TW201739101A - 補償電磁耦合器 - Google Patents

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Abstract

本發明揭示一種電磁耦合器，其包含具有將一輸入埠連接至一輸出埠之一第一傳輸線之一介電層。在該介電層之另一表面上之一第二傳輸線形成一耦合埠及一隔離埠。該電磁耦合器在該耦合埠處提供一耦合信號，其表示在該輸入埠處之一輸入信號。該耦合信號之該振幅與該輸入信號之該振幅藉由一耦合因數而相關。該介電層上之一調諧元件經組態以在該介電層之厚度之一變化範圍內穩定該耦合因數。

Description

補償電磁耦合器
定向耦合器廣泛用於前端模組(FEM)產品中，諸如用於無線電收發器、無線手機及類似者中。例如，一定向耦合器可用於偵測且監測電磁(EM)輸出功率。當藉由一射頻(RF)源產生之一RF信號經提供至一負載(諸如提供至一天線)時，RF信號之一部分可從該負載反射回。一EM耦合器可包含於RF源與負載之間的一信號路徑中以提供將從RF源行進至負載之RF信號之正向RF功率之一指示及/或從負載反射回之反向RF功率之一指示。EM耦合器包含(例如)定向耦合器、雙向耦合器、多頻帶耦合器(例如，雙頻帶耦合器)及類似者。 參考圖1，一EM耦合器100通常具有一功率輸入埠102、一功率輸出埠104、一耦合埠106及一隔離埠108。通常藉由兩個平行或重疊傳輸線(諸如微帶、帶線、共面線及類似者)提供電磁耦合機構(其可包含電感或電容耦合)。一主傳輸線110延伸在功率輸入埠102與功率輸出埠104之間且將大部分信號116從功率輸入埠102提供至功率輸出埠104。一耦合線112延伸在耦合埠106與隔離埠108之間且可出於各種目的(包含各種量測)提取在功率輸入埠102與功率輸出埠104之間行進之功率之一部分114。當將一終端阻抗呈現至隔離埠108時，在耦合埠106處提供從功率輸入埠102行進至功率輸出埠104之正向RF功率之一指示。 在一正向耦合模式中，如在圖1中，部分114係從功率輸入埠102行進至功率輸出埠104之主信號116 RF功率之一分率。EM耦合器通常藉由其等耦合因數(通常以分貝陳述)額定，其為自輸入信號116之功率耦合之部分114之功率之比率之一量測。例如，一20dB耦合器將提供一耦合信號(例如，一部分114)，其比輸入功率小20dB或為輸入功率之約1%。 通常期望具有一相對低之耦合因數來從主信號不過度移除功率，而亦期望耦合因數係確定且一致的，以容許主信號之功率之精確評估。在製造耦合器期間之程序變化可影響該耦合因數，且可導致具有顯著變化之耦合因數之耦合器。
態樣及實施例係關於具有經設計以補償製造程序變化對電磁耦合器參數及效能之影響之結構之電磁耦合器。如下文更詳細討論，各種組件及特徵可從傳輸線組合以形成補償電磁耦合器，其等可與各種組件及特徵進一步組合以形成模組、器件及系統。補償電磁耦合器可補償製造期間之程序變化以供應更一致之耦合因數及更高之製造良率。 根據一項實施例，一種電磁耦合器包括：一介電層，其具有一第一表面及一第二表面；一第一傳輸線，其安置於該介電層之該第一表面上且延伸在一輸入埠與一輸出埠之間；一第二傳輸線，其安置於該介電層之該第二表面上且延伸在一耦合埠與一隔離埠之間，該電磁耦合器經組態以回應於在該輸入埠接收一輸入信號而在該耦合埠提供一耦合信號，該耦合信號之一振幅與該輸入信號之一振幅藉由一耦合因數而相關；及一調諧元件，其安置於該介電層之該第一表面上且經組態以在該介電層之一厚度之一變化範圍內穩定該耦合因數。 在電磁耦合器之一個實例中，該調諧元件經短路至一電接地。在一個實例中，該調諧元件透過一阻抗連接至接地。在一個實例中，該阻抗係可調整的。在一個實例中，該調諧元件經組態以與該第一傳輸線及該第二傳輸線選擇性地解耦。 在電磁耦合器之一個實例中，該第二傳輸線自該第一傳輸線側向偏移。在一個實例中，該第二傳輸線自該調諧元件側向偏移。在一個實例中，該第二傳輸線之一部分與該第一傳輸線及該調諧元件之至少一者形成一重疊區。 在另一實例中，該電磁耦合器可為一模組、一無線器件、或電子器件或系統之另一形式之部分。在一個實例中，該系統或器件包含一收發器。在一個實例中，該系統或器件包含一天線來傳輸一傳輸信號及/或接收一接收信號。在一個實例中，該系統或器件包含一天線開關模組，其經連接至該電磁耦合器之該輸入埠或該輸出埠且經組態以在該電磁耦合器與一收發器或一天線或兩者之間引導信號。在一個實例中，該系統或器件包含在一收發器與一天線開關模組之間連接之一功率放大器，該功率放大器經組態以接收且放大該傳輸信號。在一個實例中，該系統或器件可進一步包含一感測器模組、一記憶體、一基頻帶子系統、一使用者介面及/或一電池。 根據另一實施例，一種製造一電磁耦合器之方法，該電磁耦合器具有特徵來穩定該電磁耦合器之一耦合因數且補償製造程序變化，該方法包括：提供一介電層；在該介電層之一第一表面上形成一第一傳輸線，該第一傳輸線延伸在該電磁耦合器之一輸入埠與一輸出埠之間；在該介電層之一第二表面上形成一第二傳輸線，使得該介電層經定位於該第一傳輸線及該第二傳輸線之間，該第二傳輸線延伸在該電磁耦合器之一耦合埠與一隔離埠之間，該第二傳輸線相對於該第一傳輸線定向使得回應於在該輸入埠處接收一輸入信號且具有連接至該隔離埠之一終接阻抗，該電磁耦合器在該耦合埠處提供一耦合信號；及提供一調諧元件，其經組態以在該介電材料之一厚度範圍內穩定該耦合因數。 在一個實例中，該方法包含提供至該調諧元件之一電接地連接。在一個實例中，該方法包含提供經組態以將該調諧元件選擇性地連接至該電接地之一切換元件。 在另一實施例中，一種在製造程序變化之一範圍內穩定一電磁耦合器之一耦合因數之方法包括：提供該電磁耦合器，該電磁耦合器包含安置於一介電層之一第一表面上且延伸在一輸入埠與一輸出埠之間之一第一傳輸線及安置於該介電層之一第二表面上且延伸在一耦合埠與一隔離埠之間之一第二傳輸線，該電磁耦合器經組態以回應於在該輸入埠接收一輸入信號而在該耦合埠提供一耦合信號，該耦合信號之一振幅與該輸入信號之一振幅藉由該耦合因數而相關；及提供一調諧元件，其經組態以在該介電層之一厚度範圍內穩定該耦合因數。 在一個實例中，該方法包含提供將該調諧元件選擇性地連接至一電接地。在一個實例中，該方法包含經由一可調整阻抗使該調諧元件選擇性地接地。在一個實例中，該方法包含量測該耦合因數及調整該阻抗以將該耦合因數維持於一預定值範圍內。 根據另一實施例，一種電磁耦合器包括：一多層介電基板，其具有複數個基板層，該等基板層各具有一厚度變化範圍；一主傳輸線，其安置於該複數個基板層中之一第一表面上且延伸在一輸入埠與一輸出埠之間；一耦合線，其安置於該複數個基板層中之一第二表面上且延伸在一耦合埠與一隔離埠之間，該電磁耦合器經組態以回應於在該輸入埠接收一輸入信號而在該耦合埠呈現一耦合信號，該耦合信號之一振幅與該輸入信號之一振幅藉由一耦合因數而相關，該主傳輸線及該耦合線藉由該複數個基板層中之至少一個基板層彼此分離；及一調諧元件，其安置於該第一表面上且經組態以在該至少一個基板層之一厚度之一變化範圍內穩定一耦合因數。 在一個實例中，該調諧元件經短路至一電接地。在一個實例中，該調諧元件透過一阻抗連接至接地。在一個實例中，該阻抗係可調整的。在一個實例中，該調諧元件經組態以與該主傳輸線及該耦合線選擇性地解耦。 在一個實例中，該耦合線自該主傳輸線側向偏移。在一個實例中，該耦合線自該調諧元件側向偏移。在一個實例中，該耦合線之一部分與該主傳輸線及/或該調諧元件形成一重疊區。 在另一實例中，該電磁耦合器可為一模組、一無線器件、或電子器件或系統之另一形式之部分。在一個實例中，該系統或器件包含一收發器。在一個實例中，該系統或器件包含一天線來傳輸一傳輸信號及/或接收一接收信號。在一個實例中，該系統或器件包含一天線開關模組，其經連接至該電磁耦合器之該輸入埠或該輸出埠且經組態以在該電磁耦合器與一收發器或一天線或兩者之間引導信號。在一個實例中，該系統或器件包含在一收發器與一天線開關模組之間連接之一功率放大器，該功率放大器經組態以接收且放大該傳輸信號。在一個實例中，該系統或器件可進一步包含一感測器模組、一記憶體、一基頻帶子系統、一使用者介面及/或一電池。 在下文中詳細討論此等例示性態樣及實施例之其他態樣、實施例及優勢。本文揭示之實施例可以與本文揭示之至少一個原理一致之方式與其他實施例組合，且對「一實施例」、「一些實施例」、「一替代實施例」、「各種實施例」、「一項實施例」等之參考不必要相互排斥且意在指示所描述之一特定特徵、結構、或特性可包含在至少一項實施例中。本文中存在之此等術語不一定全部指代相同實施例。
相關申請案之交叉參考 本申請案根據35 U.S.C. §119(e)及PCT條款8規定主張2016年4月29日申請之同在申請中美國臨時專利申請案第62/329,385號及2017年2月24日申請之同在申請中美國臨時專利申請案第62/463,010號之權利，該等申請案之全文出於所有目的以引用之方式併入本文中。 在疊層製造程序或半導體製造程序中實施之傳統多層耦合器設計經受程序變化。例如，形成一主傳輸線及一耦合線之金屬層之間的介電質厚度中之變化可導致效能變化，諸如由變化之厚度對兩個線之間的電容耦合及電感耦合之效應所造成之耦合因數之變化。 參考圖2解釋此效應，圖2展示功率輸入埠102、功率輸出埠104、耦合埠106及隔離埠108。主傳輸線110及耦合線112可視為電感器，且歸因於其等彼此之近接性，其等之間存在一電感耦合。另外，耦合線112與主傳輸線110之近接性形成一電容器，使得兩個線之間亦存在一電容耦合。兩種耦合形式(電感耦合及電容耦合)隨主傳輸線110與耦合線112之間的近接性變化。因此，若主傳輸線與耦合線之間的近接性改變，則一EM耦合器之耦合因數將變化。現代傳輸線耦合器可使用疊層及/或半導體技術來製造，且傳輸線可藉由一介電材料層彼此分離。疊層或沉積介電材料之程序可導致可逐耦合器不同或甚至在一單一耦合器內係不同之介電質厚度。 難以控制歸因於程序變化之耦合因數變化。特定言之，可難以校正介電質厚度變化。習知地，已對製造程序需要緊縮性控制及公差，或需要測試來執行介電質之篩選(例如，橫截面量測及量測可接受介電質厚度(即，在公差內))或耦合因數效能之製造後篩選。此通常導致更高之成本及更長之製造或測試時間。 態樣及實施例提供包含額外元件來補償耦合因數變化之一耦合器。耦合因數變化可係歸因於主傳輸線與耦合線之間的間距之變化，諸如該等線之間的介電質厚度變化、形成該等線之金屬跡線之間的間距變化或線寬度及高度之變化，其等皆起因於製造程序期間之變化。耦合因數中之一致性係合意的，此係因為耦合信號可用於判定主信號之功率，且因此，耦合信號與主信號之比率(即，耦合因數)需要為人熟知且保持一致以滿足具有挑戰之效能規格。在行動電話應用中，精確監測且控制信號功率之能力可係關鍵的。隨著器件及組件之大小愈小，由製造程序引起之變化(本文中被稱為程序變化)可變得愈重要。在傳統耦合器設計及製造中，介電質厚度之變化可造成耦合因數之25%或更高之變化。本文中揭示之EM耦合器之實施例包含額外組件，其等充當調諧短線以抵消耦合因數變化，藉此根據程序變化改良耦合因數一致性，導致適當EM耦合器之更低成本及更高良率。 將瞭解，本文討論之方法及裝置之實施例在應用中不限於在下列描述中提出或在隨附圖式中繪示之組件之構造及配置之細節。方法及裝置能夠實現在其他實施例中且可以各種方式實踐或執行。特定實施方案之實例在本文中僅出於繪示之目的提供且不意在限制。而且，在本文中使用之措辭及術語出於描述之目的且不應視為限制。本文中「包含」、「包括」、「具有」、「含有」、「涉及」及其等之變形之使用意欲涵蓋在其後列出之品項及其等之等效物以及額外品項。對「或」之參考可視為包含性的使得使用「或」描述之任何項可指示所描述之項之一單一、一個以上及所有之任一者。對前部及後部、左側及右側、頂部及底部、上部及下部、端、側、垂直及水平等之任何參考意在為方便描述，而不將本系統及方法或其等組件限於任何一個位置或空間定向。 根據特定實施例，在一EM耦合器中，一耦合線可相對於一主傳輸線定位於各種定向中。一或多個額外跡線或傳輸線可經定位以以將傾向於抵消程序變化對耦合因數之影響之一方式影響主傳輸線與耦合線之間的耦合，因此產生具有比自習知耦合器設計可得更低之耦合因數變化之經製成EM耦合器。 圖3A至圖3E中展示此一配置之各種實例。圖3A係主傳輸線110、耦合線112及一調諧元件118之一俯視示意圖。圖3B係在圖3A中展示之傳輸線之一對應端視圖。在此實例中，調諧元件118在與主傳輸線110相同之平面中，且耦合線112經定位於調諧元件118下方(或上方)之一不同平面中，藉由一介電材料120分離且自主傳輸線110偏移。在圖3C中展示之一替代性實例中，調諧元件118可在與耦合線112相同之平面中，且主傳輸線110可經定位於調諧元件118下方(或上方)之一不同平面中，藉由介電材料120分離且自耦合線112偏移。 可藉由例如一疊層程序或一沉積及蝕刻程序製造傳輸線110、112、調諧元件118及介電材料120。如在圖3B及圖3C中可見，介電材料120之厚度可判定第一平面與第二平面之間的(且因此調諧元件118與耦合線112或主傳輸線110之間的)間距或距離。此間距影響該等線間的電容耦合及電感耦合，且介電質厚度之變化造成耦合因數之變化。 在圖3A至圖3C中繪示之實例中，在製造程序期間，介電材料120之厚度中可存在變化。一個耦合器可具有比使用相同程序或設備製造之另一耦合器更厚之一介電材料120，反之亦然。介電材料之一例示性厚度為42微米(µm或micron)且通常可變化5%或10%。對於42 µm之一標稱預期厚度，所得厚度之一例示性方位可為從38 µm至46 µm。 在一特定例項中，若製造程序產生小於標稱之厚度，則耦合線112將比標稱設計更靠近主傳輸線110。在此一情況中，一傳統耦合器中之耦合線112與主傳輸線110之間的耦合將係更大的且將導致高於預期之一耦合因數，如上文參考圖2討論。 然而，在本文揭示之實施例中，一調諧元件118用來對抗增大之耦合，相對於程序變化使耦合因數穩定。圖3A至圖3C之實例包含一接地122，藉此調諧元件118在各端處接地，形成一部分接地平面且使用耦合線112及/或主傳輸線110產生一接地效應。在圖3B之實例中，一減小之介電質厚度將使耦合線112更緊密接近主傳輸線110及調諧元件118兩者。更緊密接近主傳輸線110將傾向於增大EM耦合(如上文討論)，但更緊密接近接地調諧元件118將具有相反效應。兩個效應抵消彼此且當程序變化使介電質厚度更薄時產生一更一致之耦合因數。 以一類似方式，仍參考圖3B之實例，歸因於程序變化之一增大之介電質厚度將導致耦合線112距主傳輸線110及調諧元件118之各者更遠。耦合線112距主傳輸線110更遠之效應係使耦合減少，而耦合線112距調諧元件118更遠之效應會隨著接地效應降低而增大。此等兩個效應傾向於彼此抵消且當程序變化使介電質厚度更大時維持一更一致之耦合因數。調諧元件118與接地122之效應將一些耦合功率分路至接地。調諧元件118在其更緊密接近其他元件(即，主傳輸線110及耦合線112)時分路更多耦合功率至接地，且當遠離其他元件時分路更少耦合功率至接地。 圖3A至圖3C之實例實施例亦包含在各接地122處之一接地開關124以容許調諧元件118與接地選擇性解耦。特定實施例可包含使調諧元件118接地之一固定連接，但替代實施例可包含一或多個接地開關124以將調諧元件118與一接地連接選擇性地解耦。替代實施例亦可包含開關124來將調諧元件118選擇性地連接至替代節點、參考電壓或其他。在包含一或多個開關124之實施例中，可從操作選擇性地移除調諧元件118，藉此在當可不需要調諧元件118時的情況中移除調諧元件118之補償效應。因此，在特定實施例中，接地122可為用開關124連接。另外，在各種實施例中，接地122可經定位於不同位置處。例如，雖然在圖3A至圖3C中之接地122展示為將調諧元件118之端連接至接地，但替代實施例可包含在額外或替代位置處之接地122 (諸如沿著調諧元件118之長度)且可在側、中間或別處耦合至調諧元件118。 在圖3B之實例實施例中，耦合線112實質上在調諧元件118下方且自主傳輸線110偏移。在其他實施例中，耦合線112可實質上在主傳輸線110下方且自調諧元件118偏移，或耦合線112可自主傳輸線110及調諧元件118之各者偏移，或傳輸線可另以任何數種方式彼此定向。另外，將理解，主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118可具有各種形狀且可由各種材料構造。主傳輸線110及耦合線112可由一導體(諸如一金屬)形成，且調諧元件118亦可由一導體形成，但可替代地由一半導體或基於其對耦合因數之影響選擇之其他材料形成，以例如當一減小之厚度傾向於增大耦合時減小主傳輸線110與耦合線112之間的耦合。 如上文討論，主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118之任一者可具有各種形狀且特定言之不需要係直線或限於一特定平面。另外，可形成許多變化以影響耦合因數且最佳化調諧元件118之補償效應，包含但不限於主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118之任一者之材料、幾何結構(寬度、長度、形狀等)、位置及類似者。 在各種實施例中可包含適用於針對程序變化以如本文描述之一補償方式執行或運作之主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118之任何實體配置。例如，圖3D及圖3E繪示主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118之替代性實體配置。圖3D及圖3E各繪示經實施為一迴路之一主傳輸線110，以及經實施為鄰近於主傳輸線110 (且在此實例中，在不同於主傳輸線110之一平面中，例如在其間具有一介電質之一不同層上)之一迴路之一耦合線112。圖3D之實例包含呈在與主傳輸線110相同之平面中之一迴路之形式之一調諧元件118，其之端經選擇性地用開關124連接至一接地122。圖3E之實例包含呈一接地平面之形式之一調諧元件118，其亦經選擇性地用開關124連接至一接地122。替代性實施例包含主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118之實體結構、材料及配置之許多變化。 雖然圖3A至圖3E繪示主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118相對於彼此之各種實體形狀及配置，但圖4繪示一疊構(stackup) 400內之此等元件之位置之一實例。圖4繪示本文描述之EM耦合器之任一者之一實例構造之一些態樣。圖4之實例包含一電路疊構400，其包含一疊層結構410及經由焊料凸塊412安裝於疊層結構410上且電連接至疊層結構410之一晶粒420。基板410及晶粒420各由藉由介電質分離之導電(例如，金屬)或半導材料之多個層組成，該等層具有透過導電通孔之層之間的互連。在各種實施例中，晶粒420可藉由其他配置(諸如接腳、插口、墊、焊球、焊點等)電連接至基板410。其他實施例可僅包含一疊層基板410且不包含晶粒420。 在圖4之實例中，在基板410之層內實施EM耦合器之主線區段及耦合線區段。圖4展示主傳輸線110及耦合線112之一「端視圖」，其中其等長度之範圍可垂直於影像之平面。如展示，耦合線112在主傳輸線110下方且自其偏移且在調諧元件118下方且接近其之一層上形成，類似於圖3B之配置。在實施例中且如在圖4中展示，調諧元件118可在與主傳輸線110相同(且鄰近於主傳輸線110)之層中。如上文討論，可在圖中互換主傳輸線110及耦合線112，或該等元件相對於彼此之其他實體配置可係適當的。亦如上文討論，在特定實施例中，主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118之任一者可包含彎曲或斜向區段且可非筆直的。另外，可在基板410或晶粒420之一或多個層中實施主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118。另外，雖然疊構400已經描述為一基板410及一晶粒420，但疊構400可等效地描述為一電路板(例如，410)及一基板(例如，420)，或一疊構可具有多個及/或額外分層結構。例如，一多晶片模組可具有一基板及多個晶粒，且一器件可包含具有安裝至其之一或多個多晶片模組之一電路板。可在各種結構之多個層間或跨該等層實施本文描述之EM耦合器之任一者之主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118。 另外，開關、接地、濾波器、阻抗、控制電路、通信介面及記憶體，以及其他組件亦可在一電路板、一基板或一晶粒之一或多個層處之一疊構內實施，或可分佈在各種層間或可在一疊構或此等之任何組合外部。 雖然42 µm之一介電質厚度已在上文呈現為一例示性厚度，但其他實施例可包含其他標稱厚度，且標稱厚度之準則可取決於改變之操作參數或應用，諸如頻率、頻帶及所需耦合因數。 在圖5A至圖5C中展示不具有本文揭示之調諧元件之益處之一特定耦合器設計之經模擬效能。圖5A至圖5C之各者展示跨X軸上之一頻率範圍之Y軸上之耦合因數之一圖表。圖5A展示比此實例之42 µm之標稱厚度薄之38 µm之一「薄」介電質厚度之結果。圖5B展示42 µm之標稱介電質厚度之結果。圖5B展示46 µm之一更厚之介電質厚度之結果。在圖5A至圖5C之各者中，元件符號510對應於在1 GHz之一頻率之耦合因數，元件符號520對應於在2 GHz之一頻率之耦合因數，且元件符號530對應於在3 GHz之一頻率之耦合因數。跨不同介電質厚度之在1 GHz、2 GHz及3 GHz之此等特定頻率之耦合因數在表1中製表(以分貝為單位且捨位至二位數)。 表1 如可參考表1可見，當介電質之厚度為過薄4 µm時，耦合因數從標稱減小約0.4 dB。類似地，當介電質之厚度為過厚4 µm時，耦合因數增大約0.4 dB。作為參考，若不考量耦合因數變化，則在功率量測中，一0.4 dB差可產生約10%誤差。 使用根據本文揭示之態樣及實施例之一調諧元件118 (例如，如在圖3A至圖3E中展示)來大幅改良耦合因數變化。圖6A至圖6C之各者係針對與上文相同之介電質厚度、但針對具有圖3A至圖3B之實例實施例中之調諧元件118之一耦合器之自一模擬產生之跨一頻率範圍之耦合因數之一圖表。圖6A展示38 µm之一介電質厚度之結果，而圖6B展示42 µm之標稱介電質厚度之結果，且圖6C展示46 µm之一介電質厚度之結果。在圖6A至圖6C之各者中，元件符號610對應於在1 GHz之一頻率之耦合因數，元件符號620對應於在2 GHz之一頻率之耦合因數，且元件符號630對應於在3 GHz之一頻率之耦合因數。針對圖3A至圖3B之實例耦合器設計，跨變化之介電質厚度之此等特定頻率處之耦合因數在表2中製表，再次經捨位至以分貝為單位之兩位數。 表2 如參考表2可見，針對圖3A至圖3B之實例實施例，當介電質之厚度為過薄4 µm時，耦合因數本質上不變，且當介電質之厚度為過厚4 µm時，耦合因數僅增大0.06 dB之一最大值。當一調諧元件118經提供於圖3A至圖3B之實例實施例中時，表2展示針對變化之介電質厚度之耦合因數之一遠遠更低之變化。 如上文討論，主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118可為(例如)電導體之筆直(線性)跡線或可為非線性的。主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118之一或多者可具有彎曲或曲線，且可例如係螺旋形、蝸旋形或C形的。在特定實施例中，主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118之任一者或全部可經形成為電感器匝或可經圖案化，例如，網狀、齒狀等。在實施例中，設想任何適當塑形及相對近接性來達成所需耦合及補償變化。 在圖3A至圖3E之實例實施例中，調諧元件118展示為具有在各端處用開關124連接之一終接接地122。其他實施例可包含在沿著調諧元件118之各種位置處之接地，且可包含將阻抗(例如，1歐姆、5歐姆或10歐姆)終接接地，而非直接連接接地或短路接地。特定實施例可具有經實施為(例如)場效電晶體(FET)或微機電開關(MEMS)來將調諧元件118直接選擇性地連接接地或透過一或多個阻抗接地之開關式連接。阻抗可係可選擇及/或可調整的，容許進一步可調整性且容許可客製化耦合及補償效應。在其他實施例中，調諧元件118可自由電浮動而不具有接地路徑。若調諧元件118自由電浮動(開路)，則調諧元件118通常將不展現效應且藉此可當不必要用於一特定應用時選擇性地斷開。 另外，主傳輸線110、耦合線112及調諧元件118之一或多者可分成區段以具有可選擇性地調整之長度。例如，一組適當開關(例如，FET、MEMS)可互連傳輸線之各種區段，且一控制器可經程式化以控制該等開關且藉此以多種方式選擇性地連接各種區段以形成一或多個主傳輸線110、一或多個耦合線112及一或多個調諧元件118，以調整至改變之操作參數或應用。 可在各種不同模組中實施本文描述之補償耦合器100a之實施例，該等模組包含例如一獨立式耦合器模組、一前端模組、將補償耦合器與一天線切換網路組合之一模組、一阻抗匹配模組、一天線調諧模組或類似者。圖7繪示可包含本文討論之補償耦合器之實施例或實例之任一者之一耦合器模組之一個實例。 圖7係包含補償耦合器100a之一實施例之一模組700之一個實例之一方塊圖。模組700包含一基板702且可包含各種晶粒且可包含封裝(諸如一包覆模)來提供保護且促進更輕易處置。一包覆模可在基板702上方形成且經定尺寸以實質上囊封其上之各種晶粒及組件。模組700可進一步包含從耦合器100a至封裝外部之連接性以提供信號互連，諸如輸入埠連接704、輸出埠連接706、耦合埠連接708及隔離埠連接710。連接704、706、708及710可例如為線接合或焊料凸塊。 本文揭示之補償耦合器之實施例(視情況經封裝至一模組700中)可有利地用於各種電子器件中。電子器件之實例可包含但不限於：消費者電子產品、消費者電子產品之部分、電子測試設備、蜂巢式通信基礎結構(諸如一基地台)等。電子器件之實例可包含但不限於一行動電話(諸如一智慧型電話)、一電話、一電視機、一電腦監視器、一電腦、一數據機、一手持式電腦、一膝上型電腦、一平板電腦、一電子書閱讀器、一可穿戴電腦(諸如一智慧型手錶)、一個人數位助理(PDA)、一微波爐、一冰箱、一汽車、一立體聲系統、一DVD播放器、一CD播放器、一數位音樂播放器(諸如一MP3播發器)、一無線電設備、一攝錄影機、一攝影機、一數位攝影機、一可攜式記憶體晶片、一健康照護監測器件、一車輛電子系統(諸如一汽車電子系統或一航空電子系統)、一洗衣機、一乾燥器、一洗衣/乾燥機、一周邊器件、一腕錶、一時鐘等。此外，電子器件可包含未完成產品。 圖8係一電子器件800之一一般實例之一示意性方塊圖。電子器件800包含一電路板810，其具有安裝於其上之許多模組820、830、840。電路板810可具有多個層且可包含在層中及/或安裝於電路板810之表面上之電路元件及互連。模組820、830、840之各者可具有一多層基板，其內及其上亦可存在各種電路元件及互連。另外，模組820、830、840可進一步包含表面安裝式晶粒(例如，晶粒822、824、832、834、836)，其等之各者可具有多個層且包含各種電路元件及互連。根據本文揭示之態樣及實施例之一補償EM耦合器100a可在各種結構(例如，電路板、基板及晶粒)之任一層內、其等間或跨其等實施為一電子器件800(諸如一蜂巢式電話、平板電腦、智慧型器件、路由器、電纜數據機、無線存取點等)之部分。 圖9A至圖9C繪示根據上文討論之各種實施例之包含一補償EM耦合器100a之無線器件之實例。EM耦合器100a經組態以提取在一收發器920與一天線930之間行進之一RF信號之功率之一部分。一般言之，EM耦合器100a係一雙向耦合器。如繪示，在正向或傳輸方向中，一功率放大器940從收發器920接收一EM信號(諸如一RF信號)且經由一天線開關模組950及EM耦合器100a提供一放大信號至天線930。類似地，在接收方向中，經由EM耦合器100a、天線開關模組950及一低雜訊放大器960將一接收信號從天線930提供至收發器920。各種額外元件可包含在一無線器件中，諸如圖9A至圖9C之無線器件900，及/或在一些實施例中，可實施所繪示元件之一子組合。 功率放大器940放大一RF信號。功率放大器940可為任何適當功率放大器。例如，功率放大器940可包含一單級功率放大器、一多級功率放大器、藉由一或多個雙極電晶體實施之一功率放大器或藉由一或多個場效電晶體實施之一功率放大器之一或多者。可在例如一GaAs晶粒、CMOS晶粒或一SiGe晶粒上實施功率放大器940。 天線930可傳輸放大器信號且接收信號。例如，在一蜂巢式電話、無線基地台或類似者中，天線930可傳輸RF信號至其他器件且從其他器件接收RF信號。在替代實施例中，可使用多個天線。 在正向模式中操作，EM耦合器100a可提取在功率放大器940與天線930之間行進之放大信號之功率之一部分。例如，EM耦合器100a可產生正向功率從功率放大器940行進至天線930之一指示。在逆向模式中操作，EM耦合器100a可產生反射功率從天線930行進向功率放大器940之一指示，或可提取藉由天線930從一外部源接收之一信號之功率之一部分。在任一模式中，EM耦合器100a可提供信號部分至一感測器912，其藉由量測信號部分之功率而提供功率回饋。 圖9A至圖9C之無線器件900之實例進一步包含一功率管理系統904，其經連接至收發器920且管理用於操作無線器件之功率。功率管理系統904亦可控制無線器件900之一基頻帶子系統906及其他組件之操作。功率管理系統904可藉由(例如)從一電池902提供功率至無線器件900或從一電源連接器提供功率至無線器件900而管理無線器件900內之功率，且藉由控制電池902之充電及放電循環及/或狀態而控制電池902之一電荷位準。 在一項實施例中，基頻帶子系統906經連接至一使用者介面908以促進提供至使用者及從使用者接收之語音及/或資料之各種輸入及輸出。基頻帶子系統906亦可連接至記憶體910，記憶體910經組態以儲存資料及/或指令以促進無線器件900之操作及/或提供使用者之資訊之儲存。 功率放大器940可用於放大各種RF或其他頻帶傳輸信號。例如，功率放大器940可接收一啟用信號，其可用於用脈衝輸送功率放大器之輸出以幫助傳輸一無線區域網路(WLAN)信號或任何其他適當脈衝信號。功率放大器940可經組態以放大各種類型之信號之任一者，包含例如一全球行動通信系統(GSM)信號、一分碼多重存取(CDMA)信號、一W-CDMA信號、一長期演進(LTE)信號、一EDGE信號及類似者。在特定實施例中，功率放大器940及相關聯組件(包含開關及類似者)可使用(例如) pHEMT或BiFET電晶體製造於GaAs基板上或使用CMOS電晶體製造於一矽基板上，以及使用其他半導體製造技術製造。 仍參考圖9A至圖9C，無線器件900亦可包含一補償耦合器100a，其具有用於量測自功率放大器940傳輸之功率信號且用於提供一或多個耦合信號至一感測器模組912之一或多個定向EM耦合器。感測器模組912繼而可發送資訊至收發器920及/或直接發送至功率放大器940作為回饋以用於做出調整以調節功率放大器940之功率位準。如此，補償耦合器100a可用於提高/降低具有一相對低/高功率之一傳輸信號之功率。然而，將瞭解，補償耦合器100a可用於各種其他實施方案中。 在無線器件900之實例之任一者之特定實施例中，來自無線器件900之傳輸可具有指定功率限制及/或時槽。功率放大器940可在指定功率對時間限制內上下偏移功率包絡。例如，一特定行動電話可經指派一特定頻率通道之一傳輸時槽。在此情況中，可需要功率放大器940隨時間調節一或多個RF功率信號之功率位準，以在一經指派接收時間期間防止傳輸信號干擾且降低功率消耗。在此等系統中，補償耦合器100a可用於量測一功率放大器輸出信號之功率以幫助控制功率放大器940，如上文討論。在圖9A至圖9C中展示之實施方案意在僅在本質上係例示性的且非限制性的。 在圖9B中展示之實例包含一組合模組970，其包含與一天線開關模組(例如，ASM 950)組合之根據本文描述之態樣及實施例之一補償耦合器。在圖9C中展示之實例包含一組合模組980，其將一補償耦合器、一天線開關模組及一功率放大器(例如，PA 940)併入在一起作為一前端模組(模組980)。額外實施例包含一前端模組，其進一步併入一或多個低雜訊放大器(例如，LNA 960)及/或感測器(例如，感測器912)。 因此，在已在上文描述至少一項實施例之若干態樣之情況下，應瞭解，熟習此項技術者容易想到各種更改、修改及改良。此等更改、修改及改良意在係本發明之部分且意在處於本發明之範疇內。因此，以上描述及圖式僅係藉由實例。
100‧‧‧EM耦合器
100a‧‧‧補償耦合器
102‧‧‧功率輸入埠
104‧‧‧功率輸出埠
106‧‧‧耦合埠
108‧‧‧隔離埠
110‧‧‧主傳輸線
112‧‧‧耦合線
114‧‧‧部分
116‧‧‧信號
118‧‧‧調諧元件
120‧‧‧介電材料
122‧‧‧接地
124‧‧‧接地開關
400‧‧‧疊構
410‧‧‧疊層結構/基板
412‧‧‧焊料凸塊
420‧‧‧晶粒
510‧‧‧耦合因數
520‧‧‧耦合因數
530‧‧‧耦合因數
610‧‧‧耦合因數
620‧‧‧耦合因數
630‧‧‧耦合因數
700‧‧‧模組
702‧‧‧基板
704‧‧‧輸入埠連接
706‧‧‧輸出埠連接
708‧‧‧耦合埠連接
710‧‧‧隔離埠連接
800‧‧‧電子器件
810‧‧‧電路板
820‧‧‧模組
822‧‧‧晶粒
824‧‧‧晶粒
830‧‧‧模組
832‧‧‧晶粒
834‧‧‧晶粒
836‧‧‧晶粒
840‧‧‧模組
900‧‧‧無線器件
902‧‧‧電池
904‧‧‧功率管理系統
906‧‧‧基頻帶子系統
908‧‧‧使用者介面
910‧‧‧記憶體
912‧‧‧感測器
920‧‧‧收發器
930‧‧‧天線
940‧‧‧功率放大器
950‧‧‧天線開關模組
960‧‧‧低雜訊放大器
970‧‧‧組合模組
980‧‧‧組合模組
在下文中參考隨附圖式討論至少一項實施例之各種態樣，該等圖式並不意在按比例繪製。包含該等圖來提供對各種態樣及實施例之繪示及一進一步理解，且該等圖經併入且構成此說明書之一部分，但不意在作為本發明之限制之一定義。在圖中，在各種圖中繪示之各相同或幾乎相同之組件藉由一相似數字表示。為清晰起見，並非每一組件皆在每一圖中標記。在圖中： 圖1係一電磁耦合器之一個實例之一圖； 圖2係一耦合理論之一繪示； 圖3A係一補償耦合器之一實例之一俯視示意圖； 圖3B係圖3A之補償耦合器之一端視示意圖； 圖3C係一補償耦合器之一替代性實例之一端視示意圖； 圖3D係一補償耦合器之一替代性實例之一俯視示意圖； 圖3E係一補償耦合器之一替代性實例之一俯視示意圖； 圖4係一實例補償耦合器之一佈局之一側視示意圖； 圖5A係對於小於一標稱厚度之一介電質厚度之一未補償耦合器之跨一頻率範圍之耦合因數之一圖表； 圖5B係對於一標稱介電質厚度之一未補償耦合器之跨一頻率範圍之耦合因數之一圖表； 圖5C係對於大於一標稱厚度之一介電質厚度之一未補償耦合器之跨一頻率範圍之耦合因數之一圖表； 圖6A係對於小於一標稱厚度之一介電質厚度之一補償耦合器之一實施例之跨一頻率範圍之耦合因數之一圖表； 圖6B係對於一標稱介電質厚度之一補償耦合器之一實施例之跨一頻率範圍之耦合因數之一圖表；及 圖6C係對於大於一標稱厚度之一介電質厚度之一補償耦合器之一實施例之跨一頻率範圍之耦合因數之一圖表。 圖7係包含一補償耦合器之一模組之一個實例之一方塊圖； 圖8係可包含一補償耦合器之一電子器件之一個實例之一方塊圖；及 圖9A至圖9C係包含一補償耦合器之無線器件之各種實例之方塊圖。
100a‧‧‧補償耦合器
102‧‧‧功率輸入埠
104‧‧‧功率輸出埠
106‧‧‧耦合埠
108‧‧‧隔離埠
110‧‧‧主傳輸線
112‧‧‧耦合線
118‧‧‧調諧元件
122‧‧‧接地
124‧‧‧接地開關

Claims (20)

  1. 一種電磁耦合器，其包括： 一介電層，其具有一第一表面及一第二表面； 一第一傳輸線，其鄰近於該介電層之該第一表面且延伸在一輸入埠與一輸出埠之間； 一第二傳輸線，其鄰近於該介電層之該第二表面且延伸在一耦合埠與一隔離埠之間，該電磁耦合器經組態以回應於在該輸入埠接收一輸入信號而在該耦合埠處提供一耦合信號，該耦合信號之一振幅與該輸入信號之一振幅藉由一耦合因數而相關；及 一調諧元件，其鄰近於該介電層之該第一表面及該第二表面之一者且經組態以在該介電層之一厚度之一變化範圍內穩定該耦合因數。
  2. 如請求項1之電磁耦合器，其中該調諧元件經短路至一電接地。
  3. 如請求項1之電磁耦合器，其中該調諧元件透過一阻抗連接至接地。
  4. 如請求項3之電磁耦合器，其中該阻抗係可調整的。
  5. 如請求項1之電磁耦合器，其中該調諧元件經組態以與該第一傳輸線及該第二傳輸線選擇性地解耦。
  6. 如請求項1之電磁耦合器，其中該第二傳輸線與該第一傳輸線及該調諧元件之至少一者側向偏移。
  7. 如請求項1之電磁耦合器，其中該第二傳輸線之至少一部分與該第一傳輸線及該調諧元件之至少一者形成一重疊區。
  8. 一種通信器件，其包括： 一收發器，其經組態以產生一傳輸信號； 一電磁耦合器，其具有一輸入埠、一輸出埠、一耦合埠及一隔離埠，該電磁耦合器經組態以回應於在該輸入埠接收一輸入信號而在該耦合埠處提供一耦合信號，該耦合信號之一振幅與該輸入信號之一振幅藉由一耦合因數而相關，且該電磁耦合器包含：一介電層，其具有一第一表面及一第二表面；一第一傳輸線，其鄰近於該第一表面且延伸在該輸入埠與該輸出埠之間；一第二傳輸線，其鄰近於該第二表面且延伸在該耦合埠與該隔離埠之間；及一調諧元件，其鄰近於該第一表面及該第二表面之一者且經組態以在該介電層之一厚度之一變化範圍內穩定該耦合因數；及 一天線開關模組，其經連接至該電磁耦合器之該輸入埠或該輸出埠且經組態以引導該電磁耦合器與該收發器或一天線之任一者之間的該傳輸信號。
  9. 如請求項8之通信器件，其中該調諧元件經短路至一電接地。
  10. 如請求項8之通信器件，其中該調諧元件透過一阻抗連接至接地。
  11. 如請求項10之通信器件，其中該阻抗係可調整的。
  12. 如請求項8之通信器件，其中該調諧元件經組態以與該第一傳輸線及該第二傳輸線選擇性地解耦。
  13. 如請求項8之通信器件，其進一步包括在該收發器與該天線開關模組之間連接之一功率放大器，該功率放大器經組態以接收且放大該傳輸信號。
  14. 如請求項8之通信器件，其中該電磁耦合器經進一步組態以在該輸出埠處接收該接收信號且在該輸入埠處提供該接收信號，且該天線開關模組經進一步組態以引導該接收信號至該收發器。
  15. 如請求項8之通信器件，其進一步包括一感測器、一記憶體、一基頻帶子系統、一使用者介面及一電池之至少一者。
  16. 一種在製造程序變化之一範圍內穩定一電磁耦合器之一耦合因數之方法，該方法包括： 提供該電磁耦合器，其包含：一第一傳輸線，其鄰近於一介電層之一第一表面且延伸在一輸入埠與一輸出埠之間；一第二傳輸線，其鄰近於該介電層之一第二表面且延伸在一耦合埠與一隔離埠之間，該電磁耦合器經組態以回應於在該輸入埠接收一輸入信號而在該耦合埠處提供一耦合信號，該耦合信號之一振幅與該輸入信號之一振幅藉由該耦合因數而相關；及 提供一調諧元件，其經組態以在該介電層之一厚度範圍內穩定該耦合因數。
  17. 如請求項16之方法，其進一步包括將該調諧元件選擇性連接至一電接地。
  18. 如請求項16之方法，其進一步包括將該調諧元件連接至一阻抗。
  19. 如請求項16之方法，其進一步包括將該調諧元件連接至一可調整阻抗。
  20. 如請求項19之方法，其進一步包括調整該可調整組件以將該耦合因數維持於一預定值範圍內。
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