TW201641171A - 用於製造金屬帶的方法 - Google Patents

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Abstract

本發明係有關於一種在滾壓設備中製造金屬帶的方法，其中在將過去測定之適配值考慮在內的情況下，藉由過程模型測定針對所期望之輪廓的預測值。具體言之，計算該第n+x個金屬帶的輪廓，具體方式為，首先藉由該過程模型計算出至少第n個金屬帶在參考位置bi上之輪廓的預測值，隨後對該至少第n個金屬帶進行滾壓，隨後對該經滾壓之至少第n個金屬帶在同一參考位置上的帶輪廓實際值進行量測，以及，最後確定適配值，其為該實際值與預測值的差。藉此，針對該第n+x個金屬帶在參考位置bi上的輪廓測定新的適配值。為更加精確地預測輪廓，以及在隨後製造第n+x個金屬帶時更加精確地對輪廓施控元件進行調節，本發明提出，並非僅在一個參考位置上，而是在該至少第n個金屬帶之至少一帶寬區段中的複數個參考位置bi上測定該等適配值。

Description

用於製造金屬帶的方法
本發明係有關於一種如申請專利範圍第1或3項之前言所述的，在滾壓設備中製造具所期望之輪廓的金屬帶的方法。
本發明之背景為，對金屬帶之輪廓至少在各預設之帶寬位置(所謂“參考位置”)上的設置精度的要求，以及對金屬帶之輪廓的尺寸精度的要求有所提昇。視金屬帶之計劃的應用範圍，例如期望在某一參考位置上達到預設之輪廓高度的拋物線狀熱軋輪廓，以便在下游之冷軋機(順列式軋機)中將進一步處理簡化。作為替代方案，亦可能要求箱式輪廓，即具中心扁平之橫截面的金屬帶，此橫截面朝帶邊急劇下傾；此要求例如針對隨後需要沿縱向劃分的金屬帶。而通常不期望凹面狀帶輪廓，即邊沿厚於或高於中心區域的帶輪廓，以及具有邊沿隆起部的金屬帶。
為儘可能精確地製造所期望之帶輪廓，先前技術中已提出過各種方案。
例如，國際專利案WO 1995/034388公開過一種用於在精軋機之輸出上偵測金屬帶之輪廓的偵測系統。將於此處偵測之帶輪廓K與設定的此位置上之目標輪廓進行比較，且此案提出使用施控元件，以就後續之帶材將測得之輪廓與目標輪廓的偏差最小化。此外，決定測得之帶輪廓 形狀是否係可接受，且此案提出若干措施，例如改變工作輥之熱冠狀，從而亦改進輪廓形狀。
EP 0 618 020 B1亦試圖根據設定之目標輪廓對熱軋機之輸出上的金屬帶輪廓進行調整。為此，使用若干機械施控元件，以將計算出(即預測)之帶形狀與設定之目標輪廓間可能的偏差最小化。亦將(在距帶邊40mm的位置上)測得之帶輪廓C40用於調控系統之補償或調節。
此外，先前技術中亦揭示過如申請專利範圍第1或/及3項之前言的操作。據此，在第n個金屬帶之滾壓過程中，在預設之參考位置上，藉由數學物理過程模型對針對帶材輪廓之預測值以及針對輪廓施控元件之調節值進行模擬及計算。亦在考慮限制及使用不同之輪廓施控元件的情況下進行模擬。在第n個金屬帶滾壓完畢後，基於針對第n個金屬帶在述及之參考位置上的帶輪廓的預測值與測得的實際值的差，計算出一適配值。此參考位置係自金屬帶之滾壓邊測得的預設帶寬位置(例如25或40mm)。根據先前技術，僅在單獨一個參考位置上確定或給定述及之預測值以及述及之適配值，從而以此為基礎來定義針對金屬帶之帶輪廓的各目標設定。
本發明之目的在於，以先前技術為基礎，對習知的在滾壓設備中製造金屬帶的方法進行改進，從而在未來的金屬帶製造中，更加精確地預測金屬帶在寬度範圍內的輪廓，以及更加精確地調節滾壓設備之輪廓施控元件。
本發明用以達成上述目的之解決方案為如申請專利範圍第 1及3項之方法。
採用如申請專利範圍第1項之方法時，在滾壓金屬帶前，在該滾壓過程之模擬中計算輪廓之預測值。與此不同，根據如申請專利範圍第3項之方法，並非在滾壓前之模擬中，而是透過金屬帶滾壓完畢後的追算來計算該預測值。
換言之：作為替代方案，在進行適配值計算時，視適配理念而定，該預測值為根據申請專利範圍第1項的、在該滾壓過程之模擬中採用若干預設值(預期之滾壓力等)計算出的輪廓值，或者為根據申請專利範圍第3項的、採用實際條件(測得之滾壓力等)之追算的結果。
原則上，就該二方法而言，皆力求使得計算出的預測值與預設之目標值一致；但基於過程或設備特定的特殊性，該等預測值可能並非精確地，而僅近似地與該等目標值一致。
在該等輪廓施控元件採用相同設置的情況下，針對不同參考位置bi上之帶輪廓計算該等預測值。此點適用於該二方法。
“金屬帶”概念亦包含金屬片。
“滾壓設備”概念既包含單機架，例如厚板機架、爐捲機架或雙爐捲機架等，亦包含整個精軋機。
“參考位置bi”概念較佳地表示沿金屬帶之寬度方向的一般位置m的子集。普通帶寬位置係透過其與金屬帶之中心的沿寬度方向的距離定義，而參考位置係透過與金屬帶之帶邊或滾壓邊的預設距離定義。就標準化參考位置，例如25mm、40mm或另一參考位置(例如距金屬帶之滾壓邊100mm)而言，通常預設針對輪廓的值，例如作為C25值、C40值或 C100值。對於不同之帶寬或對於所有金屬帶而言，該等參考位置較佳地相同。不論該等C值為目標值、預測值還是適配值，其皆自相互關係得出。
“過程模型”概念表示用於模擬滾壓過程的數學/物理模型。其特別適於計算針對該金屬帶之預測值及輪廓，以及計算施控元件之調節值。該過程模型亦稱作“Profile Contour and Flatness Control”PCFC(輪廓及平度控制)。
“計算出的值”概念表示“預測值”。相似地，“計算出的輪廓”表示“預測之輪廓”。
“隨後之製造”或“未來之製造”概念表示，在測定針對至少第n個金屬帶的新適配值後實施的製造或滾壓。該“隨後之製造”可能有關同一第n個金屬帶之其他縱長段，或者有關一完全待從新製造的金屬帶n+x。
“n+x”概念(其中x=1、2、3等，xIN)表示未來(待)在該第n個金屬帶後製造的金屬帶。因此，n+2例如表示該第n個金屬帶後的第二個待製造的，特別是待滾壓的金屬帶。
亦即，針對相應之預設計算，通常將該待滾壓之帶材表示為n+x。在此採用先前計算出的適配值。
“輪廓”及“帶輪廓”概念皆係沿該金屬帶之寬度方向視之，並具有相同的含義。
本發明之核心理念在於，並非如先前技術中迄今為止常見的那般在僅一個(數值)確定的參考位置上，而是在複數個參考位置上測定適配值，其係針對該金屬帶之輪廓測得的實際值與計算出(即預測)的值 的差。如此便能實現帶輪廓適配。在對該等輪廓施控元件進行計算及調節時，以及在針對未來待滾壓之金屬帶計算輪廓或計算預測值時，可將此等在帶寬範圍內測定的複數個適配值考慮在內。透過採用複數個適配值，且由於更為精確地知悉該輪廓，就針對該第n個金屬帶之另一縱長段，或針對該第n+x個金屬帶之輪廓，或針對未來待滾壓之金屬帶的輪廓追求的目標值而言，能夠更加精確地對該等輪廓施控元件進行調節。藉此亦能針對該第n+x個金屬帶，即針對未來待滾壓之金屬帶更加精確地計算出該輪廓之預測值。
根據一較佳實施例，在測定該等參考點bi上之適配值時，短時間適配值與長時間適配值存在區別。藉由此方案，能夠將在至少一帶材n上獲取的資訊用於隨後待滾壓之帶材n+x，因為就後續帶材或隨後在相似之條件下滾壓的帶材而言，在測得與預測之輪廓值間總是相當頻繁地出現相同的輪廓偏差。
根據以下公式計算短時間適配值：△C(n)bi=△C K (n)bi=△C K (n-x)bi+[C Ist (n)bi-C P (n)bi]
其中K：短時間適配，以及△C K (n-x)bi：舊的短時間適配值
C Ist (n)bi：針對第n個帶材之輪廓測得的實際值
C P (n)bi：計算出的預測值或計算出的帶輪廓
x=1、2、3...
n：涉及的金屬帶
在採用此針對短時間適配值的公式時，在滾壓過程重新啟動 時，例如在工作輥切換後，該被加數△CK(n-x)bi被預設為例如0或另一典型初值。在此情形下，計算出的該短時間適配值為該初值與以下之總和：輪廓之實際值CIst(n)bi與第n個金屬帶在參考位置bi上之預測值CP(n)bi的差。
參考位置bi上的長時間適配值△CLbi係透過實施以下步驟得出：透過在複數I個參考點bi上重複如申請專利範圍第1或3項之步驟a)至f)，為一適配組的複數個在第n+x個金屬帶前經滾壓的金屬帶測定該等適配值；以及透過為該等適配值求平均值，或者針對該等複數個金屬帶在參考位置bi中的一個上的輪廓為實際值與預測值的差求平均值，計算出該等長時間適配值△CLbi。
為根據申請專利範圍第1或3項確定金屬帶n+x之預測值CP(n+x)bi，該長時間適配值△CLbi視情況取自該金屬帶n+x所歸屬於的適配組。
換言之，該長時間適配值亦可透過為j個帶材之總適配值(長時間及短時間適配值)求平均值得出，此等帶材係同一適配組的已經過滾壓的帶材。
已經過滾壓之帶材j的最大可採用數目例如可為100或50，且可自由確定。亦即，就一個帶材而言的差對該長時間適配值的影響僅為j分之一。在PCFC預設計算中，可100%地或僅按一定比例地使用該測定之長時間適配值，取決於可自由確定之邊界條件。
在對該長時間適配值△CL(n)bi進行定義及計算時，對短時 間適配值△CK(n)bi的知悉可能為前提條件。據此，在特例情形下亦可單獨使用該短時間適配值。
作為長時間適配值及短時間適配值的替代方案，亦可測定總適配值，以測定該等輪廓施控元件之調節值，以及根據申請專利範圍第6項在參考點bi上確定帶輪廓。此總適配值的計算方式為：參考位置bi上之短時間適配值與長時間適配值的和。
以下示例揭示了就同一長時間適配組之4個帶材而言，各帶材之參考位置上的適配值、計算出的輪廓值及量測值等的特性。
根據另一實施例，在進行用於輪廓施控元件之預設的計算時，或者可100%地，或者僅按所期望之比例使用該測定的短時間適配值、該測定的長時間適配值或該測定的總和適配值。可根據可自由確定之邊界條件來選擇所期望之比例。視所選擇之權重，例如33或50%，對適配效應進行抑制或平滑。可透過最大值(例如10μm)對帶材間的短時間適配值變化進行限制，以防止可能之量測誤差的權重過高。該短時間適配值亦可能與爐子相關，或者與其他過程量相關。該短時間適配值通常與最後之帶材n的輪廓差有關。在特例情形下，該輪廓差例如可能與倒數第二個帶材有關。在此情形下，n對應帶材n-1或n-x。
本發明之在金屬帶之各寬度位置bi上計算出的適配值較佳 地亦可用於測定該金屬帶之適配輪廓，具體方式為，藉由至少一適宜之形函數將各現有之適配值相連成適配輪廓。可透過該等I個針對金屬帶n+x測定的適配值△C(n+x)bi對該適配輪廓進行導引，或者，該適配輪廓依照形函數或平滑函數緊密地在該等適配值旁延伸(逼近)。亦即，將形函數用於連接適配值、內插、平滑、外插或逼近，且例如如此命名該形函數。適配值通常處於至少兩個參考位置bi上，且較佳地存在處於另一帶寬位置m上的另一適配輪廓值，其中該另一帶寬位置並非參考位置。通常透過該過程模型給定其他帶寬位置。根據已知適配值的帶寬位置，或者僅能在受限之區段或區域內，或者能夠在該金屬帶之整個寬度範圍內測定該適配輪廓。在該金屬帶之寬度範圍內的各區域內，該等已知之適配值的密度可不同。該等已知之適配值在金屬帶之邊緣區域內(較佳地在該等參考位置上)的密度較佳地大於在中心區域(亦稱作主體區域)內的密度。此點之原因在於，邊緣區域對輪廓精度的要求常高於中心區域。在輪廓量測儀所提供之每個平滑量測點皆為適配點bi的極端特殊情形下，亦可以不另行確定內插函數的方式測定該適配輪廓；在此情形下，該適配輪廓即大量適配值之相鄰序列。但通常情況下，帶寬位置，特別是參考位置之最大數目I小於10。
根據本發明的一較佳實施例，將針對該第n+x個金屬帶述及並測定的適配輪廓，與藉由該過程模型預測、計算出的未適配的輪廓疊加，從而獲得針對該第n+x個金屬帶的經適配的輪廓。
針對該金屬帶之不同寬度區段，可以不同的方式測定該適配輪廓或該經適配之輪廓的形函數或內插函數。第一寬度區段例如可位於中 心寬度區域內，第二寬度區段或其他寬度區段例如可位於該金屬帶之邊緣區域(亦稱作邊沿區域)內。
就兩個沿寬度方向相互鄰接之寬度區段而言，較佳地如下選擇該二寬度區段範圍內的形函數或適配輪廓或經適配之輪廓：使得位於此等帶材區段之交界處的輪廓曲線總是可微，特別是具有相同的斜率。透過此條件防止該等輪廓在該二帶材區段間的界限上發生彎折；取而代之地，該等輪廓平滑地過渡至彼此。
可將該金屬帶之一寬度區段範圍內的適配輪廓或經適配之輪廓外插入一相鄰之寬度區段，以在該相鄰之寬度區段範圍內測定經外插及適配的適配輪廓或者經外插及適配的輪廓，特別是在該範圍內無已知之適配值或測得之輪廓值的情況下。
述及之用於將各適配值或輪廓值連接的至少一形函數或逼近函數或內插函數，或者述及之外插函數可自線性函數、任意階之多項式函數、指數函數、三角函數、仿樣函數或不同函數之組合構成。對於該金屬帶之不同寬度區段而言，該等形函數或內插函數亦可不同。
作為在參考位置bi上測得的金屬帶之輪廓的實際值的替代，亦可採用在該金屬帶之(沿滾壓方向視之的)右半及左半部份上在鏡像對稱之參考位置bi上測得的實際值的平均值。其中，該沿金屬帶之縱向延伸的、位於金屬帶之一半寬度或寬高處的假想平面用作鏡像平面。
首先亦可僅針對帶材的一半，例如帶材位於操作側的一半來測定該等經適配之輪廓值或該等經適配之輪廓，隨後針對帶材的另一半，例如帶材位於驅動側的一半進行鏡射。
可將測得之輪廓實際值用作參考位置bi上的直接量測值，或者用作透過寬度範圍內之補償函數(例如量測值內插函數)平滑過的輪廓量測值。
就輪廓而言，可在定義之帶材長度位置上測定該等實際值CIst(n)bi，或者在一帶材段長度範圍內求平均值，或者在整個帶材長度範圍內求平均值。
特別是金屬帶之邊沿區域內，較佳地就輪廓異常，例如帶材隆起部(即帶材邊沿區域內之非期望的增厚)或者急劇的帶輪廓下傾，對根據本發明測定的經適配的輪廓進行分析。較佳地以在線方式或在實時模式中進行該分析。其中可對該等輪廓施控元件作適宜的調節，從而在同一金屬帶之隨後滾壓的縱向區段中，或者在隨後滾壓的金屬帶中，主動地克服或減小述及的輪廓異常。
在不採用本發明之適配輪廓的情況下，可能會計算出具正常輪廓的金屬帶，但實踐中卻在邊沿上構成帶材隆起部。藉由本發明實現的對適配輪廓的測定，以及由此實現的對更加精確之經適配的輪廓的測定，提供用以改進輪廓測定的新方案。舉例而言，若就金屬帶計算出大於允許之閾值的邊沿隆起高度，則藉由該過程模型在預設之允許的輪廓水平界限(例如處於C40目標min與C40目標max間)內，將距金屬帶之滾壓邊40mm處的帶輪廓水平自動設置(通常為提昇)為一個值，以免超出或減小所允許之最大隆起高度，或者/以及，針對性地使用輪廓施控元件(例如滾子移動系統等)來減小隆起高度。
本發明之其他有利技術方案參閱附屬項，特別是申請專利範 圍第21至23項。
在利用材料橫向流特性的情況下，作為附加方案，能夠使用輪廓調節分兩個步驟對該主體帶輪廓(即該金屬帶之中心區域內的輪廓)以及該邊沿帶輪廓進行更加精確的調節。首先在滾壓設備之前區中，或者在可逆式軋機的第一道次中使用該等輪廓施控元件，從而對該主體輪廓進行調節。在第二步驟中，對用於後機架或最後之道次的輪廓施控元件進行調節，從而亦對帶邊上之標稱輪廓進行調節，或如此形成(設計)整個輪廓。
亦即，可針對不同之寬度位置預設多個目標輪廓值，對所有此等目標輪廓值進行調節，或者/以及將其保持在特定界限內，或者對其進行監控。舉例而言，可透過擴展之過程模型對邊緣區域內的目標輪廓值C25=30μm進行調節，或者將偏差最小化，同時將主體帶材區域內的目標輪廓值保持在C100>15μm的界限內。
就設置策略而言，可將帶邊區域內之輪廓值(例如C25)或者主體帶輪廓值(例如C100)作為首要目標，並視具體帶材而採用不同的預設方式。較佳地(如所描述的那般)在此等參考點上對該等帶輪廓值或帶輪廓進行適配。
較佳地就帶輪廓異常對該等由mmax輪廓值C(n+x)m構成的、經適配的輪廓函數進行分析，以及，藉由該過程模型，透過未詳細說明之傳遞函數或加權因數將經分析之最終帶輪廓誤差的資訊傳遞至中間機架輪廓或中間道次輪廓的計算。作為替代或附加方案，透過未詳細說明之傳遞函數或加權因數，將在該等位置bi上測定的適配值傳遞至中間機架輪廓或 中間道次輪廓的計算。
亦即，在精確定量知悉帶輪廓異常(隆起高度、隆起寬度、諸如C25-C100之兩個明確的輪廓點間的邊沿下傾，以及帶材中心區域內或者C100、C125、C150或C200上的輪廓偏差)的地點的情況下，能夠進行針對性的分析，而不論帶輪廓誤差位於邊沿上、中心區域內還是該二區域內。在知悉此資訊的情況下，在輪廓及平度計算中以迭代的方式針對性使用不同機架的輪廓施控元件，從而防止或減小帶輪廓異常。
藉此便能採用輪廓施控元件，例如用於影響熱凸度的可調型工作輥冷卻系統、區域冷卻系統或者局部滾子加熱系統、與滾子磨具(用於克服帶材隆起部的專用滾子磨具“抗隆起滾子”或用於克服帶邊下傾的專用滾子磨具“錐形輥”、CVC滾子、採用更高階磨具或n階多項式或三角函數的CVC滾子)結合的工作輥移動系統、帶邊加熱系統、帶區冷卻系統、工作輥彎曲系統及/或具有對交叉功能(Pair-Cross-Funktion)的機架。除該等機械及熱輪廓施控元件外，視情況亦採用滾壓力重新分佈來針對性地影響輪廓。
本文附有5個附圖，其中圖1顯示金屬帶之輪廓，包含用於闡釋本發明的主要概念定義；圖2.1、2.2及2.3示出本發明之方法；圖3顯示基於本發明之方法減小金屬型材之邊緣上的非期望隆起部的第一方案；圖4.1及4.2顯示減小金屬帶之邊緣上的非期望隆起部的第二方案；及 圖5顯示透過設定多個參考位置上之目標值來調節金屬帶之輪廓的方案。
下面結合所述附圖以實施例的形式對本發明作詳細說明。
圖1為橫截面圖，即輸入至座標系中之金屬帶輪廓，其中橫座標表示帶寬位置m或bi，縱座標表示輪廓之輪廓值。該座標系如下建立於該拱起之輪廓上：該座標系係在寬度中心處被置於該拱起之輪廓上。帶寬位置之正值在圖1中向右延伸，帶寬位置之負值在圖1中向左延伸，其皆沿金屬帶之寬度方向延伸。與沿金屬帶之寬度方向的具體位置對應的各輪廓值表示該輪廓與矩形輪廓(如水平橫座標m/bi所示)之偏差。據此，該等輪廓值係基於橫座標垂直向下減小，並且係用正號給出。換言之：該等輪廓值特別是描述該金屬帶在某一帶寬位置上相對金屬帶之中心的拱起程度。在圖1中，輪廓值CL係被設定為CL=0，因為此輪廓值構成該座標系之原點。
在圖1中首先能識別出兩個輪廓，其中一個為測得之輪廓，其在圖1中顯示為虛線。此外，藉由過程模型計算出的、無適配之預測輪廓顯示為實線。如圖1所示，該預測之輪廓尚未經過本發明之適配(下文還將對此進行說明)。
本發明之核心理念為，在複數個帶寬位置bi(其中bi=1、2、3等)上，在圖1中為在位置bi=b1至b4上，對第n個金屬帶之預測的輪廓進行適配，或者對輪廓值(亦稱作預測值CP(n)bi)進行適配。該預測之輪廓相當於若干計算出之輪廓值的連續序列，或者相當於透過形函數或內插 函數相連的輪廓值或預測值。本發明之適配的關鍵在於測定相應的適配值△C(n)bi，其表示輪廓偏差，即在複數個帶寬位置b1至b4上，實際值CIst(n)bi與對應之預測值CP(n)bi的差。
原則上，該等帶寬位置bi為沿金屬帶之寬度方向的任意位置；通常透過與帶材中心之正距離或負距離來定義寬度位置。但在某些標準化之情形下，較佳地亦可透過與金屬帶之驅動側或/及金屬帶之操作側上的滾壓邊的距離(在此情形下朝帶材中心量測)來定義此等帶寬位置。如此定義之帶寬位置通常稱作參考位置。此等標準化之參考位置通常亦被分配給具體之輪廓值，其例如稱作C40或C100。C後的數字表示該帶寬位置與金屬帶之相應滾壓邊的距離。
圖1示出自驅動側至操作側之整個金屬帶寬度範圍內的輪廓。在隨後之圖2及5中，為簡化起見皆僅示出該金屬帶之輪廓的右半部份。在此一半部分中，測定之適配值，或者預測之輪廓與測得之輪廓間的差可至少近乎透過鏡射應用於該輪廓之左半部份。
作為替代方案，亦可透過對驅動側及操作側上之鏡像對稱的位置i=1，i=-1；i=2，i=-2；i=3，i=-3及/或i=4，i=-4上的輪廓值進行求平均值，來求出針對輪廓之量測值及計算值。負的指標值僅表示涉及相對的一側。在此，較佳地透過測得之整個帶輪廓設置一平滑函數，從而對帶輪廓訊號之可能的雜訊進行抑制。可僅針對帶材的一半以對稱的方式，或者在整個寬度範圍內以不對稱的方式計算該輪廓以及實施本發明之相應適配。
圖2繪示出本發明之方法，其用於製造金屬帶，特別是用於對金屬帶之輪廓進行適配。
圖2.1-2.3結合簡化之示例示出實際情況。僅採用短時間適配。該等附圖用於對多個參考點(在此為2個)上之輪廓適配的效應進行闡釋。
圖2.1首先描述本發明之在第n個金屬帶上確定適配值的方案，僅針對帶材右半部份以兩個適配點為例簡化繪示。就圖2.1之描述而言，可參照先前就圖1所作的描述；此描述同樣適用於圖2.1。僅需要補充的是，發生輪廓值之計算的帶寬位置或沿寬度方向的點通常係用參數m依次編號，特別是在自帶材中心CL開始計數的情況下。參考位置bi同樣為帶寬位置，但其並非由帶材中心，而是透過與金屬帶之滾壓邊的距離定義。
不僅是在圖2.1中，在隨後之附圖中亦將參數m用作對整個輪廓或輪廓計算點之整個數目的說明，而不同於參數bi，其通常僅應被理解為離散值(參考位置)。
在圖2.1、2.2及2.3中，就不同之帶寬n及n+1而言，此等參考位置bi與帶邊的距離相同。
圖2.1繪示出本發明之測定各適配值△C(n)b1及△C(n)b2的方案，其為針對第n個金屬帶之輪廓的各預測值CP(n)bi(其中i=1及i=2)與實際值CIst(n)bi的差。
圖2.2繪示出本發明之測定適配輪廓的方案。針對後續帶材n+x確定該適配輪廓。帶材n之寬度例如可不同於帶材n+x之寬度。僅在帶材n上或/及在採用長時間適配的情況下，透過針對一定數目之帶材j求平均值來確定適配值bi，並將其用於後續帶材n+x。總是僅以相互關聯的方式將該適配輪廓及點序列△C(n+x)m用於帶材n+x。
在圖2.2及圖2.3中輸入了圖2.1中測定的適配值△C(n)b1及△C(n)b2。在該針對後續帶材n+x(其中x=1)之簡化示例中，將該等適配值用於確定適配輪廓。因此，上述適配值亦可用△C(n+x)b1及△C(n+x)b2(其中x=1)表示。除參考位置b1及b2上之此二適配值外，為測定該適配輪廓，亦將另一明顯值考慮在內，在此其為帶材中心處的值，在圖2.2中用m=1表示。帶材中心處的△CL值為△CL=0，因為以穿過此點延伸的方式佈置該座標系。在帶材n上在點b1及b2上測定該等適配值，並將其用於帶材n+1(在此x=1)。
如圖2.2所示，針對第n+1個金屬帶的適配輪廓△C(n+1)m為透過帶材中心Cl=0、述及之兩個適配值以及在參考點C100及C25上得到的至少為分段的形函數或內插函數，其中將該二參考點作為與金屬帶之滾壓邊的距離進行量測。
原則上，可在相應之帶寬區段中以單獨及獨立於彼此的方式構成形函數或內插函數、在該帶材中心與參考點b1間實施內插、以及在參考點b1與參考點b2間實施內插。為防止兩個內插函數之過渡點上(在圖2.2中例如在位置b1上)的彎折，該二子內插函數之公式滿足以下附加條件：此二相鄰之子內插函數在過渡點上總是可微，亦即，相應之函數在此特別是需具有相同之斜率。原則上，針對沿該金屬帶之寬度方向的所有適配區域實施此操作。在此示例中，該適配輪廓在帶材中心CL上透過一水平切線(對稱地)開始。
自該最後之適配值(在圖2.2中在參考位置i=2上)至該金屬帶之未預設輪廓值的邊界點mmax，可透過外插來測定該適配輪廓。內插或 外插之用途為，基於該等參考位置上之預設的輪廓值，內插或外插至其他帶寬位置m上的輪廓值。
圖2.3繪示出在進行預測以及隨後製造待滾壓之第n+1個金屬帶時，如何將先前如圖2.2所示針對第n+1個金屬帶測定的適配輪廓考慮在內。
圖2.3示出計算出的經適配的輪廓CP(n+1)m，以及計算出的經適配的預測值CP(n+1)b1及CP(n+1)b2，並以虛線示出計算出的對應的預測輪廓CP(n+1)mOA(其中OA表示無適配)，在此示範性地針對第n+1個金屬帶，亦即，在此示範性地針對下一待滾壓之金屬帶。
可將先前根據圖2.1就第n個金屬帶測定的適配值△C(n)b1及△C(n)b2疊加至相應參考位置上的預測值，藉此就預測的經適配的輪廓值或輪廓獲得有所改進的適配預測值。
作為替代或附加方案，可將先前根據圖2.2就第n+1個金屬帶測定的適配輪廓△C(n+1)m疊加至針對該第n+1個金屬帶測定的預測輪廓CP(n+1)mOA，藉此獲得經相應改進或適配的輪廓CP(n+1)m；另見申請專利範圍第9項。
較佳地可使用如此獲得的經適配的新預測值或新輪廓，以在製造第n+1個金屬帶(泛言之為第n+x個金屬帶)時，就所期望之目標值或/及目標輪廓而言更加精確地對該等輪廓施控元件進行調節。
在以數學方式表達的情況下，就例如第n+1個待滾壓之金屬帶而言，該等經適配之帶輪廓值或該等經適配之帶輪廓根據以下公式計算：CP(n+1)mOA+△C(n+1)m=CP(n+1)m
其中CP(n+1)m為第n+1個金屬帶在帶寬m之範圍內的經修正或適配的輪廓；CP(n+1)mOA為第n+1個金屬帶在帶寬m之範圍內的計算出或預測的無適配的輪廓；△C(n+1)m為適配輪廓：針對金屬帶n+1的適配輪廓在位置m上的的值m=1至mmax。
寬度位置m亦可為參考位置bi。
在圖2.2所示示例中，為簡化描述/繪示，僅針對一金屬帶示出測得與計算出之輪廓間的差或適配值△C(n)m。通常在最後滾壓之金屬帶上，以及/或者在倒數第二個滾壓之金屬帶上，以及/或者在多個同類型且視情況具不同權重之金屬帶上求出此差，並如此測定總和適配值。
圖3示出一應用示例，其中使用本發明之輪廓適配來減小或防止金屬帶之邊緣區域內的非期望隆起部。就此如圖3所示之實施例而言，透過針對性地增大參考位置(在圖3中為位置C40，即距金屬帶之滾壓邊40mm)上之輪廓的值來減小隆起部。
在不採用輪廓適配的情況下，可能會計算或預測出具假定正常之輪廓的帶材；參閱圖3中在第一計算步驟後的無輪廓適配的輸出輪廓。在實施本發明之特別是在前文中結合圖2.3描述的輪廓適配後，透過疊加針對帶材n+x預測的輪廓以及針對前一帶材測定的適配輪廓，便能根據本發明測定如圖3所示的針對第n+x個金屬帶的經適配的輪廓CP(n+x)m。自圖3可明確識別出本發明之經適配的輪廓CP(n+x)m相對未適配的預測輪廓CP(n+x)mOA的優點，因為就該經適配的輪廓而言，在金屬帶之邊緣區域內方 識別出隆起高度為W1的非期望隆起部；而就該未適配的輪廓(虛線)而言則無法如此明確地識別出隆起部。就此而言，本發明之輪廓適配提供有所改進之計算結果來更為精確地測定輪廓，並提供用以改進輪廓的新方案，在此特別是用於降低隆起高度。舉例而言，若就圖3所示金屬帶計算出大於允許之隆起高度閾值的邊沿隆起高度W1，則藉由過程模型在預設之容許界限(例如C40目標min及C40目標max)內將相應帶邊位置(在此距金屬帶之滾壓邊40mm)上之輪廓值自動設置(在此為提昇)為新的值，以免超出或減小所允許之最大隆起高度。透過將預設之輪廓值增大△P，圖3所示示例中隆起高度自W1減小至W2。
作為替代或附加方案，對於相同條件及如圖3所示之相同輪廓而言，透過使用經適配之輪廓來控制隆起高度，在精軋機之後機架或者就可逆式機架而言在較晚之後道次中，可在過程界限及設備界限範圍內增大力水平。可透過滾壓力重新分佈實現此點，亦即，減小前機架或較早之道次的負荷及增大後機架或較晚之道次的負荷，或者/以及，將一或多個機架(最後之機架或最後之道次，或者精軋機內之機架或中間道次)架起。圖4.1示出較佳的滾壓力重新分佈的示例，其用於減小隆起高度W1(參閱圖4.2)。基於後機架中以迭代方式確定的較高負荷，工作輥壓扁作用增大。藉此，隆起部W2在滾壓力重新分佈後減小或消失，參閱圖4.2中之虛線(第2計算步驟)。該等機械輪廓施控元件在該迭代計算過程中對此等新的邊界條件進行調整，並例如對C40目標輪廓進行調節。
此外，主動地利用對基於物理關係模型化的預期輪廓的瞭解以及對金屬帶之寬度範圍內的多個寬度位置bi上的經適配之輪廓的瞭解， 從而在帶邊上之標稱帶輪廓的調節中，例如在位置C25上，此外亦將帶材中心區域(用CBody或C100表示)內之帶輪廓保持在允許的最小及最大界限C100min、C100max內，如圖5之示例所示。採用先進的輪廓預設時，較佳地還引入過程界限，並針對多個帶輪廓點(例如C25及C100)將最小及最大帶輪廓界限考慮在內。該有所改進之結果(第2計算區段)呈現為用實線表示的帶輪廓。

Claims (24)

  1. 一種在滾壓設備中製造具所期望之輪廓的金屬帶的方法，包括以下步驟：a)就至少一第n個金屬帶而言，針對沿寬度方向之至少一參考位置bi上的輪廓預設一目標值；b)藉由過程模型對該用於製造金屬帶之滾壓設備上的滾壓過程進行模擬，其中針對該第n個金屬帶在該參考位置bi上的輪廓，如此這般計算出用於輪廓施控元件之調節值及預測值CP(n)bi，從而在將該參考位置bi上可能存在之舊適配值及可能之限制考慮在內的情況下，儘可能實現該目標值；c)藉由該等計算出的調節值對該等輪廓施控元件進行調節；d)對該第n個金屬帶進行滾壓；e)對該經滾壓之第n個金屬帶在該參考位置bi上的輪廓的實際值CIst(n)bi進行量測；以及f)針對該第n個金屬帶在該參考位置bi上的輪廓，基於該實際值CIst(n)bi與該預測值CP(n)bi的差測定一新的適配值△C(n)bi；其特徵在於，在對該至少第n個金屬帶進行滾壓前，針對該至少第n個金屬帶之至少一寬度區段中的複數I個參考位置bi，其中I2且1iI，實施該等步驟a)、b)及c)；在對該至少第n個金屬帶進行滾壓後，針對複數I個參考位置bi實施該等步驟e)及f)，以在該至少第n個金屬帶之至少一寬度區段中的複數I 個參考位置bi上測定該等新的適配值△C(n)bi；以及g)在隨後製造該第n個金屬帶之另一縱長段或製造第n+x個金屬帶時，其中x=1、2等，至少以n=n+x的方式重複該等步驟a)至d)，其中在根據步驟b)為該第n+x個金屬帶計算該等輪廓施控元件之調節及計算該等預測值時，將先前根據步驟f)至少針對該第n個金屬帶為複數I個參考位置bi測定的新適配值△C(n)bi作為舊適配值納入考慮。
  2. 如申請專利範圍第1項之方法，其特徵在於，至少部分地以短時間適配值△CK(n)bi的形式，按照以下公式，在該第n個金屬帶之參考位置bi上根據步驟f)測定該等新的適配值△C(n)bi：△C(n)bi=△C K (n)bi=△C K (n-x)bi+[C Ist (n)bi-C P (n)bi]其中K：短時間適配；x=1、2、3…；△C K (n-x)bi：舊的短時間適配值；C Ist (n)bi：針對該第n個金屬帶在該參考位置bi上的輪廓測得的實際值；以及C P (n)bi：計算出的預測值或計算出的帶輪廓。
  3. 一種在滾壓設備中製造具所期望之輪廓的金屬帶的方法，包括以下步驟a)針對沿至少一第n個金屬帶之寬度方向的至少一參考位置bi上的輪廓預設一目標值； b)藉由過程模型對該用於製造金屬帶之滾壓設備上的滾壓過程進行模擬，其中在將該參考位置bi上可能存在之舊適配值及可能之限制考慮在內的情況下，如此這般計算出用於輪廓施控元件之調節值，從而儘可能實現該目標值；c)藉由該等計算出的調節值對輪廓施控元件進行調節；d)對該第n個金屬帶進行滾壓；e)對該經滾壓之第n個金屬帶在該參考位置bi上的輪廓的實際值CIst(n)bi進行量測；e')以如根據步驟d)滾壓第n個金屬帶時那般的滾壓設備條件及當前工藝條件為基礎，針對該第n個金屬帶在該參考位置bi上的輪廓計算出追算的預測值C'P(n)bi；以及f)針對該第n個金屬帶在該參考位置bi上的輪廓，基於該實際值CIst(n)bi與該追算之預測值C'P(n)bi的差測定一新的適配值△C(n)bi；其特徵在於，在對該至少第n個金屬帶進行滾壓前，針對該至少第n個金屬帶之至少一寬度區段中的複數I個參考位置bi，其中I2且1iI，實施該等步驟a)、b)及c)；在對該至少第n個金屬帶進行滾壓後，針對複數I個參考位置bi實施該等步驟e)、e')及f)，以在該至少第n個金屬帶之至少一寬度區段中的複數I個參考位置bi上測定該等新的適配值△C(n)bi；以及g)在隨後製造該第n個金屬帶之另一縱長段或製造第n+x個金屬帶時，其中x=1、2等，至少以n=n+x的方式重複該等步驟a)至d)，其中在根 據步驟b)為該第n+x個金屬帶計算該等輪廓施控元件之調節及計算預測值時，將先前根據步驟f)至少針對該第n個金屬帶為複數I個參考位置bi測定的新適配值△C(n)bi作為舊適配值納入考慮。
  4. 如申請專利範圍第3項之方法，其特徵在於，至少部分地以短時間適配值△CK(n)bi的形式，按照以下公式，在該第n個金屬帶之參考位置bi上根據步驟f)測定該等新的適配值△C(n)bi：△C(n)bi=△C K (n)bi=△C K (n-x)bi+[C Ist (n)bi-C' P (n)bi]其中K：短時間適配；x=1、2、3…；△C K (n-x)bi：舊的短時間適配值；C Ist (n)bi：針對該第n個金屬帶在該參考位置bi上的輪廓測得的實際值；以及C' P (n)bi：追算的預測值或追算的帶輪廓。
  5. 如前述申請專利範圍中任一項之方法，其特徵在於，透過實施以下步驟，至少部分地以長時間適配值△CLbi的形式，在該等參考位置bi上根據如申請專利範圍第1)或3)項之步驟f)測定該等新的適配值△C(n)bi：針對一適配組的複數個在該第n+x個金屬帶前經滾壓的金屬帶，在複數I個參考位置bi上重複如申請專利範圍第1或3項之步驟a)至f)來測定 該等適配值；以及針對複數個金屬帶在該等參考位置bi中的一個上的輪廓，透過對該等適配值求平均值，或者透過對實際值與預測值的差求平均值，計算出該等長時間適配值△CLbi。
  6. 如申請專利範圍第2、4及5項之方法，其特徵在於，以作為該短時間適配值△CK(n)bi與該長時間適配值△CLbi之和的總和適配值△CS(n)bi的形式，根據步驟f)測定該等適配值△C(n)bi，以應用於該金屬帶n+x。
  7. 如申請專利範圍第2、4、5或6項中任一項之方法，其特徵在於，以藉由加權因數g，其中0g1，或者藉由加權函數進行過加權的短時間適配值、長時間適配值或總和適配值的形式，根據步驟f)測定該適配值△C(n)bi以及/或者應用該適配值△C(n)bi。
  8. 如前述申請專利範圍中任一項之方法，其特徵在於，以形函數的形式針對該第n+x個金屬帶測定一適配輪廓△C(n+x)m，較佳地透過在該至少第n個金屬帶上測定的該等參考位置bi中之至少兩個上的適配值，以及較佳地亦透過至少另一--透過該過程模型計算出的/預設的--位於至少另一帶寬位置m上的計算點，對該適配輪廓進行導引。
  9. 如申請專利範圍第8項之方法， 其特徵在於，透過將針對該第n+x個金屬帶--藉由該過程模型預測的--計算出的未經適配的輪廓CP(n+x)moA，與針對該n+x個金屬帶計算出的適配輪廓△C(n+x)m疊加，針對該n+x個金屬帶測定經適配的輪廓CP(n+x)m。
  10. 如申請專利範圍第8或9項之方法，其特徵在於，為該金屬帶之2個寬度區段測定該適配輪廓或該經適配之輪廓，其中該第一寬度區段例如位於中心寬度區域內，以及，該第二寬度區段或其他寬度區段例如位於該金屬帶之邊沿區域內。
  11. 如申請專利範圍第10項之方法，其特徵在於，就兩個沿寬度方向相互鄰接之寬度區段而言，較佳地如此這般選擇該二寬度區段範圍內的適配輪廓或經適配之輪廓，使得位於此等帶材區段之交界處的輪廓曲線總是可微，特別是具有相同的斜率。
  12. 如申請專利範圍第10或11項中任一項之方法，其特徵在於，自線性函數、多項式函數、指數函數、三角函數、仿樣函數或不同函數之組合構成該等寬度區段中之至少一個的範圍內的形函數。
  13. 如申請專利範圍第12項之方法，其特徵在於，對於相鄰的不同寬度區段而言，該等形函數不同。
  14. 如申請專利範圍第8或9項之方法，其特徵在於， 將該金屬帶之一寬度區段範圍內的適配輪廓或經適配之輪廓外插入一相鄰之寬度區段，以在該相鄰之寬度區段範圍內測定經外插的適配輪廓或者經外插及適配的輪廓。
  15. 如前述申請專利範圍中任一項之方法，其特徵在於，作為在參考位置bi上測得的金屬帶輪廓之實際值CIst(n)bi的替代，採用在該金屬帶之--沿滾壓方向視之的--右半及左半部份上之鏡像對稱的參考位置bi上測得的實際值的平均值。
  16. 如申請專利範圍第1或9項之方法，其特徵在於，首先僅針對帶材的一半，例如帶材位於操作側的一半來測定該等預測值CP(n+x)bi或/及該等經適配之輪廓CP(n+x)m，以及，隨後針對帶材的另一半，例如帶材位於驅動側的一半，在沿該金屬帶之縱向延伸的帶材中心面上進行鏡射。
  17. 如前述申請專利範圍中任一項之方法，其特徵在於，將測得之該輪廓的實際值CIst(n)bi用作參考位置bi上的直接量測值，或者用作透過補償函數平滑過的輪廓量測值。
  18. 如申請專利範圍第9至17項中任一項之方法，其特徵在於，就輪廓異常，例如帶材隆起部或者急劇的帶輪廓下傾，特別是在該金屬帶之邊沿區域內對該經適配之輪廓CP(n+x)m進行分析。
  19. 如申請專利範圍第18項之方法，其特徵在於，在存在計算出的帶材隆起部的情況下，藉由該過程模型以迭代方式改進該經適配的輪廓CP(n+x)m，具體方式為在允許的輪廓調節界限內依次增大該等參考位置bi中的至少一個上的輪廓值，以及相應地對輪廓施控元件進行新的調節，以減小該帶材隆起部之高度。
  20. 如申請專利範圍第18項之方法，其特徵在於，透過增大軋機之最後的軋機機架(導出機架)或最後若干個機架中的負荷，或者就滾壓設備之機架的最後滾壓道次而言透過重新分佈自前向後的負荷，或者透過取消至少一軋機機架或滾壓道次，在過程界限及設備界限範圍內減小或防止計算出的帶材隆起部。
  21. 如前述申請專利範圍中任一項之方法，其特徵在於，針對該第n+x個金屬帶之製造：在步驟b)中如此這般對該等輪廓施控元件進行調節，從而在允許之最小或最大輪廓界限內，達到針對多個參考位置bi預設的目標值或針對輪廓計算出的預測值CP(n+x)bi；或者在步驟b)中如此這般對該等輪廓施控元件進行調節，從而達到針對一參考位置bi預設的目標值，或者將與該目標值的偏差最小化，以及，同時在至少另一帶寬位置上將該帶輪廓保持在允許的最小或最大輪廓界限內。
  22. 如前述申請專利範圍中任一項之方法， 其特徵在於，在該過程模型中將在該等位置bi上測得的適配值及/或該經適配之輪廓及/或該適配輪廓--特別是藉由加權因數或傳遞函數傳遞至先前之滾壓道次或機架--考慮在內，以計算出先前之機架或先前之道次的中間機架輪廓或中間道次輪廓，以及改進對該等輪廓施控元件的調節。
  23. 如前述申請專利範圍中任一項之方法，其特徵在於，透過與該金屬帶之邊沿的距離來定義該參考位置bi。
  24. 如前述申請專利範圍中一或多項之方法，其特徵在於，為使用帶輪廓適配對目標輪廓進行調節，採用以下輪廓施控元件：例如用於影響熱凸度的可調型工作輥冷卻系統或區域冷卻系統或局部滾子加熱系統、以及/或者與滾子磨具(用於克服帶材隆起部或帶邊下傾的專用滾子磨具、“錐形輥(Tapered Roll)”、CVC滾子、採用更高階磨具或n階多項式或三角函數的CVC滾子)結合的工作輥移動系統、帶邊加熱系統、帶區冷卻系統、工作輥彎曲系統及/或具有滾子對交叉功能(Walzen-Pair-Cross-Funktion)的機架。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3479916A1 (de) 2017-11-06 2019-05-08 Primetals Technologies Germany GmbH Gezielte einstellung der kontur durch entsprechende vorgaben
DE102018212074A1 (de) 2018-07-19 2020-01-23 Sms Group Gmbh Verfahren zum Ermitteln von Stellgrößen für aktive Profil- und Planheitsstellglieder für ein Walzgerüst und von Profil- und Mittenplanheitswerten für warmgewalztes Metallband
CN109871590B (zh) * 2019-01-23 2020-11-06 燕山大学 一种热轧带材断面轮廓复现方法
CN110434172B (zh) * 2019-07-16 2020-05-08 北京科技大学 一种炉卷和精轧机组连轧的负荷分配计算方法
EP3943210A1 (de) * 2020-07-23 2022-01-26 Primetals Technologies Austria GmbH Giess-walz-verbundanlage zur herstellung eines warmgewalzten fertigbands aus einer stahlschmelze

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU410840A1 (zh) * 1972-11-23 1974-01-15
US4070887A (en) * 1976-11-01 1978-01-31 Tube Machinery Corporation Roll former for tube mill
SU908447A1 (ru) * 1980-06-17 1982-02-28 Институт черной металлургии Способ регулировани процесса гор чей прокатки металлических полос
EP0460892B1 (en) * 1990-06-04 1996-09-04 Hitachi, Ltd. A control device for controlling a controlled apparatus, and a control method therefor
US5768927A (en) * 1991-03-29 1998-06-23 Hitachi Ltd. Rolling mill, hot rolling system, rolling method and rolling mill revamping method
ATE129938T1 (de) 1991-06-28 1995-11-15 Siemens Ag Regelung bei dem herstellen von warmband mittels eines mehrgerüstigen warmbandwalzwerks.
SE9202982D0 (sv) * 1992-10-12 1992-10-12 Anders Sjoeberg Plaatklippning
DE4309986A1 (de) 1993-03-29 1994-10-06 Schloemann Siemag Ag Verfahren und Vorrichtung zum Walzen eines Walzbandes
GB9411820D0 (en) 1994-06-13 1994-08-03 Davy Mckee Poole Strip profile control
US5927117A (en) * 1996-10-11 1999-07-27 Central Iron & Steel Research Institute Ministry Metallurgical Industry Methods to measure and control strip shape in rolling
DE19851554C2 (de) * 1998-11-09 2001-02-01 Siemens Ag Verfahren und Einrichtung zur Voreinstellung einer Walzstraße
AU2002214044A1 (en) * 2000-11-11 2002-05-21 Firma Carl Wezel Method for producing strip-shaped input stock, especially from metal, which is profiled in subsequent sections, and corresponding device
DE10116273A1 (de) * 2001-03-31 2002-10-10 Sms Demag Ag Verfahren zum Betreiben einer Walzstraße sowie eine entsprechend ausgebildete Walzstraße
WO2003078086A1 (de) 2002-03-15 2003-09-25 Siemens Aktiengesellschaft Rechnergestütztes ermittlungsverfahren für sollwerte für profil- und planheitsstellglieder
JP3719226B2 (ja) * 2002-03-26 2005-11-24 Ｊｆｅスチール株式会社 板プロフィルの良好な金属板の製造方法
JP3649208B2 (ja) * 2002-05-22 2005-05-18 株式会社日立製作所 タンデム圧延設備の制御方法及びタンデム圧延設備
DE502004004331D1 (de) * 2003-05-30 2007-08-30 Siemens Ag Steuerrechner und rechnergestütztes Ermittlungsverfahren für eine Profil- und Planheitssteuerung für eine Walzstrasse
US7185519B2 (en) * 2003-09-15 2007-03-06 The Bradbury Company, Inc. Methods and apparatus for monitoring and conditioning strip material
DE102004020132A1 (de) * 2003-12-23 2005-07-28 Sms Demag Ag Verfahren und Walzgerüst zur mehrfachen Profilbeeinflussung
GB2444452A (en) * 2005-08-29 2008-06-04 Gcg Holdings Ltd Eccentric rotary Stamping apparatus and method of forming moving sheet metal
CN101648216B (zh) * 2009-09-11 2011-09-21 燕山大学 一种pc轧机板形板凸度离线预报设定方法

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