TW201441127A - 電子元件轉向方法及裝置 - Google Patents

Abstract

本發明係提供一種電子元件轉向方法及裝置，包括：一搬運步驟：使待轉向元件被一搬送流路搬送至轉向區；一移出步驟：一移位模組在往復驅動機構驅動下使一移位構件進行上、下往復運動將待轉向元件自所述搬運流路移出；待轉向元件移出時進入一轉向模組的一轉向機構中；一轉向步驟：使轉向機構經驅動組件驅動旋轉以將位於其中之待轉向元件轉向；完成轉向後之待轉向元件送回到搬運流路中，繼續下一間歇搬送行程；藉此，使待轉向元件作精準的移出、轉向及移入，並可作多種角度之轉向者。

Description

電子元件轉向方法及裝置

本發明係有關於一種轉向方法及裝置，尤指一種在檢測間歇性搬運流路上之電子元件極性後，將電子元件移出間歇性搬運流路進行轉向後，再送回至間歇性搬運流路之電子元件轉向方法及裝置。

習知電子元件如發光二極體(LED)等，在產出後通常會進行物理特性之檢測與電性之量測，以進行良品的包裝與不良品的分類，此等檢測常以設有多個檢測或量測工作站之測盤作為搬運機構，使待測電子元件大量投置於震動送料機中，使其依隨機方式被整列依序輸送於測盤周緣所環列佈設之載槽中，受間歇性旋轉之搬送流路作之位移搬送，而分別間歇性停留於各檢測或量測工作中被進行極性檢測、極性轉向、電性量測、包裝、分類…等作業；其中，由於電子元件在進入測盤周緣容槽時，由於係在震動送料機中被輸送排列，其僅能將電子元件做形狀分辨而作輸送方向的排列，無法判定所輸送之電子元件係以何種極性(陽極或陰極)朝外或朝內被排列運送，故在極性檢測工作站對電子元件檢測後，會進行極性的對齊處理，將各電子元件的極性朝同一方向排列，以供下一電性量測之機構或儀器可以取用正確之極性端作正確的量測；在檢測極性時，若搬運輸送前來的電子元件擺置方向使極性檢測顯示為正確，搬運機構在移動過程中將使該電子元 件直接通過極性轉向機構；若搬運輸送前來的電子元件極性與預設者相反，則將其從測盤容槽排出至位於測盤徑向外側之極性轉向機構中，經過轉向後再將極性正確之電子元件送回到測盤容槽中進行後續之電性量測作業程序。

此種在間歇性旋轉之搬送流路上作極性轉向之習知技術，例如公告號第M350807號「測試包裝機之晶片極性反轉結構」，即揭露一種電子元件轉向裝置，其主要承接來自震動送料機大量入料，而使電子元件被依序輸送在以間歇性旋轉之搬運流路作搬送的測盤旁側，設有呈U字形之極性反轉軌道，且極性反轉軌道二端之入口與出口恰可分別與該測盤上相鄰之二容槽相對應，使電子元件在U字形反轉軌道中作180度的反轉後回到測盤中，以符合預設極性之方向續被搬送。

該習知之公告號第M350807號「測試包裝機之晶片極性反轉結構」專利案之技術，其在測盤旁側設一U字形極性反轉軌道，並利用高壓空氣源將晶片零件從測盤容槽釋放至U字形極性反轉軌道入口，使晶片零件在軌道中持續移動直到從出口排出回到測盤容槽，然而U字形極性反轉軌道搭配高壓空氣源驅使晶片零件移動之設計，使晶片零件容易因角度之偏差卡固在軌道內，使相關操作人員需手動排除錯誤訊息，且氣流之驅動亦無法精準控制每一次轉向作業之時間長短，降低作業過程之穩定性，此外，U字形反轉軌道僅能使用於極性位於兩端之長方形體晶片零件進行180°之轉向，當晶片零件表面為正方形體時，兩極可能位於其周圍四個側邊之任意對稱二側邊，其在測盤容槽時，兩極 與預設方位間可能有需要進行90°之轉向，此時U字形極性反轉軌道就無法發揮作用。

爰是，本發明之目的，在於提供一種可精準控制每一次轉向作業之時間，提高作業過程之穩定性，並可對電子元件進行多轉向操作及避免掉料情形發生之電子元件轉向方法。

本發明之另一目的，在於提供一種可精準控制每一次轉向作業之時間，提高作業過程之穩定性，並可對電子元件進行多轉向操作及避免掉料情形發生之電子元件轉向裝置。

依據本發明目的之電子元件轉向方法，包括：一搬運步驟：使待轉向元件被一搬送流路搬送至轉向區；一移出步驟：一移位模組在往復驅動機構驅動下使一移位構件進行上、下往復運動將待轉向元件自所述搬運流路移出；待轉向元件移出時進入一轉向模組的一轉向機構中；一轉向步驟：使轉向機構經驅動組件驅動旋轉以將位於其中之待轉向元件轉向；完成轉向後之待轉向元件送回到搬運流路中，繼續下一間歇搬送行程者。

依據本發明目的之另一電子元件轉向方法，包括：一搬運步驟：使待轉向元件被以間歇性旋轉之搬送流路搬送至轉向區；一移出步驟：以被往復驅動之移位構件進行上、下往復運動，在往復運動軌跡所形成的軸線與測盤執行的間歇旋轉之搬運流路旋轉中心的垂直軸線呈相互平行下，將待轉向元件移出間歇性旋轉之搬送流路；一轉向步驟：承接移出步驟所移出之待轉向元件將其轉向；待轉向元件轉向後，循原承接軌跡送回到間歇旋轉之搬運流路中，繼續下一間歇搬送行程者。

依據本發明目的之另一電子元件轉向方法，包括：一 搬運步驟：使待轉向元件被以間歇性旋轉之搬送流路搬送至轉向區；一移出步驟：以被往復驅動之移位構件進行上、下往復運動將待轉向元件移出間歇性旋轉之搬送流路，上、下往復運動之軌跡所形成的軸線與待轉向元件自測盤執行的間歇旋轉之搬運流路抵推移出之移出動路相互平行；一轉向步驟：以一承接動路承接移出步驟所移出之待轉向元件將其轉向；待轉向元件轉向後，以一回送動路送回到間歇旋轉之搬運流路中，繼續下一間歇搬送行程；該承接動路、回送動路分別與移出步驟之移出動路相互平行。

依據本發明目的之電子元件轉向裝置，包括：一測盤，執行一間歇旋轉之搬運流路，其周緣等距環列佈設有複數個容槽；一移位模組，設置於該測盤之一側，用以軀使測盤上待轉向元件進出容槽；一轉向模組，設置於測盤相對移位模組之另一側，用以承接移位模組所移出之待轉向元件予以轉向；藉以上裝置，使待轉向元件可自測盤容槽移出進行轉向，並在轉向後送回原移出時之測盤容槽中。

本發明實施例之轉向方法及裝置，由於移位模組直接在容槽、限位件、移位構件共同圍設之封閉區間內將待轉向元件移出測盤執行的間歇旋轉之搬運流路，並由轉向模組承接及轉向，故一方面可以省卻待轉向元件繞移冗長U字形軌道行程，提高轉向程序之效率，另一方面可以避免高壓空氣源驅使晶片零件移動之不穩定性，同時亦可對待轉向元件作精準的移出、轉向及移入以避免掉料或卡料；而轉向模組提供包括九十度或一百八十度之多種轉向角度選項，使本發明實施例可以應對待轉向元件表面為正方形體時，兩極可能位於其周圍四個側邊之任意對稱二側 邊的轉向作業，使本發明實施例之可應用範圍更加廣泛。

1‧‧‧測盤

11‧‧‧容槽

2‧‧‧限位件

21‧‧‧限位區間

3‧‧‧載台

31‧‧‧操作區間

32‧‧‧轉向區

321‧‧‧主轉向區

322‧‧‧副轉向區

4‧‧‧機台台面

5‧‧‧待轉向元件

A‧‧‧移位模組

A1‧‧‧載座

A11‧‧‧第一載座

A111‧‧‧樞接端

A112‧‧‧滑座

A12‧‧‧第二載座

A121‧‧‧上載座

A122‧‧‧下載座

A123‧‧‧上固定元件

A124‧‧‧下固定元件

A125‧‧‧穿孔

A126‧‧‧螺孔

A127‧‧‧外螺紋

A128‧‧‧調整件

A129‧‧‧鎖固元件

A2‧‧‧往復驅動機構

A21‧‧‧電磁鐵

A22‧‧‧驅動件

A221‧‧‧受磁部

A222‧‧‧導接部

A223‧‧‧驅動部

A224‧‧‧氣體通道

A23‧‧‧彈性元件

A24‧‧‧外部管路

A3‧‧‧移位構件

A31‧‧‧管路

A32‧‧‧吸嘴

A4‧‧‧連接件

A5‧‧‧觸抵件

A51‧‧‧鏤空區

B‧‧‧轉向模組

B1‧‧‧模組座

B11‧‧‧操作區

B2‧‧‧轉向機構

B21‧‧‧旋轉體

B211‧‧‧軸孔

B212‧‧‧容置空間

B22‧‧‧驅動組件

B221‧‧‧轉輪

B222‧‧‧馬達

B223‧‧‧輸出軸

B224‧‧‧傳動輪

B225‧‧‧皮帶

B23‧‧‧罩體

B231‧‧‧置納部

B232‧‧‧移入口

B3‧‧‧往復移位機構

B31‧‧‧移位座

B311‧‧‧承載部

B312‧‧‧擋抵部

B32‧‧‧往復作動元件

B33‧‧‧感應桿

B34‧‧‧感應元件

第一圖係本發明實施例中測盤、限位件與載台之立體分解圖。

第二圖係本發明實施例中測盤、限位件與載台之組合示意圖。

第三圖係本發明實施例與測盤、限位件與載台之對應關係示意圖。

第四圖係本發明實施例中之移位模組立體示意圖。

第五圖係本發明實施例中移位模組設於機台台面之剖面示意圖。

第六圖係本發明實施例中移位模組自機台台面掀起之作動示意圖。

第七圖係第五圖中移位模組之部份剖面示意圖。

第八圖係本發明實施例中轉向模組與測盤對應關係示意圖。

第九圖係本發明實施例中轉向模組設於機台台面之剖面示意圖。

圖。

第十圖係第九圖中轉向模組之部份剖面示意圖。

第十一圖係本發明實施例中移位模組與轉向模組對應測盤之關係剖面示意圖。

第十二圖係本發明實施例中待轉向元件位於測盤容槽之示意圖。

第十三圖係本發明實施例中待轉向元件移出測盤容槽之示意圖。

第十四圖係本發明實施例中待轉向元件轉向後移入測盤容槽之示意圖。

請參閱第一、二圖所示，本發明實施例之電子元件轉向方法可實施於設有測盤1、限位件2、及載台3之檢測裝置中， 其中，該測盤1設於一機台台面4上，測盤1周緣等距環列佈設有複數個容槽11，該測盤1執行一間歇旋轉之搬運流路，以帶動容槽11中之待測元件作間歇旋轉位移；該限位件2設於機台台面4上之測盤1容槽11外周緣，其厚度與測盤1之厚度約略相近，但略高於該測盤1容槽11處之厚度，且形成一C型之造型而於中央形成一鏤空狀限位區間21，其內徑較測盤1外徑略大，故該限位區間21可以圍設於測盤1周緣容槽11外周側，主要用以限制待測元件位於容槽11中，防止進行間歇旋轉輸送之待測元件被拋出；該載台3覆蓋在限位件2上方，其形成一C型之造型而於中央形成一鏤空狀操作區間31，由於該操作區間31內徑較測盤1外徑略小，且限位件2之厚度略高於該測盤1容槽11處之厚度，故載台3同時亦部份覆設於測盤1周緣環列佈設之容槽11上方，藉以防止容槽11中之電子元件自上方拋落，且不影響測盤1之轉動；載台3靠操作區間31之內側同時設有一凹設且鏤空之轉向區32，該轉向區32包括一可供一完整容槽11顯露其中之主轉向區321及一可供二容槽11各顯露部份部位之副轉向區322，其中該各部份部位顯露之容槽11各分別位於該完整顯露之容槽11兩側，而該副轉向區322具有相較於主轉向區321更寬之弧度，但主轉向區321則具有較副轉向區322更大的區域；該主、副轉向區321、322的設計，使測盤1以兩容槽11間之間距作間歇旋轉時，位於轉向區32兩側邊之容槽11內待測元件可隨時具有部份面積被載台3限制住，防止待測元件被轉向區32與載台3之接縫端邊卡碰，造成卡料現象。

請參閱第三圖，本發明實施例之電子元件轉向方法 係可以如下之裝置進行實施，包括：一移位模組A，設置於該載台3之轉向區32處，並位於測盤1之上方，用以將測盤1上需要轉向之待測元件移出容槽11；一轉向模組B，設置於測盤1下方，且對應於該移位模組A之下方，用以承接移位模組A所移出需要轉向之待測元件，在將其轉向後，送回原移出時之測盤1容槽11中。

請參閱第四、五圖，該移位模組A包括：一載座A1，包括以一樞接端A111樞設於機台台面4之第一載座A11，以及包括有相隔適當間距之上載座A121及下載座A122的第二載座A12，整個移位模組A可以該樞接端A111為轉軸而被掀起如第六圖所示；該第二載座A12設於所述第一載座A11上之一立設之滑座A112上，其上載座A121及下載座A122並以鳩尾槽、座之樞配方式可於該滑座A112作上、下滑移，及可各受滑座A112上之上固定元件A123、下固定元件A124螺設定位，而上載座A121及下載座A122之上、下位移則藉一穿經上載座A121上穿孔A125而螺設於下載座A122上螺孔A126之具外螺紋A127的調整件A128，並在調整件A128穿經上載座A121的下方以雙螺帽之鎖固元件A129予以鎖固以進行微調，例如，當上固定元件A123螺固上載座A121於滑座A112上適當定位時，此時螺轉調整件A128將使下載座A122作上、下位移調整，反之，若當下固定元件A124螺固下載座A122於滑座A111上適當定位時，此時螺轉調整件A128將使上載座A121作上、下位移調整；一往復驅動機構A2，請參閱第六圖，包括一設於所述第二載座A12上載座A121上的電磁鐵A21、一受電磁鐵A21作用之驅動 件A22、以及一位於下載座A122中之彈性元件A23；該電磁鐵A21提供對驅動件A22一吸引向上之能量及操作，而彈性元件A23提供一向下之與所述電磁鐵A21吸引力反向之頂撐，藉由在電磁鐵A21通電與斷電間的吸附與不吸附，構成驅動件A22執行上、下往復運動之驅動動能；其中，該驅動件A22包括一受磁部A221承受電磁鐵A21之磁吸作用，受磁部A221上方設有導接部A222穿經電磁鐵A21而凸出於電磁鐵A21上方，並與一外部管路A24連接；受磁部A221下方設有驅動部A223而伸經所述第二載座A12之下載座A122及所述彈性元件A23；驅動件A22中設有中空之氣體通道A224與該外部管路A24導通；一移位構件A3，請參閱第七圖，其位於往復驅動機構A2之驅動件A22底端，並以一連接件A4與該驅動件A22之驅動部A223嵌接而受其連動，該連接件A4與下載座A122間設置彈性元件A23；而移位構件A3之底端則位於該載台3轉向區32內，並位於該待轉向元件5所處被限位件2封擋之測盤1容槽11上方；所述移位構件A3設有內部之管路A31與所述驅動件A22之氣體通道A224連通，使氣體通道A224中藉外部管路A24通以負壓時，可自移位構件A3之管路A31底端吸嘴A32執行對下方對應之待轉向元件5作吸附之操作；而在距移位構件A3外周緣適當餘裕處的該第一載座A11下方設有下方貼靠測盤1及限位件2表面之觸抵件A5，其上設一鏤空區A51供所述移位構件A3之吸嘴A32的吸力穿經，該觸抵件A5之底部恰能同時置入所述載台3之具主轉向區321及副轉向區322(主轉向區321及副轉向區322之編號可參閱第二圖)之轉向區32內，其與測盤1之容槽11、限位件2、移位構件 A3共同圍設，使該待轉向元件5被保持在一封閉之區間，並使吸嘴A32位於待轉向元件5之正上方；該移位構件A3之吸嘴A32可依待轉向元件5之規格大小設置併設之複數個，以增加對待轉向元件5之吸附面積；而移位構件A3受往復驅動機構A2作用進行上、下往復運動之行程，將足以將移位構件A3下方對應之待轉向元件5自測盤1執行的間歇旋轉之搬運流路抵推移出於測盤1下方，而往復驅動機構A2進行上、下往復運動軌跡所形成的軸線，係與測盤1執行的間歇旋轉之搬運流路旋轉中心的軸線呈相互平行，且與待轉向元件5自測盤1執行的間歇旋轉之搬運流路抵推移出之移出動路相互平行。

請參閱第八、九、十圖，該轉向模組B包括：一模組座B1，設於所述測盤1下方，其對應所述測盤1之容槽11處，且相對為所述移位模組A之吸嘴A32下方，設有一鏤孔狀操作區B11；一轉向機構B2，包括一旋轉體B21以及驅動該旋轉體B21進行一預設角度轉動之驅動組件B22；該旋轉體B21包括一中空之軸孔B211及較軸孔B211內徑為大之一段容置空間B212，並於旋轉體B21上固設一罩體B23，該罩體B23上凸隆出一置納部B231伸置於該模組座B1之鏤孔狀操作區B11中，並在置納部B231上設有一對應待轉向元件5截面形狀之矩形截面狀移入口B232；該驅動組件B22包括套固於旋轉體B21與其連動之轉輪B221以及一馬達B222，馬達B222輸出軸B223上之傳動輪B224與該轉輪B221以一皮帶B225套設連動，藉此使馬達B222可間接帶動旋轉體B21轉動； 一往復移位機構B3，位於所述轉向機構B2之容置空間B212中，包括一位於上方之移位座B31及一位於移位座B31下方由例如彈簧之彈性元件所構成的往復作動元件B32；該移位座B31以一承載部B311伸於該轉向機構B25之罩體B23的置納部B231上移入口B232中，並抵於待轉向元件5之下方，該移位座B31同時設有一擋抵部B312擋抵於所述罩體B23之下方，使移位座B31於下方受該往復作動元件B32作用，保持一受頂撐向上之作用力下，藉該擋抵部B312使移位座B31之承載部B311恰上端面與移入口B232之開口端約略平齊；往復移位機構B3與一感應桿B33連動，該感應桿B33樞經轉向機構B2的旋轉體B21中空之軸孔B211及往復作動元件B32，而以上端嵌於往復移位機構B3之移位座B31與之連動，下端則受感應元件B34所感測。

請參閱第十一、十二圖，本發明實施例中之待轉向元件5之轉向方法，包括：一搬運步驟：使待轉向元件5被測盤1的容槽11以間歇性旋轉之搬送流路搬送至轉向區32，並使其恰位於測盤1上方移位模組A中移位構件A3之吸嘴A32下方，以及轉向模組B中往復移位機構B3之承載部B311上方，同時亦恰位於轉向機構B2中罩體B23上置納部B231的矩形截面狀移入口B232區域中；一移出步驟：請參閱第十一、十三圖，移位模組A以負壓經吸嘴A32吸附該待轉向元件5，並在往復驅動機構A2進行上、下往復運動軌跡所形成的軸線與測盤1執行間歇旋轉之搬運流路旋轉中心的軸線呈相互平行，且與待轉向元件5自測盤1執行的間歇旋轉之搬運流路抵推移出之移出動路相互平行之下，使往復驅動 機構A2的電磁鐵A21斷磁，而使驅動件A22受彈性元件A23之頂撐，而使驅動件A22下方驅動部A223連動移位構件A3以吸嘴A32底端向下伸出觸抵件A5鏤空區A51，以將容槽11、限位件2、移位構件A3共同圍設之封閉區間內待轉向元件5抵推移出容槽11，而使待轉向元件5自測盤1執行的間歇旋轉之搬運流路移出於測盤1下方；待轉向元件5移出測盤1執行的間歇旋轉之搬運流路時，將同時被移位構件A3的吸嘴A32底端推移，而進入轉向模組B的轉向機構B2中罩體B23上置納部B231之矩形截面狀移入口B232中，移位構件A3的吸嘴A32底端在推移待轉向元件5時，連帶藉待轉向元件5受推而連動壓推往復移位機構B3的移位座B31，使移位座B31連帶壓推下方之往復作動元件B32使其被壓縮蓄積一回復力，並同時藉移位座B31之下移形成承接動路而在上方移入口B232中提供一令待轉向元件5可被收容其中之空間，並令該空間提供待轉向元件5收容時，待轉向元件5之上方可完全脫離所述測盤1之容槽11；在往復移位機構B3的移位座B31下移的同時，移位座B31亦將連動感應桿B33下移，使其下端伸經感應元件B34之感應範圍而觸發一訊號，以供偵測待轉向元件5是否已移出測盤1執行的間歇旋轉之搬運流路，俾供作為進行下一轉向步驟之依據。

一轉向步驟：請參閱第九、十一、十四圖，使轉向機構B2之驅動組件B22中馬達B222的輸出軸B223以其上之傳動輪B224經皮帶B225與該轉輪B221連動，並驅動旋轉體B21連動其上之罩體B23，使罩體B23置納部B231於該模組座B1之鏤孔狀操作區B11中旋轉，並藉置納部B231上對應待轉向元件5截面形狀之矩 形截面狀移入口B232之被轉動例如九十度角或一百八十度角，而使位於移入口B232中待轉向元件5被同步轉向相同之角度；待完成轉向後，啟動移位模組A中之電磁鐵A21導磁，使驅動件A22受磁部A221承受電磁鐵A21之磁吸作用而克服彈性元件A23之頂撐，使驅動件A22下方驅動部A223連動移位構件A3以吸嘴A32底端向上回位而自觸抵件A5鏤空區A51外回移形成一回送動路，以將待轉向元件5循原承接軌跡吸拉回容槽11、限位件2、移位構件A3共同圍設之封閉區間內而進入容槽11中，而使待轉向元件5回到測盤1執行的間歇旋轉之搬運流路中，繼續下一間歇搬送行程，其中，該承接動路、回送動路分別與移出步驟之移出動路相互平行且在同一移動軸向上；而待轉向元件5移出移入口B232時，將因待轉向元件5對移位座B31的壓推力量消失，該移位座B31將在往復作動元件B32回復力作用下，隨待轉向元件5上移而填補原空出之移入口B232內部空間至擋抵部B312擋抵於所述罩體B23之下方為止；而在待轉向元件5回到測盤1執行的間歇旋轉之搬運流路中後，經吸嘴A32吸附該待轉向元件5之負壓亦將停止而釋放該待轉向元件5，使該待轉向元件5可隨測盤1執行的間歇旋轉之搬運流路繼續下一間歇搬送行程。

本發明實施例之轉向方法及裝置，由於移位模組A直接在容槽11、限位件2、移位構件A3共同圍設之封閉區間內將待轉向元件5移出測盤1執行的間歇旋轉之搬運流路，並由轉向模組B承接及轉向，故一方面可以省卻待轉向元件5繞移冗長U字形軌道行程，提高轉向程序之效率，另一方面可以避免高壓空氣源驅使晶片零件移動之不穩定性，同時亦可對待轉向元件5作 精準的移出、轉向及移入以避免掉料或卡料；而轉向模組B提供包括九十度或一百八十度之多種轉向角度選項，使本發明實施例可以應對待轉向元件5表面為正方形體時，兩極可能位於其周圍四個側邊之任意對稱二側邊的轉向作業，使本發明實施例之可應用範圍更加廣泛。

惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。

1‧‧‧測盤

11‧‧‧容槽

2‧‧‧限位件

21‧‧‧限位區間

3‧‧‧載台

32‧‧‧轉向區

4‧‧‧機台台面

Claims (25)

1. 一種電子元件轉向方法，包括：一搬運步驟：使待轉向元件被一搬送流路搬送至轉向區；一移出步驟：一移位模組在往復驅動機構驅動下使一移位構件進行上、下往復運動將待轉向元件自所述搬運流路移出；待轉向元件移出時進入一轉向模組的一轉向機構中；一轉向步驟：使轉向機構經驅動組件驅動旋轉以將位於其中之待轉向元件轉向；完成轉向後之待轉向元件送回到搬運流路中，繼續下一間歇搬送行程者。
2. 一種電子元件轉向方法，包括：一搬運步驟：使待轉向元件被以一測盤執行的間歇性旋轉之搬送流路搬送至轉向區；一移出步驟：以被往復驅動之移位構件進行上、下往復運動，在往復運動軌跡所形成的軸線與搬運流路旋轉中心的垂直軸線呈相互平行下，將待轉向元件移出搬送流路；一轉向步驟：承接移出步驟所移出之待轉向元件將其轉向；待轉向元件轉向後，循原承接軌跡送回到間歇旋轉之搬運流路中，繼續下一間歇搬送行程者。
3. 一種電子元件轉向方法，包括：一搬運步驟：使待轉向元件被以間歇性旋轉之搬送流路搬送至轉向區；一移出步驟：以被往復驅動之移位構件進行上、下往復 運動將待轉向元件移出間歇性旋轉之搬送流路，上、下往復運動之軌跡所形成的軸線與待轉向元件自測盤執行的間歇旋轉之搬運流路抵推移出之移出動路相互平行；一轉向步驟：以一承接動路承接移出步驟所移出之待轉向元件將其轉向；待轉向元件轉向後，以一回送動路送回到間歇旋轉之搬運流路中，繼續下一間歇搬送行程；該承接動路、回送動路分別與移出步驟之移出動路相互平行。
4. 如申請專利範圍第2至3項任一項所述電子元件轉向方法，其中，該移出步驟以一移位模組在往復驅動機構驅動下使該移位構件進行上、下往復運動，而待轉向元件移出時，進入一轉向模組的一轉向機構中；在該轉向步驟中使所述轉向機構經驅動組件驅動旋轉以進行轉向。
5. 如申請專利範圍第1至3項任一項所述電子元件轉向方法，其中，該移出步驟中係利用一驅動件受電磁鐵作用產生一方向之吸力，而利用彈性元件產生反向頂撐之力，而在電磁鐵導磁與斷磁下，使驅動件執行上、下往復運動以連動該移位構件者。
6. 如申請專利範圍第1至3項任一項所述電子元件轉向方法，其中，該移出步驟中在將待轉向元件移出時，以負壓吸附該待轉向元件者。
7. 如申請專利範圍第1或4項任一項所述電子元件轉向方法，其中，該轉向步驟中之轉向模組更包括一往復移位機構，待轉向元件進入轉向機構中時，連動壓推往復移位裝置的一移位 座，使移位座位移提供一令待轉向元件可被收容其中之空間。
8. 如申請專利範圍第1或4項任一項所述電子元件轉向方法，其中，該移出步驟將待轉向元件自所述間歇旋轉之搬運流路移出進入轉向模組的轉向裝置中時，在進行轉向步驟前，執行偵測待轉向元件是否已移出間歇旋轉搬運流路之步驟。
9. 如申請專利範圍第1或4項任一項所述電子元件轉向方法，其中，該往復驅動機構驅動移位構件進行上、下往復運動軌跡所形成的軸線，係與測盤執行的間歇旋轉之搬運流路旋轉中心的垂直軸線呈相互平行，且與待轉向元件自測盤執行的間歇旋轉之搬運流路抵推移出之移出動路相互平行。
10. 一種電子元件轉向裝置，包括：一測盤，執行一間歇旋轉之搬運流路，其周緣等距環列佈設有複數個容槽；一移位模組，設置於該測盤之一側，用以軀使測盤上待轉向元件進出容槽；一轉向模組，設置於測盤之一側，用以承接移位模組所移出之待轉向元件予以轉向；藉以上裝置，使待轉向元件可自測盤容槽移出進行轉向，轉向後送回原移出時之測盤容槽中。
11. 如申請專利範圍第10項所述電子元件轉向裝置，其中，該測盤容槽外周緣設有一限位件，其形成一限位區間圍設於測盤周緣容槽外周側；另設一載台覆蓋在限位件上方，其形成一操作區間使載台部份覆設於測盤周緣環列佈設之容槽上方；載台設有一轉向區，移位模組、轉向模組相對應設於該轉向 區處。
12. 如申請專利範圍第11項所述電子元件轉向裝置，其中，該轉向區包括一可供一完整容槽顯露其中之主轉向區及一可供二容槽各顯露部份部位之副轉向區。
13. 如申請專利範圍第11項所述電子元件轉向裝置，其中，該移位模組設有可受驅動作上、下往復位移之移位構件，移位構件外設有下方貼靠測盤表面之觸抵件，其上設一鏤空區供所述移位構件穿經，該觸抵件之底部恰能同時置入所述載台之轉向區內。
14. 如申請專利範圍第11項所述電子元件轉向裝置，其中，該移位模組設有可受驅動作上、下往復位移之移位構件，其與測盤之容槽、限位件共同圍設該待轉向元件。
15. 如申請專利範圍第10項所述電子元件轉向裝置，其中，該移位模組包括：一載座，設於一機台台面；一往復驅動機構，設於載座上，包括一受作用執行上、下往復運動之驅動件；一移位構件，受往復驅動機構之驅動件連動，並對應待轉向元件所處之測盤容槽；所述移位構件將對應之待轉向元件自測盤執行的間歇旋轉之搬運流路移出。

    15.如申請專利範圍第15項所述電子元件轉向裝置，其中，該載座，包括以一樞接端樞設於機台台面之第一載座，以及包括有相隔適當間距之上載座及下載座的第二載座，整個移位模組可以該樞接端為轉軸而被掀起。
16. 如申請專利範圍第16項所述電子元件轉向裝置，其中，該第二載座設於所述第一載座上之一立設之滑座上，其上載座及下載座於該滑座可作上、下滑移及定位。
17. 如申請專利範圍第17項所述電子元件轉向裝置，其中，該往復驅動機構包括：一設於所述上載座並提供對驅動件吸引操作之電磁鐵，以及提供與所述電磁鐵吸引力反向頂撐之位於下載座中之彈性元件。
18. 如申請專利範圍第15項所述電子元件轉向裝置，其中，該驅動件包括一受磁部承受電磁鐵磁吸作用，受磁部上方設有導接部穿經電磁鐵而凸出於電磁鐵上方，並與一外部管路連接；受磁部下方設有驅動部而伸經所述第二載座之下載座及所述彈性元件；驅動件中設有中空之氣體通道與該外部管路導通。
19. 如申請專利範圍第15項所述電子元件轉向裝置，其中，該移位構件位於往復驅動機構之驅動件底端，並以一連接件與該驅動件接設而受其連動；所述移位構件設有內部之管路與所述驅動件內一氣體通道連通，使氣體通道中藉外部管路通以負壓時，可自移位構件之管路底端一吸嘴執行對待轉向元件作吸附之操作。
20. 如申請專利範圍第10項所述電子元件轉向裝置，其中，該轉向模組包括：一模組座，設於對應所述測盤之容槽，且相對所述移位模組處；一轉向裝置，設於所述模組座，包括一旋轉體以及驅動 該旋轉體進行一預設角度轉動之驅動機構；一往復移位裝置，位於所述轉向裝置中，包括一移位座及一使移位座往復移位之往復作動元件，該移位座承接移位模組所移出之待轉向元件。
21. 如申請專利範圍第21項所述電子元件轉向裝置，其中，該模組座，設有一鏤孔狀操作區；旋轉體上固設一罩體，該罩體上一置納部伸置於該模組座之鏤孔狀操作區中，並在置納部上設有一移入口。
22. 如申請專利範圍第21項所述電子元件轉向裝置，其中，該驅動機構包括套固於旋轉體與其連動之轉輪以及一馬達，馬達輸出軸上之一傳動輪與該轉輪以一皮帶套設連動，藉此使馬達可間接帶動旋轉體轉動。
23. 如申請專利範圍第21項所述電子元件轉向裝置，其中，該轉向裝置旋轉體包括一軸孔及一容置空間，並於該容置空間中設置該往復移位裝置之移位座及使移位座往復移位之往復作動元件。
24. 如申請專利範圍第22項所述電子元件轉向裝置，其中，該往復移位裝置之移位座以一承載部伸於該轉向裝置之罩體的置納部上移入口中，並抵於待轉向元件之下方，該移位座同時設有一擋抵部擋抵於所述罩體之下方，使移位座於下方受該往復作動元件作用，保持一受頂撐向上之作用力下，藉該擋抵部使移位座之承載部恰上端面與移入口之開口端約略平齊。
25. 如申請專利範圍第21項所述電子元件轉向裝置，其中，該往 復移位裝置與一感應桿連動，該感應桿樞經轉向裝置的旋轉體之軸孔及往復作動元件，而以上端嵌於往復移位裝置之移位座與之連動，下端則受感應元件所感測。