CN104280650A - 导电玻璃检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明属于导电玻璃检测设备技术领域，具体地说是一种导电玻璃检测系统，包含有一机台、一动力单元、一移动平台、一第一真空吸附式托盘组、一第二真空吸附式托盘组、一待测卡匣、一良品卡匣、一不良品卡匣、一校位装置、一检测平台、一框架、至少一影像对位装置及一电测单元；由所述第一真空吸附式托盘组对待测卡匣内的导电玻璃进行取料及将导电玻璃送入于检测平台内的送料，另由所述第二真空吸附式托盘组对检测平台内的导电玻璃进行取料，并将所述导电玻璃送入所述良品卡匣或不良品卡匣内的送料。本发明能达到分工及减少等待时间的功效，进而大幅地提升检测效率。

Description

导电玻璃检测系统

技术领域

本发明属于导电玻璃检测设备技术领域，具体地说是一种导电玻璃检测系统。

背景技术

一般对导电玻璃进行检测时，主要是由一托盘将一待测的导电玻璃自一待测卡匣内取出，再由所述托盘送入于一检测平台上进行检测，待检测完毕后，再由所述托盘将所述导电玻璃依检测结果而送入于一良品卡匣或不良品卡匣内，接着再由所述托盘重复地进行将导电玻璃自一待测卡匣内取出、送入检测平台、自检测平台取出、送入良品卡匣或不良品卡匣的程序。

然而，由于移动导电玻璃的动作都是由同一托盘所进行，因此在每一程序进行前几乎都需等待托盘一段时间，尤其是在检测完毕后，由所述托盘将所述导电玻璃依检测结果而送入于一良品卡匣或不良品卡匣内，接着再由所述托盘重复地进行将导电玻璃自一待测卡匣内取出的程序中，必须等待相当长的时间，而有效率不佳的问题由此可见，上述常用设备仍有很多缺陷，并不是一完善的设计，而亟待加以改良。

发明内容

针对上述问题，本发明的目的在于提供一种导电玻璃检测系统，该导电玻璃检测系统具有双托盘能进行分工的移动，以增进检测的效率。

为了达成上述发明目的，本发明采用以下技术方案：

一种导电玻璃检测系统，包括有：

一机台；

一动力单元，设置于所述机台上，用于输出沿一Z轴进行上、下直线往复运动的动力及旋转的动力；

一移动平台，位于所述机台上，并于所述动力单元连接，通过所述动力单元所输出的动力所驱使，而沿Z轴进行上、下的直线往复运动及旋转；

一第一真空吸附式托盘组，设置于所述移动平台上，并可于所述移动平台上依据设定的路径进行上升、吸附、下降及释放的路径位移；

一第二真空吸附式托盘组，设置于所述移动平台上，并可于所述移动平台上依据设定的路径进行上升、吸附、下降及释放的路径位移；

一待测卡匣，设置于所述机台上，供多个待测的导电玻璃加以容置；

一良品卡匣，设置于所述机台上；

一不良品卡匣，设置于所述机台上；

一校位装置，设置于所述机台上，可进行精密而细微的X轴、Y轴、Z轴及旋转的位移调整；

一检测平台，设置于所述校位装置上，并通过所述校位装置所连动，以供一导电玻璃加以放置；

一框座，设置于所述机台上；

多个影像对位装置，分别设置于所述第一真空吸附式托盘组、第二真空吸附式托盘组及所述框座上，并可对所述检测平台上的导电玻璃进行取像或者对所述待测卡匣、所述良品卡匣、所述不良品卡匣的导电的导电玻璃检测位置进行取像；

一电测单元，设置于所述框座上，用于对位于所述检测平台上的导电玻璃进行接触测试；

本发明还包含有两个定位块，设置于所述检测平台上，并位于所述检测区的相邻两侧，使由所述两基准边与所述两定位块共同地分位于所述检测区的四周边位置上，且所述两定位块并可朝向检测区进行靠近与远离的往复直线位移。

所述影像对位装置位于所述检测平台的上方，所述影像对位装置具有一影像撷取单元及一微调机构，所述影像撷取单元用于对位于所述检测区上的导电玻璃进行取像，所述微调机构连接于所述影像撷取单元与所述框座之间，用于细微调整所述影像撷取单元的位置。

本发明的优点及有益效果是：本发明由所述第一真空吸附式托盘组对待测卡匣内的导电玻璃进行取料及将导电玻璃送入于检测平台内的送料，另由所述第二真空吸附式托盘组对检测平台内的导电玻璃进行取料，并将所述导电玻璃送入于所述良品卡匣或不良品卡匣内的送料，而能达到分工及减少等待时间的功效，进而大幅地提升检测效率。

附图说明

图1为本发明一较佳实施例的立体组合图。

图2为图1所示实施例的局部立体组合图。

图2A为图2的A部分的局部放大图。

图2B为图2的B部分的局部放大图。

图3至图13为图1所示实施例的动作示意图。

图3A为本发明的校位装置、检测平台、两定位块的放大图。

图5A为图5的侧视图。

其中：1为机台，2为动力单元，3为移动平台，41为第一真空吸附式托盘组，42为第二真空吸附式托盘组，51为待测卡匣，52为良品卡匣，53为不良品卡匣，61为校位装置，62为检测平台，621为检测区，622为基准边，623为真空吸附孔，624为凹槽，63为定位块，7为框座，8为影像对位装置，81为影像撷取单元，82为微调机构，9为电测单元，91为电测移动件，92为电测头99为导电玻璃。

具体实施方式

如图1～13所示，是本发明所提供一较佳实施例的导电玻璃检测系统，其主要包含有一机台1、一动力单元2，一移动平台3、一第一真空吸附式托盘组41、一第二真空吸附式托盘组42、一待测卡匣51、一良品卡匣52、一不良品卡匣53、一校位装置61、一检测平台62、两定位块63、一框座7、两影像对位装置8、一电测单元9及一控制器(图中未示)。

如图1～2所示，所述机台1是可稳固地置放于一地面(或其它平面)上。

所述动力单元2是设置于所述机台1上，用于输出沿一Z轴进行上、下直线往复运动的动力及旋转的动力。

所述移动平台3是位于所述机台1上并与所述动力单元2连接，通过所述动力单元2所输出的动力而被驱动地进行上、下的Z轴直线往复移动及旋转。

所述第一真空吸附式托盘组41，设置于所述移动平台3上，并可于所述移动平台3上依据设定的路径进行上升、吸附、下降及释放的路径位移。

所述第二真空吸附式托盘组42，设置于所述移动平台3上，并可于所述移动平台3上依据设定的路径进行上升、吸附、下降及释放的路径位移。

所述待测卡匣51，设置于所述机台1上，并位于所述移动平台3的一侧位置上，通过所述待测卡匣51供多个待测的导电玻璃99加以容置。

如图1～2、图2A所示，所述良品卡匣52设置于所述机台1上，并位于所述移动平台3的另一侧位置上，通过所述良品卡匣52供测试后被判定为良品的导电玻璃99加以容置。

所述不良品卡匣53设置于所述机台1上，并位于所述移动平台3的另一侧位置上，通过所述不良品卡匣53供测试后被判定为不良品的导电玻璃99加以容置。

所述校位装置61设置于所述机台1上，并位于所述移动平台3的一侧，所述校位装置61可进行精密而细微的X轴、Y轴、Z轴及旋转的位移调整。

如图1～3、图3A所示，所述检测平台62，设置于所述校位装置61上，并通过所述校位装置61所连动，所述检测平台62上具有一检测区621及两垂直相邻于所述检测区621边缘的基准边622，所述检测区621上并具有多个以预定间距排列的真空吸附孔623，以对所述检测区621产生真空吸力；而所述检测区621于其一端的基准边622上具有供第一、第二真空吸附式托盘组41、42伸入的凹槽624。

所述两定位块63设置于所述检测平台62上，并位于所述检测区621的相邻两侧，使由所述两基准边622与所述两定位块63共同地分位于所述检测区621的四周边位置上，且所述两定位块63并可朝向检测区621进行靠近与远离的往复直线位移。

所述框座7设置于所述机台1上，并位于所述检测平台62的周边而具有一预定高度。

如图1～2、图2B及图7，所述影像对位装置8，分别设置于所述第一、第二真空吸附式托盘组41、42及框座7上，并位于所述检测平台62的上方，所述各影像对位装置8分别具有一影像撷取单元81及一微调机构82，所述影像撷取单元81用于对位于所述检测区621上的待测导电玻璃99进行取像，所述微调机构82是连接于所述影像撷取单元81与所述框座7之间，用以细微调整所述影像撷取单元81的位置；或者通过设置于第一、第二真空吸附式托盘组41、42的影像对位装置8对所述待测卡匣51、所述良品卡匣52、所述不良品卡匣53的导电的导电玻璃99检测或者对所述检测平台62上的导电玻璃99位置进行取像；值得一提的是：当检测待测卡匣51时所述影像对位装置8先检测并由控制器纪录于待测卡匣51待测的导电玻璃99的位置编号并使第一、第二真空吸附式托盘组41、42依据设定路径进行上升、吸附、下降及释放的路径位移。

如图1～2及图8所示，所述电测单元9，具有一电测移动件91及一电测头92；所述电测移动件91设置于所述框座7上，并可沿Z轴进行直线的往复位移，所述电测头92是连接于所述电测移动件91上，用于对位于所述检测区621上的待测导电玻璃99进行电气接触测试。

所述控制器(图中未示)，设置于所述机台1上，并与所述动力单元2、第一真空吸附式托盘组41、第二真空吸附式托盘组42、校位装置61、检测平台62、定位块63、影像对位装置8及所述电测单元9电性连接，以控制所述动力单元2、第一真空吸附式托盘组41、第二真空吸附式托盘组42、校位装置61、检测平台62、定位块63、影像对位装置8及所述电测单元9的作动与停止，并能进行对所述影像撷取单元81的影像对位讯号进行判读及对所述电测头92的接触测试讯号进行判读。

本发明的使用方式介绍如下：

首先，由所述影像对位装置8先检测并由控制器纪录于待测卡匣51待测的导电玻璃99的位置编号使所述第一真空吸附式托盘组41伸入于所述待测卡匣51内，以将一待测的导电玻璃99以依据设定路径先将第一真空吸附式托盘组41上升，将导电玻璃99分离于待测卡匣51并对其真空吸附的方式加以取出(如图3所示)，接着便由所述动力单元2所产生的动力旋转所述移动平台3，使所述第一真空吸附式托盘组41朝向所述检测平台62(如图4所示)，接着再由所述第一真空吸附式托盘组41将所吸附的导电玻璃99伸入于所述检测平台62，并放置于所述检测区621上(如图5所示)；值得一提的是第一真空吸附式托盘组41经由检测平台62的凹槽624将导电玻璃99传送到检测区621，此时第一真空吸附式托盘组41先下降将导电玻璃99放在检测区621并经由凹槽624退出(如图5A所示)，接着，位于所述检测区621周边位置的两定位块63，则将位于所述检测区621上的导电玻璃99往所述两基准边622上加以抵靠(如图6所示)，并由所述检测区621上的真空吸附孔623产生吸力，而将所述导电玻璃99稳固地固定于所述检测区621中，并由所述影像对位装置8的影像撷取单元81对所述导电玻璃99进行对位的影像撷取(如图7所示)，并将所撷取的影像讯号传递至所述控制器中加以判读，以判读所述导电玻璃99是否位于正确位置，如非位于正确位置时，则由所述控制器驱动所述校位装置61进行X、Y、Z轴的移动及旋转，来使所述导电玻璃99能被校位于正确位置处，再由所述电测单元9的电测移动件91带动所述电测头92与所述导电玻璃99接触(如图8所示)，以检测所述导电玻璃99的电性是否导通，并将检测后的讯号传递至所述控制器中，以由所述控制器判读所述导电玻璃99为良品或为不良品，而在前述所述定位块63将导电玻璃99往所述两基准边622上加以抵靠的动作至所述电测头92接触于所述导电玻璃99上的动作期间内，所述移动平台3再度受所述动力单元2所驱使而旋转，使所述第一真空吸附式托盘组41朝向于所述待测卡匣51的方向(如图9所示)，并以将另一待测的导电玻璃99以真空吸附的方式加以取出，再由所述动力单元2所产生的动力旋转所述移动平台3，使所述第一真空吸附式托盘组41朝向所述检测平台62(如图10所示)，如此一来，位于所述检测区621中被所述电测头92所检测后的导电玻璃99，便可由所述第二真空吸附式托盘组42所取出，同时并由所述第一真空吸附式托盘组41将待测的导电玻璃99送入于所述检测区621中(如图11所示)，以再度进行前述的定位块63推移、真空吸附、影像撷取、电测接触的程序，而在进行上述的作业时，所述第二真空吸附式托盘组42则将已检测后的导电玻璃99依控制器的判读，而送入于良品卡匣52或不良品卡匣53内(如图12或图13所示)，而所述第一真空吸附式托盘组41则再将待测卡匣51内的待测导电玻璃99加以取出，以等待下一次送入于所述检测区621上；值得一提的是，当第二真空吸附式托盘组42要进行导电玻璃99放置于良品卡匣52或不良品卡匣53时，设置于第二真空吸附式托盘组42的影像对位装置8先检测良品卡匣52或不良品卡匣53是否有空位容置导电玻璃99，并由控制器纪录提供路径，将导电玻璃99容置于良品卡匣52或不良品卡匣53中。

综上所述，本发明由所述第一真空吸附式托盘组41对位于所述待测卡匣51内的导电玻璃99进行取料及将导电玻璃99送入于检测平台62内的送料，而由所述第二真空吸附式托盘组42对检测平台62内的导电玻璃99进行取料，并将所述导电玻璃99送入于所述良品卡匣52或不良品卡匣53内的送料，而能达到分工的效率。

况且，所述第一真空吸附式托盘组41对位于所述待测卡匣51内的导电玻璃99进行取料，及所述第二真空吸附式托盘组42将所述导电玻璃99送入于所述良品卡匣52或不良品卡匣53内的送料，都是在所述检测区621内的导电玻璃99受到定位块63的推抵、校正装置的校位、影像对位装置8的影像撷取及电测单元9的电测同时加以进行，而能避免各构件间产生等待的时间，以大幅地增进检测的效率。

Claims (3)

1.一种导电玻璃检测系统，其特征在于，包括：

一机台；

一动力单元，设置于所述机台上，用于输出沿一Z轴进行上、下直线往复运动的动力及旋转的动力；

一移动平台，位于所述机台上，并于所述动力单元连接，通过所述动力单元所输出的动力所驱使，而沿Z轴进行上、下的直线往复运动及旋转；

一第一真空吸附式托盘组，设置于所述移动平台上，并可于所述移动平台上依据设定的路径进行上升、吸附、下降及释放的路径位移；

一第二真空吸附式托盘组，设置于所述移动平台上，并可于所述移动平台上依据设定的路径进行上升、吸附、下降及释放的路径位移；

一待测卡匣，设置于所述机台上，供多个待测的导电玻璃加以容置；

一良品卡匣，设置于所述机台上；

一不良品卡匣，设置于所述机台上；

一校位装置，设置于所述机台上，可进行精密而细微的X轴、Y轴、Z轴及旋转的位移调整；

一检测平台，设置于所述校位装置上，并通过所述校位装置所连动，以供一导电玻璃加以放置，且检测平台上具有一供导电玻璃放置的检测区及两个垂直相邻于所述检测区边缘的基准边，所述检测区上具有多个以预定间距排列的真空吸附孔，以对所述检测区上的导电玻璃产生真空吸力；

一框座，设置于所述机台上；

多个影像对位装置，分别设置于所述第一真空吸附式托盘组、第二真空吸附式托盘组及所述框座上，并可对所述检测平台上的导电玻璃进行取像或者对所述待测卡匣、所述良品卡匣、所述不良品卡匣的导电的导电玻璃检测位置进行取像；

一电测单元，设置于所述框座上，用于对位于所述检测平台上的导电玻璃进行接触测试。

2.如权利要求1所述的导电玻璃检测系统，其特征在于，还包含有两个定位块，设置于所述检测平台上，并位于所述检测区的相邻两侧，使由所述两基准边与所述两定位块共同地分位于所述检测区的四周边位置上，且所述两定位块并可朝向检测区进行靠近与远离的往复直线位移。

3.如权利要求1所述的导电玻璃检测系统，其特征在于，所述影像对位装置位于所述检测平台的上方，所述影像对位装置具有一影像撷取单元及一微调机构，所述影像撷取单元用于对位于所述检测区上的导电玻璃进行取像，所述微调机构连接于所述影像撷取单元与所述框座之间，用于细微调整所述影像撷取单元的位置。