TW201251305A - Method of determining load capacitance of crystal oscillation circuit, and electronic apparatus using the same - Google Patents

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Hiroyuki Souma
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Seiko Instr Inc
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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Description

201251305 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關實現省電之晶體振盪電路的 是構成晶體振盪電路之負載電容的決定方法及 子機器。 【先前技術】 在手錶或行動電話等攜帶型機器領域,要 於無充電下長時間動作,或要求配備之電池降 ,因此用於該機器之振盪電路,其內組裝之晶 壓電元件也愈來愈要求減低驅動電力,或振盪 時(振盪電路處於振盪狀態且無負載時)也愈 低消費電力。 圖3是使用晶體振盪子的典型振盪電路, 反相器IV01,作爲反向放大器;及晶體振盪g 於 CMOS反相器IV01之輸入端子 XCIN ! XCOUT之間;及電容元件,構成CMOS反相蓉 入端子XCIN與接地電位Vss的電源端子之間 電容Cg;及另一·電容元件,構成CMOS反相署 出端子XC OUT與接地電位VSS的電源端子之 載電容Cd。 又,CMOS反相器IV01,係由PMOS電晶 NMOS電晶體NM1 1所組成之CMOS反相器、 阻Rf所構成;其中PM1 1與NM1 1被串聯連接 方法,特別 使用其之電 求該機器可 低充電頻度 體振盪子等 電路在待機 來愈要求超 具有CMOS • X2,連接 缚輸出端子 MV01之輸 連接的負載 MV01之輸 間連接的負 體PM11與 以及回授電 於共享電源 201251305 電壓Vdd之第1電源端子與被供應接地電位之第2電源端 子之間》 CMOS反相器IV01的PMOS電晶體PM11之源極與第 1電源端子之間、以及CMOS反相器IV01的NMOS電晶 體NM 1 1與第2電源端子之間,分別連接有驅動電流調整 用電阻元件rl及r2,用以限制令晶體振盪子X2起振之驅 動電流。 攜帶型機器等所配備之振盪電路,近年來逐漸要求省 電,爲達此一目的,必須降低振盪電路中晶體振盪子的驅 動電流。爲此,有提案減小振盪電路中CMOS反相器的跨 導Gm。不過,當減小跨導Gm,可能使振盪電路的振盪餘 裕度Μ下降。 振盪電路的振盪餘裕度Μ可由下式(1)求出。 Μ =卜 Gm|/{(co2Cg.Cd)* (1/Rl(max))}= + RL/Rl(max). . .(1) ω爲振盪頻率之角頻率、RL爲負性電阻、R1 ( max ) 爲晶體振盪子有效電阻R1之最大値,一般要求振盪餘裕 度Μ須爲5以上之値。 上式中,晶體振盪子的有效電阻R1是隨晶體振盪子 的小型化要求而決定其値,無法做得太小。因此,若要減 小跨導Gm又要維持振盪電路的振盪餘裕度Μ,可將外置 於CMOS反相器之,構成負載電容之電容器的負載電容 Cg及/或負載電容Cd之値減小即可。要做到這一點,振 盪電路的晶體振盪子所具有的負載電容CL,必須配合內 部組裝之微型計算機等I C所要求之省電規格。換言之, -6- 201251305 申請人提出了使用減低後之低CL化(3pF〜5pF )的負載 電容CL·’來取代習知所用之晶體振盪子負載電容cl値 1 2.5 p F。(專利文獻1 ) 然而當減小負載電容CL時,負載電容CL的電容容 許差與振盪頻率的頻率偏差△ f之問題會變得顯著。舉例來 說’負載電容CL在一般電容容許差範圍的ac(±5%)內變 化的情形下’振邊頻率的穩定性△f(ppm)爲,在負載電容 CL爲12.5pF時AC爲1.25pF、振盪頻率穩定性Af爲 7.3ppm;在負載電容CL爲6pF時AC爲0.6pF、振盪頻率 穩定性Δί爲13.2ppm;在負載電容CL爲3pF時AC爲 〇.3pF、振盪頻率穩定性Af爲20.5ppm。 換言之,在負載電容CL(3pF)時,相較於習知12.5pF 的情形,其頻率偏差大了 2.8倍之多,故爲了達成負載電 容CL的低電容化(低CL化),必須提升振盪頻率對於 負載電容CL的電容容許差之穩定性。 圖3的輸出入端子間,XCIN及XCOUT之間的晶體振 盪子側的等價電路如圖4所示。晶體振盪子X2與負載電 容CL串聯連接,將晶體振盪子因壓電效果而產生之機械 共振,等價地表示成電感L1、電容C1、電阻R1之串聯 共振電路,且與電極間電容C0並聯連接。此外輸出入端 子間,XC IN及XCOUT之間存在有因CMOS半導體基板或 信號配線等而產生之各種浮游電容’若將這些(合成)浮 游電容表示爲Cs,則會如圖5所示’負載電容CL是串聯 連接的外部(外置)電容Cg及Cd ’與浮游電容Cs並聯 -7- 201251305 連接而成。 亦即 CL = Cs + Cg* Cd/(Cg + Cd). · .(2) 只要以滿足式(2)關係之CL値(2pF〜6pF)的方式 ,來選擇配合其振盪頻率的外置電容元件Cg及Cd,便可 提升振盪頻率穩定性。換言之,負載電容CL爲浮游電容 Cs與外部電容(電容器)Cext{=Cg*Cd/(Cg + Cd)}之和, 因此只要選定與負載電容CL減去浮游電容Cs之差値等於 之外部電容元件Cext値,即可滿足式(2 ),且意味著晶 體振盪子的負載電容CL,與晶體振盪子方面的振盪電路 側負載電容相互配合(整合)。 圖6爲晶體振盪電路中,驅動電流與負載電容CL之 間的關係圖。可知,當負載電容小時,驅動電流會顯著地 減小。舉例來說,使用習知之負載電容12.5pF時之驅動 電流約爲1.5μΑ,而負載電容2.2pF時之驅動電流則爲 0.073 μΑ,驅動電流減小了約5%。像這樣,減小負載電容 CL,對於晶體振盪電路的省電化,以及減低用於該晶體振 盪電路的電子機器之電力,具有很大的幫助。 〔先前技術文獻〕 〔專利文獻〕 [專利文獻1]日本特開2008-205658號公報 【發明內容】 〔發明所欲解決之課題〕 201251305 從圖6可知,當減小負載電容C L,即可實現晶體振 盪電路的省電化。不過即使實現低C L化,因其與振盪啓 動時間T s之間的關係並不明確,故在實際使用上,須花 費多少時間才能啓動將會是問題。只要知道是否振盪,或 是欲獲得所需之T s該用多大之負載電容,則便易於設計 。又’將振盪電路中具有低CL値晶體振動子實際組裝使 用時也能安心使用。因此,極需得知振盪啓動時間Ts與 負載電容CL之間的關係。 〔用以解決課題之手段〕 本發明之目的在於提供一種方法,能明確揭示使用晶 體振動子之振盪電路的振盪啓動時間Ts與負載電容CL之 間的關係,以及欲獲得所需之振盪啓動時間Ts該使用多 大之負載電容CL。具體來說採用以下方法。 (1)本發明爲一種負載電容(CL)之決定方法,係 針對使用晶體振動子之振盪電路中的負載電容CL之決定 方法,其特徵爲,包含: 利用振盪啓動時間Ts與振盪餘裕度Μ之關係式或關 係圖表,從振盪餘裕度Μ求得振盪啓動時間Ts(TsO)之手 段(A ):及 根據振盪啓動時間Ts與負載電容CL之關係式以及驅 動電流値Ios,求得任意驅動電流値Ios之振盪啓動時間 Ts與負載電容CL的關係式之手段(B);及 利用前述手段(B )中求出之振盪啓動時間Ts及負載 -9- 201251305 電容CL之關係式,來決定對應於前述手段(A)求出之 振盪啓動時間TsO的負載電容CL之手段(C )。 (2) 又,在本發明中,前述手段(A)中,振盪啓動 時間Ts與振盪餘裕度Μ之關係式爲,M = a/(Ts)b ( a、b爲 常數)。 (3) 又,在本發明中,前述手段(A)中,振盪啓動 時間Ts與振盪餘裕度Μ之關係式爲,M = 3. (4) 又,在本發明中,前述手段(B)中,振盪啓動 時間Ts與負載電容CL之關係式爲,Ts = c * (CL)2 + d * (CL) + e ( c、d、e 爲常數)。 (5) 又,本發明前述手段(B)中, 針對事前所得之至少2個驅動電流値Ios ( Iosl、Ios2 ),振盪啓動時間Ts及負載電容CL之關係式爲 Ts = cl * (CL)2 + dl * (CL) + el(Ios = Iosl)· . ·式(1)
Ts = c2* (CL)2 + d2* (CL) + e2(Ios = Ios2).··式(2), 利用式(1 )及式(2 ) 求出任意驅動電流値爲Ios時之,振盪啓動時間Ts 與負載電容CL之關係式
Ts = cO*(CL)2 + dO*(CL) + eO (驅動電流値 Ios 爲任意 値(I 〇 s 0)時)·..式(3 ) 前述手段(C)中,以式(3)及前述手段(A)所求 得之振盪啓動時間TsO,來決定負載電容CL。 (6 )又,在本發明之手段(B )中,振盪啓動時間 Ts及負載電容CL之關係式,以驅動電流値Ios作爲參數 -10- 201251305 時’爲
Ts = 0.0191(CL)2 + 0.0487(CL) + 0.0623(Ios=160nA 時)·.式(4) Ts = 0.0424(CL)2-0.0030(CL) + 0.1 240(Ios = 95nA 時)·..式(5) Ts = 0.0558(CL)2 + 0.0316(CL) + 0.1141(Ios = 70nA 時)...式(6) 所使用之振盪電路的驅動電流値設爲Ios時,若Ios 2 95nA則利用式(4)及式(5) ,IosS 95nA則利用式( 5)及式(6),求出任意驅動電流値I〇s下之,振盪啓動 時間Ts及負載電容CL之關係式Ts = a(CL)2 + p(CL) + Y (驅 動電流値Ios爲任意値(IosO)時)..·式(7 )(亦即決定 式(7)中α、β及γ之値),在前述手段(C)中, 利用前述手段(Β)中所求得之式(7)來決定負載電 容CL。 (7)又,本發明爲一種電子機器,裝配晶體振盪電 路’該晶體振盪電路係具有由上述(1)〜(6)所述之負 載電容CL之決定方法所決定之負載電容。 〔發明之功效〕 本發明首次發現,以振盪電路之驅動電流値Ios作爲 參數時’振盪啓動時間Ts與負載電容CL之間呈現2次式 關係。亦即首次發現Ts = a * (CL)2 + p(CL) + Y之關係式(a 、Ρ、γ爲常數)成立。在振盪餘裕度Μ與振盪啓動時間 Ts之間的關係式或關係圖表中,可依據所需之振盪餘裕度 M0値’求出必要之振盪啓動時間Ts0,進一步依據該Ts〇 -11 - 201251305
,利用本發明者所發現之Ts = a* (CL)2 + p(CL) + Y ,決定振盪電路之負載電容CL値。是故無需從 決定振盪電路之負載電容CL’只要決定振盪電 電流I〇s及振盪餘裕度Μ之設計値,振盪電路之 會自動決定,設計上非常容易。又因Ts値爲1. ,故可實現晶體振盪電路的低CL化、晶體振盪 電化,其結果連帶可使組裝有該晶體振盪電路之 也達到省電化。 【實施方式】 本發明之目的在於提供一種方法,能明確揭 體振動子之振盪電路的振盪啓動時間與負載電容 間的關係,以及欲獲得所需之振盪開始時間該使 負載電容CL値。 所謂振盪啓動時間,係指將具有晶體振動子 路安裝至機器上並載入電源開始,直至振盪波形 和)爲止所需的時間,然而從測量上的觀點來看 其爲達正常波形振幅9 0 %爲止所需的時間。圖2 種晶體振動子之各式振盪電路中,上述振盪餘裕j 盪啓動時間Ts之間的關係圖。由圖2可知,當 時間變長,則振盪餘裕度Μ變小。同時從該圖可 在5以上,否則振盪啓動時間會長達1秒以上, 變大,在實際使用上會導致問題。 自圖2可得出丁5 = 3.741^-()7()之關係式,且相 之關係式 一開始就 路的驅動 CL値便 〇秒以下 電路的省 電子機器
示使用晶 CL値之 用多大之 之振盪電 穩定(飽 ,係定義 爲具有各 隻Μ與振 振盪啓動 知,Μ須 且偏差會 關係數R -12- 201251305 爲〇,985,呈現極佳之相關性。上述關係式係由本次數據 而得,一般來說其關係爲Ts = a*M·**。(a、b爲正値之常 數)振盪餘裕度Μ ’係設計者考量振盪器之安全性而決定 之値。a及b各從具有各種晶體振盪器之振盪電路求得。 負載電容CL減小後之低CL振盪電路,其振盪餘裕 度較大’因此應可減少振盪啓動時間Ts,但以往振盪啓動 時間Ts與負載電容CL之間的關係一直不甚明確。而本申 請人針對各種具有低CL値之振盪電路,進行振盪啓動時 間Ts之測定後’發現振盪啓動時間ts與負載電容CL之 間,存在非常緊密之相關性。 圖1爲以振盪電路之驅動電流値Ios作爲參數,針對 具有各種負載電容CL値(但皆爲7pF以下之低負載電容 値)之振盪電路中,繪製振盪啓動時間Ts之測定値。從 該圖可知,無論驅動電流値I 〇 s大小爲何,當振還啓動時 間T s變短’則負載電容C L減少。反之,使用低負載電容 CL,則可縮短振盪啓動時間Ts。若以圖2中與振盪餘裕 度Μ之間的關係來說明,亦即使用低負載電容CL,則振 盪餘裕度Μ變大。從負性抵抗RL = -Gm/(2toCL)2之關係式 觀之,當CL低時,負性抵抗RL會變大,根據上述振盪 餘裕度Μ之定義式(1) ,M = RL/Rlmax會增加,故可說 明上揭事實。習知使用高負載電容(CL>l〇PF,例如 1 2.5 p F )之情形下,是透過增加驅動電流I 〇 s的方式來增 加振盪餘裕度Μ,故難以降低耗電。但若採用本申請人所 得之低CL·化手法,則可減小負載電容CL値同時增加振 -13- 201251305 盪餘裕度Μ’且可輕易地將振盪啓動時間Ts縮短至1秒 以下(若根據圖1,尙可達到0 · 5秒以下),能實現高速 啓動。換言之,低CL振盪子可輕易地實現高速而省電力 之振盪電路。 若將圖1中之各曲線以多項式近似,則I〇s=160nA時 ,Ts(sec) = 0.0191CL2 + 0.0487CL + 0.0623 (相關係數 R = 0.9999 ) ' Ios = 95nA 時,Ts(sec) = 0.0424CL2-0.0030CL + 0.1240 (相關係數 R = 0.9999 ) 、I〇s = 70nA 時,Ts(sec) = 0.05 5 8CL2 + 0.03 16CL + 0‘1141 (相關係數 R = 0.9999 ),係 爲相關性非常強之2次式。換言之,關係式之係數依i〇s 而有不同,但可知存在Ts = a*CL2 + p*CL + y之關係。此 爲一新穎之發現’利用該關係式,可決定爲得所需之振盪 啓動時間Ts’需要多大之負載電容CL値。圖1圖表之各 驅動電流中’有滿足Ts<0.5sec之規格者,可實現極爲高 速啓動之晶體振盪器。前提是,振盪啓動時間Ts不得超 過振盪子之時間常數τ0 (使用晶體振盪子時爲〇.3 sec)。 以下詳細說明本發明之具體方法。首先,決定振盪電 路之驅動電流値I 〇 s 0與振盪餘裕度Μ 0。這些値可視乎所 連接之電子機器(例如行動電話或電子閱讀器等攜帶型終 端機器)’而由設計者選定適當之値。接下來利用如圖2 等之關係式(或圖表),從事前得知之關係式Ts = a* M_b ,來求得振盪啓動時間Ts(TsO)。換言之,Ts0 = a*M0-b 。若沒有自行求得之關係式,當然也可利用TS = 3.74M·0.70 。(此時TS〇 = 3.74M(rG 7Q)或者,亦可以自行繪製之如圖 -14- 201251305 1之Ts及Μ之關係圖表,來求出大約之TsO。若沒有自行 製作之關係圖表,當然亦可利用圖1。 接下來,事前得出如圖1之數據》至少要得出以2種 驅動電流Ios作爲參數時,振盪啓動時間Ts與負載電容 CL之關係。因相關性非常強之故,針對每種驅動電流Ios 至少有3〜4個數據亦可。 從中求得至少2個2次式
Ts = cl* (CL)2 + dl* (CL) + el(Ios = Iosl)
Ts = c2* (CL)2 + d2* (CL) + e2(Ios = Ios2) (Iosl>Ios2)。 接著針對3個負載電容CL値(xl、x2、x3 )做單純 之比例,得出驅動電流IosO之曲線Ts = cO*(CL)2 + dO* (CL) + e0(Ios = Ios0)〇 舉例來說,從 Ts(xl)atIosl=cl*(xl)2 + d 1 * (x 1 ) + e 1、Ts(x 1 )atIos2 = c2 * (x2)2 + d2 * (x2) + e2 兩式 中,求得 Ts(xl)atIosO={(IosO-Iosl)/(Ios】-Ios2)}*(Ts(xl) atIosl-Ts(xl)atIos2) + Ts(xl)atIosl。換言之,試想振盪啓 動時間Ts與驅動電流IosO之値成一比例而計算之。同樣 地,求得 Ts(x2)atlos0 及 Ts(x3)atlos0。從該 3 組値(xl ' Ts(xl)atlosO) 、 ( x2、Ts(x2)atlos0 )及(x3、Ts(x3) atlosO )當中,得出關於驅動電流IosO之振盪啓動時間Ts 數學式,亦即振盪啓動時間 Ts = c0 * (CL)2 + dO * (CL) + e0(Ios = Ios0)。(c0、d0 及 e0 會被求出。)以此爲 基礎,將振盪啓動時間Ts與振盪餘裕度Μ之間的關係式 或關係圖表中所得出之振盪啓動時間TsO,代入2次方程 -15- 201251305 式TsO = cO*(CL)2 + dO*(CL) + eO中,可求得負載電容CL 値。 此—方法,當在IosOglosl或IosOSI〇s2的情形下’ 亦即任意驅動電流IosO存在於驅動電流I〇sl或驅動電流 I〇s2之範圍外時,其精度會下降;但當在IoslglosOg Ios2的情形下,亦即驅動電流l〇s〇介於驅動電流Iosl及 驅動電流Ios2之間時,其精度良好(因可使用單純比例 法)。特別是當驅動電流Iosl與驅動電流I〇s2相近時, 針對振盪啓動時間TsO可求得正確之負載電容CL値。如 圖1所示,當求得相對於3組驅動電流Ios値之關係式時 ,當驅動電流介於該些値之間(亦即Ios在160nA〜75nA 之間)時,可求得相當正確之負載電容CL値。 換言之,在本發明之手段(B )中,振盪開始時間Ts 及負載電容C L之關係式,以驅動電流値I 〇 s作爲參數時 ,爲
Ts = 0.0191(CL)2 + 0.0487(CL) + 0.0623 ( I〇s=160nA 時) T s = 0.0 4 2 4 (C L)2 - 0 · 0 0 3 0 (C L) + 0.1 2 4 0 ( I 〇 s == 9 5 η A 時)
Ts = 0.05 5 8(CL)2 + 0.0316(CL) + 0.1141 ( I〇s = 70nA 時) 故當所使用之振盪電路的驅動電流値設爲I〇s〇時, 若I 〇 s 2 9 5 η A則利用上述第1、2式,I 〇 s $ 9 5 η A則利用第 2、3式’以單純比例法求出驅動電流値i〇s = Ios0之關係 式
Ts = a(CL)2 + p(CL) + y(Ios = IosO 時)(亦即求出 α、β 、γ),以本發明之手段(c)來決定負載電容cl。 -16- 201251305 綜上所述,本發明可從振盪餘裕度Μ與振盪啓動時間 Ts之間的關係曲線(式)或關係圖表,求出對應於振盪餘 裕度M0之振盪啓動時間TsO。而所得之振盪啓動時間Ts 及負載電容 CL之關係曲線(式)亦即2次曲線Ts = a(CL)2 + P(CL)+r,將TsO代入後可決定負載電容値CL。 依上述本發明之負載電容値CL決定方法所決定之晶 體振盪電路,可裝配並適用於晶體振盪器或電子機器。舉 例來說,可適用於鐘錶、行動電話、行動裝置、筆記型電 腦等以電池驅動之電子機器。又,亦可適用於各類電子機 器,如強調節能、省電之車用電子機器、電視、冰箱、冷 氣機等家電產品。 【圖式簡單說明】 [圖1]以振盪電路之驅動電流I〇s作爲參數,揭示具 有各種CL値之振盪電路與振盪開始時間Ts之間的關係圖 〇 [圖2]具有晶體振動子之振盪電路中’振盪餘裕度Μ 與振盪啓動時間Ts之間的關係圖表。 [圖3]使用晶體振盪子之振盪電路示意圖。 [圖4]圖3的輸出入端子間,XCIN及XCOUT之間的 晶體振擾子側的等價電路不意圖。 [圖5]構成負載電容CL之電容示意圖。 [圖6]晶體振邊電路中的驅動電流與負載電容CL之關 係圖。 -17- 201251305 【主要元件符號說明】 IV01 : CMOS反相器 X2 :晶體振盪子 XCIN : CMOS反相器之輸入端子 XCOUT: CMOS反相器之輸出端子 V s s :接地電位
Cg、Cd、CL :負載電容 PM11 : PMOS電晶體 NM11 : NMOS電晶體 Rf :回授電阻 V d d :電源電壓 r 1、r 2 :電阻元件 L1 :電感 C 1 :電容 R1 :電阻 C 0 :電極間電容 c s :浮游電容 -18-

Claims (1)

  1. 201251305 七、申請專利範圍: 1 . 一種負載電容(CL )之決定方法,係針對使用晶 體振動子之振盪電路中的負載電容CL之決定方法,其特 徵爲,包含: 利用振盪啓動時間Ts與振盪餘裕度Μ之關係式或關 係圖表’從振盪餘裕度Μ求得振盪啓動時間Ts(TsO)之手 段(A ):及 根據振盪啓動時間Ts與負載電容CL之關係式以及驅 動電流値Ios ’求得任意驅動電流値l〇s之振盪啓動時間 Ts與負載電容CL的關係式之手段(B);及 利用前述手段(B)中求出之振盪啓動時間Ts及負載 電容CL之關係式,來決定對應於前述手段(a)求出之 振盪啓動時間TsO的負載電容CL之手段(C )。 2. 如申請專利範圍第1項所述之負載電容CL之決定 方法,其中’前述手段(A )中,振盪啓動時間τ s與振盪 餘裕度Μ之關係式爲 M = a/(Ts)b ( a、b 爲常數)。 3. 如申請專利範圍第2項所述之負載電容CL之決定 方法,其中,前述手段(A)中,振盪啓動時間Ts與振擾 餘裕度Μ之關係式爲 M = 3.74(Ts)· 0 7 0。 4. 如申請專利範圍第1至3項任一項所述之負載電 容CL之決定方法’其中’前述手段(B)中,振盪啓動 時間Ts與負載電容CL之關係式爲 -19- 201251305 Ts = c* (CL)2 + d* (CL) + e ( c、d、e 爲常數)。 5. 如申請專利範圍第1至3項任一項所述之負載電 容CL之決定方法,其中,在前述手段(B)中, 針對事前所得之至少2個驅動電流値I〇s ( Iosl、I〇s2 ),振盪啓動時間Ts及負載電容CL之關係式爲 Ts = cl * (CL)2 + dl 木(CL) + el(Ios = Iosl)· * ·式(1) Ts = c2* (CL)2 + d2* (CL) + e2(Ios = Ios2)·· ♦式(2), 利用式(1 )及式(2 ),求出任意驅動電流値爲Ios 時之,振盪啓動時間Ts與負載電容CL之關係式 Ts = cO*(CL)2 + dO*(CL) + eO (驅動電流値 los 爲任意 値(IosO)時)..,式(3 ) 在前述手段(C)中,以式(3)及前述手段(A)所 求得之振盪啓動時間TsO,來決定負載電容CL。 6. 如申請專利範圍第1至3項任一項所述之負載電 容CL之決定方法,其中,在前述手段(B)中, 振盪啓動時間Ts及負載電容CL之關係式,以驅動電 流値I 〇 s作爲參數時,爲 Ts = 0.0191(CL)2 + 0.0487(CL) + 0.0623(Ios=160nA 時)·.式(4) Ts = 0.0424(CL)2-0.0030(CL) + 0.1 240(Ios = 95nA 時).·.式(5) Ts = 0.0558(CL)2 + 0.0316(CL) + 0.1141(Ios = 70nA 時)·..式(6) > 所使用之振盪電路的驅動電流値設爲Ios時,若Ios έ 9 5 η A則利用式(4 )與式(5 ) ,I 〇 s S 9 5 η A則利用式( 5 )與式(6 ),求出任意驅動fg流値Ios下之,振盪啓動 -20- 201251305 時間Ts及負載電容C L之關係式 Ts = a(CL)2 + p(CL) + Y (驅動電流値Ios爲任意値(IosO) 時)· · ·式(7 ) (亦即決定式(7)中α、β及γ之値), 在前述手段(C )中, 利用前述手段(Β )中所求得之式(7 ),來決定負載 電容C L之値。 7. 一種電子機器,其特徵爲:裝配晶體振盪電路, 該晶體振盪電路係具有負載電容,該負載電容之値由申請 專利範圍第1至3項任一項所述之負載電容CL之決定方 法所決定。 -21 -
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