TW201636201A - 用於校驗摺疊箱子之品質的校驗裝置及方法與包含此種校驗裝置的製造設備 - Google Patents

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Abstract

本發明揭示一種校驗裝置，此校驗裝置(200)包含：- 一照明系統(202)，其用於照亮每一摺疊箱子之一周邊面，- 一成像裝置(204)，其用於形成摺疊箱子之一封裝的該周邊面之一多元影像，- 一影像處理系統(206)，其用於：i)在該多元影像中偵測分開鄰近轉板之槽的每一周邊末端，ii)產生表示每一周邊末端之幾何形狀的一資料集合，及iii)分析該資料集合以便判定每一周邊末端之寬度。

Description

用於校驗摺疊箱子之品質的校驗裝置及方法與包含此種校驗裝置的製造設備
本發明係關於一種用於校驗摺疊箱子之品質的校驗裝置及方法。本發明亦關於一種包含此種類之校驗裝置的製造設備。
本發明適用於製造並校驗摺疊箱子之領域。摺疊箱子可為(例如)卡紙板包裝箱子。一般情況下，處於摺疊狀態之摺疊箱子包含由折片接合在一起之複數個面板，及接合至面板的複數個轉板。兩個相鄰轉板由在摺疊箱子之中心區與周邊面之間延伸的槽分開。槽具有在周邊面上開口且定界兩個相鄰轉板之間的側向間隔的周邊末端。
在先前技術中，用於製造摺疊箱子的設備包含：膠接裝置、用於摺疊每一摺疊箱子之面板的裝置、用於堆疊摺疊箱子之堆疊裝置，及用於在膠接裝置、摺疊裝置與堆疊裝置之間移動每一箱子的傳送裝置。
EP0937573A1揭示一種校驗裝置，其包含用於照亮每一摺疊箱子之照明系統，及用於在滾筒傳送機構件的移動過程中逐個形成每一摺疊箱子之影像的攝影機。值得注意地，此種類之校驗裝置的功能為判定每 一摺疊箱子是否符合所建立規範。
然而，EP0937573A1之校驗裝置置放於摺疊箱子尚未經歷所有指定製程之位置處。因此，在攝影機已形成分開轉板之槽的影像之後，每一摺疊箱子經歷可修改摺疊箱子之狀態的其他製程。因此，可能發生EP0937573A1之校驗裝置評估摺疊箱子為不符合的，但此摺疊箱子可在整平之後已變成符合。因此，使用EP0937573A1之校驗裝置導致相對大量被拒絕之摺疊箱子。
值得注意地，本發明之目標為藉由提供一種校驗裝置來克服前述問題中之一些或全部，該校驗裝置可減小由校驗裝置引起之錯誤的風險且因此減小摺疊箱子被拒絕的數目。
為此，本發明提議一種用於校驗摺疊箱子之品質的校驗裝置，每一摺疊箱子在該摺疊箱子處於摺疊狀態時包含由一槽分開之至少兩個轉板，該槽具有在摺疊箱子之一周邊面上開口且定界該兩個轉板之間的一側向間隔之一周邊末端，該校驗裝置包含：- 一照明系統，其用於照亮處於摺疊狀態之摺疊箱子，且- 至少一成像裝置，其用於形成處於摺疊狀態之摺疊箱子的影像，校驗裝置特性在於：- 該照明系統經組態以照亮由疊加或並置摺疊箱子形成之封裝，該封裝具有由構成封裝之所有摺疊箱子的周邊面界定的至少一周邊封裝面，- 該至少一成像裝置經組態以在照明系統照亮周邊封裝面時形成至 少一多元影像，其表示周邊封裝面的至少一部分，且在於其進一步包含至少一影像處理系統，其經組態用於：i)偵測多元影像中之每一周邊末端，ii)產生表示每一周邊末端之幾何形狀的一資料集合，及iii)分析該資料集合以便判定每一側向間隔的寬度。
此校驗裝置因此在複數個摺疊箱子已配置成封裝且經整平之後同時校驗該複數個摺疊箱子，從而使得錯誤之風險被減小。此係因為封裝中之此校驗可減少被拒絕之摺疊箱子的數目，此係由於封裝之整平有時校正在摺疊箱子已被個別地校驗情況下將已被視為有缺陷的摺疊箱子中的一些。此種類之校驗裝置可置放於屬於摺疊箱子製造設備之摺疊箱子傳送機裝置的一側上，藉此減小製造設備之總體尺寸。
在本申請案中，術語「多元影像」指示表示複數個摺疊箱子之周邊面的影像，例如，已經組合(換言之，疊加或並置)之複數個摺疊箱子中的彼等。
在本申請案中，術語「封裝」指示由彼此組合之複數個摺疊箱子形成的群組。封裝可為(例如)已經疊加之處於摺疊狀態之摺疊箱子的堆疊，或已經並置之處於摺疊狀態之摺疊箱子的群組。在堆疊之狀況下，形成封裝之摺疊箱子不必繫結在一起。在堆疊之狀態下，摺疊箱子實質上為水平的。在群組之狀況下，摺疊箱子由堆疊裝置預先堆疊，接著由繫結裝置繫結在一起，其後使封裝例如樞轉四分之一轉。在群組之狀況下，摺疊箱子可為實質上垂直的。
在本申請案中，術語「側向」指示摺疊箱子或摺疊箱子之封 裝的一側。典型地，摺疊箱子之邊緣形成此摺疊箱子的側向面。
根據本發明之一個具體實例，影像處理系統亦經組態用於：xii)自每一多元影像提取暗目標；vii)比較每一暗目標之高度與處於摺疊狀態之摺疊箱子之標稱厚度，高度垂直於摺疊狀態之摺疊箱子之最大維度而量測，且viii)選擇具有等效於經受預定容許度的處於摺疊狀態之摺疊箱子之標稱厚度之高度的每一暗目標，每一所選擇暗目標對應於側向間隔。
此影像處理系統因此自動地找尋槽之周邊末端的位置。在每一所選擇暗目標上，影像處理系統可判定每一槽之周邊末端處形成的側向間隔之寬度。
根據本發明之變型，影像處理系統亦經組態用於：a)偵測垂直於處於摺疊狀態之摺疊箱子之最大維度之周邊面的邊界，b)量測該等邊界中之一者與周邊面之影像之邊緣之間的參考亮度位準，及c)藉由使用此參考亮度位準來產生二進制影像，以對周邊面之影像執行定限操作。
根據本發明之變型，影像處理系統包含記憶體，其經組態以記錄摺疊箱子之幾何參數，詳言之摺疊箱子之標稱厚度。
暗目標為並不反射由照明系統發出之照明或反射僅該照明之小部分的物件。暗目標因此在周邊面之影像上可顯現為實質上黑色。換言之，形成暗目標之像素具有為低的或零之亮度位準，例如，灰階。因此，暗目標對應於摺疊箱子之空的或低密度區，例如，槽之周邊末端或波紋(若 摺疊箱子包含波紋化薄片)。
根據本發明之變型，預定容許度係選自處於摺疊狀態之摺疊箱子之標稱厚度的3%與50%之間。
根據本發明之一個具體實例，影像處理系統亦經組態用於：xiii)偵測每一多元影像中形成垂直於處於摺疊狀態之摺疊箱子之最大維度的封裝之末端的摺疊箱子之邊界，及xiv)辨別封裝中之每一摺疊箱子。
此影像處理系統可因此用以在單一影像處理階段中判定顯現於多元影像中的所有摺疊箱子之槽之側向間隔。
根據本發明之變型，影像處理系統藉由處理如上文所指定而產生之二進制影像而進行每一摺疊箱子之辨別。影像處理系統可接著比較每一暗目標之高度與處於摺疊狀態之摺疊箱子的標稱厚度，且可接著選擇具有等效於經受預定容許度的處於摺疊狀態之摺疊箱子之標稱厚度之高度的每一暗目標。對於顯現於多元影像中之所有摺疊箱子，影像處理系統接著產生表示周邊末端之幾何形狀的資料集合，以便判定每一側向間隔之寬度。
根據本發明之一個具體實例，影像處理系統亦經組態用於：iv)比較每一側向間隔之寬度與一預定下限及一預定上限，及v)若側向間隔之寬度低於該預定下限或高於該預定上限，則產生一異常信號。
此影像處理系統可因此用以發信任何有缺陷摺疊箱子，換言之，由於有缺陷切割、摺疊及/或膠接而具有過大或過小之側向間隔的箱子。
根據本發明之變型，異常信號與識別有缺陷摺疊箱子之資料元素相關聯。因此，業者可快取挑選出並拒絕有缺陷摺疊箱子。
根據本發明之一個具體實例，該至少一成像裝置為矩陣攝影機。根據本發明之變型，矩陣攝影機為多色的。根據本發明之變型，矩陣攝影機為單色的。
攝影機或每一攝影機可經可移動地配置，以便朝向移動封裝之諸如傳送機的傳送裝置下降，使得攝影機或每一攝影機校驗每一封裝。攝影機或每一攝影機接著在兩個封裝之間再次上升，以便使路徑自由從而用於下一封裝。
根據本發明之一個具體實例，該至少一成像裝置為一線掃描攝影機，其經組態以在傳送裝置相對於線掃描攝影機移動每一摺疊箱子同時形成每一摺疊箱子之各別周邊面的影像。
此線掃描攝影機可因此用以在傳送裝置正移動摺疊箱子同時形成周邊面的影像。由於摺疊箱子之移動未被中斷，因此摺疊箱子之生產率可為高的。線掃描攝影機藉由製造設備之傳送裝置而與摺疊箱子之移動的速度有利地同步。
根據本發明之一個具體實例，校驗裝置包含置放於兩個不同高度處的至少兩個成像裝置，以便分別形成周邊封裝面的下部分及上部分之多元影像。
零高度可被視為接近成像裝置並在意欲收納摺疊箱子之傳送裝置的表面上。
因此，兩個成像裝置可用以形成高解析度多元影像，即使封 裝含有大量摺疊箱子。
根據本發明之變型，兩個成像裝置經組態用於在封裝之下部分之多元影像與封裝之上部分之多元影像之間產生重疊區域。此重疊區域因此確保封裝中之摺疊箱子皆不可被校驗裝置錯過或被計數兩次。
作為對攝影機之替代方案，成像裝置可為照相攝影機。此照相攝影機可因此在用於傳送摺疊箱子之封裝的裝置停止或減緩時形成照相影像。為了使用此替代例，傳送裝置必須經控制，使得擋板可例如在摺疊箱子之封裝的每一通路上有規律地區別。
根據本發明之一個具體實例，照明系統包含選自由以下各者組成之群組的至少一照明源：螢光燈、放電燈及發光二極體，例如，一行發光二極體。
此照明源可因此用以有效地照亮摺疊箱子以便形成周邊面的高對比度影像。由於此照明源可發出大量光，因此多元影像為高對比度的，使得該等摺疊箱子之周邊末端可經準確地偵測到。
根據本發明之一個具體實例，照明系統經組態而以脈衝式方式照亮處於摺疊狀態之每一摺疊箱子的周邊面。
此脈衝式照明系統可因此用以藉由大量光照亮摺疊箱子，以便形成周邊面的高對比度影像。由於此照明源可發出大量光，因此多元影像為高對比度的，使得該等摺疊箱子之周邊末端可經準確地偵測到。
根據本發明之變型，照明脈衝之持續時間範圍介於0.01ms與100ms內，例如1ms。
根據本發明之一個具體實例，照明系統包含配置於該至少一 成像裝置之任一側上的兩個照明源，照明源經組態用於連續照亮處於摺疊狀態之每一摺疊箱子之同一周邊面，使得該至少一成像裝置連續地形成處於摺疊狀態之每一摺疊箱子之同一周邊面的兩個不同影像。
換言之，照明系統在成像裝置之左側及右側上提供替代照明，其取決於影像中之位置而形成具有不同對比度位準的兩個影像。此等兩個影像可因此用於V狀槽之邊緣的精準識別。此係因為第一影像(自左側看)具有槽之周邊末端之左側邊界的高對比度，而第二影像(自右側看)具有槽之周邊末端之右側邊界的高對比度。
本發明亦提議一種用於製造摺疊箱子之製造設備，每一摺疊箱子在該摺疊箱子處於該摺疊狀態時包含由折片連結之面板及由一槽分開的至少兩個轉板，該製造設備至少包含：- 一膠接裝置，其經組態以將膠施加至每一摺疊箱子的一膠接區域，- 一摺疊裝置，其經組態以摺疊面板以便將一待膠接區域膠接於該膠接區域上，- 一堆疊裝置，其經組態用於堆疊處於該摺疊狀態之該等摺疊箱子，- 一傳送裝置，其經組態以將每一摺疊箱子置放於膠接裝置中，接著置放於摺疊裝置中，且接著置放於堆疊裝置中，且- 根據本發明之至少一校驗裝置，該至少一校驗裝置置放於堆疊裝置的下游。
此製造設備可因此用以在極低拒絕率情況下以高生產率製造摺疊箱子，值得注意地，此係因為每一成像裝置形成高對比度影像，藉此由校驗裝置減小錯誤之風險且因此減小被拒絕之摺疊箱子的數目。每一 校驗裝置可在單一階段中校驗顯現於多元影像中的全部摺疊箱子。
換言之，膠接裝置、摺疊裝置及堆疊裝置在由傳送裝置判定之循環方向上自上游末端至下游末端彼此跟隨。在此具體實例中，校驗裝置校驗封裝中之摺疊箱子。
根據本發明之變型，傳送裝置為傳送機，例如，傳動帶傳送機。根據本發明之變型，傳送裝置經調節，使得設備之輸出速率係在1000個摺疊箱子/小時與2500個摺疊箱子/小時之間，例如，1800個摺疊箱子/小時。
根據本發明之一個具體實例，先前具體實例之製造設備包含兩個校驗裝置，該等校驗裝置經配置以便形成兩個周邊封裝面的各別影像。
在此配置中，兩個成像裝置得注意地在封裝之寬度的基礎上由係預定的距離分開開。兩個校驗裝置之此配置可因此用以校驗同時位於每一周邊封裝面上之槽。
根據先前具體實例之替代例，製造設備包含單一校驗裝置及一旋轉機構，該旋轉機構經組態以使得摺疊箱子之每一封裝樞轉半轉。因此，校驗裝置可連續地校驗摺疊箱子之每一封裝的對置面。藉由單一校驗裝置，減小製造設備之總體尺寸。
根據本發明之變型，校驗裝置可定位成一條直線；換言之，在傳送裝置將摺疊箱子帶至校驗裝置前方的位置時進行校驗。替代地，校驗裝置可並不定位成一條直線；換言之，摺疊箱子在其已自傳送裝置移除之後進行校驗。
根據本發明之變型，傳送裝置經配置以在水平方向上傳送摺 疊箱子之封裝，且校驗裝置經配置，使得該至少一照明系統之光源的定向與水平方向形成介於0度至70度之範圍內的角度。
根據本發明之變型，製造設備可包含經組態以排出封裝的排出機構，排出結構連接至校驗裝置，且詳言之連接至影像處理系統，使得當校驗裝置發出指示封裝含有至少一有缺陷摺疊箱子的瑕疵信號時，排出機構排出含有至少一有缺陷摺疊箱子的封裝。
另外，本發明提議一種用於校驗摺疊箱子之品質的校驗方法，每一摺疊箱子在該摺疊箱子處於摺疊狀態時包含由一槽分開之至少兩個轉板，該槽具有在該摺疊箱子之一周邊面上開口且定界該兩個轉板之間的一側向間隔的一周邊末端，該校驗方法包含以下步驟：- 借助於照明系統照亮處於摺疊狀態之摺疊箱子，及- 借助於至少一成像裝置形成處於摺疊狀態之摺疊箱子的影像，該校驗方法特性在於其進一步包含以下步驟：- 借助於照明系統照亮由疊加或並置摺疊箱子形成之封裝，該封裝具有由構成封裝之所有摺疊箱子的周邊面界定的至少一周邊封裝面，- 借助於該至少一成像裝置以在照明系統照亮周邊封裝面時形成至少一多元影像，其表示周邊封裝面的至少一部分，- 出於以下目的致動至少一影像處理系統：i)偵測多元影像中的至少一周邊末端，ii)產生表示每一周邊末端之幾何形狀的一資料集合，及iii)分析該資料集合以便判定每一側向間隔的寬度。
前述具體實例及變型可被分開或以任何技術上可行之組合 而考慮。
鑒於參看附圖僅作為非限制性實例提供的以下描述，本發明將易於被理解，且其優點將為顯而易見，其中：- 圖1為說明有缺陷摺疊箱子之示意圖；- 圖2為根據本發明之製造設備的示意圖；- 圖3為根據本發明之第一具體實例的圖2之製造設備之包含校驗裝置的一部分之示意性俯視圖；- 圖4為在圖3之校驗裝置處於操作位置時水平面中的示意性橫截面；- 圖5為圖4之校驗裝置的示意性透視圖；- 圖6為圖4之校驗裝置的在校驗裝置處於操作位置時垂直平面中的示意性橫截面；- 圖7為說明待校驗之第一類型槽的圖式；- 圖8為具有此第一類型槽的摺疊箱子之封裝的多元影像，該多元影像已由屬於圖3之校驗裝置的成像裝置形成；- 圖9為圖3之校驗裝置在根據本發明之校驗方法之步驟期間的示意圖，在該步驟中，兩個照明源同時照亮具有待校驗之第二類型槽的摺疊箱子之封裝；- 圖10為由展示於圖9中之步驟產生的多元影像；- 圖11及圖12為圖3之校驗裝置的在根據本發明之校驗方法之步驟期間的示意圖，在該步驟中，兩個照明源連續地照亮摺疊箱子之封裝；- 圖13及圖14為分別由圖11及圖12中展示之步驟產生的影像； - 圖15為說明根據本發明之校驗方法的流程圖；- 圖16為具有第一類型槽之摺疊箱子之封裝的影像，該影像由展示於圖15中之校驗方法的步驟產生；- 圖17為自圖16之影像獲得之二進制影像；- 圖18為圖17中細節XVIII之按較大比例尺的視圖，從而展示在圖15中展示之校驗方法之步驟；- 圖19為圖17中細節XIX之按較大比例尺之視圖，從而展示在圖15中展示之校驗方法之步驟；- 圖20為展示根據本發明之第二具體實例且包含線掃描攝影機之校驗裝置之部分的示意性透視圖；且- 圖21為沿圖20中之平面XXI的橫截面。
圖1展示處於摺疊狀態之摺疊箱子1，其包含i)由折片4連結之面板2，連同ii)轉板6。每一面板2具有垂直於折片4量測之寬度W2，從而對應於處於展開狀態之摺疊箱子1的高度。每一轉板6由折片8連結至各別面板2，該轉板由波狀化機器形成。
兩個相鄰轉板6由各別槽10分開開。每一槽10在摺疊箱子1之中心區11與周邊面12之間延伸。槽10具有在周邊面12上開口且定界兩個相鄰轉板6之間的側向間隔16之周邊末端14。槽10具有位於中心區11中之中心末端，且因此與周邊末端14相對。
如圖1中所展示，摺疊箱子1具有瑕疵，此係因為槽10具有傾斜邊緣而非平行於彼此的邊緣。槽10中之一者具有過寬之周邊末端 14，且因此過大的側向間隔16，而另一槽10具有過窄周邊末端14且因此過小側向間隔16。此瑕疵可歸因於不正確切割、不正確膠接及/或不正確摺疊。有時，槽10之寬度W10藉由先前技術裝置中的量測或在本發明之狀況下藉由外插判定為接近折片8。
圖2展示意欲製造摺疊箱子1之製造設備50，且至少包含：- 一膠接裝置52，其經組態以將膠施加至每一摺疊箱子1的一膠接區域，- 一摺疊裝置54，其經組態以摺疊面板4以便將一待膠接區域膠接於該膠接區域上，- 一堆疊裝置56，其經組態用於堆疊處於摺疊狀態之摺疊箱子1，- 整平裝置60，其經組態用於整平摺疊箱子1以便形成封裝201，- 傳送裝置58，其經組態以將摺疊箱子1置放於膠接裝置52中，接著置放於摺疊裝置54中，接著置放於堆疊裝置56中；在此狀況下，傳送裝置58為提供等於約1800個摺疊箱子1/小時之設備的輸出速率之傳動帶傳送機，及- 根據本發明的兩個校驗裝置200。
在圖2及圖3之實例中，校驗裝置200置放於堆疊裝置56及整平裝置60裝置的下游。膠接裝置52、摺疊裝置54、堆疊裝置56及整平裝置60在由傳送裝置58判定之循環的方向上自上游至下游彼此跟隨。每一校驗裝置200因此校驗封裝201中的摺疊箱子1。
另外，兩個校驗裝置200經配置以便兩個周邊封裝面212的各別影像。此配置可用以校驗含有於封裝201中之每一摺疊箱子1的所有槽。
圖3、圖4、圖5及圖6展示校驗裝置200中的一者。校驗裝置200包含具有兩個照明源202.1及202.2的照明系統202、形成成像裝置之兩個攝影機204及影像處理系統206。照明系統202及攝影機204安裝於框架203上。
在此狀況下，校驗裝置200定位成一條直線；換言之，當傳送裝置58將封裝201帶至校驗裝置200前方的位置時，進行校驗。傳送裝置58經配置以在水平方向上傳送封裝201。
照明系統202經組態以照亮由經疊加摺疊箱子形成之封裝201，而照明系統202經組態以逐一照明摺疊箱子1。封裝201具有兩個周邊封裝面212，其由構成封裝201之所有摺疊箱子之周邊面界定。由照明系統202照亮之立體角因此大於由照明系統202照亮之立體角。
如圖6中所展示，校驗裝置200包含兩個攝影機204。攝影機204置放於兩個不同高度，以便分別形成周邊封裝面212之下部分及上部分的多元影像205。
因此，兩個攝影機204可用以形成高解析度多元影像205，即使封裝201含有大量摺疊箱子1。在此狀況下，攝影機204經組態用於在封裝201之下部分之多元影像與封裝201之上部分之多元影像之間產生重疊區域。校驗裝置200經配置使得每一攝影機204之光軸與水平方向形成約60度的角度(圖中未示)。
每一攝影機204為矩陣攝影機，而攝影機204為線掃描攝影機。
當照明系統202照亮周邊封裝面212時，每一攝影機204經 組態以形成周邊封裝面212之至少一個多元影像205。當照明系統202照亮周邊封裝面212時，每一多元影像205表示周邊封裝面212之至少一部分。圖8、圖10、圖13、圖14及圖16展示等效之多元影像205。每一攝影機204的視野因此大於攝影機204的視野。
影像處理系統206經組態用於：i)偵測多元影像中之每一周邊末端214(圖4及圖8)，換言之，槽的由構成封裝201之摺疊箱子界定的所有周邊末端214，ii)產生表示每一周邊末端214之幾何形狀的資料集合，iii)分析該資料集合以便判定每一側向間隔216的寬度(圖4及圖8)。
在圖2至圖6之實例中，影像處理系統206亦經組態用於：a)偵測垂直於周邊封裝面212之最大維度之周邊面212的邊界，b)量測周邊封裝面212之此等邊界中之一者與多元影像之邊緣205之間的參考亮度位準，且c)藉由使用此參考亮度位準以對多元影像205執行定限操作而產生二進制多元影像207(圖17至圖19)。
基於二進制多元影像207，影像處理系統206可接著：vii)比較每一暗目標220之高度H220與處於摺疊狀態之摺疊箱子1的標稱厚度，viii)選擇具有等效於經受預定容許度之處於摺疊狀態之摺疊箱子之標稱厚度之高度H220的每一暗目標220，xii)自每一二進制多元影像207提取暗目標220，xiii)在每一二進制多元影像207中偵測該等摺疊箱子之邊界，該等邊 界形成垂直於處於摺疊狀態之摺疊箱子1之該最大維度的封裝201的末端，及xiv)辨別封裝201中之每一摺疊箱子；影像處理系統206藉由處理二進制多元影像207而進行每一摺疊箱子之辨別(圖17至圖19)。
影像處理系統206接著產生表示槽210之周邊末端214之幾何形狀的資料集合，以便判定顯現於二進制多元影像207中且因此多元影像205中之所有摺疊箱子的每一側向間隔216的寬度。
藉由處理單一多元影像205，影像處理系統206可因此判定構成封裝201之所有摺疊箱子之槽210的側向間隔216。
實際上，獲得自攝影機204之影像大於多元影像205。多元影像205為自攝影機204獲得之影像的有用部分，換言之，可偵測到側向末端的部分。換言之，獲得自攝影機204之影像的其他部分不展示側向末端。有用部分可基於每一摺疊箱子1之尺寸而自動地選擇，其中容限意欲補償封裝201中摺疊箱子的不完全對準。藉由減小自攝影機204獲得之影像至形成多元影像205之有用部分，可使影像處理的持續時間最小化。
圖7及圖9以橫截面示意性地展示兩種類型之槽的幾何形狀。圖7展示稱為「筆直」之第一類型之槽，此係因為槽的邊緣平行於彼此。圖9展示稱為「V狀」之第二類型槽，此係因為邊緣朝向周邊末端傾斜地發散。
當照明源202.1及202.2同時照亮周邊封裝面212時，圖8及圖10展示分別針對第一類型槽(圖7)且針對第二類型槽(圖9)獲得的多元影像205。
圖8之多元影像205具有邊緣具有高位準對比度的周邊末端。影像處理系統206可因此易於處理圖8之多元影像205，以便偵測槽之周邊末端且判定每一側向間隔的寬度。
相反，圖10之多元影像205具有邊緣具有低對比度位準的周邊末端，此係因為槽具有「V狀」類型。影像處理系統206因此發現相較於圖8之多元影像更難以處理圖10之多元影像205。
兩個照明源202.1及202.2配置於攝影機204之任一側上。如圖11及圖13中所展示，照明源202.1及202.2經組態以連續地照亮同一周邊封裝面212。因此，每一攝影機204連續地形成針對同一周邊封裝面212之在圖12及圖14中可見之兩個不同多元影像205.1及205.2。
多元影像205.1在藉由照明源202.1進行之照亮期間形成，且多元影像205.2在由照明源202.2進行之照亮期間形成。在多元影像205.1中，每一周邊末端214之左側邊界具有高對比度位準，且在多元影像205.2中，每一周邊末端214之右側邊界具有極高對比度位準。照明系統202經組態而以脈衝式方式照亮周邊封裝面212。照明脈衝之持續時間在此狀況下為約20ms。在兩個脈衝之間，封裝201保持為不能動的，以確保兩個連續形成之影像重合。
影像處理系統206接著出於以下目的而處理多元影像205.1及205.2：i)偵測每一周邊末端214之左側及右側邊界，ii)產生表示每一周邊末端214之幾何形狀的資料集合，iii)分析該資料集合以便判定每一側向間隔216的寬度。
照明源202.1及202.2之此組態使得照明系統202產生交替照明，其改良V狀槽之所有周邊末端214的偵測。
在使用中，校驗裝置200根據說明於圖15中之根據本發明的校驗方法2000操作。校驗方法2000包含以下步驟：2002. 借助於照明系統202照亮周邊封裝面212，2004. 當照明系統202照亮周邊封裝面212時，借助於每一攝影機204形成周邊封裝面212的多元影像205，2006. 出於以下目的致動影像處理系統206：2008. i)偵測周邊封裝面212之每一多元影像205中的每一周邊末端214，2010. ii)產生表示每一周邊末端214之幾何形狀的資料集合，及2012. iii)分析該資料集合以便判定每一側向間隔216的寬度。
圖20及圖21展示根據本發明之第二具體實例的校驗裝置300。至校驗裝置300類似於校驗裝置200之程度，上文關於圖1至圖19給出之校驗裝置200的描述可經轉置至校驗裝置300，除下文陳述的顯著差異外。
校驗裝置300的結構及/或功能上等同或類似於校驗裝置200之元件的任何元件攜帶相同參考數字增加100。因此，界定具有兩個光源302.1及302.2、框架303、攝影機304及影像處理系統306之照明系統302。
值得注意地，校驗裝置300不同於校驗裝置200在於，攝影機304為線掃描攝影機，而校驗裝置200包含兩個矩陣攝影機204。線掃描攝影機為感光性部分由一列感測器(具有1×n之尺寸)構成的攝影機。感 測器可為電荷耦合裝置(「Charge-Coupled Device」；CCD)感測器或互補金屬氧化物半導體(「Complementary Metal-Oxide-Semiconductor」；CMOS)感測器。攝影機304經組態以接收光束304.4。
值得注意地，校驗裝置300亦不同於校驗裝置200在於，其成像裝置由單一攝影機304形成，而校驗裝置200之成像裝置包含兩個攝影機204。攝影機304具有光學修正裝置304.5及經組態以在使用中冷卻攝影機304的散熱片304.6。
此外，值得注意地，校驗裝置300不同於校驗裝置200在於，每一照明源302.1及302.2由配置成矩形矩陣之發光二極體(LED)302.5構成，而照明系統202由兩個線性照明源形成。每一照明源302.1及302.2包含各別散熱片302.6及302.7。
另外，值得注意地，校驗裝置300不同於校驗裝置200在於，校驗裝置300進一步包含經配置以便朝向攝影機304反射接收自摺疊箱子之每一封裝之光的反射鏡面308。此反射鏡面308使得有可能形成緊湊型校驗裝置300。每一照明源302.1及302.2經由形成於框架303中之孔隙309直接照亮每一摺疊箱子封裝。
在使用中，校驗裝置300可根據說明於圖15中之校驗方法2000來操作。
清楚地，本發明既不限於本專利申請案中描述之特定具體實例，亦不限於一般熟習此項技術者之界限內的具體實例。可使用等效於在本專利申請案中指示之元件的任何元件在不背離本發明之範疇的情況下設想到其他具體實例。

Claims (13)

  1. 一種用於校驗摺疊箱子(1)之品質的校驗裝置(200；300)，每一摺疊箱子(1)在所述摺疊箱子(1)處於摺疊狀態時包含由一槽(210)所分開之至少兩個轉板(6)，該槽(210)具有一周邊末端(214)，其在所述摺疊箱子(1)之一周邊面(212)上開口並定界所述兩個轉板(6)之間的一側向間隔(216)，該校驗裝置(200；300)包含：一照明系統(202；302)，其用於照亮處於該摺疊狀態之所述摺疊箱子(1)，及至少一成像裝置(204；304)，其用於形成處於該摺疊狀態之所述摺疊箱子(1)的影像，該校驗裝置(200；300)之特徵在於：該照明系統(202；302)經組態以照亮由經疊加或並置之摺疊箱子(1)所形成的一封裝(201)，該封裝(201)具有至少一周邊封裝面(212)，其藉由構成該封裝(201)之所有所述摺疊箱子(1)的周邊面而界定，所述至少一成像裝置(204；304)經組態以在該照明系統(202)照亮所述周邊封裝面(212)時形成至少一多元影像(205)，其表示所述周邊封裝面(212)之至少一部分，且該校驗裝置之特徵在於進一步包含至少一影像處理系統(206；306)，其經組態以用於：i)偵測該多元影像(212)中的每一周邊末端(214)， ii)產生表示每一周邊末端(214)之幾何形狀的一資料集合，及iii)分析該資料集合以便判定每一側向間隔(216)之寬度。
  2. 如申請專利範圍第1項之校驗裝置(200；300)，其中所述影像處理系統(206；306)亦經組態以用於：xii)自每一多元影像(205)提取暗目標(220)，vii)比較每一暗目標(220)之高度(H220)與處於該摺疊狀態之一摺疊箱子(1)之標稱厚度，該高度(H220)垂直於處於該摺疊狀態之所述摺疊箱子(1)的最大維度來量測，及viii)選擇具有等效於經受一預定容許度之處於該摺疊狀態之一摺疊箱子(1)之該標稱厚度之一高度的每一暗目標(220)，所選擇之每一暗目標(220)對應於一側向間隔(16；216)。
  3. 如申請專利範圍第2項之校驗裝置(200；300)，其中該影像處理系統(206；306)亦經組態以用於：xiii)在每一二進制多元影像(205)中偵測所述摺疊箱子(1)之邊界，所述邊界形成該封裝(201)之垂直於處於該摺疊狀態之一摺疊箱子(1)之該最大維度的末端，及xiv)辨別該封裝(201)中之每一摺疊箱子(1)。
  4. 如前述申請專利範圍中任一項之校驗裝置(200；300)，其中所述影像處理系統(206；306)亦經組態以用於：iv)比較每一側向間隔(216)之該寬度與一預定下限及一預定上限，及v)若一側向間隔(216)之該寬度低於該預定下限或高於該預定上 限，則產生一異常信號。
  5. 如前述申請專利範圍中任一項之校驗裝置(200)，其中所述至少一成像裝置(204)為一矩陣攝影機。
  6. 如申請專利範圍第1至4項中任一項之校驗裝置(300)，其中所述至少一成像裝置(304)為一線掃描攝影機，其經組態以在一傳送裝置(58)相對於該線掃描攝影機移動每一摺疊箱子(1)同時形成每一摺疊箱子(1)之一各別周邊面(12)的一影像。
  7. 如申請專利範圍第6項之校驗裝置(200)，其包含兩個成像裝置(204)，其置放於兩個不同高度，以便分別形成該周邊封裝面(212)之一下部分及一上部分的多元影像(205)。
  8. 如前述申請專利範圍中任一項之校驗裝置(200；300)，其中該照明系統(202；302)包含選自由以下各者組成之群的至少一照明源(202.1、202.2；302.1、302.2)：螢光燈、放電燈及發光二極體，例如，一行發光二極體。
  9. 如申請專利範圍第8項之校驗裝置(200)，其中該照明系統(202)經組態而以一脈衝式方式照亮處於該摺疊狀態之每一摺疊箱子的一周邊面(212)。
  10. 如前述申請專利範圍中任一項之校驗裝置(200；300)，其中該照明系統(202)包含配置於所述至少一成像裝置(204；304)之任一側上的兩個照明源(202.1、202.2；302.1、302.2)，所述照明源(202.1、202.2；302.1、302.2)經組態以用於連續照亮處於該摺疊狀態之每一摺疊箱子(1)的相同周邊面(212)，以使得所述至少一成像裝置(204；304) 連續地形成處於該摺疊狀態之每一摺疊箱子(1)之該相同周邊面(212)的兩個不同影像。
  11. 一種用於製造摺疊箱子(1)之製造設備(50)，每一摺疊箱子(1)在所述摺疊箱子(1)處於摺疊狀態時包含由折片(8)所連結之面板(4)及由一槽(10；210)所分開之至少兩個轉板(6)，該製造設備(50)至少包含：一膠接裝置(52)，其經組態以將膠施加至每一摺疊箱子(1)之一膠接區域，一摺疊裝置(54)，其經組態以摺疊面板(4)，以便將一待膠接區域膠接於該膠接區域上，一堆疊裝置(56)，其經組態以用於堆疊處於該摺疊狀態之所述摺疊箱子(1)，一傳送裝置(58)，其經組態以將每一摺疊箱子(1)置放於該膠接裝置(52)中，接著置放於該摺疊裝置(54)中，接著置放於該堆疊裝置(56)中，及如前述申請專利範圍中任一項之至少一校驗裝置(200；300)，所述至少一校驗裝置(200；300)置放於該堆疊裝置(56)之下游。
  12. 如申請專利範圍第11項之製造設備(50)，其包含兩個校驗裝置(200)，所述校驗裝置(200)經配置以便形成兩個周邊封裝面(212)之各別影像(205)。
  13. 一種用於校驗摺疊箱子(1)之品質的校驗方法(2000)，每一摺疊箱子(1)在所述摺疊箱子(1)處於摺疊狀態時包含由一槽(10；210)所 分開之至少兩個轉板(6)，該槽(10；210)具有一周邊末端(14；214)，其在所述摺疊箱子(1)之一周邊面(12；212)上開口並定界所述兩個轉板(6)之間的一側向間隔(16；216)，該校驗方法(2000)包含以下步驟：借助於一照明系統(202；302)來照明處於該摺疊狀態之所述摺疊箱子(1)，及借助於至少一成像裝置(204；304)來形成處於該摺疊狀態之所述摺疊箱子(1)的影像，該校驗方法(2000)之特徵在於進一步包含以下步驟：(2002)借助於該照明系統(202)來照亮由經疊加或並置之摺疊箱子(1)所形成的一封裝(201)，該封裝(201)具有至少一周邊封裝面(212)，其由構成該封裝(201)之所有所述摺疊箱子(1)的周邊面所界定，(2004)借助於所述至少一成像裝置(204；304)以在該照明系統(202；302)照亮所述周邊封裝面(212)時形成至少一多元影像(205)，其表示所述周邊封裝面(212)之至少一部分，(2006)出於以下目的而致動至少一影像處理系統(206；306)：(2008)i)偵測該多元影像(212)中之至少一周邊末端(214)，(2010)ii)產生表示每一周邊末端(214)之幾何形狀的一資料集合，及(2012)iii)分析該資料集合以便判定每一側向間隔(16；216)之寬度。
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