出除了被使用以測試邊界掃 瞄元件30的邊界掃瞄測試信號TDI、TDO ' TCK和TMS之外的 數位信號。第1圖所展示的邊界掃瞄元件30也包含一組反相 > > · 經濟部中央標率局貝工消费合作社印# 器34和一組緩衝器35。緩衝器35之輸出被電氣地連接到反相 器34的输入。反相器34之輸出被電氣地連接到邊界掃瞄胞33 的邊界掃瞄測試输入端點G。緩衝器35之输出和反相器34之 输入被連接到數位I/O控制器23的输出端點。 邊界掃瞄測試元件10的操作如下。首先,包含邊界掃瞄 元件30之邊界掃瞄胞3 1-33的88〇1^檔案之88〇[檔案2,以及 包含邊界掃瞄元件30的電路圖資訊之CAD資料4,被供應至邊 界掃瞄測試元件10的邊界掃瞄測試向量產生器12。因此,邊 界掃瞄測試向量產生器12從CAD資料4取出將接.受邊界掃瞄 本紙張尺度逋用中•國家操率(CNS ) A4规格(210X297公釐) 經 中 央 橾 準 局 % 工 消 費 合 作 社 印 五、發明説明(十 A7 B7 測試的電路,並且依據參看BSDL槽案2之向量控制語言(VCL) 的一種描述格式產生對應至邊界掃瞄元件3〇的邊界掃瞄測 試向量•其中邊界掃瞄胞31-3 3之邊界掃瞄胞結構以及移動至 各種邊界掃瞄模式的命令被加以說明。因此而產生的邊界掃 瞄測試向量從邊界掃瞄測試向量產生器12被傅送至測試執 行資料產生器1 6。供測試之測試條件可經由測試條件控制器 14被設定,它將被從測試條件控制器14傳送至測試執行資料 產生器16。測試執行資料產生器16接著依據這些測試條件矯 正邊界掃瞄元件30之邊界掃瞄測試向量,並且產生測試執行 資料。測試執行器20接著依據因此所產生的測試執行資料而 達成一組邊界掃瞄測試。 測試控制器2 1依據測試執行資料而控制整個邊界掃瞄 測試的執行。測試控制器21傳送指示邊界掃瞄測試信號將依 據該測試執行資料被傳送出的一組命令至測試信號處理器 26 »測試信號處理器26,依據上述命令而操作,依據該測試 執行資料將測試時脈TCK和測試模式選擇TMS邊界掃瞄測試 信號输出至邊界掃瞄元件30之所有的邊界掃瞄胞3 1-33,並且 經由邊界掃瞄元件30之邊界掃瞄胞31的TDI端點將一組TDO 邊界掃瞄測試信號移位經過邊界掃瞄胞31-3 3。之後,該邊界 掃瞄測試信號被做爲鎖定输出而输出至邊界掃瞄測試輸出 端點A1和A2以及邊界掃瞄測試輸出端點C1和C2。該邊界掃 瞄測試結果信號接著被讀入邊界掃瞄測試輸入端點B1、B2、 D1以及D2。在邊界掃瞄測試输入端點和输出端點Al、A2、 Bl、B2、Cl、C2、D1以及D2的信號接著被移位經過邊界掃 7 本紙張尺度逋用中國·家揉準(CNS ) A4规格UIOX297公釐) (請先閲讀背面之注f項再填寫本頁) A7 B7 五、發明説明(< ). ' (請先閱讀背面之注意事項再埃寫本頁) 瞄胞31-33並且經由邊界掃瞄胞33之TDO端點被输入測試信 號處理器26之TDI端點。上面說明的信號流串列是當一組邊 界掃瞄測試圖型向量•或者後面稱"封包",被測試時所發生 的信號流串列。第2圖展示信號流串列。如第2圔所展示,當 一組單一封包在邊界掃瞄元件上被測試時發生的信號流串 列包含一組邊界掃瞄測試信號移位201 ·跟隨著一組邊界掃 瞄測試信號鎖定輸出202,再跟隨著一組邊界掃瞄測試結果 信號讀入203,再跟隨著一組邊界掃瞄測試結果信號移位 204。 在這邊界掃瞄測試被執行的同時,數位I/O控制器23操作 使得"1 ",或者的邏輯信號只有在從第2_中的邊界掃瞄測 試信號鎖定輸出202延伸至邊界掃瞄測試結果信號讀入203 的區間時繼續從數位I/O控制器23之输出端點被输出至在邊 界掃瞄元件30中的緩衝器35的输出和反相器34的输入端 點》因此,在反應於這些信號而從反相器34輸出的情況中., I · 經濟部中央揉準局貝工消費合作社印製 在第2圖所展示的邊界掃瞄測試結果信號讀入203時被輸入 至邊界掃瞄胞33之邊界掃瞄測試輸入端點G的信號被取入邊 界掃瞄胞33之邊界掃瞄測試输入端點G,並且依據邊界掃瞄 測試結果信號移位204的時序而被移位並且與在邊界掃瞄測 試輸入端點和輸出端點Al、A2、Bl、B2、Cl、C2、D1、和 D2的信號一起被輸入測試信號處理器26之TDI端點》 測試信號處理器26進行一種比較以決定被移位回到測 試信號處理器26之TDI端點的邊界掃瞄測試結果信號之資料 是否與依據測試執行資料而從邊界掃瞄測試信.號預估的期 本紙張又度適用中國國家橾率(CNS ) Λ4规格(210X297公釐) A7 B7 五、發明説明(L) , 望値資料相同。該期望値資料和從BSDL槽案2以及CAD資料 檑案4所產生的邊界掃瞄測試向量同時地被邊界掃瞄測試向 量產生器12所產生。但是,該期望値資料不能被表示於以上 述VCL描述格式表示的邊界掃瞄測試向量之內。因此,爲了 方便起見,該期望値資料和包含元件邊界掃瞄胞數目、連接 接腳數目以及連接接腳信號名稱的電路資訊一起被表示於 邊界掃瞄測試向量資料末端之註解部份中,以便在人們觀看 並且解釋邊界掃瞄測試向量時做爲參考》 經濟部中央揉準局貝工消费合作社印裝 (请先閱讀背面之注$項再填寫本頁) 第3圖展示一組範例邊界掃瞄測試向量註解部份之一部 份。第3圖的上方部份對應至邊界掃瞄測試向量資料部份, 而第3圖之下方部份是被置放在邊界掃瞄向量資料部给之末 端的註解部份並且它指示期望値資料和電路資訊。指示期望 値資料和電路資訊的第3圔之註解部份展示(從左至右)在封 包之內的位元數目、元件之邊界掃瞄胞數目、該等元件的元 件名稱和連接接脚數目、元件連接接腳信號名稱、以及斯望 値資料。在期望値資料之各列中水平方向所見之九位元資料 指示對應至九組封包的資料。當利用L或者Η所表示之資料是 邊界掃瞄胞的输入資料時,在期望値資料中,利用〇或者1表 示之資料是從邊界掃瞄胞所输出的資料》在元件的連接接腳 信號名稱相同(例如,在第3圖中,U1_U3_10在三個地方是相 同)之情況中,這指示這些元件的連接接脚被連在一起。因 此,當在這三個位置中的期望値資料之分別九組封包部份被 利用输入和输出比較時,其値是相同的。 但是,因爲如第3圖所展示在邊界掃瞄測試向量註解部 9 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) A7 __B7____ 五、發明説明(7) ' 份表示的資料不能在VCL描述格式中被表示爲有意義的資 料,所以它不能被測試執行資料產生器16所解釋。因此,測 試信號處理器26讀入一組期望値資料檔案,其一種範例展示 於第4圖,它和邊界掃瞄測試向量被邊界掃瞄向童產生部份 12從BSDL檔案2和CAD資料4產生之同時被產生。參看至第4 圖,該檔頭部份指示邊界掃瞄胞的連接是Ul、U2、U3、… U8的一種連接,並且Ul、U2、U3、…U8的邊界掃瞄胞之總 數是188。在對應至各封包中邊界掃瞄胞1至188的位元數目 之期望値在該邊界掃瞄胞是輸出時被表示爲〇或者1,在邊界 掃瞄胞是输入時被表示爲Η或者L並且在未定値的情況中爲 + 0 如果邊界掃瞄元件30是正常的,則邊界掃瞄測試結果信 號之資料展示與期望値資料相同。但是,如果在邊界掃瞄元 件30中有錯誤,則邊界掃瞄測試結果信號之資料將不同於該 期望値資料》當測試信號處理器26進行邊界掃瞄測試結果信 • · 經濟部中央橾準局貝工消费合作社印製 (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 號和期望値資料的一種比較時,它經由一組符合信號ΟΚ而示 出符合或者經由一組不符合信號NG而示出不符合•邊界掃瞄 元件30的OK/NG結果從測試信號處理器26被返回至測試控制 器2 1。如果結果是ΟΚ,則測試控制器2 1傳送一組指令到結果 資料記錄器24而指示該結果應該被記錄,並且結果資料記錄 器24將該ΟΚ結果記錄在資料記錄檔案25中》另一方面,在結 果是NG的情況中,測試控制器21傳送一組指令至錯誤分析器 22而使得返回至測試信號處理器26的邊界掃瞄測試結果信 號資料和依據測試執行資料從測試信號所預估.的期望値資 10 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS ) Α4规格(2丨OXW7公釐) 經濟部中央標準局貞工消费合作社印装 A7 _B7_ 五、發明説明u) ' 料經由測試控制器21從測試信號處理器26被錯誤分析器22 取入。錯誤分析器22也接收邊界掃瞄元件30之被測試電路部 份的電路資訊,它是指定錯誤之性質和位置所必須。錯誤分 析器22接著分析在邊界掃瞄元件30中之錯誤的性質和位 置。 同時,在邊界掃瞄元件30內被測試的電路部份之電路資 訊不能在以上述VCL描述格式表示的邊界掃瞄測試向量資料 部份之內被表示。因此,爲了方便起見,該元件邊界掃瞄胞 數目、連接接腳數目以及連接接腳信號名稱和在註解部份中 的期望値資料如第3圖之範例所示地一起被表示,以便在人 們觀看並且解釋邊界掃瞄測試向量時做爲參考•但是,這資 料不能被測試執行資料產生器16解釋,並且因此不是可使用 的資料。因此,當邊界掃瞄測試向童被產生在邊界測試向量 產生部份12時所產生在邊界掃瞄元件30之內被測試的電路 部份之電路資0被錯誤分析器22從邊界掃瞄測試向量產生 • · 器12取入而成爲第5圓所展示型式之一組佈告板檔案》 如第5圖所展示,該佈告板檔案包含各信號名稱 (U1_U3_10,U1_U3_9,等等)並且所有連接到它的元件之連 接接腳的名稱也針對該信號名稱被展示。從第3和5圖可了 解,當只有以信號名稱被連接的邊界掃瞄胞之元件連接接脚 被表示在第3圖的邊界掃瞄測試向量註解部份中所展示的電 路資訊時,所有連接到該信號名稱的元件之連接接腳在第5 圓的佈告板楫案中被表示出來。因此,第5圖之佈告板檔案 的電路資訊比在第3圖之邊界掃瞄測試向量註解部份中所表 11 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐)
In I - ---I —v-— (請先W讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部中央梂率局貝工消费合作社印装 A7 ___B7___ 五、發明説明(if ) ' 示的資料更加詳細· 作爲錯誤分析器22之操作的一種展示,如果短路發生在 第1圖的邊界掃瞄細31和32之接線A1-B1和A2-B2之間’則道 錯誤之成因被分析爲發生在邊界掃瞄胞31和32之端點A1、 A2、B1和B2以及連接器36之第一和第二端點之間的一種短 路。 利用分析所得到包含錯誤之性質和位匱的結果被錯誤 分析器22送回至測試控制器2 1。測試控制器2 1傅送一組指令 到結果資料記錄器24而指示這些包含錯誤之性質和位置的 結果應該被記錄,並且結果資料記錄器24記錄該等結果在資 料記錄槽案25中。 如上述之習見邊界掃瞄測試元件是有問題的。產生邊界 掃瞄測試向童的邊界掃瞄測試向置產生器12是邊界掃瞄測 試元件10之一組昂貴的構成元件•更進一步地,該系統之構 成包含另外花费,的測試執行器20、測試執行資料產生器16.和 I · 測試條件控制器14。因此,第1圖的邊界掃瞄測試元件10是 非常地昂貴。另外,實際進行邊界掃瞄測試之邊界掃瞄板的 製造地可能具有數組邊界掃瞄測試元件1〇在操作中•但是* 在這些邊界掃瞄板製造地,實際操作的邊界掃瞄測試元件10 之部份幾乎僅被限制於測試執行器20。更進一步地,這些邊 界掃瞄測試元件10的測試執行資料產生器16和測試條件控 制器14—般只有在測試條件被改變時操作》這些邊界掃瞄測 試元件10之邊界掃瞄測試向量產生器12只反應於來自邊界 掃瞄測試元件1〇之測試信號處理器26和錯誤分.析器22的要 12 本紙張又度逍用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
經濟部中央橾準局貞.工消免合作社印装 A7 B7 五、發明説明() ' 求而供應在邊界掃瞄元件30之內被測試的電路部份之期望 値資料和電路資訊。而且,只要邊界掃瞄元件30的電路構造 沒有改變,邊界掃瞄測試向童產生器12的固有邊界掃瞄測試 向量產生功能即不被採用。 因此,在實際地進行邊界掃瞄測試的邊界掃瞄板製造 地,使用具有功能甚少被使用的邊界掃瞄測試向量產生器1 2 之昂貴的邊界掃瞄測弑元件10將導致製造成本大幅地增 加。更進一步地,因爲這種邊界掃瞄測試元件10是昂貴的, 所以不易普遍地進行邊界掃瞄測試。 本發明解決上述的習見問題,並且提供具有分析資料產 生功能的一組邊界掃瞄測試元件,其從附屬於邊界掃瞄測試 向量資料的註解部份產生測試結果的分析所需要的期望値 資料和電路資訊而不需使用一組邊界掃瞄測試向量產生器 12。使用本發明之構造執行邊界掃瞄測試,其使用分別地被 產生的邊界掃瞄測試向量,可更廉價地進行一種邊界掃瞄測 試。 爲了達成上述目的,本發明之邊界掃瞄測試元件包含使 用邊界掃瞄向量的一組測試執行資料產生器,該邊界掃瞄向 量對應至在測試之下的一組邊界掃瞄元件並且被從該邊界 掃瞄測試元件分離的一組邊界掃瞄測試向量產生器所產 生。該測試執行資料產生器依據該邊界掃瞄測試向量和測試 條件而產生執行資料。本發明之邊界掃瞄測試元件也包含設 定該測試條件的一組測試條件控制器以及依據該執行資料 執行邊界掃瞄測試的一組測試執行器。本發明之邊界掃瞄測 13 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4规格(2丨0父297公釐) (請先Μ讀背面之注$項再填寫本頁)
A 7 _B7 ____ 五、發明説明(i丨) ' 試元件也包含一組分析資料產生器,其產生包含被測試的邊 界掃瞄元件之電餘資訊的分析資料和來自邊界掃瞄向童之 註解部份的期望値資料,當被加至該邊界掃瞄向量時,它們 不被使用於執行資料的產生。該分析資料允許本發明之邊界 掃瞄·測試元件分析邊界掃瞄測試的測試結果。 本發明之邊界掃瞄測試元件可進一步地包含一組界面 盒子,其包含具有邊界掃瞄測試信號連接以輸入並且輸出邊 界掃瞄測試信號的一組邊界掃瞄界面電路》使用該界面盒 子,被測試的邊界掃瞄元件和邊界掃瞄界面電路可被連接以 形成增加被測試邊界掃瞄元件之測試範圍的一組單一邊界 掃瞄電路。 本發明之目的和優點將可配合附圖從本發明下面較佳 實施例的詳細說明而更明白和容易了解,其中: 第1圊是習見邊界掃瞄測試元件的一種方塊圖<* 第2圖展示澤界掃瞄測試信號之信號流串列的獮形。. • · 第3圈是包含註解部份的一種邊界掃瞄測試向量資料檔 案之一部份》 第4圖展示一種習見使用的期望値資料檔案· 第5圖展示一種習見使用的佈告板檔案。 經濟部中央橾準局貞工消費合作社印製 (請先聞讀背面之注意事項再填窝本頁) 策6圖是依據本發明之第一實施例的一組邊界掃瞄測試 元件之方塊圖。 第7圖展示從一組邊界掃瞄測試向量檔案之註解部份所 構成的一組連接關係表。 第8圖展示從一組邊界掃瞄測試向量檔案之.註解部份所 Ϊ4 本紙張尺成適用中國國竽梂準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央椟準局貝工消費合作社印装 A7 _B7__ 五、發明説明' 構成的一組期望値資料。 第9圖是依據本發明之第二實施例的一組邊界掃瞄測試 元件之方塊圖。 接著轉至本發明,第6圓是本發明之邊界掃瞄測試元件 100的第一較佳實施例之方塊圖。如第6圖所展示,邊界掃瞄 測試元件1〇〇不包含產生邊界掃瞄測試向置的裝匱。反之, —組邊界掃瞄測試向量產生器Π 2從邊界掃瞄測試元件.1 00 分離而置在一組分離的主電腦或者在從製造地分離的另一 地方。邊界掃瞄測試向量產生器Π2從一組邊界掃瞄說明語 言(BSDL)檔案102以及包含被測試元件130之電路圖資訊的 電腦輔助設計(CAD)資料104接收被測試元件130之邊典掃瞄. 胞結構的一種說明和邊界掃瞄模式移位命令,並且產丰邊界 掃瞄測試向:以便在測試被測試元件130時使用》被邊界掃 瞄測試向量產生器112產生之邊界掃瞄測試向量被記錄在測 試向量檔案108中。. 邊界掃瞄測試元件1〇〇包含一組測試執行資料產生器 116,它從測試向置檔案108產生測試執行資料並且從一組測 試條件控制器114產生可被使用以設定各種測試條件的資 料。邊界掃瞄測試元件1〇〇也包含一組分析資料產生器118 · 分析資料產生器118接收輸入至測試執行資料產生器1丨6的 測試向量槍案108之內容並且從測試向量檔案108之註解部 份產生分析資料。分析資料是必須的,以便指定在一組邊界 掃瞄測試被執行時所發生的錯誤之性質和位置。 邊界掃瞄測試元件1 〇〇也包含一組測試執行.器120。測試 15 ¥·紙張尺度逋用中國國家橾準(CNS ) Α4规格(210X297公釐) I------------Α -- . C (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) 訂 經濟部中央梂準局貝工消费合作社印裝 A7 B7 五、發明説明(\、) · 執行器120包含依據從測試執行資料產生器116所接收之測 試執行資料而控制整個邊界掃瞄測試之執行的一組測試控 制器12 1。測試執行器120也包含分析在邊界掃瞄測試被執行 時所發生的錯誤成因和錯誤位置之一組錯誤分析器122» — 組測試信號處理器126也被包含在測試執行器120中》測試信 號處理器126在測試控制器12 1的控制之下進行邊界掃瞄測 試信號的I/O,並且包含提供邊界掃瞄測試信號,:包括測試資 料輸入(TDI)、測試資料輸出(TDO)、測試時脈(TCK)、以及 測試模式信號(TMS)之邊界掃瞄測試信號端點TDI、TDO:、 TCK、以及TMS。測試執行器120也包含控制來自邊界掃猶測 試的結果資料並且將它記錄在資料記錄檔案125之一組結果 資料記錄器124 » —組被測試元件1 3 〇可被邊界掃瞄測試元件1 〇〇所測 試。第6圖所展示的邊界掃瞄元件130包含供展示用的三組邊 界掃瞄胞131-133»但是,如熟悉該技術者所了解,邊界掃.瞄 I «
元件130可包含任何數目的邊界掃瞄胞。各組邊界掃瞄胞 131-1 33包含提供邊界掃瞄測試信號,包括測試資料输入 (TDI)、測試資料輸出(TDO)、測試時脈(TCK)、以及測試模 式信號(TMS)之邊界掃瞄測試信號端點TDI、TDO、TCK、以 及TMS。如第6圖所展示,測試信號處理器126之各組TCK和 TMS端點以及邊界掃瞄胞131-133被連接在一起而使得各組 邊界掃瞄胞131-133同時接收相同測試時脈和測試模式選擇 信號。如第6圖所展示|測試信號處理器126的TDO端點被電 氣地連接到邊界掃瞄胞131之TDI端點,邊界掃瞄胞131的TDO 16 本紙張尺度逍用中國國家揉準(CNS > A4規格(210X297公釐) ------------i-- -- c (請先聞讀背面之注$項再填寫本頁) -
I 經濟部中央梂準局貞工消费合作社印裝 A7 __________B7_ 五、發明説明(\+ ) , 端點被電氣地連接到邊界掃瞄胞〖32之TDI端點,邊界掃瞄胞 132的TDO端點被電氣地連接到邊界掃瞄胞133之TDI端點, 以及邊界掃瞄胞133的TDO端點被電氣地連接到測試信號處 理器126之TDI端點。此外,邊界掃瞄胞131的邊界掃瞄測試 输出端點A1和A2被電氣地連接到邊界掃瞄胞132的邊界掃瞄 測試輸入端點B1和B2。邊界掃瞄胞131之端點A1和邊界掃瞄 胞132的端點B1也被電氣地連接到連接器136的一組第一端 點,並且邊界掃瞄胞131之端點A2和邊界掃瞄胞132的端點B2 被連接到連接器136之一組第二端點》另外,邊界掃瞄胞132 的邊界掃瞄測試輸出端點C1和C2被電氣地連接到邊界掃瞄 \ . 胞133之邊界掃瞄測試輸入端點D1和D2。邊界掃瞄測試元件 1〇〇的測試執行器120包含一組數位输入-输出(I/O)控制器 123以便輸入並且輸出除了邊界掃瞄測試信號TDI、.TDO、 TCK、和TMS以外可被使用以測試邊界瞄元件130的數位信 號。第6圖所展示的邊界掃瞄元件130也包含一組反相器134 和一組緩衝器135 »緩衝器135之輸出被電氣地連接到反相器 134的輸入。反相器134之輸出被電氣地連接到邊界掃瞄胞133 的邊界掃瞄測試输入端點G。緩衝器135之輸出和反相器134 之输入被連接到數位I/O控制器123的输出端點· 邊界掃瞄測試元件1〇之操作如下。首先,BSDL檔案102, 其包含邊界掃瞄元件130之邊界掃瞄胞131-133的BSDL槍 案,以及包含邊界掃瞄元件130之電路圖資訊的CAD資料 104,被供應至邊界掃瞄測試向量產生器Π2,它是與邊界掃 瞄測試元件1〇〇分離地匿放。因此,邊界掃瞄泖試向量產生 17 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4规格(210X297公釐) I- - j-f - -- ··I- - - I— I • · w (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) 訂 經濟部中央梯準局貝工消费合作社印装 A7 B7 五、發明説明(<) ' 器112從CAD資料棺案104取出將接受邊界掃瞄測試的電路, 並且參看BSDL檔案102,其中邊界掃瞄胞131-133的邊界掃瞄 胞結構以及至各種邊界掃瞄模式之移位命令被說明,而以向 置控制語言(VCl〇格式產生對應至邊界掃瞄元件130之邊界 掃瞄測試向量。這邊界掃瞄測試向量資料被輸出至測試向量 檔案108。 測試向量檔案108可以在稍後時間被供應至邊界掃瞄測 試元件100的一組測試執行資料產生器116。邊界掃瞄測試元 件100可置放在不同於邊界掃瞄測試向量產生器112的位 置,可能在一診斷的地點或者另一製造地點。例如,邊界掃 瞄測試向量產生器11 2可被置放在一硏發(R&D)地點,而數組 邊界掃瞄測試元件可置放在具有分別的個人電腦(PC)或者工 作站做爲主電腦之分離製造地點。當一組被測試元件130將 被測試時,測試向量檔案108被供應至邊界掃瞄測試元件100 的測試執行資料.產生器1 16。因此年目前範例中,測試向量 槽案108將在R&D地點被邊界掃瞄測試向量產生器112產生, 並且接著傅送至製造地以及下載或者複製至在製造地的PC 或者工作站以便被本發明之邊界掃瞄測試元件1 00使用。測 試邊界掃瞄元件130的測試條件可經由測試條件控制器1 14 而被設定。該測試條件接著被從測試條件控制.器1 1 4傳送至 測試執行資料產生器116。測試執行資料產生器116接著依據 這些測試條件矯正邊界掃瞄元件130之邊界掃瞄測試向量並 且產生測試執行資料。 同時,分析資料產生器118從測試執行資料產生器116接 18 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4规格(210X297公釐) (請先聞讀背面之注$項再填寫本頁) 訂 經濟部中央梂準f工消費合作社印装 A7 B7 五、發明説明(\b ) * 收測試向量檔案108之內容•在這情況中,包含期望値資料 和元件邊界掃瞄胞數目、連接接腳數目以及連接接腳信號名 稱的電路資訊不被當做註解而處理,它們是爲了方便起見被 表示在位於測試向量檔案108末端的註解部份,該測試向量 檔案108被以第3圖所展示的上述VCL描述格式表示。反之, 該資訊被分析資料產生器Π 8加以安排而使得它可被使用爲 當一組邊界掃瞄測試被進行時指定所發生的錯誤之性質和 位置之資料》分析資料產生器118利用依據連接關係而準備 並且儲存之一組表做爲在被測試元件130之內將接受邊界掃 瞄測試的電路部份之電路資訊而達成此功能。第7圖展示分 析資料產生器118對於具有和第3圖所展示之範例相同的連 接和連接接腳信號名稱之邊界掃瞄元件130所準備的一組表 ' 之範例》但是,在元件連接接脚連接到在第7圖所展示之電 路資訊中分別的連接接腳信號名稱的情況中,只有邊界掃瞄 胞131-133的連_接腳信號名稱.被表示。因此,這資訊不如.第 5圖所展示的習見佈告板檔案中之電路資訊詳細。從上述討 論可了解第7圖是依據連接關係的一組表,其中具有和第3圚 之連接接腳信號名稱相同的項目被捜集並且給予相同的信 號名稱ID,而使得在封包之內的分別元件連接接腳、元件邊 界掃瞄胞和位元數目被重新配置。 分析資料產生器11 8也將在註解部份中表示的期望値資 料從第3圖所展示的格式重新配置爲對應至各封包中邊界掃 瞄胞數目順序之位元數目順序而作爲各封包之單一資料 集。這配置展示於第8圖。在將被連接的封包内位元數目中 19 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4规格(210X297公釐) .1-------·----Q — (請先Η讀背面之注$項再4窝本頁) .1Τ 經濟部中央標準局員工消费合作社印装 A7 .__B7___ 五、發明説明(Γ] ) 1 具有捨去之處的期望値資料被表示爲未定値,則資料以和在 執行邊界掃瞄測試時利用邊界掃瞄測試結果信號移位所得 到資料之相同方式被重新配置,如第8圖所展示•這資料被 準備並且儲存作爲期望値資料* 因此,可明占第8圖是第3圖之重新配置。在第3圖中, 該期望値資料被以封包1、封包2、封包3等等順序從最左行 排列而使得對應至各封包內一組位元數目之期望値資料最 左行中的資料是對應至封包1的資料。因此,如果該資料被 重新配置爲各封包之一組單一資料集,則將得到第8圖所展 示的配匱。因此•對應至第3圊中各封包之內位元數目8的期 望値資料之最左資料是H,並且這資料和第8圖中的封包1之 期望値資料從左算起第8位元相同•更進一步地,第8圖的內 容與展示在第3圚之期望値資料檔案中的期望値資料之內容 相同。 因此,使用I包含元件邊界掃瞄胞數目、連接接腳數目和 ' - 華接接腳信號名稱的電路資訊,以及期望値資料,它不能被 表示爲在邊界掃瞄測試向量資料(它以上述的VCL描述格式 表示)之內的有意義資料,但是爲了方便趄見它反而被表示於 在測試向量檔案108之內的邊界掃瞄測試向量資料末端的一 組註解部份中以便在人們檢視邊界掃瞄測試向量時被使用 爲參考,分析資料產生器118重新產生電路資訊和期望値資 料作爲在邊界掃瞄測試中之結果判斷和錯誤分析採用之有 ' - 意義資料· 測試執行器120依據邊界掃瞄測試元件100.之測試執行 ^ ί〇 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) (請先《讀背面之注$項再填寫本頁)
經濟部中央棣準局貝工消費合作社印裝 A7 B7 五、發明説明(\货) 資料產生器116產生的測試執行資料執行邊界掃瞄測試•測 試執行器120包含依據測試執行資料控制整個邊界掃瞄測試 之執行的一組測試控制器121。測試控制器121傳送一組命令 至測試信號處理器126而指示邊界掃瞄測試信號將依據測試 執行資料被俥送出。測試信號處理器126,依據上述的命令 而操作,根據測試執行資料而輸出TCK和TMS邊界掃瞄測試 信號至所有的邊界掃瞄元件130的邊界掃瞄胞131-133,並且 經由邊界掃瞄元件130之邊界掃瞄胞131的TDI端點將一組 TDO邊界掃瞄測試信號移位經過邊界掃瞄胞131-133。隨後」 , 該邊界掃瞄測試信號被輸出作爲至邊界掃瞄測試輸出端點 A1和A2以及邊界掃瞄測試輸出端點C1和C2的鎖定輸出。該 邊界掃瞄測試結果信號接著被讀入邊界掃瞄測試输入端點 B1、B2、D1、以及D2。在邊界掃瞄測試输入端點和输出端 點Al、A2、Bl、B2、Cl、C2、D1,以及D2的信號接著被移 位經過邊界掃瞄胞131-133並且經由邊界掃瞄胞133的TDQ端 點被输入測試信號處理器126之TDI端點。上述的信號流串列 是當一組封包或者邊界掃瞄測試圖型向惫被測試時發生的 信號流串列。這是和第2圖所展示相同的信號流串列•因此, 如第2圖所展示,當一組單一封包在邊界掃瞄元件上被測試 時所發生的信號流串列包含一組邊界掃瞄測試信號移位 201,其後面跟隨著一組邊界掃瞄測試信號鎖定輸出202,其 後面再隨著一組邊界掃瞄測試結果信號讀入203,其後面再 跟隨著一組邊.界掃瞄測試結果信號移位204。 這邊界掃瞄測試被執行的同時,數位I/O控剌器123操作 21 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X297公釐) (請先Η讀背面之注$項再填寫本頁) 訂 A7 _ _ B7_ 五、發明説明(叫) ’ 而使得"1"或者"〇"的數位邏輯信號只有在從邊界掃瞄測試信 號鎖定输出202延伸至第2圖中的邊界掃瞄細試結果信號讀 入203之區間時繼續被從數位I/O控制器123之輸出端點输出 至在邊界掃瞄元件130中緩衝器135的输出和反相器134的输 入端點•因此,在反相器134反應於這些信號而輸出的情況 中,被输入邊界掃瞄胞133之邊界掃瞄測試输入端點G的信號 在第2圖所展示的邊界掃瞄測試結果信號讀入203時被取入 邊界掃瞄胞133的邊界掃瞄測試输入端點G,並且依據邊界掃 瞄測試結果信號移位204的時序被移位並且隨著在邊界掃瞄 測試输入端點和输出端點Al、A2、Bl、B2、Cl、C2、D1、 以及D2的信號被输入至測試信號處理器126的TDI端點。 利用被移位返回至測試信號處理器126之TDI端點的邊 界掃瞄測試結果信號資料以及被測試信號處理器126從分析 資料產生器Π 8取入的期望値資料,測試信號處理器126進行 一種比較以便碑認邊界掃瞄測試結果信號資料是否與期.望 I < 經濟部中央標準局貝工消費合作社印箪 ---r--.------ (請先聞讀背面之注f項再填寫本頁)
X 値資料相符合。如果邊界掃瞄元件1 30正常,則邊界掃瞄測 試結果信號的資料展示和期望値資料相符合。但是,如果在 邊界掃瞄元件130中有錯誤,則邊界掃瞄測試結果信號之資 料將不同於期望値資料。邊界掃瞄元件130之符合(OK)或者 不符合(NG)結果從測試信號處理器126被送返回至測試控制 器1 2 1。如果結果是OK,則測試控制器1 2 1傳送一組指令至結 果資料記錄器124而指示該結果應該被記錄,並且結果資料 記錄器124將OK結果記錄在資料記錄檔案125中•另一方面, 在結果是NG的情況中•測試控制器121傳送一組指令至錯誤 22 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4规格(210X297公釐) 經濟部中央揉準局員工消费合作社印裝 A7 ___B7_ 五、發明説明(>〇) * 分析器122而使得返回至測試信號處理器126的邊界掃瞄測 試結果信號資料和依據測試執行資料從測試信號所預期的 期望値資料從測試信號處理器126經由測試控制器12 1而被 錯誤分析器122取入。更進一步地,需要用以指定錯誤之性 質和位置的邊界掃瞄元件13 0之測試電路部份的電路資訊也 被錯誤分析器122取入,並且錯誤分析器122因此分析在邊界 掃瞄元件130中的錯誤性質和位置。 作爲一種範例,如果在第6圖中的邊界掃瞄胞131和132 之接線Α1·Β1和A2-B2之間發生短路,則這錯誤的成因被分析 爲在邊界掃瞄胞131和132的端點Al、Α2、Β1、和Β2以及連 接器136的第一和第二端點之間發生短路。但是實際上’連. 接器136之第一端點和第二端點被分別地連接到邊界掃瞄胞 131和132的Al、Β1以及Α2、Β2·結果,在連接器136的第一 和第二端點之間的短路無法被分析,因爲分析資料產生器Π8 中的電路資訊只包含關於在邊界掃瞄胞13bl33之間的連接 * . . 資訊。因此,該系統被安置而使得邊界掃瞄測試元件100的 操作員也推論出在連接器136的第一和第二端點之間的短路 爲邊界掃瞄胞131、132的Al、A2,B1、和B2中短路的表示 之錯誤成因》 因此分析所得到的結果被錯誤分析器122送返回至測試 控制器1 2 1。測試控制器1 2 1傅送一組指令至結果資料記錄器 124而指示這些包含錯誤性質和位置的結果應該被記錄’並 且結果資料記錄器124將結果記錄在資料記錄檔案125中。 因此,在第6圖的較佳實施例中,具有一袒外部邊界掃 23 本紙張尺度逍用中國困家標準(CNS > A4规格(210X297公釐) HI- ί ^^^1 In (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部中央揉準局貝工消费合作社印装 A7 _____B7_ 五、發明説明(>j ) ’ 瞄測試向量產生器112以產生對應至被測試元件130的邊界 掃瞄測試向量之邊界掃瞄測試元件1 〇〇被使用以利用被外部 邊界掃瞄測試向量產生器112產生的測試向量槽案108準備 實際測試執行資料而執行測試》更進一步地,邊界掃瞄測試 元件100具有一組分析資料產生器118,它從表示上述邊界掃 瞄測試向量之測試向量檔案108中的註解部份產生在被測試 元件130之內將被測試的電路部份之期望値資料和電路資 訊。被分析資料產生器118產生之期望値資料和電路資訊包 含測試結果之分析所需要的資料,因爲該資料不能以上述的 VCL描述格式被表示爲有意義的資料所以它習見地從邊界掃 瞄測試向置產生器112被得到。 依據第6圖所展示的本發明之實施例,由於供應習見的 邊界掃瞄測試元件必須的邊界掃瞄測試向量產生器之結 果* 一種邊界掃瞄測試元件可被廉價地建立而不會增加花 费。 I · 熟習本技術者也將了解,第6圖所展示的較佳實施例可 被操作而使得"1"或者"〇"之數位邏輯信號只在從邊界掃瞄測 試信號鎖定输出202延伸至第2圖中之邊界掃瞄測試結果信 號讀入203的區間時繼續從數位I/O控制器123的輸出端點被 输出至緩衝器135之輸出和反相器134之輸入端點。但是,這 系統也可被構成而使得數位I/O控制器123在展示於第2圖中 的邊界掃瞄測試信號移位201被進行之前輸出"1"或者"〇"的 信號至緩衝器135之輸出和反相器134之輸入端點。接著,在 邊界掃瞄測試信號移位201、邊界掃瞄測試信.號鎖定輸出 24 本紙張尺度逍用中國國家橾準(CNS ) A4规格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) 訂 A7 _B7_ 五、發明説明(〆) , > 202、邊界掃瞄測試結果信號讀入203、以及邊界掃瞄測試結 果信號204被執行之後,它們包含如第2圖所展示當一組封包 被測試時所發生的信號流串列,如果必須的話數位I/O控制器 123之输出端點可再次被設定》因此,如果該系統被設計以 使得在反應來自數位I/O控制器123之輸出端點的信號而從反 相器134輸出之情況中輸入邊界掃瞄胞133之邊界掃瞄測試 输入端點G的信號在第2圖所展示的邊界掃瞄測試結果信號 讀入203時被取入邊界掃瞄胞133之邊界掃瞄測試输入端點 G,並且依據邊界掃瞄測試結果信號移位204的時序被移位並 且與邊界掃瞄測試輸入和輸出端點Al、A2、Bl、B2、C1、
C2、D1以及D2之信號一起被輸入測試信號處理器126之TDI 端點,則控制數位I/O控制器123之输出時序的測試控制器121 可被簡化而使得可構成更廉價之邊界掃猫測試元件》 第9圖是本發明之邊界掃瞄測試元件1ΪΚ)之第二較佳實 施例的方塊圖。如第9圖所展示,一組邊界掃瞄測試向量產 • · · 經濟部中央橾準局負工消费合作社印製 (請先聞讀背面之注項再填寫本頁) 生器112,與邊界掃瞄測試元件100分離地置放,從一組邊界 掃瞄說明語言(BSDL)檔案102和包含被測試元件130之電路 圖資訊的電腦輔助設計(CAD)資料104接收被測試元件130之 邊界掃瞄胞結構的一組說明以及邊界掃瞄模式移位命令並 且產生邊界掃瞄測試向量以便在測試被測試元件130時使 用。被邊界掃瞄測試向量產生器112產生的邊界掃瞄測試向 釐被記錄在一組測試向量槽案108中》 邊界掃瞄測試元件1〇〇包含一組測試執行資料產生器 1 1 6,它從測試向量檔案1 08以及來自一組測試條件控制器1 1 4 25 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) A7 B7_ 五、發明説明(θ ) ' 的資料產生設定測試條件之測試執行資料。邊界掃瞄測試元 件100也包含一組分析資料產生器118·分析資料產生器118 接收輸入至測試執行資料產生器116的測試向量檔案108之 內容並且從測試向量檔案108之註解部份產生分析資料《分 析資料是指定在一組邊界掃瞄測試被執行時發生的錯誤之 性質和位置所需要。 邊界掃瞄測試元件100也包含一組測試執行器120 »測試 執行器120包含依據從測試執行資料產生器116接收之測試 執行資料而控制整個邊界掃瞄測試之執行的一組測試控制 器121。測試執行器120也包含用以分析在邊界掃瞄測試被執 行時所發生的錯誤成因和錯誤位置的一組錯誤分析器122 · -組測試信號處理器126也被包含在測試執行器120中。測試 信號處理器126在測試控制器121之控制下進行邊界掃瞄測 試信號的I/O,並且包含供用於邊界掃瞄測試信號,包括測試 資料输入(TDI)、測試資料輸出(TDO)、測試時脈(TCK)、.以 及測試模式信號(TMS)之邊界掃瞄測試信號端點TDI、TDO、 TCK、以及TMS。測試執行器120也包含一組結果資料記錄器 1 24,它控制來自邊界掃瞄測試之結果資料並且將它記錄在 一組資料記錄檔案125中。 經濟部中央橾準局貝工消费合作社印裝 (請先閲讀背面之注f項再填寫本頁) 第9圖之測試組態包含具有一組邊界掃瞄電路以被邊界 掃瞄測試元件1〇〇使用的一組界面盒子140。界面盒子140包 含邊界掃瞄胞141,I42。第9圖之測試組態進一步地包含一 組被測試元件1 30,它包含可被邊界掃瞄測試元件1 〇〇測試的 邊界掃瞄胞131-133。熟悉本技術者可知,被測試元件130可 本紙張尺度逍用中國國家橾率(CNS > A4規格(210X297公釐) A7 _________ 五、發明説明(4) ' 包含任何數目的邊界掃瞄胞。界面盒子140之各組邊界掃瞄 胞i41-l 42以及被測試元件130之邊界掃瞄胞131-133包含供 用於邊界掃瞄測試信號,包括測試資料輸入(TDI)、測試資料 输出(TDO)、測試時脈(TCK)、以及測試模式信號(TMS)之邊 界掃瞄測試信號端點TDI、TDO、TCK,以及TMS。如第9圖 所展示,測試信號處理器126的各組TCK和TMS端點、邊界掃 瞄胞141-1 42、以及邊界掃瞄胞131-133被連接在一起而使得 各組邊界掃瞄胞141-1 42和131-133同時接收相同測試時脈和 測試模式選擇信號》如第9圖之實施例所展示,測試信號處 理器126之TDO端點被電氣地連接到界面盒子140的邊界掃瞄 胞141之TDI端點,邊界掃瞄胞141的TDO端點被電氣地連接 到邊界掃瞄胞142之TDI端點,邊界掃瞄胞142的TDO端點被 電氣地連接到被測試130元件之邊界掃瞄胞131的TDI端點, 邊界掃瞄胞13 1之TDO端點被電氣地連接到邊界掃瞄胞132的 TDI端點,邊界-瞄胞132之TD.O端點被電氣地連接到邊界掃 • · 瞄胞133的TDI端點|以及邊界掃瞄胞133之TDO端點被電氣 地連接到測試信號處理器126的TDI端點。此外,界面盒子140 之邊界掃瞄胞141的信號端點F1和F2被分別地電氣式連接到 被測試元件130之邊界掃瞄胞131的信號端點F1和F2。而且, 經濟部中央梯準局貝工消费合作社印裝 (請先閱讀背面之注f項再填寫本頁) 界面盒子140之邊界掃瞄胞142的信號端點E1和E2被分別地 電氣式連接到被測試元件130之邊界掃瞄胞133的信號端點 E1和E2。更進一步地,邊界掃瞄胞131之邊界掃瞄測試輸出 端點A1和A2被電氣地連接到邊界掃瞄胞132的邊界掃瞄測試 输入端點B1和B2。邊界掃瞄胞131之端點A1和邊界掃瞄胞132 Π
本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS Μ4规格(210X297i¥T 經濟部中夬標準局貝工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(〆) · 的端點B1也被電氣地連接到連接器136之一組第一端點’並 且邊界掃瞄胞131的端點A2和邊界掃瞄胞132之端點B2被連 接到連接器136的一組第二端點。另外,邊界掃瞄胞132之邊 界掃瞄測試輸出端點C1和C2被電氣地連接到邊界掃瞄胞133 的邊界掃瞄测試输入端點D1和D2。 邊界掃瞄測試元件·1〇〇之測試執行器12〇的數位輸入-輸 出(I/O)部份123输入並且輸出除了邊界掃瞄測試信號TDI、 TDO、TCK、和TMS之外被使用於邊界掃瞄元件130之測試中 的數位信號》第9圖所展示的邊界掃瞄元件130也包含一組反 相器134和一組緩衝器135。緩衝器135之输出被電氣地連接 到反相器134的輸入》反相器134之输出被電氣地連接到邊界 掃瞄胞133的邊界掃瞄測試輸入端點G。緩衝器135之输出和 反相器134的输入'被連接到數位I/O控制器123之輸出端點。 邊界掃瞄測試元件1〇之操作如下•首先’ BSDL檑案102, 其包含在界面盒子140內之邊界掃瞄胞14 1-142的BSDL檔案 • · 以及邊界掃瞄元件130之邊界掃瞄胞13 1-1 33的BSDL槍案,和 CAD資料104,其包含界面盒子140之邊界掃瞄胞Ml、142以 及邊界掃瞄元件130之邊界掃瞄胞131-133的連接狀態電路圖 資訊,被供應至從邊界掃瞄測試元件1〇〇分離地置放之邊界 掃瞄測試向量產生器112。因此,邊界掃瞄測試向暈產生器 112從CAD資料104取出將接受邊界掃瞄測試的電路,並且參 看BSDL檔案102以向量控制語言(VCL)格式產生對應至邊界 掃瞄元件130的邊界掃瞄測試向量,其中邊界掃瞄胞141-142 和131-133之邊界掃瞄胞結構以及移至各種邊界.掃瞄模式的 28 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4规格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注f項再填寫本頁)
經濟部中央標準局負工消费合作社印装 A7 ______B7__ 五、發明説明(4) ' 命令被加以說明。這邊界掃瞄測試向量資料被輸出至測試向 量檔案108。 測試向量檔案108可在梢後時間被供應至一組邊界掃瞄 測試元件1 00的測試執行資料產生器1 1 6 »邊界掃瞄測試元件 1〇〇可置放在不同於邊界掃瞄測試向量產生器1 12的位置,可 能在診斷地點或者另一製造地點。當一組被測試元件13 0將 .被測試時,測試向量檔案108被供應至邊界掃瞄測試元件100 之測試執行資料產生器116。操作員可將電源供應時序資訊 以及設定邊界掃瞄元件1 30的電路條件輸入至測試條件控制 器114»被設定的電路條件接著從測試條件控制器114被傳送 至測試執行資料產生器116。測試執行資料產生器116接著依 據這些測試條件矯正邊界掃瞄元件1 3 0之邊界掃瞄測試向 置,並且產生測試執行資料。 同時,分析資料產生器11 8從測試執行資料產生器11 6接 收測試向量檔案108之內容。在這情況中,包含期望値資料 和元件邊界掃瞄胞數目、連接接腳數目以及連接接腳信號名 稱的電路資訊不被當做註解而處理,它們是爲了方便起見被 表示在位於測試向量檔案108末端的註解部份,該測試向置 槍案108被以第3圖所展示的上述VCL描述格式表示。反之, 該資訊被如第7圚之範例所展示加以安排而使得它可被使用 爲當一組邊界掃瞄測試被進行時指定所發生的錯誤性質和 位置之資料。 更進一步地,表示在測試向量檔案108的註解部份中之 期望値資料被分析資料產生器1 18重新配置’如第8圖之範例 29 本紙張尺度適用中國國家搮準(CNS ) A4规格(210X297^11 (請先閲讀背面之注f項再填寫本頁) -訂 經濟部中央橾準局貝工消费合作社印装 A7 _B7_五、發明説明(>Ί) 所展示- 因此,使用界面盒子140和被測試元件13 0的電路資訊, 包含元件邊界掃瞄胞數目、連接接腳數目和連接接脚信號名 稱,以及期望値資料,它不能被表示爲在邊界掃瞄測試向量 資料(它以上述的VCL描述格式表示)之內的有意義資料,但 是爲了方便起見它反而被表示於在測試向量槽案108之內的 邊界掃瞄測試向量資料末端的一組註解部份中以便在人們 檢視邊界掃瞄測試向量時被使用爲參考,分析資料產生器118 重新產生電路資訊和期望値資料作爲在邊界掃瞄測試中之 結果判斷和錯誤分析採用之有意義資料。 因此,測試執行器120依據邊界掃瞄測試元件100之測試 執行資料產生器116產生的測試執行資料執行邊界掃瞄測 試。 測試執行器120包含依據測試執行資料控制整個邊界掃 瞄測試之執行的一組測試控制器121。測試控制器121傅送一 I ' 組命令至測試信號處理器126而指示邊界掃瞄測試信號將依 據測試執行資料被傳送出。測試信號處理器126,依據上述 的命令而操作,根據測試執行資料而輸出TCK和TMS邊界掃 瞄測試信號至所有的邊界掃瞄元件130的邊界掃瞄胞131-133 和界面盒子140之邊界掃瞄胞141-1 42,並且經由界面盒子140 之邊界掃瞄胞141的TDI端點將一組TDO邊界掃瞄測試信號 移位經過邊界掃瞄胞141-142和131-133。隨後,該邊界if瞄 測試信號被输出作爲至邊界掃瞄測試输出端點A1和A2以及 邊界掃瞄測試輸出端點C1和C2的鎖定輸出。接著,該邊界掃 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) α· 訂 -真.. 30 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4规格(210X297公釐〉 經濟部中央橾準局貝工消費合作社印製 A7 ____B7__ 五、發明説明(4) ' 瞄測試結果信號被讀入邊界掃瞄測試输入端點B1、B2、D1、 以及D2,其後,在邊界掃瞄測試输入端點和輸出端點A1、A2、 Bl、B2、Cl ' C2、D1、以及D2的信號接著被移位經過邊界 掃瞄胞131-133並且經由邊界掃瞄胞133的TDO端點被输入測 試信號處理器126之TDI端點》上述的信號流串列是相同於當 —組封包被測試時發生的信號流串列,如第2圖所展示。 這邊界掃瞄測試被執行的同時,數位I/O控制器123操作 而使得"1 "或者"〇"的數位邏輯信號只有在從邊界掃瞄測試信 號鎖定输出202延伸至第2圖中的邊界掃瞄測試結果信號讀 入203之區間時繼續被從數位I/O控制器123之输出端點输出 至在邊界掃瞄元件130中緩衝器135的輸出和反相器134的输 入端點。因此,在反相器134反應於這些信號而输出的情況 中,被輸入邊界掃瞄胞13 3之邊界掃瞄測試输入端點G的信號 在第2圖所展示的邊界掃瞄測試結果信號讀入203時被取入 邊界掃瞄胞1336¾邊界掃瞄測試输入端點G,並且依據邊界.掃 瞄測試結果信號移位204的時序被移位並且隨著在邊界掃瞄 胞131-133和141-1 42的邊界掃瞄測試输入端點和输出端點 Al、A2、Bl ' B2、Cl、C2、D1、以及D2的信號以及信號端 點El、E2、F1、和F2之信號被輸入至測試信號處理器126的 TDI端點· 利用被移位返回至測試信號處理器126之TDI端點的邊 界掃瞄測試結果信號資料以及被測試信號處理器126從分析 資料產生器1 1 8取入的期望値資料,測試信號處理器126進行 一種比較以便確認邊界掃瞄測試結果信號資料.是否與期望 31 本紙張尺度逋用中國國家橾準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先聞讀背面之注f項再填寫本頁) 訂 經濟部中央梯準局貝工消费合作社印装 A7 B7 五、發明説明(叫) ’ 値資料相符合。如果邊界掃瞄元件130正常,則邊界掃瞄測 試結果信號的資料展示和期望値資料相符合》但是,如果在 邊界掃瞄元件130中有錯誤,則邊界掃瞄測試結果信號之資 料將不同於期望値資料。邊界掃瞄元件130之0K7NG結果從測 試信號處理器126被送返回至測試控制器121。如果結果是 OK,則測試控制器121傳送一組指令至結果資料記錄器124 而指示該結果應該被記錄,並且結果資料記錄器124將OK結 果記錄在資料記錄檔案125中。另一方面,在結果是NG的情 況中,測試控制器121傅送一組指令至錯誤分析器122而使得 返回至測試信號處理器126的邊界掃瞄測試結果信號資料和 依據測試執行資料從測試信號所預期的期望値資料從測試 信號處理器126經由測試控制器121而被錯誤分析器122取 入。更進一步地,需要用以指定錯誤之性質和位置之界面盒 子140內的邊界掃瞄胞141-1 42以及邊界掃瞄元件130的測試 電路部份之電路資訊也被錯誤分析器122取入,並且錯誤分 • · 析器122因此分析在邊界掃瞄元件130中的錯誤性質和位 置。 因此分析所得到的結果被錯誤分析器122送返回至測試 控制器121。測試控制器121傳送一組指令至結果資料記錄器 I24而指示這些關於錯誤性質和位置的結果應該被記錄,並 且結果資料記錄器124將這些關於錯誤之性質和位置的結果 記錄在資料記錄檔案125中。 因爲上述的界面盒子140被安裝在第9圖的測試組態 中|邊界掃瞄測試之範國被增加。如果不安裝.這界面盒子 i2 未紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X297公釐) -- H-H ϋΊ— n ϋ -- -* ^fv (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) 訂 經濟部中央樣準局貝工消費合作社印製 A7 ____B7_ 五、發明説明(今0 ) · 140,則上述範圍將只包含被下列接線所環繞之區域,該等 接線包含連接至被測試元件130的邊界掃瞄胞131-133之分別 的TDI、TDO、TCK、和TMS端點之接線,連接在邊界掃瞄胞 13 1的邊界掃瞄測試输出端點A1和A2以及邊界掃猫胞132的 邊界掃瞄測試输入端點B1和B2之間的接線,連接在邊界掃瞄 胞132之邊界掃瞄測試输出端點C1和C2以及邊界掃瞄胞133 之邊界掃瞄測試输入端點D1和D2之間的接線,在數位I/O控 制器123的输出端點和緩衝器135的輸出端點以及反相器134 的输入端點之間的接線,以及在反相器13 4之输出端點和邊 界掃瞄胞133之邊界掃瞄測試输入端點G之間的接線。但是, 因爲上述的界面盒子140被安裝,並且因爲被測試元件13 0的. 邊界掃瞄胞131之信號端點F1和F2以及被測試元件130之邊 界掃瞄胞133的信號端點E1和E2也分別地被連接到在界面盒 子140中之邊界掃瞄胞141的信號端點F1和F2和邊界掃瞄胞 142的信號端點E1和E2,邊界掃瞄胞131和133的信號端點 I · FI、F2、E1、以及E2也被包含在邊界掃瞄測試之範圍中。 結果,被測試元件130之可接受邊界掃瞄測試的範圍不 只包含被連接至被測試元件13 0的邊界掃瞄胞131-133之分別 的TDI、T.DO、TCK、和TMS端點之接線,連接在邊界掃瞄胞 13 1的邊界掃瞄測試_出端點A1和A2以及邊界掃瞄胞132的 邊界掃瞄測試输入端點B1和B2之間的接線,連接在邊界掃瞄 胞132之邊界掃瞄測試输出端點C1和C2以及邊界掃瞄胞133 之邊界掃瞄測試輸入端點D1和D2之間的接線,在數位I/O控 制器123之输出端點和緩衝器135之输入端點以及反相器134 33 本紙張尺度逍用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X297公釐) ----r--„------ (請先W讀背面之注f項再填寫本頁) 訂 -X. · A7 _B7__ 五、發明説明(>7丨) ' 之输入端點之間的接線,以及在反相器134的输出端點和邊 界掃瞄胞133的邊界掃瞄測試輸入端點G之間的接線所環繞 區域,同時也包含造界掃瞄胞1 4 1 -1 4_2的信號端點F 1、F2、 El、E2。 因此,利甩在邊界掃瞄測試元件1〇〇和被測試元件130之 間安裝一組具有邊界掃瞄胞的界面盒子140,並且將這界面 盒子140連接至置放在被測試130元件中的邊界掃瞄電路部 份,本發明增加邊界掃瞄測試的範圍而使得被測試元件130 的邊界掃瞄測試之效率可被改進。 雖然本發明的圖示和較佳實施例已經被詳細說明,應可 了解本發明可有各種其他的實施例並且所附申請專利範圍 將包含先前技術所限定之外的此等變化》 .(請先Μ讀背面之注$項再填寫本頁) 訂 <04,· 經濟部中央橾準局負工消費合作社印裝 本紙張尺度逋用中國國家標牟(CNS ) Α4規格(21〇Χ29<7公釐}
J 五、發明説明(>>〇 A7 B7 經濟部中央榣準局貝工消費合作社印裝 元件標號對照表 2 邊界掃瞄說明語言 (BSDL)檔案 4 電腦輔助設計(CAD) 資料 10 邊界掃瞄測試元件 12 邊界掃瞄測試向量 產生器 14 測試條件控制器 16 測試執行資料產生器 20 測試執行器 21 測試控制器 22 錯誤分析器 23 數位I/O控制器 24 結果資料記錄器 25 資料記錄檔案 26 測試信號處理器 30 邊界掃瞄元件 31-33 邊界掃瞄胞 34 反相器 35 緩衝器 36 連接器 100 邊界掃瞄測試元件 102 邊界掃瞄說明語言 (BSDL)檔案 ' 104 電腦輔助設計 (CAD)資料 108 測試向量檔案 112 邊界掃瞄測試向量 產生器 114 測試條件控制器 116 測試執行資料產生器 118 分析資料產生器 120 測試執行器 121 測試控制器 122 錯誤分析器 123 數位I/O控制器 124 結果資料記錄器 125 資料記錄槽案 126 測試信號處理器 130 邊界掃瞄元件 131-133 邊界掃瞄胞 134 反相器 135 緩衝器. 136· 連接器 140 界面盒子 141 · 142 邊界掃瞄胞 201 邊界掃瞄測試信號 mi 202 邊界掃瞄測試信號 鎖定輸出 203 邊界掃瞄測試結果 信號讀入 204 邊界掃瞄測試結果 mmm (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) ;衣· 訂 ίΐ. 35 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)

Claims (1)

  1. 六、申請專利範圍 Α8 Β8 C8 D8 經濟部中央梯準局貞工消費合作社印製 1. 一種邊界掃瞄測試裝置,它包含: —組測試執行資料產生器,其使用邊界掃瞄向量並且依 據該等邊界掃瞄測試向量和測試條件以產生執行資料,該等 邊界掃瞄向量對應至被測試的一組邊界掃瞄裝置並且它們被 與該邊界掃瞄測試裝置分離的一組邊界掃瞄測試向量產生器 所產生: 設定該等測試條件之一組測試條件控制器; 依據該等執行資料執行一種邊界掃瞄測試之一組測試執 行器:以及 一組分析資料產生器,它從該等邊.界掃瞄向量之註解部 份產生包含被測試之該邊界掃瞄裝置的電路資訊之分析資料 和期望値資料,該等註解部份當被添加至該等邊界掃瞄向量 時不被使用於該等執行資料的產生,其中該等分析資料使得 該邊界掃瞄測試裝置能分析該邊界掃瞄測試之測試結果》 2. 如申請專利範圍第1項的邊界掃瞄測試裝囿,其中 該測試執行器控制包含測試資料输入信號(TDI)、測試資料 输出信號(TDO)、測試時脈信號(TCK)以及測試模式選擇信號 (TMS)之邊界掃瞄測試信號,只有在包含邊界掃瞄測試信號 移位、邊界掃瞄測試信號鎖定輸出、邊界掃瞄測試信號讀入 、以及邊界掃瞄測試結果信號移位之信號流串列時該等信號 被輸入和輸出測試下的該邊界掃瞄裝置之邊界掃瞄測試信號 連接器,並且其中該測試執行器控制只在該信號流串列之前 除了該等邊界掃瞄測試信號之外其他的數位輸4 /输出信號 -36- 本紙張Λ度逋用中國®家標率(CNS } Μ洗格< 2丨0><297公煃) . /V. 請先閲讀背面之注$項再填寫本頁 -訂 六、+請專利範圍 ABCD 經濟部中央標準局貝工消費合作社印装 3. 一種邊界掃瞄測試裝置,它包含: 使用邊界掃瞄向量的一組測試執行資料產生器,該等邊 界掃瞄向量對應至具有邊界掃瞄測試信號連接器供輸入和輸 出邊界掃瞄測試信號之被測試的一組邊界掃瞄裝置並且它們 被與該邊界掃瞄測試元件分離的一組邊界掃瞄測試向量產生 器所產生,該測試執行資料產生器控制被輸入和输出該被測 試邊界掃瞄裝置的一些邊界掃瞄測試信號,包含測試資料輸 入信號(TDI)、測試資料输出信號(TDO)、測試時脈信號(TCK) 以及測試模式選擇信號(TMS) *並且該測試執行資料產生器 依據該等邊界掃瞄測試向量和測試條件產生執行資料; 設定該等測試條件之一組測試條件控制器: 依據該等執行資料執行一種邊界掃瞄測試之_組測試執 行器: 一組分析資料產生器,它從該等邊界掃瞄向量之註解部 份產生包含被測試之該邊界掃瞄元件的電路資訊之分析資料 和期望値資料•該等註解部份當被添加至該等邊界掃瞄向量 時不被使用於該等執行資料的產生,其中該等分析資料使得 該邊界掃瞄測試裝置能分析該邊界掃瞄測試之測試結果:以 及 包含具有邊界掃瞄測試信號連接器供輸入和输出該等邊 界掃瞄測試信號之一組邊界掃瞄界面電路的一組界面盒子, 其中當該邊界掃瞄界面電路之該等邊界掃瞄測試信號連接器 被連接到被測試之該邊界掃瞄裝置的該等邊界掃瞄測試信號 連接器時該被測試之邊界掃瞄裝置和該邊界掃瞄界面電路形 成一組單一邊界掃瞄電路。 (請先聞皮背面之注^h項再κ本頁) 康· -37- 本紙張尺度適用t國國家揉準(CNS ) A4規格(210 X 2奵公嫠)
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