TW201500733A - 導電玻璃檢測系統 - Google Patents

Abstract

一種導電玻璃檢測系統，包含有一機台、一動力單元、一移動平台、一第一真空吸附式托盤組、一第二真空吸附式托盤組、一待測卡匣、一良品卡匣、一不良品卡匣、一校位裝置、一檢測平台、一框架、至少一影像對位裝置及一電測單元；由該第一真空吸附式托盤組對待測卡匣內之導電玻璃進行取料及將導電玻璃送入於檢測平台內之送料，另由該第二真空吸附式托盤組對檢測平台內之導電玻璃進行取料，並將該導電玻璃送入於該良品卡匣或不良品卡匣內之送料，而能達到分工及減少等待時間之功效，進而大幅地提升檢測效率。

Description

導電玻璃檢測系統

本發明係與導電玻璃檢測設備有關，更詳而言之係指一種導電玻璃檢測系統。

按，一般對導電玻璃進行檢測時，主要係藉由一托盤將一待測之導電玻璃自一待測卡匣內取出，再由該托盤送入於一檢測平台上進行檢測，待檢測完畢後，再由該托盤將該導電玻璃依檢測結果而送入於一良品卡匣或不良品卡匣內，接著再由該托盤重覆地進行將導電玻璃自一待測卡匣內取出、送入檢測平台、自檢測平台取出、送入良品卡匣或不良品卡匣之程序。

然而，由於移動導電玻璃之動作皆係由同一托盤所進行，因此在每一程序進行前幾乎皆需等待托盤一段時間，尤其係在檢測完畢後，由該托盤將該導電玻璃依檢測結果而送入於一良品卡匣或不良品卡匣內，接著再由該托盤重覆地進行將導電玻璃自一待測卡匣內取出之程序中，必須等待相當長之時間，而有效率不佳之問題由此可見，上述習用物品仍有諸多缺失，實非一良善之設計者，而亟待加以改良。

本發明之目的即在於提供一種導電玻璃檢測系統，係具有雙托盤能進行分工之移動，以增進檢測之效率者。

可達成上述發明目的之導電玻璃檢測系統，包括有：一機台；一動力單元，係設置於該機台上，用以輸出沿一Z軸進行上、下直線往復運動之動力及旋轉之動力者；一移動平台，係位於該機台上，並於該動力單元連結，以受該動力單元所輸出之動力所驅使，而沿Z軸進行上、下之直線往復運動及旋轉；一第一真空吸附式托盤組，係設置於該移動平台上，並可於該移動平台上依據設定的路徑進行上升、吸附、下降及釋放之路徑位移；一第二真空吸附式托盤組，係設置於該移動平台上，並可於該移動平台上依據設定的路徑進行上升、吸附、下降及釋放之路徑位移；一待測卡匣，係設置於該機台上，供若干待測之導電玻璃加以容置；一良品卡匣，係設置於該機台上；一不良品卡匣，係設置於該機台上；一校位裝置，係設置於該機台上，可進行精密 而細微之X軸、Y軸、Z軸及旋轉之調整位移者；一檢測平台，係設置於該校位裝置上，並受該校位裝置所連動，以供一導電玻璃加以放置；一框座，係設置於該機台上；複數個影像對位裝置，係分別設置於該第一真空吸附式托盤組、第二真空吸附式托盤組及該框座上，並可對該檢測平台上之導電玻璃進行取像者或者對該待測卡匣、該良品卡匣、該不良品卡匣的導電的導電玻璃檢測位置進行取像者；一電測單元，係設置於該框座上，用以對位於該檢測平台上之導電玻璃進行接觸測試者；藉此，由該第一真空吸附式托盤組對待測卡匣內之導電玻璃進行取料及將導電玻璃送入於檢測平台內之送料，另由該第二真空吸附式托盤組對檢測平台內之導電玻璃進行取料，並將該導電玻璃送入於該良品卡匣或不良品卡匣內之送料，而能達到分工及減少等待時間之功效，進而大幅地提升檢測效率。

1‧‧‧機台

2‧‧‧動力單元

3‧‧‧移動平台

41‧‧‧第一真空吸附式托盤組

42‧‧‧第二真空吸附式托盤組

51‧‧‧待測卡匣

52‧‧‧良品卡匣

53‧‧‧不良品卡匣

61‧‧‧校位裝置

62‧‧‧檢測平台

621‧‧‧檢測區

622‧‧‧基準邊

623‧‧‧真空吸附孔

624‧‧‧凹槽

63‧‧‧定位塊

7‧‧‧框座

8‧‧‧影像對位裝置

81‧‧‧影像擷取單元

82‧‧‧微調機構

9‧‧‧電測單元

91‧‧‧電測移動件

92‧‧‧電測頭

99‧‧‧導電玻璃

圖1係本發明一較佳實施例之立體組合圖。

圖2係圖1所示實施例之局部立體組合圖。

圖2A~圖2B為圖2之A部分與B部分的局部放大圖。

圖3至圖13係圖1所示實施例之動作示意圖。

圖3A為校位裝置、檢測平台、二定位塊之放大圖。

圖5A為圖5之側視圖；說明圖5作動時機構之態樣。

如圖1~13所示，係本發明所提供一較佳實施例之導電玻璃檢測系統，其主要包含有一機台1、一動力單元2，一移動平台3、一第一真空吸附式托盤組41、一第二真空吸附式托盤組42、一待測卡匣51、一良品卡匣52、一不良品卡匣53、一校位裝置61、一檢測平台62、二定位塊63、一框座7、二影像對位裝置8、一電測單元9及一控制器(圖中未示)，其中：如圖1~2所示，該機台1係可穩固地置放於一地面(或其他平面)上。

該動力單元2係設置於該機台1上，用以輸出沿一Z軸進行上、下直線往復運動之動力及旋轉之動力者。

該移動平台3係置位於該機台1上並與該動力單元2連結，以受該動力單元2所輸出之動力而被驅動地進行上、下之Z軸直線往復移動及旋轉者。

該第一真空吸附式托盤組41，係設置於該移動平台3上，並可於該移動平台3上依據設定的路徑進行上升、吸附、下降及釋放之路徑位移。

該第二真空吸附式托盤組42，係設置於該移動 平台3上，並可於該移動平台3上依據設定的路徑進行上升、吸附、下降及釋放之路徑位移。

該待測卡匣51，係設置於該機台1上，並位於該移動平台3之一側位置上，以由該待測卡匣51供若干待測之導電玻璃99加以容置。

如圖1~2、圖2A所示，該良品卡匣52係設置於該機台1上，並位於該移動平台3之另一側位置上，以由該良品卡匣52供測試後被判定為良品之導電玻璃99加以容置。

該不良品卡匣53係設置於該機台1上，並位於該移動平台3之另一側位置上，以由該不良品卡匣53供測試後被判定為不良品之導電玻璃99加以容置。

該校位裝置61係設置於該機台1上，並位於該移動平台3之一側，該校位裝置61係可進行精密而細微之X軸、Y軸、Z軸及旋轉之調整位移者。

如圖1~3、圖3A所示，該檢測平台62，係設置於該校位裝置61上，並受該校位裝置61所連動，該檢測平台62上具有一檢測區621及二垂直相鄰於該檢測區621邊緣之基準邊622，該檢測區621上並具有若干以預定間距排列之真空吸附孔623，以對該檢測區621產生真空吸力者；而該檢測區621於其一端的基準邊622上具有供第一、第二真空吸附式托盤組41、42伸入的凹槽624。

該二定位塊63係設置於該檢測平台62上，並位 於該檢測區621之相鄰二側，使由該二基準邊622與該二定位塊63共同地分位於該檢測區621之四周邊位置上，且該二定位塊63並可朝向檢測區621進行靠近與遠離之往復直線位移。

該框座7係設置於該機台1上，並位於該檢測平台62之周邊而具有一預定高度。

請參閱圖1~2、圖2B及圖7，該影像對位裝置8，係設置於該分別設置於該第一、第二真空吸附式托盤組41、42及框座7上，並位於該檢測平台62之上方，該各影像對位裝置8分別具有一影像擷取單元81及一微調機構82，該影像擷取單元81係用以對位於該檢測區621上之待測導電玻璃99進行取像，該微調機構82係連結於該影像擷取單元81與該框座7間，用以細微調整該影像擷取單元81之位置者；或者透過設置於第一、第二真空吸附式托盤組41、42的影像對位裝置8對該待測卡匣51、該良品卡匣52、該不良品卡匣53的導電的導電玻璃99檢測或者對該檢測平台62上之導電玻璃99位置進行取像者；值得一提的是：當檢測待測卡匣51時該影像對位裝置8先檢測並由控制器紀錄於待測卡匣51待測的導電玻璃99的位置編號並使第一、第二真空吸附式托盤組41、42依據設定路徑進行上升、吸附、下降及釋放之路徑位移。

請參閱圖1~2及圖8，該電測單元9，具有一電 測移動件91及一電測頭92；該電測移動件91係設置於該框座7上，並可沿Z軸進行直線之往復位移，該電測頭92係連結於該電測移動件91上，用以對位於該檢測區621上之待測導電玻璃99進行電氣接觸測試者。

該控制器(圖中未示)，係設置於該機台1上，並與該動力單元2、第一真空吸附式托盤組41、第二真空吸附式托盤組42、校位裝置61、檢測平台62、定位塊63、影像對位裝置8及該電測單元9電性連接，以控制該動力單元2、第一真空吸附式托盤組41、第二真空吸附式托盤組42、校位裝置61、檢測平台62、定位塊63、影像對位裝置8及該電測單元9之作動與停止者，並能進行對該影像擷取單元81之影像對位訊號進行判讀及對該電測頭92之接觸測試訊號進行判讀者。

是以，上述即為本發明所提供一較佳實施例之導電玻璃檢測系統各部構件及其組裝方式之介紹，接著再將其使用方式介紹如下：首先，由該影像對位裝置8先檢測並由控制器紀錄於待測卡匣51待測的導電玻璃99的位置編號使該第一真空吸附式托盤組41伸入於該待測卡匣51內，以將一待測之導電玻璃99以依據設定路徑先將第一真空吸附式托盤組41上升，將導電玻璃99分離於待測卡匣51並對其真空吸附之方式加以取出(如圖3所示)，接著便由該動力單元2所 產生之動力旋轉該移動平台3，使該第一真空吸附式托盤組41朝向該檢測平台62(如圖4所示)，接著再由該第一真空吸附式托盤組41將所吸附之導電玻璃99伸入於該檢測平台62，並放置於該檢測區621上(如圖5所示)；值得一提的是第一真空吸附式托盤組41經由檢測平台62的凹槽624將導電玻璃99傳送到檢測區621，此時第一真空吸附式托盤組41先下降將導電玻璃99放在檢測區621並經由凹槽624退出(如圖5A所示)，接著，位於該檢測區621周邊位置之二定位塊63，則將位於該檢測區621上之導電玻璃99往該二基準邊622上加以抵靠(如圖6所示)，並由該檢測區621上之真空吸附孔623產生吸力，而將該導電玻璃99穩固地固定於該檢測區621中，並由該影像對位裝置8之影像擷取單元81對該導電玻璃99進行對位之影像擷取(如圖7所示)，並將所擷取之影像訊號傳遞至該控制器中加以判讀，以判讀該導電玻璃99是否位於正確位置，如非位於正確位置時，則由該控制器驅動該校位裝置61進行X、Y、Z軸之移動及旋轉，來使該導電玻璃99能被校位於正確位置處，再由該電測單元9之電測移動件91帶動該電測頭92與該導電玻璃99接觸(如圖8所示)，以檢測該導電玻璃99之電性是否導通，並將檢測後之訊號傳遞至該控制器中，以由該控制器判讀該導電玻璃99為良品或為不良品，而在前述該定位塊63將導電玻璃99往該二基準邊622上加以抵靠之動作至該電測頭92接觸 於該導電玻璃99上之動作期間內，該移動平台3再度受該動力單元2所驅使而旋轉，使該第一真空吸附式托盤組41朝向於該待測卡匣51之方向(如圖9所示)，並以將另一待測之導電玻璃99以真空吸附之方式加以取出，再由該動力單元2所產生之動力旋轉該移動平台3，使該第一真空吸附式托盤組41朝向該檢測平台62(如圖10所示)，如此一來，位於該檢測區621中被該電測頭92所檢測後之導電玻璃99，便可由該第二真空吸附式托盤組42所取出，同時並由該第一真空吸附式托盤組41將待測之導電玻璃99送入於該檢測區621中(如圖11所示)，以再度進行前述之定位塊63推移、真空吸附、影像擷取、電測接觸之程序，而在進行上述之作業時，該第二真空吸附式托盤組42則將已檢測後之導電玻璃99依控制器之判讀，而送入於良品卡匣52或不良品卡匣53內(如圖12或圖13所示)，而該第一真空吸附式托盤組41則再將待測卡匣51內之待測導電玻璃99加以取出，以等待下一次送入於該檢測區621上；值得一提的是，當第二真空吸附式托盤組42要進行導電玻璃99放置於良品卡匣52或不良品卡匣53時，設置於第二真空吸附式托盤組42的影像對位裝置8先檢測良品卡匣52或不良品卡匣53是否有空位容置導電玻璃99，並由控制器紀錄提供路徑，將導電玻璃99容置於良品卡匣52或不良品卡匣53中。

簡言之，本發明由該第一真空吸附式托盤組41 對位於該待測卡匣51內之導電玻璃99進行取料及將導電玻璃99送入於檢測平台62內之送料，而由該第二真空吸附式托盤組42對檢測平台62內之導電玻璃99進行取料，並將該導電玻璃99送入於該良品卡匣52或不良品卡匣53內之送料，而能達到分工之效率。

況且，該第一真空吸附式托盤組41對位於該待測卡匣51內之導電玻璃99進行取料，及該第二真空吸附式托盤組42將該導電玻璃99送入於該良品卡匣52或不良品卡匣53內之送料，皆係在該檢測區621內之導電玻璃99受到定位塊63之推抵、校正裝置之校位、影像對位裝置8之影像擷取及電測單元9之電測同時加以進行，而能避免各構件間產生等待之時間，以大幅地增進檢測之效率者。

上列詳細說明係針對本發明之一可行實施例之具體說明，惟該實施例並非用以限制本發明之專利範圍，凡未脫離本發明技藝精神所為之等效實施或變更，均應包含於本案之專利範圍中。

綜上所述，本案不但在空間型態上確屬創新，並能較習用物品增進上述多項功效，應已充分符合新穎性及進步性之法定發明專利要件，爰依法提出申請，懇請 貴局核准本件發明專利申請案，以勵發明，至感德便。

1‧‧‧機台

2‧‧‧動力單元

3‧‧‧移動平台

41‧‧‧第一真空吸附式托盤組

42‧‧‧第二真空吸附式托盤組

51‧‧‧待測卡匣

52‧‧‧良品卡匣

53‧‧‧不良品卡匣

61‧‧‧校位裝置

62‧‧‧檢測平台

7‧‧‧框座

8‧‧‧影像對位裝置

81‧‧‧影像擷取單元

82‧‧‧微調機構

9‧‧‧電測單元

Claims (3)

1. 一種導電玻璃檢測系統，包括：一機台；一動力單元，係設置於該機台上，用以輸出沿一Z軸進行上、下直線往復運動之動力及旋轉之動力者；一移動平台，係位於該機台上，並於該動力單元連結，以受該動力單元所輸出之動力所驅使，而沿Z軸進行上、下之直線往復運動及旋轉；一第一真空吸附式托盤組，係設置於該移動平台上，並可於該移動平台上依據設定的路徑進行上升、吸附、下降及釋放之路徑位移；一第二真空吸附式托盤組，係設置於該移動平台上，並可於該移動平台上依據設定的路徑進行上升、吸附、下降及釋放之路徑位移；一待測卡匣，係設置於該機台上，供若干待測之導電玻璃加以容置；一良品卡匣，係設置於該機台上；一不良品卡匣，係設置於該機台上；一校位裝置，係設置於該機台上，可進行精密而細微之X軸、Y軸、Z軸及旋轉之調整位移者；一檢測平台，係設置於該校位裝置上，並受該校位裝置所連動，以供一導電玻璃加以放置，且檢測平台上具有一供 導電玻璃放置之檢測區及二垂直相鄰於該檢測區邊緣之基準邊，該檢測區上具有若干以預定間距排列之真空吸附孔，以對該檢測區上之導電玻璃產生真空吸力；一框座，係設置於該機台上；複數個影像對位裝置，係分別設置於該第一真空吸附式托盤組、第二真空吸附式托盤組及該框座上，並可對該檢測平台上之導電玻璃進行取像者或者對該待測卡匣、該良品卡匣、該不良品卡匣的導電的導電玻璃檢測位置進行取像者；一電測單元，係設置於該框座上，用以對位於該檢測平台上之導電玻璃進行接觸測試者。
2. 如申請專利範圍第1項所述之導電玻璃檢測系統，更包含有二定位塊，係設置於該檢測平台上，並位於該檢測區之相鄰二側，使由該二基準邊與該二定位塊共同地分位於該檢測區之四周邊位置上，且該二定位塊並可朝向檢測區進行靠近與遠離之往復直線位移。
3. 如申請專利範圍第1項所述之導電玻璃檢測系統，其中該影像對位裝置係位於該檢測平台之上方，該影像對位裝置具有一影像擷取單元及一微調機構，該影像擷取單元係用以對位於該檢測區上之導電玻璃進行取像，該微調機構係連結於該影像擷取單元與該框座間，用以細微調整該影像擷取單元之位置者。