TW202042409A - 微型發光元件、結構及其顯示裝置 - Google Patents
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Abstract
一種微型發光元件，包括磊晶結構層、第一型電極、第二型電極以及導光結構。磊晶結構層具有彼此相對的頂表面與底表面以及位於頂表面的多個第一凹槽。彼此分離的第一型電極及第二型電極配置於磊晶結構層上且位於底表面。導光結構配置於磊晶結構層上。導光結構覆蓋部分頂表面及部分第一凹槽的內壁，而定義出對應部分第一凹槽的多個第二凹槽。
Description
本發明是有關於一種半導體元件，且特別是有關於一種微型發光元件、微型發光元件結構及微型發光元件顯示裝置。
目前微型發光二極體的轉移主要是透過靜電力或磁力等方式，將載體基板上的微型發光二極體轉板至接收基板上。一般來說，微型發光二極體會透過固定結構來固持而使微型發光二極體較容易自載體基板上拾取並運輸與轉移至接收基板上放置，且藉由固定結構來鞏固微型發光二極體於轉板時不會受到其他外在因素而影響品質。此外，通常會有部分的固定結構會與微型發光二極體接觸，且留在轉移後的微型發光二極體上。由於此部分的固定結構大多為配置於微型發光二極體的出光面上，且因為固定結構的材料特性，所以此部分的固定結構會視為是一種導光結構。因此，如何在現有的架構下而提升微型發光元件的出光效率，已成為業界努力的目標之一。
本發明提供一種微型發光元件，其導光結構具有對應磊晶結構層的部分第一凹槽的第二凹槽，可提升出光效率。
本發明提供一種微型發光元件結構，其固定結構的導光部具有對應微型發光元件的部分第一凹槽的第二凹槽，可提升微型發光元件的出光效率。
本發明提供一種微型發光元件顯示裝置，具有較佳地顯示品質。
本發明的微型發光元件，包括磊晶結構層、第一型電極、第二型電極以及導光結構。磊晶結構層具有彼此相對的頂表面與底表面以及位於頂表面的多個第一凹槽。第一型電極配置於磊晶結構層上且位於底表面。第二型電極與第一型電極彼此分離，而第二型電極配置於磊晶結構層上且位於底表面。導光結構配置於磊晶結構層上。導光結構覆蓋部分頂表面及部分第一凹槽的內壁，而定義出對應部分第一凹槽的多個第二凹槽。
在本發明的一實施例中，上述的磊晶結構層包括第一型半導體層、第二型半導體層以及發光層。第一型半導體層與第一型電極電性連接，且第一型半導體層具有頂表面。第二型半導體層與第二型電極電性連接。發光層位於第一型半導體層與第二型半導體層之間，其中第一型半導體層的頂表面相對遠離發光層。
在本發明的一實施例中，上述的第一型半導體層的頂表面具有中央區與環繞中央區的周圍區，而導光結構於周圍區的覆蓋率大於中央區的覆蓋率。
在本發明的一實施例中，上述的每一第一凹槽的深度與第一型半導體層的厚度的比值大於等於0.05且小於等於0.3。
在本發明的一實施例中，上述的導光結構具有彼此相對的第一表面與第二表面。第一表面接觸第一型半導體層，且第一表面的均方根粗糙度（root mean square deviation，Rq）大於第二表面的均方根粗糙度。
在本發明的一實施例中，上述的第一型半導體層的頂表面具有第一部分與第二部分。導光結構接觸第一部分，而第二部分的均方根粗糙度大於第一部分的均方根粗糙度。
在本發明的一實施例中，上述的每一第一凹槽的深度與微型發光元件的發光波長的比值介於0.5至3。每一第一凹槽的寬度與微型發光元件的發光波長的比值介於0.5至4。任兩相鄰的第一凹槽之間的間距與微型發光元件的發光波長的比值介於1至5。
在本發明的一實施例中，上述的每一第一凹槽的第一深度大於對應的每一第二凹槽的第二深度。每一第一凹槽的第一寬度大於對應的每一第二凹槽的第二寬度。
在本發明的一實施例中，上述的每一第一凹槽的第一深度與對應的每一第二凹槽的第二深度皆為大於等於10奈米且小於等於1200奈米。
在本發明的一實施例中，上述的每一第一凹槽的第一寬度與對應的每一第二凹槽的第二寬度皆大於等於400奈米且小於等於2.2微米。
在本發明的一實施例中，上述的任兩相鄰的第一凹槽的第一間距與任兩相鄰的第二凹槽的第二間距皆小於等於2.2微米且大於等於0.5微米。
在本發明的一實施例中，上述的每一第一凹槽的剖面形狀包括圓弧狀、錐狀或平台狀。
在本發明的一實施例中，上述的相鄰的第一凹槽的深度不同。
在本發明的一實施例中，上述的頂表面具有中央區與環繞中央區的周圍區。第一凹槽在頂表面的中央區的分佈密度大於在周圍區的分佈密度。
在本發明的一實施例中，上述的第二凹槽與對應的第一凹槽共形設置。
本發明的微型發光元件結構，包括基板、至少一微型發光元件以及至少一固定結構。微型發光元件配置於基板上，且具有彼此相對的頂表面與底表面、位於頂表面的多個第一凹槽以及位於底表面且彼此分離的第一型電極與第二型電極。固定結構包括導光部以及固定部。導光部配置於微型發光元件上。導光部覆蓋部分頂表面及部分第一凹槽的內壁，而定義出對應部分第一凹槽的多個第二凹槽。固定部連接導光部且延伸至基板上。
本發明的微型發光元件顯示裝置，包括線路基板以及至少一微型發光元件。微型發光元件配置於線路基板上，且微型發光元件包括磊晶結構層、第一型電極、第二型電極以及導光結構。磊晶結構層具有彼此相對的頂表面與底表面以及位於頂表面的多個第一凹槽。第一型電極配置於磊晶結構層上且位於底表面，其中第一型電極電性連接至線路基板。第二型電極與第一型電極彼此分離，且第二型電極配置於磊晶結構層上且位於底表面。第二型電極電性連接至線路基板。導光結構配置於磊晶結構層上。導光結構覆蓋部分頂表面及部分第一凹槽的內壁，而定義出對應部分第一凹槽的多個第二凹槽。
基於上述，在本發明的微型發光元件的設計中，導光結構具有對應磊晶結構層的部分第一凹槽的第二凹槽。藉此設計，可有效地提高微型發光元件的出光效率，進而提高應用此微型發光元件的微型發光元件顯示裝置的顯示品質。此外，本發明的微型發光元件結構的固定結構，其導光部配置於微型發光元件上且覆蓋部分頂表面及部分第一凹槽的內壁，而定義出對應部分第一凹槽的第二凹槽，藉此提升微型發光元件的出光效率。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
本發明的實施例描述微型發光元件（例如微型發光二極體（Micro LED））的結構，使之準備好拾取及轉移到接收基板。接收基板可例如為顯示基板、發光基板、具諸如電晶體或積體電路（ICs）等功能元件的基板或具其他具線路的基板，但不以此為限。雖然本發明的一些實施例特定於描述包含p-n二極體的微型發光二極體，但應理解本發明的實施例不限於此，某些實施例亦可應用到其他微型發光元件，該等微型發光元件依此一方式設計成控制執行預定電子功能（例如二極體、電晶體、積體電路）或光子功能（LED、雷射）。
圖1是本發明一實施例的一種微型發光元件的俯視示意圖。圖2A是圖1的微型發光元件沿著線A-A’的剖面示意圖。圖2B是圖2A的微型發光元件的區域R的放大示意圖。
請先同時參照圖1與圖2A，本實施例的微型發光元件100a包括磊晶結構層110、第一型電極E1、第二型電極E2以及導光結構120。磊晶結構層110具有彼此相對的頂表面110t與底表面110b以及位於頂表面110t上的多個第一凹槽112。第一型電極E1與第二型電型E2皆配置於磊晶結構層110上且位於底表面110b，其中第一型電極E1與第二型電型E2彼此分離。導光結構120配置於磊晶結構層110上，且覆蓋部分頂表面110t及部分第一凹槽112的內壁，而定義出對應部分第一凹槽112的多個第二凹槽122。較佳地，第二凹槽122與對應的第一凹槽112呈共形設置。藉由第一凹槽112及第二凹槽122的設計，可有效提升微型發光元件100a的發光效率。
具體而言，請參照圖2A，在微型發光元件100a中，磊晶結構層110包括第一型半導體層114、第二型半導體層116以及發光層118。此處，第一型半導體層114可為N型半導體，第二型半導體層116可為P型半導體，但並不以此為限。第一型半導體層114與第一型電極E1電性連接，且第一型半導體層114具有頂表面110t。第二型半導體層116與第二型電極E2電性連接，且第二型半導體層116具有底表面110b。發光層118位於第一型半導體層114與第二型半導體層116之間，且第一型半導體層114的頂表面110t相對遠離發光層118。此處，微型發光元件100a具體化是覆晶式微型發光元件，但本發明不限於此。
請再同時參考圖1及圖2A，微型發光元件100a的導光結構120於第一型半導體層114上的正投影面積與第一型半導體層114的面積的比值，較佳地，大於0.5且小於1，可有效的提升微型發光元件100a的出光效率。此處，微型發光元件100a的第一型半導體層114在頂表面110t具有中央區1101與環繞中央區1101的周圍區1102，其中第一凹槽112在中央區1101的分佈密度約略相等於在周圍區1102的分佈密度。此處，中央區1101佔頂表面110t的比值大於0.5且小於1，但不以此為限。
再者，請同時參考圖2A與圖2B，本實施例的微型發光元件100a中，相鄰的第一凹槽112的深度D112大致相同，但本發明不限於此。在其他未繪示的實施例中，相鄰的第一凹槽的深度也可以不同。較佳的，第一凹槽112的深度D112與第一型半導體層114的厚度D114的比值大於等於0.05且小於等於0.3。若上述的比值過大(即第一凹槽112的深度D112過深)則會降低微型發光元件100a的製程良率。反之，若上述的比值過小(即第一凹槽112的深度D112過淺)，則恐使微型發光元件100a出光效率不佳。須說明的是，在本實施例中，微型發光元件100a的第一凹槽112的剖面形狀例如是為圓弧狀，但在其他未繪示的實施例中，第一凹槽112的剖面形狀亦可為其他適當的形狀，如錐狀、平台狀或其組合，本發明並不以此為限。
更進一步來說，本實施例的第一凹槽112的深度D112與微型發光元件100a的發光波長的比值例如是介於0.5至3，而第一凹槽112的寬度W112與微型發光元件100a的發光波長的比值介於0.5至4，且任兩相鄰的第一凹槽112之間的間距P112與微型發光元件100a的發光波長的比值介於1至5時，可具有良好的出光效率。若超出上述比值範圍，將使得微型發光元件100a出光效率降低，甚至無法出光。具體而言，於一實施例中，微型發光元件100a若為藍光微型發光二極體，較佳地，第一凹槽112的深度D112與藍光波長的比值為大於0.5小於3，而第一凹槽112的寬度W112與藍光波長的比值為大於1小於4，且任兩相鄰的第一凹槽112之間的間距P112與藍光波長的比值為介於1至5。於另一實施例中，微型發光元件100a若為綠光微型發光二極體，第一凹槽112的深度D112與綠光波長的比值為大於0.5小於2.5，第一凹槽112的寬度W112與綠光波長的比值大於0.5小於3.5，且任兩相鄰的第一凹槽112之間的間距P112與綠光波長的比值為大於1小於4。
請繼續參照圖2A與圖2B，微型發光元件100a的第一凹槽112具有第一深度D112，且對應的第二凹槽122具有第二深度D122。在本實施中，第一凹槽112的第一深度D112等於對應的第二凹槽122的第二深度D122，亦即導光結構120具有一均勻厚度，可以使出光較為均勻。此處，第一凹槽112的第一深度D112與第二凹槽122的第二深度D122皆為奈米級，皆例如是大於等於10奈米並小於等於1200奈米，可使微型發光元件100a具有較佳的出光效率。若第一凹槽112的第一深度D112與第二凹槽122的第二深度D122分別大於1200奈米，或者是，小於10奈米，則可能會讓發光層118所產生的光侷限住而出不來。
另一方面，本實施例的第一凹槽112具有第一寬度W112，對應的第二凹槽122具有第二寬度W122。在本實施例中，第一凹槽112的第一寬度W112等於對應的第二凹槽122的第二寬度W122。較佳地，第一凹槽112的第一寬度W112與第二凹槽122的第二寬度W122皆為奈米級，皆例如是大於等於400奈米且小於等於2微米時，藉此可提升微型發光元件100a的出光效率。若第一凹槽112的第一寬度W112與第二凹槽122的第二寬度W122皆分別大於2微米，或者是，小於400奈米，可能使晶體缺陷增加以及降低微型發光元件100a的製程良率。此外，任兩相鄰的第一凹槽112具有第一間距P112，而對應的任兩相連的第二凹槽122具有第二間距P122。此處，第一間距P112與第二間距P122皆例如是小於等於2.2微米且大於等於0.5微米，藉此可提升微型發光元件100a的出光效率。若第一間距P112與第二間距P122皆分別大於2.2微米，或者是，小於0.5微米，則可能使晶體缺陷增加以及降低微型發光元件100a的製程良率。
請再同時參照圖1與圖2A，本實施例的微型發光元件100a的導光結構120具有彼此相對的第一表面120b與第二表面120t，其中第一表面120b接觸第一型半導體層114。為了提升微型發光元件100a的出光效率，導光結構120的第一表面120b的均方根粗糙度大於第二表面120t的均方根粗糙度，可使光子較不易被導光結構120所侷限，進而提升微型發光元件100a出光效率。更進一來說，第一型半導體層114的頂表面110t可進一步區分第一部分110t1與第二部分110t2，其中導光元件120接觸第一部分110t1。此處，第二部分110t2的均方根粗糙度大於第一部分110t1的均方根粗糙度，意即第一型半導體層114與導光結構120接觸的表面的粗糙度小於導光結構120未與第一型半導體層114接觸面的粗糙度，可使得導光結構120與第一型半導體層114之間具有良好的連接力，進而提升製程良率。
另一方面，微型發光元件100a的導光結構120的折射率小於第一型半導體層114的折射率。此處，導光結構120的材質例如是二氧化矽或氮化矽，但本發明不以此為限。再者，導光結構120的厚度D120與微型發光元件100a的厚度D100a的比值例如為大於等於0.01且小於0.3，可避免影響微型發光元件100a的出光。
圖2C是圖1的微型發光元件在一模擬實驗中角度與光強度的分佈曲線圖。在一模擬實驗中可得知，如圖2C所示，本實施例透過第一凹槽112和第二凹槽122的設計，可使得微型發光元件100a具有一近似單峰的光分佈圖形。詳細而言，微型發光元件100a的光分佈圖形可具有二個峰值，分別為第一峰值T1及第二峰值T2。此處，第一峰值T1落在照射角小於0°，而第二峰值T2落在照射角大於0°，且第一峰值T1及第二峰值T2皆落在照射角為-30°至30°之間。藉此，可使微型發光元件100a具有集中出光的效果。
簡言之，在本實施例的微型發光元件100a的設計中，磊晶結構層110的頂表面110t具有第一凹槽112，而導光結構120覆蓋部分頂表面110t及部分第一凹槽112的內壁，而定義出對應部分第一凹槽112的第二凹槽122。藉此設計，可有效增加微型發光元件100a的出光率，進而提升發光效率。
在此必須說明的是，下述實施例沿用前述實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參照前述實施例，下述實施例不再重複贅述。
圖3是本發明的另一實施例的第一凹槽與第二凹槽局部放大示意圖。請同時參照圖2B與圖3，兩者差異在於：本實施例的第一凹槽112’的第一深度D112’大於對應的第二凹槽122’的第二深度D122’，且第一凹槽112’的第一寬度W112’大於對應的第二凹槽122’的第二寬度W122’，藉此可增加轉移裝置（未繪示）與第二凹槽122’的連接力。
圖4是依照本發明另一實施例的一種微型發光元件的俯視示意圖。請同時參照圖1與圖4，微型發光元件100b與微型發光元件100a相似，兩者的差異在於：本實施例的微型發光元件100b的第一凹槽112在中央區1101的分佈密度大於在周圍區1102的分佈密度，且中央區1101與頂表面1102的比值大於等於0.5，可有效使中央區的出光集中。此時，覆蓋在第一凹槽112上的導光結構120於中央區1101的覆蓋率也大於周圍區1102的覆蓋率，藉此可使微型發光元件100b具有集中出光的效果。特別說明的是，導光結構120於磊晶結構層110上的投影面積大於中央區1101於磊晶結構層110上的投影面積，可使出光效果更佳，但並不以此為限。
圖5是本發明又一實施例的一種微型發光元件的俯視示意圖。請同時參照圖1與圖5，微型發光元件100c與微型發光元件100a相似，兩者的差異在於：本實施例的微型發光元件100c的導光結構120在第一型半導體層114的周圍區1102的覆蓋率大於中央區1101的覆蓋率，藉此可提升微型發光元件100b的側向的出光效益。
圖6是本發明一實施例的一種微型發光元件結構的剖面示意圖。請參照圖6，微型發光元件結構10a包括基板130、至少一微型發光元件100d（圖6示意地繪示一個）以及至少一固定結構12（圖6示意地繪示一個）。微型發光元件100d配置於基板130上，且具有彼此相對的頂表面110t與底表面110b、位於頂表面110t的多個第一凹槽112以及位於底表面110b且彼此分離的第一型電極E1與第二型電極E2。固定結構12包括導光部（即導光結構120）以及固定部124。導光部（即導光結構120）配置於微型發光元件100d上，且覆蓋部分頂表面110t及部分第一凹槽112的內壁，而定義出對應部分第一凹槽110的第二凹槽122，而固定部124連接導光部（即導光結構120）且延伸至基板130上。更具體來說，當後續轉移後，固定結構12的固定部124被移除，而留下導光部即是如微型發光元件100a的導光結構120。
此處，本實施例的基板130是載體基板，其材質例如是塑膠基板、玻璃基板或藍寶石基板等的臨時基板，可具有固定性且表面平整，但不以此為限。微型發光元件100d具有連接頂表面110t與底表面110b的周圍表面110s。此處，如圖6所示，固定結構12的固定部124是直接接觸周圍表面110s且不接觸第一型電極E1與第二型電極E2，可避免後續轉移微型發光元件100d時，對第一型電極E1及第二型電極E2造成損傷而降低微型發光元件100d的製作良率。此外，本實施例的微型發光元件100d的第一型電極E1及第二型電極E2皆未直接接觸基板130，藉此避免後續製程中對第一型電極E1及第二型電極E2可能的影響，以維持微型發光元件100d的製作良率，但本發明不以此為限。圖7是本發明另一實施例的一種微型發光元件結構的剖面示意圖。請同時參照圖6與圖7，微型發光元件結構10b與微型發光元件10a相似，兩者的差異在於：本實施例的微型發光元件結構10b的固定結構12’的固定部124’不接觸周圍表面110s，可更減少其固定結構12’對微型發光元件100c的固定力，如此使得後續對微型發光元件100d進行運輸與轉移所需施加的外力可以降低，進一步減少損毀微型發光元件100d的機率，提升微型發光元件100d的製作良率，但本發明不限於此。
圖8是本發明另一實施例的一種微型發光元件結構的剖面示意圖。請同時參照圖6與圖8，微型發光元件結構10c與微型發光元件10a相似，兩者的差異在於：本實施例的微型發光元件結構10c更包括緩衝層140，其中緩衝層140配置於微型發光元件100d與基板130之間，並直接接觸固定結構12的固定部124與基板130。也就是說，本實施例的固定結構12及微型發光元件100d並不是直接接觸基板130，而是透過緩衝結構140而連接於基板130上。此處，緩衝結構140的材質可包括發泡材料或有機高分子材料，具有緩衝的功能，可吸收固定結構12在固持微型發光元件100d進行運輸與轉移時所受到外力影響，以進一步提升運輸與轉移的微型發光元件100d的拾取良率以及製程良率，但本發明不以此為限。
圖9是本發明一實例的一種微型發光元件顯示裝置的剖面示意圖。本實施例的微型發光元件顯示裝置1包括一線路基板150以及多個上述的微型發光元件100a (請參考圖1、圖2A及圖2B)，其中微型發光元件100a是配置於線路基板150上。此處，本實施例的線路基板150例如是一互補式金屬氧化物半導體（Complementary Metal-Oxide-Semiconductor, CMOS）基板、一矽基液晶（Liquid Crystal on Silicon, LCOS）基板、一薄膜電晶體（Thin Film Transistor, TFT）基板或是其他具有工作電路的基板，於此並不加以限制。
簡言之，本實施例的微型發光元件顯示裝置1是藉由具有第一凹槽112的磊晶結構層110與共形設置於第一凹槽112上的導光結構120的第二凹槽122來提高微型發光元件100a的出光效率，進而提升其顯示品質。
綜上所述，在本發明的微型發光元件的設計中，導光結構具有對應磊晶結構層的部分第一凹槽的第二凹槽。藉此設計，可有效地提高微型發光元件的出光效率，進而提高應用此微型發光元件的微型發光元件顯示裝置的顯示品質。此外，本發明的微型發光元件結構的固定結構，其導光部配置於微型發光元件上且覆蓋部分頂表面及部分第一凹槽的內壁，而定義出對應部分第一凹槽的第二凹槽，藉此提升微型發光元件的出光效率。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
1:微型發光元件顯示裝置
10a、10b:微型發光元件結構
12、12’:固定結構
100a、100b、100c、100d:微型發光元件
110:磊晶結構層
110t:頂表面
110t1:第一部分
110t2:第二部分
110b:底表面
110s:周圍表面
1101:中央區
1102:周圍區
112、112’:第一凹槽
114:第一型半導體層
116:第二型半導體層
118:發光層
120:導光結構
120b:第一表面
120t:第二表面
122、122’:第二凹槽
124、124’:固定部
130:基板
140:緩衝層
150:顯示基板
E1:第一電極
E2:第二電極
T1:第一峰值
T2:第二峰值
D100a、D114、D120:厚度
D112、D122 、D112’、D122’:深度
W112、W122、W112’、W122’:寬度
P112、P122:間距
R:區域
圖1是本發明一實施例的一種微型發光元件的俯視示意圖。
圖2A是圖1的微型發光元件沿著線A-A’的剖面示意圖。
圖2B是圖2A的微型發光元件的區域R的放大示意圖。
圖2C是圖1的微型發光元件在一模擬實驗中角度與光強度的分佈曲線圖。
圖3是本發明的另一實施例的第一凹槽與第二凹槽局部放大示意圖。
圖4是本發明另一實施例的一種微型發光元件的俯視示意圖。
圖5是本發明又一實施例的一種微型發光元件的俯視示意圖。
圖6是本發明一實施例的一種微型發光元件結構的剖面示意圖。
圖7是本發明另一實施例的一種微型發光元件結構的剖面示意圖。
圖8是本發明又一實施例的一種微型發光元件結構的剖面示意圖。
圖9是本發明一實例的一種微型發光元件顯示裝置的剖面示意圖。
100a:微型發光元件
110:磊晶結構層
110t:頂表面
110t1:第一部分
110t2:第二部分
110b:底表面
112:第一凹槽
114:第一型半導體層
116:第二型半導體層
118:發光層
120:導光結構
120b:第一表面
120t:第二表面
122:第二凹槽
E1:第一電極
E2:第二電極
D100a、D114、D120:厚度
D112:深度
R:區域
Claims (17)
- 一種微型發光元件，包括： 一磊晶結構層，具有彼此相對的一頂表面與一底表面以及位於該頂表面的多個第一凹槽； 一第一型電極，配置於該磊晶結構層上，且位於該底表面； 一第二型電極，與該第一型電極彼此分離，配置於該磊晶結構層上，且位於該底表面；以及 一導光結構，配置於該磊晶結構層上，且覆蓋部分該頂表面及部分該些第一凹槽的內壁，而定義出對應部分該些第一凹槽的多個第二凹槽。
- 如申請專利範圍第1項所述的微型發光元件，其中該磊晶結構層包括： 一第一型半導體層，與該第一型電極電性連接，且具有該頂表面； 一第二型半導體層，與該第二型電極電性連接；以及 一發光層，位於該第一型半導體層與該第二型半導體層之間，其中該第一型半導體層的該頂表面相對遠離該發光層。
- 如申請專利範圍第2項所述的微型發光元件，其中該第一型半導體層的該頂表面具有一中央區與環繞該中央區的一周圍區，而該導光結構於該周圍區的覆蓋率大於該中央區的覆蓋率。
- 如申請專利範圍第2項所述的微型發光元件，其中各該第一凹槽的一深度與該第一型半導體層的一厚度的比值大於等於0.05且小於等於0.3。
- 如申請專利範圍第2項所述的微型發光元件，其中該導光結構具有彼此相對的一第一表面與一第二表面，該第一表面接觸該第一型半導體層，且該第一表面的均方根粗糙度大於該第二表面的均方根粗糙度。
- 如申請專利範圍第2項所述的微型發光元件，其中該第一型半導體層的該頂表面具有一第一部分與一第二部分，該導光結構接觸該第一部分，而該第二部分的均方根粗糙度大於該第一部分的均方根粗糙度。
- 如申請專利範圍第1項所述的微型發光元件，其中各該第一凹槽的一深度與該微型發光元件的發光波長的比值介於0.5至3，而各該第一凹槽的一寬度與該微型發光元件的發光波長的比值介於0.5至4，且任兩相鄰的該些第一凹槽之間的一間距與該微型發光元件的發光波長的比值介於1至5。
- 如申請專利範圍第1項所述的微型發光元件，其中各該第一凹槽的一第一深度大於對應的各該第二凹槽的一第二深度，且各該第一凹槽的一第一寬度大於對應的各該第二凹槽的一第二寬度。
- 如申請專利範圍第1項所述的微型發光元件，其中各該第一凹槽的一第一深度與對應的各該第二凹槽的一第二深度皆為大於等於10奈米且小於等於1200奈米。
- 如申請專利範圍第1項所述的微型發光元件，其中各該第一凹槽的一第一寬度與對應的各該第二凹槽的一第二寬度皆大於等於400奈米且小於等於2.2微米。
- 如申請專利範圍第1項所述的微型發光元件，其中任兩相鄰的該些第一凹槽的一第一間距與任兩相鄰的該些第二凹槽的一第二間距皆小於等於2.2微米且大於等於0.5微米。
- 如申請專利範圍第1項所述的微型發光元件，其中各該第一凹槽的剖面形狀包括圓弧狀、錐狀或平台狀。
- 如申請專利範圍第1項所述的微型發光元件，其中相鄰的該些第一凹槽的深度不同。
- 如申請專利範圍第1項所述的微型發光元件，其中該頂表面具有一中央區與環繞該中央區的一周圍區，該些第一凹槽在該頂表面的該中央區的分佈密度大於在該周圍區的分佈密度。
- 如申請專利範圍第1項所述的微型發光元件，其中該些第二凹槽與對應的該些第一凹槽共形設置。
- 一種微型發光元件結構，包括： 一基板； 至少一微型發光元件，配置於該基板上，且具有彼此相對的一頂表面與一底表面、位於該頂表面的多個第一凹槽以及位於該底表面且彼此分離的一第一型電極與一第二型電極；以及 至少一固定結構，包括至少一導光部以及至少一固定部，該導光部配置於該微型發光元件上，且覆蓋部分該頂表面及部分該些第一凹槽的內壁，而定義出對應部分該些第一凹槽的多個第二凹槽，而該固定部連接該導光部且延伸至該基板上。
- 一種微型發光元件顯示裝置，包括： 一線路基板；以及 至少一微型發光元件，配置於該線路基板上，該微型發光元件包括： 一磊晶結構層，具有彼此相對的一頂表面與一底表面以及位於該頂表面的多個第一凹槽； 一第一型電極，配置於該磊晶結構層上且位於該底表面，其中該第一型電極電性連接至該線路基板； 一第二型電極，與該第一型電極彼此分離，配置於該磊晶結構層上且位於該底表面，其中該第二型電極電性連接至該線路基板；以及 一導光結構，配置於該磊晶結構層上，且覆蓋部分該頂表面及部分該些第一凹槽的內壁，而定義出對應部分該些第一凹槽的多個第二凹槽。
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