TW201629506A - 高頻電纜測試平臺 - Google Patents

Abstract

本發明公開了一種高頻電纜測試平臺，包括導電觸點和用於將電纜的導體壓緊在導電觸點上的夾具，還包括一個分線座，分線座包括一個頂面和多個不同的側面，導電觸點分別設置在側面上，夾具佈置在分線座的週邊並與導電觸點相對，分線座上還設有分線導槽，分線導槽傾斜地連接在頂面和側面之間。本發明採用了一種具有多面體結構的分線座，可以縮短剝線長度，避免對纜芯的垂直折彎，最大限度地降低對電纜結構的破壞，從而大大提高測試頻率。

Description

高頻電纜測試平臺

本發明涉及電纜測試系統，具體涉及一種高頻電纜測試平臺。

電纜中通常包含若干對纜芯，在進行電纜測試時，需要將電纜剝開，使每根纜芯的端部露出導體，然後將這些纜芯通過接線裝置接入電纜測試系統中進行測試。測試的頻率越高，要求電纜的剝線長度必須越短，同時對電纜本身結構的完好程度也要求越高，這樣，在進行高頻測試時，對高頻電纜測試平臺提出了更高的要求。

傳統的對稱資料電纜測試主要集中於低頻段（主要為1～350MHz、1～750MHz），對於高頻段測試，要麼每次只能對一對纜芯進行測試，這樣就無法測試多對纜芯相互之間的串音；要麼同時對多對纜芯測試一個比較低的頻率，而同時測試多對纜芯時，由於接線過程過多地破壞了對稱資料電纜的外包層，同樣無法得到完整的測試資料。

中華人民共和國實用新型專利公開號為CN2709992Y公開了一種電纜測試平臺，它包括多個沿圓弧排列的接線夾具，待測電纜被剝開後，將每條纜芯在同一個平面內呈扇形分開，沿著該圓弧的半徑方向插入各個接線夾具，完成接線。由於接線夾具結構的限制，相鄰兩個接線夾具之間的距離不可能很小，從而該圓弧的半徑就不可能很小，即電纜的剝線長度不可能很短。這樣就限制的電纜的測試頻率，一般來說，這種結構的電纜測試平臺，其測試頻率無法超過1GHz。

中華人民共和國發明專利申請號為200810200066.X公開了一種用於電纜測試系統的高頻接線盤，它包括沿圓周方向均布於高頻接線盤盤體上的多個夾具，待測電纜從盤體的中心沿垂直於盤體表面的方向插入，將每條纜芯垂直折彎後，使所有的纜芯在同一個平面內呈放射狀分佈，並沿著半徑方向插入各個夾具中，完成接線。這種結構可以縮短電纜的剝線長度，但由於纜芯被垂直折彎，對電纜結構的破壞較大，因此測試頻率也只能達到1.2GHz左右。

綜上所述，現有技術中的電纜測試系統由於將所有纜芯佈置在同一個平面內進行測試，對電纜結構的破壞較大，因此都無法滿足更高頻率的測試要求。

有鑑於上述先前技術之問題，本發明提供一種高頻電纜測試平臺，可以降低對電纜結構的破壞，滿足更高頻率的測試要求。

為達成上述目的，本發明乃採用如下技術方案：一種高頻電纜測試平臺，係包括導電觸點和用於將電纜的導體壓緊在導電觸點上的夾具，還包括一個分線座，分線座包括一個頂面和多個不同的側面，導電觸點分別設置在側面上，夾具佈置在分線座的週邊並與導電觸點相對，分線座上還設有分線導槽，分線導槽傾斜地連接在頂面和側面之間。

其中，導電觸點設置在分線座頂面的下方，分線導槽從頂面向外側和下方傾斜。

其中，分線座頂面呈正多邊形，正多邊形的內切圓直徑小於電纜的直徑。

其中，分線座的各側面均與頂面相垂直。

其中，分線座的各側面均為斜面，且各側面的傾斜方向與各分線導槽的傾斜方向對應一致。

其中，分線座的上面還蓋有遮罩罩，遮罩罩的中心設有供電纜穿過的通孔。

其中，夾具包括一個固定座和一個可以在固定座中直線滑動的滑塊，滑塊的前端設有與導電觸點相對的夾緊面，滑塊的後端通過第一鉸接點與一根連杆的前端相鉸接，連杆的後端通過第二鉸接點與一根壓杆的中部相鉸接，壓杆的下端通過第三鉸接點鉸接在固定座上。

其中，當夾具將電纜的導體壓緊在導電觸點上時，第一鉸接點、第二鉸接點和第三鉸接點在同一條直線上。

相較於先前技術，本發明具有顯著的有益效果：

1.本發明採用了一種具有多面體結構的分線座，可以把待測電纜的多對纜芯分配到分線座的不同側面與電纜測試系統進行連接，能夠對多對纜芯同時進行測試

2.由於各對纜芯分別位於分線座不同的側面上，這樣在各對纜芯在分線座上保持比較聚集的狀態時，各夾具在分線座的週邊仍然可以有足夠的佈置空間，因此本發明在接線時，並不需要有很長的剝線長度，而剝線長度的縮短則有利於測試頻率的提高

3.本發明在分線座的頂面和側面之間設置了傾斜的分線導槽，這一方面可以縮短剝線長度，另一方面可以避免對纜芯的垂直折彎，因此本發明在接線時可以最大限度地降低對電纜結構的破壞，大大提高測試頻率，採用本發明可以將電纜的測試頻率提高到2.4GHz以上。

下面結合附圖對本發明的具體實施方式作進一步詳細說明。這些實施方式僅用於說明本發明，而並非對本發明的限制。

在本發明的描述中，需要說明的是，術語“中心”、“上”、“下”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”“內”、“外”等指示的方位或位置關系為基於附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便於描述本發明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本發明的限制。此外，序數詞“第一”、“第二”等僅用於方便描述的目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性。在本發明的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是指兩個或兩個以上。

如圖1所示，本發明一種高頻電纜測試平臺包括一個分線座1，分線座1包括一個頂面10和多個不同的側面11、12，本實施例中的頂面10為水平面，而側面11、12為垂直於頂面的鉛垂面，在分線座1上還設有分線導槽13，這些分線導槽13傾斜地連接在頂面10和各個側面11、12之間。在這些側面11、12上分別設有導電觸點30，在分線座1的外圍設有多個與導電觸點30相對的夾具2。

由於導電觸點設置在側面11、12上，並位於分線座頂面10的下方，因此各分線導槽13從頂面10向外側和下方傾斜。

在接線前，將待測電纜4端部的外層保護套和屏蔽層剝去20mm，露出纜芯41、42，這些纜芯一般都是成對的，即纜芯41中包含兩根絞合在一起的導線，纜芯42中也包含兩根絞合在一起的導線，再將纜芯41、42端部的絕緣層剝掉，露出導體。

如圖1所示，在接線時，將剝好的待測電纜4沿垂直於分線座頂面10的方向插入測試平臺中，將纜芯分開，使每對纜芯41、42分別位於一條分線導槽13內，並沿著分線導槽13向下延伸到各側面11、12處。可以看到，在本實施例中，由於分線導槽13的存在，每對纜芯41、42只要經過兩次較為平緩的折彎，就可以使其末端與各側面11、12相貼合，這種連接方式對電纜本身結構的破壞是較小的。當夾具2用於將各纜芯末端露出的導體壓緊在導電觸點30上，形成電連接，當待測電纜4兩端的各對纜芯都連接好後，即可由電纜測試系統對其進行測試。為了避免外界信號的干擾，還可以在分線座1的上面蓋上一個屏蔽罩6（見圖2），屏蔽罩6的中心設有供待測電纜穿過的通孔60。

如圖2與圖4所示，當待測電纜內包含四對纜芯時，分線座頂面10設為正方形，從正方形的四條邊向下延伸四條分線導槽13，四條分線導槽13的下方再與四個側面相連接，這樣就可以將四對纜芯沿著四條分線導槽13對稱地分配到分線座的四個側面。當待測電纜內包含N對的纜芯時，分線座頂面10設為具有N條邊的正多邊形，而側面11、12及分線導槽13的數量也為N。為了縮短電纜的剝線長度，構成頂面10的正多邊形的內切圓直徑最好小於電纜的直徑。

如圖3所示，在分線座1的各側面上固定有電路板3，上述導電觸點就設置在電路板3上，電路板3的外面由屏蔽板5進行遮蔽。

夾具2的作用在於將各纜芯末端露出的導體壓緊在導電觸點上，對本領域的技術人員來說，可以有很多方式實現這種壓緊功能。本發明也提供了一種夾具2的優選結構，如圖5、圖6所示，夾具2包括一個固定座20和一個可以在固定座中直線滑動的滑塊24，滑塊24的前端設有與上述導電觸點相對的夾緊面25，滑塊24的後端通過第一鉸接點21與一根連桿26的前端相鉸接，連桿26的後端通過第二鉸接點22與一根壓桿27的中部相鉸接，壓桿27的下端通過第三鉸接點23鉸接在固定座20上。當用手推動壓桿27的上端向前運動時，可以帶動滑塊24向前運動，從而將各纜芯末端露出的導體壓緊在導電觸點上。這種夾具在操作上非常簡便、省力。更優的是，當夾具2將電纜的導體壓緊在導電觸點上時，第一鉸接點21、第二鉸接點22和第三鉸接點23正好位於同一條直線上，這樣可以實現自鎖，使夾具不會自行松動。

如圖7所示，為本發明高頻電纜測試平臺第二種實施例的結構，與圖1所示結構不同的是，本實施例中分線座1的各側面11、12均為斜面，且各側面11、12的傾斜方向與各分線導槽13的傾斜方向對應一致，並從各分線導槽13的下端向下延伸，這樣，纜芯41、42在從分線導槽13延伸到各側面11、12時，並不需要折彎。因此，每對纜芯41、42只要經過在進入分線導槽13時的一次的折彎就可以了，這樣可以進一步降低對電纜本身結構的破壞並縮短剝線長度。為了更好地將電纜的導體壓緊在斜面上，各夾具2前端的壓緊面25也設為斜面。其它結構與圖1所示的第一種實施例相同。

雖然已經出於理解清楚的目的而以某種詳細程度描述了前述實施例，但本發明不限於所提供的細節。存在許多替代方式來實施本發明。所揭示的實施例為說明性的而非限制性的。因此，本發明之權利保護範圍，應如後述之申請專利範圍所列。

1‧‧‧分線座
10‧‧‧頂面
11‧‧‧側面
12‧‧‧側面
13‧‧‧分線導槽
2‧‧‧夾具
20‧‧‧固定座
21‧‧‧第一鉸接點
22‧‧‧第二鉸接點
23‧‧‧第三鉸接點
24‧‧‧滑塊
25‧‧‧夾緊面
26‧‧‧連杆
27‧‧‧壓杆
3‧‧‧電路板
30‧‧‧導電觸點
4‧‧‧待測電纜
41‧‧‧纜芯
42‧‧‧纜芯
5‧‧‧遮罩板
6‧‧‧遮罩罩

圖1、係為本發明高頻電纜測試平臺第一種實施例的結構示意圖。

圖2、係為本發明一種具有四個夾具的測試平臺的立體示意圖。

圖3、係為本發明第一種實施例中的一種分線座的立體圖。

圖4、係為本發明第一種實施例中的一種分線座的俯視圖。

圖5、係為本發明中一種夾具的結構示意圖。

圖6、係為本發明中一種夾具的立體圖。

圖7、係為本發明測試平臺第二種實施例的結構示意圖。

1‧‧‧分線座

10‧‧‧頂面

11‧‧‧側面

12‧‧‧側面

13‧‧‧分線導槽

2‧‧‧夾具

30‧‧‧導電觸點

4‧‧‧待測電纜

41‧‧‧纜芯

42‧‧‧纜芯

Claims (8)

1. 一種高頻電纜測試平臺，包括導電觸點（30）和用於將電纜的導體壓緊在導電觸點（30）上的夾具（2），其中，還包括一個分線座（1），該分線座（1）包括一個頂面（10）和多個不同的側面（11，12），該導電觸點（30）分別設置在該側面（11，12）上，該夾具（2）佈置在該分線座（1）的週邊並與該導電觸點（30）相對，該分線座（1）上還設有分線導槽（13），該分線導槽（13）傾斜地連接在該頂面（10）和側面（11，12）之間。
2. 如申請專利範圍第1項所述之高頻電纜測試平臺，其中，該導電觸點（30）設置在該分線座頂面（10）的下方，該分線導槽（13）從該頂面（10）向外側和下方傾斜。
3. 如申請專利範圍第1項所述之高頻電纜測試平臺，其中，該分線座頂面（10）呈正多邊形，該正多邊形的內切圓直徑小於該電纜的直徑。
4. 如申請專利範圍第1項所述之高頻電纜測試平臺，其中，該分線座（1）的各側面（11，12）均與頂面（10）相垂直。
5. 如申請專利範圍第1項所述之高頻電纜測試平臺，其中，該分線座（1）的各側面（11，12）均為斜面，且各側面（11，12）的傾斜方向與各分線導槽（13）的傾斜方向對應一致。
6. 如申請專利範圍第1項所述之高頻電纜測試平臺，其中， 該分線座（1）的上面還蓋有遮罩罩（6），該遮罩罩（6）的中心設有供該電纜穿過的通孔（60）。
7. 如申請專利範圍第1項所述之高頻電纜測試平臺，其中，該夾具（2）包括一個固定座（20）和一個可在該固定座（20）中直線滑動的滑塊（24），該滑塊（24）的前端設有與該導電觸點（30）相對的夾緊面（25），該滑塊（24）的後端通過第一鉸接點（21）與一根連杆（26）的前端相鉸接，該連杆（26）的後端通過第二鉸接點（22）與一根壓杆（27）的中部相鉸接，該壓杆（27）的下端通過第三鉸接點（23）鉸接在該固定座（20）上。
8. 如申請專利範圍第7項所述之高頻電纜測試平臺，其中，當該夾具（2）將該電纜的導體壓緊在導電觸點（30）上時，該第一鉸接點（21）、第二鉸接點（22）和第三鉸接點（23）在同一條直線上。