TW201605129A - 電連接器及其端子 - Google Patents
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Abstract
一種電連接器端子,用於連接晶片模組至電路板,包括上端子、下端子及位於兩者之間的彈性件,上端子包括彼此連接的第一連接部及第一接觸部,且第一接觸部的寬度較小,第一連接部連接晶片模組,下端子包括彼此連接的第二連接部及第二接觸部,第二連接部在靠近第二接觸部處設有寬度增大的加寬部,第二連接部連接電路板,第二接觸部圍成容納第一接觸部的收容部,彈性件係套設於第一連接部,其中,第一連接部設有垂直寬度方向凸伸的突起。
Description
本發明涉及一種電連接器,尤其涉及一種測試用電連接器。
一種電連接器,係用於電性連接晶片模組連接至電路板,以實現對晶片模組的測試。該電連接器包括基座、安裝於基座的外殼、位於基座內部的本體及保持於本體的導電端子,導電端子大致呈“C”形的弧狀。在晶片模組插入時,導電端子發生彈性變形,彈性力作為對接的保持力。但一旦端子發生偏斜,彎曲時就容易發生短路,嚴重時則會燒燬電連接器及晶片模組。
所以,有必要設計出一種新的電子設備以解決上述技術問題。
本發明所要解決的技術問題在於提供一種具有良好測試性能的電連接器。
為解決上述技術問題,本發明採用如下技術方案: 一種電連接器端子,用於連接晶片模組至電路板,包括上端子、下端子及位於兩者之間的彈性件,上端子包括彼此連接的第一連接部及第一接觸部,且第一接觸部的寬度較小,第一連接部連接晶片模組,下端子包括彼此連接的第二連接部及第二接觸部,第二連接部在靠近第二接觸部處設有寬度增大的加寬部,第二連接部連接電路板,第二接觸部圍成容納第一接觸部的收容部,彈性件係套設於第一連接部,其中,第一連接部設有垂直寬度方向凸伸的突起。
相較於習知技術,本發明電連接器具有如下有益效果:電連接器的端子結構簡單且保證了電性連接的穩定性,提供了良好的測試性能。
第一圖係本發明電連接器鎖釦部關閉時的立體圖。
第二圖係本發明電連接器鎖釦部打開時的立體圖。
第三圖係第一圖的分解圖。
第四圖係本發明電連接器之保持件之立體圖。
第五圖係本發明電連接器端子之立體分解圖。
第六圖係第五圖之組裝圖。
第七圖係本發明電連接器裝入晶片模組之部分剖視之示意圖。
如第一圖,本發明揭示了測試用電連接器100,用於電性連接晶片模組(未圖示)至電路板(未圖示),其包括基座10、安裝於基座底部的底板20、安裝於基座上方且可相對基座上下滑動的外殼30經底板焊接至電路板的端子40、保持上述端子的保持件50。
基座10呈中空的框體狀,其具有上下貫通的內腔101。底板20自下向上安裝於基座10,一對扣持臂21卡扣於基座左右兩側。外殼30則自上向下組裝并通過彈性件31固定於基座10,且可壓縮彈性件并向下運動。
一對鎖釦部60包括鎖釦臂63、穿設於鎖釦臂一端的第一樞軸61及第二樞軸62。基座在其前後兩側均設有豎直的導軌31,第一樞軸61收容於該導軌31內,第二樞軸62則連接至外殼30。當外殼相對基座上下運動時,鎖釦臂63相對第一樞軸61旋轉,從而實現晶片模組的鎖釦或解鎖。
請結合第三圖所示,保持件50包括上保持件51、下保持件52及位於上保持件上方的支撐件53,當然,在其他實施例中,支撐件53也可以省去。上保持件51包括均呈長方體的第一保持件511及第二保持件512,第一保持件511具有自其下表面的兩對角處凸伸的柱體513,第二保持件512上表面對應位置凹設有收容孔514,用於收容前述柱體,從而限制兩保持件在水平方向上的相對運動。當然,如第三圖所示,第一保持件未設置柱體513的另外兩個對角處亦可設置收容孔,第二保持件則對應設置柱體,以獲得更好的保持效果。下保持件52包括第三保持件521及第四保持件522,第三、第四保持件的相互固定的方式類似第一、第二保持件,此處不再贅述。保持件50、底板20及支撐件30共同形成收容導電端子的端子槽501,換言之,該端子槽501貫穿第一、第二、第三、第四保持件、保持件及支撐件。
參看第四圖,導電端子40包括上端子41、下端子42及位於兩端子之間的彈簧43。上端子包括一端相連的第一連接部411及第一接觸部412,第一接觸部較第一連接部的寬度小,第一接觸部遠離第一連接部的一端設有寬度變小的第一接觸端414,接觸端414呈較彎曲的弧狀。第一連接部沿垂直於寬度方向(即厚度方向)凸伸形成的突起413。下端子包括一端相連的第二連接部421及第二接觸部422,第二接觸部422三面封閉而定義了呈“匚”形的收容部425。第二接觸部頂端設置有尺寸較小的尖端423。彈簧套設於尖端423及第一接觸部412,且被保持於第一連接部411的下端及第二連接部422的上端之間。第二連接部在靠近第二接觸部處設有加寬部424。結合第七圖,加寬部424卡持於第四保持件522,從而防止在對接時造成第二連接部421的移動,避免破壞其與印刷電路板的焊接。
下面介紹導電端子40與保持件50的組裝過程,上端子41首先自上向下插入第二保持件512,第一保持件511則自上端子頂端(即第一連接部的自由末端)向第二保持件組裝,直至其下表面抵壓於第二保持件的上表面。突起413卡持於端子槽501的上端。下端子42具體的組裝方式大致與上端子41相同,首先與第四保持件522組裝,再安裝至第三保持件521,加寬部424卡持於端子槽的下開口處。待上下端子完成組裝後,上保持件51再與下保持件52配接,其中第一接觸部412對準第二接觸部422,彎曲的接觸端414則位於收容部425內。第一連接部411自支撐板53穿過而最終裸露於支撐板53的上側,從而與晶片模組對接;第二連接部421則通過底板而突出於基座10的底面,以與印刷電路板連接。值得注意的是,相鄰端子相互垂直,即其厚度方向互相垂直。
第一圖及第二圖分別顯示了鎖釦部60在關閉及打開狀態的不同位置。向下按壓外殼30即可打開鎖釦部60,即第二圖所示,可裝入晶片模組;安裝完成後,鬆開外殼則關閉鎖釦部,如第一圖顯示。若要取出晶片模組則過程恰好相反,在此不再贅述。
綜上所述,本發明符合發明專利要件,爰依法提出專利申請。惟以上所述者僅為本發明之較佳實施例,本發明之範圍並不以上述實施例為限,舉凡熟習本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
100‧‧‧電連接器
10‧‧‧基座
101‧‧‧內腔
20‧‧‧底板
21‧‧‧扣持臂
30‧‧‧外殼
31‧‧‧彈性件
40‧‧‧端子
41‧‧‧上端子
411‧‧‧第一連接部
412‧‧‧第一接觸部
413‧‧‧突起
414‧‧‧第一接觸端
42‧‧‧下端子
421‧‧‧第二連接部
422‧‧‧第二接觸部
423‧‧‧尖端
424‧‧‧加寬部
425‧‧‧收容部
43‧‧‧彈簧
50‧‧‧保持件
501‧‧‧端子槽
51‧‧‧上保持件
511‧‧‧第一保持件
512‧‧‧第二保持件
513‧‧‧柱體
514‧‧‧收容孔
52‧‧‧下保持件
521‧‧‧第三保持件
522‧‧‧第四保持件
53‧‧‧支撐件
60‧‧‧鎖釦部
61‧‧‧第一樞軸
62‧‧‧第二樞軸
63‧‧‧鎖釦臂
無
411‧‧‧第一連接部
413‧‧‧突起
414‧‧‧第一接觸端
421‧‧‧第二連接部
422‧‧‧第二接觸部
424‧‧‧加寬部
Claims (7)
- 一種電連接器端子,用於連接晶片模組至電路板,包括:
上端子,包括彼此連接的第一連接部及第一接觸部,且第一接觸部的寬度較小,第一連接部連接晶片模組;
下端子,包括彼此連接的第二連接部及第二接觸部,第二連接部在靠近第二接觸部處設有寬度增大的加寬部,第二連接部連接電路板,第二接觸部圍成容納第一接觸部的收容部;
彈性件,係套設於第一連接部,且保持於上端子的第一連接部與下端子的第二接觸部之間;
其中,第一連接部設有垂直寬度方向凸伸的突起。 - 如申請專利範圍第1項所述之電連接器端子,其中前述第一接觸部包括鄰接第一連接部的橋接部及滑動於收容部內的接觸端,該接觸端呈圓弧狀。
- 如申請專利範圍第2項所述之電連接器端子,其中前述接觸端與橋接部共面且呈圓弧狀。
- 如申請專利範圍第1項所述之電連接器端子,其中前述第二接觸部的自由末端設有與彈性件配合的尖端。
- 一種電連接器,用於連接晶片模組至電路板,包括:
基座,具有框狀主體及形成於框狀主體內的收容空間;
外殼,係可滑動地連接於基座;
鎖釦件,具有固定於外殼的固定端及在外殼滑動時相對固定端轉動的轉動端;
端子保持件,係固定於上述收容空間內,且定義有端子槽;
電連接器端子,包括上端子、下端子及位於兩者之間的彈性件,
其中上端子包括彼此連接的第一連接部及第一接觸部,且第一接觸部的寬度較小,第一連接部連接晶片模組,下端子包括彼此連接的第二連接部及第二接觸部,第二連接部在靠近第二連接部處設有寬度增大的加寬部,第二連接部連接電路板,第二接觸部圍成容納第一接觸部的收容部,所述加寬部固持於端子槽內。 - 如申請專利範圍第5項所述之電連接器,其中前述相鄰電連接器端子定義的寬度方向互相垂直。
- 如申請專利範圍第5項所述之電連接器,其中前述端子保持件包括固定上端子的第一保持件及保持下端子的第二保持件,第一保持件與第二保持件。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110121655A (zh) * | 2016-12-07 | 2019-08-13 | 株式会社Isc | 测试插座 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9341671B2 (en) * | 2013-03-14 | 2016-05-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Testing holders for chip unit and die package |
JP7240146B2 (ja) * | 2018-11-20 | 2023-03-15 | タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 | 基板実装型コネクタ |
KR102566041B1 (ko) * | 2019-11-05 | 2023-08-16 | 주식회사 프로웰 | 반도체 소자 테스트 장치 |
US11051436B2 (en) * | 2019-12-27 | 2021-06-29 | Intel Corporation | Modular printed circuit board separation tool |
CN115516713A (zh) * | 2020-05-01 | 2022-12-23 | 莫列斯有限公司 | 浮动插座连接器 |
Family Cites Families (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5205742A (en) | 1991-08-22 | 1993-04-27 | Augat Inc. | High density grid array test socket |
FR2802346B1 (fr) | 1999-12-13 | 2002-02-08 | Upsys Probe Technology Sas | Connecteur de test de haute densite d'interconnexion destine notamment a la verification de circuits integres |
JP3768183B2 (ja) * | 2002-10-28 | 2006-04-19 | 山一電機株式会社 | 狭ピッチicパッケージ用icソケット |
TWM249254U (en) * | 2003-04-30 | 2004-11-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector |
TWI239695B (en) * | 2003-08-11 | 2005-09-11 | Speed Tech Corp | Matrix connector |
JP4905876B2 (ja) * | 2005-10-31 | 2012-03-28 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子ホルダの製造方法および導電性接触子ホルダ |
CN201000993Y (zh) * | 2006-12-18 | 2008-01-02 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器 |
CN201029138Y (zh) | 2007-02-08 | 2008-02-27 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器端子 |
CN201054407Y (zh) * | 2007-05-22 | 2008-04-30 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器 |
TWM339117U (en) * | 2007-12-24 | 2008-08-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector and contacts thereof |
TWM344664U (en) | 2008-04-07 | 2008-11-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical contact |
TWM349590U (en) * | 2008-06-16 | 2009-01-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical contact |
CN201252196Y (zh) * | 2008-08-04 | 2009-06-03 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器 |
TWM351484U (en) * | 2008-08-11 | 2009-02-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector contact |
CN201303096Y (zh) | 2008-08-27 | 2009-09-02 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器端子 |
TWM365559U (en) * | 2009-03-02 | 2009-09-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector |
JP5361518B2 (ja) * | 2009-04-27 | 2013-12-04 | 株式会社ヨコオ | コンタクトプローブ及びソケット |
TWM373057U (en) * | 2009-07-17 | 2010-01-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector |
CN201478605U (zh) | 2009-07-17 | 2010-05-19 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器 |
TWI423532B (zh) * | 2009-08-17 | 2014-01-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 電連接器端子 |
US8710856B2 (en) * | 2010-01-15 | 2014-04-29 | LTX Credence Corporation | Terminal for flat test probe |
JPWO2011096067A1 (ja) * | 2010-02-05 | 2013-06-10 | 株式会社日本マイクロニクス | 接触子及び電気的接続装置 |
KR101154519B1 (ko) * | 2010-05-27 | 2012-06-13 | 하이콘 주식회사 | 스프링 콘택트 구조 |
TWM395930U (en) * | 2010-06-11 | 2011-01-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical contact |
US9829506B2 (en) * | 2012-04-13 | 2017-11-28 | Xcerra Corporation | Test probe assembly and related methods |
JP6011103B2 (ja) * | 2012-07-23 | 2016-10-19 | 山一電機株式会社 | コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット |
US8979564B2 (en) * | 2013-03-15 | 2015-03-17 | Data I/O Corporation | Socket having a pin plate with a port aligned with a dimple in a pocket of a base plate |
JP6269337B2 (ja) * | 2014-06-16 | 2018-01-31 | オムロン株式会社 | プローブピン、および、これを用いた電子デバイス |
-
2014
- 2014-07-23 TW TW103125202A patent/TWI573332B/zh active
-
2015
- 2015-07-23 US US14/806,914 patent/US10422816B2/en active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110121655A (zh) * | 2016-12-07 | 2019-08-13 | 株式会社Isc | 测试插座 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10422816B2 (en) | 2019-09-24 |
TWI573332B (zh) | 2017-03-01 |
US20160025775A1 (en) | 2016-01-28 |
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