TW201514441A - 測量儀器線鐳射測頭校準系統及方法 - Google Patents

Abstract

一種測量儀器線鐳射測頭校準系統，包括：第一測量模組，用於獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測得第一標準件的輪廓資料；第一計算模組，用於計算第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭之間的傾角值；第二測量模組，用於獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測量第二標準件的輪廓資料；第二計算模組，用於計算第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭的位差值和間距值；獲取模組，用於根據傾角值、位差值及間距值校準第二線鐳射測頭測量第一標準件的輪廓資料得到測量值；第三計算模組，用於根據第一標準件的測量值與標準值計算精度補償值。

Description

測量儀器線鐳射測頭校準系統及方法

本發明涉及一種測量儀器校準的系統及方法，尤其涉及一種測量儀器線鐳射測頭校準系統及方法。

目前測量儀器利用線鐳射測頭測量待測物體時，一個線鐳射測頭只能測量到該待測物體的一個表面的輪廓資料，對於同時需要測量待測物體的兩個表面的輪廓資料而得到待測物體的測量值（例如需要得到待測物體的厚度）則不能實現。當採用兩個線鐳射測頭測量待測物體兩個表面時，由於兩個線鐳射測頭安裝角度的不一致以及兩個線鐳射測頭規格的不一致，可能會造成待測物體測得的輪廓之間存在誤差，使得待測物體的測量值出現偏差

鑒於以上內容，有必要提供一種測量儀器線鐳射測頭校準系統及方法，可以對兩個線鐳射測頭測量得到的輪廓資料進行校準。

一種測量儀器線鐳射測頭校準系統，運行於測量儀器中，該測量儀器安裝有第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭，所述系統包括：第一測量模組，用於利用第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭對第一標準件進行測量，並獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測得的該第一標準件的輪廓資料；第一計算模組，用於利用第一線鐳射測頭測量第一標準件得到的輪廓資料和第二線鐳射測頭測量該第一標準件得到的輪廓資料，計算第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭之間的傾角值；第二測量模組，用於利用第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭對第二標準件進行測量，並獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測量第二標準件所得到的第二標準件的輪廓資料；第二計算模組，用於根據第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測量所述第二標準件的輪廓資料，計算出第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭的位差值和間距值；獲取模組，用於設置第一線鐳射測頭測得的所述第一標準件的輪廓資料為基準，根據所述第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭的傾角值、位差值及間距值校準第二線鐳射測頭測量第一標準件的輪廓資料，並根據第一線鐳射測頭測得的輪廓資料和校準後的第二線鐳射測頭測得的輪廓資料得到該第一標準件的測量值；及第三計算模組，用於根據所述第一標準件的測量值與該第一標準件的標準值計算精度補償值。

一種測量儀器線鐳射測頭校準方法，運行於測量儀器中，該測量儀器安裝有第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭，該方法包括：第一測量步驟，利用第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭對第一標準件進行測量，並獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測得的該第一標準件的輪廓資料；第一計算步驟，利用第一線鐳射測頭測量第一標準件得到的輪廓資料和第二線鐳射測頭測量該第一標準件得到的輪廓資料，計算第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭之間的傾角值；第二測量步驟，利用第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭對第二標準件進行測量，並獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測量第二標準件所得到的第二標準件的輪廓資料；第二計算步驟，根據第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測量所述第二標準件的輪廓資料，計算出第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭的位差值和間距值；獲取步驟，設置第一線鐳射測頭測得的所述第一標準件的輪廓資料為基準，根據所述第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭的傾角值、位差值及間距值校準第二線鐳射測頭測量第一標準件的輪廓資料，並根據第一線鐳射測頭測得的輪廓資料和校準後的第二線鐳射測頭測得的輪廓資料得到該第一標準件的測量值；及第三計算步驟，根據所述第一標準件的測量值與該第一標準件的標準值計算精度補償值。

相較於習知技術，所述測量儀器線鐳射測頭校準系統及方法，於測量儀器上安裝了兩個線鐳射測頭，實現同時量測待測物體的兩個表面的輪廓資料，並對兩個線鐳射測頭之間的誤差進行校準，使得兩個線鐳射測頭相互配合測量物體，使得測量的輪廓資料更加精確。

1‧‧‧測量儀器

10‧‧‧測量儀器線鐳射測頭校準系統

11‧‧‧第一線鐳射測頭

12‧‧‧第二線鐳射測頭

2‧‧‧第一標準件

3‧‧‧第二標準件

100‧‧‧第一測量模組

101‧‧‧第一接收模組

102‧‧‧第一判斷模組

103‧‧‧第一計算模組

104‧‧‧第二測量模組

105‧‧‧第二接收模組

106‧‧‧第二判斷模組

107‧‧‧第二計算模組

108‧‧‧獲取模組

109‧‧‧第三計算模組

圖1是本發明測量儀器線鐳射測頭校準系統較佳實施例的運行環境圖。

圖2是本發明測量儀器線鐳射測頭校準系統較佳實施例的功能模組圖。

圖3是本發明測量儀器線鐳射測頭校準方法較佳實施例的作業流程圖。

圖4是本發明中第一標準件的輪廓資料測量示意圖。

圖5是本發明中第二標準價的輪廓資料測量示意圖。

圖6是本發明中校準第二線鐳射測頭測量第一標準件得到的輪廓資料的較佳實施例示意圖。

如圖1所示，是本發明測量儀器線鐳射測頭校準系統較佳實施例的運行環境圖。該測量儀器線鐳射測頭校準系統10運行於測量儀器1上，該測量儀器1安裝了兩個線鐳射測頭，分別為第一線鐳射測頭11，第二線鐳射測頭12。該第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12位於待測物體的兩側，第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12所發射出的鐳射於待測物體上相交。所述測量儀器線鐳射測頭校準系統10利用第一標準件2和第二標準件3對該第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12進行校準補償，使得第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12於校準補償後可以精確測量待測物體。本實施例中，所述第一標準件2維上下表面平整的物體，如塊規。所述第二標準件3為表面規則的圓形物體，如標準球。

如圖2所示，是圖1中測量儀器線鐳射測頭校準系統10的功能模組圖。所述測量儀器線鐳射測頭校準系統10包括：第一測量模組100、第一接收模組101、第一判斷模組102、第一計算模組103、第二測量模組104、第二接收模組105、第二判斷模組106、第二計算模組107、獲取模組108及第三計算模組109。所述模組是具有特定功能的軟體程式段，該軟體儲存於電腦可讀儲存介質或其他儲存設備，可被電腦或其他包含處理器的計算裝置執行，從而完成本發明中測量儀器線鐳射測頭校準作業流程。

第一測量模組100用於利用第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12對第一標準件2進行測量，並分別獲取第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12測量第一標準件2所得到的第一標準件2的輪廓資料。該輪廓資料是指第一標準件2的輪廓線的資料，該輪廓線是由多個點組成，因此該輪廓資料是組成該輪廓線的輪廓點的集合。本實施例中，若所述第一標準件2為塊規，則第一線鐳射測頭11測得該塊規的上表面的輪廓資料，該第二線鐳射測頭12測得該塊規的下表面的輪廓資料，如圖4所示。

第一接收模組101用於接收用戶輸入的所述第一標準件2的待測輪廓範圍，如接收用戶輸入的塊規的上表面待測輪廓範圍和下表面的待測輪廓範圍。本實施例中，用戶可以於測量儀器1提供的介面上選擇第一標準件2的待測輪廓的起始點座標和終點座標來確定待測輪廓範圍。

第一判斷模組102用於判斷上述獲取到的第一標準件2的輪廓資料是否於用戶輸入的待測輪廓範圍內。若所述獲取到的第一標準件2的輪廓資料不於所述待測輪廓範圍內，則由第一測量模組100利用第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12對第一標準件2重新測量並獲取第一標準件2的輪廓資料，並提示用戶重新輸入所述第一標準件2的待測輪廓範圍。

第一計算模組103用於當所述第一標準件2的輪廓資料於所述待測輪廓範圍內時，利用第一線鐳射測頭11測量第一標準件2得到的輪廓資料和第二線鐳射測頭12測量該第一標準件2得到的輪廓資料，計算第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12之間的傾角值。如圖4所示，其中的L1是第一線鐳射測頭11測量第一標準件2所得到的輪廓資料所組成的線段，其中的L2是第二線鐳射測頭12測量第一標準件2所得到的輪廓資料所組成的線段。由於第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12的角度偏差，L1和L2之間亦存在夾角，該夾角即為第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12之間的傾角值。所述L1和L2是由多個點組成，每個點的座標由測量模組100的測量結果已知，因此，所述第一計算模組103即可根據該L1和L2上各個點的資料計算所述第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12之間的傾角值。

第二測量模組104用於利用第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12對第二標準件3進行測量，並獲取第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12測量第二標準件3所得到的第二標準件3的輪廓資料。該輪廓資料是指第二標準件的輪廓弧線的資料，該輪廓弧線是由多個點組成，因此該輪廓資料是組成該輪廓弧線的點的集合。

第二接收模組105用於接收用戶輸入的所述第二標準件3的待測輪廓範圍，如接收用戶輸入標準球的待測圓弧的範圍。

第二判斷模組106用於判斷上述獲取到的第二標準件3的輪廓資料是否於用戶輸入的第二標準件3的待測輪廓範圍內。若所述獲取到的第二標準件3的輪廓資料不於用戶輸入的待測輪廓範圍內，則由第二測量模組100利用第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12對該第二標準件3重新測量並獲取第二標準件3的輪廓資料，並提示用戶重新輸入所述第二標準件3的待測輪廓範圍。

第二計算模組107用於當所述獲取到的第二標準件3的輪廓資料於用戶輸入的待測輪廓範圍內時，根據所述第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12測量所述第二標準件3的輪廓資料，計算出第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12的位差值和間距值。如圖5所示，該第二計算模組107取出第一線鐳射測頭11測量到的第二標準件3的輪廓資料上的一個點，並取出第二線鐳射測頭12上測量到的第二標準件3輪廓資料上對應的一個點。本實施例中，該第二計算模組107取出第一線鐳射測頭11測量所述第二標準件3上最邊緣的點A，對應取出第二線鐳射測頭12測量所述第二標準件3上同側最邊緣的點A’。以第二標準件3的圓心為座標原點建立絕對座標系，以點A為座標原點建立第一相對座標系，以點A’為座標原點建立第二相對座標系。所述第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12的間距值即為所述點A和點A’於絕對座標系下的縱向座標值差值的絕對值，第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12的位差值為點A和點A’於絕對座標系下的橫向座標值差值的絕對值。

獲取模組108獲取第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12測量所述第一標準件2的輪廓資料，設置第一線鐳射測頭11測得的輪廓資料為基準，根據所述傾角值、位差值及間距值校準第二線鐳射測頭12測量得到的輪廓資料，並根據第一線鐳射測頭11測得的輪廓資料和校準後的第二線鐳射測頭12測得的輪廓資料得到第一標準件2的測量值。若該第一標準件2為塊規，則該測量值可以為該塊規的厚度值。

具體而言，如圖6所示，所述第一線鐳射測頭11測得的第一標準件2的輪廓資料建立的座標系為座標系M，第二線鐳射測頭12測得的第一標準件2的輪廓資料建立的座標系為座標系N。由於第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12之間存在傾角值，所述獲取模組108首先根據所述第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12之間的傾角值，將所述第二線鐳射測頭12測得的第一標準件2的輪廓資料轉動角度，使得角度與第一線鐳射測頭11測得的第一標準件2的輪廓資料角度一致。該獲取模組108再將座標系N根據位元差值和間距值平移至座標系M中，並獲取到第二線鐳射測頭12測得的第一標準件2的輪廓資料於座標系M中的輪廓資料。所述獲取模組108再根據第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12測得的第一標準件2於座標系M中的輪廓資料計算出該第一標準件2的測量值。

第三計算模組109用於根據所述第一標準件2的測量值與該第一標準件2的標準值計算精度補償值。例如，若第一標準件2的厚度測量值為4.5mm，該第一標準件2的標準厚度值為5mm，則所述精度補償值為5mm-4.5mm=0.5mm。當測量儀器1於測量待測物體時，可根據該精度補償值對待測物體的測量值進行精度補償。

如圖3所示，是本發明測量儀器線鐳射測頭校準方法較佳實施例的作業流程圖。

步驟S30，第一測量模組100利用第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12對第一標準件2進行測量，並分別獲取第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12測量第一標準件2所得到的第一標準件2的輪廓資料。該輪廓資料是指第一標準件2的輪廓線的資料，該輪廓線是由多個點組成，因此該輪廓資料是組成該輪廓線的輪廓點的集合。本實施例中，若所述第一標準件2為塊規，則第一線鐳射測頭11測得該塊規的上表面的輪廓資料，該第二線鐳射測頭12測得該塊規的下表面的輪廓資料，如圖4所示。

步驟S31，第一接收模組101接收用戶輸入的所述第一標準件2的待測輪廓範圍，如接收用戶輸入的塊規的上表面待測輪廓範圍和下表面的待測輪廓範圍。本實施例中，用戶可以於測量儀器1提供的介面上選擇第一標準件2的待測輪廓的起始點座標和終點座標來確定待測輪廓範圍。

步驟S32，第一判斷模組102判斷上述獲取到的第一標準件2的輪廓資料是否於用戶輸入的待測輪廓範圍內。若所述獲取到的第一標準件2的輪廓資料不於所述待測輪廓範圍內，則返回執行步驟S30。若所述獲取到的第一標準件2的輪廓資料於所述待測輪廓範圍內，則執行步驟S33。

步驟S33，第一計算模組103利用第一線鐳射測頭11測量第一標準件2得到的輪廓資料和第二線鐳射測頭12測量該第一標準件2得到的輪廓資料，計算第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12之間的傾角值。如圖4所示，其中的L1是第一線鐳射測頭11測量第一標準件2所得到的輪廓資料所組成的線段，其中的L2是第二線鐳射測頭12測量第一標準件2所得到的輪廓資料所組成的線段，由於第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12的角度偏差，L1和L2之間存在夾角，該夾角即為第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12之間的傾角值。所述L1和L2是由多個點組成，每個點的座標由測量模組100的測量結果已知，因此，所述第一計算模組103即可根據該L1和L2上各個點的資料計算所述第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12之間的傾角值。

步驟S34，第二測量模組104利用第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12對第二標準件3進行測量，並獲取第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12測量第二標準件3所得到的第二標準件3的輪廓資料。該輪廓資料是指第二標準件的輪廓弧線的資料，該輪廓弧線是由多個點組成，因此該輪廓資料是組成該輪廓弧線的點的集合。

步驟S35，第二接收模組105接收用戶輸入的所述第二標準件3的待測輪廓範圍，如接收用戶輸入標準球的待測圓弧的範圍。

步驟S36，第二判斷模組106判斷上述獲取到的第二標準件3的輪廓資料是否於用戶輸入的第二標準件3的待測輪廓範圍內。若所述獲取到的第二標準件3的輪廓資料不於用戶輸入的待測輪廓範圍內，則返回執行步驟S34。若所述獲取到的第二標準件3的輪廓資料於用戶輸入的待測輪廓範圍內，則執行步驟S37。

步驟S37，第二計算模組107根據所述第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12測量所述第二標準件3的輪廓資料，計算出第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12的位差值和間距值。如圖5所示，該第二計算模組107取出第一線鐳射測頭11測量到的第二標準件3的輪廓資料上的一個點，並取出第二線鐳射測頭12上測量到的第二標準件3輪廓資料上對應的一個點。本實施例中，該第二計算模組107取出第一線鐳射測頭11測量所述第二標準件3上最邊緣的點A，對應取出第二線鐳射測頭12測量所述第二標準件3上同側最邊緣的點A’。以第二標準件3的圓心為座標原點建立絕對座標系，以點A為座標原點建立第一相對座標系，以點A’為座標原點建立第二相對座標系。所述第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12的間距值即為所述點A和點A’於絕對座標系下的縱向座標值差值的絕對值，第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12的位差值為點A和點A’於絕對座標系下的橫向座標值差值的絕對值。

步驟S38，獲取模組108獲取第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12測量所述第一標準件2的輪廓資料，設置第一線鐳射測頭11測得的輪廓資料為基準，根據所述傾角值、位差值及間距值校準第二線鐳射測頭12測量得到的輪廓資料，並根據第一線鐳射測頭11測得的輪廓資料和校準後的第二線鐳射測頭12測得的輪廓資料得到第一標準件2的測量值。若該第一標準件2為塊規，則該測量值可以為該塊規的厚度值。具體而言，如圖6所示，所述第一線鐳射測頭11測得的第一標準件2的輪廓資料建立的座標系為座標系M，第二線鐳射測頭12測得的第一標準件2的輪廓資料建立的座標系為座標系N。由於第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12之間存在傾角值，所述獲取模組108首先根據所述第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12之間的傾角值，將所述第二線鐳射測頭12測得的第一標準件2的輪廓資料轉動角度，使得角度與第一線鐳射測頭11測得的第一標準件2的輪廓資料角度一致。該獲取模組108再將座標系N根據位元差值和間距值平移至座標系M中，並獲取到第二線鐳射測頭12測得的第一標準件2的輪廓資料於座標系M中的輪廓資料。所述獲取模組108再根據第一線鐳射測頭11和第二線鐳射測頭12測得的第一標準件2於座標系M中的輪廓資料計算出該第一標準件2的測量值。

步驟S39，第三計算模組109根據所述第一標準件2的測量值與該第一標準件2的標準值計算精度補償值。例如，若第一標準件2的厚度測量值為4.5mm，該第一標準件2的標準厚度值為5mm，則所述精度補償值為5mm-4.5mm=0.5mm。當測量儀器1於測量待測物體時，可根據該精度補償值對待測物體的測量值進行精度補償。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅爲本發明之較佳實施例，本發明之範圍並不以上述實施例爲限，舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

無

10‧‧‧測量儀器線鐳射測頭校準系統

100‧‧‧第一測量模組

101‧‧‧第一接收模組

102‧‧‧第一判斷模組

103‧‧‧第一計算模組

104‧‧‧第二測量模組

105‧‧‧第二接收模組

106‧‧‧第二判斷模組

107‧‧‧第二計算模組

108‧‧‧獲取模組

109‧‧‧第三計算模組

Claims (10)

1. 一種測量儀器線鐳射測頭校準系統，運行於測量儀器中，該測量儀器安裝有第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭，所述系統包括：
   第一測量模組，用於利用第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭對第一標準件進行測量，並獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測得的該第一標準件的輪廓資料；
   第一計算模組，用於利用第一線鐳射測頭測量第一標準件得到的輪廓資料和第二線鐳射測頭測量該第一標準件得到的輪廓資料，計算第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭之間的傾角值；
   第二測量模組，用於利用第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭對第二標準件進行測量，並獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測量第二標準件所得到的第二標準件的輪廓資料；
   第二計算模組，用於根據第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測量所述第二標準件的輪廓資料，計算出第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭的位差值和間距值；
   獲取模組，用於設置第一線鐳射測頭測得的所述第一標準件的輪廓資料為基準，根據所述第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭的傾角值、位差值及間距值校準第二線鐳射測頭測量第一標準件的輪廓資料，並根據第一線鐳射測頭測得的輪廓資料和校準後的第二線鐳射測頭測得的輪廓資料得到該第一標準件的測量值；及
   第三計算模組，用於根據所述第一標準件的測量值與該第一標準件的標準值計算精度補償值。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測量儀器線鐳射測頭校準系統，該系統還包括:
   第一接收模組，用於接收用戶輸入的所述第一標準件的待測輪廓範圍；及
   第一判斷模組，用於判斷所述獲取到的第一標準件的輪廓資料是否於所述用戶輸入的第一標準件的待測輪廓範圍內，若所述獲取到的第一標準件的輪廓資料不於用戶輸入的待測輪廓範圍內，則由所述測量模組利用第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭重新測量並獲取第一標準件的輪廓資料，並提示用戶重新輸入第一標準件的待測輪廓範圍。
3. 如申請專利範圍第1項所述之測量儀器線鐳射測頭校準系統，該系統還包括：
   第二接收模組，用於接收用戶輸入的所述第二標準件的待測輪廓範圍；及
   第二判斷模組，用於判斷所述獲取到的第二標準件的輪廓資料是否於所述用戶輸入的第二標準件的待測輪廓範圍內，若所述獲取到的第二標準件的輪廓資料不於用戶輸入的待測輪廓範圍內，則由所述測量模組利用第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭重新測量第二標準件並獲取第二標準件的輪廓資料，並提示用戶重新輸入第二標準件的待測輪廓範圍。
4. 如申請專利範圍第1項所述之測量儀器線鐳射測頭校準系統，所述獲取模組對所述第二線鐳射測頭測量的所述第一標準件的輪廓資料進行校準是藉由旋轉所述傾角值，並作平移所述位差值和間距值來實現的。
5. 如申請專利範圍第1項所述之測量儀器線鐳射測頭校準系統，所述第一標準件為上下表面平整的物體，所述第二標準件為表面為規則的圓形物體。
6. 一種測量儀器線鐳射測頭校準方法，運行於測量儀器中，該測量儀器安裝有第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭，該方法包括：
   第一測量步驟，利用第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭對第一標準件進行測量，並獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測得的該第一標準件的輪廓資料；
   第一計算步驟，利用第一線鐳射測頭測量第一標準件得到的輪廓資料和第二線鐳射測頭測量該第一標準件得到的輪廓資料，計算第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭之間的傾角值；
   第二測量步驟，利用第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭對第二標準件進行測量，並獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測量第二標準件所得到的第二標準件的輪廓資料；
   第二計算步驟，根據第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測量所述第二標準件的輪廓資料，計算出第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭的位差值和間距值；
   獲取步驟，設置第一線鐳射測頭測得的所述第一標準件的輪廓資料為基準，根據所述第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭的傾角值、位差值及間距值校準第二線鐳射測頭測量第一標準件的輪廓資料，並根據第一線鐳射測頭測得的輪廓資料和校準後的第二線鐳射測頭測得的輪廓資料得到該第一標準件的測量值；及
   第三計算步驟，根據所述第一標準件的測量值與該第一標準件的標準值計算精度補償值。
7. 如申請專利範圍第6項所述之測量儀器線鐳射測頭校準方法，該方法於第一計算步驟之前還包括：
   第一接收步驟，接收用戶輸入的所述第一標準件的待測輪廓範圍；及
   第一判斷步驟，判斷所述獲取到的第一標準件的輪廓資料是否於所述用戶輸入的第一標準件的待測輪廓範圍內，若所述獲取到的第一標準件的輪廓資料不於用戶輸入的待測輪廓範圍內，則返回執行所述第一測量步驟，若所述獲取到的第一標準件的輪廓資料於用戶輸入的待測輪廓範圍內，則執行所述第一計算步驟。
8. 如申請專利範圍第6項所述之測量儀器線鐳射測頭校準方法，該方法於所述第二計算步驟之前還包括：
   第二接收步驟，接收用戶輸入的所述第二標準件的待測輪廓範圍；及
   第二判斷步驟，判斷所述獲取到的第二標準件的輪廓資料是否於所述用戶輸入的第二標準件的待測輪廓範圍內，若所述獲取到的第二標準件的輪廓資料不於用戶輸入的待測輪廓範圍內，則返回執行所述第二測量步驟，若所述獲取到的第二標準件的輪廓資料於用戶輸入的待測輪廓範圍內，則執行所述第二計算步驟。
9. 如申請專利範圍第6項所述之測量儀器線鐳射測頭校準方法，所述獲取步驟還包括：藉由旋轉所述傾角值，並作平移所述位差值和間距值來實現對所述第二線鐳射測頭測量的所述第一標準件的輪廓資料進行校準。
10. 如申請專利範圍第6項所述之測量儀器線鐳射測頭校準方法，所述第一標準件為上下表面平整的物體，所述第二標準件為表面為規則的圓形物體。