CN104237171A - 测量系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种测量系统测量物体的光穿透率，该测量系统包含光源组件、感应单元、承载单元与处理单元。该光源组件发射第一光线。该感应单元通过感应该第一光线的光强度而产生第一感应信号。该承载单元设置在该光源组件与该感应单元之间，以承载该物体。该第一光线入射至该物体的一侧，使得该第一光线的光强度经过该物体的衰减或增强，而从该物体的另一侧出射第二光线。该感应单元通过感应该第二光线的光强度而产生第二感应信号。该处理单元执行演算法以计算该第一感应信号与该第二感应信号而产生计算结果。该处理单元通过该计算结果而确定该物体的光穿透率。
Description
技术领域
本发明涉及光学测量的技术领域，尤其涉及一种测量系统。
背景技术
在现有技术中，通过例如紫外线/可见光分光光谱仪对物体进行测量，以精确地计算出该物体的光穿透率。
然而，实际上，对于光穿透率的精准度要求不高的物体，不适合采用体积大且价格昂贵的紫外线/可见光分光光谱仪对该物体进行测量，例如在一间工厂中的多条生产线上，为降低生产成本，无法大量采购紫外线/可见光分光光谱仪。
有鉴于此，本发明提出一种测量系统，以解决现有技术的缺陷。
发明内容
本发明的目的在于提供一种测量系统，通过简易的与低制作成本的架构，以测量物体的光穿透率。
为达到上述目的，本发明提供一种测量系统用于测量物体的光穿透率，该测量系统包含光源组件、感应单元、承载单元与处理单元。该光源组件发射第一光线，该第一光线的光学频谱范围介于300纳米与800纳米之间。该感应单元接收该第一光线。该感应单元通过感应该第一光线的光强度而产生第一感应信号。该承载单元设置在该光源组件与该感应单元之间。该承载单元承载该物体。当该第一光线入射至该物体的一侧之后，该第一光线的光强度经过该物体的衰减或增强，而从该物体的另一侧出射第二光线。该感应单元接收该第二光线，以通过感应该第二光线的光强度而产生第二感应信号。该处理单元连接该感应单元。该处理单元执行演算法以计算该第一感应信号与该第二感应信号而产生计算结果。该处理单元通过该计算结果而确定该物体的光穿透率。
附图说明
图1为本发明一实施例的测量系统的框图。
图2说明图1中该光源组件的第一实施例的框图。
图3说明图1中该光源组件的第二实施例的框图。
具体实施方式
为充分了解本发明的目的、特征及功效，通过下述具体的实施例，并配合附图，对本发明做详细说明，说明如后：
请参考图1，本发明一实施例的测量系统的框图。在图1中，该测量系统10测量物体2的光穿透率。该穿透率的定义为出射光的光强度除以入射光的光强度的百分比。
该测量系统10包含光源组件12、感应单元14、承载单元16与处理单元18。
该光源组件12发射第一光线LB1。该第一光线LB1为可见光，该第一光线LB1的光学频谱范围介于300纳米与800纳米之间。
该感应单元14接收该第一光线LB1，例如该感应单元为太阳能板或发光二极管。该感应单元14通过感应该第一光线LB1的光强度而产生第一感应信号SS1。举例而言，若该感应单元14为太阳能板，该第一光线LB1将在该太阳能板产生电流，而该第一光线LB1的光强度将决定该电流的电流强度，该第一感应信号SS1对应该电流的电流强度。
该承载单元16设置在该光源组件12与该感应单元14之间。该承载单元16承载该物体2。当该第一光线LB1入射至该物体2的第一侧22之后，该第一光线LB1的光强度经过该物体2的衰减或增强，而从该物体2的第二侧24出射第二光线LB2。该感应单元14通过感应该第二光线LB2而产生第二感应信号SS2，该第二感应信号SS2对应该电流的电流强度。
该处理单元18连接该感应单元14。该处理单元18执行演算法(图中未示出)以计算该第一感应信号SS1与该第二感应信号SS2而产生计算结果CR。该处理单元18通过该计算结果CR而确定该物体2的光穿透率。
请参考图2，说明图1中该光源组件的第一实施例的框图。该光源组件12’包含发光二极管122与驱动单元124。
该发光二极管122的数量为一个(在一个发光二极管的外延上制作至少三个波长的发光二极管，例如红光、绿光与蓝光)或多个(例如三个发光二极管可各自发射出红光、绿光与蓝光)，而该发光二极管122通过施加电压而产生具有某一特定频谱范围中一波长的第一光线LB1。
该发光二极管122连接该驱动单元124。该驱动单元124产生驱动信号DS以驱动该发光二极管122产生该第一光线LB1。此外，该驱动信号DS可改变该发光二极管122发射该第一光线LB1的光强度与改变该发光二极管122发射该第一光线LB1的波长。
请参考图3，说明图1中该光源组件的第二实施例的框图。该光源组件12’’包含白炽灯126、驱动单元128与滤光单元1210。
该白炽灯126相较于单一波长的发光二极管具有较高的演色性，即该白炽灯126的光线的光学频谱的范围大于该发光二极管的光学频谱。该白炽灯126的光线包含可见光以及非可见光。
该白炽灯126连接该驱动单元128。该驱动单元128产生驱动信号DS’以驱动该白炽灯126产生第三光线LB3。由于该第三光线LB3具有较高演色性，若要将该第三光线LB3的光学频谱限制在某一特定光学频谱(例如可见光的波长范围)，则该第三光线LB3进一步通过该滤光单元1210滤除多余的波长，而让该第三光线LB3的光学频谱与该第一光线LB1的光学频谱相同。
本发明在上文中已经以优选实施例公开，然而本领域技术人员应理解的是，该实施例仅用于描绘本发明，而不应解读为限制本发明的范围。应注意的是，各种与该实施例等效的变化与置换，均应设为涵盖于本发明的范畴内。因此，本发明的保护范围当以权利要求书所界定者为准。
Claims (5)
1.一种测量系统，用于测量物体的光穿透率，其特征在于，该测量系统包含：
光源组件，其发射第一光线，该第一光线的光学频谱范围介于300纳米与800纳米之间；
感应单元，其接收该第一光线，该感应单元通过感应该第一光线的光强度而产生第一感应信号；
承载单元，其设置在该光源组件与该感应单元之间，该承载单元承载该物体，当该第一光线入射至该物体的一侧之后，该第一光线的光强度经过该物体的衰减或增强，而从该物体的另一侧出射第二光线，该感应单元接收该第二光线，以通过感应该第二光线的光强度而产生第二感应信号；以及
处理单元，其连接该感应单元，该处理单元执行演算法以计算该第一感应信号与该第二感应信号而产生计算结果，该处理单元通过该计算结果而确定该物体的该光穿透率。
2.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述光源组件包含发光二极管与驱动单元，该发光二极管连接该驱动单元，该驱动单元产生驱动信号以驱动该发光二极管而产生所述第一光线。
3.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述光源组件包含白炽灯与驱动单元，该白炽灯连接该驱动单元，该驱动单元产生驱动信号以驱动该白炽灯以产生第三光线。
4.如权利要求3所述的测量系统，其特征在于，还包含滤光单元，该滤光单元设置在所述光源组件与该承载单元之间，所述第三光线经由该滤光单元，让所述第三光线的光学频谱与所述第一光线的光学频谱相同。
5.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述感应单元为太阳能板或发光二极管。
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