CN108469437B - 浮法玻璃的缺陷检测方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种浮法玻璃的缺陷检测方法及装置，该方法包括：实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像；将目标图像划分为多个检测区域；若目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量不符合预设数量，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。本发明实施例提供的技术方案，通过调整缺陷监测设备对单个缺陷的尺寸与预设尺寸不符，和/或缺陷的数量与预设数量不符合的检测区域的检测灵敏度，来减少缺陷检测设备传输堵塞及卡死现象的同时，达到提高缺陷检测质量的技术效果。

Description

浮法玻璃的缺陷检测方法及装置
技术领域
本发明实施例涉及玻璃检测技术领域，尤其涉及一种浮法玻璃的缺陷检测方法及装置。
背景技术
超薄浮法玻璃多应用于电子产品，对浮法玻璃质量要求较高，在出炉之后，切割之前，需要对浮法玻璃的质量进行检测，以使切割的浮法玻璃是质量达标的浮法玻璃。
现有技术中，通过获取浮法玻璃的图像，对图像进行分析，得出玻璃的质量检测报告，但是在玻璃的检测过程中，很容易导致缺陷检测设备死机的现象。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了一种浮法玻璃的缺陷检测方法及装置，在减少缺陷检测设备传输堵塞及卡死现象的同时，达到提高缺陷检测质量的技术效果。
第一方面，本发明实施例提供了一种浮法玻璃的缺陷检测方法，包括：
实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像；
将所述目标图像划分为多个检测区域；
若所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量不符合预设数量，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，若所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸大于预设尺寸，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量大于预设数量，降低缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，若所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸小于预设尺寸，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量小于预设数量，提高缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，所述调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度具体包括：
获取所述单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，所述缺陷的数量不符合预设数量的检测区域对应的坐标；
根据所述坐标，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，所述实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像具体包括：
实时采集所述待测浮法玻璃表面的透射光和反射光；
实时生成所述待测浮法玻璃的目标图像；
实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像。
可选的，所述缺陷包括所述测浮法玻璃存在翘曲、抖动、灰尘、气泡、夹杂物、锡点以及划伤中的一种或者多种。
第二方面，本发明实施例提供了一种浮法玻璃的缺陷检测装置，包括：
图像获取模块，用于实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像；
区域划分模块，所述区域划分模块与所述图像获取模块相连，用于将所述目标图像划分为多个检测区域；
灵敏度调整模块，与所述区域划分模块相连，用于若所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量不符合预设数量，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，所述灵敏度调整模块包括灵敏度降低单元，用于在所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸大于预设尺寸时，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量大于预设数量时，降低缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，所述灵敏度调整模块包括灵敏度提高单元，用于在所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸小于预设尺寸时，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量小于预设数量时，提高缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，所述灵敏度调整模块具体用于获取所述单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，所述缺陷的数量不符合预设数量的检测区域对应的坐标并根据所述坐标，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，所述图像获取模块包括光采集单元、图像生成单元和图像获取单元；
所述光采集单元用于实时采集所述待测浮法玻璃表面的透射光和反射光；
所述图像生成单元与所述光采集单元相连，用于实时生成所述待测浮法玻璃的目标图像；
所述图像获取单元与所述图像生成单元相连，用于实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像。
本发明实施例提供的技术方案，通过将待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像划分为多个检测区域，根据任意一个检测区域内的单个缺陷的尺寸与预设尺寸的比较，和/或任意一个检测区域内缺陷的数量与预设数量的比较，来调整缺陷监测设备对单个缺陷的尺寸与预设尺寸不符，和/或缺陷的数量与预设数量不符合的检测区域的检测灵敏度，来减少缺陷检测设备传输堵塞及卡死现象的同时，达到提高缺陷检测质量的技术效果。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种浮法玻璃的缺陷检测方法的流程示意图；
图2为本发明实施例二提供的一种浮法玻璃的缺陷检测方法的流程示意图；
图3为本发明实施例三提供的一种浮法玻璃的缺陷检测方法的流程示意图；
图4为本发明实施例四提供的一种浮法玻璃的缺陷检测装置的结构框图；
图5为本发明实施例四提供的又一种浮法玻璃的缺陷检测装置的结构框图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
需要说明的是，浮法玻璃从退火窑生产出来时为连续的玻璃带，横切机在生产线冷端分片，将缺陷检测设备布置在退火窑和横切机之间。
实施例一
图1为本发明实施例提供的一种浮法玻璃的缺陷检测方法的流程示意图。参见图1，该浮法玻璃的缺陷检测方法包括如下步骤：
步骤110、实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像。
在本实施例中，采用机器视觉技术来对浮法玻璃的表面缺陷进行检测。采用机器视觉技术利用机器代替人员来做测量和判断。在本实施例中，采用待测浮法玻璃上方的成排的工业相机来获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像。
步骤120、将目标图像划分为多个检测区域。
在本实施例中，目标图像包含的检测区域的数量以及区域的大小，本领域技术人员可以根据实际情况进行决定。示例性的，可以将目标图像均分成多个检测区域。可选的，可以将目标图像均分成多个检测区域，每个检测区域为目标图像的一个单位面积，例如单位面积为一平方毫米、一平方厘米或者一平方分米等。
步骤130、若目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量不符合预设数量，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
在本实施例中，根据检测区域内单个缺陷的尺寸以及检测区域内缺陷的数量与预设尺寸和预设数量的大小关系来调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。示例性的，目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸大于预设尺寸时，说明该检测区域内的缺陷可能包括以下情况：浮法玻璃表面有翘曲或者浮法玻璃在检测产线上运动时发生抖动的情况。目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量大于预设数量时，说明浮法玻璃表面的灰尘比较厚。
在此需要说明的是，工业相机拍摄待测浮法玻璃的待检测表面形成目标图像时，工业相机成像的焦距与工业相机和待测浮法玻璃表面的距离有关系。当浮法玻璃表面有翘曲或者浮法玻璃在检测产线上运动时发生抖动时，工业相机与其待测浮法玻璃表面的距离与没有翘曲以及没有在检测产线上运动时发生抖动的浮法玻璃的表面距离不一样，因此其焦距也会不一样，进而导致工业相机成像的大小不同，缺陷检测设备面对同一浮法玻璃的目标图像的不同检测区域的图像区域大小不同，缺陷检测设备的检测系统就会发生瘫痪，出现死机现象，因此需要调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，示例性的可以调整缺陷检测设备对该检测区域的放大倍数，进而调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，促使缺陷检测设备对该检测区域的缺陷检测完成。
可选的，若目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸大于预设尺寸，可以降低缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，促使缺陷检测设备对该检测区域的缺陷检测完成，避免了缺陷检测设备的检测系统发生瘫痪，出现死机的现象。其中，降低缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，示例性的，可以降低缺陷检测设备对于该检测区域的放大倍数。
当目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量大于预设数量时，一方面，进入工业相机的光强较弱，工业相机拍摄的待测浮法玻璃表面的图像的亮度较小，目标图像的画面质量不好。另一方面，缺陷检测设备检测到的该检测区域内缺陷的数量大于预设数量，缺陷检测设备的检测系统就会发生瘫痪，出现死机现象，因此需要调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，示例性的可以调整缺陷检测设备对该检测区域的放大倍数，进而调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，若目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量大于预设数量，降低缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，促使缺陷检测设备对该检测区域的缺陷检测完成，避免了缺陷检测设备的检测系统发生瘫痪，出现死机的现象。其中，降低缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，示例性的，可以降低缺陷检测设备对于该检测区域的放大倍数。
示例性的，若目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸大于预设尺寸，和/或，目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量大于预设数量时，缺陷检测设备的显示屏上会对该检测区域标记，例如标记为红色，检测人员还可以根据显示屏上的标记区域对该检测区域进行检测灵敏度的调整。
示例性的，若目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸小于预设尺寸，和/或，目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量小于预设数量，可能说明待测浮法玻璃内的缺陷很小，在当前灵敏度下，不能很好的检测缺陷的类型和尺寸，可选的，缺陷包括气泡、夹杂物、锡点以及划伤中的一种或者多种。因此，需要调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，示例性的可以调整缺陷检测设备对该检测区域的放大倍数，进而调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，避免缺陷检测设备对于微小缺陷漏检的情况，达到提高缺陷检测质量的技术效果。
可选的，若目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸小于预设尺寸，和/或，目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量小于预设数量，提高缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。示例性的，可以提高缺陷检测设备对于该检测区域的放大倍数，避免缺陷检测设备对于微小缺陷漏检的情况，达到提高缺陷检测质量的技术效果。
需要说明的是，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，示例性的可以调整缺陷检测设备对该检测区域的放大倍数，为了显示清晰的目标图像，还可以调整其灰度值以及亮度值等其它参数。
现有技术的缺陷检测设备并不能对待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像的某一个检测区域调整其检测灵敏度，面对目标区域检测到的众多缺陷，只能整体调整检测灵敏度，将每一个缺陷都检测出来，需要的时间成本很高，且检测效率较低。
本发明实施例提供的浮法玻璃的缺陷检测方法，将待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像划分为多个检测区域，根据任意一个检测区域内的单个缺陷的尺寸与预设尺寸的比较，和/或任意一个检测区域内缺陷的数量与预设数量的比较，来调整缺陷监测设备对单个缺陷的尺寸与预设尺寸不符，和/或缺陷的数量与预设数量不符合的检测区域的检测灵敏度，来减少缺陷检测设备传输堵塞及卡死现象的同时，达到提高缺陷检测质量的技术效果。
实施例二
在上述实施例的基础上，本发明实施例提供了一种浮法玻璃的缺陷检测方法的流程示意图，参见图2，该浮法玻璃的缺陷检测方法包括如下步骤：
步骤210、实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像。
步骤220、将目标图像划分为多个检测区域。
步骤230、获取单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，缺陷的数量不符合预设数量的检测区域对应的坐标。
在本实施例中，在待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像建立平面直角坐标系，包括X方向和Y方向，获取单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，缺陷的数量不符合预设数量的检测区域对应的坐标，即获取单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，缺陷的数量不符合预设数量的检测区域在直角坐标系中的X方向的值和Y方向的值。
步骤240、根据坐标，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
根据获取单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，缺陷的数量不符合预设数量的检测区域在直角坐标系中的X方向的值和Y方向的值，来判断获取单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，缺陷的数量不符合预设数量的检测区域的位置，进而调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
本发明实施例提供的浮法玻璃的缺陷检测方法，在上述实施例的基础上，获取单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，缺陷的数量不符合预设数量的检测区域对应的坐标，准确找到该检测区域，并调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，来减少缺陷检测设备传输堵塞及卡死现象的同时，达到提高缺陷检测质量的技术效果。
实施例三
在上述实施例的基础上，本发明实施例提供了一种浮法玻璃的缺陷检测方法的流程示意图，参见图3，该浮法玻璃的缺陷检测方法包括如下步骤：
步骤310、实时采集待测浮法玻璃表面的透射光和反射光。
步骤320、实时生成待测浮法玻璃的目标图像。
步骤330、实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像。
在本实施例中，通过实时采集待测浮法玻璃表面的透射光和反射光，来生成并实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像，相比仅仅采集透射光，增加了获取到的目标图像的光强，进而提高获得的目标图像的图像质量。
步骤340、将目标图像划分为多个检测区域。
步骤350、若目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量不符合预设数量，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
本发明实施例提供的浮法玻璃的缺陷检测方法，在上述实施例的基础上，通过实时采集待测浮法玻璃表面的透射光和反射光，来生成并实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像，相比仅仅采集透射光，增加了获取到的目标图像的光强，进而提高获得的目标图像的图像质量，达到提高缺陷检测质量的技术效果。
实施例四
基于上述实施例，本发明实施例提供了一种浮法玻璃的缺陷检测装置，参见图4，该浮法玻璃的缺陷检测装置包括：图像获取模块410，用于实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像。区域划分模块420与图像获取模块410相连，用于将目标图像划分为多个检测区域。灵敏度调整模块430，与区域划分模块420相连，用于若目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量不符合预设数量，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
本发明实施例提供的浮法玻璃的缺陷检测装置，通过将待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像划分为多个检测区域，根据任意一个检测区域内的单个缺陷的尺寸与预设尺寸的比较，和/或任意一个检测区域内缺陷的数量与预设数量的比较，来调整缺陷监测设备对单个缺陷的尺寸与预设尺寸不符，和/或缺陷的数量与预设数量不符合的检测区域的检测灵敏度，来减少缺陷检测设备传输堵塞及卡死现象的同时，达到提高缺陷检测质量的技术效果。
可选的，参见图5，在上述技术方案的基础上，灵敏度调整模块430包括灵敏度降低单元4301，用于在目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸大于预设尺寸时，和/或，目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量大于预设数量时，降低缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，在上述技术方案的基础上，灵敏度调整模块430包括灵敏度提高单元4302，用于在目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸小于预设尺寸时，和/或，目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量小于预设数量时，提高缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，在上述技术方案的基础上，灵敏度调整模块430具体用于获取单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，缺陷的数量不符合预设数量的检测区域对应的坐标并根据坐标，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
可选的，在上述技术方案的基础上，图像获取模块410包括光采集单元4101、图像生成单元4102和图像获取单元4103，光采集单元4101用于实时采集所述待测浮法玻璃表面的透射光和反射光。图像生成单元4102与光采集单元4101相连，用于实时生成所述待测浮法玻璃的目标图像。图像获取单元4103与图像生成单元相连，用于实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (8)

1.一种浮法玻璃的缺陷检测方法，其特征在于，包括：
实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像；
将所述目标图像划分为多个检测区域；
若所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量不符合预设数量，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度；
若所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸大于预设尺寸，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量大于预设数量，降低缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度；
其中，所述降低缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，包括：降低缺陷检测设备对于该检测区域的放大倍数。
2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，
若所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸小于预设尺寸，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量小于预设数量，提高缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，
所述调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度具体包括：
获取所述单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，所述缺陷的数量不符合预设数量的检测区域对应的坐标；
根据所述坐标，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
4.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，
所述实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像具体包括：
实时采集所述待测浮法玻璃表面的透射光和反射光；
实时生成所述待测浮法玻璃的目标图像；
实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像。
5.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，
所述缺陷包括所述测浮法玻璃存在翘曲、抖动、灰尘、气泡、夹杂物、锡点以及划伤中的一种或者多种。
6.一种浮法玻璃的缺陷检测装置，其特征在于，包括：
图像获取模块，用于实时获取待测浮法玻璃的待检测表面的目标图像；
区域划分模块，所述区域划分模块与所述图像获取模块相连，用于将所述目标图像划分为多个检测区域；
灵敏度调整模块，与所述区域划分模块相连，用于若所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量不符合预设数量，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度；
所述灵敏度调整模块包括灵敏度降低单元，用于在所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸大于预设尺寸时，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量大于预设数量时，降低缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度；
其中，所述降低缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度，包括：降低缺陷检测设备对于该检测区域的放大倍数。
7.根据权利要求6所述的缺陷检测装置，其特征在于，
所述灵敏度调整模块包括灵敏度提高单元，用于在所述目标图像的任意一个检测区域内单个缺陷的尺寸小于预设尺寸时，和/或，所述目标图像的任意一个检测区域内缺陷的数量小于预设数量时，提高缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
8.根据权利要求6所述的缺陷检测装置，其特征在于，
所述灵敏度调整模块具体用于获取所述单个缺陷的尺寸不符合预设尺寸，和/或，所述缺陷的数量不符合预设数量的检测区域对应的坐标并根据所述坐标，调整缺陷检测设备对该检测区域的检测灵敏度。
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