CN113093079A - 电子组件测试装置与方法 - Google Patents

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黄志忠
童恒进
吴健铭
杜嘉豪
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Abstract

本申请提供一种电子组件测试装置与方法，所述电子组件测试方法包含下列步骤。首先，提供标准信号。并且，量测关联于电子组件的第一电流量测值或第一电压量测值。接着，量测关联于标准信号的信号量测值。接着，比对信号量测值与关联于标准信号的默认量测值，据以计算误差参数。以及，依据误差参数校正第一电流量测值或第一电压量测值，据以取得关联于电子组件的实际电流值或实际电压值。

Description

电子组件测试装置与方法
技术领域
本申请是有关于一种测试装置与方法，特别是关于一种电子组件测试装置与方法。
背景技术
随着科技的进步，各种电子组件的尺寸越来越小且功能越来越复杂，如何控管电子组件的质量变成十分重要的课题。一般来说，在电子组件出厂前都会经过一连串的测试，利用使用测试装置去测量电子组件的各种参数，例如工作时的电压、电流与阻抗等数值，来确保电子组件的质量。因此，测试装置本身是否有足够的准确度，便成为评估测试装置的重要指针之一。实务上，测试装置内部所使用的组件很多，环境因素的改变(例如温度或湿度变化等)对不同组件的影响程度可能不相同，使得测试装置的量测结果有可能存在一定程度的误差。此外，测试装置内部的组件也有老化的问题，在不同时间点的量测结果也有可能不相同。
因此，业界需要一种新的测试装置与测试方法，能够校正量测的结果，以提高量测的准确度。
发明内容
有鉴于此，本申请提出一种电子组件测试装置，可以在量测电子组件的各种参数之后，利用标准信号校正量测的结果，以提高量测的准确度。
本申请提出一种电子组件测试装置，所述电子组件测试装置包含信号产生模块以及量测模块。信号产生模块用以产生标准信号。量测模块用以量测关联于电子组件的第一电流量测值或第一电压量测值，并且量测关联于标准信号的信号量测值。其中量测模块比对信号量测值与关联于标准信号的默认量测值，据以计算误差参数，并且依据误差参数校正第一电流量测值或第一电压量测值，据以取得关联于电子组件的实际电流值或实际电压值。
于一些实施例中，信号量测值可以至少关联于标准信号的信号振幅、信号波形或信号相位。此外，默认量测值可以为量测模块于默认环境中对标准信号的量测结果。
本申请提供一种电子组件测试方法，可以在量测电子组件的各种参数之后，利用标准信号校正量测的结果，以提高量测的准确度。
本申请提出一种电子组件测试方法，包含下列步骤。首先，提供标准信号。并且，量测关联于电子组件的第一电流量测值或第一电压量测值。接着，量测关联于标准信号的信号量测值。接着，比对信号量测值与关联于标准信号的默认量测值，据以计算误差参数。以及，依据误差参数校正第一电流量测值或第一电压量测值，据以取得关联于电子组件的实际电流值或实际电压值。
于一些实施例中，信号量测值可以至少关联于标准信号的信号振幅、信号波形或信号相位。此外，默认量测值可以为标准信号于默认环境中的量测结果。
综上所述，本申请提供的电子组件测试装置，增加了信号产生模块的标准信号做为校准电子组件各种参数的基准，从而能在量测电子组件的各种参数之后，利用标准信号校正量测的结果，以提高量测的准确度。此外，本申请提供的电子组件测试方法也因为可以量测标准信号在不同情况下的信号量测值，并利用信号量测值比对默认量测值之后得到的误差参数，校正量测电子组件各种参数量测的结果，从而能提高量测的准确度。
有关本申请的其它功效及实施例的详细内容，配合附图说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是依据本申请一实施例的电子组件测试装置的电路示意图；
图2是依据本申请一实施例的电子组件测试方法的步骤流程图。
符号说明
1电子组件测试装置 10信号产生模块
12量测模块 120电压感测单元
122电流感测单元 124量测电路
14电源 20电子组件
S30～S38步骤流程
具体实施方式
有关本申请的前述及其它技术内容、特点与功效，在以下配合参考附图的一优选实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。以下实施例中所提到的方向用语，例如：上、下、左、右、前或后等，仅是参考附图的方向。因此，使用的方向用语是用来说明并非用来限制本申请。
请参阅图1，图1是绘示依据本申请一实施例的电子组件测试装置的电路示意图。如图1所示，电子组件测试装置1可以电性连接到电子组件20，并用以量测电子组件20的各种参数。在此，电子组件测试装置1可以具有信号产生模块10、量测模块12以及电源14，信号产生模块10电性连接到量测模块12，而量测模块12以及电源14可以分别电性连接到电子组件20。实务上，电子组件测试装置1可以是一种自动测试设备(automatic testequipment)，而量测模块12可以是自动测试设备中的测试卡。于一个例子中，量测模块12是可插拔于电子组件测试装置1，即本实施例不限制量测模块12要被固定于电子组件测试装置1内。此外，虽然图1绘示了信号产生模块10以及电源14在电子组件测试装置1内部，但本实施例不以此为限，例如信号产生模块10以及电源14也有可能是外部的信号产生器以及外部电源。换句话说，只要信号产生模块10可以电性连接到量测模块12，电源14可以电性连接到电子组件20，即应属本实施例信号产生模块10以及电源14的范畴。以下分别就电子组件测试装置1中的各部组件进行说明。
信号产生模块10用以产生标准信号，所述标准信号可以具有特定的信号振幅、信号波形与信号相位。于一个例子中，所述标准信号可以是一种关联于电压的交流(AC)信号，并且可以经过滤波或者经过波形转换等步骤。当然，本实施例在此不限制标准信号的产生方式或者特性，于所属技术领域具有通常知识者只要能够产生相对稳定且不易变动的信号，都可能当成本案的标准信号。
量测模块12可以包含了电压感测单元120、电流感测单元122以及量测电路124。电压感测单元120与电流感测单元122可以电性连接电子组件20，并且量测电路124可以分别电性连接信号产生模块10、电压感测单元120与电流感测单元122。于电子组件测试装置1执行量测时，电源14可以供应电能给电子组件20，再由量测模块12中的电流感测单元122量测关联于流经电子组件20的电流，或者由量测模块12中的电压感测单元120量测电子组件20的跨电压。因此，量测电路124可以依据电流的量测结果换算出第一电流量测值，或者量测电路124可以依据电压的量测结果换算出第一电压量测值。
由于量测电路124的内部组件很可能受到环境因素的改变(例如温度或湿度变化等)或者老化的影响，使得换算第一电流量测值与第一电压量测值时，可能存在一定程度的误差。若是不进行校正，后续再依据第一电流量测值与第一电压量测值进行其他运算，则很可能影响到各种参数的准确度。据此，本实施例的量测电路124还需要更进一步的校正，以确保第一电流量测值与第一电压量测值的正确。例如，量测电路124还会接收并量测来自信号产生模块10的标准信号，以取得当下关于标准信号的信号量测值。
于一个例子中，量测电路124在量测标准信号时，大致上会与量测电子组件20的电流与电压是一样的步骤，并且可能经过类似或相同的内部组件。换句话说，量测电子组件20时出现的各种环境与老化的因素，都同样会反映在量测标准信号上。因此，本实施例可以通过比对已知的标准信号，和标准信号于当前条件下被量测出的信号量测值，推测量测电路124的内部组件受到环境因素或者老化影响的程度。实务上，量测电路124可以在一个环境因素与老化程度可控制的情况下，量测过标准信号以取得一个默认量测值，例如可以于出厂前在实验室中量测标准信号。也就是说，预设量测值可以是量测电路124于一个默认环境中对标准信号的量测结果，而信号量测值可以是量测电路124于当前条件中对标准信号的量测结果。
接着，量测电路124可以比对信号量测值与默认量测值，据以计算误差参数。举例来说，信号量测值与默认量测值可能在信号振幅、信号波形或信号相位上会有差异，而误差参数即是用来指出信号量测值与默认量测值的差异程度。最后，量测电路124可以依据误差参数来校正第一电流量测值或第一电压量测值，据以取得关联于电子组件20的实际电流值或实际电压值。于一个例子中，量测电路124可以随时或周期性地在监控来自信号产生模块10的标准信号，使得误差参数可以经常性地更新。当要计算电子组件20的实际电流值或实际电压值时，量测电路124可以直接用最近一次的误差参数来校正第一电流量测值或第一电压量测值。此外，于另一个例子中，量测电路124也可以仅在换算电子组件20的第一电流量测值或第一电压量测值时，同时换算标准信号对应的信号量测值，接着再依据当前条件下被量测出的信号量测值和默认量测值，实时运算出误差参数来校正第一电流量测值或第一电压量测值。只要量测电路124能够由信号量测值和默认量测值运算出误差参数，本实施例不限制量测电路124运算误差参数的频率或次数。
以实际的例子来说，假设量测电路124在默认环境中量测标准信号得到的默认量测值为VREF0，而标准信号在当前条件下被量测出的信号量测值为VREF1，则误差参数k可定义如下算式(1)：
k＝VREF0/VREF1 (1)
在此，假设电子组件20得到的第一电流量测值与第一电压量测值分别为I1和V1，则校正后的第一电流量测值I2(实际电流值)或第一电压量测值V2(实际电压值)则分别如下算式(2)和算式(3)：
I2＝I1×k＝I1×(VREF0/VREF1) (2)
V2＝V1×k＝V1×(VREF0/VREF1) (3)
由此可知，由信号量测值和默认量测值运算出误差参数之后，量测电路124便可以很容易地依据误差参数来校正第一电流量测值或第一电压量测值，据以取得关联于电子组件20的实际电流值或实际电压值。因此，本实施例的电子组件测试装置1可以在内部做到自动更正的功能，不需要送回原厂检修或校正，从而减省了维护的时间与成本。
为了方便说明本申请的电子组件测试方法，请一并参阅图1与图2，图2是绘示依据本申请一实施例的电子组件测试方法的步骤流程图。如图所示，于步骤S30中，由信号产生模块10提供标准信号。于步骤S32中，由量测模块12可以量测流经电子组件20的电流或电子组件20的跨电压，并由量测模块12中的量测电路124换算出第一电流量测值或第一电压量测值。于步骤S34中，同样由量测模块12中的量测电路124量测关联于标准信号的信号量测值。于步骤S36中，量测模块12中的量测电路124可以比对信号量测值与关联于标准信号的默认量测值，据以计算误差参数。于步骤S38中，量测模块12中的量测电路124可以依据误差参数校正第一电流量测值或第一电压量测值，据以取得关联于电子组件20的实际电流值或实际电压值。关于本申请的电子组件测试方法，于前一实施例已有详细说明，本实施例在此不再重复赘述。
综上所述，本申请提供的电子组件测试装置，增加了信号产生模块的标准信号做为校准电子组件各种参数的基准，从而能在量测电子组件的各种参数之后，利用标准信号校正量测的结果，以提高量测的准确度。此外，本申请提供的电子组件测试方法也因为可以量测标准信号在不同情况下的信号量测值，并利用信号量测值比对默认量测值之后得到的误差参数，校正量测电子组件各种参数量测的结果，从而能提高量测的准确度。
以上所述的实施例及/或实施方式，仅是用以说明实现本申请技术的较佳实施例及/或实施方式，并非对本申请技术的实施方式作任何形式上的限制，任何本领域技术人员，在不脱离本申请内容所公开的技术手段的范围，当可作些许的更动或修改为其它等效的实施例，但仍应视为与本申请实质相同的技术或实施例。

Claims (6)

1.一种电子组件测试装置，其特征在于，包含：
一信号产生模块，用以产生一标准信号；以及
一量测模块，用以量测关联于一电子组件的一第一电流量测值或一第一电压量测值，并且量测关联于该标准信号的一信号量测值；
其中该量测模块比对该信号量测值与关联于该标准信号的一默认量测值，据以计算一误差参数，并且依据该误差参数校正该第一电流量测值或该第一电压量测值，据以取得关联于该电子组件的一实际电流值或一实际电压值。
2.如权利要求1所述的电子组件测试装置，其特征在于，该信号量测值至少关联于该标准信号的一信号振幅、一信号波形或一信号相位。
3.如权利要求2所述的电子组件测试装置，其特征在于，该默认量测值为该量测模块于一默认环境中对该标准信号的量测结果。
4.一种电子组件测试方法，其特征在于，包含：
提供一标准信号；
量测关联于一电子组件的一第一电流量测值或一第一电压量测值；
量测关联于该标准信号的一信号量测值；
比对该信号量测值与关联于该标准信号的一默认量测值，据以计算一误差参数；以及
依据该误差参数校正该第一电流量测值或该第一电压量测值，据以取得关联于该电子组件的一实际电流值或一实际电压值。
5.如权利要求4所述的电子组件测试方法，其特征在于，该信号量测值至少关联于该标准信号的一信号振幅、一信号波形或一信号相位。
6.如权利要求5所述的电子组件测试方法，其特征在于，该预设量测值为该标准信号于一默认环境中的量测结果。
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