TW201944584A - 用於形成直驅式微型led顯示器的系統及方法 - Google Patents
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Abstract
實施例係關於用於照明的系統及方法,且特定而言係關於與微型LED顯示器有關的系統及方法。
Description
相關申請案之交互參照
本申請案依據專利法主張2018年4月18日申請之美國臨時申請案第62/659365號之優先權權益,本申請案依賴該美國臨時申請案之內容且該美國臨時申請案之內容以引用之方式整體併入本文。
實施例係關於用於照明的系統及方法,且更特定而言係關於用於形成微型LED顯示器的系統及方法。
顯示器已藉由將發光二極體(light emitting diode; LED)裝配至印刷電路板之一側且將LED驅動器裝配於相同印刷電路板之相對側上加以製造。穿過印刷電路板鑽孔通孔,該等通孔允許自LED驅動器至LED的直接電氣連接。此佈置可見於標示顯示器上,該等標示顯示器由具有給定發光塊內之子像素節距之多個較小模組或發光塊組成,該等較小模組或發光塊跨於發光塊之邊界匹配以達成無縫外觀。此製造方法需要對印刷電路板通孔位置鑽孔。串列鑽孔在工具及時間方面成本日益提高,因為將要鑽孔的通孔之數目顯著地增加。
因此,出於至少前文提到的原因,在此項技術中需要用於製造顯示器的先進系統及方法。
實施例係關於用於照明的系統及方法,且更特定而言係關於用於形成微型LED顯示器的系統及方法。
此概述僅提供一些實施例之一般輪廓。短語「在一個實施例中」、「根據一個實施例」、「在各種實施例中」、「在一或多個實施例中」、「在特定實施例中」等通常意味該短語之後的特定特徵、結構,或特性包括在至少一個實施例中,且可包括在多於一個實施例中。重要地,此類短語不一定是指同一實施例。許多其他實施例將自以下詳細描述、所附申請專利範圍及伴隨圖式變得更充分地顯而易見。
實施例係關於用於照明的系統及方法,且更特定而言係關於用於形成微型LED顯示器的系統及方法。
各種實施例提供用於製造顯示器的方法。方法包括:提供玻璃基板,該玻璃基板具有多個貫穿孔通孔,該等多個貫穿孔通孔自玻璃基板之第一表面延伸至玻璃基板之第二表面;將導電材料層形成於玻璃基板之第一表面上,使得第一表面處的多個貫穿孔通孔中之開口經覆蓋;使多個貫穿孔通孔充滿電解質;相對於電解質給導電材料層充電,使得貫穿孔通孔充滿得自電解質的導電材料以得到多個電氣連接通孔;以及圖案化且蝕刻導電材料層以形成電氣跡線,該等電氣跡線連接至多個電氣連接通孔中之各別電氣連接通孔。如本文所使用,短語「導電材料」在其最廣泛意義上用來意指能夠導電的任何材料。作為一些實例,導電材料可為金屬。基於本文提供的揭示內容,此項技術中之一般技術者將認可關於不同實施例使用的各種導電材料。
在一些狀況下,填充貫穿孔通孔的導電材料不同於形成導電材料層的導電材料。在一些狀況下,填充貫穿孔通孔的導電材料與形成導電材料層的導電材料相同。在各種狀況下,填充貫穿孔通孔的導電材料為金屬,形成導電材料層的導電材料亦為金屬。在一個特定狀況下,填充貫穿孔通孔的導電材料及形成導電材料層的導電材料為銅。
在一些狀況下,提供玻璃基板包括:提供可光加工玻璃基板;形成設置在可光加工玻璃基板上的圖案遮罩,其中該圖案遮罩包括對應於多個貫穿孔通孔之位置的開口;藉由圖案遮罩暴露可光加工玻璃基板;以及蝕刻可光加工玻璃基板。蝕刻以相較於自可光加工玻璃基板之其他區域進行之移除更高的速率移除藉由圖案遮罩暴露的可光加工玻璃基板之部分,以得到具有自可光加工玻璃基板之第一表面延伸至可光加工玻璃基板之第二表面的多個貫穿孔通孔之玻璃基板。如本文所使用,短語「可光加工玻璃基板」在其最廣泛意義上用來意指可藉由包括暴露於光子能量的製程發生機械改變的任何玻璃片。作為一個實例,可光加工玻璃基板可由Coming™藉由開發的Fotoform™片形成。基於本文提供的揭示內容,此項技術中之一般技術者將認可關於本文所論述之不同實施例使用的各種可光加工玻璃。
在前文提到的實施例之一或多個情況下,方法進一步包括:將多個微型LED置放在玻璃基板之第二表面上;以及將多個微型LED中之每一個電氣地連接至電氣連接通孔中之一或多個。在一些此類情況下,自多個微型LED中之一個至多個微型LED中之另一個之距離小於八百微米(微米或μm)。在一或多個情況下,自多個微型LED中之一個至多個微型LED中之另一個之距離小於四百微米。在特定情況下,自多個微型LED中之一個至多個微型LED中之另一個之距離小於兩百微米。在一些狀況下,方法進一步包括藉由電氣連接通孔之子集將LED控制器裝置電氣地連接至多個微型LED之子集。如本文所使用,術語「微型LED」在其最廣泛意義上用來意指具有小於一毫米(1mm)之最大尺寸(亦即,高度尺寸或寬度尺寸)之任何發光二極體。
其他實施例提供直驅式LED顯示器。此類顯示器包括玻璃基板,該玻璃基板具有多個電氣連接,該等多個電氣連接自玻璃基板之第一表面延伸至玻璃基板之第二表面。多個微型LED設置在玻璃基板之第一表面附近,且LED控制器藉由延伸穿過玻璃基板的多個電氣連接電氣地連接至多個微型LED。如本文所使用,短語「LED顯示器」在其最廣泛意義上用來意指依賴於來自一或多個發光二極體之發射以提供顯示器的任何裝置、電路及/或或系統。此LED顯示器可併入例如可穿戴式裝置、行動電話、平板電腦、電視、指示牌,及包括顯示器的大量裝置中之任一者中。基於本文提供的揭示內容,此項技術中之一般技術者將認識本文揭示之實施例可適用的各種LED顯示器及該等LED顯示器之應用程式。如本文所使用,短語「直驅式」在其修改顯示器時在其最廣泛意義上用來意指任何顯示器,其中共用基板夾在光發元件層與控制器裝置或電路之間。此直驅式顯示器提供前文提到的控制器裝置或電路與發光元件之間的簡單連接圖案。
在前文提到的實施例之一些情況下,自多個微型LED中之一個至多個微型LED中之另一個之距離小於八百微米。在更特定情況下,自多個微型LED中之一個至多個微型LED中之另一個之距離小於四百微米。在仍更特定情況下,自多個微型LED中之一個至多個微型LED中之另一個之距離小於兩百微米。
在前文提到的實施例之各種情況下,玻璃基板係由可光加工玻璃製成。在前文提到的實施例之一或多個情況下,顯示器進一步包括再分佈層,該再分佈層由導電材料形成且設置在LED控制器與玻璃基板之間。在一些此類情況下,延伸穿過玻璃基板的多個電氣連接充滿使用於再分佈層的相同導電材料。在一些狀況下,導電材料為金屬。在特定狀況下,導電材料為銅。
其他實施例提供用於製造直驅式LED顯示器的方法。方法包括:提供玻璃基板,該玻璃基板具有多個貫穿孔通孔,該等多個貫穿孔通孔自玻璃基板之第一表面延伸至玻璃基板之第二表面;將導電材料層形成於玻璃基板之第一表面上,使得第一表面處之多個貫穿孔通孔中之開口經覆蓋,其中導電材料層係由導電材料製成;藉由以電解質填充多個貫穿孔通孔且相對於電解質給導電材料層充電使得貫穿孔通孔充滿得自電解質的導電材料以得到多個電氣連接通孔,將多個貫穿孔通孔中之每一個自導電材料層電鍍至玻璃基板之第二表面;圖案化且蝕刻導電材料層以形成電氣跡線,該等電氣跡線連接至多個電氣連接通孔中之各別電氣連接通孔;將多個微型LED置放在玻璃基板之第一表面上;以及使用電氣跡線及多個電氣連接通孔將設置在玻璃基板之第二表面上的微型LED控制器電氣地連接至多個微型LED。
轉向第1a圖,根據一些實施例示出直驅式LED顯示器100之一部分,該直驅式LED顯示器包括裝配於可光加工玻璃基板150上的微型LED 180及將微型LED 180附接至LED控制器183的網間連結(電氣連接通孔152、154及再分佈層跡線162、164)。第1a圖中所示的是較大直驅式LED顯示器之一部分。儘管在圖中示出僅一個微型LED 180、兩個電氣連接通孔152、154,及一個LED控制器183,但根據各種實施例之直驅式LED顯示器可包括高達數百萬個微型LED、對應數目的電氣連接允許至微型LED中每一個之連接,及高達數千個LED控制器。部分地由於可與本文所論述之製程相結合地使用可光加工玻璃基板150成本有效地產生的電氣連接之密度,當與先前技術印刷電路板方法相比時,可大大地增加電氣連接之密度。可使用本文所論述之實施例達成的電氣連接之密度可比使用印刷電路板技術達成的電氣連接之密度大四十或更多倍。作為一個實例,三百七十五微米(375μm)之像素節距在本文所論述之本發明之範圍內。此375μm像素節距允許例如4K 65吋直驅式LED顯示器之實現。作為比較,本文所揭示之實施例能夠實現超過可使用當前印刷電路板技術達成的四十(40)倍的LED安置密度。此外,與需要串列(或至少部分地串列)鑽孔製程以形成電氣連接通孔的基於印刷電路板之顯示裝置相反,與一些實施例一致的方法提供平行形成極大量的電氣連接通孔。
在一些實施例中,直驅式LED顯示器100展現小於八百微米(800μm)之像素節距。在其他實施例中,直驅式LED顯示器100展現小於四百微米(400μm)之像素節距。在其他實施例中,直驅式LED顯示器100展現小於兩百微米(200μm)之像素節距。
直驅式LED顯示器100提供足以連接跨於每個微型LED 180的選擇性地施加的電壓的電氣連接通孔152、154。如第1a圖中所示,此可包括用於每個微型LED 180的兩個或更多個電氣連接通孔152、154。替代地,所提供的電氣連接通孔可包括專用於每個微型LED 180的單個電氣連接通孔及在如第1b圖之直驅式LED顯示器600中所示的多個微型LED之子集之間共享的另一電氣連接通孔,該子集包括兩個微型LED 180a、180b,該兩個微型LED各自分別藉由專用電氣連接通孔154a、154b,及共享電氣連接通孔152服務。作為另一替代性方案,所提供的電氣連接通孔可包括專用於每個微型LED 180的單個電氣連接通孔,其中至微型LED 180之相對層之連接係藉由沉積且圖案化於可光加工玻璃基板150之頂部表面上的佈線平面提供(未示出的實例)。
微型LED 180包括第一半導體材料層182及第二半導體材料層186,並且多重量子井184夾在兩個半導體材料層之間。半導體材料層182包括p型摻雜半導體材料或n型摻雜半導體材料,且半導體材料層186包括與層182中相對類型的半導體材料。因而,在半導體材料層182包括p型摻雜半導體材料的情況下,半導體材料層186包括n型摻雜半導體材料。替代地,在半導體材料層182包括n型摻雜半導體材料的情況下,半導體材料層186包括p型摻雜半導體材料。作為一個特定實例,在藍色微型LED中,半導體材料層182為n型摻雜GaN (n-GaN),且半導體材料層186包括無摻雜GaN之底部層及p型摻雜GaN (p-GaN)之上層。多重量子井184包括:氮化銦鎵(InGaN)及GaN之交替層之區段,及p型摻雜氮化鋁鎵(p-AlGaN)之過渡層。在一個特定實施例中,半導體材料層182為十分之二微米(0.2μm)厚,半導體材料層186為四點五微米(4.5μm)厚,並且無摻雜GaN之底部層為兩微米(2μm)厚且p-GaN之上層為二點五微米(2.5μm)厚。微型LED之最大寬度小於五十微米(50μm)。
在操作中,將電壓差別地施加至半導體材料182及半導體材料186,從而導致電洞自p型摻雜半導體材料注入且電子自n型摻雜半導體材料注入至多重量子井184中。在電子及電洞重新組合時,自多重量子井184發射對應的光能之光子,從而導致來自微型LED 180之光發射。
應注意,關於第1a圖所論述之微型LED 180僅為實例,且此項技術中之一般技術者將認可關於不同實施例使用的各種微型LED。在一些狀況下,關於本文所論述之實施例使用的微型LED在寬度上小於兩百微米(200μm)且在高度(亦即,層182、184、186之高度之組合)上小於三十微米(30μm)。在其他狀況下,關於本文所論述之實施例使用的微型LED在寬度上小於一百微米(100μm)且在高度(亦即,層182、184、186之高度之組合)上小於二十微米(20μm)。在其他狀況下,關於本文所論述之實施例使用的微型LED在寬度上小於五十微米(50μm)且在高度(亦即,層182、184、186之高度之組合)上小於十二微米(12μm)。
微型LED 180藉由焊接至半導體材料層186之底部表面上之接點(未示出)電氣地連接至包含電氣連接通孔154的導電材料,且藉由由半導體材料層182之頂部表面上之接點(未示出)形成導電跡線192電氣地連接至包含電氣連接通孔的導電材料,該半導體材料層藉由絕緣材料194與微型LED180之部分絕緣。在一些狀況下,絕緣材料194為二氧化矽(SiO2
),且導電跡線192由金屬製成。基於本文提供的揭示內容,此項技術中之一般技術者將瞭解創造根據不同實施例之所揭示連接的各種材料及用於形成該等材料的製程。此外,儘管用於微型LED 180的接點展示於微型LED 180之相對側上,但不同實施例可使用展現可由與半導體材料層182及半導體材料層186兩者相同側形成的接點的微型LED。
再分佈層160形成於與微型LED 180之側相對的可光加工玻璃基板150之側上。再分佈層160包括若干跡線162、164,該等跡線經形成以將電氣連接通孔152、154中之導電材料電氣地連接至LED控制器183上之各別接點位置。在一些實施例中,用來形成再分佈層160之跡線162、164的導電材料為用來形成電氣連接通孔152、154的相同導電材料。在一個特定狀況下,用來形成電氣連接通孔152、154及再分佈層160之跡線162、164兩者的導電材料為銅。基於本文提供的揭示內容,此項技術中之一般技術者將認可關於不同實施例使用的其他導電材料。
LED控制器183可為能夠選擇性地驅動或供電至包括在直驅式LED顯示器100中的一或多個微型LED的任何電路、裝置或系統。例如,LED控制器183可為係可獲得為積體電路的四十八通道LED驅動器的Texas Instruments™ TLC5958。基於本文提供的揭示內容,此項技術中之一般技術者將認可關於不同實施例使用的各種LED控制器。
轉向第2圖,流程圖300示出根據各種實施例之用於製造直驅式LED顯示器的方法。遵循流程圖300,形成玻璃基板,該玻璃基板包括用於直驅式LED連接之位置處的貫穿孔通孔(方塊305)。此製程之一個實例在第3圖之流程圖400中示出。遵循流程圖400,提供可光加工玻璃基板(方塊405)。在一些特定狀況下,可光加工玻璃基板為FotoformTM
。基於本文提供的揭示內容,此項技術中之一般技術者將認可關於不同實施例使用的其他可光加工玻璃基板。將光遮罩形成於可光加工玻璃基板之上或置放於可光加工玻璃基板上(方塊410)。光遮罩包括貫穿孔通孔將形成於可光加工玻璃基板中所在的位置處的開口。在一些實施例中,可藉由將遮罩材料施加至可光加工玻璃基板之表面,及隨後圖案化且蝕刻遮罩材料以製作可光加工玻璃基板中之貫穿孔通孔將形成的位置處的開口形成光遮罩。在其他實施例中,可藉由將材料層施加在可光加工玻璃基板之表面之上形成光遮罩,其中材料層包括可光加工玻璃基板之表面藉以暴露的開口。此光遮罩之實例在第5a圖中展示為部分完成的直驅式LED顯示器101,其中光遮罩130形成於可光加工玻璃基板150之表面上。光遮罩130包括可光加工玻璃基板之表面藉以暴露的開口132、134。開口132對應於以上關於第1a圖所論述的電氣連接通孔152之位置,且開口134對應於電氣連接通孔154之位置。值得注意的是,可對光遮罩130做出各種修改,包括但不限於光遮罩130可以透明玻璃基板替換,該透明玻璃基板上形成有圖案化鉻以限定開口132、134。
應注意,可關於不同實施例使用未必直接形成於可光加工玻璃基板上的光遮罩。例如,用來圖案化可光加工玻璃基板的光罩可為構建在該光罩之自有玻璃基板上的分離物件而非圖案化於可光加工玻璃基板自身上的遮罩。基於本文提供的揭示內容,此項技術中之一般技術者將認可關於不同實施例使用的各種光遮罩。
返回至第3圖之流程圖400,藉由光遮罩使可光加工玻璃基板暴露於光子能量(方塊415)。在一些實施例中,光子能量為紫外光。在暴露之後,移除光遮罩(方塊420)。光遮罩之此移除可取決於光遮罩及可光加工玻璃基板兩者之特定特性而藉由化學或機械手段進行。加熱暴露的可光加工玻璃基板以使暴露的區部顯影(方塊425)。使可光加工玻璃基板之部分暴露於光子能量及熱之組合導致對化學蝕刻更敏感的暴露部分。在光遮罩之移除之後的暴露的可光加工玻璃基板之實例在第5b圖中展示為部分完成的直驅式LED顯示器102,其中顯影的區部136、138在可光加工玻璃基板150內示出。顯影的區部136對應於以上關於第1a圖所論述之電氣連接通孔152之位置,且顯影的區部138對應於電氣連接通孔154之位置。
繼續第3圖之流程圖400,將可光加工玻璃基板置放在濕潤蝕刻溶液中,該濕潤蝕刻溶液以比自非暴露區部移除的彼材料高得多的速率自可光加工玻璃基板之暴露部分移除材料(方塊430)。在完成前文提到的濕潤蝕刻製程之後,貫穿孔通孔存在於暴露位置處,從而導致包括用於直驅式LED連接之位置處的貫穿孔通孔的玻璃基板。基板之暴露部分之移除之後的暴露可光加工玻璃基板之實例在第5c圖中展示為部分完成的直驅式LED顯示器103,其中示出延伸穿過可光加工玻璃基板150的貫穿孔通孔137、139。貫穿孔通孔137對應於以上關於第1a圖所論述之電氣連接通孔152之位置,且貫穿孔通孔139對應於電氣連接通孔154之位置。
繼續第2圖之流程圖300,藉由使貫穿孔通孔充滿導電材料且圖案化形成於玻璃基板之一側上的來自導電材料之再分佈層,形成電氣網間連結(方塊310)。在一些實施例中,形成於貫穿孔通孔中的導電材料與形成再分佈層的導電材料相同。在一個特定狀況下,形成於貫穿孔通孔中的導電材料及形成再分佈層的導電材料兩者為銅。相同材料對於導電層及填充貫穿孔通孔兩者之使用導致稍後形成的再分佈跡線與電氣連接通孔之間的強結合。
以上關於第2圖之方塊310所論述的形成網間連結之製程之一個實例在第4圖之流程圖500中示出。遵循流程圖500,將導電材料層附接至玻璃基板之一側,該一側包括用於直驅式LED連接之位置處的貫穿孔通孔(方塊505)。此導致前文提到的貫穿孔通孔中之每一個之一側藉由導電材料層覆蓋。在一些實施例中,藉由將導電材料之薄片膠合至玻璃基板之一側進行附接導電材料層。在其他實施例中,藉由將導電材料沉積於玻璃基板之一側上使得該導電材料形成導電材料之層進行附接導電材料層。任何形式的沉積可用來將導電層形成於玻璃基板上。在一個特定實施例中,導電材料層為銅層。基於本文提供的揭示內容,此項技術中之一般技術者將認可選擇來形成導電材料層的各種導電材料。導電層之附接之後的可光加工玻璃基板之實例在第5d圖中展示為部分完成的直驅式LED顯示器104,其中導電層140附接至可光加工玻璃基板150,使得該導電層覆蓋通向貫穿孔通孔137、139中之每一個之一個開口。
繼續第4圖之流程圖500,將玻璃基板及所附接導電材料層之組合置放於電解質浴中,使得貫穿孔通孔充滿電解質(方塊510)。關於各種實施例,任何製程可用來將電解質置放成與玻璃基板及所附接導電材料層之組合接觸,只要該製程導致電解質填充玻璃基板中之貫穿孔通孔。在不需要導電材料層之相對表面(亦即,遠離玻璃基板的表面)之電鍍的一些狀況下,將玻璃基板及所附接導電材料層之組合置放於電解質浴中,使得導電材料層之相對表面未由電解質包圍。電解質包括導電材料之離子。作為貫穿孔通孔將充滿銅的一實例,電解質可包括例如硫酸銅。如以上提到的,在一些狀況下導電材料層由併入電解質中的相同材料製成,導致最終形成在導電材料層與電解質中之類似材料之間的尤其強的結合。此強結合使得稍後難以移除對應於貫穿孔通孔的位置處之導電材料層。玻璃基板及具有充滿電解質的貫穿孔通孔之所附接導電材料層之組合之實例在第5e圖中展示為部分完成的直驅式LED顯示器105,其中電解質142覆蓋可光加工玻璃基板150之一個表面且填充先前形成的貫穿孔通孔。
繼續第4圖之流程圖500,相對於導電材料層給電解質充電,使得導電材料之粒子自電解質減少且將導電材料層附接(電鍍在該導電材料層上)在每個貫穿孔通孔內(方塊515)。在電解質中之導電材料離子減少時,導電材料之粒子在電子自導電材料層釋放時經形成。給電解質充電可包括例如將電極引入電解質中並將相對電極附接至導電材料層,使得形成足以使電子自導電材料層釋放的電壓電勢。引入電解質的電極及/或附接至導電材料層的電極可由任何導電材料製造。
前文提到的製程導致起始於各別貫穿孔通孔之底部(亦即,最接近於導電材料層的貫穿孔通孔之側)且繼續直至貫穿孔通孔中之每一個充滿自電解質減少的導電材料,而將自電解質減少的導電材料之粒子沉積至貫穿孔通孔中之每一個中。一旦貫穿孔通孔經填充,則移除電壓電勢且自玻璃基板及所附接導電材料之組合移除電解質。在一些狀況下,使用去離子水或經設計以移除電解質的其他溶液之淋洗清潔玻璃基板及所附接導電材料層之組合。另外,可乾燥玻璃基板及所附接導電材料層之組合。現充滿導電材料的貫穿孔通孔在本文中稱為電氣連接通孔。
部分地充滿自電解質減少的沉積於每個貫穿孔通孔之底部處的導電材料之粒子的貫穿孔通孔之實例在第5f圖中展示為部分完成的直驅式LED顯示器106。第5f圖示出貫穿孔通孔中之每一個內的實心黑色區域表示以導電材料之粒子電鍍於沿貫穿孔通孔中的每一個向上延伸約一半長度的導電層140上。貫穿孔通孔完全充滿沉積在每個貫穿孔通孔之底部處的來自電解質的導電材料的粒子的製程的稍後階段的實例在第5g圖中展示為部分完成的直驅式LED顯示器107。第5g圖示出貫穿孔通孔中之每一個內的實心黑色區域表示以導電材料之粒子電鍍於一直向上延伸至貫穿孔通孔中之每一個中的導電層140上。
返回至第4圖之流程圖500,在玻璃基板相對的導電材料層之表面上圖案化且顯影光罩材料以限定再分佈層遮罩(方塊520)。此再分佈層遮罩限定將保留來提供電氣跡線的導電材料層之部分,該等電氣跡線將電氣連接通孔與LED控制器裝置或電路上之電氣接點連接。可關於本文所論述之實施例使用此項技術中已知的用於此再分佈層遮罩的任何製程。設置於導電層上的再分佈層遮罩之實例在第5h圖中展示為部分完成的直驅式LED顯示器108。第5h圖示出覆蓋導電層140之一個表面之一部分的再分佈層遮罩144。
返回至第4圖之流程圖500,在再分佈層遮罩處於適當位置的情況下,使用對導電材料層選擇性的蝕刻材料濕潤蝕刻玻璃基板、所附接導電材料層,及再分佈層遮罩之組合(方塊525)。在一些狀況下,與導電材料層之側相對的玻璃基板之側藉由遮罩層完全覆蓋以保護形成於貫穿孔通孔中的導電材料,而再分佈層經自導電材料層蝕刻出。蝕刻製程得到由來自導電材料層之材料形成的若干跡線,其中跡線一起形成再分佈層,該再分佈層提供LED控制器上之所要的接點與電氣連接通孔中之各別一個之間的電氣接點。後蝕刻再分佈層之實例在第5i圖中展示為部分完成的直驅式LED顯示器109。第5i圖僅示出剩餘作為跡線162、164的藉由再分佈層遮罩144保護的導電層140之部分。繼續第4圖之流程圖500,隨後使用主要對再分佈層遮罩有選擇性的任何製程剝離再分佈層遮罩(方塊530)。在再分佈層遮罩之移除之後的實例在第5j圖中展示為部分完成的直驅式LED顯示器110。具體而言,第5j圖僅示出組成連接至電氣連接通孔152、154的再分佈層之部分的跡線162、164。第5k圖為部分完成的直驅式LED顯示器199的俯視圖,該部分完成的直驅式LED顯示器具有若干電氣連接通孔152、154中之每一個(分別標記為152a、152b、152c、152d、154a、154b、154c、154d),該等電氣連接通孔各自具有直徑193及間隔195。
再次轉向第2圖之流程圖300,將微型LED置放於再分佈層相對的玻璃基板之側上,且將微型LED電氣地連接至形成於電氣連接通孔中之各別一個中的導電材料(方塊315)。在貫穿孔通孔之位置處電氣地連接微型LED之此製程可使用此項技術中已知的任何連接製程進行。例如,可將焊料置放在貫穿孔通孔中之每一個中的導電材料頂部上,且將微型LED置放在貫穿孔通孔中之各別一個之上。玻璃基板、再分佈層,及微型LED之組合經加熱以使焊料熔化,從而導致在貫穿孔通孔中之各別一個處之至微型LED之電氣連接。額外遮罩及沉積製程可用來形成電氣跡線及對應的絕緣材料,從而允許朝貫穿孔通孔中之一些之位置連接至微型LED上之頂部接點。
一或多個LED控制器上之電氣接點電氣地連接至再分佈層之各別跡線,使得一或多個LED控制器在貫穿孔通孔之位置處藉由玻璃基板電氣地連接微型LED (方塊315)。將一或多個LED控制器電氣地連接至再分佈層上之跡線的此製程可使用此項技術中已知的任何連接製程進行。例如,可使用焊接製程。
總之,本文論述用於直驅式LED燈的各種新穎系統、裝置、方法及佈置。儘管以上已給出一或多個實施例之詳細描述,但熟習此項技術者將在不偏離本發明之精神的情況下顯而易見各種替代性方案、修改,及等效物。因此,以上描述不應被視為限制藉由所附申請專利範圍限定的本發明之範疇。
100‧‧‧直驅式LED顯示器
101~110、199‧‧‧部分完成的直驅式LED顯示器
130‧‧‧光遮罩
132、134‧‧‧開口
136、138‧‧‧顯影的區部
137、139‧‧‧貫穿孔通孔
140‧‧‧導電層
142‧‧‧電解質
144‧‧‧再分佈層遮罩
150‧‧‧可光加工玻璃基板
152、154、152a、152b、152c、152d、154a、154b、154c、154d‧‧‧電氣連接通孔
154a、154b‧‧‧專用電氣連接通孔
160‧‧‧再分佈層
162、164、164a、164b‧‧‧再分佈層跡線
180、180a、180b‧‧‧微型LED
182‧‧‧第一半導體材料層
182a、182b‧‧‧半導體材料層
183‧‧‧LED控制器
184‧‧‧多重量子井
186‧‧‧第二半導體材料層
186a、186b‧‧‧半導體材料層
192‧‧‧導電跡線
193‧‧‧直徑
194、194a、194b‧‧‧絕緣材料
195‧‧‧間隔
300、400、500‧‧‧流程圖
305~320、405~430、505~530‧‧‧方塊
600‧‧‧直驅式LED顯示器
可藉由參考在說明書之剩餘部分中描述的圖式實現對各種實施例之進一步理解。在圖式中,相同元件符號在數個圖式中用來表示類似部件。在一些情況下,由小寫字母組成的子標籤與元件符號相關聯以表示多個類似部件中之一個。當在沒有對現有子標籤之說明的情況下參考元件符號時,該元件符號意欲表示所有此類多個類似部件。
第1a圖至第1b圖示出根據一些實施例之各自包括一或多個微型LED的示例性直驅式LED顯示器部分,該一或多個微型LED裝配於可光加工玻璃基板上及將微型LED附接至LED控制器的網間連結;
第2圖為示出根據各種實施例之用於製造直驅式LED顯示器的方法的流程圖;
第3圖為示出根據一些實施例之用於形成玻璃基板的方法的流程圖,該玻璃基板包括用於直驅式LED連接之位置處的貫穿孔通孔。
第4圖為示出根據一或多個實施例之用於形成網間連結的方法的流程圖,該方法包括貫穿孔通孔及圖案化再分佈層之填充;以及
第5a圖至第5k圖示出根據一些實施例之可單獨地或以組合方式用來製造第1a圖之直驅式LED顯示器的各種處理步驟。
國內寄存資訊 (請依寄存機構、日期、號碼順序註記)
無
無
國外寄存資訊 (請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記)
無
無
Claims (21)
- 一種用於製造一顯示器的方法,該方法包含以下步驟: 將一導電材料層形成於一玻璃基板之一第一表面上,使得自該第一表面延伸至該玻璃基板之一第二表面的多個貫穿孔通孔中之開口經覆蓋,其中該導電材料層係由一第一導電材料製成; 使該等多個貫穿孔通孔充滿一電解質; 相對於該電解質給該導電材料層充電,使得該等貫穿孔通孔至少部分地充滿得自該電解質的一第二導電材料,以得到多個電氣連接通孔;以及 圖案化且蝕刻該導電材料層以形成電氣跡線,該等電氣跡線連接至該等多個電氣連接通孔中之各別電氣連接通孔。
- 如請求項1所述之方法,其中提供該玻璃基板包含以下步驟: 提供一可光加工玻璃基板; 形成設置在該可光加工玻璃基板上的一圖案遮罩,其中該圖案遮罩包括對應於該等多個貫穿孔通孔之位置的開口;以及 藉由該圖案遮罩暴露該可光加工玻璃基板; 蝕刻該可光加工玻璃基板,其中該蝕刻以相較於自該可光加工玻璃基板之其他區域進行之移除更高的一速率移除藉由該圖案遮罩暴露的該可光加工玻璃基板之部分,以得到具有自該可光加工玻璃基板之該第一表面延伸至該可光加工玻璃基板之該第二表面的多個貫穿孔通孔之該玻璃基板。
- 如請求項1所述之方法,其中該第一導電材料與該第二導電材料相同。
- 如請求項1所述之方法,其中該第一導電材料為一第一金屬,且其中該第二導電材料為一第二金屬。
- 如請求項1所述之方法,其中該第一導電材料為銅,且其中該第二導電材料為銅。
- 如請求項1所述之方法,該方法進一步包含以下步驟: 將多個微型LED置放在該玻璃基板之該第二表面上;以及 將該等多個微型LED中之每一個電氣地連接至該等電氣連接通孔中之一或多個。
- 如請求項6所述之方法,其中自該等多個微型LED中之一個至該等多個微型LED中之另一個之一距離小於八百微米。
- 如請求項6所述之方法,其中自該等多個微型LED中之一個至該等多個微型LED中之另一個之一距離小於四百微米。
- 如請求項6所述之方法,其中自該等多個微型LED中之一個至該等多個微型LED中之另一個之一距離小於兩百微米。
- 如請求項6所述之方法,其中該方法進一步包含以下步驟:藉由該等電氣連接通孔之一子集將一LED控制器裝置電氣地連接至該等多個微型LED之一子集。
- 如請求項1所述之方法,其中該方法進一步包含以下步驟:提供該玻璃基板,該玻璃基板包括多個貫穿孔通孔,該等多個貫穿孔通孔自該玻璃基板之一第一表面延伸至該玻璃基板之一第二表面。
- 一種直驅式LED顯示器,該顯示器包含: 一玻璃基板,包括多個電氣連接,該等多個電氣連接自該玻璃基板之一第一表面延伸至該玻璃基板之一第二表面; 多個微型LED,設置在該玻璃基板之該第一表面附近;以及 一LED控制器,藉由延伸穿過該玻璃基板的該等多個電氣連接電氣地連接至該等多個微型LED。
- 如請求項12所述之顯示器,其中自該等多個微型LED中之一個至該等多個微型LED中之另一個之一距離小於八百微米。
- 如請求項12所述之顯示器,其中自該等多個微型LED中之一個至該等多個微型LED中之另一個之一距離小於四百微米。
- 如請求項12所述之顯示器,其中自該等多個微型LED中之一個至該等多個微型LED中之另一個之一距離小於兩百微米。
- 如請求項12所述之顯示器,其中該玻璃基板係由一可光加工玻璃製成。
- 如請求項12所述之顯示器,其中該顯示器進一步包含: 一再分佈層,由一導電材料形成且設置在該LED控制器與該玻璃基板之間。
- 如請求項17所述之顯示器,其中延伸穿過該玻璃基板的該等多個電氣連接充滿使用於該再分佈層的該相同導電材料。
- 如請求項18所述之顯示器,其中該導電材料為一金屬。
- 如請求項18所述之顯示器,其中該導電材料為銅。
- 一種用於製造一直驅式LED顯示器的方法,該方法包含以下步驟: 提供一玻璃基板,該玻璃基板包括多個貫穿孔通孔,該等多個貫穿孔通孔自該玻璃基板之一第一表面延伸至該玻璃基板之一第二表面; 將一導電材料層形成於該玻璃基板之該第一表面上,使得該第一表面處之該等多個貫穿孔通孔中之開口經覆蓋,其中該導電材料層係由一導電材料製成; 藉由以一電解質填充該等多個貫穿孔通孔且相對於該電解質給該導電材料層充電使得該等貫穿孔通孔充滿得自該電解質的該導電材料以得到多個電氣連接通孔,將該等多個貫穿孔通孔中之每一個自該導電材料層電鍍至該玻璃基板之該第二表面; 圖案化且蝕刻該導電材料層以形成電氣跡線,該等電氣跡線連接至該等多個電氣連接通孔中之各別電氣連接通孔; 將多個微型LED置放在該玻璃基板之該第一表面上;以及 使用該等電氣跡線及該等多個電氣連接通孔將設置在該玻璃基板之該第二表面上的一微型LED控制器電氣地連接至該等多個微型LED。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023000369A1 (zh) * | 2021-07-22 | 2023-01-26 | 惠州华星光电显示有限公司 | 发光二极管面板及拼接面板 |
Families Citing this family (1)
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Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US9367094B2 (en) * | 2013-12-17 | 2016-06-14 | Apple Inc. | Display module and system applications |
KR102391793B1 (ko) * | 2014-10-03 | 2022-04-28 | 니혼 이타가라스 가부시키가이샤 | 관통 전극이 달린 유리 기판의 제조 방법 및 유리 기판 |
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Cited By (1)
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WO2023000369A1 (zh) * | 2021-07-22 | 2023-01-26 | 惠州华星光电显示有限公司 | 发光二极管面板及拼接面板 |
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WO2019204207A1 (en) | 2019-10-24 |
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