TW202106593A - 電子元件移料機構及其應用之作業分類設備 - Google Patents

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TW202106593A TW108127587A TW108127587A TW202106593A TW 202106593 A TW202106593 A TW 202106593A TW 108127587 A TW108127587 A TW 108127587A TW 108127587 A TW108127587 A TW 108127587A TW 202106593 A TW202106593 A TW 202106593A
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陳振元
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一種電子元件移料機構,包含搬運單元、拾取單元及檢知單元,該搬運單元係設有作至少一方向位移之移載具,該拾取單元係裝配於移載具,並設有至少一拾取器,以取放電子元件,該檢知單元係裝配於移載具,並位於拾取單元之拾取器周側,檢知單元設有至少一檢知器,檢知器之檢知作用部係朝向拾取器,藉以檢知拾取器於移料過程中是否掉落所移載之電子元件,使得工作人員即時得知移料狀態,達到提升移料作業效能之實用效益。

Description

電子元件移料機構及其應用之作業分類設備
本發明係提供一種可於拾取器移料過程中檢知是否掉落所移載之電子元件,以供工作人員即時得知移料狀態,進而提升移料作業效能之移料機構。
在現今,電子元件測試設備係以移料機構於不同裝置間移載電子元件,例如以移料機構於供料裝置與輸送裝置間移載待測之電子元件,或例如以移料機構於輸送裝置與測試裝置間移載待測之電子元件及已測之電子元件;請參閱第1圖,電子元件測試設備係於機台11上配置供料裝置之供料盤12 、輸送裝置之載台13及移料機構14,該供料裝置之供料盤12係位於機台11之前段部,以容置複數個待測之電子元件15,該輸送裝置之載台13係位於機台11之後段部,以載送待測之電子元件15至測試裝置(圖未示出)處,該移料機構14係設有可作第一、二方向(如X-Y方向)位移之移載具141,並以移載具141帶動一可作第三方向(如Z方向)位移之拾取器142作X-Y方向位移,以使拾取器142於供料盤12及載台13間移載待測之電子元件15;惟,移料機構14之拾取器142於移料過程中會發生因外力振動或吸力不足等因素而導致所移載之電子元件15掉落的情況,例如電子元件15掉落於移料路徑下方之加熱盤的待升溫電子元件上,或者拾取器142在無電子元件之情況下而空跑移載行程至載台13,但前述情況,工作人員卻無法立即得知拾取器142上之電子元件15已掉落而排除異常,以致加熱盤發生疊料或載台15發生空載有誤等異常,造成整體作業不順暢及降低作業品質之問題。
本發明之目的一,係提供一種電子元件移料機構,包含搬運單元、拾取單元及檢知單元,該搬運單元係設有作至少一方向位移之移載具,該拾取單元係裝配於移載具,並設有至少一拾取器,以取放電子元件,該檢知單元係裝配於移載具,並位於拾取單元之拾取器周側,檢知單元設有至少一檢知器,檢知器之檢知作用部係朝向拾取器,藉以檢知拾取器於移料過程中是否掉落所移載之電子元件,使得工作人員即時得知移料狀態,達到提升移料作業效能之實用效益。
本發明之目的二,係提供一種電子元件移料機構,其檢知單元係以檢知器之檢知作用部朝向拾取器,以於拾取器之移料過程中檢知電子元件是否掉落,以供工作人員得知移料狀態而立即排除異常,進而防止位於移料路徑下方之物件或下一站裝置發生疊料或作業有誤,達到提升整體作業順暢性及提高生產品質之實用效益。
本發明之目的三,係提供一種應用電子元件移料機構之作業分類設備,其包含機台、供料裝置、收料裝置、作業裝置、具本發明移料機構之輸送裝置及中央控制裝置,該供料裝置係配置於機台,並設有至少一供料承置器 ,以承置待作業之電子元件;該收料裝置係配置於機台,並設有至少一收料承置器,以承置已作業之電子元件;該作業裝置係配置於機台,並設有至少一作業器,以對電子元件執行預設作業;該輸送裝置係配置於機台,包含至少一載台及至少一本發明之移料機構,該載台係載送電子元件,本發明之移料機構包含搬運單元、拾取單元及檢知單元,以移載電子元件及檢知拾取單元是否掉落所移載之電子元件;該中央控制裝置係控制及整合各裝置作動,以執行自動化作業,達到提升生產效能之實用效益。
為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解,茲舉一較佳實施例並配合圖式,詳述如后:
請參閱第2圖,本發明移料機構包含搬運單元、拾取單元及檢知單元,該搬運單元係設有作至少一方向位移之移載具,於本實施例中,搬運單元係於機台20上以機架311架置搬運驅動器,更進一步,搬運驅動器係設有至少一驅動源,於本實施例中,搬運驅動器係設有第一驅動源312及第二驅動源313,第一驅動源312係呈第二方向(如Y方向)配置,並架置於機架311,第二驅動源313係呈第一方向(如X方向)配置,並架置於第一驅動源312,而可作Y方向位移,搬運單元之移載具314係裝配於第二驅動源313,而可由第一驅動源312及第二驅動源313驅動作X-Y方向位移。
該拾取單元係裝配於搬運單元之移載具314,並設有至少一拾取器,以取放電子元件,更進一步,拾取單元係設置拾取驅動器,以驅動該拾取器作至少一方向位移,於本實施例中,拾取單元係於搬運單元之移載具314設置拾取驅動器321,拾取驅動器321可為壓缸、線性馬達、變距結構或包含馬達及傳動組,該拾取器322係裝配於拾取驅動器321,以由拾取驅動器321驅動作第三方向(如Z方向)位移, 拾取器322之一端設有取放部件3221,以吸取或釋放電子元件。
該檢知單元係裝配於搬運單元之移載具314,並位於拾取單元之拾取器322周側,檢知單元設有至少一檢知器,檢知器可為取像器或光纖感測器等,於本實施例中,檢知單元係於移載具314上且位於拾取器322周側設有承架331,而可由移載具314帶動作X-Y方向位移,承架331係供架置可為CCD之檢知器332,檢知器332之檢知作用部3321朝向拾取器322,以於拾取器322移料過程中取像檢知其所移載之電子元件是否掉落,並將取像資料傳輸至中央控制裝置(圖未示出),更進一步,檢知單元另於承架331設有檢知驅動器333,以供裝配檢知器332,而帶動檢知器332作至少一方向位移調整檢知位置,檢知驅動器333可為壓缸或線性馬達等,於本實施例中,檢知驅動器333係包含馬達及傳動組,並以傳動組裝配檢知器332,而帶動檢知器332作Z方向位移;然檢知單元可視拾取器322之數量,而配置相同數量之檢知器332;再者,檢知器332可於預設作業時點檢知拾取器322,亦或採隨機檢知拾取器322。
請參閱第3圖,係本發明移料機構應用於輸送裝置40,該輸送裝置40係於機台20設有第一入料載台41,以供載送待作業之電子元件,另機台20上配置有供料裝置50,供料裝置50具有至少一供料承置器51 ,以承置複數個待作業之電子元件61;於移料時,移料機構之搬運單元係以第一驅動源312及第二驅動源313驅動移載具314作X-Y方向位移,而帶動拾取單元之拾取器322及檢知單元之檢知器332同步位移至供料裝置50之上方,拾取單元係以拾取驅動器321驅動拾取器322作Z方向向下位移,令拾取器322之取放部件3221於供料裝置50之供料承置器51取出待作業之電子元件61,由於檢知器332之檢知作用部3321朝向拾取器322之取放部件3221,當拾取器322移載待作業電子元件61作Z方向向上位移復位,檢知器332之檢知作用部3321即取像拾取器322之取放部件3221,並將取像資料傳輸至中央控制裝置(圖未示出),以供判別拾取器322之取放部件3221是否已取出待作業之電子元件61 ,若無,中央控制裝置則發出異常訊號告知工作人員而排除異常,若有,中央控制裝置則控制移料機構繼續執行移料作業。
請參閱第4圖,於拾取器322取出待作業之電子元件61後,搬運單元係以第一驅動源312及第二驅動源313驅動移載具314作X-Y方向位移,而帶動拾取單元之拾取器322及檢知單元之檢知器332同步位移至輸送裝置40之第一入料載台41上方,此時,為確保後續作業(如測試作業)之順暢性,檢知器332之檢知作用部3321即取像拾取器322之取放部件3221,並將取像資料傳輸至中央控制裝置(圖未示出),以供判別拾取器322之取放部件3221所移載之待作業電子元件61是否掉落 ,若有,中央控制裝置則發出異常訊號告知工作人員,以利工作人員迅速排除掉落異常,若無,中央控制裝置則控制移料機構繼續執行移料作業;因此,當拾取器322之取放部件3221將待作業電子元件61確實移載至第一入料載台41上方時,拾取單元係以拾取驅動器321驅動拾取器322作Z方向向下位移,令拾取器322之取放部件3221將待作業電子元件61移入第一入料載台41,使第一入料載台41載送待作業電子元件61至下一站作業裝置,達到提升整體作業順暢性及提高生產品質之實用效益。
請參閱第2、5圖,本發明移料機構應用於電子元件作業分類設備之示意圖,作業分類設備係於機台20上配置有供料裝置50、收料裝置70、作業裝置80、具本發明移料機構之輸送裝置40及中央控制裝置(圖未示出);該供料裝置50係裝配於機台20,並設有至少一供料承置器51,以容納至少一待作業之電子元件;該收料裝置70係裝配於機台20,並設有至少一收料承置器71,以容納至少一已作業之電子元件;該作業裝置80係設有至少一作業器,以對電子元件執行預設作業,於本實施例中,該作業器係為測試器,測試器包含電性連接之電路板81及測試座82,以對電子元件執行測試作業;該輸送裝置40係配置於機台20,包含至少一載台及至少一本發明之移料機構,該載台係載送電子元件,本發明之移料機構包含搬運單元、拾取單元及檢知單元,以移載電子元件及檢知拾取單元所移載之電子元件是否掉落;於本實施例中,輸送裝置40係於作業裝置80之一側設有第一入料載台41及第一出料載台42,以分別載送待測之電子元件及已測之電子元件,輸送裝置40於作業裝置80之另一側則設有第二入料載台43及第二出料載台44,以分別載送待測之電子元件及已測之電子元件,輸送裝置40於作業裝置80之上方設置第一移載器45及第二移載器46,第一移載器45係於作業裝置80、第一入料載台41及第一出料載台42間移載電子元件,第二移載器46係於作業裝置80、第二入料載台43及第二出料載台44間移載電子元件,又輸送裝置40係設有一相同本發明移料機構之第一移料機構47 ,第一移料機構47係於供料裝置50之供料承置器51取出待測之電子元件 ,並移載至第一入料載台41及第二入料載台43,第一移料機構47可於移料過程中檢知待測之電子元件是否掉落,輸送裝置40另設有一相同本發明移料機構之第二移料機構48,第二移料機構48係於第一出料載台42及第二出料載台44取出已測之電子元件,並依測試結果,而移載收料裝置70之收料承置器71分類收置,第二移料機構48可於移料過程中檢知已測之電子元件是否掉落;該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動,以執行自動化作業,達到提升作業效能之實用效益。
[習知] 11:機台 12:供料盤 13:載台 14:移料機構 141:移載具 142:拾取器 15:電子元件 [本發明] 20:機台 311:機架 312:第一驅動源 313:第二驅動源 314:移載具 321:拾取驅動器 322:拾取器 3221:取放部件 331:承架 332:檢知器 3321:檢知作用部 333:檢知驅動器 40:輸送裝置 41:第一入料載台 42:第一出料載台 43:第二入料載台 44:第二出料載台 45:第一移載器 46:第二移載器 47:第一移料機構 48:第二移料機構 50:供料裝置 51:供料承置器 61:電子元件 70:收料裝置 71:收料承置器 80:作業裝置 81:電路板 82:測試座
第1圖:習知移料機構之使用示意圖。 第2圖:本發明移料機構之示意圖。 第3圖:本發明移料機構之使用示意圖(一)。 第4圖:本發明移料機構之使用示意圖(二)。 第5圖:本發明移料機構應用於作業分類設備之示意圖。
20:機台
312:第一驅動源
313:第二驅動源
314:移載具
321:拾取驅動器
322:拾取器
3221:取放部件
332:檢知器
3321:檢知作用部
40:輸送裝置
41:第一入料載台
50:供料裝置
51:供料承置器
61:電子元件

Claims (10)

  1. 一種電子元件移料機構,包含: 搬運單元:係設有作至少一方向位移之移載具; 拾取單元:係裝配於該搬運單元之該移載具,並設有至少一具取放 部件之拾取器,以取放電子元件; 檢知單元: 係裝配於該搬運單元之該移載具,並位於該拾取單元之 該拾取器周側,該檢知單元設有至少一檢知器,該檢知 器之檢知作用部朝向該拾取器,以檢知該拾取器於移料 過程中是否掉落電子元件。
  2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件移料機構,其中,該搬運單元係設有搬運驅動器,以供驅動該移載具位移。
  3. 依申請專利範圍第2項所述之電子元件移料機構,其中,該搬運單元之該搬運驅動器係設有第一驅動源及第二驅動源,以供驅動該移載具作X-Y方向位移。
  4. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件移料機構,其中,該拾取單元係設置拾取驅動器,以驅動該拾取器作至少一方向位移。
  5. 依申請專利範圍第4項所述之電子元件移料機構,其中,該拾取驅動器係為壓缸、線性馬達、變距結構或包含馬達及傳動組。
  6. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件移料機構,其中,該檢知器係為取像器或光纖感測器。
  7. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件移料機構,其中,該檢知單元係於該移載具上設有承架,以供裝配該檢知器。
  8. 依申請專利範圍第7項所述之電子元件移料機構,其中,該檢知單元係於該承架設有檢知驅動器,以供驅動該檢知器作至少一方向位移。
  9. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件移料機構,其中,該檢知單元之檢知器數量相同於該拾取器之數量。
  10. 一種應用電子元件移料機構之作業分類設備,包含: 機台; 供料裝置:係配置於該機台上,並設有至少一供料承置器,以容納 待作業之電子元件; 收料裝置:係配置於該機台上,並設有至少一收料承置器,以容納 已作業之電子元件; 作業裝置:係配置於該機台上,並設有至少一作業器,以對電子元 件執行預設作業; 輸送裝置:係配置於該機台上,包含至少一載台,以及至少一依申 請專利範圍第1項所述之電子元件移料機構,該載台 係載送電子元件,該移料機構包含搬運單元、拾取單元 及檢知單元,以移載電子元件及檢知該拾取單元; 中央控制裝置:係控制及整合各裝置作動,以執行自動化作業。
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