TW202124989A

TW202124989A - 電子元件測試裝置與方法

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Publication number: TW202124989A
Application number: TW108147129A
Authority: TW
Inventors: 黃志忠; 童恒進; 吳健銘; 杜嘉豪; 陳思芬
Original assignee: 致茂電子股份有限公司
Priority date: 2019-12-23
Filing date: 2019-12-23
Publication date: 2021-07-01
Also published as: TWI741457B

Abstract

本發明揭露了一種電子元件測試裝置與方法，所述電子元件測試方法包含下列步驟。首先，提供標準信號。並且，量測關聯於電子元件的第一電流量測值或第一電壓量測值。接著，量測關聯於標準信號的信號量測值。接著，比對信號量測值與關聯於標準信號的預設量測值，據以計算誤差參數。以及，依據誤差參數校正第一電流量測值或第一電壓量測值，據以取得關聯於電子元件的實際電流值或實際電壓值。

Description

電子元件測試裝置與方法

本發明係關於一種測試裝置與方法，特別是關於一種電子元件測試裝置與方法。

隨著科技的進步，各種電子元件的尺寸越來越小且功能越來越複雜，如何控管電子元件的品質變成十分重要的課題。一般來說，在電子元件出廠前都會經過一連串的測試，利用使用測試裝置去測量電子元件的各種參數，例如工作時的電壓、電流與阻抗等數值，來確保電子元件的品質。因此，測試裝置本身是否有足夠的準確度，便成為評估測試裝置的重要指標之一。實務上，測試裝置內部所使用的元件很多，環境因素的改變(例如溫度或濕度變化等)對不同元件的影響程度可能不相同，使得測試裝置的量測結果有可能存在一定程度的誤差。此外，測試裝置內部的元件也有老化的問題，在不同時間點的量測結果也有可能不相同。

因此，業界需要一種新的測試裝置與測試方法，能夠校正量測的結果，以提高量測的準確度。

本發明提供一種電子元件測試裝置，可以在量測電子元件的各種參數之後，利用標準信號校正量測的結果，以提高量測的準確度。

本發明提出一種電子元件測試裝置，所述電子元件測試裝置包含信號產生模組以及量測模組。信號產生模組用以產生標準信號。量測模組用以量測關聯於電子元件的第一電流量測值或第一電壓量測值，並且量測關聯於標準信號的信號量測值。其中量測模組比對信號量測值與關聯於標準信號的預設量測值，據以計算誤差參數，並且依據誤差參數校正第一電流量測值或第一電壓量測值，據以取得關聯於電子元件的實際電流值或實際電壓值。

於一些實施例中，信號量測值可以至少關聯於標準信號的信號振幅、信號波形或信號相位。此外，預設量測值可以為量測模組於預設環境中對標準信號的量測結果。

本發明提供一種電子元件測試方法，可以在量測電子元件的各種參數之後，利用標準信號校正量測的結果，以提高量測的準確度。

本發明提出一種電子元件測試方法，包含下列步驟。首先，提供標準信號。並且，量測關聯於電子元件的第一電流量測值或第一電壓量測值。接著，量測關聯於標準信號的信號量測值。接著，比對信號量測值與關聯於標準信號的預設量測值，據以計算誤差參數。以及，依據誤差參數校正第一電流量測值或第一電壓量測值，據以取得關聯於電子元件的實際電流值或實際電壓值。

於一些實施例中，信號量測值可以至少關聯於標準信號的信號振幅、信號波形或信號相位。此外，預設量測值可以為標準信號於預設環境中的量測結果。

綜上所述，本發明提供的電子元件測試裝置，增加了信號產生模組的標準信號做為校準電子元件各種參數的基準，從而能在量測電子元件的各種參數之後，利用標準信號校正量測的結果，以提高量測的準確度。此外，本發明提供的電子元件測試方法也因為可以量測標準信號在不同情況下的信號量測值，並利用信號量測值比對預設量測值之後得到的誤差參數，校正量測電子元件各種參數量測的結果，從而能提高量測的準確度。

下文將進一步揭露本發明之特徵、目的及功能。然而，以下所述者，僅為本發明之實施例，當不能以之限制本發明之範圍，即但凡依本發明申請專利範圍所作之均等變化及修飾，仍將不失為本發明之要意所在，亦不脫離本發明之精神和範圍，故應將視為本發明的進一步實施態樣。

請參閱圖1，圖1係繪示依據本發明一實施例之電子元件測試裝置的電路示意圖。如圖1所示，電子元件測試裝置1可以電性連接到電子元件20，並用以量測電子元件20的各種參數。在此，電子元件測試裝置1可以具有信號產生模組10、量測模組12以及電源14，信號產生模組10電性連接到量測模組12，而量測模組12以及電源14可以分別電性連接到電子元件20。實務上，電子元件測試裝置1可以是一種自動測試設備(automatic test equipment)，而量測模組12可以是自動測試設備中的測試卡。於一個例子中，量測模組12是可插拔於電子元件測試裝置1，即本實施例不限制量測模組12要被固定於電子元件測試裝置1內。此外，雖然圖1繪示了信號產生模組10以及電源14在電子元件測試裝置1內部，但本實施例不以此為限，例如信號產生模組10以及電源14也有可能是外部的信號產生器以及外部電源。換句話說，只要信號產生模組10可以電性連接到量測模組12，電源14可以電性連接到電子元件20，即應屬本實施例信號產生模組10以及電源14的範疇。以下分別就電子元件測試裝置1中的各部元件進行說明。

信號產生模組10用以產生標準信號，所述標準信號可以具有特定的信號振幅、信號波形與信號相位。於一個例子中，所述標準信號可以是一種關聯於電壓的交流(AC)信號，並且可以經過濾波或者經過波形轉換等步驟。當然，本實施例在此不限制標準信號的產生方式或者特性，於所屬技術領域具有通常知識者只要能夠產生相對穩定且不易變動的信號，都可能當成本案的標準信號。

量測模組12可以包含了電壓感測單元120、電流感測單元122以及量測電路124。電壓感測單元120與電流感測單元122可以電性連接電子元件20，並且量測電路124可以分別電性連接信號產生模組10、電壓感測單元120與電流感測單元122。於電子元件測試裝置1執行量測時，電源14可以供應電能給電子元件20，再由量測模組12中的電流感測單元122量測關聯於流經電子元件20的電流，或者由量測模組12中的電壓感測單元120量測電子元件20的跨電壓。藉此，量測電路124可以依據電流的量測結果換算出第一電流量測值，或者量測電路124可以依據電壓的量測結果換算出第一電壓量測值。

由於量測電路124的內部元件很可能受到環境因素的改變(例如溫度或濕度變化等)或者老化的影響，使得換算第一電流量測值與第一電壓量測值時，可能存在一定程度的誤差。若是不進行校正，後續再依據第一電流量測值與第一電壓量測值進行其他運算，則很可能影響到各種參數的準確度。據此，本實施例的量測電路124還需要更進一步的校正，以確保第一電流量測值與第一電壓量測值的正確。例如，量測電路124還會接收並量測來自信號產生模組10的標準信號，以取得當下關於標準信號的信號量測值。

於一個例子中，量測電路124在量測標準信號時，大致上會與量測電子元件20的電流與電壓是一樣的步驟，並且可能經過類似或相同的內部元件。換句話說，量測電子元件20時出現的各種環境與老化的因素，都同樣會反映在量測標準信號上。因此，本實施例可以藉由比對已知的標準信號，和標準信號於當前條件下被量測出的信號量測值，推測量測電路124的內部元件受到環境因素或者老化影響的程度。實務上，量測電路124可以在一個環境因素與老化程度可控制的情況下，量測過標準信號以取得一個預設量測值，例如可以於出廠前在實驗室中量測標準信號。也就是說，預設量測值可以是量測電路124於一個預設環境中對標準信號的量測結果，而信號量測值可以是量測電路124於當前條件中對標準信號的量測結果。

接著，量測電路124可以比對信號量測值與預設量測值，據以計算誤差參數。舉例來說，信號量測值與預設量測值可能在信號振幅、信號波形或信號相位上會有差異，而誤差參數即是用來指出信號量測值與預設量測值的差異程度。最後，量測電路124可以依據誤差參數來校正第一電流量測值或第一電壓量測值，據以取得關聯於電子元件20的實際電流值或實際電壓值。於一個例子中，量測電路124可以隨時或週期性地在監控來自信號產生模組10的標準信號，使得誤差參數可以經常性地更新。當要計算電子元件20的實際電流值或實際電壓值時，量測電路124可以直接用最近一次的誤差參數來校正第一電流量測值或第一電壓量測值。此外，於另一個例子中，量測電路124也可以僅在換算電子元件20的第一電流量測值或第一電壓量測值時，同時換算標準信號對應的信號量測值，接著再依據當前條件下被量測出的信號量測值和預設量測值，即時運算出誤差參數來校正第一電流量測值或第一電壓量測值。只要量測電路124能夠由信號量測值和預設量測值運算出誤差參數，本實施例不限制量測電路124運算誤差參數的頻率或次數。

以實際的例子來說，假設量測電路124在預設環境中量測標準信號得到的預設量測值為V_REF0 ，而標準信號在當前條件下被量測出的信號量測值為V_REF1 ，則誤差參數k可定義如下算式(1)： k= V_REF0 /V_REF1 (1)

在此，假設電子元件20得到的第一電流量測值與第一電壓量測值分別為I1和V1，則校正後的第一電流量測值I2(實際電流值)或第一電壓量測值V2(實際電壓值)則分別如下算式(2)和算式(3)： I2= I1 × k = I1 × (V_REF0 /V_REF1 ) (2) V2= V1 × k = V1 × (V_REF0 /V_REF1 ) (3)

由此可知，由信號量測值和預設量測值運算出誤差參數之後，量測電路124便可以很容易地依據誤差參數來校正第一電流量測值或第一電壓量測值，據以取得關聯於電子元件20的實際電流值或實際電壓值。藉此，本實施例的電子元件測試裝置1可以在內部做到自動校正的功能，不需要送回原廠檢修或校正，從而減省了維護的時間與成本。

為了方便說明本發明的電子元件測試方法，請一併參閱圖1與圖2，圖2係繪示依據本發明一實施例之電子元件測試方法的步驟流程圖。如圖所示，於步驟S30中，由信號產生模組10提供標準信號。於步驟S32中，由量測模組12可以量測流經電子元件20的電流或電子元件20的跨電壓，並由量測模組12中的量測電路124換算出第一電流量測值或第一電壓量測值。於步驟S34中，同樣由量測模組12中的量測電路124量測關聯於標準信號的信號量測值。於步驟S36中，量測模組12中的量測電路124可以比對信號量測值與關聯於標準信號的預設量測值，據以計算誤差參數。於步驟S38中，量測模組12中的量測電路124可以依據誤差參數校正第一電流量測值或第一電壓量測值，據以取得關聯於電子元件20的實際電流值或實際電壓值。關於本發明的電子元件測試方法，於前一實施例已有詳細說明，本實施例在此不再重複贅述。

1:電子元件測試裝置 10:信號產生模組 12:量測模組 120:電壓感測單元 122:電流感測單元 124:量測電路 14:電源 20:電子元件 S30~S38:步驟流程

圖1係繪示依據本發明一實施例之電子元件測試裝置的電路示意圖。

圖2係繪示依據本發明一實施例之電子元件測試方法的步驟流程圖。

無

S30~S38:步驟流程

Claims

一種電子元件測試裝置，包含：一信號產生模組，用以產生一標準信號；以及一量測模組，用以量測關聯於一電子元件的一第一電流量測值或一第一電壓量測值，並且量測關聯於該標準信號的一信號量測值；其中該量測模組比對該信號量測值與關聯於該標準信號的一預設量測值，據以計算一誤差參數，並且依據該誤差參數校正該第一電流量測值或該第一電壓量測值，據以取得關聯於該電子元件的一實際電流值或一實際電壓值。
如請求項1所述之電子元件測試裝置，其中該信號量測值係至少關聯於該標準信號的一信號振幅、一信號波形或一信號相位。
如請求項2所述之電子元件測試裝置，其中該預設量測值係為該量測模組於一預設環境中對該標準信號的量測結果。
一種電子元件測試方法，包含：提供一標準信號；量測關聯於一電子元件的一第一電流量測值或一第一電壓量測值；量測關聯於該標準信號的一信號量測值；比對該信號量測值與關聯於該標準信號的一預設量測值，據以計算一誤差參數；以及依據該誤差參數校正該第一電流量測值或該第一電壓量測值，據以取得關聯於該電子元件的一實際電流值或一實際電壓值。
如請求項4所述之電子元件測試方法，其中該信號量測值係至少關聯於該標準信號的一信號振幅、一信號波形或一信號相位。
如請求項5所述之電子元件測試方法，其中該預設量測值係為該標準信號於一預設環境中的量測結果。