TW201346294A - 以不同電壓刺激訊號進行觸控面板優劣檢測方法及其檢測裝置 - Google Patents

以不同電壓刺激訊號進行觸控面板優劣檢測方法及其檢測裝置 Download PDF

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Abstract

本發明係一種以不同電壓刺激訊號進行觸控面板優劣檢測方法及其檢測裝置，係對觸控面板進行類比數位轉換特性調整程序獲得各感應點的類比數位轉換檔位後，再分別進行至少二次掃描程序，即先以高電壓的刺激訊號進行掃描，再以較低電壓的刺激訊號進行掃描，令各感應點分別獲得二組感應值，再依據二組感應值的差異程度，與預設良好檢測範圍比對是否為良品或劣質品；由於本發明是以實際感應值進行檢測，加上以不同電壓的刺激訊號進行多次掃描後，以相同類比數位轉換檔位對相同感應點取得感應值的差異作為檢測依據，更貼近以畫線判斷觸碰物件位置的檢測結果，減少淘汰可用的觸控面板的機率。

Description

以不同電壓刺激訊號進行觸控面板優劣檢測方法及其 檢測裝置
本發明係關於一種觸控面板優劣檢測方法，尤指一種以不同電壓刺激訊號進行觸控面板優劣檢測方法。
觸控面板廠將觸控面板出貨至觸控面板模組組裝廠時，組裝廠於組裝前會先檢測觸控面板的優劣再加以組裝，最直覺的優劣判斷是以觸控面板能否正確地感應出觸控物件位置，然而如此檢測方式太費時、費力。是以，目前觸控面板組裝廠只要令各觸控面板進行一般開機後執行的類比數位轉換特性調整程序(ADC Calibration)，即可自待測觸控面板上讀取類比數位轉換檔次(ADC Calibration Setting Value)，作為後續所執行描掃程序中進行轉換感應值(ADC)之用。請參閱圖8所示，以n條驅動線11及m條感應線12的觸控面板10a來說，由於驅動線11與感應線12交錯處即為一感應點，故共包含有nxm感應點(圖中未示)，而當此一觸控面板執行完類比數位轉換特性調整程序，各感應點即獲得對應的類比數位轉換檔次，即如圖9所示。
由於圖8觸控面板10a的各條驅動線11的二端共同連接至外部驅動單元(圖中未示)的同一支接腳TX1、TX2~TXn，且各條接收線12的二端共同連接至外部接收單元(圖中未示)的同一支接腳RX1、RX2~RXm；因此誠如圖9所示，所有感應點的類比數位轉換檔次的數值愈近各條驅 動線11或接收線12的二端的數值愈高，與二端愈遠則數值愈低，故良好觸控面板10a的類比數位轉換檔次數值會呈現周邊高而中央低的碗形分佈。因此，目前觸控面板組裝廠係自良好觸控面板10a之碗形分佈特徵中找出以下數項良好觸控面板之檢測條件：
1.相鄰感應點類比數位轉換檔次數值差距小：可將相鄰感應點的類比數位轉換檔次數值差距與一預設良好差值範圍判斷是否滿足此項條件。
2.類比數位轉換檔次的極大值及極小值呈特定數值分佈。
3.類比數位轉換檔次數值的平均值呈特定數值分佈：可自同時出廠之整批觸控面板中挑選數片觸控面板，再將挑選出的數片觸控面板之類比數位轉換檔次呈現一致分佈特徵，作為該批其它觸控面板的比對條件。
請參閱圖10所示，係為另一觸控面板10b，其各條驅動線11和感應線12的二端均與外部驅動單元和接收單元連接(圖中未示)，是故當任幾條驅動線11或感應線12的二端於製程中均不慎斷線或斷裂，於執行類比數位轉換特性調整程序後，該二端均斷線或斷裂的驅動線11或感應線12上的感應點將無類比數位轉換檔次數值或數值異常低，如圖11中以灰底標示的感應點位置的數量所示，故無法符合上述第1-3項檢測條件。於實際畫線時，通過其二端均斷線或斷裂的驅動線11或感應線12的感應點將無法識別觸碰物件位置，造成繪出的線條出現斷線(如圖12虛線圈畫處)，因此圖10的觸控面板10B可藉由上述第1-3項檢測 條件檢測而判斷為劣質品無誤。
雖然上述幾項檢測條件能過濾出良品或劣質品的觸控面板，但如圖13所示可正確識別觸控物件位置的觸控面板10c，則也因不符合上述第1-3項檢測條件而判斷為劣質品而遭淘汰，讓遭退貨的上游觸控面板廠無法接受，原因如下。
由於圖13所示觸控面板10c的各條驅動線11和感應線12的二端均與外部驅動單元和接收單元(圖中未示)連接，是故當任幾條驅動線或感應線的單端於製程中不慎斷裂，則仍如圖14所示，單端斷線的驅動線11或感應線12上的感應點可藉由未斷線或未斷裂的一端接收刺激訊號或感應訊號，故該些感應點仍可獲得類比數位轉換檔次數值或非異常類比數位轉換檔次數值，且能在後續掃描程序中輸出正確的感應值，具有識別觸碰物件位置能力，如圖12所示，可正常畫線。然而，一端斷線或斷裂的驅動線11和接收線12交錯的感應點的類比數位轉換檔次數值與其相鄰正常感應點的類比數位轉換檔次數值差距太大，已超出預設良好差值範圍，而且極大值與極小值已非呈正常分佈，故圖13觸控面板10c雖可正確地識別觸控物件位置，但因無法符合上述第1-3檢測條件而被淘汰為劣質品，自然引起上游觸控面板廠對於組裝廠檢測結果的異議。
是以，在不考慮採用以手繪觸控面板方式進行費時檢測下，目前觸控面板優劣的檢測方法有必要進一步改良之。
有鑑於上述既有觸控面板優劣檢測方法有一定機率淘汰可用之觸控面板的缺陷，本發明主要目的係提供一種以不同電壓刺激訊號進行觸控面板優劣檢測方法及其檢測裝置。
欲達上述目的所使用的主要技術手段係令該觸控面板優劣檢測方法包含有以下步驟：執行類比數位轉換特性調整程序，以取得觸控面板之各感應點的類比數位轉換檔次；以第一電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，依據各感應點的類比數位轉換檔次，獲得各感應點的第一感應值；以第二電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，依據各感應點的類比數位轉換檔次，以獲得各感應點的第二感應值；其中，該第二電壓小於第一電壓；及依據第一感應值與第二感應值的差異程度，判斷差異程度是否落入一預設良好檢測範圍；若是，則檢測結果為良好。
欲達上述目的所使用的主要技術手段係令該觸控面板優劣檢測裝置包含有：一驅動單元，係包含有複數輸出端，各輸出端係供該觸控面板的各驅動線連接；其中該驅動單元內建有一類比數位轉換特性調整程序及一掃描檢測程序，該驅動單元係先執行該類比數位轉換特性調整程序，再執行至少二次掃描程序，其中在至少二次掃描程序中，先以高電壓的刺激訊號進行掃描，再逐漸降低刺激訊號的電壓依序進行數次掃描程序；及一接收單元，係包含有複數輸入端，各輸入端係供該 觸控面板的各接收線連接；該接收單元於驅動單元執行類比數位轉換特性調整程序後，會感應並儲存各感應點的類比數位轉換檔位，並於每次掃描程序中以相同的類比數位轉換檔位轉換各感應點的感應值，再依據不同掃描程序獲得的感應值差異程度，與預設良好檢測範圍比對，若落入該預設良好檢測範圍內，則代表目前待觸控面板為良好；反之，則為劣質品。
上述本發明非以類比數位轉換檔次數值而是以實際感應值進行檢測，加上以不同電壓的刺激訊號進行多次掃描後，取相同感應點之感應值的差異程度作為檢測依據，能更貼近以畫線判斷觸碰物件位置的檢測結果，減少淘汰可用的觸控面板的機率。
本發明係一種觸控面板優劣的檢測方法，首先請參閱圖1所示，係為本發明檢測方法一較佳實施例的流程圖，其包含有以下步驟：以初始電壓刺激訊號執行類比數位轉換特性調整程序，以取得觸控面板之各感應點的類比數位轉換檔次S10；以第一電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，依據各感應點的類比數位轉換檔次，獲得各感應點的第一感應值S11；以第二電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，依據各感應點的類比數位轉換檔次，以獲得各感應點的第二感應值S12；其中，該第二電壓小於第一電壓，而第一及第二電壓 差可為1V、2V、3V．．．等；及依據第一感應值與第二感應值的差異程度，判斷差異程度是否落入一預設良好檢測範圍；若是，則檢測結果為良好S13。
再請參閱圖2所示，係為本發明檢測方法第二較佳實施例的流程圖，其包含有以下步驟：以初始電壓刺激訊號執行類比數位轉換特性調整程序，以取得觸控面板之各感應點的類比數位轉換檔次S21；以第一電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，以獲得各感應點的第一感應值S22；以第二電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，以獲得各感應點的第二感應值S23；其中，該第二電壓小於第一電壓；以第三電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，以獲得各感應點的第三感應值S24；其中，該第三電壓小於第二電壓；及依據第一感應值與第二感應值的差異以及第二與第三感應值的差異程度，判斷差異程度是否分別落入其所對應的預設良好檢測範圍；若均落入，則檢測結果為良好S25，反之若均未落入或僅落入其中之一者則判斷為劣質品。
由上述二個檢測方法較佳實施例可知，本發明令待檢測觸控面板先進行類比數位轉換特性調整程序後，再以相同的類比數位轉換檔位分別進行至少二次掃描程序，其中在至少二次掃描程序中，先以高電壓的刺激訊號進行掃描，再逐漸降低刺激訊號的電壓依序進行數次掃描程序， 再依據二組感應值的差異程度，與預設良好檢測範圍比對，若落入該預設良好檢測範圍內，則代表目前待觸控面板為良好；反之，則為劣質品。
請參閱圖3所示，係用以實現上述本發明觸控面板優劣的檢測方法之檢測裝置，其中該觸控面板10係包含有n條驅動線及m條接收線，而該檢測裝置係包含有：一驅動單元20，係包含有複數輸出端TX1~TXn，各輸出端TX1~TXn係供該觸控面板10的各驅動線的二端連接；其中該驅動單元20內建有一類比數位轉換特性調整程序及一掃描檢測程序，該驅動單元20係先以最高電壓的刺激訊號執行該類比數位轉換特性調整程序，再執行至少二次掃描程序，其中在至少二次掃描程序中，先以高電壓的刺激訊號進行掃描，再逐漸降低刺激訊號的電壓依序進(14V)行數次掃描程序，如圖4所示，分別以14V、13V、11V、8V進行四次掃描程序；一接收單元30，係包含有複數輸入端RX1~RXn，各輸入端RX1~RXn係供該觸控面板10的各接收線RX1~RXn的二端連接；該接收單元30於驅動單元20執行類比數位轉換特性調整程序後，會感應並儲存各感應點的類比數位轉換檔位，並於每次掃描程序中以相同的類比數位轉換檔位轉換各感應點的感應值，再依據不同掃描程序獲得的感應值差異程度，與其所對應預設良好檢測範圍比對，若落入該預設良好檢測範圍內，則代表目前待觸控面板為良好；反之，則為劣質品。
由於本發明刺激訊號的電壓為可調，且於掃描程序中 所獲得各感應點的感應值，係依據各感應點的類比數位轉換檔次轉換而得，故本發明係以最高電壓刺激訊號進行類比數位轉換特性調整程序，使各感應點獲得較高的類比數位轉換檔次，讓後續調整較低電壓的刺激訊號進行掃描時，不會因飽和而無法獲得正確的感應值。
此外，上述預設良好檢測範圍係可為一數值範圍。於實際應用時，可直接取第一及第二感應值的差值，與預設數值範圍進行比對，判斷差值是否落入該預設數值範圍；若判斷落入預設數值範圍則代表該感應點係屬正常，反之則異常。例如，若以14V刺激訊號進行掃描，則感應點的感應值約落於0x1200-0x1300之間，再改以以13V刺激訊號進行掃描，則感應點的感應值約落於0x1000-0x1100之間，故可預設數值範圍為0x100-0x300，若第一感應值扣掉第二感應值低於0x100或超過0x300，則視為異常。
以下謹進一步以本發明進行不同觸控面板優劣檢測，首先對圖8所示良好觸控面板10a以最高壓刺激訊號(14V)進行類比數位轉換特性調整程序，以獲得各感應點的類比數位轉換檔次(如圖9所示)，再以此最高壓刺激訊號進行第一次掃描程序，配合該類比數位轉換檔次，以轉換並獲得各感應點的第一感應值，如圖5A所示；其中各感應點約為0x1200-0x1300之間；再以13V電壓刺激訊號進行第二次掃描程序，可獲得各感應點的第二感應值，如圖5B所示，其中各感應點約為0x1000-0x1100之間；再將各感應點的第一及第二感應值相減，獲得如圖5C所示的感應差值，比對各感應點的感應差值若絕大部份落入預設數值範圍 (0x100-0x300)內，則本發明的檢測結果即代表目前觸控面板為良品。
為使得檢測結果更明確，可再對該觸控面板10a再進行第三及第四次掃描程序，意即可以11V刺激訊號進行掃描，取得第三感應值，如此即可計算13V及11V之間的感應差值(如圖5C所示)；再以8V刺激訊號進行第四次描掃程序，以獲得第四感應值(如圖5D所示)，以計算11V及8V之間的感應差值。由於刺激訊號的電壓高低不同，使得感應差值亦隨之不同，因此取不同電壓刺激訊號掃描後的感應值進行相減，其感應差值自然也有所不同(如圖6A、6B及6C所示)；是以，將不同電壓刺激訊號進行掃描程序而獲得的感應值，可取其間感應差值，再讀取不同電壓刺激訊號的電壓差所對應的感應差值範圍(預設數值範圍)進行比對，如均符合其預設差值範圍，則代表目前觸控面板確實為良品。
再以本發明針對圖10所示劣質品之觸控面板10b進行檢測，由於部份驅動線11或感應線12雙端斷線或斷裂而無法接收刺激訊號或感應訊號，故於雙端斷線或斷裂之驅動線11或感應線12上的感應點將無法獲得類比數位轉換檔次，或獲得異常的類比數位轉換檔次(如圖11所示)，因此該些感應點經不同電壓刺激訊號進行掃描後即無法獲得感應值，亦無感應差值可供比對，而必定會超出預設數值範圍外，而被判斷為劣質品。
本發明再對圖13觸控面板10c進行檢測，由於此觸控面板10c僅部份驅動線11或感應線12單端斷線或斷裂， 但於執行類比數位轉換特性調整程序後，位於單端斷線或斷裂之驅動線11或感應線12上的感應點仍可獲得類比數位轉換檔次(如圖14所示)，因此以不同電壓刺激訊號進行掃描後，該些感應點仍可獲得正常的感應值；是以，再取該些感應點的感應差值(如圖7A、7B及7C所示)會落入預設數值範圍內，而此觸控面板會判斷為良品，而非劣質品。
由上述說明可知，由於本發明令待檢測觸控面板先進行類比數位轉換特性調整程序後，再分別進行至少二次掃描程序，其中在二次掃描程序中，先以高電壓的刺激訊號進行掃描，再以較低電壓的刺激訊號進行掃描，令各感應點分別獲得二組感應值，再依據二組感應值的差異程度，與預設良好檢測範圍比對，若落入該預設良好檢測範圍內，則代表目前待觸控面板為良好；反之，則為劣質品；由於本發明係非以類比數位轉換檔次數值而是以實際感應值進行檢測，加上以不同電壓的刺激訊號進行多次掃描後，取相同感應點之感應值的差異作為檢測依據，能更貼近以畫線判斷觸碰物件位置的檢測結果，減少淘汰可用的觸控面板的機率。
10、10a、10b、10c‧‧‧觸控面板
11‧‧‧驅動線
12‧‧‧感應線
20‧‧‧驅動單元
30‧‧‧接收單元
50a、50b‧‧‧顯示器
圖1：係本發明檢測方法一較佳實施例的流程圖。
圖2：係本發明檢測方法另一較佳實施例的流程圖。
圖3：係本發明檢測裝置的示意圖。
圖4：係本發明檢測裝置的驅動單元輸出不同電壓刺激訊號的時序圖。
圖5A至5D：係本發明檢測方法以不同電壓刺激訊號掃描圖10觸控面板後轉換而得的感應值圖。
圖6A：係圖5A及圖5B感應值之感應差值圖。
圖6B：係圖5B及圖5C感應值之感應差值圖。
圖6C：係圖5C及圖5D感應值之感應差值圖。
圖7A至7C：係本發明檢測方法以不同電壓刺激訊號掃描圖13觸控面板後轉換而得感應值之感應差值圖。
圖8：係一良好觸控面板示意圖。
圖9：係圖8的類比數位轉換檔位數值圖。
圖10：係一劣質品觸控面板示意圖。
圖11：係圖10的類比數位轉換檔位數值圖。
圖12：係圖10結合顯示器顯示觸碰物件畫線示意圖。
圖13：係一半良好觸控面板示意圖。
圖14：係圖13的類比數位轉換檔位數值圖。
圖15：係圖13結合顯示器顯示觸碰物件畫線示意圖。

Claims (34)

  1. 一種不同電壓刺激訊號進行觸控面板優劣檢測方法，包括：以初始電壓刺激訊號執行類比數位轉換特性調整程序，以取得觸控面板之各感應點的類比數位轉換檔次；以第一電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，依據各感應點的類比數位轉換檔次，獲得各感應點的第一感應值；以第二電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，依據各感應點的類比數位轉換檔次，以獲得各感應點的第二感應值；其中，該第二電壓小於第一電壓；及判斷觸控面板優劣，係依據第一感應值與第二感應值的差異程度，判斷差異程度是否落入一預設良好檢測範圍；若是，則檢測結果為良好。
  2. 如請求項1所述之觸控面板優劣檢測方法，係於上述判觸控面板優劣步驟前進一步包含：以第三電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，並依據各感應點的類比數位轉換檔次，以獲得各感應點的第三感應值；其中，該第三電壓小於第二電壓。
  3. 如請求項2所述之觸控面板優劣檢測方法，於上述判觸控面板優劣步驟中一同依據第二感應值與第三感應值的差異程度，判斷差異程度是否落入另一預設良好檢測範圍；若是，則檢測結果為良好。
  4. 如請求項2所述之觸控面板優劣檢測方法，其中第一電壓及第二電壓的電壓差係小於第二電壓及第三電壓的電壓差。
  5. 如請求項1所述之觸控面板優劣檢測方法，其中第一及第二感應值的差異程度係取第一及第二感應值的差值。
  6. 如請求項5所述之觸控面板優劣檢測方法，該預設檢測範圍係為預設數值範圍。
  7. 如請求項6所述之觸控面板優劣檢測方法，其中該預設數位範圍係第一及第二電壓之電壓差所對應的感應差值範圍。
  8. 如請求項2或3所述之觸控面板優劣檢測方法，其中第二及第三感應值的差異程度係為第二及第三感應值的差值。
  9. 如請求項8所述之觸控面板優劣檢測方法，其中該預設檢測範圍係為預設數值範圍。
  10. 如請求項9所述之觸控面板優劣檢測方法，其中該預設數位範圍係第二及第三電壓之電壓差所對應的感應差值範圍。
  11. 如請求項1至7中任一項所述之觸控面板優劣檢測方法，該初始電壓係不小於第一電壓。
  12. 一種觸控面板優劣檢測裝置，其中該觸控面板係包含有n條驅動線及m條接收線，而檢測裝置則包含有：一驅動單元，係包含有複數輸出端，各輸出端係供該觸控面板的各驅動線連接；其中該驅動單元內建有一類比數位轉換特性調整程序及一掃描檢測程序，該驅動單元先執行該類比數位轉換特性調整程序，再執行至少二次掃描程序，其中在至少二次掃描程序中，先以高電壓的刺激訊號進行掃描，再逐漸降低刺激訊號的電壓依序進行數次掃描程 序；及一接收單元，係包含有複數輸入端，各輸入端係供該觸控面板的各接收線連接；該接收單元於驅動單元執行類比數位轉換特性調整程序後，會感應並儲存各感應點的類比數位轉換檔位，並於每次掃描程序中以相同的類比數位轉換檔位轉換各感應點的感應值，再依據不同掃描程序獲得的感應值差異程度，與預設良好檢測範圍比對，若落入該預設良好檢測範圍內，則代表目前待觸控面板為良好；反之，則為劣質品。
  13. 如請求項12所述檢測裝置，其中該驅動單元的各輸出端係供該觸控面板的各驅動線二端連接，而該接收單元各輸入端係供該觸控面板的各接收線的二端連接。
  14. 如請求項13所述檢測裝置，該驅動單元於執行類比數位轉換特性調整程序時，係以最高電壓的刺激訊號執行之，並以最高電壓的刺激訊號執行第一次掃描程序。
  15. 如請求項12至14中任一項所述檢測裝置，該接收單元判斷感應值差異程度係為前後次感應值之差值。
  16. 如請求項15所述檢測裝置，該預設檢測範圍係為預設數值範圍。
  17. 如請求項16所述之檢測裝置，該預設數值範圍係為依據第一及第二電壓之電壓差所對應的感應差值範圍。
  18. 一種不同電壓刺激訊號進行觸控面板優劣檢測方法，包括：以第一電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，獲得各感應點的第一感應值； 以第二電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，以獲得各感應點的第二感應值；其中，該第二電壓小於第一電壓；及判斷觸控面板優劣，係依據第一感應值與第二感應值的差異程度，判斷差異程度是否落入一預設良好檢測範圍；若是，則檢測結果為良好。
  19. 如請求項18所述之觸控面板優劣檢測方法，於上述判觸控面板優劣步驟前進一步包含：以第三電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序，以獲得各感應點的第三感應值；其中，該第三電壓小於第二電壓。
  20. 如請求項19所述之觸控面板優劣檢測方法，於上述判觸控面板優劣步驟中一同依據第二感應值與第三感應值的差異程度，判斷差異程度是否落入另一預設良好檢測範圍；若是，則檢測結果為良好。
  21. 如請求項18至20中任一項所述之觸控面板優劣檢測方法，於以一不小於第一電壓的初始電壓刺激訊號對觸控面板進行掃描程序步驟中，先執行類比數位轉換特性調整程序以取得的觸控面板之各感應點的類比數位轉換檔次，以令各掃描程序中以各感應點的類比數位轉換檔次進行感應值的轉換。
  22. 如請求項21項所述之觸控面板優劣檢測方法，其中第一電壓及第二電壓的電壓差係小於第二電壓及第三電壓的電壓差。
  23. 如請求項18所述之觸控面板優劣檢測方法，其中第一及第二感應值的差異程度係取第一及第二感應值的差 值。
  24. 如請求項23所述之觸控面板優劣檢測方法，該預設檢測範圍係為預設數值範圍。
  25. 如請求項24所述之觸控面板優劣檢測方法，其中該預設數值範圍係依據第一及第二電壓之電壓差所對應的感應差值範圍。
  26. 如請求項20所述之觸控面板優劣檢測方法，其中第二及第三感應值的差異程度係取第二及第三感應值的差值。
  27. 如請求項26所述之觸控面板優劣檢測方法，該預設檢測範圍係為預設數值範圍。
  28. 如請求項27所述之觸控面板優劣檢測方法，該預設檢測範圍係依據第二及第三電壓之電壓差所對應的感應差值範圍。
  29. 一種觸控面板優劣檢測裝置，其中該觸控面板係包含有n條驅動線及m條接收線，而檢測裝置則包含有：一驅動單元，係包含有複數輸出端，各輸出端係供該觸控面板的各驅動線連接；其中該驅動單元係以不同電壓刺激訊號進行掃描程序；及一接收單元，係包含有複數輸入端，各輸入端係供該觸控面板的各接收線連接；該接收單元依據不同掃描程序獲得的感應值差異程度，與預設良好檢測範圍比對，若落入該預設良好檢測範圍內，則代表目前待觸控面板為良好；反之，則為劣質品。
  30. 如請求項29所述檢測裝置，該驅動單元於進行掃 描程序前先執行一類比數位轉換特性調整程序，由該接收單元感應並儲存各感應點的類比數位轉換檔位，以於每次掃描程序中以相同的類比數位轉換檔位轉換各感應點的感應值。
  31. 如請求項30所述檢測裝置，該驅動單元於執行類比數位轉換特性調整程序時，係以最高電壓的刺激訊號執行之。
  32. 如請求項29至31中任一項所述檢測裝置，該接收單元判斷感應值差異程度係為前後次感應值之差值。
  33. 如請求項32所述檢測裝置，該預設檢測範圍係為預設數值範圍。
  34. 如請求項33所述之檢測裝置，該預設數值範圍係為依據前後執行掃描程序的不同電壓刺激訊號的電壓差所對應的感應差值範圍。
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