TW201621584A - 觸控板檢測裝置及方法 - Google Patents

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洪昇均
金東均
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東友精細化工有限公司
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Abstract

本發明揭示一種觸控板檢測裝置及方法。本發明之一實施例之觸控板檢測裝置包含：影像獲得部，其獲得將包含複數個單元區域之觸控板用玻璃片(glass sheet)作為一個整體區域進行攝像、或分割為經區分之區域進行攝像所得的影像；區域設定部，其接收對於上述影像指定週期比較區域及單元間(cell-to-cell)比較區域的輸入；及缺陷偵測部，其進行用以於上述影像中以預先設定之週期單位對上述週期比較區域內之像素進行比較的第1影像檢測、及用以於上述影像中在上述複數個單元區域中之至少3個單元區域之間對上述單元間比較區域進行比較的第2影像檢測中之至少一個，而偵測上述玻璃片上的缺陷。

Description

觸控板檢測裝置及方法
本發明係關於一種用於檢測觸控板之裝置及方法。
觸控板(touch panel)廣泛用作對顯示裝置附加令行動電話、智慧電話、平板PC、膝上型電腦、桌上型電腦等電腦裝置之使用者能藉由作出觸控顯示裝置的手勢而與電腦裝置進行通訊的功能者。
觸控板係以將於X軸方向及Y軸方向經圖案化之感測電極蒸鍍於玻璃片(glass sheet)上的方式製造而得。先前之多種觸控板製造方式採用如下步驟：以大小適合積層於顯示面板之觸控板的單元(cell)單位切斷玻璃片之後，將感測電極配置於各個單元單位之玻璃上，但最近亦嘗試如下製造方法：為了提高上述步驟之良率，於包含複數個單元區域之玻璃片上形成感測電極之後，最終將玻璃片切斷為分別對應於複數個單元區域之觸控板。
於實際之觸控板製造步驟之進行過程中，有時會因各種因素而使異物附著於觸控板之表面或內部，或是產生污染或損傷而使觸控板上出現多種形態之缺陷。藉此，有時後續有偵測上述缺陷之步驟。作為用於此種缺陷偵測的檢測方式，通常使用利用相機等攝像機器捕捉觸控板之外觀之影像而對該影像進行分析的光學檢測方式。
然而，於經過多個步驟而製造之觸控板上，存在如存在有規律之圖案的區域、存在無規律之圖案的區域、需要用於缺陷偵測之檢測的區域、即便省略此種檢測亦無妨的區域等多種區域。而且，各區域及各圖案所對應之檢測條件未必要相同。因此，要求有用於更高效且更高準確度地偵測出多種區域產生之不同形態的缺陷的新方法。
韓國公開專利公報第2011-0020437號揭示有為了對晶圓進行缺陷檢測而將候補晶片(die)與平均標準晶片之灰階進行比較來判定缺陷的方法，但仍存在考慮晶片上之多個區域各自之特性的必要性。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻]韓國公開專利公報第2011-0020437號
本發明之目的在於提供一種能對於觸控板上之多種區域，根據各區域之特性及檢測條件更高效且更準確地偵測出觸控板上之缺陷的觸控板檢測裝置。
本發明之目的還在於提供一種觸控板檢測方法。
1.一種觸控板檢測裝置，其包含：影像獲得部，其獲得將包含複數個單元區域之觸控板用玻璃片(glass sheet)作為一個整體區域進行攝像、或分割為經區分之區域而進行攝像所得的影像； 區域設定部，其接收對於上述影像指定週期比較區域及單元間(cell-to-cell)比較區域之輸入；及缺陷偵測部，其進行用以於上述影像中以預先設定之週期單位對上述週期比較區域內之像素進行比較的第1影像檢測、及用以於上述影像中在上述複數個單元區域中之至少3個單元區域之間對上述單元間比較區域進行比較的第2影像檢測中之至少一個，而偵測上述玻璃片上的缺陷。
2.如上述1之觸控板檢測裝置，其中，上述影像獲得部包含：輸入部，其使用上述玻璃片之佈局資訊識別上述複數個單元區域；及攝像機器，其對所識別之上述複數個單元區域進行攝像而獲得上述影像。
3.如上述1之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係於上述單元間比較區域內指定檢測區域及與上述檢測區域對應之不同的檢測條件，上述缺陷偵測部根據上述檢測條件而進行上述第2影像檢測。
4.如上述1之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定非檢測區域，上述缺陷偵測部對於上述非檢測區域省略影像檢測。
5.如上述1之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，上述缺陷偵測部對於上述複數個經區分之下位區域分別進行上述第1影像檢測及上述第2影像檢測。
6.如上述5之觸控板檢測裝置，其中，上述複數個經區分之下位區域各自內之單位單元圖案相同。
7.如上述5之觸控板檢測裝置，其中，上述複數個經區分之下位區域各自內之單位單元圖案係與上述複數個經區分之下位區域中之其他下位區域內之單位單元圖案不同。
8.如上述1之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，於上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域內，指定同樣的上述週期比較區域之相對位置，對於上述複數個經區分之下位區域分別指定不同的上述單元間比較區域之相對位置。
9.如上述1之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，對於上述複數個經區分之下位區域分別指定不同的上述週期比較區域之相對位置，於上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域內指定相同的上述單元間比較區域之相對位置。
10.如上述1之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，且上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域各自含有單位單元圖案。
11.如上述10之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係指定上述複數個經區分之下位區域各自之非檢測區域，上述至少2個經區分之下位區域各自之除上述非檢測區域之外的區域內含有具有相同圖案的單位單元圖案，上述缺陷偵測部對於上述非檢測區域省略影像檢測。
12.如上述1之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，且指定上述複數個經區分之下位區域各自之非檢測區域，上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域各自的上述非檢測區域內含有具有不同圖案的單位單元圖案，上述缺陷偵測部對於上述非檢測區域省略影像檢測。
13.如上述1之觸控板檢測裝置，其中，上述缺陷偵測部更 包含輸出部，該輸出部係顯示藉由上述第1影像檢測及上述第2影像檢測中之至少一個所偵測到之缺陷的位置。
14.如上述13之觸控板檢測裝置，其中，上述輸出部響應與上述顯示對應之選擇而顯現表示上述缺陷的影像。
15.一種觸控板檢測方法，其包含如下階段：獲得將包含複數個單元區域之觸控板用玻璃片作為一個整體區域進行攝像、或分割為經區分之區域而進行攝像所得的影像的階段；接收對於上述影像指定週期比較區域及單元間比較區域之輸入的階段；及藉由進行於上述影像中以預先設定之週期單位對上述週期比較區域內之像素進行比較的第1影像檢測、及於上述影像中在上述複數個單元區域中之至少3個單元區域之間對上述單元間比較區域進行比較的第2影像檢測中之至少一個，而偵測上述玻璃片上的缺陷的階段。
16.如上述15之觸控板檢測方法，其中，上述獲得階段包含如下階段：使用上述玻璃片之佈局資訊識別上述複數個單元區域的階段；及對所識別之上述複數個單元區域進行攝像而獲得上述影像的階段。
17.如上述15之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係於上述單元間比較區域內指定檢測區域及與上述檢測區域對應之不同的檢測條件，上述第2影像檢測係根據上述檢測條件進行。
18.如上述15之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於上述影像指定非檢測區域，上述偵測階段對於上述非檢測區域省略影像檢測。
19.如上述15之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於上 述影像指定複數個經區分之下位區域，上述偵測階段包含針對上述複數個經區分之下位區域分別進行上述第1影像檢測及上述第2影像檢測的階段。
20.如上述19之觸控板檢測方法，其中，上述複數個經區分之下位區域各自內之單位單元圖案相同。
21.如上述19之觸控板檢測方法，其中，上述複數個經區分之下位區域各自內之單位單元圖案係與上述複數個經區分之下位區域中之其他下位區域內之單位單元圖案不同。
22.如上述15之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，於上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域內指定同樣的上述週期比較區域之相對位置，對於上述複數個經區分之下位區域分別指定不同的上述單元間比較區域之相對位置。
23.如上述15之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，對於上述複數個經區分之下位區域分別指定不同的上述週期比較區域之相對位置，於上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域內指定相同的上述單元間比較區域之相對位置。
24.如上述15之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域分別含有單位單元圖案。
25.如上述24之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係指定上述複數個經區分之下位區域各自之非檢測區域，上述至少2個經區分之下 位區域各自之除上述非檢測區域之外的區域內含有具有相同圖案的單位單元圖案，上述偵測階段對於上述非檢測區域省略影像檢測。
26.如上述15之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，且指定上述複數個經區分之下位區域各自之非檢測區域，上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域各自之上述非檢測區域內包含具有不同圖案的單位單元圖案，上述偵測階段對於上述非檢測區域省略影像檢測。
27.如上述15之觸控板檢測方法，其中，更包含顯示藉由上述第1影像檢測及上述第2影像檢測中之至少一個而偵測到之缺陷的位置的階段。
28.如上述27之觸控板檢測方法，其中，更包含顯現響應與上述顯示對應之選擇而表示上述缺陷的影像的階段。
本發明之觸控板檢測裝置及方法係對於觸控板上之多種區域根據各區域之特性及檢測條件容易地基於影像分析進行檢測，故而，能更有效率且更準確地偵測觸控板上的缺陷。
100‧‧‧觸控板檢測裝置
110‧‧‧影像獲得部
112‧‧‧輸入部
114‧‧‧攝像機器控制部
116‧‧‧攝像機器
118‧‧‧記憶體
120‧‧‧區域設定部
130‧‧‧缺陷偵測部
140‧‧‧輸出部
圖1係表示本發明之一實施例之觸控板檢測裝置的圖。
圖2係表示本發明之一實施例之觸控板用玻璃片之佈局的圖。
圖3係表示根據本發明之一實施例圖示出圖1之影像獲得部之構成的方塊圖。
圖4係根據本發明之一實施例，圖示出使用者於週期比較區域及單元間比較區域之指定中所適合的使用者介面。
圖5係用於根據本發明之一實施例對於所指定之週期比較區域及單元間比較區域進行說明的圖。
圖6係用於根據本發明之一實施例對於單元間比較區域內部所指定之檢測區域、及該檢測區域所對應之不同的檢測條件進行說明的圖。
圖7係根據本發明之一實施例，圖示出顯示偵測到之缺陷的位置的使用者介面。
圖8中根據本發明之一實施例，例示出表示利用橫/縱週期比較法偵測到之缺陷的影像。
圖9中根據本發明之一實施例，例示出表示利用單元間比較法偵測到之缺陷的影像、及表示經比較之周邊單元區域內之對應之部分的影像。
以下，參照圖式對本發明之具體實施例進行說明。然而，此僅為例示，本發明並不限於此。
本發明之實施例之說明中，當判斷對於本發明之相關的公知技術的具體說明會不必要地令本發明之宗旨變得模糊時，省略其詳細說明。並且，後述之用語係考慮到本發明中之功能而定義者，其有時會根據使用者、運用者之意圖或慣例等而改變。因此，其定義須以本說明書之全部內容為基礎。
本發明之一實施例之觸控板檢測裝置包含：影像獲得部，其獲得將包含複數個單元區域之觸控板用玻璃片(glass sheet)作為一個整體 區域進行攝像、或分割為經區分之區域進行攝像所得的影像；區域設定部，其接收對於上述影像指定週期比較區域及單元間(cell-to-cell)比較區域之輸入；及缺陷偵測部，其進行用以於上述影像中以預先設定之週期單位對上述週期比較區域內之像素進行比較的第1影像檢測、及用以於上述影像內在上述複數個單元區域中之至少3個單元區域之間對上述單元間比較區域進行比較的第2影像檢測中之至少一個，而偵測上述玻璃片上的缺陷；且係根據觸控板上之各區域之特性及檢測條件容易地基於影像分析進行檢測，故而，能更高效且更準確地偵測觸控板上的缺陷。
圖1係表示本發明之一實施例之觸控板檢測裝置的圖。
如圖1所示，觸控板檢測裝置(100)包含影像獲得部(110)、區域設定部(120)、缺陷偵測部(130)及輸出部(140)。觸控板檢測裝置(100)之各組件係由電腦裝置實現，或由與該電腦裝置連動地動作的其他裝置實現。
影像獲得部(110)構成為，對包含單元區域之觸控板用玻璃片進行攝像且獲得影像。各個單元區域內可包含與該單元區域對應之單位單元圖案。各單位單元圖案可相同，亦可不同。檢測對象體之玻璃片只要為可使用光學系統且基於影像分析進行檢測之觸控板用玻璃片，則其類型並無特別限制。例如，影像獲得部(110)可獲得將具有圖2所示之佈局(layout)之例示性的觸控板用玻璃片(200)作為一個整體區域進行攝像、或分割為經區分之區域進行攝像所得的影像。例如，影像獲得部(110)可分別對觸控板用玻璃片(200)上之複數個單元區域(210-1~210-15)進行攝像，從而獲得包含複數個單元區域(210-1~210-15)各自之影像的掃描影 像。
因此，本發明之一實施例之影像獲得部(110)可如圖3所示般包含輸入部(112)、攝像機器控制部(114)、攝像機器(116)及記憶體(118)。
輸入部(112)可接收(例如以檔案形態)觸控板用玻璃片(200)之佈局資訊。例如，輸入部(112)可使用該佈局資訊識別觸控板用玻璃片(200)上之單元區域(210-1~201-15)。藉此，輸入部(112)可獲得單元區域(210-1~210-15)各自之位置資訊且將其保存於記憶體(118)。
攝像機器控制部(114)可使攝像機器(116)移動以使攝像機器(116)能將包含單元區域(210-1~210-15)之觸控板用玻璃片(200)作為一個整體區域、或分割為經區分之區域而進行攝像。例如，攝像機器控制部(114)能自記憶體(118)辨讀所識別之單元區域(210-1~210-15)各自之位置資訊，且能根據所辨讀之位置資訊使攝像機器(116)於X軸及/或Y軸方向移動以使攝像機器(116)捕捉單元區域(210-1~210-15)各自之影像。另一方面，於觸控板用玻璃片(200)上之單元區域之周邊，有時存在用於感測電極之蒸鍍的基準點(260)、或是賦予玻璃片(200)或各單元區域之產品編號(lot number)等顯示(270、280)，攝像機器控制部(114)能控制攝像機器(116)不對該顯示進行攝像而是獲得包含單元區域(210-1~210-15)各自之影像的掃描影像。此時，無需另外的機構來防止影像分析中將此種顯示識別為玻璃片(200)上之缺陷。
攝像機器(116)可於攝像機器控制部(114)之控制下對觸控板用玻璃片(200)之外觀(例如，圖2所示之表面)進行攝像而獲得表 示單元區域(210-1~210-15)的影像。而且，攝像機器(116)能將所獲得之影像保存於記憶體(118)。攝像機器(116)只要能收容自觸控板用玻璃片(200)等檢測對象體入射之光而捕捉影像，則無特別限制，可包含相機(例如，CCD(Charge-Coupled Device)相機)、光感測器等。圖3中雖未圖示，但為了攝像機器(116)之攝像，可將對檢測對象體照射光之光源配置於檢測對象體的周圍。作為光源，可使用例如LED燈(Light Emitting Diode Lamp，發光二極體燈)、金屬鹵化物燈(Metal Halide Lamp)等鹵素燈、螢光燈、白熾燈等。而且，攝像機器(116)及光源之配置、攝像機器(116)之攝像角度及光源之光照射角度只要可對檢測對象體進行適合的攝像及適合的光照射則無特別限制。
而且，參照圖1對觸控板檢測裝置(100)之其餘組件進行說明。
根據本發明之一實施例，使用者能將與由影像獲得部(110)獲得之影像對應的多種類型之輸入(例如，對於所獲得之影像指定週期比較區域及單元間(cell-to-cell)比較區域的輸入)提供給區域設定部(120)。故而，使用者能進行利用輸入設備(例如，滑鼠等指向設備、鍵盤、觸控輸入設備及/或音頻輸入設備)之多種類型之動作(例如，使用如滑鼠般之指向設備的點選(click)、懸浮(hovering)及拖放(drag and drop)等動作，及使用鍵盤記錄本文之按壓一個鍵或兩個以上鍵之組合等動作)中的至少一個。
區域設定部(120)係以接收上述輸入之方式構成。故而，區域設定部(120)能提供適於接收上述輸入之使用者介面。例如，區域設 定部(120)能接收對於由影像獲得部(110)獲得之影像指定週期比較區域及單元間比較區域的輸入。而且，區域設定部(120)能接收對於由影像獲得部(110)獲得之影像指定複數個經區分之下位區域的輸入。此時，經區分之下位區域各自內之單位單元圖案可相同。另一方面，經區分之下位區域各自內之單位單元圖案亦可與其他下位區域內之單位單元圖案不同。
例如，如圖4所示，區域設定部(120)能提供顯示有表示單元區域(210-1~210-15)中之一個(例如，由使用者或觸控板檢測裝置(100)任意選擇之單元區域(210-9))的影像(410)的使用者介面(400)。藉此，區域設定部(120)能接收指定週期比較區域及單元間比較區域以使單元區域(210-1~210-15)各自中的週期比較區域之相對位置及單元間比較區域之相對位置相同的輸入。
作為另一例，由區域設定部(120)接收之輸入不僅可對於所獲得之影像指定複數個經區分之下位區域，而且亦可於經區分之下位區域中之至少2個下位區域內指定相同的週期比較區域之相對位置，對經區分之下位區域分別指定不同的單元間比較區域之相對位置。與此不同，區域設定部(120)所接收之輸入可於對於所獲得之影像指定複數個經區分之下位區域時，對所區分之下位區域分別指定不同的週期比較區域之相對位置，且能對經區分之下位區域中之至少2個下位區域指定相同的單元間比較區域之相對位置。
繼而，對於週期比較區域與單元間比較區域進行更具體的考察。如圖4之影像(410)所示，單元區域(210-1~210-15)各自可區分為包含ITO(Indium Tin Oxide，氧化銦錫)圖案、金屬圖案等電極圖案之區域 (411)、及不含此種電極圖案之區域(412)。而且，於不含電極圖案之區域(412)內，可存在兩個孔(hole)(例如，光入射至內設於單元區域內使用之電子設備上之相機的相機孔及自該電子設備射出紅外線之IR孔)(413、414)、標誌(logo)(415)、標記(mark)(416)及/或與單元區域相關之特定符號(417)。
用於根據影像偵測缺陷之通常方式中之一種係於所獲得之影像中以預先設定之橫及/或縱方向之像素週期單位對週期比較區域內之像素進行檢測。例如，此種橫/縱週期比較法中，於將X軸方向之a個像素及Y軸方向之b個像素之影像部分與周邊之相同大小之影像部分進行比較而彼此對應之位置之像素不同時，判定為有缺陷。然而，難以對於存在電極圖案之區域(411)、存在孔(413、414)、標誌(415)、標記(416)及符號(417)之單元區域(210-1~210-15)之影像統一地應用橫/縱週期比較法，其原因在於，利用該比較法時，有時會判定正常之單元區域中亦有缺陷。
取而代之，區域設定部(120)亦可於使用者介面(400)上，對於由使用者獲得之影像指定週期比較區域及單元間比較區域。例如，可如圖5所示，使用者將區域(512、513、514、515、516、517)之檢測方法設定為橫/縱週期比較法時、區域(511、518、519、520)之檢測方法設定為單元間比較法的輸入提供給區域設定部(120)。例如，單元間比較法可於所獲得之影像中，於觸控板用玻璃片(200)上之單元區域中之3個以上之單元區域之間對單元間比較區域進行比較。例如，可採用對於與單元區域(210-2)及其左右之鄰接之單元區域(210-1及210-3)內之區域(511、518、519、520)對應的影像部分進行圖案比較而偵測缺陷從而識別缺陷之 位置的單元間比較法。
而且，由區域設定部(120)接收之輸入亦可為對於所獲得之影像指定非檢測區域的輸入。例如，區域設定部(120)可接收指定為省略區域(521)之影像檢測的輸入。
進而，由區域設定部(120)接收之輸入亦可為當對於所獲得之影像指定複數個經區分之下位區域時、指定經區分之下位區域各自之非檢測區域的輸入。此時，於經區分之下位區域中之至少2個下位區域內，可分別含有單位單元圖案(例如，於所指定之非檢測區域內具有不同圖案的單位單元圖案及/或於除所指定之非檢測區域之外的區域內具有相同圖案的單位單元圖案)。
另一方面，區域設定部(120)可藉由使用者於使用者介面(400)上指定出單元間比較區域內部之彼此區分之檢測區域及與該檢測區域對應之不同檢測條件。例如，區域(511)內之類型彼此不同之圖案(例如，ITO圖案與金屬圖案)的檢測條件有時彼此不同，其原因在於，即便某一種圖案有缺陷，其亦可發揮功能，而另一種圖案則並非如此。因此，如圖6所示，使用者可於圖案部位分別設定檢測區域(611、612、613)，且透過使用者介面(400)將對於各檢測區域設定不同檢測條件之輸入提供給區域設定部(120)。
缺陷偵測部(130)構成為，進行於由影像獲得部(110)獲得之影像中利用橫/縱週期比較法對週期比較區域內之像素進行比較的第1影像檢測、及於該影像中利用單元間比較法對單元間比較區域進行比較的第2影像檢測中之至少一個，而偵測缺陷。例如，缺陷偵測部(130)可利 用自區域設定部(120)接收之輸入而對單元區域(210-1~210-15)各自之影像進行第1影像檢測及第2影像檢測中之至少一個。而且，缺陷偵測部(130)可根據針對單元間比較區域中之檢測區域分別不同之檢測條件來判定有無缺陷。另一方面，缺陷偵測部(130)可省略對於非檢測區域之影像檢測(例如，第1影像檢測及第2影像檢測)。進而，於區域設定部(120)接收對於由影像獲得部(110)獲得之影像指定複數個經區分之下位區域的輸入時，缺陷偵測部(130)可對於下位區域分別進行第1影像檢測及第2影像檢測。
構成為，於缺陷偵測部(130)藉由第1影像檢測及第2影像檢測中之至少一個而偵測缺陷時，輸出部(140)顯示所偵測到之缺陷的位置。例如，如圖7所示，輸出部(140)可提供顯示出對於單元區域(210-1~210-15)所偵測到之缺陷位於什麼位置的使用者介面(700)。
而且，輸出部(140)可響應與表示某一缺陷之位置的顯示對應的使用者選擇而顯示該缺陷之影像。當產生缺陷之單元區域之影像具有相當大的容量時，與顯示該影像之情況相比，顯示包含缺陷之一部分影像之情況下對觸控板檢測裝置(100)的負擔更少。
例如，假設圖7之使用者介面(700)中所示之圖形表達(701)顯示出利用橫/縱週期比較法偵測到之第1缺陷的位置，圖形表達(702)顯示出利用單元間週期比較法偵測到之第2缺陷的位置。根據圖7可知，第1缺陷及第2缺陷產生於單元區域(210-7)上。若使用者於使用者介面(700)上選擇圖形表達(701)，則輸出部(140)可響應上述使用者選擇而顯示表示第1缺陷的影像。例如，圖8中表示表現該單元區域之標題及表現第1 缺陷及周邊部分之影像(800)。若使用者於使用者介面(700)上選擇圖形表達(702)，則輸出部(140)可響應上述使用者選擇而顯示表示第2缺陷之影像。例如，圖9中表示表現該單元區域之標題、及表現第2缺陷及預先設定之大小之周邊部分的影像(900)。進而，為了方便使用者，輸出部(140)可顯示表示利用單元間比較法進行比較之周邊單元區域內之對應部分的影像。例如，當利用單元間比較法對單元區域(210-7)與單元區域(210-8、210-9)進行比較時，輸出部(140)亦可顯示表示單元區域(210-8)之一部分的影像(例如，圖9之影像(910))及表示單元區域(210-9)之一部分的影像(例如，圖9之影像(920))，該影像表示與單元區域(210-7)上之第2缺陷對應的部分。
而且，本發明之另一實施例提供一種觸控板檢測方法，其包含如下階段：獲得將包含複數個單元區域之觸控板用玻璃片作為一個整體區域進行攝像、或分割為經區分之區域進行攝像所得的影像；接收對於上述影像指定週期比較區域及單元間比較區域的輸入；及進行用以於上述影像中以預先設定之週期單位對上述週期比較區域內之像素進行比較的第1影像檢測、及用以於上述影像中在上述複數個單元區域中之至少3個單元區域之間對上述單元間比較區域進行比較的第2影像檢測中之至少一個，而偵測上述玻璃片上的缺陷。例如，此種觸控板檢測方法可使用本發明之一實施例之觸控板檢測裝置(例如，上述觸控板檢測裝置(100))而實施。
以上，已對本發明之代表性實施例進行了詳細說明，但具備本發明所屬技術領域之普通知識者可理解，能於不脫離本發明之範疇之限度內對上述實施例實施多種變形。因此，本發明之權利範圍並不限於所說 明之實施例，不僅藉由後述之專利申請範圍，而且還藉由與該專利申請範圍等價者等決定。
100‧‧‧觸控板檢測裝置
110‧‧‧影像獲得部
120‧‧‧區域設定部
130‧‧‧缺陷偵測部
140‧‧‧輸出部

Claims (28)

  1. 一種觸控板檢測裝置，其包含：影像獲得部，其獲得將包含複數個單元區域之觸控板用玻璃片(glass sheet)作為一個整體區域進行攝像、或分割為經區分之區域而進行攝像所得之影像；區域設定部，其接收對於上述影像指定週期比較區域及單元間(cell-to-cell)比較區域之輸入；及缺陷偵測部，其進行用以於上述影像中以預先設定之週期單位對上述週期比較區域內之像素進行比較之第1影像檢測、及用以於上述影像中在上述複數個單元區域中之至少3個單元區域之間對上述單元間比較區域進行比較之第2影像檢測中之至少一個，而偵測上述玻璃片上之缺陷。
  2. 如申請專利範圍第1項之觸控板檢測裝置，其中，上述影像獲得部包含：輸入部，其使用上述玻璃片之佈局資訊識別上述複數個單元區域；及攝像機器，其對所識別之上述複數個單元區域進行攝像而獲得上述影像。
  3. 如申請專利範圍第1項之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係於上述單元間比較區域內指定檢測區域及與上述檢測區域對應之不同之檢測條件，上述缺陷偵測部根據上述檢測條件而進行上述第2影像檢測。
  4. 如申請專利範圍第1項之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定非檢測區域，上述缺陷偵測部對於上述非檢測區域省略影像檢測。
  5. 如申請專利範圍第1項之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，上述缺陷偵測部對於上述複數個經 區分之下位區域分別進行上述第1影像檢測及上述第2影像檢測。
  6. 如申請專利範圍第5項之觸控板檢測裝置，其中，上述複數個經區分之下位區域各自內之單位單元圖案相同。
  7. 如申請專利範圍第5項之觸控板檢測裝置，其中，上述複數個經區分之下位區域各自內之單位單元圖案係與上述複數個經區分之下位區域中之其他下位區域內之單位單元圖案不同。
  8. 如申請專利範圍第1項之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，於上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域內，指定同樣之上述週期比較區域之相對位置，對於上述複數個經區分之下位區域分別指定不同之上述單元間比較區域之相對位置。
  9. 如申請專利範圍第1項之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，對於上述複數個經區分之下位區域分別指定不同之上述週期比較區域之相對位置，於上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域內，指定同樣之上述單元間比較區域之相對位置。
  10. 如申請專利範圍第1項之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，且上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域各自含有單位單元圖案。
  11. 如申請專利範圍第10項之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係指定上述複數個經區分之下位區域各自之非檢測區域，上述至少2個經區分之下位區域各自之除上述非檢測區域之外之區域內含有具有相同圖案之單位 單元圖案，上述缺陷偵測部對於上述非檢測區域省略影像檢測。
  12. 如申請專利範圍第1項之觸控板檢測裝置，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域且指定上述複數個經區分之下位區域各自之非檢測區域，上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域中之上述非檢測區域內含有具有不同圖案之單位單元圖案，上述缺陷偵測部對上述非檢測區域省略影像檢測。
  13. 如申請專利範圍第1項之觸控板檢測裝置，其中，上述缺陷偵測部更包含輸出部，該輸出部係顯示藉由上述第1影像檢測及上述第2影像檢測中之至少一個所偵測到之缺陷之位置。
  14. 如申請專利範圍第13項之觸控板檢測裝置，其中，上述輸出部響應與上述顯示對應之選擇而顯現表示上述缺陷之影像。
  15. 一種觸控板檢測方法，其包含如下階段：獲得將包含複數個單元區域之觸控板用玻璃片作為一個整體區域進行攝像、或分割為經區分之區域而進行攝像所得之影像之階段；接收對於上述影像指定週期比較區域及單元間比較區域之輸入之階段；及藉由進行用以於上述影像中以預先設定之週期單位對上述週期比較區域內之像素進行比較之第1影像檢測、及於上述影像中在上述複數個單元區域中之至少3個單元區域之間對上述單元間比較區域進行比較之第2影像檢測中之至少一個，而偵測上述玻璃片上之缺陷之階段。
  16. 如申請專利範圍第15項之觸控板檢測方法，其中，上述獲得階段包含如下階段：使用上述玻璃片之佈局資訊識別上述複數個單元區域；及對 所識別之上述複數個單元區域進行攝像而獲得上述影像。
  17. 如申請專利範圍第15項之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係於上述單元間比較區域內指定檢測區域及與上述檢測區域對應之不同之檢測條件，上述第2影像檢測係根據上述檢測條件進行。
  18. 如申請專利範圍第15項之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於上述影像指定非檢測區域，上述偵測階段對於上述非檢測區域省略影像檢測。
  19. 如申請專利範圍第15項之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，上述偵測階段包含針對上述複數個經區分之下位區域分別進行上述第1影像檢測及上述第2影像檢測之階段。
  20. 如申請專利範圍第19項之觸控板檢測方法，其中，上述複數個經區分之下位區域各自內之單位單元圖案相同。
  21. 如申請專利範圍第19項之觸控板檢測方法，其中，上述複數個經區分之下位區域各自內之單位單元圖案係與上述複數個經區分之下位區域中之其他下位區域內之單位單元圖案不同。
  22. 如申請專利範圍第15項之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，於上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域內指定同樣之上述週期比較區域之相對位置，對於上述複數個經區分之下位區域分別指定不同之上述單元間比較區域之相對位置。
  23. 如申請專利範圍第15項之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於 上述影像指定複數個經區分之下位區域，對於上述複數個經區分之下位區域分別指定不同之上述週期比較區域之相對位置，於上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域內，指定同樣之上述單元間比較區域之相對位置。
  24. 如申請專利範圍第15項之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域分別含有單位單元圖案。
  25. 如申請專利範圍第24項之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係指定上述複數個經區分之下位區域各自之非檢測區域，上述至少2個經區分之下位區域各自之除上述非檢測區域之外之區域內含有具有相同圖案之單位單元圖案，上述偵測階段對於上述非檢測區域省略影像檢測。
  26. 如申請專利範圍第15項之觸控板檢測方法，其中，上述輸入係對於上述影像指定複數個經區分之下位區域，且指定上述複數個經區分之下位區域各自之非檢測區域，上述複數個經區分之下位區域中之至少2個下位區域各自之上述非檢測區域內含有具有不同圖案之單位單元圖案，上述偵測階段對於上述非檢測區域省略影像檢測。
  27. 如申請專利範圍第15項之觸控板檢測方法，其中，更包含顯示藉由上述第1影像檢測及上述第2影像檢測中之至少一個而偵測到之缺陷之位置之階段。
  28. 如申請專利範圍第27項之觸控板檢測方法，其中，更包含顯現響應與上述顯示對應之選擇而表示上述缺陷之影像之階段。
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