TW202043826A - 附有光元件之光電混載基板 - Google Patents

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Abstract

本發明之附有光元件之光電混載基板1具備：光電混載基板2，其朝向厚度方向一側依序具備光波導4及電路基板5；光元件3，其於光電混載基板2之厚度方向一側安裝於電路基板5；及接合構件20，其以將光元件3與電路基板5接合之方式介於其等之間。接合構件20之熱膨脹係數為80 ppm以下。

Description

附有光元件之光電混載基板
本發明係關於一種附有光元件之光電混載基板。
已知有如下附有光元件之光電混載基板，具備光電混載基板、安裝於其上之光元件、及介於其等之間之底部填充樹脂(例如，參照下述專利文獻1)。專利文獻1之底部填充樹脂將光電混載基板與光元件接合。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2015-102648號公報
[發明所欲解決之問題]
然而，於專利文獻1所記載之附有光元件之光電混載基板中，存在如下情形，即，底部填充樹脂及其附近基於光元件之發熱而變為高溫。於此情形時，存在如下情況，即，底部填充樹脂及其附近之機械強度容易降低，又，因此導致光元件及電路基板之電性連接可靠性降低。
本發明提供一種附有光元件之光電混載基板，其可抑制變為高溫之接合構件之機械強度降低，且可抑制光元件及電路基板之電性連接可靠性降低。 [解決問題之技術手段]
本發明(1)包含一種附有光元件之光電混載基板，其具備：光電混載基板，其朝向厚度方向一側依序具備光波導及電路基板；光元件，其於上述光電混載基板之厚度方向一側安裝於上述電路基板；及接合構件，其以將上述光元件與上述電路基板接合之方式介於其等之間；且上述接合構件之熱膨脹係數為80 ppm以下。
於該附有光元件之光電混載基板中，接合構件之熱膨脹係數為80 ppm以下，因此，可抑制基於光元件之發熱而變為高溫之接合構件之機械強度之降低，且可抑制電性連接可靠性之降低。
本發明(2)包含如(1)之附有光元件之光電混載基板，其中上述接合構件之熱膨脹係數為10 ppm以上。
於該附有光元件之光電混載基板中，接合構件之熱膨脹係數為10 ppm以上，因此，可減少加諸接合構件之應力。
本發明(3)包含如(1)或(2)之附有光元件之光電混載基板，其中上述接合構件之材料具有0.1 Pa・s以上且10 Pa・s以下之25℃之黏度。
又，於該附有光元件之光電混載基板中，接合構件之材料具有10 Pa・s以下之25℃之黏度，因此，可使材料順利且確實地流入光元件及電路基板之間，因此，可抑制接合構件之機械強度降低。又，由於材料之25℃之黏度為0.1 Pa・s以上，故而可抑制材料流出至光元件之外側而將周圍污染。
本發明(4)包含如(1)至(3)中任一項之附有光元件之光電混載基板，其中上述接合構件之25℃下之拉伸彈性模數為0.5 GPa以上15 GPa以下。
進而，於該附有光元件之光電混載基板中，接合構件之25℃下之拉伸彈性模數為0.5 GPa以上，因此，可抑制接合構件之機械強度之降低，進而可抑制光元件及電路基板之電性連接可靠性之降低。另一方面，接合構件之25℃下之拉伸彈性模數為15 GPa以下，因此，接合構件之韌性優異。
本發明(5)包含如(1)至(4)中任一項之附有光元件之光電混載基板，其中上述接合構件之玻璃轉移溫度超過85℃。
又，由於接合構件之玻璃轉移溫度如上所述超過85℃，故而，接合構件可抑制基於光元件之發熱而變為高溫之接合構件之機械強度之降低。
本發明(6)包含如(1)至(5)中任一項之附有光元件之光電混載基板，其中上述接合構件係利用其材料之加熱而獲得之硬化物或利用其材料之加熱及活性能量線之照射而獲得之硬化物。
於該附有光元件之光電混載基板中，可藉由對材料進行加熱、或加熱及照射活性能量線而於短時間內形成接合構件。 [發明之效果]
於本發明之附有光元件之光電混載基板中，接合構件之熱膨脹係數為80 ppm以下，因此，可抑制基於光元件之發熱而變為高溫之接合構件之機械強度之降低，且可抑制電性連接可靠性之降低。
＜一實施形態＞ 參照圖1～圖2對本發明之附有光元件之光電混載基板之一實施形態進行說明。
如圖1～圖2所示，該附有光元件之光電混載基板1具備光電混載基板2、光元件3、及接合構件20。
光電混載基板2具有沿著長度方向延伸之大致矩形片形狀。光電混載基板2朝向上側(厚度方向一側)依序具備光波導4及電路基板5。
光波導4具有與光電混載基板2相同之俯視形狀。光波導4具備：下包層7；核心8，其配置於下包層7之下；及上包層9，其以被覆核心8之方式配置於下包層7之下。
核心8沿著光波導4之長度方向延伸。又，核心8之正剖視形狀例如具有大致矩形狀。核心8之長度方向一端面與下包層7及上包層9之長度方向一端面為同一平面。於核心8之長度方向另一端面形成有鏡面10。鏡面10以於側剖視下與下包層7之下表面所成之角度為45度之方式傾斜。
作為光波導4之材料，例如可例舉環氧樹脂、丙烯酸系樹脂、矽酮樹脂等透明材料。就耐熱性及光信號之傳輸性之觀點而言，較佳可例舉環氧樹脂。
光波導4之尺寸係適當設定。
光波導4之熱膨脹係數例如超過50 ppm，較佳為60 ppm，且例如為110 ppm以下，較佳為90 ppm以下。光波導4之熱膨脹係數之測定方法與下述接合構件20之熱膨脹係數之測定方法相同。
電路基板5配置於光波導4之上表面。詳細而言，電路基板5與光波導4之上表面整個面接觸。電路基板5具備金屬支持層11、基底絕緣層12、導體層13、及覆蓋絕緣層14。
金屬支持層11設置於至少與第1端子15(下述)對應之區域。再者，於在上下方向上投影時，金屬支持層11與鏡面10錯開。作為金屬支持層11之材料，例如可例舉不鏽鋼等金屬材料。
基底絕緣層12配置於金屬支持層11之上表面、及下包層7中未設置金屬支持層11之上表面。作為基底絕緣層12之材料，例如可例舉聚醯亞胺等絕緣材料。
導體層13具備第1端子15、第2端子16、及配線17。
第1端子15於在上下方向上投影時，配置於鏡面10之周圍。第1端子15於長度方向及寬度方向(與長度方向及厚度方向正交之方向)上相互隔開間隔而排列配置有複數個。複數個第1端子15各自之俯視形狀並無特別限定。
第2端子16於基底絕緣層12之長度方向另一端部，於寬度方向上相互隔開間隔而排列配置有複數個。第2端子16於第1端子15之長度方向另一側隔開間隔。
配線17將複數個第1端子15之各者與複數個第2端子16之各者連接。配線17相互隔開間隔而配置有複數條。
作為導體層13之材料，例如，可例舉銅等導體材料。
覆蓋絕緣層14於基底絕緣層12之上表面，以被覆配線16之方式(於圖1～圖2中未描繪)配置。覆蓋絕緣層14之材料與基底絕緣層12之材料相同。
電路基板5使用公知之電路基板。電路基板5之尺寸係適當設定。
電路基板5之熱膨脹係數例如為5 ppm以上，較佳為10 ppm以上，且例如為50 ppm以下，較佳為25 ppm以下。電路基板5之熱膨脹係數之測定方法與下述接合構件20之熱膨脹係數之測定方法相同。
又，電路基板5之熱膨脹係數較光波導4之熱膨脹係數低，具體而言，電路基板5之熱膨脹係數相對於光波導4之熱膨脹係數之比(電路基板5之熱膨脹係數/光波導4之熱膨脹係數)例如為0.5以下，進而為0.4以下，進而為0.3以下，且例如為0.1以上。
再者，電路基板5之熱膨脹係數可藉由實際測量電路基板5本身而求出，或者，亦可利用厚度比按比例分配而算出金屬支持層11、基底絕緣層12、導體層13、覆蓋絕緣層14各自之熱膨脹係數。
光元件3安裝於光電混載基板2。光元件3於電路基板5之長度方向另一端部之中央部，在電路基板5之上側隔開間隔而配置。光元件3具有上下方向長度較長度方向長度及寬度方向長度短之大致箱形狀。再者，光元件3具有較光電混載基板2小之俯視尺寸。具體而言，光元件3具有於在上下方向上投影時包含複數個第1端子15之尺寸。光元件3之下表面與光電混載基板2之上表面平行。光元件3於其下表面獨立地具備出入口21及第3端子22。
出入口21與鏡面10對向配置。出入口21係能夠自光元件3對鏡面10出射光之光之出口或能夠接收來自鏡面10之光之光之入口。
第3端子22與第1端子15對向配置。第3端子22於光元件3之下表面在長度方向及寬度方向上相互隔開間隔而排列配置有複數個。複數個第3端子22之各者與複數個第1端子15之各者對應地設置。第3端子22經由導通構件23(下述)而與第1端子15電性連接。導通構件23例如為凸塊，作為其材料，例如可例舉金、焊料等金屬。
具體而言，作為光元件3可例舉能夠自第1端子15接收電氣輸入並自出入口21出射光之雷射二極體(LD)或發光二極體(LED)，例如接收來自鏡面10之光並對第1端子15輸出電氣信號之光電二極體(PD)等。
接合構件20介於電路基板5與光元件3之間，將電路基板5與光元件3接合。接合構件20被稱為底部填充構件。具體而言，接合構件20係以如下方式配置，即，被覆光元件3之下表面整個面，並且於電路基板5之上表面至少被覆第1端子15，進而，於俯視下投影光元件3及電路基板5時包含與光元件3重複之區域、及其外側附近之區域。再者，接合構件20被覆複數個導通構件23之周側面。
作為接合構件20之材料，例如可例舉含有硬化性樹脂之液狀之硬化性組合物(被稱為底部填充材)。
作為硬化性樹脂，例如可例舉能夠藉由加熱而硬化之熱硬化性樹脂、例如能夠藉由加熱及光(活性能量線)之照射而硬化之熱-光硬化性樹脂、能夠藉由光之照射而硬化之光硬化性樹脂、例如濕氣硬化性樹脂等。其等可單獨使用或併用2種以上。再者，不嚴格區別上述硬化性樹脂之種類。
作為硬化性樹脂，例如可例舉環氧樹脂、矽酮樹脂、聚胺酯樹脂、聚醯亞胺樹脂、尿素樹脂、三聚氰胺樹脂、不飽和聚酯樹脂等。其等可單獨使用或併用2種以上。再者，於硬化性樹脂含有環氧樹脂之情形時，硬化性組合物被視為環氧樹脂組合物。
作為環氧樹脂，例如，可例舉雙酚A型環氧樹脂、雙酚F型環氧樹脂、雙酚S型環氧樹脂、溴化雙酚A型環氧樹脂、氫化雙酚A型環氧樹脂、雙酚AF型環氧樹脂、聯苯型環氧樹脂、萘型環氧樹脂、茀型環氧樹脂、酚系酚醛清漆型環氧樹脂、鄰甲酚酚醛清漆型環氧樹脂、三羥基苯基甲烷型環氧樹脂、及四羥苯基乙烷型環氧樹脂等二官能環氧樹脂或多官能環氧樹脂。作為環氧樹脂，亦可例舉乙內醯脲型環氧樹脂、異氰脲酸三縮水甘油酯型環氧樹脂、及縮水甘油胺型環氧樹脂。其等可單獨使用或併用2種以上。
作為矽酮樹脂，例如可例舉甲基矽酮樹脂、苯基矽酮樹脂、甲基苯基矽酮樹脂等純矽酮樹脂、例如醇酸改性矽酮樹脂、聚酯改性矽酮樹脂、胺基甲酸酯改性矽酮樹脂、環氧改性矽酮樹脂、丙烯酸改性矽酮樹脂等改性矽酮樹脂等。其等可單獨使用或併用2種以上。
再者，於硬化性組合物為環氧樹脂組合物之情形時，硬化性組合物例如可進而含有咪唑化合物、胺化合物等硬化劑。進而，硬化性組合物例如可包含尿素化合物、3級胺化合物、磷化合物、4級銨鹽化合物、有機金屬鹽化合物等硬化促進劑。
又，於硬化性樹脂為熱-光硬化性樹脂或光硬化性樹脂之情形時，硬化性組合物例如可含有光起始劑。
進而，硬化性組合物可含有反應性單體。
進而，硬化性組合物除上述以外可含有填料。
作為填料，並無特別限定，例如，可例舉氫氧化鋁、氫氧化鎂、碳酸鈣、碳酸鎂、石英玻璃、滑石、氧化矽、氮化鋁、氮化矽、氮化硼等無機填料、及例如丙烯酸系樹脂粒子、矽酮樹脂粒子等有機填料。
再者，硬化性組合物進而能以適當之比率含有熱塑性樹脂(丙烯酸系樹脂等)、偶合劑、潤滑劑等添加劑。
硬化性組合物中之各成分之比率根據用途及目的而適當設定。硬化性組合物中之硬化性樹脂之比率例如為50質量%以上，又，為90質量%以下。硬化性組合物中之硬化劑之比率例如為1質量%以上，且例如為40質量%以下。硬化性組合物中之硬化促進劑之比率例如為0.5質量%以上，且例如為10質量%以下。硬化性組合物中之反應性單體之比率例如為1質量%以上，又，為10質量%以下。硬化性組合物中之填料之比率例如為1質量%以上，又，為40質量%以下。
上述材料(硬化性組合物)(A階段)之25℃之黏度例如為0.1 Pa・s以上，且例如為25 Pa・s以下，較佳為10 Pa・s以下，更佳為5 Pa・s以下。
若材料之25℃之黏度為上述上限以下，則可使材料順利且確實地流入至光元件3及電路基板5之間，因此，可抑制接合構件20之機械強度降低。
若材料之25℃之黏度為上述下限以上，則可抑制材料流出至光元件3之外側而將周圍污染。
材料之黏度例如係利用EHD型黏度計求出。
作為材料，可使用市售品，具體而言，可使用Aica工業公司製造之Z-591-Y4、Aica工業公司製造之Z-591-Y6、EMI公司製造之3553-HM、協力化學產業公司製造之8776-LS1等。
而且，接合構件20係上述硬化性組合物之硬化物。具體而言，接合構件20可例舉例如對材料進行加熱而獲得之硬化物、例如對材料進行加熱及照射光而獲得之硬化物、對材料照射光而獲得之硬化物、例如對材料進行濕氣硬化而獲得之硬化物等。較佳可例舉對材料進行加熱而獲得之硬化物或對材料進行加熱及照射光而獲得之硬化物。
接合構件20之熱膨脹係數為80 ppm以下，較佳為60 ppm以下，更佳為40 ppm以下，進而較佳為30 ppm以下。又，接合構件20之熱膨脹係數例如為1 ppm以上，進而為10 ppm以上。
若接合構件20之熱膨脹係數超過上述上限，則基於光元件3之發熱而變為高溫之接合構件20之機械強度降低，進而光元件3及電路基板5間之電性連接可靠性降低。
又，若接合構件20之熱膨脹係數為上述下限以上，則可減少加諸接合構件20之應力。
另一方面，接合構件20及光波導4間之熱膨脹係數之差例如為40 ppm以下，較佳為30 ppm以下，更佳為20 ppm以下，且為0 pppm以上。
於光電混載基板2中，通常，光波導4之熱膨脹係數大於電路基板5之熱膨脹係數，但於上述差較小之附有光元件之光電混載基板1、亦即具備使熱膨脹係數接近光波導4之熱膨脹係數之接合構件20之附有光元件之光電混載基板1中，於熱膨脹係數較小之電路基板5之上下兩側配置有熱膨脹係數之差較小之接合構件20及光波導4，因此，可有效地抑制基於光元件3之發熱而變為高溫之與光元件3對應之區域之變形。因此，可抑制光電混載基板2之翹曲。
接合構件20之熱膨脹係數係利用熱機械分析(TMA)測定。
接合構件20之25℃下之拉伸彈性模數(楊氏模數)例如為0.01 GPa以上，較佳為0.5 GPa以上，較佳為2 GPa以上，且例如為20 GPa以下，較佳為15 GPa以下，更佳為10 GPa以下，進而較佳為5 GPa以下。
若接合構件20之拉伸彈性模數為上述下限以上，則可抑制接合構件20之機械強度之降低，進而可抑制光元件3及電路基板5之電性連接可靠性之降低。
若接合構件20之拉伸彈性模數為上述上限以下，則接合構件20之韌性優異。
接合構件20之拉伸彈性模數係依據JIS K 7127 (1999)而測定。
接合構件20之玻璃轉移溫度例如為0℃以上，較佳為30℃以上，更佳為75℃以上，進而較佳為超過85℃，且例如為150℃以下。
若接合構件20之玻璃轉移溫度高於上述下限，則可抑制基於光元件3之發熱而變為高溫之接合構件20之機械強度之降低。
接合構件20之玻璃轉移溫度作為根據頻率1 Hz、升溫速度5℃/分鐘、剪切模式之動態黏彈性測定獲得之tanδ之峰值算出。
接下來，對該附有光元件之光電混載基板1之製造方法進行說明。
首先，於該方法中，利用公知之方法準備光電混載基板2、及光元件3之各者。
接下來，於該方法中，將導通構件23配置於第1端子15之上表面。
接下來，將光元件3以第3端子22與導通構件23之上端接觸之方式相對於電路基板5對向配置。再者，此時，以光元件3之下表面與電路基板5之上表面之距離例如為1 μm以上、進而為5 μm以上、且例如為30 μm以下、較佳為10 μm以下之方式，將電路基板5配置於光電混載基板2。
繼而，使接合構件20之材料(具體而言，液狀之硬化性組合物)(A階段之硬化性組合物)流入電路基板5及光元件3之間。
其後，使材料例如硬化。
具體而言，可例舉加熱、加熱及光之照射、光之照射、濕氣環境下之放置等。較佳可例舉僅加熱，較佳可例舉加熱及光之照射之併用。
作為光，例如可例舉紫外線等。
藉此，使材料硬化，而形成作為其硬化物之接合構件20。藉由該接合構件20，將光元件3接合(接著)於電路基板5。
又，與材料之硬化同時，或者於材料硬化前後，使導通構件23回焊，將第1端子15及第3端子22電性連接。導通構件23由接合構件20補強。
藉此，獲得具備光電混載基板2、光元件3、及將其等接合之接合構件20之附有光元件之光電混載基板1。
而且，於該附有光元件之光電混載基板1中，接合構件20之熱膨脹係數為80 ppm以下，因此，可抑制基於光元件3之發熱而變為高溫之接合構件20之機械強度之降低，並可抑制電性連接可靠性之降低。
又，於該附有光元件之光電混載基板1中，接合構件20之熱膨脹係數為10 ppm以上，因此，可減少加諸接合構件20之應力。
又，於該附有光元件之光電混載基板1中，若接合構件20之材料具有10 Pa・s以下之25℃之黏度，便可使材料順利且確實地流入光元件3及電路基板5之間，因此，可抑制接合構件20之機械強度降低。又，若材料之25℃之黏度為0.1 Pa・s以上，則於使材料流入光元件3及電路基板5之間時，可抑制材料流出至光元件3之外側而將周圍污染。
進而，於該附有光元件之光電混載基板1中，若接合構件20之25℃下之拉伸彈性模數為0.5 GPa以上，則可抑制接合構件20之機械強度之降低，進而可抑制光元件3及電路基板5之電性連接可靠性之降低。另一方面，若接合構件20之25℃下之拉伸彈性模數為15 GPa以下，則接合構件20之韌性優異。
又，若接合構件20之玻璃轉移溫度超過上述85℃，則即便接合構件20基於光元件3之發熱而變為高溫，亦可抑制接合構件20之機械強度之降低。
於該附有光元件之光電混載基板1中，若接合構件20之材料即硬化性組合物含有熱硬化性樹脂或熱-光硬化性樹脂，則可藉由將其等加熱或藉由加熱及活性能量線之照射而於短時間內形成接合構件20。
＜變化例＞ 於以下各變化例中，對與上述一實施形態同樣之構件及步驟，附加相同之參照符號，並省略其詳細之說明。又，各變化例除特別記載以外可發揮與一實施形態同樣之作用效果。進而，可將一實施形態及其變化例適當組合。
於一實施形態中，說明了接合構件20之材料為液狀，但例如並不限於此，例如，亦可為固體狀或半固體狀。 [實施例]
以下表示實施例及比較例，對本發明進而具體地進行說明。再者，本發明並不受實施例及比較例任何限定。又，以下記載中使用之調配比率(比率)、物性值、參數等具體之數值可替換為於上述「實施方式」中記載之與其等對應之調配比率(比率)、物性值、參數等相應記載之上限(定義為「以下」、「未達」之數值)或下限(定義為「以上」、「超過」之數值)。
實施例1～4及比較例1 基於一實施形態，製作附有光元件之光電混載基板1。
適當調配環氧樹脂、丙烯酸系樹脂及填料，而製備接合構件20之材料。將該材料設為藉由100℃、3小時之加熱而獲得之硬化物，而形成實施例1～4及比較例1之各者之接合構件20。
＜物性評估＞ 對下述物性進行評估。將其等之結果記載於表1。 [光波導、電路基板、及接合構件之熱膨脹係數] 利用TMA測定接合構件20之熱膨脹係數。並且，求出光波導4之熱膨脹係數、及電路基板5之熱膨脹係數，結果分別為75 ppm及18 ppm。 [接合構件之材料之黏度] 利用EHD型黏度計測定接合構件20之材料之25℃下之黏度。 [接合構件之拉伸彈性模數] 依據JIS K 7127 (1999)求出接合構件20之25℃下之拉伸彈性模數(楊氏模數)。 [接合構件之玻璃轉移溫度] 將接合構件20之玻璃轉移溫度作為根據頻率1 Hz、升溫速度5 ℃/分鐘、剪切模式之動態黏彈性測定獲得之tanδ之峰值算出。 [接合構件之機械強度] 求出接合構件20之機械強度作為將光元件3自光電混載基板2剝離時之剝離強度。具體而言，藉由晶片剪切強度試驗而測定剝離強度。 [附有光元件之光電混載基板之良品率] 製作100個附有光元件之光電混載基板1，實施將其等以85℃加熱10小時之耐熱試驗。對試驗後之附有光元件之光電混載基板1中之光元件3及電路基板5實施導通檢查，而求出合格之良品之比率(良品率)。
[表1]
表1
實施例/比較例 實施例1 實施例2 實施例3 實施例4 比較例1
接合構件之材料 25℃中之黏度 (Pa・s) 0.5 1 1 21 21
   熱膨脹係數 (ppm) 20 50 50 50 85
接合構件之物性 25℃下之拉伸彈性模數 (GPa) 2.6 2.6 0.1 0.1 0.1
玻璃轉移溫度 (℃) 100 20 20 20 20
   機械強度 (MPa) 213 250 250 250 300
結果 附有光學元件之光電混載基板之良品率 (%) 95 90 80 65 40
再者，上述發明作為本發明之例示之實施形態提供，但其僅為例示，並不應限定性地進行解釋。該技術領域之業者可知之本發明之變化例包含於下述申請專利範圍中。 [產業上之可利用性]
附有光元件之光電混載基板例如用於通信等。
1:附有光元件之光電混載基板 2:光電混載基板 3:光元件 4:光波導 5:電路基板 7:下包層 8:核心 9:上包層 10:鏡面 11:金屬支持層 12:基底絕緣層 13:導體層 14:覆蓋絕緣層 15:第1端子 16:第2端子 17:配線 20:接合構件 21:出入口 22:第3端子 23:導通構件
圖1表示本發明之附有光元件之光電混載基板之一實施形態之俯視圖。 圖2表示圖1所示之附有光元件之光電混載基板之沿著X-X線之側剖視圖。
1:附有光元件之光電混載基板
2:光電混載基板
3:光元件
4:光波導
5:電路基板
7:下包層
8:核心
9:上包層
10:鏡面
11:金屬支持層
12:基底絕緣層
13:導體層
14:覆蓋絕緣層
15:第1端子
20:接合構件
21:出入口
22:第3端子
23:導通構件

Claims (6)

  1. 一種附有光元件之光電混載基板，其特徵在於具備： 光電混載基板，其朝向厚度方向一側依序具備光波導及電路基板； 光元件，其於上述光電混載基板之厚度方向一側安裝於上述電路基板；及 接合構件，其以將上述光元件與上述電路基板接合之方式介於其等之間；且 上述接合構件之熱膨脹係數為80 ppm以下。
  2. 如請求項1之附有光元件之光電混載基板，其中上述接合構件之熱膨脹係數為10 ppm以上。
  3. 如請求項1或2之附有光元件之光電混載基板，其中上述接合構件之材料具有0.1 Pa・s以上10 Pa・s以下之25℃之黏度。
  4. 如請求項1或2之附有光元件之光電混載基板，其中上述接合構件之25℃下之拉伸彈性模數為0.5 GPa以上15 GPa以下。
  5. 如請求項1或2之附有光元件之光電混載基板，其中上述接合構件之玻璃轉移溫度超過85℃。
  6. 如請求項1或2之附有光元件之光電混載基板，其中上述接合構件係利用其材料之加熱而獲得之硬化物或利用其材料之加熱及活性能量線之照射而獲得之硬化物。
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