TW202414127A - 測試機、測試控制裝置及方法 - Google Patents

Abstract

本發明涉及一種測試機、測試控制裝置及方法。裝置包括平行控制單元和多個工位控制單元，一個工位控制單元對應至少一個被測器件；平行控制單元分別連接多個工位控制單元並連接主機，接收主機發送的測試項，並將測試項中的各個測試序列發送給測試序列對應的被測器件對應的工位控制單元；每個工位控制單元分別連接多個測試板卡，各個測試板卡實現的業務功能不同；每個工位控制單元，根據接收到的測試序列需要實現的業務功能，將測試序列發送給對應的測試板卡，以對測試序列對應的被測器件進行測試；當目標被測器件測試失敗時，控制多個測試板卡停止對目標被測器件進行測試，目標被測器件為工位控制單元對應的被測器件。本發明能夠停止某個器件測試。

Description

測試機、測試控制裝置及方法

本發明涉及測試技術領域，特別是涉及一種測試機、測試控制裝置及方法。

自動測試設備（Automatic Test Equipment，簡稱ATE）是半導體產業中檢測積體電路（Integrated Circuit，簡稱IC）功能完整性的設備，應用於積體電路生產製造的最後流程，以確保積體電路生產製造的品質。

ATE包括主機（Host）、測試機（Tester）和被測器件（Device Under Test，簡稱DUT）。主機將測試序列（test sequence）發送給測試機。測試機根據測試序列生成激勵信號，並發送給被測器件。被測器件根據激勵信號回饋回應信號給測試機。測試機根據回應信號得到測試資料，並發送給主機。主機對測試資料進行處理，得到測試結果，以指示機械手（Handler）對被測器件進行分類。

然而，隨著被測器件的數量增加，單個被測器件出現測試失敗時，卻無法及時停止測試。

基於此，有必要提供一種能夠單獨停止對某個被測器件繼續測試的測試機、測試控制裝置及方法。

第一方面，本申請提供了一種測試控制裝置。所述裝置包括平行控制單元和多個工位控制單元，一個所述工位控制單元用於對應至少一個被測器件；

所述平行控制單元，分別連接所述多個工位控制單元並用於連接主機，接收所述主機發送的測試項，並將所述測試項中的各個測試序列發送給所述測試序列對應的被測器件對應的工位控制單元；

每個所述工位控制單元，用於分別連接多個測試板卡，各個所述測試板卡實現的業務功能不同；每個所述工位控制單元用於，根據接收到的測試序列需要實現的業務功能，將所述測試序列發送給對應的測試板卡，以對所述測試序列對應的被測器件進行測試；當目標被測器件測試失敗時，控制所述多個測試板卡停止對所述目標被測器件進行測試，所述目標被測器件為所述工位控制單元對應的被測器件。

在其中一個實施例中，所述工位控制單元用於，接收所述目標被測器件的測試失敗訊息；根據所述測試失敗訊息確定目標標號，所述目標標號為所述目標被測器件與各個所述測試板卡之間的通道的標號；向至少一個所述測試板卡發送攜帶所述目標標號的關斷指令，以控制各個所述測試板卡斷開所述目標標號對應的通道。

在其中一個實施例中，所述測試失敗訊息為所述測試板卡對所述目標被測器件進行測試得到的測試資料，或協處理模組對所述測試資料處理得到的測試結果。

在其中一個實施例中，所述工位控制單元用於，分別向各個所述測試板卡發送所述關斷指令，或向目標測試板卡發送所述關斷指令，以使所述目標測試板卡向其它測試板卡轉發所述關斷指令，所述目標測試板卡為所述多個測試板卡中的任意一個測試板卡。

在其中一個實施例中，所述工位控制單元還用於，在所述測試項對應的測試完成後，向各個所述測試板卡發送開啟指令，以控制各個所述測試板卡恢復所述目標標號對應的通道。

在其中一個實施例中，所述平行控制單元用於，接收所述主機發送的測試配置，所述測試配置包括各個所述測試序列對應的通道標號，所述通道標號所屬的通道位於所述測試板卡和所述被測器件之間；將所述測試項中的各個測試序列和所述測試配置中與所述測試序列對應的通道標號分發給所述通道標號對應的工位控制單元；

每個所述工位控制單元用於，將接收到的各個測試序列和所述測試序列對應的通道標號發送給所述通道標號對應的測試板卡。

在其中一個實施例中，所述裝置還包括：同步單元，分別連接所述打包單元、所述平行控制單元和所述多個工位控制單元，用於從所述平行控制單元獲取同步信號，並發送給所述多個工位控制單元和所述打包單元。

在其中一個實施例中，所述工位控制單元還用於，當目標被測器件測試失敗時，停止向所述多個測試板卡發送所述目標被測器件的測試序列。

第二方面，本申請提供了一種測試機。所述測試機包括如第一方面提供的測試個控制裝置和多個測試板卡。

在其中一個實施例中，所述測試板卡包括控制器和功能電路；所述控制器，用於接收攜帶目標標號的關斷指令，所述目標標號為所述目標被測器件與所述測試板卡之間的通道的標號；控制所述功能電路停止向所述目標標號對應的通道發送激勵信號。

第三方面，本申請提供了一種測試控制方法，應用於第一方面提供的測試控制裝置。所述方法包括：所述平行控制單元接收所述主機發送的測試項，並將所述測試項中的各個測試序列發送給所述測試序列對應的被測器件對應的工位控制單元；

每個所述工位控制單元根據接收到的測試序列需要實現的業務功能，將所述測試序列發送給對應的測試板卡，以對所述測試序列對應的被測器件進行測試；

當目標被測器件測試失敗時，所述工位控制單元控制所述多個測試板卡停止對所述目標被測器件進行測試，所述目標被測器件為所述工位控制單元對應的被測器件。

上述測試機、測試控制裝置及方法，測試控制裝置包括平行控制單元和多個工位控制單元，一個工位控制單元對應至少一個被測器件。平行控制單元分別連接主機和多個工位控制單元，接收主機發送的測試項，並將測試項中的各個測試序列發送給測試序列對應的被測器件對應的工位控制單元。每個工位控制單元分別連接多個測試板卡，根據接收到的測試序列需要實現的業務功能，將測試序列發送給對應的測試板卡，各個測試板卡實現的業務功能不同，以對測試序列對應的被測器件進行測試。當工位控制單元對應的被測器件測試失敗時，控制多個測試板卡停止對工位控制單元對應的被測器件進行測試。通過專門設置與被測器件對應的工位控制單元，可以獨立控制對應被測器件的測試。這樣當某個被測器件測試失敗時，這個被測器件對應的工位控制單元可以控制測試板卡停止對這個被測器件的測試，避免測試資源的浪費。另外，測試機包括測試控制裝置，測試控制方法應用於測試控制裝置，因此測試機和測試控制方法也可以單獨停止某個被測器件繼續測試，避免測試資源的浪費。

為了便於理解本申請，下面將參照相關附圖對本申請進行更全面的描述。附圖中給出了本申請的實施例。但是，本申請可以以許多不同的形式來實現，並不限於本文所描述的實施例。相反地，提供這些實施例的目的是使本申請的公開內容更加透徹全面。

除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬於本申請的技術領域的技術人員通常理解的含義相同。本文中在本申請的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在於限制本申請。

可以理解，本申請所使用的術語“第一”、“第二”等可在本文中用於描述各種元件，但這些元件不受這些術語限制。這些術語僅用於將第一個元件與另一個元件區分。舉例來說，在不脫離本申請的範圍的情況下，可以將第一電阻稱為第二電阻，且類似地，可將第二電阻稱為第一電阻。第一電阻和第二電阻兩者都是電阻，但其不是同一電阻。

可以理解，以下實施例中的“連接”，如果被連接的電路、模組、單元等相互之間具有電信號或資料的傳遞，則應理解為“電連接”、“通信連接”等。

在此使用時，單數形式的“一”、“一個”和“所述/該”也可以包括複數形式，除非上下文清楚指出另外的方式。還應當理解的是，術語“包括/包含”或“具有”等指定所陳述的特徵、整體、步驟、操作、元件、部分或它們的組合的存在，但是不排除存在或添加一個或更多個其他特徵、整體、步驟、操作、元件、部分或它們的組合的可能性。同時，在本說明書中使用的術語“和/或”包括相關所列專案的任何及所有組合。

正如背景技術所述，現有技術中存在一個被測器件的測試不能單獨停止的問題，經發明人研究發現，出現這種問題的原因在於，如圖1所示，一個被測器件100的測試由多個測試板卡200共同實現，一個測試板卡200同時對多個被測器件100進行測試，測試板卡200與被測器件100之間的連接關係錯綜複雜。隨著被測器件的數量增加，很難實現對一個被測器件的測試進行單獨控制。因此，單個被測器件出現測試失敗時，無法及時停止測試。

基於以上原因，本發明提供了一種測試機、測試控制裝置及方法，專門設置與被測器件對應的工位控制單元，主機發送給平行控制單元的測試項中的各個測試序列經過測試序列對應的被測器件對應的工位控制單元，才能發送給測試序列需要實現的業務功能對應的測試板卡，對測試序列對應的被測器件進行測試。這樣各個被測器件的測試可以由對應的工位控制單元進行單獨控制，當一個被測器件測試失敗時，這個被測器件對應的工位控制單元可以控制測試板卡停止對這個被測器件的測試，避免測試資源的浪費。

在一個實施例中，如圖2所示，提供了一種測試控制裝置，包括平行控制單元10和多個工位控制單元20。一個工位控制單元20用於對應至少一個被測器件100。平行控制單元10分別連接多個工位控制單元20並用於連接主機，接收主機發送的測試項，並將測試項中的各個測試序列發送給測試序列對應的被測器件100對應的工位控制單元20。

每個工位控制單元20用於分別連接多個測試板卡200，各個測試板卡200實現的業務功能不同。每個工位控制單元20用於，根據接收到的測試序列需要實現的業務功能，將測試序列發送給對應的測試板卡200，以對測試序列對應的被測器件100進行測試；當目標被測器件測試失敗時，控制多個測試板卡200停止對目標被測器件進行測試，目標被測器件為工位控制單元20對應的被測器件100。

其中，平行控制單元10和工位控制單元20均為處理器。在實際應用中，平行控制單元10和工位控制單元20可以採用同一個處理器實現，也可以採用不同的處理器實現。實現平行控制單元10和工位控制單元20的處理器的數量可以為一個，也可以為多個。

具體地，主機向平行控制單元10發送測試項。平行控制單元10將測試項中的各個測試序列發送給測試序列對應的被測器件100對應的工位控制單元20。工位控制單元20根據接收到的測試序列需要實現的業務功能，將測試序列發送給對應的測試板卡200。測試板卡200根據接收到的測試序列向測試序列對應的被測器件100發送激勵信號。被測器件100基於接收到激勵信號回饋回應信號。測試板卡200根據接收到的回應信號得到測試資料。如果測試資料需要處理，則測試板卡200將測試資料發送給協處理模組300。協處理模組300對測試資料進行處理，得到測試結果。如果測試板卡200得到的測試資料或者協處理模組300得到的測試結果表明某個被測器件100的測試失敗，則這個被測器件100對應的工位控制單元20控制多個測試板卡200停止對這個被測器件100進行測試。此時，除這個被測器件100之外的被測器件100的測試繼續進行。

上述測試控制裝置中，包括平行控制單元和多個工位控制單元，一個工位控制單元對應至少一個被測器件。平行控制單元分別連接主機和多個工位控制單元，接收主機發送的測試項，並將測試項中的各個測試序列發送給測試序列對應的被測器件對應的工位控制單元。每個工位控制單元分別連接多個測試板卡，根據接收到的測試序列需要實現的業務功能，將測試序列發送給對應的測試板卡，各個測試板卡實現的業務功能不同，以對測試序列對應的被測器件進行測試。當工位控制單元對應的被測器件測試失敗時，控制多個測試板卡停止對工位控制單元對應的被測器件進行測試。通過專門設置與被測器件對應的工位控制單元，可以獨立控制對應被測器件的測試。這樣當某個被測器件測試失敗時，這個被測器件對應的工位控制單元可以控制測試板卡停止對這個被測器件的測試，避免測試資源的浪費。

上述的各個測試板卡實現的業務功能不同，可以理解為，包括如下幾種情況：各個測試板卡實現的業務功能均不相同，兩兩之間都不同；或者，各個測試板卡中有部分數量的測試板卡實現的業務功能不相同，而另一部分數量的測試板卡實現的業務功能相同；又或者，各個測試板卡中每個測試板卡均實現有多個業務功能，而各個測試板卡的多個業務功能之間，存在部分相同的業務功能。

在一個實施例中，工位控制單元20用於，接收目標被測器件的測試失敗訊息；根據測試失敗訊息確定目標標號，目標標號為目標被測器件與各個測試板卡200之間的通道的標號；向至少一個測試板卡200發送攜帶目標標號的關斷指令，以控制各個測試板卡200斷開目標標號對應的通道。

圖3為測試控制裝置與測試板卡之間交互訊息的示意圖。如圖3所示，按照從左到右的方向，第三個測試板卡200向第一個被測器件100發送激勵信號進行的測試失敗，測試失敗訊息先從第一個被測器件100發送到第三個測試板卡200，再從第三個測試板卡200發送到第一個被測器件100對應的第三個工位控制單元20（圖中用虛線表示）。第三個工位控制單元20向多個測試板卡200發送關斷指令（圖中用實線表示），以控制各個測試板卡200連接第一個被測器件100的通道斷開。

上述實施例中，通過接收目標被測器件的測試失敗訊息，可以確定目標被測器件測試失敗，並且測試失敗訊息源自目標被測器件，可以根據測試失敗訊息確定目標被測器件與各個測試板卡之間的通道的標號，即目標標號。通過向測試板卡發送攜帶目標標號的關斷指令，測試板卡即可根據其與目標被測器件之間的通道的標號，將其與目標被測器件之間的通道斷開，從而控制測試板卡停止對目標被測器件進行測試。

在一個實施例中，測試失敗訊息為測試板卡200對目標被測器件進行測試得到的測試資料。

如圖3所示，按照從左到右的方向，第三個測試板卡200向第一個被測器件100發送激勵信號進行的測試失敗，測試失敗訊息先從第一個被測器件100發送到第三個測試板卡200，再從第三個測試板卡200發送到第一個被測器件100對應的第三個工位控制單元20（圖中用虛線表示）。

在一個實施例中，測試失敗訊息為協處理模組300對測試資料處理得到的測試結果。

圖4為測試控制裝置內部交互訊息的示意圖。如圖4所示，按照從左到右的方向，第三個測試板卡200向第一個被測器件100發送激勵信號進行的測試失敗，第一個被測器件100基於激勵信號產生回應信號並發送給第三個測試板卡200，第三個測試板卡200根據回應信號產生測試資料並發送給協處理模組300，協處理模組300處理測試資料得到測試結果，即測試失敗訊息。這個測試失敗訊息從協處理模組300發送到第一個被測器件100對應的第三個工位控制單元20（圖中用虛線表示）。

在一個實施例中，工位控制單元20用於，分別向各個測試板卡200發送關斷指令。

如圖3所示，按照從左到右的方向，第三個測試板卡200向第一個被測器件100發送激勵信號進行的測試失敗，測試失敗訊息發送到第一個被測器件100對應的第三個工位控制單元20（圖中用虛線表示）。第三個工位控制單元20分別向各個測試板卡200發送關斷指令（圖中用實線表示），以控制各個測試板卡200連接第一個被測器件100的通道斷開。

在另一個實施例中，工位控制單元20用於，向目標測試板卡發送關斷指令，以使目標測試板卡向其它測試板卡轉發關斷指令，目標測試板卡為多個測試板卡200中的任意一個測試板卡200。

圖5為測試控制裝置與測試板卡之間交互訊息的示意圖。如圖5所示，按照從左到右的方向，第三個測試板卡200向第一個被測器件100發送激勵信號進行的測試失敗，測試失敗訊息發送到第一個被測器件100對應的第三個工位控制單元20。第三個工位控制單元20先向第三個測試板卡200發送關斷指令，第三個測試板卡200再向第四個測試板卡200、第五個測試板卡200、以及第六個測試板卡200發送關斷指令（圖中用實線表示），以控制各個測試板卡200連接第一個被測器件100的通道斷開。

在一個實施例中，工位控制單元20還用於，在測試項對應的測試完成後，向各個測試板卡200發送開啟指令，以控制各個測試板卡200恢復目標標號對應的通道。

上述實施例中，測試項對應的測試完成之後，可能會對被測器件進行其它測試，也可能會更換被測器件進行測試，此時工位控制單元向各個測試板卡發送開啟指令，控制各個測試板卡恢復之前斷開的通道，有利於後續測試的進行。

在一個實施例中，平行控制單元10用於，接收主機發送的測試配置，測試配置包括各個測試序列對應的通道標號，通道標號所屬的通道位於測試板卡200和被測器件100之間；將測試項中的各個測試序列和測試配置中與測試序列對應的通道標號分發給通道標號對應的工位控制單元20。每個工位控制單元20用於，將接收到的各個測試序列和試序列對應的通道標號發送給通道標號對應的測試板卡200。

上述實施例中，通過將通道標號與對應的測試序列一起發送，可以根據通道標號將測試序列從平行控制單元發送給對應的被測器件對應的工位控制單元、以及從工位控制單元發送給對應的測試板卡等。

在一個實施例中，工位控制單元20還用於，當目標被測器件測試失敗時，停止向多個測試板卡200發送目標被測器件的測試序列。

圖6為多個測試板卡通道關斷的示意圖。如圖6所示，主機500內部儲存有多個測試項、測試配置和測試判斷標準，測試判斷標準用於確定測試成功還是失敗。多個測試項包括測試項A、測試項B、測試項C、測試項D等，每個測試項包括多個測試序列。主機將各個測試項中的測試序列發送給對應的工位控制單元20，各個工位控制單元20形成各自的測試項。按照從左到右的順序，第一個工位控制單元20形成測試項A1、測試項B1、測試項C1等，第二個工位控制單元20形成測試項A2、測試項B2、測試項C2等，第三個工位控制單元20形成測試項A3、測試項B3、測試項C3等。

測試項A1包括測試序列N、測試序列N+1、測試序列N+2等，對第一個工位控制單元20對應的第一個被測器件100進行測試。採用測試序列N對第一個被測器件100測試失敗，測試序列N+1需要實現的業務功能對應第一個測試板卡200（電源板）、第二個測試板卡200（數字電路板）、第三個測試板卡200（信號源板），對第一個被測器件100進行測試，因此第一個工位控制單元20停止向第一個測試板卡200、第二個測試板卡200、以及第三個測試板卡200發送測試序列N+1。

上述實施例中，通過專門設置與被測器件對應的工位控制單元，可以獨立控制對應被測器件的測試。這樣當某個被測器件測試失敗時，這個被測器件對應的工位控制單元可以停止向各個測試板卡發送這個被測器件的測試序列，避免測試資源的浪費。

在一個實施例中，如圖2所示，該裝置還包括打包單元30。打包單元30串聯在工位控制單元20和測試板卡200之間，用於將至少兩個工位控制單元20發送給同一個測試板卡200的測試序列和測試序列對應的通道標號打包發送給測試板卡200。

其中，打包單元30為處理器。在實際應用中，平行控制單元10、工位控制單元20和打包單元30可以採用同一個處理器實現，也可以採用不同的處理器實現。

具體地，多個工位控制單元20將測試序列和對應的通道標號發送給打包單元30。打包單元30將發送給同一個測試板卡200的測試序列打包在一起，再發送給測試板卡200。

上述實施例中，不同工位控制單元發送給同一個測試板卡的測試序列打包在一起發送給測試板卡，有利於提高資料傳輸的效率。

在一個實施例中，如圖3所示，該裝置還包括同步單元40，分別連接打包單元30、平行控制單元10和多個工位控制單元20，用於從平行控制單元10獲取同步信號，並發送給多個工位控制單元20和打包單元30。

其中，同步單元40為處理器。在實際應用中，平行控制單元10、工位控制單元20、打包單元30和同步單元40可以採用同一個處理器實現，也可以採用不同的處理器實現。

具體地，主機將測試項和測試配置一起發送給平行控制單元10，平行控制單元10可以確定測試項中各個測試序列發送的先後順序，並將表示同一時刻發送測試序列訊息的同步信號發送給工位控制單元20和打包單元30。工位控制單元20和打包單元30根據同步信號，將同一時刻發送的測試序列一起發送。

上述實施例中，通過在主控模組內增設同步模組，以維護測試序列發送的先後順序。

基於同樣的發明構思，還提供了一種測試機，如圖2所示，測試機包括上述任一實施例提供的測試控制裝置400和多個測試板卡200。

其中，測試板卡200是進行測試的電路板。在實際應用中，多個測試板卡200可以集成一體，即多個測試板卡200實現不同業務功能的電路分佈在同一個板體上。多個測試板卡200也可以相互獨立，即多個測試板卡200實現不同業務功能的電路分佈在不同的板體上，如實現一種業務功能的電路分佈在一個板體上，形成一個電路板，實現另一種業務功能的電路分佈在另一個板體上，形成另一個電路板。

在一個實施例中，如圖2所示，測試板卡200包括控制器210和功能電路220。控制器210用於接收攜帶目標標號的關斷指令，目標標號為目標被測器件與測試板卡之間的通道的標號；控制功能電路220停止向目標標號對應的通道發送激勵信號。

其中，控制器210實現測試板卡200與外部（包括與其他測試板卡200之間）的訊息交互，功能電路220實現測試板卡200的業務功能。在實際應用中，控制器210可以包括處理器和通信介面。

具體地，測試控制裝置400將測試序列和通道標號一起發送給控制器210。控制器210根據測試序列控制功能電路220產生對應的激勵信號，並將激勵信號發送給通道標號對應的被測器件100。

上述實施例中，主控模組內設有控制器，可以實現測試板卡與外部的訊息交互。

基於同樣的發明構思，還提供了一種測試控制方法，應用于上述任一實施例提供的測試控制裝置。如圖7所示，該方法包括如下步驟：

S701，平行控制單元接收主機發送的測試項，並將測試項中的各個測試序列發送給測試序列對應的被測器件對應的工位控制單元。

S702，每個工位控制單元根據接收到的測試序列需要實現的業務功能，將測試序列發送給對應的測試板卡，以對測試序列對應的被測器件進行測試。

S703，當目標被測器件測試失敗時，工位控制單元控制多個測試板卡停止對目標被測器件進行測試，目標被測器件為工位控制單元對應的被測器件。

在本說明書的描述中，參考術語“有些實施例”、“其他實施例”、“理想實施例”等的描述意指結合該實施例或示例描述的具體特徵、結構、材料或者特徵包含于本發明的至少一個實施例或示例中。在本說明書中，對上述術語的示意性描述不一定指的是相同的實施例或示例。

以上所述實施例的各技術特徵可以進行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術特徵所有可能的組合都進行描述，然而，只要這些技術特徵的組合不存在矛盾，都應當認為是本說明書記載的範圍。

以上所述實施例僅表達了本發明的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但並不能因此而理解為對發明專利範圍的限制。應當指出的是，對於本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬於本發明的保護範圍。因此，本發明專利的保護範圍應以所附請求項為準。

10:平行控制單元 20:工位控制單元 30:打包單元 40:同步單元 100:被測器件 200:測試板卡 210:控制器 220:功能電路 300:協處理模組 400:測試控制裝置 500:主機

為了更清楚地說明本申請實施例或傳統技術中的技術方案，下面將對實施例或傳統技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1：為一個實施例中測試控制裝置的應用場景圖。 圖2：為一個實施例中測試控制裝置的結構示意圖。 圖3：為一個實施例中測試控制裝置與測試板卡之間交互訊息的示意圖。 圖4：為一個實施例中測試控制裝置內部交互訊息的示意圖。 圖5：為一個實施例中測試控制裝置與測試板卡之間交互訊息的示意圖。 圖6：為一個實施例中多個測試板卡通道關斷的示意圖。 圖7：為一個實施例中測試控制方法的流程圖。

10:平行控制單元

20:工位控制單元

30:打包單元

40:同步單元

100:被測器件

200:測試板卡

210:控制器

220:功能電路

300:協處理模組

400:測試控制裝置

Claims (12)

1. 一種測試控制裝置，其特徵在於，所述裝置包括平行控制單元和多個工位控制單元，一個所述工位控制單元用於對應至少一個被測器件； 所述平行控制單元，分別連接所述多個工位控制單元並用於連接主機，接收所述主機發送的測試項，並將所述測試項中的各個測試序列發送給所述測試序列對應的被測器件對應的工位控制單元； 每個所述工位控制單元，用於分別連接多個測試板卡，各個所述測試板卡實現的業務功能不同；每個所述工位控制單元用於，根據接收到的測試序列需要實現的業務功能，將所述測試序列發送給對應的測試板卡，以對所述測試序列對應的被測器件進行測試；當目標被測器件測試失敗時，控制所述多個測試板卡停止對所述目標被測器件進行測試，所述目標被測器件為所述工位控制單元對應的被測器件。
2. 根據請求項1所述的裝置，其特徵在於，所述工位控制單元用於，接收所述目標被測器件的測試失敗訊息；根據所述測試失敗訊息確定目標標號，所述目標標號為所述目標被測器件與各個所述測試板卡之間的通道的標號；向至少一個所述測試板卡發送攜帶所述目標標號的關斷指令，以控制各個所述測試板卡斷開所述目標標號對應的通道。
3. 根據請求項2所述的裝置，其特徵在於，所述測試失敗訊息為所述測試板卡對所述目標被測器件進行測試得到的測試資料，或協處理模組對所述測試資料處理得到的測試結果。
4. 根據請求項2所述的裝置，其特徵在於，所述工位控制單元用於，分別向各個所述測試板卡發送所述關斷指令，或向目標測試板卡發送所述關斷指令，以使所述目標測試板卡向其它測試板卡轉發所述關斷指令，所述目標測試板卡為所述多個測試板卡中的任意一個測試板卡。
5. 根據請求項2所述的裝置，其特徵在於，所述工位控制單元還用於，在所述測試項對應的測試完成後，向各個所述測試板卡發送開啟指令，以控制各個所述測試板卡恢復所述目標標號對應的通道。
6. 根據請求項1至請求項5任一項所述的裝置，其特徵在於，所述平行控制單元用於，接收所述主機發送的測試配置，所述測試配置包括各個所述測試序列對應的通道標號，所述通道標號所屬的通道位於所述測試板卡和所述被測器件之間；將所述測試項中的各個測試序列和所述測試配置中與所述測試序列對應的通道標號分發給所述通道標號對應的工位控制單元；每個所述工位控制單元用於，將接收到的各個測試序列和所述測試序列對應的通道標號發送給所述通道標號對應的測試板卡。
7. 根據請求項6所述的裝置，其特徵在於，所述裝置還包括： 打包單元，串聯在所述工位控制單元和所述測試板卡之間，用於將至少兩個所述工位控制單元發送給同一個所述測試板卡的測試序列和所述測試序列對應的通道標號打包發送給所述測試板卡。
8. 根據請求項7所述的裝置，其特徵在於，所述裝置還包括：同步單元，分別連接所述打包單元、所述平行控制單元和所述多個工位控制單元，用於從所述平行控制單元獲取同步信號，並發送給所述多個工位控制單元和所述打包單元。
9. 根據請求項1至請求項5任一項所述的裝置，其特徵在於，所述工位控制單元還用於，當目標被測器件測試失敗時，停止向所述多個測試板卡發送所述目標被測器件的測試序列。
10. 一種測試機，其特徵在於，所述測試機包括如請求項1至請求項9任一項所述的測試控制裝置和多個測試板卡。
11. 根據請求項10所述的測試機，其特徵在於，所述測試板卡包括控制器和功能電路； 所述控制器，用於接收攜帶目標標號的關斷指令，所述目標標號為所述目標被測器件與所述測試板卡之間的通道的標號；控制所述功能電路停止向所述目標標號對應的通道發送激勵信號。
12. 一種測試控制方法，其特徵在於，應用於如權利要求1-8任一項所述的測試控制裝置，所述方法包括： 所述平行控制單元接收所述主機發送的測試項，並將所述測試項中的各個測試序列發送給所述測試序列對應的被測器件對應的工位控制單元； 每個所述工位控制單元根據接收到的測試序列需要實現的業務功能，將所述測試序列發送給對應的測試板卡，以對所述測試序列對應的被測器件進行測試；當目標被測器件測試失敗時，所述工位控制單元控制所述多個測試板卡停止對所述目標被測器件進行測試，所述目標被測器件為所述工位控制單元對應的被測器件。