TW201447272A - 量測系統 - Google Patents
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Abstract
一種量測系統量測一物體的光穿透率，該量測系統包含一光源模組、一感測單元、一承載單元與一處理單元。該光源模組供發射一第一光線。該感測單元藉由感測該第一光線的光強度而產生一第一感測訊號。該承載單元設置在該光源模組與該感測單元之間，以承載該物體。該第一光線入射至該物體之一側，使得該第一光線的光強度藉由該物體的衰減或增強，而從該物體之另一側出射一第二光線。該感測單元藉由感測該第二光線的光強度而產生一第二感測訊號。該處理單元執行一演算法以計算該第一感測訊號與該第二感測訊號而產生一計算結果。該處理單元藉由該計算結果而確定該物體的該光穿透率。
Description
本發明係關於光學量測的技術領域，特別的是一種量測系統。
在習知技術中，藉由例如一紫外線/可見光分光光譜儀對一物體進行測量，以精密地計算出該物體的光穿透率。
然而，實際上，對於該光穿透率之精準度要求不高的該物體，應不適合以體積大且價格昂貴的該紫外線/可見光分光光譜儀對該物體進行測量，例如在一間工廠中的多條產線上，為降低生產成本，應無法大量採購該紫外線/可見光分光光譜儀。
有鑑於此，本發明提出一種量測系統，以解決習知技術的缺失。
本發明之目的提供一種量測系統，藉由簡易的與低製作成本的架構，以測量一物體的光穿透率。
為達到上述目的，本發明提供一種量測系統供量測一物體的光穿透率，該量測系統包含一光源模組、一感測單元、一承載單元與一處理單元。該光源模組供發射一第一光線，該第一光線的光學頻譜範圍係介於300奈米與800奈米之間。該感測單元供接收該第一光線。該感測單元藉由感測該第一光線的光強度而產生一第一感測訊號。該承載單元設置在該光源模組與該感測單元之間。該承載單元供承載該物體。當該第一光線入射至該物體之一側之後，該
第一光線的光強度藉由該物體的衰減或增強，而從該物體之另一側出射一第二光線。該感測單元供接收該第二光線，以藉由感測該第二光線的光強度而產生一第二感測訊號。該處理單元連接該感測單元。該處理單元執行一演算法以計算該第一感測訊號與該第二感測訊號而產生一計算結果。該處理單元藉由該計算結果而確定該物體的該光穿透率。
2‧‧‧物體
22‧‧‧第一側
24‧‧‧第二側
10‧‧‧量測系統
12、12’、12”‧‧‧光源模組
122‧‧‧發光二極體
124‧‧‧驅動單元
126‧‧‧白熾燈
128‧‧‧驅動單元
1210‧‧‧濾光單元
14‧‧‧感測單元
16‧‧‧承載單元
18‧‧‧處理單元
LB1‧‧‧第一光線
LB2‧‧‧第二光線
LB3‧‧‧第三光線
SS1‧‧‧第一感測訊號
SS2‧‧‧第二感測訊號
CR‧‧‧計算結果
DS‧‧‧驅動訊號
第1圖係本發明一實施例之量測系統的方塊示意圖。
第2圖說明第1圖中該光源模組之第一實施例的方塊圖。
第3圖說明第1圖中該光源模組之第二實施例的方塊圖。
為充分瞭解本發明之目的、特徵及功效，茲藉由下述具體之實施例，並配合所附之圖式，對本發明做一詳細說明，說明如後：
請參考第1圖，係本發明一實施例之量測系統的方塊示意圖。於第1圖中，該量測系統10量測一物體2的光穿透率。該穿透率的定義為一射出光之光強度除以一入射光之光強度的百分比。
該量測系統10包含一光源模組12、一感測單元14、一承載單元16與一處理單元18。
該光源模組12發射一第一光線LB1。該第一光線LB1為一可見光，該第一光線LB1的光學頻譜範圍係介於300奈米與800奈米之間。
該感測單元14接收該第一光線LB1，例如該感測單元為一太陽能板或一光二極體。該感測單元14藉由感測該第一光線LB1的光強度而產生一第一
感測訊號SS1。舉例而言，若該感測單元14為該太陽能板，該第一光線LB1將在該太陽能板產生一電流，而該第一光線LB1的光強度將決定該電流的電流強度，該第一感測訊號SS1係對應該電流的電流強度。
該承載單元16設置在該光源模組12與該感測單元14之間。該承載單元16承載該物體2。當該第一光線LB1入射至該物體2之第一側22之後，該第一光線LB1的光強度藉由該物體2的衰減或增強，而從該物體2之第二側24出射一第二光線LB2。該感測單元14藉由感測該第二光線LB2而產生一第二感測訊號SS2，該第二感測訊號SS2係對應該電流的電流強度。
該處理單元18連接該感測單元14。該處理單元18執行一演算法(圖未示)以計算該第一感測訊號SS1與該第二感測訊號SS2而產生一計算結果CR。該處理單元18藉由該計算結果CR而確定該物體2的該光穿透率。
請參考第2圖，說明第1圖中該光源模組之第一實施例的方塊圖。該光源模組12’包含一發光二極體122與一驅動單元124。
該發光二極體122的數量為單一個(在一個發光二極體的磊晶上製作至少三波長(例如紅光、綠光與藍光)的發光二極體)或複數個(例如三個發光二極可各自發射出為紅光、綠光與藍光)，而該發光二極體122藉由施加一電壓而產生具有某一特定頻譜範圍中一波長的一第一光線LB1。
該發光二極體122連接該驅動單元124。該驅動單元124產生一驅動訊號DS以驅動該發光二極體122產生該第一光線LB1。此外，該驅動訊號DS可改變該發光二極體122發射該第一光線LB1的光強度與改變該發光二極體122發射該第一光線LB1的波長。
請參考第3圖，說明第1圖中該光源模組之第二實施例的方塊圖。
該光源模組12”包含一白熾燈126、一驅動單元128與一濾光單元1210。
該白熾燈126相較於單一波長的發光二極體具有較高的演色性，即該白熾燈126的光線的光學頻譜的範圍大於該發光二極體的光學頻譜。該白熾燈126的光線包含可見光以及非可見光。
該白熾燈126連接該驅動單元128。該驅動單元128產生一驅動訊號DS’以驅動該白熾燈126產生一第三光線LB3。由於該第三光線LB3具有高演色性，若要將該第三光線LB3的光學頻譜限制在某一特定光學頻譜(例如可見光的波長範圍)，則該第三光線LB3進一步藉由該濾光單元1210濾除多餘的波長，而讓該第三光線LB3的光學頻譜相同於該第一光線LB1的光學頻譜。
本發明在上文中已以較佳實施例揭露，然熟習本項技術者應理解的是，該實施例僅用於描繪本發明，而不應解讀為限制本發明之範圍。應注意的是，舉凡與該實施例等效之變化與置換，均應設為涵蓋於本發明之範疇內。因此，本發明之保護範圍當以申請專利範圍所界定者為準。
2‧‧‧物體
22‧‧‧第一側
24‧‧‧第二側
10‧‧‧量測系統
12‧‧‧光源模組
14‧‧‧感測單元
16‧‧‧承載單元
18‧‧‧處理單元
LB1‧‧‧第一光線
LB2‧‧‧第二光線
SS1‧‧‧第一感測訊號
SS2‧‧‧第二感測訊號
CR‧‧‧計算結果
Claims (5)
- 一種量測系統，供量測一物體的光穿透率，該量測系統包含：一光源模組，供發射一第一光線，該第一光線的光學頻譜範圍係介於300奈米與800奈米之間；一感測單元，供接收該第一光線，該感測單元藉由感測該第一光線的光強度而產生一第一感測訊號；一承載單元，設置在該光源模組與該感測單元之間，該承載單元供承載該物體，當該第一光線入射至該物體之一側之後，該第一光線的光強度藉由該物體的衰減或增強，而從該物體之另一側出射一第二光線，該感測單元供接收該第二光線，以藉由感測該第二光線的光強度而產生一第二感測訊號；以及一處理單元，連接該感測單元，該處理單元執行一演算法以計算該第一感測訊號與該第二感測訊號而產生一計算結果，該處理單元藉由該計算結果而確定該物體的該光穿透率。
- 如申請專利範圍第1項所述之量測系統，其中該光源模組包含一發光二極體與一驅動單元，該發光二極體連接該驅動單元，該驅動單元產生一驅動訊號以驅動該發光二極體而產生該第一光線。
- 如申請專利範圍第1項所述之量測系統，其中該光源模組包含一白熾燈與一驅動單元，該白熾燈連接該驅動單元，該驅動單元產生一驅動訊號以驅動該白熾燈以產生一第三光線。
- 如申請專利範圍第3項所述之量測系統，更包含一濾光單元，該濾光單元設置在該光源模組與該承載單元之間，該第三光線經由該濾光單元，讓該第三光線的光學頻譜相同於該第一光線的光學頻譜。
- 如申請專利範圍第1項所述之量測系統，其中該感測單元為一太陽能板或一光 二極體。
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