TW201447275A - 用於測量強度之串音校正的方法及裝置 - Google Patents

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Abstract

提出一種用於在相互分離偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之方法。每一偵測波長帶係相關於一待分析檢體所包含之特定分析的探針族群中之一者。每一探針族群能發射一第一信號成分及一第二信號成分，其光譜在不同的波長具有最大值，以及至少該第一信號成分係取決於可以該探針族群來偵測之分析物的存在。串音校正強度的計算係根據a)在該等偵測波長帶上所測量之強度、b)表示在該等偵測波長帶外之一輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度的數值，及c)預定串音參數。例如，配合FRET檢驗，可在該串音校正中顧及一背景信號對雜合探針之百分比的相依性。

Description

用於測量強度之串音校正的方法及裝置
本申請案之揭露係有關於一種用於從一檢體在兩個或兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之方法。再者，該揭露係有關於一種用於從一檢體在兩個或兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之裝置及電腦程式。另外，該揭露係有關於一種具有串音校正之測量儀器。
多分析物檢驗(multianalyte assays)之廣泛使用的原理是使用可根據取決於所使用一個以上激發波長的基於螢光發射信號(fluorescence-based emission signal)之發生變化來偵測在一檢體中之分析物的濃度之標記特定分析追蹤劑分子(labeled analyte-specific tracer molecules)。在一理想情況下，關於不同的分析物之基於螢光發射信號出現在非重疊偵測波長帶且因此可使該等發射信號以簡單光學濾波來彼此分離。然而，在許多情況下，關於不同分析物之基於螢光發射信號的一個以上光譜係非常寬且光譜重疊的，以致於不可能選擇這種偵測波長帶，使得在這些偵測波長帶上所測量之所有發射信號不含串音。
串音校正之簡單原理可應用在使用一合適時 間偵測窗及/或一合適偵測波長帶來測量不含串音之該等發射信號中之一的強度之兩個分析物檢驗中。在只有促成該第一發射信號之分析物存在的試驗情況下，使用該第一發射信號之測量強度及一經驗串音參數(empirical cross-talk parameter)，校正另一發射信號之測量強度，其中該經驗串音參數表示在該第一發射信號之偵測波長帶中出現的強度與另一發射信號之偵測波長帶中出現的強度間之關係。當使用此方法時，值得注意的是，在偵測反應中沒有產生該第一發射信號時亦存在之背景信號可能至少部分造成該第一發射信號之測量強度。因此，為了特別在偵測反應中沒有產生該第一發射信號或僅小程度地產生該第一發射信號之情況下避免太強的串音校正，應該在該串音校正前從該第一發射信號之測量強度充分地去除該背景信號之影響。可根據從適當試驗檢體所測量之強度來決定該背景信號及該串音參數之影響。
然而，在許多情況下，情況是更複雜的，以 致於沒有該等發射信號被偵測不含有串音，亦即，該等發射信號在光譜上及在時間上係重疊以致於不可能選擇這種時間偵測窗及/或偵測波長帶，進而可測量到該等發射信號中之至少一者不含串音。上述種類之情況存在的例示情況是，例如根據時間解析螢光共振能量轉移“TR-FRET”多分析物偵測之檢驗。例如從公開案US20060147954及V.Laitala et al.,Time-resolved detection probe for homogeneous nucleic acid analyses in one-step format,Analytical Biochemistry 361(2007)126-131可發現到關於例示FRET偵測方式之細節。在V.Laitala等人所述之方法中，每一FRET探針包括一施體(donor)、一受體(acceptor)及一能與其互補目標序列(complementary target sequence)(亦即，要考慮以該探針來偵測之目標分析物)進行特別雜合之反應區。在V.Laitala等人所述之方法中，一既定型態之探針的族群之時間解析螢光發射信號包括兩個信號成分：一屬於因從激發施體之能量轉移而被激發之受體的第一信號成分及一屬於不參與該能量轉移之激發施體的第二信號成分。 較佳地選擇該受體，以致於其發射光譜在該施體在其發射光譜中具有一局部最小值之波長處具有一最大值。該能量轉移誘導受體發射的衰減時間係取決於能量轉移效率，該能量轉移效率轉而與該受體與該施體間之距離成反比。當該等探針未進行雜合(亦即，一短施體-受體距離)時相較於當該等探針與該目標分析物進行雜合(亦即，一較長施體-受體距離)時，能量轉移誘導受體發射的衰減時間係顯著較快的。因此，可使用一合適時間偵測窗，使雜合探針之受體發射信號與未雜合探針之受體發射信號分離。可藉由使用適當偵測波長帶，使與不同目標分析物雜合之不同探針的受體發射信號彼此分離，但是，如上所述，該串音使情況複雜化。因沒有參與該能量轉移之激發施體所造成之背景發射係根據一考量檢體中之所有探針的雜合探針之百分比的原因而使該情況進一步複雜化。
下面呈現一簡化總結，以便提供各種示範性實施例的一些態樣之基本了解。該總結不是本文件之揭露的廣泛概述。沒有意欲識別示範性實施例之關鍵元件，亦沒有描述保護範圍。下面總結僅以簡化形式呈現一些觀念做為示範性實施例之更詳細敘述的開始。
依據該揭露，提供一種用於從一待分析之檢體在兩個或兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之方法。每一偵測波長帶係相關於該檢體所包含之特定分析探針族群(analyte-specific probe-populations)中之一，以及每一探針族群在激發後能發射彼此具有不同光譜的一第一信號成分及一第二信號成分，以及至少該第一信號成分係取決於可以那個探針族群來偵測之分析物的存在。在本文件中，文字“檢體”表示包括一個或一個以上待偵測分析物及用於偵測所需之檢定試劑的物質，該等檢定試劑包含上述探針族群。
該方法包括：-計算在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群發射之該等第二信號成分所造成的串音強度之估計值，其係根據：a)第一串音參數及b)表示在該等偵測波長帶範圍外的至少一個輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之至少一個強度的至少一個數值，以及-計算該等偵測波長帶之串音校正強度，其係根據：a)在該等偵測波長帶上所測量之強度、b該等串音強度之計算估計值及c)第二串音參數， 其中：-該等第一串音參數之每一者表示a)在該等偵測波長帶中之一上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度與b)在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度間之關係，以及-該等第二串音參數之每一者表示a)在關於該等探針族群中之一的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度與b)在關於該等探針族群中之另一者的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度間之關係。
該等探針族群可以是例如，但沒有必然是，根據該螢光共振能量轉移“FRET”之探針族群。可例如配合適用於例如嚴重複合型免疫缺乏症“SCID”檢驗之時間解析螢光共振能量轉移“TR-FRET”多分析物偵測來使用用於串音校正之方法。
在依據一有利但非限定實施例之方法中，表示在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度的數值具有一從該檢體在該輔助波長帶上所測量之數值。因此，例如，配合FRET檢驗，可在串音校正中考慮該背景發針對所有探針之雜合探針的百分比的相依性。在容納檢體之微量測試孔(microtiter wells)中執行檢驗之情況下，分別從每一檢體孔較佳地測量在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度。
依據該揭露，亦提供一種用於從一待分析之檢體在兩個或兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之裝置。每一偵測波長帶係相關於該檢體所包含之特定分析探針族群中之一，以及每一探針族群在激發後能發射彼此具有不同光譜的一第一信號成分及一第二信號成分，以及至少該第一信號成分係取決於可以那個探針族群來偵測之分析物的存在。該裝置包括一計算系統，其配置成用以：-計算在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群發射之該等第二信號成分所造成的串音強度之估計值，其係根據：a)第一串音參數及b)表示在該等偵測波長帶範圍外的至少一個輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之至少一個強度的至少一個數值，以及-計算該等偵測波長帶之串音校正強度，其係根據：a)在該等偵測波長帶上所測量之強度、b該等串音強度之計算估計值及c)第二串音參數，其中-該等第一串音參數之每一者表示a)在該等偵測波長帶中之一上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度與b)在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度間之關係，以及-該等第二串音參數之每一者表示a)在關於該等探針族群中之一的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的 強度與b)在關於該等探針族群中之另一者的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度間之關係。
依據該揭露，亦提供一種儀器，其包括：-測量設備，其用以從一待分析之檢體測量在兩個以上偵測波長帶上之強度；以及-依據該揭露之用於從該檢體在該兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之裝置。
依據該揭露，亦提供一種用於從一待分析之檢體在兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之電腦程式。該電腦程式包括一電腦可執行指令，其用以控制一可程式的處理器：-計算在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群發射之該等第二信號成分所造成的串音強度之估計值，其係根據：a)第一串音參數及b)表示在該等偵測波長帶範圍外的至少一個輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之至少一個強度的至少一個數值，以及-計算該等偵測波長帶之串音校正強度，其係根據：a)在該等偵測波長帶上所測量之強度、b)該等串音強度之計算估計值及c)第二串音參數，其中-該等第一串音參數之每一者表示a)在該等偵測波長帶中之一上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度與b)在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度間之關係，以及 -該等第二串音參數之每一者表示a)在關於該等探針族群中之一的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度與b)在關於該等探針族群中之另一者的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度間之關係。
依據該揭露之電腦程式產品包括一非揮發性電腦可讀取媒體，例如，光碟(“CD”)，其以依據該揭露之電腦程式來編碼。
在所附依附項中描述一些示範性實施例。
當結合所附圖式研讀時，從下面特定示範性實施例之敘述將最了解關於構造及操作方法之各種示範性實施例及其附加目的及優點。
在本文件中使用動詞“包括(to comprise及to include)”做為沒有排除亦沒有需要未引用特徵之存在的開放式限制。除非有其它明確陳述，在依附項中所引用之特徵係可彼此自由地組合的。
201‧‧‧實線
202‧‧‧實線
211‧‧‧虛線
212‧‧‧虛線
213‧‧‧實線
220‧‧‧波長帶
221‧‧‧波長帶
230‧‧‧波長帶
301‧‧‧控制器
302‧‧‧偵測器
303‧‧‧激發光源
304‧‧‧光導管
306‧‧‧支撐軌道
307‧‧‧滑板
308‧‧‧檢體板
309‧‧‧導向元件
310‧‧‧雙頭箭頭
311‧‧‧雙頭箭頭
351‧‧‧檢體
352‧‧‧檢體
353‧‧‧檢體
354‧‧‧檢體
355‧‧‧檢體
356‧‧‧檢體
357‧‧‧檢體
390‧‧‧座標系統
下面將以範例參考所附圖式來更詳細說明該等示範性實施例及它們的優點。
第1圖顯示依據一示範性實施例之用於從一待分析之檢體在兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之方法的流程圖；第2圖描述在依據一示範性實施例之用於串音校正的方法係可應用之示範性情況下的兩個探針族群之發射光譜； 第3a圖顯示一包括依據一示範性實施例之用於從一待分析之檢體在兩個或兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之裝置的光學測量儀器之示意圖；以及第3b圖顯示從第3a圖之線A-A向下所看到之示意圖。
第1圖顯示依據一示範性實施例之用於從一待分析之檢體在相互非重疊偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之方法的流程圖。該等偵測波長帶之每一者係相關於該檢體所包含之特定分析探針族群中之一者。每一探針族群之一發射信號包含一第一信號成分及一第二信號成分，其中該第一信號成分在該探針族群所專有的波長上具有一最大值及該第一信號成分係取決於可以該探針族群來偵測之分析物的濃度，以及該第二信號成分之光譜不同於上述第一信號成分之光譜。第2圖描述在在具有探針族群P1及P2之示範性情況下的發射光譜。一具有圓圈之實線213表示該等探針族群P1及P2之發射光譜的聚合(亦即，總和)。該等發射光譜之聚合表示當使用某一激發波長時，可從該檢體測量之信號的光譜。一實線201表示該探針族群P1所發射之第一信號成分的光譜，以及一實線202表示該探針族群P1所發射之第二信號成分的光譜。一虛線211表示該探針族群P2所發射之第一信號成分的光譜，以及一虛線212表示該探針族群P2所發射之第二信號成分的光譜。第2圖所示 之波長帶220表示關於該探針族群P1之偵測波長帶，以及波長帶221表示關於該探針族群P2之偵測波長帶。
該等探針族群P1及P2可以是例如，但沒有 必然是，根據螢光共振能量轉移“FRET”之探針的族群(意即，聚集)，其中每一探針可以包括至少一個施體、至少一個受體及至少一個能以那個探針與該待偵測分析物互相作用之反應區。可使一探針之施體及受體附著至同一分子，但是一探針亦可能包括一附著至一第一分子之施體及一附著至一個別的第二分子之受體。在此情況下，該等相互分離施體及受體可與該待偵測分析物相互作用及藉此形成一適用於例如該螢光共振能量轉移“FRET”之施體-受體對。該施體可以是一具有比例如1μs長之發光壽命的發光標籤(luminescent label)。該等探針之每一者可以包括例如一鑭系元素螫合物施體(lanthanide chelate donor)及一有機螢光團受體(organic fluorophore acceptor)。該鑭系元素可以是例如銪“Eu”、鋱“Tb”、鏑“Dy”或釤“Sm”。該探針族群P1之受體可以是例如Alexa Fluor®647染料及該探針族群P2之受體可以是例如Alexa Fluor®750染料。在此情況中，第2圖所示之λ0、λ1及λ2的數值為λ0 615nm、λ1 665nm及λ2 780nm，其中λ0係第2圖所示之610-620nm輔助波長帶230的中心點，λ1係660-670nm偵測波長帶220的中心點，以及λ2係775-785nm偵測波長帶221的中心點。因從這些探針之激發Eu施體的能量轉移所激發之該探針族群P1的探 針之Alexa Fluor®647受體造成以該實線201描繪之光譜，以及沒有參與該能量轉移之該探針族群P1的探針之激發Eu施體造成以該實線202描繪之光譜。相應地，因從該探針族群P2之探針的激發Eu施體之能量轉移所激發之該探針族群P2的探針之Alexa Fluor®750受體造成以該虛線211描繪之光譜，以及沒有參與該能量轉移之該探針族群P2的探針之激發Eu施體造成以該虛線212描繪之光譜。可將第2圖視為用以表示當未雜合(亦即，自由)探針之受體所發射的信號從偵測之觀點已充分衰減時之施體激發後的時刻。
依據一示範性實施例之用於在該等偵測波長帶220及221上所分別測量之強度IM1及IM2的串音校正之方法包括下面動作：-第1圖之動作101：計算在該等偵測波長帶220及221上所出現及至少部分由該等探針族群P1及P2發射之該等第二信號成分所造成的串音強度CB1及CB2之估計值，其係根據：a)第一串音參數RB1及RB2以及b)表示至少部分由該等第二信號成分所造成及在該等偵測波長帶220及221範圍外的第2圖之輔助波長帶230上所出現之強度的數值IBM，以及-第1圖之動作102：計算該等偵測波長帶220及221之串音校正強度IC1及IC2，其係根據：a)在該等偵測波長帶220及221上所測量之強度IM1及IM2、b)該等串音強度CB1及CB2之計算估計值及c)第二串音參數R12及R21。
配合該時間解析螢光共振能量轉移“TR-FRET”多分析物偵測，可將上述串音強度CB1及CB2稱為“背景”強度，以便與相關於TR-FRET之詞組一致。
該串音參數RB1表示a)在該偵測波長帶220上所出現及至少部分由該等探針族群P1及P2發射之第二信號成分所造成之強度與b)在該輔助波長帶230上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度間之關係。相應地，該串音參數RB2表示a)在該偵測波長帶221上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成的強度與b)在該輔助波長帶230上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成的強度間之關係。在更一般的情況下，不同的探針族群所發射之第二信號成分的光譜係彼此不同的，例如，該探針族群P1之第二信號成分的光譜可不同於該探針族群P2之第二信號成分的光譜。在此情況下，如果可找到這樣的輔助波長帶，以致於在該輔助波長帶上所出現及由該等第二信號成分所造成之強度可充分地沒有互相串音及來自該等第一信號成分之串音，則可達成較佳串音校正準確度。在此情況下，亦可使用用以定義該等第一串音參數之上面所呈現的原理，但是，當然，當具有一個以上之輔助波長帶時，該等第一串音參數之個數係較高的。
該串音參數R12表示a)在該偵測波長帶220上所出現及至少部分由該探針族群P2發射之第一信號成分所造成之強度與b)在該偵測波長帶221上所出現及至少部分由該探針族群P2發射之第一信號成分所造成之強 度間之關係。相應地，該串音參數R21表示a)在該偵測波長帶221上所出現及至少部分由該探針族群P1發射之第一信號成分所造成之強度與b)在該偵測波長帶220上所出現及至少部分由該探針族群P1發射之第一信號成分所造成之強度間之關係。
在依據一示範性實施例之方法中，表示在該 輔助波長帶230上所出現及至少部分由該等探針族群P1及P2之第二信號成分所造成之強度的數值IBM係一從該待分析檢體在該輔助波長帶上所測量之數值。因此，例如，配合該等第二信號成分所造成之信號的強度係至少部分取決於在該檢體中所存在之分析物的濃度之FRET檢驗，可分別從每一檢體孔(sample well)在串音校正中測量及考慮該IBM。在依據另一示範性實施例之方法中，表示在該輔助波長帶230上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度的數值IBM係配合數個檢體之同一預定值，例如，同一數值IBM可使用於許多的檢體孔。
在依據一示範性實施例之方法中，依據下面方程式來計算該等串音強度CB1及CB2之估計值：CB1=RB1×IBM及CB2=RB2×IBM (1)
在一般情況下，其中可具有兩個以上特定分析探針族群，可依據下面方程式計算在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該兩個以上探針族群之第二信號成分所造成的串音強度之估計值：CBi=RBi×IBM (2)
其中i=1、2、...，該等特定分析探針族群之個數，CBi係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之串音強度的估計值，以及RBi係表示a)在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度與b)在該輔助波長帶230上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度間的關係之第一串音參數。
在依據一示範性實施例之方法中，從下面一對方程式解出該等偵測波長帶220及221之串音校正強度IC1及IC2：
在一般情況下，其中可具有3個以上特定分析探針族群，可從下面一組方程式解出該等偵測波長帶之串音校正強度：
其中：n係該等特定分析探針族群之個數，ICi及ICj分別係該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶的串音校正強度， IMi係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所測量之強度，CBj係在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之串音強度的估計值，以及Rij係表示a)在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成之強度與b)在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成之強度間的比率之第二串音參數。
依據一示範性實施例之方法包括根據從一個以上第一模型檢體所測量之第一試驗強度來決定該等第一串音參數，該等第一模型檢體之每一者包含一個以上探針族群且不含可以該等探針族群來偵測之分析物。可例如依據下面方程式來計算該等第一串音參數：
其中：i=1、2、...，該等特定分析探針族群之個數，RBi係關於該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶(例如，第2圖所示之波長帶220及221中之一者)的第一串音參數，IModel0,i係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成及從包含 該等探針族群之這種第一模型檢體所測量之第一試驗強度，以及IModel0,B係在該輔助波長帶(例如，在第2圖所示之波長帶230)上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成及從該第一模型檢體所測量之第一試驗強度。
依據一示範性實施例之方法包括根據從第二模型檢體所測量之第二試驗強度來決定該等第二串音參數，其中該等第二模型檢體之每一者包含一個以上探針族群及可以該等探針族群中之一來偵測之分析物及不含可以其它探針族群來偵測之分析物。可例如依據下面方程式來計算該等第二串音參數：
其中：i=1、2、...，該等特定分析探針族群之個數，j=1、2、...，該等特定分析探針族群之個數，以及i≠j，Rij係關於該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶(例如，第2圖所示之波長帶220及221)的第二串音參數，IModel,i,j係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成及從包含可以關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群來偵測之分析物及不含可以其它探針族群來偵測之分析物的這種第二模型檢體所測量之第二試驗強度， IModel,j,j係在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成及從上述第二模型檢體所測量之第二試驗強度，以及Ci及Cj係實值調整項。
在依據一示範性實施例之方法中，上述Ci=RBi×試驗強度IMODEL,B,j(至少部分由該等第二信號成分所造成及從上述第二模型檢體在該輔助波長帶上所測量)，以及上述Cj=RBj×試驗強度IMODEL,B,j，其中RBi及RBj係分別關於該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶的第一串音參數。
在依據一示範性實施例之方法中，Ci係在等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之試驗強度IModel0,i，以及Cj係在等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之試驗強度IModel0,j，其中從一包含該等探針族群及不含可以該等探針族群來偵測之分析物的模型檢體測量該等試驗強度Ci及Cj。
在依據一示範性實施例之方法中，該等實值調整項Ci及Cj=0。
在依據一示範性實施例之方法中，根據下面至少一者從預定值間選擇該等第一及第二串音參數：強度測量之實施的方式、識別一用於該等強度測量之測量儀器的資訊。強度測量之實施的一方式之特徵在於，例如，但沒有必然是，在某一測量波長帶上之強度的偵測 中所使用之連續激發計數週期的次數，其中每一激發計數週期包含一激發階段及一後續計數階段。識別一測量儀器之資訊可以是例如用於強度測量之該測量儀器的序號。
依據一示範性實施例之方法包括電腦可執行 指令，其用以控制一可程式的處理器，以執行依據任何上述示範性實施例之方法。可以一合適程式設計語言來產生該電腦可執行指令。
依據一示範性實施例之電腦程式產品包括一 非揮發性電腦可讀取媒體，例如，光碟(“CD”)，其以依據一實施例之電腦程式來編碼。
將依據一示範性實施例之信號編碼，以攜帶 定義依據一實施例之電腦程式的資訊。
第3a圖顯示一光學測量儀器之示意圖，其包 括依據一示範性實施例之用於從一待分析檢體在兩個以上波長帶上所測量之強度的串音校正之裝置。第3b圖顯示從第3a圖之線A-A向下觀看之示意圖。該測量儀器包括配置成用以支撐一檢體板308(可以是例如一微量滴定板(microtitration plate))之機械支撐元件。該檢體板包括容納有待分析檢體351、352、353、354、355、356及357之檢體孔。該等檢體已配置成包含特定分析探針族群，例如，FRET探針，以便從每一檢體偵測兩個以上分析物之存在。該等機械支撐元件包括第3b圖所示之一支撐軌道306及導向元件309。以該支撐軌道306可在第3b圖所示之雙頭箭頭310上移動之方式，在該等導向元 件309之協助下相對於該測量儀器之本體支撐該支撐軌道306。該等機械支撐元件包括一能容納該檢體板308之滑板(sledge)307。該滑板以能在該支撐軌道之縱向上沿著該支撐軌道滑動之方式連接至該支撐軌道306，亦即，該滑板可在第3b圖所示之雙頭箭頭311的方向上相對於該支撐軌道306移動。因此，該檢體板308可在由一座標系統390所定義之xy平面上移動。由於該等檢體孔可在該xy平面上移動之事實，可以時間上連續方式測量不同檢體孔之內容物，以致於每一檢體孔輪流成為內容物被測量之檢體孔。
該測量儀器包括用以從一待分析檢體測量在 兩個以上偵測波長帶上之強度的測量設備。每一偵測波長帶係與該檢體所包含之特定分析探針族群中之一者有關，以及每一探針族群在激發後能發射至少一第一信號成分及一第二信號成分，其光譜在不同的波長具有最大值，以及至少該第一信號成分係取決於可以那個探針族群來偵測之分析物的存在。該測量設備在第3a圖中包括一激發光源303及一用以引導激發輻射至該被測量檢體352之光導管304。該測量設備包括一偵測器302，其用以在適當波長帶上測量該檢體352所發射之發射輻射及用以產生一表示在該等波長帶上所測量之發射輻射的強度之信號。該偵測器309係例如以光電二極體或光電倍增管為基礎。該測量儀器包括一控制器301，其用以控制該激發光源303及該偵測器302之操作。該激發光源303、該偵測器302及/或該光導管304可以是該測量儀 器之整體或可更換組件。可以一個以上可程式的處理器電路、一個以上專屬硬體電路(例如，特定應用積體電路“ASIC”)、一個以上場可程式邏輯電路(例如，場可程式閘陣列“FPGA”)或其組合來實施該控制器301。再者，該光學測量儀器可以包括一光學濾波裝置，在該光學濾波裝置之協助下，對於每一測量可選擇一適當波長帶。
該測量儀器包括一用於從該檢體352在該兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之裝置。該裝置包括：-計算在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群發射之該等第二信號成分所造成的串音強度之估計值的裝置，其係根據：a)第一串音參數及b)表示至少一強度之至少一數值，每一強度係出現在該等偵測波長帶範圍外的輔助波長帶中之一者上及至少部分由該等第二信號成分所造成，以及-計算該等偵測波長帶之串音校正強度的裝置，其係根據：a)在該等偵測波長帶上所測量之強度、b)該等串音強度之計算估計值及c)第二串音參數，其中：-該等第一串音參數之每一者表示a)在該等偵測波長帶中之一者上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度與b)在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度間之關係，以及-該等第二串音參數之每一者表示a)在關於該等探針族群中之一的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該 等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度與b)在關於該等探針族群中之另一者的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度間之關係。
在第3a及3b圖所述之測量儀器中，該控制器301包括一計算系統，其配置成用以構成用於串音校正之裝置。在依據另一示範性實施例之測量儀器中，以一個別計算系統實施用於串音校正之裝置。
在依據一示範性實施例之裝置中，該計算系統係配置成用以依據下面方程式計算在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成的串音強度之估計值：CBi=RBi×IBM
其中CBi係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之串音強度的估計值、RBi係關於該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶的第一串音參數、以及IBM係表示在輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度的數值。
在依據一示範性實施例之裝置中，該計算系統係配置成用以從下面方程式組來解出該等偵測波長帶之串音校正強度：
其中：ICi及ICj分別係該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶的串音校正強度，IMi係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所測量之強度，CBj係在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之串音強度的估計值，以及Rij係表示a)在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成之強度與b)在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成之強度間的比率之第二串音參數。
在依據一示範性實施例之裝置中，該計算系統係配置成用以根據從一個以上第一模型檢體所測量之第一試驗強度來決定該等第一串音參數，該等第一模型檢體之每一者包含該等探針族群中之一個以上探針族群及不含可以該等探針族群來偵測之分析物。
在依據一示範性實施例之裝置中，該計算系統係配置成用以依據下面方程式來計算該等第一串音參數：
其中：RBi係關於該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶的第一串音參數，IModel0,i係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成及從包含該等探針族群之這種第一模型檢體所測量之第一試驗強度，以及IModel0,B係在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成及從該第一模型檢體所測量之第一試驗強度。
在依據一示範性實施例之裝置中，該計算系統係配置成用以根據從第二模型檢體所測量之第二試驗強度來決定該等第二串音參數，該等第二模型檢體之每一者包含該等探針族群中之一個以上探針族群及可以該等探針族群中之一者來偵測之分析物及不含可以其它探針族群來偵測之分析物。
在依據一示範性實施例之裝置中，該計算系統係配置成用以依據下面方程式計算該等第二串音參數：
其中：Rij係關於該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶的第二串音參數，IModel,i,j係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成及從包含可以關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群來偵測之分析物及不含可以其它探針族群來偵測之分析物的該第二模型檢體所測量之第二試驗強度，IModel,j,j係在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成及從上述第二模型檢體所測量之第二試驗強度，以及Ci及Cj係實值調整項。
在依據一示範性實施例之裝置中，該計算系統係配置成用以設定該等調整項，以便上述Ci=RBi×至少部分由該等第二信號成分所造成及從上述第二模型檢體在該輔助波長帶上所測量之強度，以及上述Cj=RBj×至少部分由該等第二信號成分所造成及從該第二模型檢體在該輔助波長帶上所測量之強度，其中RBi及RBj係分別關於該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶的第一串音參數。
在依據一示範性實施例之裝置中，該計算系統係配置成用以設定該等調整項，以便Ci係為在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該 等第二信號成分所造成之試驗強度，以及Cj係為在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之試驗強度，其中從一包含該等探針族群及不含可以該等探針族群來偵測之分析物的模型檢體測量該等試驗強度Ci及Cj。
在依據一示範性實施例之裝置中，該計算系統係配置成用以設定該等調整項，以便Ci=Cj=0。
依據一示範性實施例之測量儀器，該測量儀器係配置成用以從該檢體352測量在該等輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度，以及該用於串音校正之裝置係配置成用以在計算在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之串音強度的估計值時，使用該測量強度。
在依據一示範性實施例之測量儀器中，該用於串音校正之裝置係配置成用以根據下列中之至少一者從預定值間選擇該等第一及第二串音參數：強度測量之實施的方式、識別該測量儀器與相似測量儀器之資訊。識別一測量儀器之資訊可以是例如該測量儀器之序號。
如上所敘的特定範例應不構成為限制。因此本案所保護的範圍係不限於如上所敘的實施例。

Claims (32)

  1. 一種用於從一檢體在兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之方法，每一偵測波長帶係相關於該檢體所包含之特定分析探針族群中之一者，以及每一探針族群能發射彼此具有不同光譜的一第一信號成分及一第二信號成分，以及至少該第一信號成分係取決於可以該探針族群來偵測之分析物的存在，其特徵在於：該方法包括：計算(101)在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群發射之該等第二信號成分所造成的串音強度之估計值，其係根據：a)第一串音參數及b)表示在該等偵測波長帶範圍外的至少一個輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之至少一個強度的至少一個數值，以及計算(102)該等偵測波長帶之串音校正強度，其係根據：a)在該等偵測波長帶上所測量之強度、b)該等串音強度之計算估計值及c)第二串音參數，其中：該等第一串音參數之每一者表示a)在該等偵測波長帶中之一上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度與b)在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度間之關係，以及該等第二串音參數之每一者表示a)在關於該等探針族群中之一的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造 成的強度與b)在關於該等探針族群中之另一者的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度間之關係。
  2. 如請求項1之方法，其中依據下面方程式計算在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之串音強度的估計值：CBi=RBi×IBM其中CBi係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之串音強度的估計值，RBi係關於該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶的第一串音參數，以及IBM係表示在輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度的數值。
  3. 如請求項1或2之方法，其中從下面方程式組來解出該等偵測波長帶之串音校正強度： 其中ICi及ICj分別係該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶的串音校正強度，IMi係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所測量之強度， CBj係在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之串音強度的估計值，以及Rij係表示a)在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成之強度與b)在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成之強度間的比率之第二串音參數。
  4. 如請求項1-3中任一項之方法，其中該方法包括根據從一個以上第一模型檢體所測量之第一試驗強度來決定該等第一串音參數，該等第一模型檢體之每一者包含該等探針族群中之一個以上探針族群及不含可以該等探針族群來偵測之分析物。
  5. 如請求項4之方法，其中依據下面方程式來計算該等第一串音參數： 其中：RBi係關於該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶的第一串音參數，IModel0,i係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成及從包含該等探針族群之這種第一模型檢體所測量之第一試驗強度，以及 IModel0,B係在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成及從該第一模型檢體所測量之第一試驗強度。
  6. 如請求項1-5中任一項之方法，其中該方法包括根據從第二模型檢體所測量之第二試驗強度來決定該等第二串音參數，該等第二模型檢體之每一者包含該等探針族群中之一個以上探針族群及可以該等探針族群中之一來偵測之分析物及不含可以其它探針族群來偵測之分析物。
  7. 如請求項6之方法，其中依據下面方程式計算該等第二串音參數： 其中：Rij係關於該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶的第二串音參數，IModel,i,j係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成及從包含可以關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群來偵測之分析物及不含可以其它探針族群來偵測之分析物的該第二模型檢體所測量之第二試驗強度，IModel,j,j係在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個 偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成及從該第二模型檢體所測量之第二試驗強度，以及Ci及Cj係實值調整項。
  8. 如請求項7之方法，其中Ci=Cj=0。
  9. 如請求項7之方法，其中Ci係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之試驗強度，以及Cj係在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之試驗強度，從一包含該等探針族群中之一個以上探針族群及不含可以該等探針族群來偵測之分析物的模型檢體測量該等試驗強度Ci及Cj。
  10. 如請求項7之方法，其中Ci=RBi×至少部分由該等第二信號成分所造成及從該第二模型檢體在該輔助波長帶上所測量之強度，以及Cj=RBj×至少部分由該等第二信號成分所造成及從該第二模型檢體在該輔助波長帶上所測量之強度，其中RBi及RBj係分別關於該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶的第一串音參數。
  11. 如請求項1-10中任一項之方法，其中表示在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度的數值係一從該檢體在該輔助波長帶上所測量之數值。
  12. 如請求項1-11中任一項之方法，其中根據下面至少一者從預定值間選擇該等第一及第二串音參數：強度測量之實施的方式、識別一用於該等強度測量之測量儀器的資訊。
  13. 如請求項1-12中任一項之方法，其中該等探針族群係根據螢光共振能量轉移之探針的族群，其中每一探針包括至少一施體、至少一受體及至少一能以那個探針與待偵測分析物互相作用之反應區。
  14. 如請求項13之方法，其中該施體係一具有比1μs長之發光壽命的發光標籤。
  15. 如請求項13之方法，其中該施體係一鑭系元素螫合物施體及該受體係一有機螢光團受體。
  16. 如請求項15之方法，其中該鑭系元素係銪、鋱、鏑或釤。
  17. 一種用於從一檢體在兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之裝置，每一偵測波長帶係相關於該檢體所包含之特定分析探針族群中之一者，以及每一探針族群能發射彼此具有不同光譜的一第一信號成分及一第二信號成分，以及至少該第一信號成分係取決於可以那個探針族群來偵測之分析物的存在，其特徵在於：該裝置包括一計算系統(301)，其配置成用以：計算在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群發射之該等第二信號成分所造成的串音強度之估計值，其係根據：a)第一串音參數及b)表示在該等偵測波長帶範圍外的至少一個輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之至少一個強度的至少一個數值，以及計算該等偵測波長帶之串音校正強度，其係根據：a)在該等偵測波長帶上所測量之強度、b)該等串音強度之計算估計值及c)第二串音參數， 其中：該等第一串音參數之每一者表示a)在該等偵測波長帶中之一者上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度與b)在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度間之關係，以及該等第二串音參數之每一者表示a)在關於該等探針族群中之一者的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度與b)在關於該等探針族群中之另一者的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度間之關係。
  18. 如請求項17之裝置，其中該計算系統係配置成用以依據下面方程式計算在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成的串音強度之估計值：CBi=RBi×IBM其中CBi係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之串音強度的估計值、RBi係關於該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶的第一串音參數、以及IBM係表示在輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度的數值。
  19. 如請求項17或18之裝置，其中該計算系統係配置成用以從下面方程式組來解出該等偵測波長帶之串音校正強度： 其中：ICi及ICj分別係該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶的串音校正強度，IMi係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所測量之強度，CBj係在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之串音強度的估計值，以及Rij係表示a)在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成之強度與b)在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成之強度間的比率之第二串音參數。
  20. 如請求項17-19中任一項之裝置，其中該計算系統係配置成用以根據從一個以上第一模型檢體所測量之第一試驗強度來決定該等第一串音參數，該等第一模型檢體之每一者包含該等探針族群中之一個以上探針族群及不含可以該等探針族群來偵測之分析物。
  21. 如請求項20之裝置，其中該計算系統係配置成用以依據下面方程式來計算該等第一串音參數： 其中：RBi係關於該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶的第一串音參數，IModel0,i係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成及從包含該等探針族群之這種第一模型檢體所測量之第一試驗強度，以及IModel0,B係在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成及從該第一模型檢體所測量之第一試驗強度。
  22. 如請求項17-21中任一項之裝置，其中該計算系統係配置成用以根據從第二模型檢體所測量之第二試驗強度來決定該等第二串音參數，該等第二模型檢體之每一者包含該等探針族群中之一個以上探針族群及可以該等探針族群中之一者來偵測之分析物及不含可以其它探針族群來偵測之分析物。
  23. 如請求項22之裝置，其中該計算系統係配置成用以依據下面方程式計算該等第二串音參數： 其中：Rij係關於該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶的第二串音參數，IModel,i,j係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成及從包含可以關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群來偵測之分析物及不含可以其它探針族群來偵測之分析物的該第二模型檢體所測量之第二試驗強度，IModel,j,j係在該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由關於該等偵測波長帶之第j個偵測波長帶的探針族群發射之第一信號成分所造成及從該第二模型檢體所測量之第二試驗強度，以及Ci及Cj係實值調整項。
  24. 如請求項23之裝置，其中該計算系統係配置成用以設定該等調整項，以便Ci=Cj=0。
  25. 如請求項23之裝置，其中該計算系統係配置成用以設定該等調整項，以便Ci係在該等偵測波長帶之第i個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之試驗強度，以及Cj係在該等偵測波長帶之 第j個偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之試驗強度，從一包含該等探針族群中之一個以上探針族群及不含可以該等探針族群來偵測之分析物的模型檢體測量該等試驗強度Ci及Cj。
  26. 如請求項23之裝置，其中該計算系統係配置成用以設定該等調整項，以便Ci=RBi×至少部分由該等第二信號成分所造成及從該第二模型檢體在該輔助波長帶上所測量之強度，以及Cj=RBj×至少部分由該等第二信號成分所造成及從該第二模型檢體在該輔助波長帶上所測量之強度，其中RBi及RBj係分別關於該等偵測波長帶之第i個及第j個偵測波長帶的第一串音參數。
  27. 如請求項17之裝置，其中該計算系統包括：一處理器，其用以執行指令；以及一記憶體，其儲存一定義一組用以控制該處理器來計算在該等偵測波長帶上所出現之串音強度的估計值及計算該等偵測波長帶之串音校正強度的指令之電腦程式。
  28. 一種測量儀器，其包括：測量設備(302、303、304)，其用以從一檢體測量在兩個以上偵測波長帶上之強度，每一偵測波長帶係相關於該檢體所包含之特定分析探針族群中之一，以及每一探針族群能發射彼此具有不同光譜的一第一信號成分及一第二信號成分，以及至少該第一信號成分係取決於可以那個探針族群來偵測之分析物的存在；以及 如請求項17-26中任一項之用於從該檢體在該兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之裝置。
  29. 如請求項28之測量儀器，其中該測量設備係配置成用以從該檢體測量在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度，以及該用於串音校正之裝置配置成用以在計算在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之串音強度的估計值時，使用該測量強度。
  30. 如請求項28或29之測量儀器，其中該用於串音校正之裝置係配置成用以根據下列中之至少一者從預定值間選擇該等第一及第二串音參數：強度測量之實施的方式、識別該測量儀器與相似測量儀器之資訊。
  31. 一種用於從一檢體在兩個以上偵測波長帶上所測量之強度的串音校正之電腦程式，每一偵測波長帶係相關於該檢體所包含之特定分析探針族群中之一，以及每一探針族群能發射彼此具有不同光譜的一第一信號成分及一第二信號成分，以及至少該第一信號成分係取決於可以那個探針族群來偵測之分析物的存在，其特徵在於：該電腦程式包括電腦可執行指令，以便控制一可程式處理器：計算在該等偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群發射之該等第二信號成分所造成的串音強度之估計值，其係根據：a)第一串音參數及b)表示在該等偵測波長帶範圍外的至少一個輔助波長帶上所出 現及至少部分由該等第二信號成分所造成之至少一個強度的至少一個數值，以及計算該等偵測波長帶之串音校正強度，其係根據：a)在該等偵測波長帶上所測量之強度、b)該等串音強度之計算估計值及c)第二串音參數，其中：該等第一串音參數之每一者表示a)在該等偵測波長帶中之一者上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度與b)在該輔助波長帶上所出現及至少部分由該等第二信號成分所造成之強度間之關係，以及該等第二串音參數之每一者表示a)在關於該等探針族群中之一者的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度與b)在關於該等探針族群中之另一者的該偵測波長帶上所出現及至少部分由該等探針族群中之另一者發射之該第一信號成分所造成的強度間之關係。
  32. 一種電腦程式產品，其包括一以如請求項31之電腦程式來編碼之非暫態電腦可讀取媒體。
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