TW201804463A - 再生裝置及再生方法 - Google Patents

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齊藤公博
堀籠俊宏
関口浩司
黒川光太郎
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新力股份有限公司
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Abstract

再生裝置，係具備有：再生訊號產生電路，係計算出身為藉由第1受光元件所得到的第1受光訊號和藉由第2受光元件所得到的第2受光訊號之間之差分之第1差分訊號a、和身為藉由第3受光元件所得到的第3受光訊號和藉由第4受光元件所得到的第4受光訊號之間之差分之第2差分訊號b，並使用第1差分訊號a、第2差分訊號b、串擾(cross talk)量與訊號光之平均相位之相位差Ψ、以及訊號光與參照光之光路長差θ，而進行a．sin(Ψ-θ(t))-b．cos(Ψ-θ(t))之演算並得到再生訊號；和相位抽出電路，係求取出θ之逐次變化量△θ，並藉由逐次變化量△θ來對於θ作更新。

Description

再生裝置及再生方法
本發明，係有關於為了再生光碟等之光媒體所適用的再生裝置及再生方法。
例如當再生多層光碟的情況時，會發生訊號光量之降低，在訊號之讀取中而發生錯誤的可能性係變高。為了解決此問題，利用光之干涉而將檢測訊號作放大的同差檢測法(homodyne detection)係為周知(參照專利文獻1)。
在專利文獻1中，作為對於使訊號光與參照光作了干涉之光而進行檢波的同差方式，係構成為針對將相位差設為各有90度之差異之4個的訊號光、參照光之組而進行檢波。具體而言，係為針對相位差分別被設為0度、90度、180度、270度之訊號光、參照光之組，而分別進行檢波者。此些之各檢波，係藉由將關連於使訊號光與參照光作了干涉之光的光強度分別檢測出來，而進行之。
進而，在專利文獻2中，係記載有一種用以成為就算是將受光元件和放大器作了AC耦合的情況時亦可將訊號正確地作再生之訊號處理。進而，在專利文獻3 中，係記載有一種對於在岸(LAND)和溝(GROOVE)之雙方處而被記錄有訊號的光碟而適用同差方式之再生裝置。
在同差方式中，係可將因應於參照光之光強度而被作了放大的訊號光之成分，作為再生訊號而得到之。藉由如此這般地使訊號光被作放大，係能夠改善再生訊號之SNR。又，所得到的再生訊號，係成為不會受到訊號光與參照光之相位差之影響者，而能夠成為不需要進行光路長度差調整(所謂的光路長度伺服)。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]日本特許第4564948號公報
[專利文獻2]日本特開2013-54801號公報
[專利文獻3]日本特開2014-32728號公報
專利文獻2，係為針對下述問題作解決者：亦即是，由於DC成分，相對於AC成分，其之振幅係為非常大，因此，若是對於放大器之動態範圍作考慮，則係無法將真正想要檢測出的AC成分之放大率有效地提高。在專利文獻2中，係藉由進行AC耦合，而成為能夠針對AC成分單體進行放大。
在專利文獻3中，係從藉由低通濾波器所得到的訊號來將sinθ、cosθ之成分抽出，並使用此些之值，來抽出參照光之相位偏移θ。然而，使用有低通濾波器之手法，由於雜訊之帶域係為廣，因此係有著會起因於雜訊進入至了再生訊號之帶域中等的理由而導致無法得到所期望之改善效果的問題。
故而，本技術之目的，係在於提供一種在採用同差檢測方式的同時，亦能夠將相位偏移以良好精確度來抽出的再生裝置以及再生方法。
本技術，係為一種再生裝置，其特徵為，係具備有：光學系，係對於在岸(LAND)及溝(GROOVE)之雙方處被記錄有訊號的記錄媒體，而照射藉由光源所發出之光並得到反映有岸和溝之記錄訊號的雙方之訊號光，並且根據藉由光源所發出之光而產生參照光，再相對於將訊號光和參照光作了重合的重合光，而分別產生賦予了略0°之相位差之第1訊號光與參照光之組、和賦予了略180°之相位差之第2訊號光與參照光之組、和賦予了略90°之相位差之第3訊號光與參照光之組、以及賦予了略270°之相位差之第4訊號光與參照光之組；和受光部，係藉由第1受光元件而受光第1訊號光與參照光之組，並藉由第2受光元件而受光第2訊號光與參照光之組，並藉由第3受光元件而受光第3訊號光與參照光之組，並且藉由第4受光元件而受光第 4訊號光與參照光之組；和再生訊號產生電路，係計算出身為藉由第1受光元件所得到的第1受光訊號和藉由第2受光元件所得到的第2受光訊號之間之差分之第1差分訊號a、和身為藉由第3受光元件所得到的第3受光訊號和藉由第4受光元件所得到的第4受光訊號之間之差分之第2差分訊號b，並使用第1差分訊號a、第2差分訊號b、串擾(cross talk)量與訊號光之平均相位之相位差Ψ、以及訊號光與參照光之光路長度差θ，而進行a．sin(Ψ-θ(t))-b．cos(Ψ-θ(t))之演算並得到再生訊號；和相位抽出電路，係求取出θ之逐次變化量△θ，並藉由逐次變化量△θ來對於θ作更新。
本技術，係為一種再生方法，其特徵為：係對於在岸及溝之雙方處被記錄有訊號的記錄媒體，而照射藉由光源所發出之光並得到反映有岸和溝之記錄訊號的雙方之訊號光，並且根據藉由光源所發出之光而產生參照光，再相對於將訊號光和參照光作了重合的重合光，而藉由光學系來分別產生賦予了略0°之相位差之第1訊號光與參照光之組、和賦予了略180°之相位差之第2訊號光與參照光之組、和賦予了略90°之相位差之第3訊號光與參照光之組、以及賦予了略270°之相位差之第4訊號光與參照光之組；藉由第1受光元件而受光第1訊號光與參照光之組，並藉由第2受光元件而受光第2訊號光與參照光之組，並藉由第3受光元件而受光第3訊號光與參照光之組，並且藉由第4受光元件而受光第4訊號光與參照光之組；計算出身為藉由第1受光元件所得到的第1受光訊號和藉由第2受光元件所 得到的第2受光訊號之間之差分之第1差分訊號a、和身為藉由第3受光元件所得到的第3受光訊號和藉由第4受光元件所得到的第4受光訊號之間之差分之第2差分訊號b，並使用第1差分訊號a、第2差分訊號b、串擾(cross talk)量與訊號光之平均相位之相位差Ψ、以及訊號光與參照光之光路長度差θ，而進行a．sin(Ψ-θ(t))-b．cos(Ψ-θ(t))之演算並得到再生訊號；求取出θ之逐次變化量△θ，並藉由逐次變化量△θ來對於θ作更新。
若依據至少1個的實施形態，則係能夠將岸/溝記錄方式之光記錄媒體使用同差檢測方法而良好地再生。在本技術中，相較於使差分訊號通過低通濾波器而求取出參照光之位相θ的方法，回應性係為高，而能夠長時間得到安定之訊號。另外，於此所記載之效果，係並非絕對被作限定，而亦可為本技術中所記載之任意之效果。
1‧‧‧光記錄媒體
41‧‧‧雷射二極體
44‧‧‧對物透鏡
71‧‧‧相位抽出電路
[圖1]係為關於作為再生對象之光記錄媒體的剖面構造之說明圖。
[圖2]係為關於作為再生對象之光記錄媒體的記錄面之構造之說明圖。
[圖3]係為對於被形成於記錄面上之再生光的光束點 與岸、溝之關係作展示之略線圖。
[圖4]係為在光記錄媒體之再生狀態的說明中所使用之略線圖。
[圖5]係為對於在再生裝置中所使用的光學系之構成作展示之略線圖。
[圖6]係為使用有先前技術之相位分集(Diversity)方式的再生裝置之訊號產生系之區塊圖。
[圖7]係為用以對於光記錄媒體之再生狀態作說明之略線圖。
[圖8]係為用以對於相位分集方式作說明之略線圖。
[圖9]係為對於模擬之光學系作展示的略線圖以及藉由模擬來求取出在將岸與溝之間之階差分別設定為相異之值時的軌節距與顫動(jitter)間之關係的結果作展示之圖表。
[圖10]係為對於模擬之光學系作展示的略線圖以及藉由模擬來求取出在將岸與溝之間之階差分別設定為相異之值時的軌節距與顫動(jitter)間之關係的結果作展示之圖表。
[圖11]係為改良後的同差方式之訊號產生系之區塊圖。
[圖12]係為對於藉由模擬來求取出在改良後的同差方式之訊號產生系中之軌節距與顫動(jitter)間之關係的結果作展示之圖表。
[圖13]係為在本技術之其中一個實施形態之說明中 所使用的區塊圖。
[圖14]係為相位抽出電路之構成的其中一例之區塊圖。
[圖15]係為在相位抽出電路之說明中所使用之圖表。
[圖16]係為從光電轉換元件之輸出來形成RF訊號的光電轉換電路之第1例之區塊圖。
[圖17]係為光電轉換電路之第2例之區塊圖。
[圖18]係為光電轉換電路之第3例之區塊圖。
[圖19]係為光電轉換電路之第4例之區塊圖。
[圖20]係為光電轉換電路之第5例之區塊圖。
[圖21]係為光電轉換電路之第6例之區塊圖。
[圖22]係為光電轉換電路之第7例之區塊圖。
以下所說明之實施形態，係為本技術之合適的具體例，而被附加有在技術上而言為理想之各種的限定。然而，本技術之範圍，只要在以下之說明中並不存在有特別對於本技術作限定的內容之記載，則係並不被此些之實施形態所限定。
另外，本技術之說明，係依循下述之順序來進行。
<1.關於先前技術之同差檢測方法>
<2.關於改良後之同差檢測方法>
<3.其中一個實施形態>
<4.光電轉換電路之例>
<5.變形例>
<1.關於先前技術之同差檢測方法>
在進行關於本技術之其中一個實施形態之再生方法的說明之前，先針對先前技術之同差檢測方法以及改良後的同差檢測方法作說明。以下，作為其中一例，針對由所謂的相位分集方式所致的同差檢測方法作說明。
「再生對象之光記錄媒體」
於圖1中，對於作為再生對象之光記錄媒體1的剖面構造圖作展示。對於被作旋轉驅動之光記錄媒體1，而進行雷射光照射，並進行記錄訊號之再生。光記錄媒體1，例如係設為藉由記錄記號之形成而被記錄有資訊的所謂追加記錄型之光記錄媒體。
如同圖1中所示一般，在光記錄媒體1處，係從上層側起而依序被形成有覆蓋層2、記錄層(反射膜)3、基板4。於此，所謂「上層側」，係指在將從再生裝置側而來之雷射光所射入的面設為上面時的上層側。亦即是，於此情況，對於光記錄媒體1，雷射光係成為從覆蓋層2側而射入。
在光記錄媒體1處，基板4，例如係藉由聚碳酸酯等之樹脂所構成，於其之上面側係被賦予有凹凸之剖面形狀。此種基板4，例如係藉由使用有壓模之射出成形 等來產生。
之後，對於上述被賦予有凹凸形狀之基板4之上面側，藉由濺鍍等來形成記錄層3。於此，在先前技術之同差檢波中而作為再生對象的光記錄媒體1之軌，係以不會超過光學性之極限值的通常之軌節距來形成。亦即是，在記錄層3處之軌節距，係為被設定為較以「λ/NA/2」(λ為再生波長、NA為對物透鏡之開口數)來表現其之理論值的光學性之極限值而更大者。
被形成於記錄層3之上層側處的覆蓋層2，例如係成為在將紫外線硬化樹脂藉由旋轉塗布法來作了塗布之後，施加由紫外線照射所致之硬化處理，所形成者。覆蓋層2，係為了保護記錄層3而被作設置。
圖2，係對於再生對象之光記錄媒體1之記錄面的構造作展示。圖2A，係為將記錄面之一部分作了擴大的平面圖，圖2B，係為將記錄面的一部分作了擴大的立體圖。另外，圖2B，係對於被照射有用以進行再生之雷射光之側的面作展示，亦即是，係從圖面之上側而照射有用以進行再生之雷射光。在光記錄媒體1處，係被形成有溝G和岸L。於此，在本說明書中，係與BD(Blu-ray Disc：註冊商標)的情況相同地，將用以進行再生之雷射光所先到達之側、亦即是凸部側，作為溝G，並將凹部側稱作岸L。
在作為再生對象之光記錄媒體1處，係在溝G和岸L之雙方處被形成有記號列。若是將記號列作為軌，則軌節距Tp，係如同在圖2B中所示一般，可定義為岸L與 溝G之間之形成節距。藉由將軌節距Tp設為超過光學性極限值之狹窄節距，係成為能夠謀求資訊記錄密度之提昇。例如，假設若是在光記錄媒體1處之溝G的形成節距為與在先前技術之光記錄媒體處的軌節距(記號列之形成節距)相同，則光記錄媒體1係成為能夠將資訊記錄密度提高至先前技術之略2倍者。
將岸L與溝G之間的階差(適宜稱作深度)標記為d。例如若是將光記錄媒體1之折射率設為n，則深度d係被設為「λ/8/n」。例如，若是為再生波長λ=405nm、n=1.5之條件，則係被形成約33nm之深度d。
於此，在光記錄媒體1處，由於岸L與溝G之間之形成節距係超過光學性之極限值，因此，被形成於記錄面上之再生光的光束點與岸L、溝G之間之關係，例如係成為如同在圖3中所示一般者。
與先前技術相同的，假設係將溝G或岸L作為對象而進行了對物透鏡之追蹤伺服(tracking servo)控制。在圖3中，係對於將溝G作為對象而進行了對物透鏡之追蹤伺服控制的情況作例示。於此情況，可以得知，相對於被作為伺服之對象的溝G之再生訊號，係混合存在有相鄰接之2根的岸L之記錄資訊。
亦即是，在岸/溝記錄方法中，若是軌節距變窄，則會從鄰接軌而發生串擾。如同圖4中所示一般，在將溝作再生的情況時，係並不僅是溝之再生訊號f(t)，而亦會混入有相鄰接之岸的再生訊號g(t)。若是將溝之再生 訊號的相位設為Φ=0，則岸之相位係成為Ψ=4πnd/λ(λ係為波長，n係為光記錄媒體1之基板的折射率)。
「由相位分集方式所致的同差檢測方法」
在相位分集方式中，係使用將相互之相位差設為各有90度之差異之4個的訊號光、參照光之組。具體而言，在相位分集方式中，係構成為針對以使相位差分別成為略0度、略180度、略90度、略270度的方式而被作了調整之訊號光、參照光之組，而分別進行檢波。此些之各檢波，係藉由將關於使訊號光與參照光作了干涉之光的光強度分別檢測出來，而進行之。
圖5，係主要對於在相位分集方式中所使用的光學系之構成作展示。光記錄媒體1，若是被裝填於再生裝置處，則係藉由轉軸馬達而被作旋轉驅動。在光學系處，係被設置有成為用以進行再生之雷射光源的雷射(半導體雷射)10。藉由雷射10所射出的雷射光，係經由準直透鏡11而被設為會成為平行光，之後，經由1/2波長板12而射入至偏光分束鏡13處。
此時，偏光分束鏡13，假設係構成為使P偏光透過並將S偏光反射。1/2波長板12之安裝角度(在雷射光之射入面內的以光軸為中心之旋轉角度)，假設係以使透過偏光分束鏡13而被輸出之光(P偏光成分)和被反射而被輸出之光(S偏光成分)之間的比例(亦即是由偏光分束鏡13所致之分光比)例如成為略1：1的方式而被作調整。
藉由偏光分束鏡13所被反射的雷射光，係在經由1/4波長板14之後，經由藉由2軸致動器16而被作了保持的對物透鏡15而以被集光於光記錄媒體1之記錄層處的方式來作照射。
2軸致動器16，係將對物透鏡15以能夠在對焦方向(相對於光記錄媒體1而作接近遠離之方向)以及追蹤方向(光記錄媒體1之半徑方向：與上述對焦方向相正交之方向)上作位移的方式而作保持。在2軸致動器16處，係具備有對焦線圈、追蹤線圈，在此些之對焦線圈、追蹤線圈處，係分別被供給有後述之對焦驅動訊號FD、追蹤驅動訊號TD。對物透鏡15，係依循對焦驅動訊號FD、追蹤驅動訊號TD而在對焦方向、追蹤方向上分別作位移。
從光記錄媒體1之記錄層而來的反射光，係經由對物透鏡15以及1/4波長板14而被射入至偏光分束鏡13中。射入至偏光分束鏡13中之反射光(返路光)，係藉由由1/4波長板14所致之作用和在記錄層處之反射時之作用，而使其之偏光方向成為相對於從雷射10側而射入並在該偏光分束鏡13處而被作了反射的光(設為往路光)之偏光方向而產生90度之相異者。亦即是，反射光，係以P偏光而射入至偏光分束鏡13中。因此，反射光，係透過偏光分束鏡13。另外，以下，係將如此這般地成為透過偏光分束鏡13之反映有光記錄媒體1之記錄訊號的反射光，稱作訊號光。
在圖5中，藉由雷射10而射出並透過了偏光分 束鏡13之雷射光(P偏光)，係作為在同差檢測方式中之參照光而起作用。透過了偏光分束鏡13之參照光，係在經過了圖中之1/4波長板17之後，在反射鏡18處被作反射，並再度通過1/4波長板17，而射入至偏光分束鏡13中。
於此，如此這般地而射入至偏光分束鏡13中之參照光(返路光)，係藉由由1/4波長板17所致之作用和在反射鏡18處之反射時之作用，而使其之偏光方向成為與作為往路光之參照光而產生90度之相異者(亦即是成為S偏光)。故而，作為返路光之參照光，係成為在偏光分束鏡13處而被反射。
於圖5中，係將如此這般地在偏光分束鏡13處而被作了反射的參照光，以虛線箭頭來作標示。於圖5中，係將透過了偏光分束鏡13的訊號光，以實線箭頭來作標示。藉由偏光分束鏡13，此些之訊號光和參照光係以被作了重疊的狀態而朝向相同方向射出。具體而言，於此情況，訊號光和參照光，係在以使該些之光軸相互一致的方式來作了重疊的狀態下，被朝向相同方向射出。於此，參照光，係為所謂的同調(coherent)光。
從偏光分束鏡13所輸出的訊號光和參照光之重疊光，係射入至半分束鏡19中。半分束鏡19，係將射入光以略1：1之比例來分割成反射光和透過光。
透過了半分束鏡19之後的訊號光和參照光之重疊光，係經由1/2波長板20而射入至偏光分束鏡21中。另一方面，被半分束鏡19所反射了的訊號光和參照光之重 疊光，係經由1/4波長板22而射入至偏光分束鏡23中。
1/2波長板20以及1/4波長板22，係被構成為能夠使偏光面作旋轉。故而，藉由將1/2波長板20和偏光分束鏡21作組合，係能夠對於藉由偏光分束鏡21所分歧的光量之比例作調整。同樣的，藉由1/4波長板22，係能夠對於藉由偏光分束鏡23所分歧的光量之比例作調整。
藉由偏光分束鏡21以及23之各者所分歧的光之光量，係被設為會成為略1：1。藉由偏光分束鏡21所反射了的光，係被射入至光檢測部24中，透過了偏光分束鏡21後之光，係被射入至光檢測部25中。藉由偏光分束鏡23所反射了的光，係被射入至光檢測部26中，透過了偏光分束鏡23後之光，係被射入至光檢測部27中。
將從光檢測部24所輸出的受光訊號標記為I，並將從光檢測部25所輸出的受光訊號標記為J，並將從光檢測部26所輸出的受光訊號標記為L，且將從光檢測部27所輸出的受光訊號標記為K。
此些之受光訊號I~L，係被對於減算電路31a以及31b作供給。對於減算電路31a，係供給有受光訊號I以及J，減算電路31a係產生(a=I-J)之差分訊號a，減算電路31b係產生(b=K-L)之差分訊號b。
如同圖6中所示一般，上述之差分訊號a以及b，係被供給至演算電路32處。演算電路32，係具備有延遲電路33a以及33b、和乘算電路34a以及34b、和低通濾波器35a以及35b、和偏位(Φ)設定電路36a以及36b、和加算電 路37。延遲電路33a，係具備有與在低通濾波器35a以及偏位(Φ)設定電路36a處所產生的延遲量相等之延遲時間。延遲電路33b，係具備有與在低通濾波器35b以及偏位(Φ)設定電路36b處所產生的延遲量相等之延遲時間。乘算電路34a之輸出以及乘算電路34b之輸出，係被供給至加算電路37處。在加算電路37之輸出中，係被取出有再生訊號。
上述之再生裝置，係如同在以下所說明一般，能夠得到不會受到起因於光記錄媒體1之面晃動等所導致的參照光之相位偏移(θ(t))之成分的影響之再生訊號。
受光訊號I~L，係成為以下述之數式所展示者。於下，對式中之各項的意義作說明。
R：參照光成分
A：被形成於光記錄媒體之記錄面上的反射面(岸成分)之反射部分。
f：與記錄記號之有/無相對應的調變成分(取正負值)
t：取樣時間
Φ：所欲讀取之記號與訊號光之平均相位的相位差。係為使用者所推測並設定之值。
θ：訊號光與參照光之光路長度差(主要為起因於光記錄媒體1之面晃動作產生者)
如同圖7中所示一般，若是對物透鏡15和光記錄媒體1之訊號面起因於面晃動而改變，則訊號光之光路長度係會變化。另一方面，參照光，由於係在反射鏡18處 而反射，因此光路長度並不會改變。其結果，訊號光以及參照光之間的相位差，係成為與所設定了的值相偏離之值。此相位偏移之成分，係為θ(t)。
Figure TW201804463AD00001
Figure TW201804463AD00002
Figure TW201804463AD00003
Figure TW201804463AD00004
減算電路31a之差分訊號a(=I-J)以及減算電路31b之差分訊號b(=K-L)，係成為於以下之數式中所示者。
Figure TW201804463AD00005
Figure TW201804463AD00006
如同圖8A中所示一般，就算是在並不進行同差檢測之通常的檢測中，亦同樣的，再生訊號之DC成分係會對應於背景之反射鏡部分而出現。在進行同差檢測的情況時，如同圖8B中所示一般，對應於反射鏡部分之DC成分，係成為依存於與上述之參照光光路長度差相對應的 相位θ而產生起伏。
為了求取出此相位θ，係將圖8B中所示之差分訊號a以及b分別供給至低通濾波器35a以及35b處。藉由低通濾波器35a以及35b，如同圖8C中所示一般，係能夠求取出cosθ(t)以及sinθ(t)。亦即是，可以推測到，在數式(5)以及數式(6)中，f由於係作為與記錄記號之有/無相對應的調變成分(取正負值)，因此，被乘算有函數f之項係消失，sinθ以及cosθ之項係殘留。
由於係為(tanθ=sinθ/cosθ)，因此，係藉由(arctanθ=θ)來求取出θ，並設定Φ(偏位)，而在乘算電路34a處，將(cos(Φ-θ(t))與a作乘算，並在乘算電路34b處，將(sin(Φ-θ(t))與b作乘算。之後，藉由加算電路37，來將此些之乘算輸出作加算。從加算電路37所得到的再生訊號，係成為於以下之數式中所示者。
Figure TW201804463AD00007
如同根據此數式而可得知一般，在再生訊號中，θ(t)之成分係消失，而成為安定的訊號。另外，作為同差檢測方法，係亦存在有進行反射鏡18之位置控制並將伴隨著面晃動所產生的訊號光與參照光之間之相位差抵消的方法，但是，若依據相位分集方式，則係能夠將用以進行此種反射鏡18之位置控制的構成作省略。進而，係得知了，係能夠得到使訊號光之成分藉由參照光之成分來作了 放大的再生結果。亦即是，光記錄媒體1之記錄訊號係為被作放大而被檢測出來者，在此點上，係能夠謀求SNR之改善。另外，相位分集方式之用語，係指藉由計算出差分訊號a以及b之平方和(a2+b2)或者是平方和之平方根來求取出再生訊號的方式。在本說明書中，如同上述一般，對於將(cos(Φ-θ(t))與a作乘算並在乘算電路34b處將(sin(Φ-θ(t))與b作乘算的演算，亦係使用相位分集方式之用語。
對於將上述一般之岸/溝記錄之光記錄媒體藉由圖9A中所示之光學系來再生的情況作考慮，於圖9B之圖表中，對於藉由模擬來求取出在將軌節距Tp作了改變的情況時之再生訊號(溝之再生訊號或岸之再生訊號)之顫動的結果作展示。另外，顫動，係為代表再生性能的指標之其中一者，而亦可使用顫動以外之指標。
如同圖9A所示一般，從雷射二極體41而來之雷射光，係通過透鏡42、偏光分束鏡43以及對物透鏡44，而被照射至光記錄媒體1之訊號面上。從訊號面而來之反射光，係藉由偏光分束鏡43而被作反射，並經由透鏡45而被供給至光檢測部46處。從光檢測部46係得到再生訊號。圖9A中所示之再生光學系，係為並不使用上述之同差檢測者。
模擬，係藉由下述之計算條件來進行。另外，係設為並不存在有面晃動者，而設為使用會使軌間串擾減少的再生方法。
λ=405nm、NA=0.85、邊緣(rim)=65%/65%、溝能率 =50%、傾斜=90度、記號反射率=0%、記號寬幅=0.9Tp、線密度=25GB一定
圖9B中所示之圖表，係針對(Mrr(代表反射鏡，d=0)、(d=0.125λ)、(d=0.15λ)、(d=0.175λ))之各者，而對相對於Tp之顫動之值的變化作展示。例如，在(Tp=0.22)處，關於反射鏡以外之溝的深度，係能夠設為顫動為少者。進而，就算是溝的深度有所相異，也能夠使顫動之變化成為略相同者。
圖10，係對於將岸/溝記錄方式之光記錄媒體1利用同差檢測方法而再生的情況時之模擬結果作展示。如同圖10A中所示一般，係被設置有反射鏡47，從光記錄媒體1而來之反射光(訊號光)和反射鏡47之反射光(參照光)，係經由透鏡45而被供給至光檢測部46處。
於圖10B中，針對使用了圖10A中所示之光學系的情況時之模擬的結果作展示。模擬之計算條件，係與圖9B相同。圖10B中所示之圖表，係針對(Mrr(代表反射鏡，d=0)、(d=0.1λ)、(d=0.125λ=λ/8)、(d=0.15λ)、(d=0.175λ))之各者，而對相對於Tp之顫動之值的變化作展示。
例如，在(Tp=0.15)處，相較於反射鏡係能夠將顫動減少。然而，依存於深度d之值，在顫動之值的變化中係存在有參差。亦即是，在(d=0.125λ=λ/8)的情況時，係能夠將顫動作大幅度的改善，相對於此，在(d=0.175λ)的情況時，顫動係為過大。進而，在(d=0.1λ)以 及(d=0.15λ)的情況時之顫動之值，也並不能說是充分的良好。在設為d=λ/8的情況時，由於係能夠在溝之再生訊號與岸之再生訊號之間而產生90度之相位差，因此，係能夠設為串擾為少者，而能夠使顫動成為良好。
如同上述一般，僅在特定之溝之深度d的情況時才能夠得到良好的再生性能一事，係會造成光記錄媒體1之設計上的限制。並且，d=λ/8之值，係為較大之值，對於在溝之間的岸處而記錄記號的觀點來看，係並不能說是理想。進而，當d為大的情況時，於成型光碟的情況時，係成為難以將階差之壁的面設為無傾斜之良好的面。故而，較理想，係並不使d之值被限定於(λ/8)。
<2.關於改良後之同差檢測方法>
為了對於此點作改良，使用與圖5相同之再生光學系，並使用與圖6中所示者相同之再生訊號產生電路。基於從圖5之光檢測部24~27的各者所輸出之受光訊號I~L而形成的差分訊號，係被供給至如同圖11中所示一般之構成的再生訊號產生電路處。
再生訊號產生電路，係由減算電路31a以及31b和演算電路40所成。對於減算電路31a，係被供給有受光訊號I以及J，減算電路31a係產生(a=I-J)之差分訊號a，演算電路31b係產生(b=K-L)之差分訊號b。減算電路31a之差分訊號a以及減算電路31b之差分訊號b，係被供給至演算電路40處。
演算電路40，係具備有延遲電路33a以及33b、和乘算電路34a以及34b、和低通濾波器35a以及35b、和偏位(Ψ)設定電路39a以及39b、和減算電路40。延遲電路33a，係具備有與在低通濾波器35a以及偏位(Ψ)設定電路39a處所產生的延遲量相等之延遲時間。延遲電路33b，係具備有與在低通濾波器35b以及偏位(Ψ)設定電路39b處所產生的延遲量相等之延遲時間。乘算電路34a之輸出以及乘算電路34b之輸出，係被供給至減算電路50處。在減算電路50之輸出中，係被取出有再生訊號。
偏位(Ψ)設定電路39a以及39b，係如同於以下所說明一般，相當於串擾之量與訊號光之平均相位的相位差之值(Ψ)，係為讓使用者來推測並設定的固定值。例如，係設定有與溝G與岸L之間之階差相對應、亦即是與深度d相對應的相位之偏位。再生對象之光記錄媒體1的深度d之值，由於係已預先得知，因此，係能夠對於偏位Ψ作設定。
在上述之改良後的同差方式中，係如同在以下所說明一般，能夠得到不會受到起因於光記錄媒體1之面晃動等所導致的參照光之相位偏移(θ(t))之成分的影響並且使軌間串擾被作了除去的再生訊號。如同參考圖3以及圖4所作了說明一般，在岸/溝記錄方法中，若是軌節距變窄，則會從鄰接軌而發生串擾。如同圖4中所示一般，在將溝作再生的情況時，係並不僅是溝之再生訊號f(t)，而亦會混入有相鄰接之岸的再生訊號g(t)。若是將溝之再 生訊號的相位設為Φ=0，則岸之相位係成為Ψ=4πnd/λ(λ係為波長，n係為光記錄媒體1之基板的折射率)。
使用圖5中所示之再生光學系來求取出受光訊號I~L。與上述之數式同樣的，於下對式中之各項的意義作展示。
R：參照光成分
A：被形成於光記錄媒體之記錄面上的反射面(岸成分)之反射部分。
f：與記錄記號之有/無相對應的調變成分(取正負值)
g：從鄰接軌而來之串擾成分
t：取樣時間
Φ：所欲讀取之記號與訊號光之平均相位的相位差。係為使用者所推測並設定之值。
θ：訊號光與參照光之光路長度差(主要為起因於光記錄媒體1之面晃動作產生者)
Ψ：串擾之量與訊號光之平均相位的相位差。係為使用者所推測並設定之值。
Figure TW201804463AD00008
Figure TW201804463AD00009
Figure TW201804463AD00010
Figure TW201804463AD00011
進而，使用圖11中所示之再生訊號產生電路來進行演算。減算電路31a之差分訊號a(=I-J)以及減算電路31b之差分訊號b(=K-L)，係成為於以下之數式中所示者。
Figure TW201804463AD00012
Figure TW201804463AD00013
如同上述一般，藉由低通濾波器35a以及35b，來求取出cosθ(t)以及sinθ(t)。亦即是，可以推測到，在數式(12)以及數式(13)中，f由於係作為與記錄記號之有/無相對應的調變成分(取正負值)，而g係設為從鄰接軌而來之串擾成分，因此，被乘算有函數f以及g之項係消失，sinθ以及cosθ之項係殘留。由於係為(tanθ=sinθ/cosθ)，因此，係藉由(arctanθ=θ)來求取出θ，並藉由偏位(Ψ)設定電路39a以及39b來設定Ψ(偏位)，並在乘算電路 34a處，將(sin(Ψ-θ(t))與a作乘算，並且在乘算電路34b處，將(cos(Ψ-θ(t))與b作乘算。之後，藉由減算電路40，來將此些之乘算輸出作合成。從減算電路40所得到的再生訊號，係成為於以下之數式中所示者。
Figure TW201804463AD00014
如同在數式(14)中所示一般，在再生訊號中，θ(t)之成分係消失，而成為安定的訊號。進而，在再生訊號中，係並未包含有鄰接軌之再生訊號成分g(t)，軌間串擾係被除去。
於圖12中，針對使用了圖10A中所示之光學系相同之光學系的情況時之模擬的結果作展示。模擬之計算條件，係與圖9B以及圖10B相同。圖12中所示之圖表，係針對(Mrr(代表反射鏡，d=0)、(d=0.1λ)、(d=0.125λ=λ/8)、(d=0.15λ)、(d=0.175λ))之各者，而對相對於Tp之顫動之值的變化作展示。
如同根據圖12之圖表而可得知一般，關於除了反射鏡以外的所有的d之值，係能夠將顫動減少。在上述之圖10B的情況中，係僅有於(d=0.125λ=λ/8)的情況時，能夠將顫動作大幅度的改善，相對於此，在改良後的同差方式中，就算是在d為其他值的情況時，也同樣的能夠將 顫動作大幅度的改善。
<3.其中一個實施形態>
上述之改良後的同差方式，係將訊號光以及參照光之間之相位差θ的偏移之影響除去，並進而因應於串擾之量與訊號光之平均相位之相位差來預先設定偏位Ψ，藉由此，係能夠將串擾除去。因此，係藉由低通濾波器35a以及35b，來求取出與訊號光和參照光之光路長度差相對應的θ。然而，在低通濾波器的情況時，係難以將雜訊之成分充分地除去，又，係會有使訊號成分亦被除去之虞。
本技術，係為對於此點作考慮所考案者。本技術，係為並不使用低通濾波器地而將訊號光以及參照光之間的相位差θ之偏移之影響除去者。亦即是，係為使用所抽出的相位變動成分來對於由變動(擾動要因)所致之訊號品質之降低作抑制者。對於差分訊號a以及b，使用所抽出的相位變動成分來施加演算。其結果，係能夠將以下述之數式(15)以及數式(16)所表現的訊號獨立地讀出。
[數式15]a×sin(ψ-θ(t))-b×cos(ψ-θ(t)) (15)
[數式16]a×sin(
Figure TW201804463AD00015
-θ(t))-b×cos(
Figure TW201804463AD00016
-θ(t)) (16)
圖13，係為其中一個實施形態之構成例。差 分訊號a以及b，係被供給至相位(θ)抽出電路71處，相位係被抽出。係設置有偏位設定電路72以及73，並分別輸出對應於再生對象之光碟片所設定的偏位Φ以及Ψ。如同上述一般，Φ係為所欲讀取之記號與訊號光之間之平均相位的相位差，Ψ係為串擾之量與訊號光之間之平均相位的相位差。此些之偏位，係為使用者所推測並設定之值。
相位抽出電路71之輸出以及偏位設定電路72之輸出，係被供給至減算電路74處，並從減算電路74而得到(Ψ-θ)之相位。訊號產生電路76以及77，係分別產生與(Ψ-θ)之相位作了同步的正弦波以及餘弦波。差分訊號a和從訊號產生電路76而來之正弦波，係被供給至乘算電路78處，乘算電路78之輸出訊號係被供給至減算電路80處。差分訊號b和從訊號產生電路77而來之餘弦波，係被供給至乘算電路79處，乘算電路79之輸出訊號係被供給至減算電路80處。在減算電路80之輸出中，係被取出有以數式(15)所展示之再生訊號。
相位抽出電路71之輸出以及偏位設定電路73之輸出，係被供給至減算電路75處，並從減算電路75而得到(Φ-θ)之相位。訊號產生電路81以及82，係分別產生與(Φ-θ)之相位作了同步的正弦波以及餘弦波。差分訊號a和從訊號產生電路81而來之正弦波，係被供給至乘算電路83處，乘算電路83之輸出訊號係被供給至減算電路85處。差分訊號b和從訊號產生電路82而來之餘弦波，係被供給至乘算電路84處，乘算電路84之輸出訊號係被供給至減算電 路85處。在減算電路85之輸出中，係被取出有以數式(16)所展示之再生訊號。
在差分訊號a以及b中，附加有f以及g之部分，由於係身為AC成分，因此，藉由進行合計，係成為0，僅有DC成分會殘留。亦即是，係殘留有a=ARcosθ、b=-ARsinθ。另一方面，當θ為已知的情況時，若是以差分訊號a以及b來進行下述之演算，則DC成分係成為0。
asinθ+bcosθ→0
當在現在時間點之θ(t)下而上式並非為0的情況時，為了使θ變化並使(△θ)之值成為0，係需要下述之數式的關係。
asin(θ+△θ)+bcos(θ+△θ)=a△θcosθ+asinθ+bcosθ-b△θsinθ=0
作為θ之逐次變化量△θ，來使用下述之逐次式(數式17)而求取出來。此係為藉由以逐次變化量△θ來將θ作更新，而求取出相位θ者。亦即是，係為θt+1=θt+△θt之關係。在數式17中，η係為學習係數，F係為函數，例如，F(x)係為x，sin(x)，atan(x)，tanh(x)等。
Figure TW201804463AD00017
在圖14中，對於相位抽出電路71之其中一例作展示。相位抽出電路71，係為藉由逐次相位檢測法來將 相位θ抽出者。對於演算電路91，係被供給有差分訊號a以及b，並進行上述之逐次式(數式17)的演算。演算電路91之輸出訊號係被供給至係數乘算電路92處，學習係數η係被作乘算。
係數乘算電路92之輸出，係被供給至加算電路93處。在加算電路93之輸出中，係出現有所求取出的(θt+1=△θt+θt)。加算電路93之輸出，係作為θt+1而被取出，並且，係經由1個取樣週期T之延遲電路94而被對於演算電路91以及加算電路93作供給。
針對關連於本技術之其中一個實施形態的模擬之其中一例作說明。模擬條件，係如下所述一般。
在逐次式(數式17)中，設為F=1、η=0.007。
碟片容量：33.4GB
Tp=0.16μm(岸、溝之各者)
溝深度：λ/8
記號反射率：0.3(無相位)
PR(12221)
評價指標：i-MLSE
圖15，係對於模擬結果作展示。圖15A，係對於差分訊號a以及b和藉由前述之數式(15)所表現的下述之訊號之波形作展示。
(a×sin(Ψ-θ(t))-(b×cos(Ψ-θ(t))
圖15B，係對於θ之變化作展示。圖15C，係對於在適用本技術之逐次相位修正之前(亦即是，差分訊號a以及b) 之i-MLSE之值和在適用了本技術之逐次相位修正之後(亦即是，圖15A之最下側之波形)之i-MLSE之值作展示。MLSE(Maximum Liklihood Sequence Error)，係為使用相對於利用被作了維特比(Viterbi)檢測之資料所設定的目標準位之實際的訊號之準位之差，來計算出了與錯誤機率相對應的指標者。由於若是i-MLSE之值越小，則係身為越良好之再生，因此，可以得知，藉由適用本技術，係成為能夠進行良好的再生。
若依據上述之本技術，則相較於使差分訊號a以及b通過低通濾波器而求取出θ的方法，係有著能夠進行安定的訊號處理之優點。
<4.光電轉換電路之例>
在上述之同差檢測方式中，於受光元件之輸出訊號、例如於差分訊號a以及b中，如同參照圖8B而作了說明一般，由於無調變之低域成分的準位係為大，因此光電轉換電路之動態範圍會被消耗，而有著調變成分之SNR降低的問題。若是將光電轉換電路作AC耦合，則雖然能夠確保調變成分之SNR，但是係有著會喪失參照光相位之一部分資訊的問題。
以下所說明之光電轉換電路，係為能夠對於此問題作解決者。亦即是，係為在將再生光藉由AC用和DC用之2個的受光元件來作了光電轉換之後，藉由能夠確保廣動態範圍和高SNR之加算器來將AC成分以及DC成分 作加算，來復原原本之再生訊號者。光電轉換電路，例如係可對於圖5中所示之光學系中的光檢測部24~27之各者而作適用。
藉由此構成，係能夠以調變成分來佔有受光電路之動態範圍之全體，而能夠防止SNR之劣化。又，藉由將從2個的光電轉換電路而來之訊號藉由能夠確保動態範圍之加算器來進行加算，係能夠將從DC耦合側而輸入至加算器處的訊號之帶域設為狹窄，而能夠將加算後之訊號的雜訊減少。
圖16，係對於光電轉換電路之第1例作展示。再生光，係藉由分束鏡101以及反射鏡102而被作分割。從反射鏡102而來之再生光，係被射入至將光檢測器(受光元件)104以及高通濾波器105作了串聯連接的光電轉換電路103中，並被轉換為電性訊號。藉由高通濾波器105，低域成分係被除去，從高通濾波器105而來之高域成分，係藉由A/D轉換器106而被轉換為數位訊號。數位訊號係被供給至加算器107處。高通濾波器105之遮斷頻率，係選擇為能夠將再生訊號之低域變動除去的頻率。
從分束鏡101而來之再生光，係被射入至光電轉換電路108之光檢測器109中，並得到再生訊號。再生訊號係被供給至低通濾波器110處。在低通濾波器110處而被分離了的低域成分，係在A/D轉換器111處而被轉換為數位訊號。A/D轉換器111之輸出，係被供給至係數乘算器112處。係數乘算器112之輸出，係被供給至加算器107處。在 加算器107處，係被與高域成分作加算。從加算器107，係得到低域成分以及高域成分。
低通濾波器110之頻率特性，係被設為與高通濾波器105之頻率特性互補者。亦即是，若是將高通濾波器105之傳導函數設為H(f)，並將低通濾波器110之傳導函數設為G(f)，則係被設為H(f)=1-G(f)之關係，在加算後，於特定之帶域內，增益係被設為一定。圖16中所示之光電轉換電路之第1例，係有著並不需要參照光伺服之優點。
於圖17中，對於光電轉換電路之第2例作展示。第2例，係為對於上述之第1例之構成而追加了參照光伺服機構113者。亦即是，從光電轉換電路108而來之電性訊號，係被供給至低通濾波器110以及參照光伺服機構113處。參照光伺服機構113，係為將參照光之光路長度物理性地作可變者。參照光伺服機構113，例如係將參照光之光路中的反射鏡18(參考圖5)之位置藉由控制訊號而設為可變，而具備有將參照光之光路長度設為可變之構成。藉由參照光伺服，係能夠將訊號光和參照光之相位差的時間變動除去。
低通濾波器110之輸出，係為低域成分之殘留成分。殘留成分，係藉由A/D轉換器111而被數位化，並在係數乘算器112處而被乘算係數，再被供給至加算器107處。在加算器107處，低域成分係被與高域成分作加算。從加算器107，係得到低域成分之殘留成分。
於圖18中，對於光電轉換電路之第3例作展 示。第3例，係為對於上述之第2例之構成而在加算器107處將固定之DC值作加算者。藉由設置參照光伺服機構113，由於係能夠將訊號光和參照光之相位差的時間變動除去，因此，係將固定之DC值在加算器107處作加算。固定之DC值，係為預先所求取出之值。
於圖19中，對於光電轉換電路之第4例作展示。係被設置有參照光伺服機構113。光電轉換電路103之光檢測器104的輸出，係被供給至減算器114處，並從光檢測器104之輸出而減算固定之DC值。固定之DC值，係為預先所求取出之值。減算器114之輸出，係被供給至A/D轉換器106處。在A/D轉換器106之輸入側處，係構成為將低域成分預先除去。
於圖20中，對於光電轉換電路之第5例作展示。係被設置有參照光伺服機構113。對於參照光伺服機構113，係被賦予有光檢測器104之輸出訊號以及目標相位(例如相當於目標相位之DC值)115。藉由參照光伺服機構113，光檢測器104之輸出訊號的相位係被設為與目標相位相互一致。
光檢測器104之輸出，係被供給至減算器114處。藉由相位-電壓準位調變電路116，係形成對應於目標相位之準位的電壓(DC值)。此DC值係被供給至減算器114處，並被從光檢測器104之輸出訊號而減算。在減算器114之輸出中所得到的訊號，係成為低域成分為極少者。之後，在加算器104處，係被加算有對應於目標相位之準位 的電壓(DC值)。另外，當在加算器107處而將DC值作加算的情況時，係亦可構成為乘上相對於DC值之準位修正係數。係能夠避免在從光檢測器104起而至A/D轉換器106為止的路徑上之類比電路的動態範圍之限制。進而，圖20之構成，係有著不需要進行光路分割的優點。在不需要進行光路分割之構成的情況時，係亦可構成為代替光檢測器104之輸出訊號而使用差分訊號a或者是b。
於圖21中，對於光電轉換電路之第6例作展示。此例，係與第5例相同的，為並不需要進行光路分割之構成，並被設置有參照光伺服機構113。對於光電轉換電路103之減算器114，係供給有DC值118。減算器114之輸出，係藉由A/D轉換器106而被設為數位訊號，並被供給至加算器107處。藉由A/D轉換器117而被設為數位訊號之DC值118，係對於加算器107而被作供給。另外，當在加算器107處而將DC值作加算的情況時，係亦可構成為乘上相對於DC值之準位修正係數。
於圖22中，對於光電轉換電路之第7例作展示。此例，係與第5例相同的，為並不需要進行光路分割之構成，並被設置有參照光伺服機構113。對於參照光伺服機構113所被作賦予的目標相位115，係被供給至相位-電壓準位轉換電路116處。藉由相位-電壓準位轉換電路116，係形成對應於目標相位之電壓，此電壓係被對於加算器107而作供給。另外，當在加算器107處而將DC值作加算的情況時，係亦可構成為乘上相對於DC值之準位修 正係數。
<5.變形例>
以上，雖係針對本技術之實施形態而具體性地作了說明，但是，係並不被限定於上述之各實施形態，而可基於本技術之技術性思想來進行各種之變形。例如，雷射光源之波長，係亦可為405nm以外者。
進而，再生光學系，係並不被限定於圖5之構成，例如，為了得到4種類的受光訊號I~L，係亦可使用同差檢波光學系。同差檢波光學系，係具備有渥拉斯頓稜鏡(Wollaston prism)，並為能夠產生具備有0度、90度、180度、270度之各相位差的光者。
又，上述之實施形態之構成、方法、工程、形狀、材料以及數值等，只要在不脫離本技術之主旨的範圍內，係可相互作組合。
另外，本技術，係亦可採用下述一般之構成。
(1)
一種再生裝置，其特徵為，係具備有：光學系，係對於在岸及溝之雙方處被記錄有訊號的記錄媒體，而照射藉由光源所發出之光並得到反映有前述岸和前述溝之記錄訊號的雙方之訊號光，並且根據藉由前述光源所發出之光而產生參照光，再相對於將前述訊號光和前述參照光作了重合的重合光，而分別產生賦予了略0°之相位差之第1訊號 光與參照光之組、和賦予了略180°之相位差之第2訊號光與參照光之組、和賦予了略90°之相位差之第3訊號光與參照光之組、以及賦予了略270°之相位差之第4訊號光與參照光之組；和受光部，係藉由第1受光元件而受光前述第1訊號光與參照光之組，並藉由第2受光元件而受光前述第2訊號光與參照光之組，並藉由第3受光元件而受光前述第3訊號光與參照光之組，並且藉由第4受光元件而受光前述第4訊號光與參照光之組；和再生訊號產生電路，係計算出身為藉由前述第1受光元件所得到的第1受光訊號和藉由前述第2受光元件所得到的第2受光訊號之間之差分之第1差分訊號a、和身為藉由前述第3受光元件所得到的第3受光訊號和藉由前述第4受光元件所得到的第4受光訊號之間之差分之第2差分訊號b，並使用前述第1差分訊號a、前述第2差分訊號b、串擾(cross talk)量與訊號光之平均相位之相位差Ψ、以及訊號光與參照光之光路長度差θ，而進行a．sin(Ψ-θ(t))-b．cos(Ψ-θ(t))之演算並得到再生訊號；和相位抽出電路，係求取出θ之逐次變化量△θ，並藉由逐次變化量△θ來對於θ作更新。
(2)
如(1)所記載之再生裝置，其中，當成為θt+1=θt+△θt之關係的情況時，係藉由下式來求取出逐次變化量△θt：
Figure TW201804463AD00018
(3)
如(1)或(2)所記載之再生裝置，其中，前述參照光，係藉由以反射鏡來反射藉由前述光源所發出之光，而產生之。
(4)
如(1)~(3)中之任一者所記載之再生裝置，其中，前述相位偏移，係設為與(|Ψ|=4πnd/λ)略相等者，其中，n為折射率，d為前述岸以及溝之間之階差，λ為光之波長。
(5)
如(1)~(4)中之任一者所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係將光路分割成第1以及第2光路，從前述第1光路之受光訊號來抽出高域成分，並從前述第2光路之受光訊號來抽出低域成分，將被轉換為數位訊號後之高域成分以及被轉換為數位訊號後之低域成分作合成，而作為再生訊號。
(6)
如(5)所記載之再生裝置，其中，係具備有基於前述第2光路之受光訊號來施加參照光伺服之參照光伺服機構。
(7)
如(1)~(4)中之任一者所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係將光路分割成第1以及第2光路，從前述第1光路之 受光訊號來抽出高域成分，並基於前述第2光路之受光訊號來施加參照光伺服，將被轉換為數位訊號後之高域成分以及固定之DC值作合成，而作為再生訊號。
(8)
如(1)~(4)中之任一者所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係將光路分割成第1以及第2光路，從前述第1光路之受光訊號而減算固定之DC值，並基於前述第2光路之受光訊號來施加參照光伺服，將把被減算了固定之DC值之後的訊號轉換為數位訊號後之訊號以及固定之DC值作合成，而作為再生訊號。
(9)
如(1)~(4)中之任一者所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係基於單一之光路的受光訊號而施加參照光伺服，從前述受光訊號而減算與前述參照光伺服之目標相位相對應的DC值，將把被減算了前述DC值之後的訊號轉換為數位訊號後之訊號以及把與前述目標相位相對應之DC值轉換為數位訊號後之訊號作合成，而作為再生訊號。
(10)
如(1)~(4)中之任一者所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係基於單一之光路的受光訊號而施加參照光伺服，從前述受光訊號而減算固定之DC值，將把被減算了前述DC 值之後的訊號轉換為數位訊號後之訊號以及把前述固定之DC值轉換為數位訊號後之訊號作合成，而作為再生訊號。
(11)
如(1)~(4)中之任一者所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係基於單一之光路的受光訊號而施加參照光伺服，將把前述受光訊號轉換為數位訊號後之訊號以及把與前述目標相位相對應之DC值轉換為數位訊號後之訊號作合成，而作為再生訊號。
(12)
一種再生方法，其特徵為：係對於在岸及溝之雙方處被記錄有訊號的記錄媒體，而照射藉由光源所發出之光並得到反映有前述岸和前述溝之記錄訊號的雙方之訊號光，並且根據藉由前述光源所發出之光而產生參照光，再相對於將前述訊號光和前述參照光作了重合的重合光，而藉由光學系分別產生賦予了略0°之相位差之第1訊號光與參照光之組、和賦予了略180°之相位差之第2訊號光與參照光之組、和賦予了略90°之相位差之第3訊號光與參照光之組、以及賦予了略270°之相位差之第4訊號光與參照光之組；藉由第1受光元件而受光前述第1訊號光與參照光之組，並藉由第2受光元件而受光前述第2訊號光與參照光之組，並藉由第3受光元件而受光前述第3訊號光與參照光之組，並且藉由第4受光元件而受光前述第4訊號光與參照光 之組；計算出身為藉由前述第1受光元件所得到的第1受光訊號和藉由前述第2受光元件所得到的第2受光訊號之間之差分之第1差分訊號a、和身為藉由前述第3受光元件所得到的第3受光訊號和藉由前述第4受光元件所得到的第4受光訊號之間之差分之第2差分訊號b，並使用前述第1差分訊號a、前述第2差分訊號b、串擾(cross talk)量與訊號光之平均相位之相位差Ψ、以及訊號光與參照光之光路長度差θ，而進行a．sin(Ψ-θ(t))-b．cos(Ψ-θ(t))之演算並得到再生訊號；求取出θ之逐次變化量△θ，並藉由逐次變化量△θ來對於θ作更新。
91‧‧‧演算電路
92‧‧‧係數乘算電路
93‧‧‧加算電路
94‧‧‧延遲電路
71‧‧‧相位抽出電路

Claims (12)

  1. 一種再生裝置，其特徵為，係具備有：光學系，係對於在岸及溝之雙方處被記錄有訊號的記錄媒體，而照射藉由光源所發出之光並得到反映有前述岸和前述溝之記錄訊號的雙方之訊號光，並且根據藉由前述光源所發出之光而產生參照光，再相對於將前述訊號光和前述參照光作了重合的重合光，而分別產生賦予了略0°之相位差之第1訊號光與參照光之組、和賦予了略180°之相位差之第2訊號光與參照光之組、和賦予了略90°之相位差之第3訊號光與參照光之組、以及賦予了略270°之相位差之第4訊號光與參照光之組；和受光部，係藉由第1受光元件而受光前述第1訊號光與參照光之組，並藉由第2受光元件而受光前述第2訊號光與參照光之組，並藉由第3受光元件而受光前述第3訊號光與參照光之組，並且藉由第4受光元件而受光前述第4訊號光與參照光之組；和再生訊號產生電路，係計算出身為藉由前述第1受光元件所得到的第1受光訊號和藉由前述第2受光元件所得到的第2受光訊號間之差分之第1差分訊號a、和身為藉由前述第3受光元件所得到的第3受光訊號和藉由前述第4受光元件所得到的第4受光訊號間之差分之第2差分訊號b，並使用前述第1差分訊號a、前述第2差分訊號b、串擾(cross talk)量與訊號光之平均相位之相位差Ψ、以及訊號光與參 照光之光路長度差θ，而進行a‧sin(Ψ-θ(t))-b‧cos(Ψ-θ(t))之演算並得到再生訊號；和相位抽出電路，係求取出θ之逐次變化量△θ，並藉由逐次變化量△θ來對於θ作更新。
  2. 如申請專利範圍第1項所記載之再生裝置，其中，當成為θt+1=θt+△θt之關係的情況時，係藉由下式來求取出逐次變化量△θt：
    Figure TW201804463AC00001
  3. 如申請專利範圍第1項所記載之再生裝置，其中，前述參照光，係藉由以反射鏡來反射藉由前述光源所發出之光，而產生之。
  4. 如申請專利範圍第1項所記載之再生裝置，其中，前述相位偏移，係設為與(Ψ=4πnd/λ)略相等者，其中，n為折射率，d為前述岸以及溝之間之階差，λ為光之波長。
  5. 如申請專利範圍第1項所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係將光路分割成第1以及第2光路，從前述第1 光路之受光訊號來抽出高域成分，並從前述第2光路之受光訊號來抽出低域成分，將被轉換為數位訊號後之高域成分以及被轉換為數位訊號後之低域成分作合成，而作為再生訊號。
  6. 如申請專利範圍第5項所記載之再生裝置，其中，係具備有基於前述第2光路之受光訊號來施加參照光伺服之參照光伺服機構。
  7. 如申請專利範圍第1項所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係將光路分割成第1以及第2光路，從前述第1光路之受光訊號來抽出高域成分，並基於前述第2光路之受光訊號來施加參照光伺服，將被轉換為數位訊號後之高域成分以及固定之DC值作合成，而作為再生訊號。
  8. 如申請專利範圍第1項所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係將光路分割成第1以及第2光路，從前述第1光路之受光訊號而減算固定之DC值，並基於前述第2光路之受光訊號來施加參照光伺服，將把被減算了固定之DC值之後的訊號轉換為數位訊號後之訊號以及固定之DC值作合成，而作為再生訊號。
  9. 如申請專利範圍第1項所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係基於單一之光路的受光訊號而施加參照光伺服，從前述受光訊號而減算與前述參照光伺服之目標相位相對應的DC值，將把被減算了前述DC值之後的訊號轉換為數位訊號後之訊號以及把與前述目標相位相對應之DC值轉換為數位訊號後之訊號作合成，而作為再生訊號。
  10. 如申請專利範圍第1項所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係基於單一之光路的受光訊號而施加參照光伺服，從前述受光訊號而減算固定之DC值，將把被減算了前述DC值之後的訊號轉換為數位訊號後之訊號以及把前述固定之DC值轉換為數位訊號後之訊號作合成，而作為再生訊號。
  11. 如申請專利範圍第1項所記載之再生裝置，其中，當根據從受光元件所輸出之受光訊號而形成再生訊號的情況時，係基於單一之光路的受光訊號而施加參照光伺服， 將把前述受光訊號轉換為數位訊號後之訊號以及把與前述目標相位相對應之DC值轉換為數位訊號後之訊號作合成，而作為再生訊號。
  12. 一種再生方法，其特徵為：係對於在岸及溝之雙方處被記錄有訊號的記錄媒體，而照射藉由光源所發出之光並得到反映有前述岸和前述溝之記錄訊號的雙方之訊號光，並且根據藉由前述光源所發出之光而產生參照光，再相對於將前述訊號光和前述參照光作了重合的重合光，而藉由光學系分別產生賦予了略0°之相位差之第1訊號光與參照光之組、和賦予了略180°之相位差之第2訊號光與參照光之組、和賦予了略90°之相位差之第3訊號光與參照光之組、以及賦予了略270°之相位差之第4訊號光與參照光之組；藉由第1受光元件而受光前述第1訊號光與參照光之組，並藉由第2受光元件而受光前述第2訊號光與參照光之組，並藉由第3受光元件而受光前述第3訊號光與參照光之組，並且藉由第4受光元件而受光前述第4訊號光與參照光之組；計算出身為藉由前述第1受光元件所得到的第1受光訊號和藉由前述第2受光元件所得到的第2受光訊號之間之差分之第1差分訊號a、和身為藉由前述第3受光元件所得到的第3受光訊號和藉由前述第4受光元件所得到的第4受光訊號之間之差分之第2差分訊號b，並使用前述第1差分訊 號a、前述第2差分訊號b、串擾(cross talk)量與訊號光之平均相位之相位差Ψ、以及訊號光與參照光之光路長度差θ，而進行a‧sin(Ψ-θ(t))-b‧cos(Ψ-θ(t))之演算並得到再生訊號；求取出θ之逐次變化量△θ，並藉由逐次變化量△θ來對於θ作更新。
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