TW201632847A

TW201632847A - 分光測定裝置、圖像形成裝置、及分光測定方法

Info

Publication number: TW201632847A
Application number: TW105106022A
Authority: TW
Inventors: 久利龍平
Original assignee: 精工愛普生股份有限公司
Priority date: 2015-03-03
Filing date: 2016-02-26
Publication date: 2016-09-16
Also published as: JP2017134078A; JP6471762B2; JP2016166865A; JP6146491B2; CN105938015A; CN105938015B

Abstract

本發明之目的在於提供一種可實施高精度之測色處理之分光測定裝置、圖像形成裝置、及分光測定方法。印表機10包含：分光器17，其包含供來自測定對象之光入射之波長可變干涉濾波器；及載具移動單元14，其使分光器17相對於測定對象沿X方向移動。且，印表機10係於測定對象為色標之情形時，於分光器17朝X方向移動之期間之第一期間，一面改變通過波長可變干涉濾波器之光之波長一面進行分光測定，於第一期間之測定開始時、及測定結束時使初始波長之光自波長可變干涉濾波器通過，且比較測定開始時之分光測定之測定值即第一輸出值、與測定結束時之分光測定之測定值即第二輸出值。

Description

分光測定裝置、圖像形成裝置、及分光測定方法

本發明係關於一種分光測定裝置、圖像形成裝置、及分光測定方法等。

先前，已知可藉由變更反射膜間之間隙尺寸切換透過波長之波長可變干涉濾波器、及具備波長可變干涉濾波器之測色裝置(例如，參照專利文獻1)。

於該專利文獻1之測色裝置中，對測定對象照射光，使由測定對象反射後之光入射至波長可變干涉濾波器，藉由波長可變干涉濾波器透過特定波長之光，並由檢波器予以檢測。此時，藉由控制波長可變干涉濾波器依序變更反射膜間之間隙尺寸，而依序切換透過光之波長，並由檢波器檢測該等各波長之光之光量。藉此，可測定(測色)測定對象之分光頻譜。

[先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本專利特開2013-238755號公報

然而，存在使如上述專利文獻1所記載之測色裝置朝一方向例如以一定速度移動，於該移動中實施色標之測色之情形。此種情形時，必須於測色裝置之測定對象區域於色標內移動之期間，取得欲測定之複數波長之光之光量。

然而，因測色裝置之移動速度變化、或色標設置位置之偏移等，而存在自測定開始至測定結束之期間，測定對象區域通過色標，或測定開始之時序過早，或測定範圍相對於色標之位置偏移之情形。於此種情形時，因於自色標偏離之位置實施測色，故無法對色標進行準確之測色，測色精度惡化。

本發明之目的在於提供一種可容易地檢測分光測定位置之分光測定裝置、圖像形成裝置、及分光測定方法。

本發明之一應用例之分光測定裝置其特徵在於包含：分光器，其包含供來自測定對象之光入射之波長可變干涉濾波器；及移動機構，其使上述分光器相對於上述測定對象沿一方向相對移動；且上述測定對象為色標之情形時，於上述分光器朝上述一方向相對移動之期間之第一期間，一面由上述波長可變干涉濾波器改變通過之光之波長一面進行分光測定，於上述第一期間之測定開始時、及測定結束時使第一波長之光自上述波長可變干涉濾波器通過，比較上述測定開始時之上述分光測定之測定值即第一測定值、與上述測定結束時之上述分光測定之測定值即第二測定值。

於本應用例中，使分光器相對於測定對象即色標沿一方向相對移動，且於分光器相對移動之期間之第一期間實施分光測定。此時，於本應用例之分光測定裝置中，於第一期間之測定開始時及測定結束時，將自波長可變干涉濾波器出射之光作為第一波長，而比較該測定開始時之測定值(第一測定值)、與測定結束時之測定值(第二測定值)。

亦即，於第一期間中實施分光測定之位置(測定範圍)處於色標之區域內之情形時，第一測定值及第二測定值成為相同或大致相同。另一方面，於測定開始時或測定結束時之分光測定之位置自色標區域偏離之情形時，第一測定值及第二測定值成為不同之值。因此，可藉由比較第一測定值及第二測定值，而容易且迅速地判定相對於色標之測定範圍是否適當。又，於本應用例中，無須使分光器於色標上停止而進行分光測定，可縮短分光測定之時間。

本應用例之分光測定裝置較佳為，判定上述第一測定值與上述第二測定值之差是否為第一閾值以下。

於本應用例中，第一測定值與第二測定值之差較小且為第一閾值以下之情形時，可判斷於測定開始時與測定結束時，上述測定位置處於色標上。另一方面，第一測定值與第二測定值之差大於第一閾值之情形時，可判斷於測定開始時與測定結束時之任一者，分光器之測定位置均不在色標上。

又，分光測定之測定值受相對於色標入射之光之光量變動、波長可變干涉濾波器之振動等之影響，極少完全一致。因此，藉由將考慮到如上述之影響之值適當設定為第一閾值，雖可對色標正常地進行分光測定，但不會輸出測定範圍偏移之錯誤，亦可抑制由此引起之分光測定之延遲。

於本應用例之分光測定裝置中，較佳為，上述分光器包含受光部，該受光部接收自上述波長可變干涉濾波器出射之光；且將來自上述受光部之輸出值作為上述測定值，比較上述第一測定值及上述第二測定值。

於本應用例中，包含接收來自波長可變干涉濾波器之光之受光部。該情形時將來自受光部之輸出信號作為測定值，可判定相對於色標之測定範圍是否適當。因此，例如，與使用色標之對第一波長之反射率等之算出結果之情形相比，可容易且迅速地判定相對於色標之測定範圍是否適當。

本應用例之分光測定裝置較佳為，進而包含控制部，該控制部控制上述分光器及上述移動機構。

於本應用例中，可藉由控制部控制分光器及移動機構。

本應用例之分光測定裝置較佳為，上述控制部包含改變通過上述波長可變干涉濾波器之光之波長之濾波器控制機構。

於本應用例中，可藉由濾波器控制機構控制波長可變干涉濾波器所通過之光之波長。

本應用例之分光測定裝置較佳為，對沿上述一方向之複數個上述色標實施上述分光測定，選擇上述測定值為第二閾值以上之上述色標，且比較上述所選擇之上述色標之上述第一測定值及上述第二測定值。

於本應用例中，使分光器相對於排列於一方向上之複數個色標相對移動，且比較測定值為第二閾值以上之色標之第一測定值及第二測定值。於第一測定值及第二測定值較小且未達第二閾值之情形時，色標之對第一波長之反射率較差，未能獲得足夠之光量，故易受雜訊成分等之影響。與此相對，於本應用例中，因比較第二閾值以上之第一測定值及第二測定值，故不易受如上述之雜訊影響，可更準確地判定測定範圍對於色標而言是否適當。

本應用例之分光測定裝置較佳為，判定上述第一測定值與上述第二測定值之差是否為第一閾值以下，於上述第一測定值及上述第二測定值之差大於上述第一閾值之情形時，檢測測定上述第一測定值時之上述分光器之位置即第一位置、與測定上述第二測定值時之上述分光器之位置即第二位置與於上述色標之區域內實施上述分光測定時之上述第一位置及上述第二位置相比偏移之方向。

於本應用例中，分光測定裝置係於判定為相對於第一期間實施之分光測定之測定範圍自色標偏移之情形時，檢測該偏移方向。

藉此，因可判定測定範圍朝何方向偏移，故可容易地判斷為了相對於色標適當地設定測定範圍而使測定範圍朝何方向偏移，即，使第一期間之測定開始時及測定結束時延遲還是提早。因此，即使於已輸出測定範圍偏移之錯誤之情形時，仍可容易地實施自該錯誤修復之錯誤修復處理。

本應用例之分光測定裝置較佳為，基於在上述第一期間之前一面使上述分光器朝上述一方向相對移動一面以上述第一波長之光進行分光測定時之測定值即第三測定值、於上述第一期間之後一面使上述分光器朝上述一方向相對移動一面以上述第一波長之光進行分光測定時之測定值即第四測定值、上述第一測定值、及上述第二測定值，檢測上述方向。

於本應用例中，於將自波長可變干涉濾波器出射之光之波長固定為第一波長之狀態下使分光器朝一方向相對移動，取得於相對於第一期間之分光測定之前所獲得之測定值作為第三測定值，取得於相對於第一期間之分光測定之後所獲得之測定值作為第四測定值。且，基於第一測定值、第二測定值、第三測定值、及第四測定值，檢測測定範圍之偏移方向。

此處，測定第三測定值及第四測定值之位置分別設定於相對於色標適當地設定測定範圍之情形時之、第一測定位置與色標之一端之間、及第二測定位置與色標之另一端之間。該情形時，若將測定範圍適當地設定於色標內，則第一測定值、第二測定值、第三測定值、及第四測定值成為相同或大致相同(差為第一閾值以下)。另一方面，測定範圍偏移之情形時，根據位置偏移方向，第一測定值及第三測定值之差、或第二測定值及第四測定值之差大於第一閾值。因此，可藉由比較該等4個測定值，而容易地檢測偏移方向。

本應用例之分光測定裝置較佳為，基於上述色標之周圍顏色之對上述第一波長之反射率、上述第一測定值、及上述第二測定值，檢測上述方向。

已知曉色標之周圍之對第一波長之反射率之情形時，可容易地判別於將來自波長可變干涉濾波器之出射光之波長固定為第一波長之狀態下，於一方向上掃描分光器時，測定值於色標上是呈山狀變化，還是呈谷狀變化。因此，可藉由比較第一測定值及第二測定值之大小關係，而容易地檢測測定範圍之偏移方向。例如，已知曉於掃描分光器時第一波長之反射率於色標上呈山狀變化之情形時，第一測定值大於第二測定值之情形時，可判定第一期間之測定開始時及測定結束時較遲(測定範圍偏移至一方向之後側)，第一測定值小於第二測定值之情形時，可判定第一期間之測定開始時及測定結束時較早(測定範圍偏移至一方向之前側)。又，已知曉第一波長之反射率於色標上呈谷狀變化之情形時，第一測定值大於第二測定值之情形時，可判定第一期間之測定開始時及測定結束時較早，第一測定值小於第二測定值之情形時，可判定第一期間之測定開始時及測定結束時較遲。

本應用例之分光測定裝置較佳為，判定上述第一測定值與上述第二測定值之差是否為第一閾值以下，於上述第一測定值及上述第二測定值之差大於上述第一閾值之情形時，算出測定上述第一測定值時之上述分光器之位置即第一位置、與測定上述第二測定值時之上述分光器之位置即第二位置與於上述色標之區域內實施上述分光測定時之上述第一位置及上述第二位置相比偏移之偏移量。

於本應用例中，於測定範圍自色標偏移之情形時，算出該偏移量。藉此，因知曉用於相對於色標適當地設定測定範圍之測定範圍之移動量、即變更第一期間之測定開始時及測定結束時之時間，故可容易地實施錯誤修復處理。

此時，本應用例之分光測定裝置較佳為，基於相對於連續配置之2個以上之上述色標之第一測定值及上述第二測定值，而算出上述偏移量。

測定範圍之偏移方向為前側之情形時，若判定相對於特定之色標之第一測定值、第二測定值、及配置於該色標之後之色標之第一測定值，則可利用三角函數算出偏移量。又，測定範圍之偏移方向為後側之情形時，可基於特定之色標之第一測定值、第二測定值、及配置於該色標之前之色標之第二測定值，利用三角函數算出偏移量。亦即，若判定相對於至少2個連續之色標之第一測定值及第二測定值，則可容易地算出偏移量。

於本應用例之分光測定裝置中，較佳為，上述移動機構使上述分光器以等速朝上述一方向移動。

於本應用例中，因移動機構使分光器以等速相對移動，故即使未另行設置測定分光器之位置之感測器等，亦可容易地檢測相對於針對第一期間之測定開始時及測定結束時之分光器之位置。

本發明之一應用例之分光測定裝置其特徵在於包含：分光器，其供來自測定對象之光入射；及移動機構，其使上述分光器相對於上述測定對象相對移動；且比較第一時刻之第一波長之光之測定值即第一測定值、與第二時刻之上述第一波長之測定值即第二測定值。

於本應用例中，如上述般，可藉由比較第一測定值及第二測定值，而容易且迅速地判定相對於色標之測定範圍是否適當。

又，測定對象並非限於色標，亦可對於任意之測定對象判定測定範圍是否適當。

又，於分光測定中分光器並非限於相對於測定對象始終相對移動之狀態，而可藉由比較第一時刻之第一波長之光之測定值即第一測定值、與第二時刻之上述第一波長之測定值即第二測定值，判定是否已對任意之測定對象進行適當之測定。

本發明之一應用例之圖像形成裝置其特徵在於包含：如上述之分光測定裝置；及圖像形成部，其於圖像形成對象形成圖像。

於本應用例中，可於藉由圖像形成部於圖像形成對象形成如上述之色標後，藉由分光測定裝置對所形成之色標進行分光測定。又，於此種圖像形成裝置中，可確認所形成之色標之顏色是否為與對圖像形成部指令之顏色相同之顏色，於不同之情形時，可根據分光測定結果對圖像形成部作出反饋。

本發明之一應用例之分光測定方法係使用分光測定裝置將色標作為上述測定對象而實施分光測定，該分光測定裝置包含：分光器，其包含供來自測定對象之光入射之波長可變干涉濾波器；及移動機構，其使上述分光器相對於上述測定對象沿一方向相對移動；其特徵在於：使上述分光器朝上述一方向相對移動，於上述分光器相對移動之期間之第一期間，一面改變上述波長可變干涉濾波器所通過之光之波長一面進行分光測定，於上述第一期間之測定開始時、及測定結束時使第一波長之光自上述波長可變干涉濾波器通過，且比較上述測定開始時之上述分光測定之測定值即第一測定值、與上述測定結束時之上述分光測定之測定值即第二測定值。

於本應用例中，可發揮與上述分光測定裝置相同之作用效果，可相對於色標於適當之位置設定測色範圍，可精度較佳地實施針對色標之分光測定。

本發明之一應用例之分光測定方法其特徵在於：可相對於測定對象相對移動之分光器對來自上述測定對象之光進行分光測定，且比較第一時刻之第一波長之光之測定值即第一測定值、與第二時刻之上述第一波長之測定值即第二測定值。

又，測定對象並非限於色標，而可對於任意之測定對象判定測定範圍是否適當。

3‧‧‧色卡

5‧‧‧波長可變干涉濾波器(波長可變干涉濾波器)

6‧‧‧框體

10‧‧‧印表機(圖像形成裝置)

11‧‧‧供給單元

12‧‧‧搬送單元

13‧‧‧載具

14‧‧‧載具移動單元(移動機構)

15‧‧‧控制單元

16‧‧‧印刷部(圖像形成部)

17‧‧‧分光器

20‧‧‧外部機器

30‧‧‧色標群

31‧‧‧色標

32‧‧‧起始線

33‧‧‧終點線

51‧‧‧固定基板

52‧‧‧可動基板

53‧‧‧接合膜

54‧‧‧固定反射膜

55‧‧‧可動反射膜

56‧‧‧靜電致動器

57‧‧‧電極墊

61‧‧‧基座

62‧‧‧玻璃基板

63‧‧‧蓋玻片

64‧‧‧固定材料

111‧‧‧捲筒體

121‧‧‧搬送輥

122‧‧‧壓板

131‧‧‧可撓性電路

141‧‧‧載具引導軸

142‧‧‧載具馬達

143‧‧‧正時皮帶

151‧‧‧I/F

152‧‧‧單元控制電路

153‧‧‧記憶體

154‧‧‧CPU

161‧‧‧墨水匣

171‧‧‧光源部

171A‧‧‧光源

171B‧‧‧聚光部

172‧‧‧光學濾波器器件

173‧‧‧受光部

174‧‧‧導光部

174A‧‧‧反射鏡

174B‧‧‧帶通濾波器

181‧‧‧掃描控制機構

182‧‧‧印刷控制機構

183‧‧‧測定範圍設定機構

184‧‧‧濾波器控制機構

185‧‧‧判定機構

186‧‧‧偏移量算出機構

187‧‧‧偏移方向檢測機構

188‧‧‧分光測定機構

189‧‧‧校準機構

311‧‧‧第一標端部

312‧‧‧第二標端部

511‧‧‧第一槽部

512‧‧‧第二槽部

521‧‧‧可動部

522‧‧‧保持部

561‧‧‧固定電極

562‧‧‧可動電極

611‧‧‧凹部

612‧‧‧光通過孔

613‧‧‧內側端子部

614‧‧‧導通孔

615‧‧‧外側端子部

A‧‧‧介質

a₁‧‧‧餘裕

a₂‧‧‧餘裕

a₃‧‧‧距離

a₄‧‧‧距離

B‧‧‧線形部

C‧‧‧錯誤判定值

D₁‧‧‧絕對值

D₂‧‧‧絕對值

G‧‧‧間隙

L‧‧‧距離

M‧‧‧測定範圍

M1‧‧‧開始位置

M2‧‧‧結束位置

M3‧‧‧開始前位置

M4‧‧‧結束後位置

P1‧‧‧點

P2‧‧‧點

P3‧‧‧點

Q‧‧‧測定對象區域

R‧‧‧測定對象區域

r‧‧‧直徑尺寸(測定寬度尺寸)

R1‧‧‧第一測定區域端部

R2‧‧‧第二測定區域端部

Rb‧‧‧基準點

S1~S29‧‧‧步驟

t‧‧‧經過時間

T₀‧‧‧基準時序

T_m1(i)‧‧‧測定開始時間

T_m2(i)‧‧‧測定結束時間

T_m3(i)‧‧‧測定開始前時間

T_m4(i)‧‧‧測定結束後時間

T_n‧‧‧濾波器驅動時間

v‧‧‧速度

V₁(i)‧‧‧第一輸出值(第一測定值)

V₂(i)‧‧‧第二輸出值(第二測定值)

V₃(i)‧‧‧第三輸出值(第三測定值)

V₄(i)‧‧‧第四輸出值(第四測定值)

W₀‧‧‧距離

W_m‧‧‧測定距離

W_p‧‧‧標寬

X‧‧‧主掃描方向

Y‧‧‧副掃描方向

α‧‧‧差

β‧‧‧斜率

圖1係顯示本發明之第一實施形態之印表機之概略構成之外觀圖。

圖2係顯示第一實施形態之印表機之概略構成之方塊圖。

圖3係顯示第一實施形態之分光器之概略構成之剖視圖。

圖4係顯示第一實施形態之光學濾波器器件之概略構成之剖視圖。

圖5係顯示第一實施形態之控制單元所包含之CPU之功能構成之方塊圖。

圖6係顯示第一實施形態之印表機之分光測定方法之流程圖。

圖7係顯示第一實施形態之印表機之分光測定方法之流程圖。

圖8係顯示第一實施形態之色卡之一例之圖。

圖9係顯示第一實施形態中相對於色標之測定對象區域之位置、輸出值之變化、及載具之移動時間之關係之圖。

圖10係顯示第一實施形態中測定範圍未相對於色標偏移之情形時之測定對象區域之位置、輸出值之變化、及反射膜間之電容變化之圖。

圖11係顯示第一實施形態中測定範圍相對於色標偏移之情形時之測定對象區域之位置、輸出值之變化、及反射膜間之電容變化之圖。

圖12(A)、(B)係顯示第一實施形態中測定範圍偏移時之輸出值之信號波形之一例之圖。

圖13(A)、(B)係顯示第一實施形態中測定範圍偏移時之輸出值之信號波形之一例之圖。

圖14(A)、(B)係放大第一實施形態中測定範圍偏移時之輸出值之信號波形之一部分之圖。

圖15係用於說明第二實施形態之偏移方向檢測處理之圖。

圖16(A)、(B)係顯示測定範圍位置偏移之情形時之相對於基準點之位置之輸出值之變化的圖。

圖17係顯示測定對象區域之面積較大之情形時之輸出值之變化之圖。

圖18係顯示第三實施形態之測定對象區域之圖。

[第一實施形態]

以下，基於圖式對本發明之第一實施形態進行說明。於本實施形態中，作為本發明之圖像形成裝置之一例，以下對具備分光測定裝置之印表機10(噴墨印表機)進行說明。

[印表機之概略構成]

圖1係顯示第一實施形態之印表機10之外觀之構成例之圖。圖2係顯示本實施形態之印表機10之概略構成之方塊圖。

如圖1所示，印表機10具備供給單元11、搬送單元12、載具13、載具移動單元14、及控制單元15(參照圖2)。該印表機10係例如基於自個人電腦等外部機器20輸入之印刷資料，控制各單元11、12、14及載具13，而於介質A上印刷圖像。又，本實施形態之印表機10係基於預先設定之校正用印刷資料而於介質A上之特定位置形成測色用之色標31(參照圖9等)，且進行針對該色標31之分光測定。藉此，印表機10比較相對於色標31之實測值與校正用印刷資料，判定所印刷之顏色是否存在色差，存在色差之情形時，基於實測值進行顏色修正。

以下，對印表機10之各構成進行具體說明。

供給單元11係將成為圖像形成對象之介質A(於本實施形態中，例示白色紙面)供給至圖像形成位置之單元。該供給單元11例如具備捲裝有介質A之捲筒體111(參照圖1)、捲筒驅動馬達(省略圖示)、及捲筒驅動輪排(省略圖示)等。且，基於來自控制單元15之指令，旋轉驅動捲筒驅動馬達，將捲筒驅動馬達之旋轉力經由捲筒驅動輪排傳遞至捲筒體111。藉此，捲筒體111旋轉，捲裝於捲筒體111之紙面被供給至Y方向(副掃描方向)之下游側(+Y方向)。

另，於本實施形態中，顯示供給捲裝於捲筒體111之紙面之例，但並非限定於此。例如，亦可利用由輥軸等例如逐張供給裝載於托具等之紙面等介質A等任意之供給方法供給介質A。

搬送單元12係沿Y方向搬送自供給單元11供給之介質A。該搬送單元12係包含搬送輥121、與搬送輥121隔著介質A配置且隨搬送輥121從動之從動輥(省略圖示)、及壓板122而構成。

搬送輥121被傳遞來自省略圖示之搬送馬達之驅動力，若藉由控制單元15之控制而驅動搬送馬達，則藉由該旋轉力而旋轉驅動，以於與從動輥之間夾著介質A之狀態沿Y方向搬送。又，於搬送輥121之Y方向之下游側(+Y側)，設置有與載具13對向之壓板122。

載具13具備對介質A印刷圖像之印刷部16、及進行介質A上之特定之測定對象區域R(參照圖2)之分光測定之分光器17。

該載具13係藉由載具移動單元14可沿與Y方向交叉之主掃描方向(本發明之一方向，即X方向)移動地設置。

又，載具13係藉由可撓性電路131連接於控制單元15，基於來自控制單元15之指令，實施藉由印刷部16進行之印刷處理(針對介質A之圖像形成處理)及藉由分光器17進行之分光測定處理。

另，關於載具13之詳細構成，將予以後述。

載具移動單元14構成本發明之移動機構，基於來自控制單元15之指令，使載具13沿X方向往復移動。

該載具移動單元14係例如包含載具引導軸141、載具馬達142、及正時皮帶143而構成。

載具引導軸141係沿X方向配置，兩端部固定於印表機10之例如框體。載具馬達142驅動正時皮帶143。正時皮帶143與載具引導軸141大致平行地被支持，且被固定有載具13之一部分。且，若基於控制單元15之指令驅動載具馬達142，則正時皮帶143正反運行，固定於正時皮帶143之載具13被載具引導軸141引導而往復移動。

其次，基於圖式對設置於載具13之印刷部16及分光器17之構成進行說明。

[印刷部(圖像形成部)之構成]

印刷部16係本發明之圖像形成部，於與介質A對向之部分，將墨水個別地噴出至介質A上，而於介質A上形成圖像。

該印刷部16係裝卸自如地安裝有與複數種顏色之墨水對應之墨水匣161，自各墨水匣161經由管道(省略圖示)對墨水槽(省略圖示)供給墨水。又，於印刷部16之下表面(與介質A對向之位置)，與各色對應地設置有噴出墨滴之噴嘴(省略圖示)。於該等噴嘴中，例如配置有壓電元件，藉由驅動壓電元件，將自墨水槽供給之墨滴噴出並噴附至介質A，而形成墨點。

[分光器之構成]

圖3係顯示分光器17之概略構成之剖視圖。

分光器17係如圖3所示，具備光源部171、光學濾波器器件172、受光部173、及導光部174。

該分光器17係自光源部171對介質A上照射照明光，且藉由導光部174使被介質A反射後之光成分入射至光學濾波器器件172。然後，光學濾波器器件172自該反射光使特定波長之光出射(透過)，且藉由受光部173受光。又，光學濾波器器件172係可基於控制單元15之控制而選擇透過波長，可藉由測定可見光之各波長之光之光量，進行介質A上之測定對象區域R之分光測定。

[光源部之構成]

光源部171具備光源171A與聚光部171B。該光源部171係將自光源171A出射之光於介質A之測定對象區域R內，自相對於介質A之表面之法線方向照射。

作為光源171A，較佳為可出射可見光域之各波長之光的光源。作為此種光源171A，例如可例示鹵素燈或氙氣燈、白色LED等，尤佳為可容易地設置於載具13內之有限空間內之白色LED。聚光部171B例如由聚光透鏡等構成，使來自光源171A之光於測定對象區域R聚光。另，於圖3中，對於聚光部171B，僅顯示1個透鏡(聚光透鏡)，但亦可組合複數個透鏡而構成。

[光學濾波器器件之構成]

圖4係顯示光學濾波器器件172之概略構成之剖視圖。

光學濾波器器件172具備框體6、及收納於框體6之內部之波長可變干涉濾波器5(波長可變干涉濾波器)。

(波長可變干涉濾波器之構成)

波長可變干涉濾波器5係波長可變型之法布里-珀羅標準具(Fabry-Perot etalon)元件，如圖4所示，具備透光性之固定基板51及可動基板52，且該等固定基板51及可動基板52藉由利用接合膜53接合而一體地構成。

固定基板51具備藉由蝕刻形成之第一槽部511、及槽深度較第一槽部511淺之第二槽部512。且，於第一槽部511，設置有固定電極 561，於第二槽部512，設置有固定反射膜54。

固定電極561例如形成為包圍第二槽部512之環狀，與設置於可動基板52之可動電極562對向。

固定反射膜54係例如由Ag等之金屬膜、Ag合金等之合金膜、積層有高折射層及低折射層之介電質多層膜、或積層有金屬膜(合金膜)與介電質多層膜之積層體構成。

可動基板52具備可動部521、及設置於可動部521外且保持可動部521之保持部522。

可動部521係厚度尺寸較保持部522形成為更大。該可動部521形成為較固定電極561之外周緣之徑尺寸更大之徑尺寸，於可動部521之與固定基板51對向之面，設置有可動電極562及可動反射膜55。

可動電極562設置於與固定電極561對向之位置。

可動反射膜55係介隔間隙G而配置於與固定反射膜54對向之位置。作為該可動反射膜55，可使用與上述之固定反射膜54相同構成之反射膜。

保持部522係包圍可動部521之周圍之隔板，厚度尺寸較可動部521形成為更小。此種保持部522相較於可動部521更易彎曲，藉由微小之靜電引力，即可使可動部521朝固定基板51側變位。藉此，可於維持固定反射膜54及可動反射膜55之平行度之狀態下，變更間隙G之間隙尺寸。

另，於本實施形態中，例示隔板狀之保持部522，但並非限定於此，例如亦可採用以平面中心點為中心而設置以等角度間隔配置之樑狀之保持部之構成等。

又，於可動基板52之外周部(與固定基板51非對向之區域)，設置有與固定電極561或可動電極562個別連接之複數個電極墊57。

(框體之構成)

框體6係如圖4所示，具備基座61與玻璃基板62。該等基座61及玻璃基板62例如可利用使用玻璃粉(低熔點玻璃)之低熔點玻璃接合、藉由環氧樹脂等進行之接著等，藉此，於內部形成收容空間，於該收容空間內收納波長可變干涉濾波器5。

基座61係例如藉由於薄板上積層陶瓷而構成，具有可收納波長可變干涉濾波器5之凹部611。波長可變干涉濾波器5係藉由固定材料64而固定於基座61之凹部611之例如側面。

於基座61之凹部611之底面，設置有光通過孔612。該光通過孔612係以包含與波長可變干涉濾波器5之反射膜54、55重疊之區域之方式設置。又，於基座61之與玻璃基板62為相反側之面，接合有覆蓋光通過孔612之蓋玻片63。

又，於基座61，設置有連接於波長可變干涉濾波器5之電極墊57之內側端子部613，該內側端子部613係經由導通孔614而連接於設置於基座61之外側之外側端子部615。該外側端子部615係電性連接於控制單元15。

[受光部及導光光學系統之構成]

返回圖3，受光部173係配置於波長可變干涉濾波器5之光軸上，接收透過該波長可變干涉濾波器5之光。然後，受光部173係基於控制單元15之控制，而輸出與受光量相應之檢測信號(電流值)。另，由受光部173輸出之檢測信號係經由I-V轉換器(省略圖示)、放大器(省略圖示)、及AD轉換器(省略圖示)而輸入至控制單元15。

導光部174具備反射鏡174A與帶通濾波器174B。

該導光部174係於測定對象區域R，使相對於介質A之表面以45°反射後之光藉由反射鏡174A而反射至波長可變干涉濾波器5之光軸上。帶通濾波器174B使可見光域(例如380nm~720nm)之光透過，而濾除紫外光及紅外光之光。藉此，於波長可變干涉濾波器5入射可見光域之光，於受光部173接收可見光域之由波長可變干涉濾波器5所選擇之波長之光。

[控制單元之構成]

控制單元15係如圖2所示，包含I/F151、單元控制電路152、記憶體153、及CPU(Central Processing Unit：中央處理單元)154而構成。

I/F151係將自外部機器20輸入之印刷資料輸入至CPU154。

單元控制電路152具備分別控制供給單元11、搬送單元12、印刷部16、光源171A、波長可變干涉濾波器5、受光部173、及載具移動單元14之控制電路，且基於來自CPU154之指令信號而控制各單元之動作。另，各單元之控制電路亦可與控制單元15以單體設置，並連接於控制單元15。

記憶體153記憶有控制印表機10之動作之各種程式或各種資料。

作為各種資料，例如可舉出顯示控制波長可變干涉濾波器5時之、相對於對靜電致動器56之施加電壓之、透過波長可變干涉濾波器5之光之波長之V-λ資料、記憶有相對於作為印刷資料而包含之顏色資料的各墨水之噴出量之印刷文本資料等。又，亦可記憶有光源171A之對各波長之發光特性(發光頻譜)、或受光部173之對各波長之受光特性(受光感度特性)等。

圖5係顯示印表機10之控制單元15所包含之CPU之功能構成之方塊圖。

CPU154係藉由讀取並執行記憶體153中所記憶之各種程式，而如圖5所示般作為掃描控制機構181、印刷控制機構182、測定範圍設定機構183、濾波器控制機構184、判定機構185、偏移量算出機構186、偏移方向檢測機構187(方向檢測機構)、測色機構188、及校準機構189等發揮功能。

掃描控制機構181將驅動供給單元11、搬送單元12、及載具移動單元14之意旨之指令信號輸出至單元控制電路152。藉此，單元控制電路152驅動供給單元11之捲筒驅動馬達，將介質A供給至搬送單元12。又，單元控制電路152驅動搬送單元12之搬送馬達，將介質A之特定區域沿Y方向搬送至壓板122之與載具13對向之位置為止。又，單元控制電路152驅動載具移動單元14之載具馬達142，使載具13沿X方向移動。

印刷控制機構182例如基於自外部機器20輸入之印刷資料，而將控制印刷部16之意旨之指令信號輸出至單元控制電路152。又，於本實施形態中，印刷控制機構182係基於將預先設定之特定顏色之色標31形成於特定位置之意旨之校正用印刷資料，而於介質A上形成色標31。另，作為校正用印刷資料，亦可記憶於記憶體153，又可自外部機器20輸入。

關於色標31之詳細說明將予以後述。

若自印刷控制機構182對單元控制電路152輸出指令信號，則單元控制電路152對印刷部16輸出印刷控制信號，驅動設置於噴嘴之壓電元件而對介質A噴出墨水。另，實施印刷時，載具13沿X方向移動，於該移動中交替重複自印刷部16噴出墨水而形成墨點之墨點形成動作、與朝Y方向搬送介質A之搬送動作，從而將包含複數個墨點之圖像印刷於介質A。

測定範圍設定機構183對色標31設定測定範圍M(參照圖9)，且，設定用於對該測定範圍實施分光測定之測定開始時間及測定周長時間。

色標31係如上述般基於校正用印刷資料而形成於介質A上者，相對於X方向之寬度尺寸成為記錄於校正用印刷資料之特定尺寸。於本實施形態中，對1個色標31，取得可見光域之成為特定間隔之複數波長之光(例如400nm至700nm之每20nm間隔之16頻帶量之光)之分光特性。因此，於測定對象區域R(參照圖9)於1個色標31上移動之期間，必須以可取得該複數之波長之光之方式，驅動波長可變干涉濾波器。測定範圍設定機構183係基於為了切換波長可變干涉濾波器5之透過光所必需之濾波器驅動時間T_n、所取得之光之數量(頻帶數)n、使載具13於X方向移動(等速直線運動)時之速度v、及色標之尺寸(標寬W_p)，而分別設定色標31之區域內之測定範圍M之開始位置M1(參照圖9)、結束位置M2(參照圖9)。又，算出測定對象區域R之特定之基準點Rb(參照圖9)移動至所設定之開始位置M1、結束位置M2為止之時間(測定開始時間、測定結束時間)。

濾波器控制機構184係自記憶體153之V-λ資料讀取相對於透過波長可變干涉濾波器5之光之波長之對靜電致動器56之驅動電壓，並對單元控制電路152輸出指令信號。藉此，單元控制電路152對波長可變干涉濾波器5施加所指令之驅動電壓，而使所期望之透過波長之光自波長可變干涉濾波器5透過。

又，濾波器控制機構184係基於由測定範圍設定機構183設定之測定範圍、與藉由掃描控制機構181移動之載具13之移動速度及距移動開始之經過時間，切換施加至靜電致動器56之電壓。

判定機構185係基於測定對象區域R之基準點Rb位於色標31之測定範圍M之開始位置M1時之測定值、與位於色標31之測定範圍M之結束位置M2時之測定值，判定測定範圍是否處於色標31之區域內(是否自色標31發生位置偏移而使一部分超出)。

另，於本實施形態中，使用來自受光部173之輸出信號(輸出值)作為測定值。此處，將測定對象區域R之基準點Rb位於第i個色標31之測定範圍M之開始位置M1時之、來自受光部173之輸出值作為第一輸出值V₁(i)(本發明之第一測定值)，將測定對象區域R之基準點Rb位於第i個色標31之測定範圍M之結束位置M2時之、來自受光部173之輸出值作為第二輸出值V₂(i)(本發明之第二測定值)，於以下進行說明。

偏移量算出機構186係於測定範圍M自色標31偏移之情形時，算出其偏移量。

偏移方向檢測機構187係於測定範圍M自色標31偏移之情形時，檢測其偏移方向。

測色機構188係基於相對於針對測定範圍所獲得之複數波長之光之分光測定結果，測定色標31之色度。

校準機構189係基於測色機構188之測色結果與校正用印刷資料，修正(更新)印刷文本資料。

另，關於控制單元15之各功能構成之詳細動作，將予以後述。

[分光測定方法]

其次，基於圖式對本實施形態之印表機10之分光測定方法進行說明。

圖6及圖7係顯示印表機10之分光測定方法之流程圖。

另，於本實施形態中，顯示成為測定對象之波長域為400nm至700nm之可見光域，且將初始波長設為700nm，基於成為20nm間隔之16個波長之光之光量而實施分光測定之例。

(色卡之形成)

於印表機10之分光測定方法中，首先於介質A上形成包含色標31之色卡。

對此，掃描控制機構181將介質A設置於特定位置(步驟S1)。亦即，掃描控制機構181控制供給單元11、搬送單元12，將介質A於副掃描方向(+Y方向)上搬送，而將介質A之特定之印刷開始位置設置於壓板122上。又，掃描控制機構181使載具13移動至初始位置(例如主掃描方向之-X側端部)。

此後，印刷控制機構182自記憶體153讀取校正用印刷資料，與藉由掃描控制機構181進行之控制同步，將色卡印刷於介質A上(步驟S2)。

亦即，藉由掃描控制機構181，朝+X側例如以一定速度掃描載具13。印刷控制機構182例如根據距掃描開始之時間而特定載具13之印刷部16之位置，於基於校正用印刷資料之特定位置，自特定顏色之噴嘴噴出墨水而形成墨點(墨點形成動作)。又，掃描控制機構181係當載具13移動至+X側端部時，控制供給單元11及搬送單元12而將介質A朝+Y方向搬送(搬送動作)。且，掃描控制機構181朝-X方向掃描載具13，印刷控制機構182基於校正用印刷資料，於特定位置形成墨點。

藉由重複如以上之墨點形成動作與搬送動作，而於介質A上形成色卡。

圖8係顯示本實施形態中所形成之色卡之一例之圖。

於本實施形態中，如圖8所示，藉由印刷而形成色卡3，該色卡3係沿Y方向配置有複數個沿X方向無隙縫配置複數種顏色之色標31而構成之色標群30。又，於色卡3，於色標群30之-X側設置有與Y方向平行之直線狀之起始線32，及於色標群30之+X側設置有與Y方向平行之直線狀之終點線33。起始線32及終點線33係由對初始波長之反射率與介質A不同之顏色形成，於本實施形態中，對白色紙面之介質A形成有黑色之起始線32及終點線33。

再者，於本實施形態中，於將連續之3個色標31之對初始波長(於本實施形態中為700nm)之反射率設為P(i-1)、P(i)、P(i+1)時，滿足P(i)-P(i-1)<0 P(i+1)-P(i)<0或P(i)-P(i-1)>0 P(i+1)-P(i)>0之色標31係基於校正用印刷資料而形成。即，於本實施形態中，若於沿X方向掃描載具13，並將波長可變干涉濾波器5之透過波長固定於初始波長之狀態下，觀察來自受光部173之輸出值，則於每次切換色標31時，輸出值重複增加及減少，相對於載具13之位置(或距載具13開始移動之時間)之輸出值成為交替地顯現山狀波形與谷狀波形之輸出波形。

(初始設定)

返回圖6，步驟S2之後，若所印刷之色卡3之墨水已乾燥，則掃描控制機構181控制搬送單元12，將介質A朝-Y方向搬送，使色標31之第1列位於與載具13(測定對象區域R)對向之掃描直線上(步驟S3)。

另，於以下之說明時，色標31係沿Y方向配置有J列，以變量j(j為1~J之整數)表示色標31之測定對象之列數。於步驟S3中，藉由設置變量j=1，掃描控制機構181係以第1列之色標群30位於壓板122上之方式搬送介質A。又，於步驟S3中，掃描控制機構181使載具13移動至-X側端部(初始位置X=0)。

步驟S3之後，實施分光器17之校準處理(步驟S4)。

圖9係顯示相對於色標之測定對象區域之位置、輸出值之變化、及載具之移動時間之關係之圖。於上述步驟S3之後，因載具13位於-X側端部之初始位置，故測定對象區域R係如圖9所示般位於較起始線32更靠-X側。

使用白色紙面作為介質A之情形時，控制單元15對該初始位置之白色紙面實施分光測定。亦即，控制單元15將光源171A點亮，藉由濾波器控制機構184使施加至波長可變干涉濾波器5之靜電致動器56之驅動電壓依序變化，且分別取得距初始波長為20nm間隔之n頻帶(例如16頻帶)之受光部173之輸出值。又，控制單元15測定光尚未入射至受光部173之狀態下之輸出值(暗電壓)。對此，例如可於使光源171A熄滅之狀態下取得來自受光部173之輸出值，例如亦可於分光器17之導光部174設置可相對於光路進退之遮光板，於藉由遮光板阻斷對受光部173之光之入射後，取得來自受光部173之輸出值。

且，測色機構188係基於對白色紙面之分光頻譜與暗電壓，實施分光器17之校準處理。亦即，取得介質A中來自光源171A之光被反射之情形時之相對於各波長之基準光量(基準輸出值)。於上述例中，若將相對於測定白色紙面時之波長λ之輸出值設為Vw(λ)，將暗電壓設為Vd，則可根據波長λ之基準輸出值V_ref(λ)=Vw(λ)-Vd算出。

另，於本實施形態中，顯示介質A為白色紙面之例，但亦可為其他顏色。於該情形時，因介質A之顏色(對各波長之反射率)為已知，故可根據校準時之各波長之輸出值算出基準輸出值。又，於色卡3之形成時，亦可於起始線32之-X側，形成成為基準色之白色色標。該情形時，作為墨水顏料有白色時，可無關於介質A而形成反射率為已知之白色色標。

又，於步驟S4中，除了取得分光測定時所使用之基準輸出值V_ref(λ)之外，亦可實施波長可變干涉濾波器5之校準。

即，因光源171A之發光特性及受光部173之受光感度特性為已知，故可藉由比較整合光源171A之發光特性及受光部173之受光感度特性而得之分光特性、與步驟S4中之輸出值之波形，而檢測相對於基於V-λ資料之施加電壓之透過波長、與相對於實際所施加之電壓之透過波長之偏差。該情形時，藉由基於測定結果例如修正V-λ資料，可實施波長可變干涉濾波器5之校準。

又，亦可相對於介質A之初始位置，形成特定波長(例如初始波長即700nm)之反射率或吸收率高於其他波長之修正用色標。例如，於配置僅對初始波長之反射率較高之修正用色標之情形時，實施針對各波長之分光測定，判定檢測出反射率之峰值(初始波長)之電壓與V-λ資料所記錄之相對於初始波長之電壓是否一致，產生偏移之情形時，修正V-λ資料。

(測定範圍設定處理)

步驟S4之後，控制單元15設定用於測定色卡3之色標群30之各色標31之測定範圍M(步驟S5)。

另，於以下之說明時，如圖9所示，將1個色標31之沿X方向之-X側端部(負側端部)設為第1標端部311，將+X側端部(正側端部)設為第二標端部312。於本實施形態中，色標群30之第i個色標31之第一標端部311與第i-1個色標31之第二標端部312一致，第i個色標31之第二標端部312與第i+1個色標31之第一標端部311一致。又，於本實施形態中，測定對象區域R係直徑r(測定寬度尺寸r)之圓形之點，將其-X側端部設為第一測定區域端部R1，將+X側端部設為第二測定區域端部R2。又，於本實施形態中，將測定對象區域R之圓中心點設為基準點Rb。

色卡3係基於校正用印刷資料而形成之圖像，如圖9所示，印刷於介質A上之色卡3之起始線32至第1個色標31之距離W₀、各色標31之沿X方向之寬度尺寸(標寬W_p)成為已知值。

又，掃描控制機構181係沿X方向以等速運動(速度v)掃描載具13。

再者，對波長可變干涉濾波器5之靜電致動器56施加驅動電壓後，直至與驅動電壓相應之透過波長之光透過為止之時間(濾波器驅動時間)T_n例如可藉由於波長可變干涉濾波器之檢查時預先測定而取得。因此，為了取得n頻帶量之光之光量(輸出值)所必需之時間成為n×T_n，於該期間，測定對象區域R於X方向上移動之測定距離W_m(參照圖9)成為W_m=v×(n×T_n)。於實際實施測色時，因於移動該測定距離W_m之期間，測定對象區域R必須落於色標31之區域內，故作為測定範圍M，必須至少滿足下述式(1)。

[數1]r+W_m<W_p…(1)

但，若將色標31之第一標端部311與第一測定區域端部R1一致之位置(基準點Rb位於與第一標端部311相距+r/2之位置)設為測定範圍M之開始位置，將第二標端部312與第二測定區域端部R2一致之位置(基準點Rb位於與第二標端部312相距-r/2之位置)設為測定範圍M之結束位置，則測定範圍略微偏移，即會導致開始位置或結束位置偏離至色標31外。該情形時，無法測定針對色標31之準確之分光測定。

因此，於本實施形態中，設定將較第一測定區域端部R1重疊於第一標端部311之位置更靠+側特定之餘裕a₁(第一距離)之位置設為開始位置M1，將較第二測定區域端部R2重疊於第二標端部312之位置更靠-X側特定之餘裕a₂(第二距離)之位置設為結束位置M2之測定範圍M。

因此，測定範圍設定機構183係以滿足下述式(2)之方式，設定餘裕a₁、a₂，而設定測定範圍M。另，作為該等餘裕a₁、a₂，較佳為相同值。於實際實施分光測定時，因無法預測測定範圍M朝何方向移動，故可藉由於+X側及-X側設定相同值之餘裕a₁、a₂而提高分光測定時之可靠性。

[數2]r+(a₁+a₂)+W_m=W_p…(2)

另，於本實施形態中，載具13係於自成為初始位置(X=0)之位置至起始線32之間，藉由加速度直線運動加速，其後，藉由速度v之等速直線運動朝+方向移動，超過終點線33後，藉由加速度直線運動減速並停止。

因此，可將測定對象區域R超過起始線32之時序作為基準位置，藉由使載具13以速度v等速直線運動時之移動時間，檢測測定對象區域R之位置。即，於本實施形態中，作為測定範圍M之設定，測定範圍設定機構183算出測定對象區域R之基準點Rb移動至各色標31之開始位置M1之時間(測定開始時間)、基準點Rb移動至各色標31之結束位置M2之時間(測定結束時間)。因此，測定開始時間至測定結束時間之期間成為本發明之第一期間，成為實際實施針對色標31之分光測定之時間。

若更具體地說明，則如圖9所示，若將自波長可變干涉濾波器5透過之波長固定為一定(例如初始波長700nm)，則來自受光部173之輸出值係於測定對象區域R之第二測定區域端部R2臨近起始線32後逐漸降低，於基準點Rb通過起始線32之中心時，輸出值成為極小值，其後，輸出值再度增加，於第一測定區域端部R1與起始線之+X側之端部一致之時序(T=T₀)，返回至初始(例如相對於白色紙面)之輸出值。因此，可基於輸出值之波形，容易地檢測相對於基準位置之基準時序T₀。

又，基準位置至最初之色標31之開始位置M1之距離係如圖9所示成為「W₀+a₁」。因此，自基準時序T₀至最初之色標31之開始位置M1(基準點Rb)之移動時間(測定開始時間)T_m1(1)成為下述式(3)，至結束位置M2之移動時間(測定結束時間)T_m2(1)成為下述式(4)。

[數3]T_m1(1)=(W₀+a₁)/v…(3) T_m2(1)=T_m1(1)+W_m/v=(W₀+a₁+W_m)/v…(4)

又，各色標31之標寬W_p相同之情形時，第i個(i≧2)色標31之開始位置M1及結束位置M2成為自第i-1個色標31之開始位置M1及結束位置M2朝+X側移動色標31之標寬W_p量後之位置。因此，自基準時序T₀至第i個(i≧2)色標31之開始位置M1及結束位置M2之移動時間分別成為下述式(5)(6)。

[數4]T_m1(i)=T_m1(i-1)+W_p/v…(5) T_m2(i)=T_m1(i)+W_m/v(=T_m2(i-1)+W_p/v)…(6)

(其中，i≧2)

各色標31之尺寸不同之情形時，以滿足下述式(7)之方式，對於標寬W_p(i)之第i個色標31，設定餘裕a₁(i)、a₂(i)。該情形時，亦較佳為將a₁(i)及a₂(i)設定為相同值。

[數5]r+(a₁(i)+a₂(i))+W_m=W_p(i)…(7)

且，測定範圍設定機構183係基於下述式(8)(9)算出基準點Rb移動至第i個色標31之開始位置M1及結束位置M2所需之測定開始時間T_m1(i)及測定結束時間T_m2(i)。

[數6]T_m1(i)=T_m1(i-1)+(r+W_m+a₂(i-1)+a₁(i))/v(=T_m2(i-1)+(r+a₂(i-1)+a₁(i))/v)…(8) T_m2(i)=T_m2(i-1)+(r+a₂(i-1)+a₁(i)+W_m)/v(=T_m1(i)+W_m/v)…(9)

(其中，i≧2)

(掃描測定處理)

步驟S5之後，實施以下所示之掃描測定處理。

圖10係顯示未發生錯誤之狀態下之輸出值之波形例之圖。

圖11係顯示錯誤發生時之輸出值之波形例之圖。

於圖10及圖11中，下段顯示相對於色標31之測定對象區域R之位置。又，中段之信號波形顯示相對於上述測定對象區域R之位置之來自受光部173之輸出值之波形。又，上段之信號波形係與波長可變干涉濾波器5之反射膜54、55之間隙尺寸相應之信號，例如顯示使反射膜54、55作為電容檢測用電極發揮功能時之電性電容之變化。

於掃描測定處理中，濾波器控制機構184將對波長可變干涉濾波器5之靜電致動器56施加之電壓設定為相對於本發明之第一波長即初始波長(例如700nm)之初始電壓(步驟S6)。

此後，掃描控制機構181使載具13沿X方向移動(步驟S7)。又，控制單元15係以特定之取樣週期取得來自受光部173之輸出值，並記憶於記憶體153。再者，濾波器控制機構184監視所取樣之輸出值，特定基準時序T₀，並計數距基準時序T₀之經過時間t(步驟S8)。

然後，濾波器控制機構184判定距基準時序T₀之經過時間t是否成為步驟S5中所設定之測定開始時間T_m1(i)(步驟S9)。亦即，判定測定對象區域R之基準點Rb是否位於測定範圍M之開始位置M1(將初始位置設為X=0，基準點Rb是否移動至X=X_m1(i)(=v×T_m1(i)))。

於步驟S9中，判定為「否」之情形時，待機至經過時間t成為測定開始時間T_m1(i)為止。

於步驟S9中，判定為「是」之情形時，控制單元15實施針對測定範圍M之分光測定(步驟S10)。具體而言，濾波器控制機構184係基於V-λ資料，依序變更施加至靜電致動器56之電壓。藉此，相對於特定波長域之n頻帶之光之輸出值(例如相對於400nm~700nm之20nm間隔之波長之光的16個輸出值)被輸出至控制單元15。控制單元15將該等輸出值適當記憶於記憶體153。

此處，濾波器控制機構184係如圖10及圖11之上段之信號波形所示，使施加至靜電致動器56之驅動電壓逐漸增加，逐漸縮小間隙G之間隔尺寸(逐漸縮短透過波長)。藉此，間隙尺寸之變動間隔變小，可抑制可動部521之變位時之振動。亦即，因可縮短為了切換波長可變干涉濾波器5之透過光所必需之濾波器驅動時間T_n，故可縮小測定範圍M，可防止測定範圍M自色標31偏離之錯誤。

另，於本例中，顯示使間隙尺寸逐漸減小之例，但並非限定於此。例如，亦可將初始波長設定為400nm(將初始電壓設定為最大值)，逐漸減小於分光測定時施加至靜電致動器56之驅動電壓(逐漸增長透過波長)。

又，亦可於使間隙G自與測定結束時之400nm對應之間隙尺寸返回至與初始波長700nm對應之間隙尺寸為止時，階段性地切換驅動電壓等。再者，亦可於使透過波長以自初始波長即700nm以40nm間隔逐漸縮短至400nm之方式變化後，以自420nm以40nm之間隔逐漸增長至680nm為止之方式變化。此種情形時，於結束分光測定後，使透過波長返回至初始波長時，可動部521之急劇之變位被抑制。因此，可更有效地抑制可動部521之振動，可抑制結束位置M2之第二輸出值V₂(i)之變動。

此後，濾波器控制機構184判定距基準時序T₀之經過時間t是否成為步驟S5中所設定之測定結束時間T_m2(i)(基準點Rb是否移動至X=X_m2(i)(=v×T_m2(i)))(步驟S11)。

於步驟S11中，判定為「否」之情形時，待機至經過時間成為測定結束時間T_m2(i)為止。

於步驟S11中，判定為「是」之情形時，濾波器控制機構184使施加至靜電致動器56之電壓返回至初始電壓，使初始波長之光自波長可變干涉濾波器5透過。

另，於經過時間t成為測定結束時間T_m2(i)之前，結束針對n頻帶之光之分光測定之情形時，濾波器控制機構184亦可於分光測定結束時序，使施加至靜電致動器56之電壓返回至初始電壓。

此後，控制單元15判定配置於第j列之色標群30之所有色標31之分光測定處理是否結束(步驟S12)。對此，可計數分光測定處理之次數，判定計數數值是否成為配置於色標群30之色標31之總數I，亦可判定載具13是否超過終點線33。

於步驟S12中，判定為「否」之情形時，返回至步驟S9。

(錯誤判定處理)

於步驟S12中，判定為「是」之情形時，進入圖7所示之錯誤判定處理。即，判定機構185係基於記憶於記憶體153之相對於各色標31之分光測定結果，判定測定範圍M是否落於所對應之1個色標31之區域內。

具體而言，判定機構185係參照相對於各色標31之分光測定結果，選擇於開始位置M1自受光部173輸出之第一輸出值V₁(i)、及於結束位置M2自受光部173輸出之第二輸出值V₂(i)成為特定之第二閾值以上之色標31(步驟S13)。另，作為第二閾值，例如只要設定可判別雜訊成分與來自受光部173之檢測信號之程度之值即可。

其次，判定機構185算出所選擇之各色標31之第一輸出值V₁(i)與第二輸出值V₂(i)之差之絕對值(|V₁(i)-V₂(i)|)作為錯誤判定值C，判定是否存在錯誤判定值C成為特定之第一閾值以上之色標31(步驟S14)。

即，於開始位置M1及結束位置M2，因透過波長可變干涉濾波器5之光之波長被設定為相同波長，故只要測定範圍M落於色標31之區域內，則第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)係如圖10所示般相同或大致相同，其等差分值即錯誤判定值C亦應變小。

然而，例如，因施加至印表機10之振動等，載具13之移動速度或位置發生變化之情形、或介質A之設置位置發生變化之情形時，如圖11所示，存在測定範圍M相對於色標31之位置偏移，測定範圍M之一部分自色標31偏離之情形。該情形時，第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)成為不同之值，錯誤判定值C變大。

因此，可藉由判定該錯誤判定值C是否成為第一閾值以上，而判定測定範圍M是否落於色標31之區域內(是否存在測定範圍M相對於色標31之位置偏移)。

另，作為第一閾值，只要基於因施加至光學濾波器器件172之振動或靜電致動器56之驅動所引起之可動部521之共振所致之透過波長之變動寬度等進行設定即可。例如，如圖9所示之波形放大圖般，對輸出值取樣時之信號波形成為以細微振幅振動之波形。因此，作為第一閾值，只要如圖9所示般，設定細微振動之最大振幅及最小振幅之差α即可。

又，於步驟S14中，判定為「是」之情形(存在錯誤判定值C成為第一閾值以上之色標31之情形)時，進而，判定認為有錯誤之色標31是否為步驟S13中所選擇之所有色標31(步驟S15)。

即，測定範圍M相對於色標31如上述般發生位置偏移之情形時，於相對於所有色標31之分光測定結果中，第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)成為不同之值，而應對所有色標31輸出錯誤。

與此相對，僅於一部分色標31，錯誤判定值C成為第一閾值以上之情形(於步驟S15中，判定為「否」之情形)時，預測例如會因電性雜訊、或機械振動所致之干擾雜訊，而偶發性地產生錯誤。

該情形時，判定機構185係例如對記憶於記憶體153之錯誤計數器之值E(初始值E=0)加上「1」(步驟S16)，並判定錯誤計數器之值E是否超過特定之最大值Emax(例如「4」)(步驟S17)。

又，於步驟S17中判定為「否」之情形時，返回至步驟S6之處理。亦即，於產生如上述之偶發性錯誤之情形時，判定為並非因測定範圍之位置偏移所致之錯誤，而再度重新進行分光測定。

另一方面，於步驟S17中，判定為「是」之情形時，可判斷為存在產生錯誤之其他要因，而實施強制結束處理(步驟S18)。即，即使於步驟S15中判定為「否」之情形時，多次產生偶發性錯誤之情形時，仍可認為存在其他錯誤要因。

於強制結束處理中，掃描控制機構181控制供給單元11及搬送單元12，而強制排出介質A。又，報知於分光測定時產生錯誤之意旨。例如使其顯示於省略圖示之顯示器，或顯示於連接於印表機10之個人電腦等外部機器20，或藉由聲音等通知錯誤之產生。

另一方面，於步驟S15中，判定為「是」之情形(於相對於所有色標31之分光測定結果中，錯誤判定值C為第一閾值以上之情形)時，與步驟S16相同，判定機構185對錯誤計數器之值E加上「1」(步驟S19)。

然後，與步驟S17相同，判定機構185判定錯誤計數器之值E是否超過特定之最大值Emax(例如「4」)(步驟S20)。

於步驟S20中判定為「是」之情形時，移行至步驟S18之強制結束處理。

另一方面，於步驟S20中，判定為「否」之情形時，移行至錯誤修復處理。

(錯誤修復處理)

於錯誤修復處理中，首先，藉由偏移方向檢測機構187實施偏移方向檢測處理(步驟S21)。

(偏移方向檢測處理)

圖12及圖13係顯示測定範圍M相對於色標31偏移時之輸出值之信號波形之一例之圖。

於本實施形態中，如上述般，形成相鄰之3個色標31之對初始波長之反射率交替地增減之色標群30。

因此，第i個色標31之對初始波長之反射率高於鄰接之第i-1個及第i+1個色標31之情形時，獲得如圖12之山狀(凸狀)之波形之分光測定結果(輸出值變化)。另一方面，第i個色標31之對初始波長之反射率低於鄰接之第i-1個及第i+1個色標31之情形時，獲得如圖13之谷狀(凹狀)之波形之分光測定結果。

於步驟S21中，偏移方向檢測機構187首先基於校正用印刷資料，判定相對於第i個色標31之輸出值變化為山狀(凸狀)還是谷狀(凹狀)。即，因各色標31係基於校正用印刷資料而形成，故第i個色標31之對初始波長之反射率相對於第i-1個及第i+1個色標31高或低可基於校正用印刷資料而容易地判定。

另，上述已例示於校正用印刷資料中記憶有各色標之反射率之關係之意旨，但並非限定於此。

例如，如圖12(A)及圖13(A)所示，亦可基於相對於第i-1個色標31之第二輸出值V₂(i-1)、相對於第i個色標31之第一輸出值V₁(i)、相對於第i個色標31之第二輸出值V₂(i)、相對於第i+1個色標31之第一輸出值V₁(i+1)，判定輸出值變化為山狀還是谷狀。

具體而言，滿足下述式(10)~(12)之條件之情形時，偏移方向檢測機構187判定輸出值變化為山狀(凸狀)。

[數7]V₁(i)>V₂(i-1)…(10) V₁(i)>V₁(i+1)…(11) V₂(i)>V₁(i+1)…(12)

又，滿足下述式(13)~(15)之條件之情形時，偏移方向檢測機構187判定輸出值變化為谷狀(凹狀)。

[數8]V₁(i)<V₂(i-1)…(13) V₂(i)<V₂(i-1)…(14) V₂(i)<V₁(i+1)…(15)

且，如圖12(A)所示，輸出值變化為山狀，且對於第i個色標31，第一輸出值V₁(i)與第二輸出值V₂(i)之關係成為V₁(i)>V₂(i)之情形時，偏移方向檢測機構187判定位置偏移之方向為+X側(測定開始時間過晚)。

又，如圖12(B)所示，輸出值變化為山狀，且第一輸出值V₁(i)與第二輸出值V₂(i)之關係成為V₁(i)<V₂(i)之情形時，偏移方向檢測機構187判定位置偏移之方向為-X側(測定開始時間過早)。

另一方面，如圖13(A)所示，輸出值變化為谷狀，且對於第i個色標31，第一輸出值V₁(i)與第二輸出值V₂(i)之關係成為V₁(i)<V₂(i)之情形時，偏移方向檢測機構187判定位置偏移之方向為+X側(測定開始時間過晚)。

又，如圖13(B)所示，輸出值變化為谷狀，且第一輸出值V₁(i)與第二輸出值V₂(i)之關係成為V₁(i)>V₂(i)之情形時，偏移方向檢測機構187判定位置偏移之方向為-X側(測定開始時間過早)。

(偏移量算出處理)

步驟S21之後，偏移量算出機構186算出測定範圍M之相對於色標31之偏移量(步驟S22)。

以下，說明藉由偏移量算出機構186之偏移量算出方法之一例。

圖14係放大檢測出錯誤之情形時之輸出值之波形之一部分的圖，(A)係測定範圍M朝-X側偏移之情形時之信號波形，(B)係測定範圍朝+X側偏移之情形時之信號波形。

於將波長可變干涉濾波器5之透過波長設定為初始波長之狀態下，測定對象區域R朝鄰接之其他色標31移動之情形時，測定對象區域R之面積足夠小，若載具13之移動速度v較快，則來自受光部173之輸出值大致呈線形變化。

該線形部B之沿X方向之距離於測定範圍M落於色標31之區域內之情形時，成為測定對象區域R之寬度尺寸(直徑r)。然而，於測定範圍M發生位置偏移而未落於色標31之區域內之情形時，線形部B之沿X方向之距離變短。

因此，於測定範圍M朝-X側偏移之情形時，如圖14(A)所示，自線形部B之沿X方向之距離成為直徑r之點P1至開始位置M1之距離L成為為了將測定範圍M落於色標31之區域內所必需之移動量。又，於測定範圍M朝+X側偏移之情形時，如圖14(B)所示，自線形部B之沿X方向之距離成為直徑r之點P2至結束位置M2之距離L成為為了將測定範圍M落於色標31之區域內所必需之移動量。

此處，線形部B之斜率β於測定範圍M朝-X側發生位置偏移之情形時，可如圖14(A)所示般，使用錯誤判定值C、第i個第一輸出值V₁(i)及第i-1個第二輸出值V₂(i-1)之差之絕對值D₁(=|(V₁(i)-V₂(i-1)|)，以β=(C+D₁)/r算出。

又，測定範圍M朝+X側發生位置偏移之情形時，可如圖14(B)所示般，使用錯誤判定值C、第i個第二輸出值V₂(i)及第i+1個第一輸出值V₁(i+1)之差之絕對值D₂(=|(V₂(i)-V₁(i+1)|)，以β=(C+D₂)/r算出。

即，線形部B之斜率β係可基於相對於相互鄰接之2個色標31之開始位置M1及結束位置M2之輸出值而算出。

且，於測定範圍M朝-X側偏移之情形時，為了將測定範圍M落於色標31之區域內所必需之移動距離L，使用線形部B之斜率β與錯誤判定值C而成為L=C/β。又，若使開始位置M1朝+X側移動距離L，則無法確保餘裕，故藉由考慮餘裕使開始位置M1朝+X側移動L+a₁(=x_c1)，而將測定範圍M移動至原本應設定之位置。

即，偏移量算出機構186係於測定範圍M朝-X側偏移之情形時，基於輸出值V₁(i)、V₂(i)、V₂(i-1)、測定對象區域R之直徑尺寸r、及餘裕a₁，算出偏移量x_c1。

另一方面，即使於測定範圍M朝+X側偏移之情形時，為了將測定範圍M落於色標31之區域內所必需之移動距離L仍使用線形部B之斜率β與錯誤判定值C，成為L=C/β。該情形時，藉由考慮餘裕a₂使結束位置M2朝-X側移動L+a₂(=x_c2)，而將測定範圍M移動至原本應設定之位置。亦即，偏移量算出機構186係於測定範圍M朝+X側偏移之情形時，基於輸出值V₁(i)、V₂(i)、V₂(i+1)、測定對象區域R之直徑尺寸r、及餘裕a₂，算出偏移量x_c2。

(測定範圍修正)

步驟S21之偏移方向檢測處理、及步驟S22之偏移量算出處理之後，測定範圍設定機構183基於步驟S21中所檢測出之偏移方向與步驟S22中所算出之偏移量，修正測定範圍M之位置、測定開始時間T_m1(i)、及測定結束時間T_m2(i)(步驟S23)。

具體而言，偏移方向為-X側之情形時，係指測定開始時間較早，故測定範圍設定機構183使測定開始時間延遲x_c1/v。

又，偏移方向為+X側之情形時，係指測定開始時間較晚，故使測定開始時間提早x_c2/v。

即，測定範圍設定機構183係將先前設定之測定開始時間設為T_M1(i)，將測定結束時間設為T_M2(i)，如下述式(16)~(19)般修正測定開始時間T_m1(i)、測定結束時間T_m2(i)。

[數9](偏移方向為-X側之情形)T_m1(i)=T_M1(i)+x_C1/v…(16) T_m2(i)=T_M2(i)+x_C1/v…(17)(偏移方向為+X側之情形)T_m1(i)=T_M1(i)-x_C2/v…(18) T_m2(i)=T_M2(i)-x_C2/v…(19)

此後，返回至步驟S6，使所設定之新的測定開始時間基於T_m1(i)、測定結束時間基於T_m2(i)，而重新進行掃描測定處理。

(輸送處理)

於步驟S14中，判定為「否」，且判定為對於色卡3之第j列色標群30之所有色標31，錯誤判定值C為第一閾值以下(無錯誤)之情形時，掃描控制機構181對變量j加上「1」(步驟S24)，且判定變量j是否成為與色標群30之最末列對應之最大值J以上(步驟S25)。

於步驟S25中，判定為「否」之情形時，掃描控制機構181係以第j列之色標群30位於壓板122上之方式搬送介質A(步驟S26)。此後，返回至步驟S6。另，相對於各色標31之標寬W_p於每個色標群30不同之情形時，於步驟S26之後，返回至步驟S5，而設定測定範圍M。

(測色處理及文本更新處理)

於步驟S25中，判定為「是」之情形(對於色卡3之所有色標31無錯誤地結束分光測定處理之情形)時，掃描控制機構181控制搬送單元12進行排紙動作，而排出介質A(步驟S27)。

此後，測色機構188基於對各色標之每個所取得之各波長之輸出值、與步驟S4中所獲得之基準輸出值V_ref(λ)，算出各色標之每個波長之反射率(步驟S28)。亦即，測色機構188實施各色標之測色處理，算出色度。

此後，校準機構189基於校正用印刷資料所記錄之各色標之色度、與藉由步驟S28算出之色度，更新記憶體153所記憶之印刷文本資料(步驟S29)。

[本實施形態之作用效果]

於本實施形態中，載具移動單元14係藉由使具備具有波長可變干涉濾波器5之分光器17的載具13於X方向上移動，而使分光器17之測定對象區域R相對於設置於介質A上之色標31沿X方向移動。

此時，控制單元15係藉由濾波器控制機構184，根據相對於所設定之測定範圍M之測定對象區域R之位置，變更自波長可變干涉濾波器5透過之光之波長。即，濾波器控制機構184係於X方向上掃描載具，於測定對象區域R之基準點Rb位於測定範圍M之開始位置M1之測定開始時、及基準點Rb位於結束位置M2之測定結束時，對波長可變干涉濾波器5之靜電致動器56施加初始電壓，將透過波長設定為初始波長。再者，濾波器控制機構184係於測定對象區域R之基準點Rb於開始位置M1至結束位置M2之測定範圍M內移動之期間(第一期間)，依序切換施加至靜電致動器56之電壓，使透過波長依序變化。

且，判定機構185比較測定對象區域R位於開始位置M1時之來自受光部173之第一輸出值V₁(i)、與測定對象區域R位於結束位置M2時之來自受光部173之第二輸出值V₂(i)。

如此，可藉由比較第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)，容易地判別測定範圍M是否相對於色標31設定於適當之位置。又，因於使載具13移動之狀態下實施針對測定範圍M之分光測定，故例如與於色標31上使載具13停止而實施分光測定之情形相比，可實施迅速之分光測定。

又，因進行來自受光部173之第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)之比較，故例如與使用由測色機構188算出之對第一波長之反射率(V₁(i)/V_ref(λ))之情形相比，處理較為容易，可迅速地判定測定範圍M是否適當。

再者，測色機構188係於根據該判定結果而判定測定範圍M落於色標31之區域內之情形時，基於測定對象區域R於測定範圍M內移動時所輸出之各輸出值，實施針對色標31之測色處理。因此，可高精度地實施基於相對於色標31之區域內之分光測定結果之測色。

於本實施形態中，判定機構185係於第一輸出值V₁(i)與第二輸出值V₂(i)之差之絕對值(錯誤判定值C)成為第一閾值以下之情形時，判定測定範圍M位於色標31之區域內。藉此，判定機構185可藉錯誤判定值C與第一閾值C之比較處理，而容易地判定測定範圍M是否設定於適當之位置。又，來自受光部173之輸出值因電性雜訊或機械振動所致之雜訊等，以微小之振動波形輸出，故藉由將第一閾值設定為考慮到上述雜訊等之值α，與例如判定第一輸出值V₁(i)與第二輸出值 V₂(i)之差是否為「0」之情形相比，可防止錯誤之誤檢測，可提高處理效率。

於本實施形態中，判定機構185選擇沿X方向排列之複數個色標31中之第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)成為第二閾值以上之色標31，並基於所選擇之色標31之第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)，判定測定範圍M之位置偏移。

藉此，省去易受雜訊影響之低信號位準之輸出值，可基於不易受雜訊影響之高信號位準之輸出值而精度較佳地實施測定範圍M之位置偏移判定。

於本實施形態中，於自色標31之第一標端部311靠+X側r/2+a₁之位置設定開始位置M1，於自第二標端部312靠-X側r/2+a₂之位置設定結束位置M2。亦即，於測定對象區域R完全進入至色標31之區域內至開始位置M1為止之間設置餘裕a₁，於測定對象區域R自結束位置M2即將出到色標31外之前之間設置餘裕a₂。

藉由設置此種餘裕a₁、a₂，即使例如因機械振動等使測定範圍M相對於色標31之位置略微偏移之情形時，餘裕a₁、a₂內之偏移仍不會輸出錯誤，可實施針對色標31之正常之分光測定，可精度較佳地實施藉由測色機構188對各色標31之測色處理。

於本實施形態中，具備偏移方向檢測機構187，其於藉由判定機構185判定測定範圍M相對於色標31發生位置偏移之情形時，檢測該位置偏移之方向。藉此，可容易地判定較佳使先前設定之測定範圍M朝何方向移動，即，較佳使測定開始時間T_m1(i)及測定結束時間T_m2(i)提早還是延遲。因此，測定範圍設定機構183可容易地再設定測定範圍M之位置，可迅速地實施錯誤修復處理。

於本實施形態中，偏移方向檢測機構187取得第i個色標31與其前後所鄰接之第i-1個、第i+1個色標31之對初始波長之反射率，基於該反射率、第一輸出值V₁(i)、及第二輸出值V₂(i)而檢測位置偏移之方向。

即，偏移方向檢測機構187可基於色標31與其周圍顏色之對初始波長之反射率，判定於將波長可變干涉濾波器5之透過光之波長固定為初始波長之狀態下沿X方向掃描載具13時之輸出值是成為山狀波形還是成為谷狀波形。且，為山狀波形，且若為V₁(i)>V₂(i)，則可判定位置偏移方向為+X側，若為V₁(i)<V₂(i)，則可判定位置偏移方向為-X側，為谷狀波形，且若為V₁(i)>V₂(i)，則可判定位置位移方向為-X側，若為V₁(i)<V₂(i)，則可判定位置偏移方向為+X側。亦即，偏移方向檢測機構187若可判別輸出值之信號波形，則可使用用於判定測定範圍M之位置偏移之第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)而容易地檢測位置偏移方向。

於本實施形態中，藉由偏移量算出機構186，算出測定範圍M相對於色標31之位置偏移量。

藉此，因於藉由測定範圍設定機構183而再設定測定範圍M時，已算出應使測定範圍M移動之量，故可基於此而將測定範圍M再設定(修正)於適當之位置。

於本實施形態中，偏移量算出機構186係於測定範圍M朝+X側發生位置偏移之情形時，基於測定寬度尺寸r、第一輸出值V₁(i)、第二輸出值V₂(i)、第一輸出值V₁(i+1)算出偏移量。又，於測定範圍M朝-X側發生位置偏移之情形時，基於測定寬度尺寸r、第一輸出值V₁(i)、第二輸出值V₂(i)、第二輸出值V₂(i-1)算出偏移量。

即，偏移量算出機構186可基於用於判定各色標31之測定範圍M之位置偏移之第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)容易地算出偏移量。

於本實施形態中，測定範圍設定機構183係於使載具13進行等速直線運動時，算出測定對象區域R移動至開始位置M1為止之測定開始時間T_m1(1)、及測定對象區域R移動至結束位置M2為止之測定結束時間T_m2(i)。

該情形時，可使用控制單元15之內部計時器特定載具13之位置，例如，與藉由位置感測器或距離感測器檢測載具13之位置之情形相比，能夠謀求構成之簡化、小型化。

且，於本實施形態中，如上述般，因可基於測定範圍M落於色標31之區域內時所取得之分光測定結果，實施針對色標31之高精度之測色處理，故校準機構189可基於該測色結果，適當更新印刷文本資料。亦即，可基於基於校正用印刷資料由印刷部16所印刷之各色標之色度、與基於實際測定之高精度之測色結果之各色標之色度之差，藉由對印刷部16反饋而進行適當之顏色修正，從而可高精度地再現使用者所期望之顏色。

[第二實施形態]

其次，對本發明之第二實施形態進行說明。另，於以下之說明時，對與第一實施形態相同之構成、相同之處理，標註相同符號，並省略或簡化其等說明。

於上述之第一實施形態中，顯示於X方向上連續配置之複數個色標31中，對初始波長之反射率交替地增減(輸出值之波形成為山狀或谷狀)之例。與此相對，於第二實施形態中，與上述第一實施形態之不同點在於：即使於所排列之色標31之對初始波長之反射率變化為不明之情形時，仍可檢測測定範圍M之位置偏移之方向。

即，配置於X方向上之色標31之反射率變化為不明之情形時，輸出值之波形除了如圖12之山狀之信號波形、或如圖13之谷狀之信號波形之外，亦存在輸出值單調增加之情形或單調減少之情形。此種情形時，作為校正用印刷資料，若未記錄各色標之對初始波長之反射率變化，則藉由上述第一實施形態之方法，難以檢測測定範圍M之位置偏移之方向。

與此相對，於第二實施形態中，偏移方向檢測機構187係藉由以下之方法檢測測定範圍M之位置偏移之方向。

圖15係用於說明第二實施形態之偏移方向檢測處理之圖。

於本實施形態中，於使用初始波長之光之步驟S21之偏移方向檢測處理中，除了相對於第i個色標之第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)之外，亦取得第三輸出值V₃(i)(本發明之第三測定值)及第四輸出值V₄(i)(本發明之第四測定值)，並基於該等輸出值檢測偏移方向。

第三輸出值V₃(i)係於測定對象區域R位於較開始位置更靠前之特定之開始前位置M3時，自受光部173輸出之輸出值。

作為該開始前位置M3，於測定範圍M設定於正常位置之情形時，將測定對象區域R之整體設定於超過第一標端部311至開始位置M1為止之間。即，將較開始位置M1靠-X側小於餘裕a₁之距離a₃(第三距離)之位置設為開始前位置M3。

又，作為結束後位置M4，於測定範圍M設定於正常位置之情形時，將測定對象區域R之整體設定於自結束位置M2至臨近第二標端部312之前為止之間。即，將較結束位置M2靠+X側小於餘裕a₂之距離a₄(第四距離)之位置設為結束後位置M4。

因此，測定範圍設定機構183係設定T_m3(i)=T_m1(i)-a₃/v，作為與開始前位置M3對應之測定開始前時間T_m3(i)，設定T_m4(i)=T_m2(i)+a₄/v，作為與結束後位置M4對應之測定結束後時間T_m4(i)。

圖16係顯示第二實施形態中測定範圍M發生位置偏移之情形時之相對於基準點Rb之位置之輸出值之變化的圖，(A)顯示測定範圍M朝-X側偏移之情形，(B)顯示測定範圍(M)朝+X側偏移之情形。

於本實施形態中，偏移方向檢測機構187係如圖16(A)所示，於第一輸出值V₁(i)與第三輸出值V₃(i)之差之絕對值大於第一閾值，第二輸出值V₂(i)與第四輸出值V₄(i)之差之絕對值為第一閾值以下之情形時，判定測定範圍M朝-X側發生位置位移。

又，偏移方向檢測機構187係如圖16(B)所示，於第一輸出值V₁(i)與第三輸出值V₃(i)之差之絕對值為第一閾值以下，第二輸出值V₂(i)與第四輸出值V₄(i)之差之絕對值大於第一閾值之情形時，判定測定範圍M朝+X側發生位置位移。

於本實施形態中，即使於相鄰之色標31之對初始波長之反射率之大小關係為不明之情形時，仍可取得相對於開始前位置M3及結束後位置M4之第三輸出值V₃(i)及第四輸出值V₄(i)，且藉由分別判定第一輸出值V₁(i)與第三輸出值V₃(i)之關係、第二輸出值V₂(i)與第四輸出值V₄(i)之關係，而容易地判定位置偏移之方向。

[第三實施形態]

其次，對本發明之第三實施形態進行說明。

於上述之第一實施形態及第二實施形態中，顯示測定對象區域R成為直徑r之圓形點之例，而於第三實施形態中，與上述各實施形態之不同點在於測定對象區域R為矩形點。

於上述各實施形態中，假定於測定對象區域R超過色標31之端部311、312時，輸出值大致以線形狀變化。即使於該情形時，測定對象區域R之面積足夠小，且載具13之速度v足夠快之情形時，仍不會產生如對分光測定處理造成影響之測定誤差。

然而，例如，於取得色標31之分光圖像，進行考慮到色標之色暈等之色度測定之情形等時，利用由CCD感測器等之影像感測器構成之受光部173接收相對較大之(特定之第三閾值以上之)面積之測定對象區域R之光。

該情形時，輸出值之變化成為如圖17所示。

圖17係顯示於成為圓形點之測定對象區域R之直徑尺寸較大之情形時，由分光器17實施針對色標31之分光測定處理時之輸出值之變化的圖。

如圖17所示，於測定對象區域R為圓形點，且其面積較大之情形時，於測定對象區域R朝鄰接之色標31移動時，以測定對象區域R之中心點(基準點Rb)位於色標31之端部上時之輸出值為反曲點，獲得以三次曲線狀彎曲之輸出值之波形。

該情形時，與上述第一實施形態相同，若算出斜率β(=(C+D₁)/r)，以L=C/β算出距離L，則會導致所算出者並非自原本應算出之點P1至開始位置M1之距離，而為較點P1更靠近前側(-X側)之點P3為止之距離，而產生些許誤差。

圖18係顯示本實施形態之測定對象區域Q之圖。

本實施形態之測定對象區域Q具有沿X方向之測定標寬W_p，成為具有沿X方向之平行之2邊、相對於與X方向正交之Y方向平行之2邊之矩形狀。

使用此種形狀之測定對象區域Q之情形時，即使為該測定對象區域Q之面積較大之情形時，跨越色標31之端部311、312而移動至鄰接之色標31時之輸出值之變化波形仍成為與第一實施形態相同之線形狀。因此，可藉由與上述之第一實施形態相同之方法，高精度地算出偏移量。

另，為了採用矩形狀之測定點之測定對象區域Q之構成係例如於分光器17中，於導光部174內、光學濾波器器件172之玻璃基板62或蓋玻片63、光學濾波器器件172及受光部173之間、受光部173之光入射面、波長可變干涉濾波器5之基板51、52之表面等，設置矩形狀之孔徑。藉此，入射光中之僅通過孔徑之矩形狀之測定對象區域Q之光由受光部173接收。又，亦可採用使用矩形狀之反射鏡174A，並於反射鏡174A之外周設置例如黑框等之構成。

[變化例]

另，本發明並非限定於上述之各實施形態者，藉由於可達成本發明之目的之範圍內之變形、改良、及適當組合各實施形態等所獲得之構成係包含於本發明者。

(變化例1)

於上述各實施形態中，作為本發明之移動機構，例示有使載具13朝+X方向移動之載具移動單元14，但並非限定於此。

例如，亦可採用固定載具13，使介質A相對於載具13移動之構成。該情形時，可抑制伴隨載具13之移動之波長可變干涉濾波器5之振動，可使波長可變干涉濾波器5之透過波長穩定化。

又，例示有相對於沿X方向配置複數個之色標31，沿X方向掃描測定對象區域R之例，但亦可相對於色標31沿Y方向掃描測定對象區域R。該情形時，可藉由搬送單元12將介質A朝Y方向輸送，藉此使測定對象區域R相對於色標31相對移動。另，於該情形時，因本發明之一方向(掃描方向)成為Y方向，故測定範圍設定機構183係相對於色標31沿Y方向設定測定範圍M。即，只要基於藉由搬送單元12之送紙速度v，設定相對於各色標31之測定開始時間及測定結束時間即可。

(變化例2)

於上述各實施形態中，例示有於X方向上鄰接配置有複數個色標31之色標群30，但亦可採用於各色標31之間設置隙縫之構成等。該情形時，於介質A為白色紙面之情形時，將來自波長可變干涉濾波器5之透過光固定為初始波長而沿X方向掃描載具13時，色標31之輸出值之信號波形成為山狀波形。又，於介質A為黑色紙面之情形、或於色標31間配置黑色之框架之情形時，色標31之輸出值之信號波形成為谷狀波形。因此，即使各色標31之對初始波長之反射率為不明，仍可藉由上述第一實施形態之方法而容易地檢測位置偏移方向。

再者，顯示於色卡3中配置複數個色標31之例，但例如亦可僅配置單個色標31，而對該色標31實施測色處理。

(變化例3)

於上述各實施形態中，顯示於使載具13朝+X側移動之期間，實施針對各色標31之分光測定處理之例，但亦可於使載具13朝-X側移動之期間，實施針對各色標31之分光測定處理。

又，亦可對配置於色卡3之第奇數列之色標群30，於使載具13朝+X側移動之期間實施分光測定處理，對第偶數列之色標群30，於使載具13朝-X側移動之期間實施分光測定處理。

該情形時，色卡3係通過載具13之移動範圍之中心且相對於與Y方向平行之假想線線對稱之形狀，各色標之標寬W_p相同之情形時，可將相對於使載具13朝+X側移動之情形時之測定開始時間T_m1(i)及測定結束時間T_m2(i)之時間應用作為使載具13朝-X側移動之情形時之測定開始時間T_m1(i)及測定結束時間T_m2(i)。另，色卡3之各色標群30之各色標之標寬W_p不同之情形、或未成為相對於上述假想線線對稱之形狀之情形時，分別設定自終點線33使測定對象區域R朝-X側移動時之測定開始時間T_m1(i)及測定結束時間T_m2(i)。

(變化例4)

於上述各實施形態中，於步驟S13中，選擇第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)成為第二閾值以上之色標31，基於該所選擇之色標31之輸出值而實施測定範圍M之位置偏移判定，但並非限定於此。例如，亦可基於所有色標31之第一輸出值V₁(i)及第二輸出值V₂(i)，實施測定範圍M之位置偏移判定。

(變化例5)

於上述各實施形態中，於設定測定範圍M時設定有餘裕a₁、a₂，但並非限定於此。

例如，測定範圍設定機構183亦可不設置餘裕而設定測定範圍M。該情形時，開始位置M1成為第一標端部311與第一測定區域端部R1所重疊之位置(測定對象區域R剛進入色標31之區域內後)，結束位置M2成為第二標端部312與第二測定區域端部R2所重疊之位置(測定對象區域R即將出到色標31外之前)。若設定此種測定範圍M，則可將測定距離W_m設定為較寬，可延長用於檢測1個波長之光之時間，可取得驅動波長可變干涉濾波器5時之可動部521之振動確實地靜止之狀態下之透過光之光量。因此，於不存在測定範圍M之位置偏移之情形時，可實施高精度之分光測定處理，藉此，亦可提高針對色標31之分光測定處理之精度。

又，於測定距離W_m被固定(頻帶數n及濾波器驅動時間T_n被固定)之情形時，亦可縮短色標31之標寬W_p，可於1列之色標群30配置更多的色標31。

(變化例6)

於上述各實施形態中，測定範圍設定機構183係於基於色標31之標寬W_p、測定對象區域R之直徑尺寸r、測定範圍M之測定頻帶數n、及1次分光測定所需之濾波器驅動時間T_n設定餘裕a₁、a₂後，設定相對於開始位置M1及結束位置M2之測定開始時間T_m1(i)及測定結束時間T_m2(i)，但並非限定於此。

例如，亦可相對於色標31預先設定餘裕a₁、a₂。

又，亦可於使波長可變干涉濾波器5之透過光固定於初始波長之狀態下掃描載具13，基於來自受光部173之輸出值之波形，算出色標31之標寬W_p，並基於所算出之標寬W_p設定餘裕a₁、a₂。

再者，於該情形時，亦可判定所算出之標寬W_p對設定特定值以上之足夠之餘裕a₁、a₂而言是否為足夠之尺寸，或用於實施n頻帶之分光測定之測定範圍M之測定距離W_m是否為足夠之尺寸，於判定餘裕之尺寸或測定距離W_m不足之情形時，減少測定範圍M之測色次數(頻帶數n)等。

(變化例7)

於上述實施形態中，測定範圍設定機構183係將測定對象區域R超過起始線32之位置作為基準位置，將測定對象區域R自基準位置移動至開始位置M1及結束位置M2所需之時間分別設定為測定開始時間及測定結束時間，但並非限定於此。

例如，亦可將載具13位於-X側之末端部之狀態(初始位置)作為基準位置，設定距初始位置之測定範圍M相對於各色標31之測定開始時間及測定結束時間。

(變化例8)

又，作為相對於各色標31之測定開始時間及測定結束時間，亦可以測定對象區域R之全域超過配置於前段之色標31之第二標端部312之時序為基準，設定測定開始時間及測定結束時間。

亦即，若於將透過波長可變干涉濾波器5之光固定為初始波長之狀態下，沿X方向掃描載具13，則於測定對象區域R跨越色標31之端部311(312)而移動時，輸出值之信號波形大致以線形狀變化，若測定對象區域R完全進入色標31之區域內，則輸出值大致成為一定。因此，亦可檢測輸出值成為一定之時序，根據距該時序之經過時間而判定開始位置M1及結束位置M2。

於該情形時，因測定對象區域R前進餘裕a₁後之位置成為開始位置，故測定範圍設定機構183將測定開始時間T_m1設定為T_m1=a₁/v。又，亦可算出測定範圍M之寬度尺寸作為W_m，算出測定結束時間T_m2作為T_m2=T_m1+W_m/v。

設定此種測定開始時間及測定結束時間之情形時，不存在測定範圍M於複數個色標31之全體發生位置偏移之情況。因此，若針對檢測出錯誤之一部分色標31實施再測定，則可容易地獲得針對所有色標31之分光測定結果，可縮短測定時間。

(變化例9)

於上述實施形態中，藉由偏移量算出機構186及偏移方向檢測機構187，求出測定範圍M發生位置偏移時之偏移量或偏移方向，但並非限定於此。

例如，判定為測定範圍M未落於色標31之區域內之情形時，亦可藉由測定範圍設定機構183使測定範圍M朝特定方向以微小量逐次變化而進行再設定，並再度實施分光測定，藉由重複此，將測定範圍M設定於適當之位置。

又，亦可採用僅設置偏移量算出機構186而不設置偏移方向檢測機構187之構成。該情形時，判定為測定範圍M未落於色標31之區域內時，藉由測定範圍設定機構183使測定範圍M例如朝+X側移動與偏移量相應之修正量，並再度實施分光測定。且，於再次判定為測定範圍M發生位置偏移之情形時，藉由測定範圍設定機構183使測定範圍M例如朝-X側移動與偏移量相應之修正量。藉此，即使於不知曉位置偏移方向之情形時，仍可將測定範圍M設定於適當之位置。

再者，亦可採用不設置偏移量算出機構186而僅設置偏移方向檢測機構187之構成。該情形時，判定為測定範圍M未落於色標31之區域內之情形時，使測定範圍M朝與藉由測定範圍設定機構183檢測出之位置偏移方向相反之側移動微小量(例如小於餘裕a₁、a₂之量)，並再度實施分光測定，於再次判定為測定範圍M發生位置偏移之情形時，再度使測定範圍M移動微小量。藉由重複此，即使於不知曉位置偏移量之情形時，仍可將測定範圍M設定於適當之位置。

(變化例10)

於上述實施形態中，測定範圍設定機構183算出距基準位置之測定開始時間及測定結束時間，但並非限定於此。

例如，亦可基於位置感測器、或載具移動單元14之驅動馬達之旋轉角度及旋轉數，檢測載具13之位置，檢測X方向之載具13之位置(測定對象區域R之位置)。該情形時，測定範圍設定機構183亦可設定相對於各色標31之開始位置M1及結束位置M2之位置，濾波器控制機構184亦可基於所檢測出之位置，控制施加至靜電致動器56之電壓。

(變化例11)

於上述各實施形態中，判定機構185係基於來自受光部173之輸出值而判定測定範圍M是否適當，但例如亦可基於基於分光測定所算出之反射率(V₁(i)/V_ref(λ)、V₂(i)/V_ref(λ))，判定測定範圍M是否適當。

(變化例12)

於上述各實施形態中，顯示濾波器控制機構184於相對於測定範圍M之測定開始時及測定結束時，作為本發明之第一波長設定為初始波長之例，但並非限定於此。

例如，亦可於測定開始時及測定結束時，設定為與測定範圍M之初始波長不同之特定之第一波長(例如400nm等)。該情形時，於自相對於第i個色標31之測定結束時間T_m2(i)至相對於第i+1個色標31之測定開始時間T_m1(i+1)之時間中亦同樣地設定為所設定之第一波長。

又，於上述各實施形態中，顯示於測定開始時及測定結束時，施加初始驅動電壓並設定為初始波長之例，但例如亦可於未對靜電致動器56施加電壓之狀態下，將透過波長可變干涉濾波器5之光之波長設定為第一波長。

(變化例13)

已例示於控制單元15中設置單元控制電路152之構成，但亦可如上述般，各控制單元與控制單元15為單體，且分別設置於各單元。例如，亦可採用於分光器17中設置控制波長可變干涉濾波器5之濾波器控制電路、控制受光部173之受光控制電路之構成。又，亦可採用於分光器17中內置微電腦或記憶有V-λ資料之記憶記憶體，該微電腦作為濾波器控制機構184、判定機構185、測色機構188發揮功能。

(變化例14)

作為印刷部16，已例示驅動壓電元件而噴出自墨水槽供給之墨水之噴墨型之印刷部16，但並非限定於此。例如，作為印刷部16，亦可採用藉由加熱器於墨水內產生氣泡而噴出墨水之構成、或藉由超音波振動子噴出墨水之構成。

又，並非限定於噴墨方式者，而亦可例如對使用熱轉印方式之熱感印表機、或雷射印表機、點陣印表機等任意印刷方式之印表機予以應用。

(變化例15)

作為分光器17，已顯示自相對於介質A之法線方向照射光源部171之光，使由介質A以45°反射後之光藉由導光部174而入射至波長可變干涉濾波器5之構成例，但並非限定於此。

例如，亦可採用使光相對於介質A之表面以45°之角度入射，使沿介質A之法線方向反射後之光經由波長可變干涉濾波器5由受光部173接收之構成。

又，使於介質A以45°反射之光經由波長可變干涉濾波器5由受光部173接收，但例如亦可接收以30°等45°以外反射後之光。亦即，只要以由介質A正反射後之光不被受光部173接收之方式，設定受光部173及波長可變干涉濾波器5之光軸之角度即可。

(變化例16)

於上述各實施形態中，為了便於說明，於載具13進行等速直線運動之區間設置色標31，並設定測定開始時間T_m1(i)、測定結束時間T_m2(i)，但並非限定於此。

例如，亦可於介質A上之初始位置附近設置色標31。即，亦可於自初始位置進行加速度運動之區間內配置色標31。該情形時，測定範圍設定機構係對載具13進行加速度運動之期間、進行等速運動之期間，分別設定相對於色標31之測定開始時間T_m1(i)、測定結束時間T_m2(i)。

再者，亦可於載具13超過起始線32後並未進行等速直線運動，載具13之速度以特定之速度模式變化之情形時，基於該速度模式，求出相對於測定範圍M之測定開始時間T_m1(i)、測定結束時間T_m2(i)。

(變化例17)

於上述第三實施形態中，例示於測定對象區域R之面積較大之情形時，以將測定對象區域R設為矩形狀之方式，於分光器17內設置孔徑之構成、或將反射鏡174A設為矩形狀之構成，但並非限定於此。

例如，亦可基於測定對象區域R跨越色標31之端部311、312時之來自受光部173之輸出值之信號變化(圖17之曲線部分B')，將該曲線近似為多項式，基於近似之多項式而算出偏移量(點M1至點P1之距離L+餘裕a₁)。

(變化例18)

又，作為波長可變干涉濾波器5，已例示自入射光使與反射膜54、55間之間隙G相應之波長之光透過之光透過型之波長可變干涉濾波器5，但並非限定於此。例如，亦可使用使與反射膜54、55間之間隙G相應之波長之光反射之光反射型之波長可變干涉濾波器。又，亦可使用其他形式之波長可變干涉濾波器。

(變化例19)

又，已例示於框體6中收納有波長可變干涉濾波器5之光學濾波器器件172，但亦可採用波長可變干涉濾波器5直接設置於分光器17之構成等。

(變化例20)

再者，已例示具備波長可變干涉濾波器5之光學濾波器器件172設置於導光部174至受光部173之間之構成(後分光)，但並非限定於此。

例如，亦可採用於光源部171內配置波長可變干涉濾波器5、或具備波長可變干涉濾波器5之光學濾波器器件172，對介質A照射由波長可變干涉濾波器5分光後之光的構成(前分光)。

(變化例21)

於上述各實施形態中，例示具備分光測定裝置之印表機10，但並非限定於此。例如，亦可為不具備圖像形成部，僅實施針對介質A之測色處理之分光測定裝置。又，例如亦可對進行於工廠等製造之印刷物之品質檢查之品質檢查裝置組裝本發明之分光測定裝置，此外，亦可對任意裝置組裝本發明之分光測定裝置。

(變化例22)

作為測定對象，並非限定於色標，而可為任意之物質。

例如，可對進行載置於皮帶輸送機而移動之食品之異物檢測之分光器應用本發明。檢測作為異物之有機物之情形時，較佳採用進行近紅外光至中紅外光之分光之分光器。

(變化例23)

毫無疑問，只要於測定對象與分光器相對移動之期間應用本發明即可，但亦可於測定對象與分光器未相對移動時、或測定對象與分光器間斷性相對移動時應用本發明。

例如，自測定對象之相同位置獲得於第一時刻測定之第一測定值與於第二時刻測定之第二測定值，或上述第一測定值係於測定對象與分光器未相對移動之狀態下獲得，上述第二測定值係於測定對象與分光器相對移動之狀態下獲得，亦為本發明之應用範圍。

此外，本發明之實施時之具體構造亦可藉由於可達成本發明之目的之範圍內適當組合上述各實施形態及變化例而構成，或亦可適當變更為其他構造等。