TW201629456A - 抗衝擊性能測試裝置 - Google Patents

Abstract

一種抗衝擊性能測試裝置，包括基座、承載板、支臂、測試組件固定部、氣缸回管、落球管、氣缸、吸附件以及小球。該承載板用於承載待測裝置，其中，該承載板可移動的設置該基座上。該測試組件固定部可移動的固定於該支臂上。該氣缸回管及落球管上下銜接在一起且固定於該測試組件固定部上，並跟隨該測試組件固定部沿該支臂運動。該氣缸及該吸附件位於該氣缸回管內，並可沿氣缸回管上下移動，氣缸下端與該吸附件固定連接，氣缸通過改變所收容的氣量而使得吸附件產生吸力或釋放吸力，而使得該小球被吸附在該吸附件上或落下。

Description

抗衝擊性能測試裝置

本發明涉及一種測試裝置，特別涉及一種用於測試電子裝置的螢幕、殼體表面等的抗衝擊性能的測試裝置。

電子裝置在出廠前通常需要對各種性能進行測試。其中，對電子裝置表面進行抗衝擊性能的測試為一重要的測試專案，隨著目前採用大尺寸螢幕的手機、平板電腦及顯示器而言，測試螢幕的抗衝擊能力尤其重要。然而，目前測試電子裝置的螢幕或殼體表面的抗衝擊性能的測試裝置通常較複雜或成本較高。

有鑑於此，有必要提出一種抗衝擊性能測試裝置，能夠方便的對電子裝置的螢幕或殼體等進行抗衝擊測試。

一種抗衝擊性能測試裝置，用於對一待測裝置的抗衝擊性能進行測試，其中，該抗衝擊性能測試裝置包括基座、承載板、支臂、測試組件固定部、氣缸回管、落球管、氣缸、吸附件以及小球。該承載板用於承載待測裝置，其中，該承載板可移動的設置該基座上且用於沿第一方向在基座上移動。該支臂設置於該基座上且平行於基座上表面並距離該基座上表面一定距離。該測試組件固定部可移動的固定於該支臂上而用於沿該支臂在第二方向上運動。該氣缸回管及落球管上下銜接在一起且固定於該測試組件固定部上，並跟隨該測試元件固定部沿該支臂在第二方向上運動。該氣缸及該吸附件位於該氣缸回管內，該氣缸用於沿氣缸回管上下移動，該氣缸的下端與該吸附件固定連接，該氣缸通過改變所收容的氣量而使得吸附件產生吸力或釋放吸力，而使得該小球被吸附在該吸附件上或沿著該落球管中落下。

利用本發明的抗衝擊性能測試裝置，能夠通過簡單地結構的對電子裝置的螢幕或殼體等進行抗衝擊測試。

圖1為本發明一實施方式中的抗衝擊性能測試裝置的整體結構示意圖。

圖2為圖1中的抗衝擊性能測試裝置的沿II-II方向的剖視圖。

圖3為本發明一實施方式中的抗衝擊性能測試裝置的部分元件的功能模組圖。

圖4為本發明一實施方式中的抗衝擊性能測試裝置中的氣缸伸縮驅動部件的示意圖。

圖5為圖1中的抗衝擊性能測試裝置的中的IV區域的放大示意圖。

請一併參閱圖1及圖2。該抗衝擊性能測試裝置100包括基座10、承載板20、支臂30、測試組件固定部40、氣缸回管50、落球管60、氣缸70、吸附件80以及小球90。

其中，該承載板20用於承載一待測裝置21，該承載板20位於該基座10上且沿第一方向X在基座10上移動。該氣缸回管50與該落球管60上下銜接在一起且固定於該測試組件固定部40上。該支臂30平行於基座10上表面且距離該基座10上表面一定距離。該測試組件固定部40可移動的固定於該支臂30上，且可沿該支臂30在第二方向Y上運動而帶動該氣缸回管50與該落球管60在該第二方向Y上運動。從而，通過該承載板20及該測試元件固定部40的運動，該落球管60可置於待測裝置21的上方。

該氣缸70與該吸附件80位於該氣缸回管50內，且可沿氣缸回管50上下移動，該氣缸70的下端與該吸附件80通過連接杆(圖中未標號)固定連接，該氣缸70通過改變所收容的氣量而使得吸附件80產生吸力或釋放吸力，而使得該小球90被吸附在該吸附件80上或沿著該落球管60中落下。

具體的，該氣缸70在吸氣時，使得吸附件80產生吸力，該氣缸70在放氣時，使得吸附件80交替性地產生吸力和釋放吸力，如此迴圈，使得小球90迴圈地通過該落球管60被吸附在吸附件80上以及從落球管60中落下。從而，通過該小球90的多次落下，可對待測裝置21進行抗衝擊性能測試。其中，小球90可為塑膠材質。

請一併參閱圖3，為抗衝擊性能測試裝置100的部分元件的功能模組圖。該抗衝擊性能測試裝置100還包括一處理器11、第一感應器12、第二感應器13以及氣缸驅動機構14。

具體的，如圖1所示，該第一感應器12以及該第二感應器13分別設置於該氣缸回管50的上端和下端位置。該氣缸70的長度小於該第一感應器12及該第二感應器13之間的距離。該第一感應器12與該第二感應器13用於分別感測對應位置處是否有氣缸70，並在感應到氣缸70並產生相應的感應信號。

該處理器11與該第一感應器12、第二感應器13以及氣缸驅動機構14連接，用於根據該第一感應器12及第二感應器13產生的感應信號，控制該氣缸驅動機構14驅動該氣缸70上下移動以及進行吸氣和放氣。其中，該處理器11控制該氣缸驅動機構14驅動該氣缸70進行吸氣和放氣的方式請見如下描述。如前所述，當該氣缸70向上運動到該第一感應器12的位置處時，該第一感應器12感應到該氣缸70而產生感應信號，當該氣缸70向下運動到該第二感應器13的位置處時，該第二感應器13感應到該氣缸70而產生感應信號。該處理器11並在接收到該第一感應器12的感應信號時，控制該氣缸驅動機構14驅動該氣缸70進行放氣，從而使得該吸附件80的吸力減弱而使得小球90從落球管60中下落。當該處理器11接收到該第二感應器13的感應信號時，該處理器11控制該氣缸驅動機構14驅動該氣缸70進行吸氣，從而使得該吸附件80的產生吸力而將小球90吸回。如此，反復對待測裝置21的觸控式螢幕或殼體等表面進行抗衝擊性能測試。

如圖2所示，具體的，在本實施方式中，該氣缸驅動機構14包括一繼電器141以及一電磁鐵142。該電磁鐵142的兩端與該繼電器141的兩輸出端（圖中未示）電連接且該電磁鐵412位於該氣缸回管50的頂部，該氣缸70為磁性金屬材料製成。該氣缸在測試開始後，該處理器11根據該第一感應器12及第二感應器13產生的感應信號交替性地控制該繼電器141閉合和斷開第一預定時間（例如3秒）。在該繼電器141閉合時，該電磁鐵142兩端上電而產生磁力，而吸引該氣缸70向上運動，即驅動該氣缸70向上運動。當該繼電器141斷開時，該電磁鐵142兩端斷電而不產生磁力，從而該氣缸70由於重力作用而向下運動。其中，該電磁鐵142與該繼電器141之間可通過該氣缸回管50的外側走線進行電連接。

更具體的，該處理器11根據該第一感應器12及第二感應器13產生的感應信號交替性地控制該繼電器141閉合和斷開預定時間為：該處理器11在接收到第二感應器13的感應信號時經過一第二預定時間（例如2秒）後，控制繼電器閉合該第一預定時間，從而使得吸附件80能在該第二預定時間內將小球90吸回，並使得該氣缸70經過該第一預定時間能夠至少上升到該第一感應器12的位置；該處理器11並在接收到第一感應器13的感應信號時經過第二預定時間後，控制繼電器斷開該第一預定時間，從而使得氣缸70在小球90落下後經過該第二預定時間後才向下運動，並且使得該氣缸70至少能在第一預定時間內向下運動到該第二感應器13的位置處。

請一併參閱圖4，其中，該氣缸驅動機構14還包括一氣缸伸縮驅動部件143，該處理器11通過控制該氣缸伸縮驅動部件143驅動氣缸70進行伸縮，從而進行吸氣和放氣。該氣缸伸縮驅動部件143可包括安裝於氣缸70兩端的兩個機械臂144和一驅動馬達145。該處理器11在接收到該第一感應器12的感應信號時，控制驅動馬達145驅動兩個機械臂144相向運動，而驅動該氣缸70進行收縮而放氣，該處理器11在接收到該第二感應器13的感應信號時，控制驅動馬達145驅動兩個機械臂144相離運動，而驅動該氣缸70進行伸展而吸氣。

其中，該氣缸回管50靠近該第一感應器12的位置處還開設有第一氣口51，該氣缸回管50靠近該第二感應器13的位置處還開設有第二氣口52。該氣缸70在第一感應器12及第二感應器13位置處進行伸縮時為通過該第一氣口51或第二氣口52進行吸氣和/或放氣。

在本實施方式中，該基座10為一中空的主機殼，該基座10中包括有PCB（印刷電路板）板，該處理器11位於該基座內的PCB板上，該繼電器141位於該測試組件固定部40上。

在本實施方式中，該氣缸70與該吸附件80的側面與該氣缸回管50的側壁緊密貼合，且吸附件80上端與該氣缸70的下端形成一封閉空間（圖中未標號），該氣缸70通過伸開而吸氣時，將該封閉空間上部的氣體吸收走，而使得封閉空間形成一種類似真空狀態，使得吸附件80會向上運動，而導致該吸附件向下產生吸力而將小球90吸氣。相應的，當氣缸70放氣時，氣壓得到平衡，而使得向下的吸力消除。

其中，該吸附件80為一吸盤。

請一併參閱圖5，該抗衝擊性能測試裝置100還包括在該落球管60的靠近下端的側面上相對設置的一顏色光發射器61以及一反光鏡62。該顏色光發射器61用於發射一顏色光束，該反光鏡62的反光面正對該顏色光發射器61且朝下呈45度傾角，用於將該顏色光發射器61發射的顏色光束豎直反射到該承載板20上。其中，該反射的顏色光束與該落球管60的中心軸線重合，用於指示小球90的落球點位置，從而提醒使用者對待測裝置21進行移動，使得待測裝置21的待測點移動至該顏色光束所指示的位置，以使得小球90落下時能正好砸在該待測點。

該顏色光發射器61發射的顏色光束可為紅色、藍色等顏色的雷射光束。

其中，該抗衝擊性能測試裝置100還包括一顯示器91，該顯示器91與該處理器11連接，用於在處理器11的控制下顯示相應資訊，例如小球落下次數等。

具體的，如圖1所示，該基座10的上表面還包括一對平行導軌101，該承載台20通過該對平行導軌101設置於該基座10上且可沿該對平行導軌101沿著第一方向Y往返運動。該支臂30具體包括固定連接在一起的一橫杆31以及兩個豎杆32，該兩個豎杆32固定於該基座10的上表面，該橫杆31固定於該兩個豎杆32上且平行於該基座10的上表面。該測試組件固定部40套設於該橫杆31上，且可沿該橫杆31在第二方向X上往返運動。

從而，在測試前，可先驅動該承載台20沿第一方向Y運動到一定位置，然後驅動該測試元件固定部40沿第二方向Y運動到該承載台20的上方，從而使得待測點位於該小球落下的位置，即顏色光束指示的位置。其中，可通過人為操作的方式操作該承載台20以及該測試元件固定部40進行移動。在其他實施方式中，該承載台20以及該測試組件固定部40可包括相應的驅動件（圖中未示），該處理器11與該驅動件連接而通過對應的驅動件驅動該承載台20以及該測試元件固定部40進行運動。

其中，該基座10上還設置有一開啟按鈕102及一關閉按鈕103，該開啟按鈕102用於開啟該抗衝擊性能測試，該關閉按鈕103用於停止該抗衝擊性能測試。

從而，本發明的抗衝擊性能測試裝置100，通過控制該小球交替地被吸起和下落至待測裝置21的待測點，而可對待測裝置21的抗衝擊性能進行測試，且結構相對簡單。

可以理解，以上所述實施方式僅供說明本發明之用，而並非對本發明的限制。有關技術領域的普通技術人員根據本發明在相應的技術領域做出的變化應屬於本發明的保護範疇。

100‧‧‧抗衝擊性能測試裝置

10‧‧‧基座

20‧‧‧承載板

30‧‧‧支臂

40‧‧‧測試組件固定部

50‧‧‧氣缸回管

60‧‧‧落球管

70‧‧‧氣缸

80‧‧‧吸附件

90‧‧‧小球

21‧‧‧待測裝置

11‧‧‧處理器

12‧‧‧第一感應器

13‧‧‧第二感應器

14‧‧‧氣缸驅動機構

141‧‧‧繼電器

142‧‧‧電磁鐵

143‧‧‧氣缸伸縮驅動部件

144‧‧‧機械臂

145‧‧‧驅動馬達

51‧‧‧第一氣口

52‧‧‧第二氣口

61‧‧‧顏色光發射器

62‧‧‧反光鏡

101‧‧‧開啟按鈕

102‧‧‧關閉按鈕

31‧‧‧橫杆

32‧‧‧豎杆

91‧‧‧顯示器

無

100‧‧‧抗衝擊性能測試裝置

10‧‧‧基座

30‧‧‧支臂

70‧‧‧氣缸

80‧‧‧吸附件

14‧‧‧氣缸驅動機構

141‧‧‧繼電器

142‧‧‧電磁鐵

61‧‧‧顏色光發射器

62‧‧‧反光鏡

31‧‧‧橫杆

32‧‧‧豎杆

Claims (11)

1. 一種抗衝擊性能測試裝置，用於對一待測裝置的抗衝擊性能進行測試，其改良在於，該抗衝擊性能測試裝置包括：
   基座；
   承載板，用於承載待測裝置，其中，該承載板可移動的設置該基座上且用於沿第一方向在基座上移動；
   支臂，設置於該基座上且平行於基座上表面並距離該基座上表面一定距離；
   測試組件固定部，可移動的固定於該支臂上而用於沿該支臂在第二方向上運動；
   固定於測試組件固定部上的氣缸回管及落球管，其中，該氣缸回管及落球管上下銜接在一起且固定於該測試組件固定部上，並跟隨該測試元件固定部沿該支臂在第二方向上運動；以及
   位於該氣缸回管內的氣缸及吸附件，用於沿氣缸回管上下移動，其中，該氣缸的下端與該吸附件固定連接，該氣缸通過改變所收容的氣量而使得吸附件產生吸力或釋放吸力，而使得該小球被吸附在該吸附件上或沿著該落球管中落下。
2. 如申請專利範圍第1項所述之抗衝擊性能測試裝置，其中，該氣缸在吸氣時，使得吸附件產生吸力，該氣缸在放氣時，使得吸附件釋放吸力；該氣缸交替性的吸氣及放氣，使得吸附件交替性地產生吸力和釋放吸力，進一步使得小球迴圈地通過該落球管被吸附在吸附件上以及從落球管中落下。
3. 如申請專利範圍第2項所述之抗衝擊性能測試裝置，其中，該抗衝擊性能測試裝置還包括處理器、第一感應器、第二感應器以及氣缸驅動機構，該第一感應器以及該第二感應器分別設置於該氣缸回管的上端和下端位置，並用於分別感測對應位置處是否有氣缸，並在感應到氣缸並產生相應的感應信號；該處理器與該第一感應器、第二感應器以及氣缸驅動機構連接，該處理器用於根據該第一感應器或第二感應器產生的感應信號，控制該氣缸驅動機構驅動該氣缸上下移動以及進行吸氣和放氣。
4. 如申請專利範圍第3項所述之抗衝擊性能測試裝置，其中，該處理器在接收到該第一感應器的感應信號時，控制該氣缸驅動機構驅動該氣缸進行放氣，從而使得該吸附件的吸力減弱而使得小球從落球管中下落；該處理器在接收到該第二感應器的感應信號時，控制該氣缸驅動機構驅動該氣缸進行吸氣，從而使得該吸附件的產生吸力而將小球吸回。
5. 如申請專利範圍第4項所述之抗衝擊性能測試裝置，其中，該氣缸驅動機構包括一繼電器以及一電磁鐵，該電磁鐵的兩端與該繼電器的兩輸出端電連接且該電磁鐵位於該氣缸回管的頂部，該氣缸為磁性金屬材料製成；在測試開始後，該處理器根據該第一感應器及第二感應器產生的感應信號第一交替性地控制該繼電器閉合和斷開第一預定時間，在該繼電器閉合時，該電磁鐵兩端上電而產生磁力，而吸引該氣缸向上運動，即驅動該氣缸向上運動，當該繼電器斷開時，該電磁鐵兩端斷電而不產生磁力，從而該氣缸由於重力作用而向下運動。
6. 如申請專利範圍第5項所述之抗衝擊性能測試裝置，其中，該處理器根據該第一感應器及第二感應器產生的感應信號交替性地控制該繼電器閉合和斷開第一預定時間為：該處理器在接收到第二感應器的感應信號時經過一第二預定時間後，控制繼電器閉合該第一預定時間；該處理器並在接收到第一感應器的感應信號時經過第二預定時間後，控制繼電器斷開該第一預定時間。
7. 如申請專利範圍第4項所述之抗衝擊性能測試裝置，其中，該氣缸驅動機構還包括一氣缸伸縮驅動部件，該氣缸伸縮驅動部件可包括安裝於氣缸兩端的兩個機械臂和一驅動馬達；該處理器在接收到該第一感應器的感應信號時，控制驅動馬達驅動兩個機械臂相向運動，而驅動該氣缸進行收縮而放氣，該處理器在接收到該第二感應器的感應信號時，控制驅動馬達驅動兩個機械臂相離運動，而驅動該氣缸進行伸展而吸氣。
8. 如申請專利範圍第3項所述之抗衝擊性能測試裝置，其中，該氣缸回管靠近該第一感應器的位置處還開設有第一氣口，該氣缸回管靠近該第二感應器的位置處還開設有第二氣口，該氣缸在第一感應器及第二感應器位置處進行伸縮時通過該第一氣口或第二氣口進行吸氣和/或放氣。
9. 如申請專利範圍第2項所述之抗衝擊性能測試裝置，其中，抗衝擊性能測試裝置還包括在該落球管的靠近下端的側面上相對設置的一顏色光發射器以及一反光鏡，該顏色光發射器用於發射一顏色光束，該反光鏡的反光面正對該顏色光發射器且朝下呈45度傾角，用於將該顏色光發射器發射的顏色光束豎直反射到該承載板上，而指示小球的落球點位置。
10. 如申請專利範圍第2項所述之抗衝擊性能測試裝置，其中，抗衝擊性能測試裝置還包括一顯示器，該顯示器與該處理器連接，用於在處理器的控制下顯示相應資訊。
11. 如申請專利範圍第2項所述之抗衝擊性能測試裝置，其中，該基座的上表面還包括一對平行導軌，該承載台通過該對平行導軌設置於該基座上且可沿該對平行導軌沿著第一方向往返運動；該支臂具體包括固定連接在一起的一橫杆以及兩個豎杆，該兩個豎杆固定於該基座的上表面，該橫杆固定於該兩個豎杆上且平行於該基座的上表面，該測試元件固定部套設於該橫杆上，且可沿該橫杆在第二方向上往返運動。