TW201219690A - Solar simulator and solar cell examination apparatus - Google Patents
Solar simulator and solar cell examination apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- TW201219690A TW201219690A TW100118284A TW100118284A TW201219690A TW 201219690 A TW201219690 A TW 201219690A TW 100118284 A TW100118284 A TW 100118284A TW 100118284 A TW100118284 A TW 100118284A TW 201219690 A TW201219690 A TW 201219690A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- light source
- light
- point
- mirror
- range
- Prior art date
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 37
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 6
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 10
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 20
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 12
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001748 luminescence spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 235000013580 sausages Nutrition 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21S—NON-PORTABLE LIGHTING DEVICES; SYSTEMS THEREOF; VEHICLE LIGHTING DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR VEHICLE EXTERIORS
- F21S8/00—Lighting devices intended for fixed installation
- F21S8/006—Solar simulators, e.g. for testing photovoltaic panels
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- F21V9/00—Elements for modifying spectral properties, polarisation or intensity of the light emitted, e.g. filters
- F21V9/02—Elements for modifying spectral properties, polarisation or intensity of the light emitted, e.g. filters for simulating daylight
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/40—Testing power supplies
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
- H02S50/10—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21Y—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES F21K, F21L, F21S and F21V, RELATING TO THE FORM OR THE KIND OF THE LIGHT SOURCES OR OF THE COLOUR OF THE LIGHT EMITTED
- F21Y2105/00—Planar light sources
- F21Y2105/10—Planar light sources comprising a two-dimensional array of point-like light-generating elements
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21Y—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES F21K, F21L, F21S and F21V, RELATING TO THE FORM OR THE KIND OF THE LIGHT SOURCES OR OF THE COLOUR OF THE LIGHT EMITTED
- F21Y2105/00—Planar light sources
- F21Y2105/10—Planar light sources comprising a two-dimensional array of point-like light-generating elements
- F21Y2105/14—Planar light sources comprising a two-dimensional array of point-like light-generating elements characterised by the overall shape of the two-dimensional array
- F21Y2105/16—Planar light sources comprising a two-dimensional array of point-like light-generating elements characterised by the overall shape of the two-dimensional array square or rectangular, e.g. for light panels
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21Y—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES F21K, F21L, F21S and F21V, RELATING TO THE FORM OR THE KIND OF THE LIGHT SOURCES OR OF THE COLOUR OF THE LIGHT EMITTED
- F21Y2115/00—Light-generating elements of semiconductor light sources
- F21Y2115/10—Light-emitting diodes [LED]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)
- Planar Illumination Modules (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
201219690 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關爲了檢查太陽能電池之太陽模擬器及太 陽能電池檢查裝置。更詳細而言,本發明係有關使用經由 點狀光源之光源的配列之太陽模擬器及使用太陽模擬器之 太陽能電池檢査裝置。 【先前技術】 以往,爲了檢查所生產之太陽能電池的光電變換特性 ’而照射特定的光線同時,測定太陽能電池之電性的輸出 特性。在此測定中,利用爲了照射滿足一定條件的光線至 太陽能電池之光源裝置,即太陽模擬器》 在太陽模擬器中,爲了生成近似於太陽光的分光光譜 之照射光,例如對於氙氣燈或鹵素燈等之發光體組合適當 的濾光片之構成作爲光源之情況爲多。特別是對於爲了檢 査量產之太陽能電池之太陽模擬器,係加上於上述分光光 譜,亦對於將在太陽能電池之受光面的光線強度,即放射 照度(irradiance )作爲均一地給予注意。此係從進行依 據所測定之光電變換特性所量產之太陽能電池的品質管理 之情況,測定結果係爲了與另外的太陽能電池之構成作比 較或對照。以下,在太陽模擬器中,將照射爲了測定太陽 能電池的光的面稱作「照射面」,將其照射面之中,想定 太陽能電池的受光面配置之範圍稱作「有效照射域」。另 外,將經由有效照射域的各位置(場所)之放射照度的不 -5- 201219690 均一,即非一樣性稱作「放射照度之場所不勻」。然而, 對於〗13 0 8912及〗13〇8933,係規定有4.2「放射照度之 場所不勻測定」。另外,對於IEC60904-9:2007「 Photovoltatic devices:Part 9 Solar simulator performance requirements」,係作爲用語而定義有「3 · 10 non uniformity of irradiance in the test plane (在試驗平面之 照度的非一樣性)」。 在以往的太陽模擬器中,爲了將有效照射域內之放射 照度作爲均一,於從光源至照射面之任一位置配置擴散光 學系統或積體光學系統。此等光學系統係將來自光源的光 線進行擴散以及集光,在光線傳播之距離途中,經由控制 光線的方向,在有效照射域爲了將放射照度作爲均一化之 光學元件。例如,爲了測定如此集成型太陽能電池之大面 積的太陽能電池而將放射照度,依照此以往的手法作爲均 一化時,產生必須配合測定對象之太陽能電池(被測定太 陽能電池)之尺寸而增大光線傳播之距離。因此,大面積 的太陽能電池,經由作爲均一化之放射照度而照明之以往 手法的太陽模擬器係必須佔據大的空間。 另一方面,作爲太陽模擬器的光源,提案有利用將發 光二極體(LED )等之固體光源配列成平面狀之平板狀的 光源單元(例如,專利文獻1 :日本特表2004-5 1 1 9 1 8號公 報,及專利文獻2 :日本特開2004-28 1 706號公報)。如此 等提案,對於太腸模擬器適用平板狀之光源單元時,經由 將平板狀之光源單元排列成幾個磁碍狀之時而可容易地擴 -6 - 201219690 大有效照射域。在使用如此之平板狀之光源單元的太陽模 擬器中,可較使用氙氣燈或鹵素燈之太陽模擬器,縮短從 光源至照射面之光路長度。此係對於光源與照射面之間係 因無需爲了將放射照度作爲均一化之大規模的光學系統。 如此,當使用平板狀之光源單元時,對於太陽能電池之大 型化的對應變爲容易,產生有亦容易抑制太陽模擬器本身 之大型化的優點。 [先前技術文獻] [專利文獻] [專利文獻1]日本特表2004-511918號公報 [專利文獻2]日本特開2004-281706號公報 【發明內容】 [發明欲解決之課題] 在此,對於將各種尺寸之太陽能電池作爲檢查對象之 情況所要求之太陽模擬器的特性之一,可舉出遍佈於所有 有效照射域盡可能放射照度爲一定,也就是一樣者。但在 使用配列有專利文獻1及專利文獻2所揭示之複數的固體光 源之平板狀的光源單元之太陽模擬器中,有著在有效照射 域之周緣部附近,放射照度容易下降,放射照度之場所不 勻容易增大之問題。本發明係貢獻於提供防止在有效照射 域之周緣部附近的放射照度下降,降低放射照度之場所不 勻之太陽模擬器的構成。 201219690 [爲解決課題之手段] 爲了解決上述之課題,本申請之發明者們係將使用多 數採用具有微小之發光體的光源(以下,稱作「點狀光源 」)之平板狀的光源之配列的太陽模擬器之構成,進行再 檢討。在如此之太陽模擬器中,射入至有效照射域之各位 置的光線係從複數之點狀光源發光的光線。因此,在有效 照射域之各場所貢獻於光線的照射之點狀光源的數量係盡 可能爲一定.爲佳。但在使用平板狀的光源之配列的太陽模 擬器中,對於在有效照射域之中央部貢獻於照射之點狀光 源的數量變多而言,在有效照射域之周緣部附近,其數量 係比較於中央部爲變少。本發明者們係認爲在有效照射域 之周緣部附近,放射照度下降而放射照度之場所不勻變大 的原因爲貢獻於光的照射之點狀光源的數量,根據有效照 射域之場所而有所差異,更具體而言,在有效照射域之周 緣部附近,實質上點狀光源的數量爲減少。 因此,本發明之發明者們係對於使用點狀光源而爲了 盡可能降低放射照度之場所不勻降低,有關照射之光源的 實質的數量,得到將有效照射域之周緣部附近,作爲與中 央部同等之情況爲有效的結論。具體而言,於有效照射域 之周圍配設反射鏡爲有效。由其反射鏡所進行之機能係將 從配設於對向於有效照射域之位置的點狀光源朝向有效照 射域之外側的光線,經由反射而重新朝向有效照射域之內 側(redirecting)之機能》 -8- 201219690 即,在本發明之某個形態中,提供具備:在某範圍, 具有平面狀排列之複數之點狀光源的光源之配列、和於該 光源之配列中,從排列有點狀光源之面遠離配置,接受來 自該光源之配列之光線,於至少一部分,配置檢查對象之 太陽能電池之受光面的有效照射域、和包圍該光源之配列 的前述範圍而配置之反射鏡之太陽模擬器。 更且,在本發明之另外的形態中,提供具備:在某範 圍,具有,平面狀排列之複數之點狀光源的光源之配列、和 於該光源之配列中,從排列有點狀光源之面遠離配置,接 受來自該光源之配列之光線,於至少一部分,配置檢查對 象之太陽能電池之受光面的有效照射域、和包圍該有效照 射域而配置之反射鏡之太陽模擬器。 加上,在本發明之又另外的形態中,提供具備:在某 範圍,具有平面狀排列之複數之點狀光源的光源之配列、 和於該光源之配列中,從排列有點狀光源之面遠離配置, 接受來自該光源之配列之光線,於至少一部分,配置檢查 對象之太陽能電池之受光面的有效照射域、和和包圍從該 光源之配列朝向該有效照射域之光線所橫斷之面範圍而配 置之反射鏡之太陽模擬器。 在本發明之上述形態中,呈「包圍」在光源之配列的 範圍而配置之反射鏡係典型而言,包含經由反射從含於光 源之配列的點狀光源射入至其反射鏡的光線之時,達成反 射鏡反射光線至光源之配列的範圍側之空間之光學的機能 之配置。隨之,如此所規定之反射鏡係對於光源之配列的 -9 - 201219690 範圍而言,意味配置於相當於外周的位置之實質部分的反 射鏡。對於此反射鏡之規定係並非必須無間隙完全地包圍 對於光源之配列的範圍而言之外周的構成。此點係亦與反 射鏡所包圍之構成爲有效照射域之情況或面範圍之情況同 樣。然而,「光源之配列」(an array of light sources) 係指成爲任意排列之幾個光源所成之光源的集合》另外, 「點狀光源」係指在微小的範圍發光之光源,並不限定於 只從在幾何學的意思的點釋放光線的光源。 [發明之效果] 如根據本發明之任一形態,在爲了測定太陽能電池之 光電變換特性的太陽模擬器中,實現降低放射照度之場所 不勻之均一性高之光線的照射。 【實施方式】 以下,對於本發明之實施形態加以說明。在以下的說 明沒有特別提及,對於遍佈全圖而共通之部分或要素,係 附上共通的參照符號。另外,圖中,各實施形態之各要素 係未必保持相互的縮尺比而顯示。 <第1實施形態> 圖1係顯示本實施形態之太陽能電池檢查裝置100之槪 略構成的斜視圖。本實施形態之太陽能電池檢查裝置100 係具備太陽模擬器1 0,和光量控制部20和電性計測部30。 -10- 201219690 光量控制部20係連接於太陽模擬器1 0,控制經由太陽模擬 器1〇內部之光源的配列2所照射的光線28之強度。另外, 電性計測部30係電性連接於被測定太陽能電池200 (以下 ’稱作「太陽能電池200」),對於其太陽能電池200賦予 電性的負荷同時,測定電流電壓.特性(I-V特性)。此太 陽能電池檢查裝置100係將經由太陽模擬器10作爲特定之 放射照度的光線28,對於位置於有效照射域4之太陽能電 池200的受光面220而言照射。從在照射此光線的狀態,經 由電性計測部30所測定之太陽能電池200的電流電壓特性 係作爲太陽能電池200之光電變換特性的數値指標,例如 要求開放電壓値,短路電流値,變換效率,曲線因子等之 數値指標。然而,太陽能電池200係於太陽模擬器10之有 效照射域4之至少一部分,位置有太陽能電池200之受光面 220地加以配置。 「太陽模擬器之構成」 對於太陽模擬器10之構造更加進行說明。圖2係顯示 在本實施形態之太陽能電池檢查裝置100之太陽模擬器10 之槪略構成的槪略剖面圖(圖2 ( a ))與槪略平面圖(圖 2(b))。對於槪略剖面圖(圖2 ( a ))係模式性顯示太 陽能電池200之配置。太陽模擬器1〇係具備光源之配列(an array of light emitters ) 2與有效照射域4與反射鏡6。 有效照射域4係從光源之配列2的發光面22遠離而配置 之照射面8之一部分,稱爲照射面8之中,想定位置有太陽 -11 - 201219690 能電池200之受光面220之範圍。隨之,有效照射域4係成 爲接受來自光源之配列2的光線28,至少於一部分配置檢 査對象之太陽能電池200之受光面220之範圍。 [反射鏡] 反射鏡6係呈包圍光源之配列2的範圍24地加以配置。 反射鏡6之具體的配置係典型而言係如以下之構成。首先 ,光源之配列2係具有遍佈於某範圍24而分散排列爲平面 狀之複數之點狀光源26。其範圍24係包含點狀光源26而擴 張的面,也就是排列有發光面22之中的點狀光源26之範圍 的平面範圍。在此,想定將如此所配置之光源之配列2的 範圍24與有效照射域4之中任一之一方作爲上面,將另一 方作爲底面之柱狀的立體。配置反射鏡6係其柱狀之立體 的側面之位置。例如,如圖2所示,如光源之配列2的範圍 24與有效照射域4同時爲同一形狀之矩形,光源之配列2的 範圍24與有效照射域4與反射鏡6則構成四角柱,反射鏡6 則配置於其四角柱的側面之位置。然而,在圖2所示之典 型例中,光源之配列2的範圍24係做成與對應之有效照射 域4同一形狀。另外,有效照射域4與光源之配列2的發光 面22係構成相互保持平行而離間的面的對,反射鏡6係對 於有效照射域4與光源之配列的發光面22之雙方而言朝向 垂直。 對於反射鏡6所期待之機能係防止在有效照射域4之周 緣部附近42的放射照度之下降的機能。即,從光源之配列 -12- 201219690 2之中,對應於有效照射域4之周緣部附近42的點狀光源 2 6 A發射的光線2 8 A係朝向於較其一部分之有效照射域4的 外緣4 6爲外側的光線則射入至反射鏡6。反射後的光線2 8 A 係對於有效照射域4與光源之配列2的發光面2 2之雙方’維 持保持垂直的成分(圖2 (a)之紙面上下方向之成分)使 反射鏡6之法線方向的成分(圖2(a)之左右方向之成分 )反轉而行進之故,對於有效照射域4之周緣部42而言, 成爲恰如從反射鏡6之外側所照射之照射光。經由此反射 的效果,在有效照射域4之周緣部42’亦降低放射照度之 下降。爲了得到如此之機能,反射鏡6係如上述之典型例 地加以配置。反射鏡6之反射機能係典型而言’對於有效 照射域4之存在的側的面62,也就是朝向圖2 ( b )之內側 的反射鏡6的面62所提供。 反射鏡6係在光源之發光光譜(放射光譜)的波長域 ,即翠光波長帶域,選擇具有充分之反射率的反射鏡。例 如,使用將金屬形成爲層狀於玻璃等之基板(substrate) 之金屬反射鏡,或將介電質薄膜作爲多層膜形成於基板之 介電質多層膜反射鏡。反射鏡6之反射率係盡可能爲高者 爲佳。例如,在發光波長帶域,反射率作爲90%以上爲佳 〇 更且,經由反射鏡6之機能,對於從有效照射域4之周 緣部附近42的位置而視光源側時,光源之配列2則經由反 射鏡6而折返形成光源的像26B (圖2(a))。因此,適當 地訂定反射鏡6之位置而將光源之配列2的各光源26,從有 -13- 201219690 效照射域4而視時,光源之配列2則呈是否亦對於反射鏡6 之外側擴張地加以觀察。因此,在有效照射域4之周緣部 附近42,亦與有效照射域4之中央部44同樣地,成爲射入 有來自多數之點狀光源2 6的光線。 更且,在太陽模擬器10中,反射鏡6則呈包圍光源之 配列2的範圍24之故,成爲可將從光源之配列2朝向各種方 向的光線,經由反射鏡6而重新朝向至光源之配列2的範圍 24 » 太陽能電池200之配置係朝向太陽模擬器10之光源之 配列2的受光面220加以配置。在圖2之太陽模擬器10之配 置的太陽能電池200係具體而言,例如載置於玻璃製之天 板48之上面,於圖2 ( a )之紙面的下方,朝向受光面220 。在此配置爲了照明的光線28係在圖2(a),從下方朝向 受光面220加以照射。 對於圖2 (a)所示之太陽模擬器10之天板48,係使用 如玻璃的板材,使光透過之構件。此情況,有效照射域4 係呈對應於光源之配列2之發光面22地離間加以配置之天 板48之兩面之中,成爲圖2 (a)之方向的上面之照射面8 之一部分。隨之,例如,天板48爲玻璃製之情況的有效照 射域4係通過天板48,接受來自圖2 (a)之下方的光源之 配列2的光線。也就是,有效照射域4係於圖2 ( a )之紙面 上之上方’與作爲朝向表面之照射面8之一部分所規定之 同時’將來自下方的光線進行受光。然而,在圖2(a)中 ’太陽模擬器10係從圖的下方加以描繪於照射有光線28之 -14 - 201219690 方向,但並非特別限定太陽模擬器1 〇之配置或光線2 8之照 射的方向。例如,太陽模擬器1 〇之配置或光線2 8之照射的 方向爲任一方向,即光線2 8之照射的方向則呈橫方向或下 方向地配置太陽模擬器1 〇亦可。對於此等情況,係因無需 上述之天板48之故,有效照射域係經由另外的形態加以規 定。例如,對於光線2 8之照射的方向爲:橫方向之情況,太 陽能電池的面係含有垂直方向之故,作爲一例係經由開口 的範圍而規定有效照射域。另外,對於將光的照射,同樣 地作爲下方向之情況,太陽能電池係將受光面作爲上方向 ,將與受光面相反的面作爲下方向,經由支持平板從下方 加以支持。此情況之有效照射域係例如經由支持平板之中 ,支持太陽能電池的面之範圍所規定。 [光源之配列] 光源之配列2係具備如發光面22之範圍24地排列成平 面狀之複數之點狀光源26。光源之配列2之範圍24係例如 作爲矩形,在此矩形之範圍24中,點狀光源26則於縱橫, 以一定的間距而配置成排列之配列。此間距係點狀光源26 之中最接近之二個點狀光源之中心之間的距離。光源之配 列2係如圖2所示,例如亦可將光源單元2Α,呈含有一個以 上之集合所成地加以構成。在圖2(b)中,由4個配列同 —構成之光源單元2 Α而構成光源之配列2。此情況之光源 單元2A係例如含有配列於平板狀之電路基板(Circuit board)之複數之點狀光源26,各點狀光源26係配置於其 -15- 201219690 電路基板而加以支持。 在本實施形態中,在光源之配列2之各點狀光源26係 可作爲發光二極體(LED )等之固體光源(固體發光元件 )。在此,利用發光二極體之點狀光源26的發光形態係並 無特別加以限定。即,例如可採用集中發光光譜於某個窄 波長範圍之單一色之發光形態之發光二極體。除此之外, 亦可採用經由使用一體化螢光體與單一色發光的晶片之發 光二極體之時,提供更廣之發光光譜之發光形態之固體光 源。 理想係含於光源之配列2之點狀光源26係所有作爲同 —之發光形態之光源。即,例如對於光源爲發光二極體之 情況,將如顯示同一之發光光譜地加以製造之同一種的發 光二極體,採用於所有的點狀光源26爲佳。此情況係例如 使發光波長不同之幾個種類之發光二極體混在,製作光源 之配列2時,因在有效照射域4之放射照度分布則依存於波 長之故。對此,使用如顯示同一之發光光譜地加以製造之 同一種的發光二極體時,在有效照射域4之放射照度分布 係在發光光譜內之任一的波長,亦成爲略同樣。因爲抑制 各個之各點狀光源26之波長依存性之故。 然而,對於作爲本實施形態之點狀光源26而可利用之 構成,係除了發光二極體之外,含有鹵素燈,氙氣燈,金 屬鹵素燈等之各種光源。另外,在爲了太陽能電池檢査裝 置1 〇 〇之太陽模擬器1 〇中,經由作爲光源之配列2而將光源 單元2A配列成複數個磁磚狀之時,可容易地擴張光源之配 -16- 201219690 列2之面積,即有效照射域4。在圖1所示之太陽模擬器i 〇 中,光源單元2Α係將4個配列成磁磚狀。 圖3係顯示在本實施形態之太陽模擬器1〇,各光源單 元2 Α內之點狀光源26的典型配列之平面圖。使用於本實施 形態之太陽模擬器1 0之點狀光源26係配列成格子狀,各點 狀光源26係放置於具有規則性之位置(格子點).。因此, 在光源單元2A,點狀光源26係亦成爲格子狀之配列圖案。 其配列圖案係除了如圖3之正方格子之外,亦可作爲三角 格子。圖4係顯示在採用三角格子之變形例的光源單元2B 之點狀光源26之典型配列之平面圖。在本實施形態中,除 此等之配列以外,例如亦可使用蜂巢格子之配列圖案(未 圖示)。 在本實施形態中,所配列之點狀光源26的密度,即每 單位面積之點狀光源26的個數係主要,考慮必要之放射照 度與各點狀光源26之發光的強度(放射束)而加以決定。 例如,對於爲了加大照射在有效照射域4的光線之放射照 度,係提高點狀光源26之密度,增大點狀光源26的總數。 對於各點狀光源26之放射束爲弱之情況,同樣地亦提高點 狀光源2 6之密度。 另一方面,從光源之配列2的發光面22至有效照射域4 之距離係主要,考慮點狀光源26之配光特性,即光線的放 射角特性而加以決定。例如,對於使用配光特性窄,於特 定方向使光束集中而發光之點狀光源26之情況,加大從其 發光面22至有效照射域4之距離。相反地,對於使用配光 -17- 201219690 特性廣,於廣方向擴張光束而發光之點狀光源26之情況, 減小其距離。於使用配光特性窄之點狀光源26之情況,減 小從發光面22至有效照射域4之距離時,各點狀光源26則 因對於有效照射域4之各場所所示之照度分布,使放射照 度之場所不句增大之故。然而,在本實施形態中,配置有 反射鏡6之故,即使拉開有從發光面22至有效照射域4之距 離,亦未有大大降低有效照射域4之放射照度。 [反射鏡的配置與放射照度之場所不勻的關係] 圖5係顯示本實施形態之太陽模擬器10的構成之擴大 剖面圖,擴大顯示圖2(a)所示之左下部分之構成。在本 實施形態之太陽模擬器10中,使用反射鏡6之故,有效照 射域4之周緣部附近42之放射照度係比較於中央部44而不 易下降。對於更提昇在有效照射域4之放射照度的均一性 而降低放射照度之場所不勻,適當地設定光源之配列2與 反射鏡6之相對的配置則爲重要。經由將圖5所示之間距a 與距離L要如何設定,係放射照度之場所不勻則受到影響 。然而,間距a係光源單元之點狀光源的配列之間距,距 離L係在光源之配列中位於最靠近反射鏡之最外部的點狀 光源之中心位置與成爲反射鏡6之反射面的面62之間的距 離。以下,將特定間距a與距離L之關係的具體反射鏡6之 配置,依據具有本實施形態之構成的太陽模擬器1〇之實施 例更加以說明。 -18- 201219690 [實施例1 ] 在本實施形態之太陽模擬器10之某實施例(實施例1 )中,反射鏡6則呈滿足a/2 = L地加以配置。然而’反射鏡 6係所謂表面鏡,有效照射域4之某內側表面62則成爲顯示 反射性的面。對於其反射鏡6係使用在發光波長帶域,對 於垂直入射光而言顯示90%之反射率之金屬蒸鍍面。 圖6係顯示在實施例1之太陽模擬器的構成之有效照射 域4之各位置之放射照度分布的數値計算結果。此放射照 度之分布係經由光線追蹤法而算出,將對於有效照射域之 各位置而言所計算之放射照度的値,經由點的密度而表現 。然而,對於圖6之右端係顯示將點的密度對應於放射照 度之數値的凡例。在此,爲了設定爲了放射照度之計算所 使用之各光學要素之配置之參數係如以下。點狀光源26係 於正方格子的格子點,排列10行15列之合計150個,將其 間距a作爲100mm。反射鏡6係點狀光源26之中,從最外周 之點狀光源26之中心的距離L呈成爲50mm地配置,作爲呈 滿足a/2 = L。各點狀光源26之發光部的寬度b係作爲2mm。 各點狀光源26係作爲放射角特性爲±60°之發光二極體,也 就是作爲只於從光線之放射方向的中心(0° )極角60°以內 之圓錐的角度範圍,放射光線之發光二極體。另外,發光 二極體係作爲於藍色發光的晶片組合螢光體而得到白色之 白色發光二極體。對於反射鏡6係使用在照射光的發光波 長帶域之全域之對於垂直入射之反射率的値爲90%之反射 鏡。在光線追蹤的計算時,傾斜方向之反射鏡6的反射率 -19- 201219690 係作爲S偏光與P偏光之平均的反射率而賦予至各傾斜角。 有效照射域4係作爲圖6之紙面上的縱lOOOmmx橫1 5 00mm之 矩形的範圍,光源之配列2的範圍24與有效照射域4之間的 距離係作爲500mm。 如此圖6所示,呈滿足a/2 = L地配置反射鏡6之實施例1 之太陽模擬器係顯示放射照度的値爲良好之一樣性。具體 而言,有效照射域4之中最大放射照度及最小放射照度係 各爲87.4W/cm2及82.8W/Cm2,從此等値所計算之放射照度 之場所不勻係±2.3%。然而,放射照度之場所不勻之算出 方法係依據JIS C 8933而算出,此時之測定點數係作爲17 點。對於圖6係明示得到最大放射照度及最小放射照度的 値之位置與各値。 本申請發明者們係思考從在實施例1之太陽模擬器所 算出之圖6的放射照度,和在有效照射域4之中央部44與周 緣部附近42之放射照度的値,更使經由周緣部附近42之放 射照度之下降的放射照度之場所不勻減少爲佳。特別是如 根據發明者們之檢討,此放射照度的下降程度係隨著反射 鏡6之反射率下降而成爲顯著。因此,反射鏡6之反射率係 越高的値而越佳,對於在本實施形態之反射鏡6係理想爲 採用例如在照射光之發光波長帶域全域之對於垂直入射而 言之反射率的値爲9 0 %以上的構成。 [實施例2] 對於現實之反射鏡係無法期待完全之反射,即100%之 -20- 201219690 反射率。因無法完全防止反射損失之故。因此,發明者們 係在考慮現實之反射鏡之特性上,檢討爲了更提昇在有效 照射域4之放射照度之一樣性的方略。特別注目處係是否 可實現補償在現實之反射鏡6所產生之反射損失之構造。 發明者們係發現經由更精密地調整反射鏡6之位置之時而 發揮如此之補償效果之構成。以下,作爲實施例2而顯示 其構成。 在本實施形態之另外的實施例(實施例2)之太陽模 擬器中,作爲經由將上述實施例1之反射鏡6的位置更移動 至內側之時,對於在反射鏡6之反射補償不可避免之反射 損失。具體而言,距離L呈滿足L = a/4地配置反射鏡6,計 算在其配置之放射照度之分布。在此,距離L,間距a所指 的是與關連於圖5實施例1所說明之構成同樣。 圖7係顯示在實施例2之太陽模擬器的構成之有效照射 域4之各位置之放射照度分布。此放射照度之分布係與實 ^例1同樣,經由光線追蹤法而算出之構成。另外,爲了 上述之各配置之參數,反射鏡6係除了將從最外周的點狀 光源之中心的距離L作爲25mm以外,係與作爲與實施例1 同樣。 如圖7所示,在實施例2之太陽模擬器之有效照射域4 的放射照度係顯示較實施例1之情況更爲良好之一樣性。 具體而言,在有效照射域4之放射照度之最大値及最小値 係各爲86.4W/cm2及83.5W/cm2。從此等値所算出之放射照 度之場所不勻係± 1 . 7%。然而,使用於此等之計算的測定 -21 - 201219690 點數係與實施例1同樣。 如以上所述,在本實施形態中,經由提昇反射鏡6之 反射率而可防止在有效照射域4之周緣部附近42的放射照 度之下降,進而可製作降低放射照度之場所不勻的太陽模 擬器。加上,在本實施形態中,經由調整反射鏡6之位置 ,可製作更降低放射照度之場所不勻而照射光線之太陽模 擬器。 <第1實施形態之變形例> 上述之第1實施形態係可維持保持其優點而做各種變 形。以下說明代表性之變形例。 首先,反射鏡之位置係可保持實施例2之優點而更加 進行調整。也就是,反射鏡的位置係呈更精密地將放射照 度作爲均一化地,配合實際所使用之反射鏡的特性等之諸 條件變化而加以調整爲佳。此係現實之反射鏡的反射損失 既然依存於反射鏡之種類或光的波長,入射角等之各種條 件,所以例如距離L則並不限定於滿足L = a/4之構成。可得 到如經由此調整而補償反射鏡之反射損失之實施例2之效 果的一般條件,係可經由距離L所滿足之條件而特定。具 體而言,對於爲了補償反射鏡之反射損失,距離L呈滿足 b/2 < L < a/2之關係地設置反射鏡爲佳。在此,距離L,間 距a所指的構成係與上述之實施例1同樣,更且,將各個點 狀光源之寬度作爲寬度b。 更具體而言,首先,距離L係作爲不足a/2爲佳。如上 -22- 201219690 述,在現實的反射鏡中,無法避免反射損失。對於爲了補 償此反射損失,反射鏡則位置於更內側則爲有效。另外, 距離L係超過b/2爲佳。反射鏡係在光源的配列,必須配置 於較位於靠反射鏡之最外部的點狀光源爲外側。隨之,此 等同時成立之滿足b/2 <L< a/2之不等式的距離L則成爲理 想値之範圍。然而,在上述之實施例2中,a的値作爲 100mm,b的値作爲2mm之故,即使距離L作爲25mm,亦成 立b/2 < L( = a/4) < a/2之關係。另外,對於距離L而言,要 求b/2 < L之情況係爲了防止與最外部的點狀光源之干擾, 在此的寬度b係作爲最外部的點狀光源之寬度。 對於爲了在上述條件之範圍內,更精密地決定此距離 L,係摻加各種條件。對於此條件,係例如考慮有反射鏡 之反射率,從光源至照射面的距離,點狀光源之配列的間 距,及點狀光源之放射角度。在此,有效照射域的周緣部 附近之均一性的下降係主要因反射鏡之反射損失,即經由 吸收所引起之放射照度之下降引起。另一方面,縮短距離 L之效果係在有效照射域的周緣部增大放射照度。因此, 縮短距離L爲佳之情況係成爲在有效照射域,至更內側反 射的光線到達之情況,即在有效照射域的反射光之影響大 之情況。隨之,例如,當列舉將距離L作爲更小爲佳條件 的例時,成爲反射鏡之反射率爲更小之情況,從光源至照 射面的距離爲更大之情況,點狀光源之配列的間距爲更窄 之情況,並且,點狀光源之放射角度爲更廣之情況。 -23- 201219690 <其他的實施形態〉 作爲第1實施形態,上述之實施形態係將在太陽模擬 器之反射鏡的構成,經由從另外的觀點而規定之時’作爲 另外之實施形態而亦可把握。即,在第1實施形態之太陽 模擬器1 〇中,著眼於反射鏡6呈包圍有效照射域4地加以配 置的點。如此構成反射鏡6之情況係太陽模擬器1 0在第1實 施形態得到上述之效果的理由之一。此係反射鏡6之中, 因接近於有效照射域4之部分,也就是圖2(b)之上方的部分 66係比較於接近光源之配列2的部分,也就是圖2 (a)之 下方的部分64時,對於有效照射域4之周緣部附近42之放 射照度而言帶來大的影響之故。反射鏡6之中上方的部分 66係包圍有效照射域4之部分之故,而包圍有效照射域4之 部分的反射鏡6亦貢獻於有效照射域4之放射照度之均一化 。如此,呈包圍有效照射域地配置反射鏡之情況係爲了減 輕放射照度之場所不勻而爲有用。然而,在呈包圍有效照 射域地配置反射鏡之情況,亦無需將有效照射域之外周無 間隙地完全包圍反射鏡。典型而言,如圖2 ( a )所示,在 有效照射域4位置於玻璃製之天板48的上面,反射鏡6延伸 至其天板48之下面的構成中,對於有效照射域4與反射鏡 之上端之間係存在有唯天板48的厚度之光學的間隙。即使 唯存在有如此間隙之第1實施形態之太陽模擬器1 0的反射 鏡6,亦成爲呈包圍有效照射域4地加以配置的例。 上述之第1實施形態係作爲又一般的另外之實施形態 ,將從光源之配列朝向有效照射域的光線所斷之面範圍, -24- 201219690 作爲反射鏡所包圍之構成亦可規定。想定此面範圍的面係 典型而言,將從光源之配列朝向有效照射域的光線所通過 的空間,間隔成光源之配列側與有效照射域側之二個空間 之任意的面。想定此面範圍的面係在從光源之配列至有效 照射域之中間的任意位置加以規定。並且,面範圍的形狀 係典型而言,對於光源之配列的範圍或有效照射域之任一 或雙方,作爲相似或疊合之形狀》對於圖2(a)係經由假 想線(二點虛線)而顯示作爲如此之典型的面範圍之面範 圍70的位置的例。在此之面範圍70係作爲與有效照射域4 疊合之平面形狀。然而,實施形態1之太陽模擬器10的反 射鏡6係亦對於呈包圍面範圍70地加以配置。反射鏡6之中 ,包圍如此所規定之面範圍70的部分亦貢獻於在有效照射 域4之放射照度的均一化。 如此,上述之任一實施形態亦可得到第1實施形態之 效果,可經由與第1實施形態同樣之理想形態而實施。即 ,將在光源之配列的各點狀光源作爲發光二極體之情況, 將點狀光源之所有作爲同一之發光形態之光源之情況,作 爲點狀光源而使用鹵素燈,氙氣燈,金屬鹵素燈等之各種 的光源之情況,作爲光源之配列而將光源單元配列爲複數 個磁磚狀之情況係在任一之實施形態均可加以採用。並且 ,在任一之實施形態,亦可採用作爲實施例1及實施例2所 示之具體的點狀光源與反射鏡之配置。 以上,已具體說明過本發明之實施形態。上述之各實 施形態及實施例係爲了說明發明所記載之構成,本申請之 -25- 201219690 發明範圍係依據申請專利範圍的記載所訂定之。另外,存 在於包含各實施形態之其他組合之本發明的範圍內之變形 例亦包含於申請專利範圍之構成。 [產業上之可利用性] 如根據本發明,可提供放射照度之一樣性高之太陽模 擬器。因此,在生產各種面積之太陽能電池之生產工程中 ,可精確佳地進行太陽能電池之檢查,貢獻於高品質之太 陽能電池之生產的同時,亦貢獻於將如此之太陽能電池含 於一部分之任意的電力機器或電性機器之普及。 【圖式簡單說明】 圖1係顯示本發明之某實施形態之太陽能電池檢查裝 置之槪略構成的斜視圖。 圖2係顯示在本發明之某實施形態之太陽能電池檢查 裝置之太陽模擬器之槪略構成的槪略剖面圖(圖2(a)) 與槪略平面圖(圖2 ( b))。 圖3係顯示在本發明之某實施形態之太陽模擬器,光 源單元內之點狀光源的典型配列之平面圖。 圖4係顯示在本發明之某實施形態之太陽模擬器,光 源單元內之點狀光源的典型配列之平面圖。 圖5係擴大顯示本發明之某實施形態之光源的配列之 剖面圖。 圖6係顯示經由採用以往的太陽模擬器之太陽能電池 -26- 201219690 檢査裝置而測定之大型太陽能電池與小型太陽能電池之測 定結果圖表,電流電壓特性圖(圖6 ( a ))’和電力特性 (圖 6 ( b ))。 圖7係顯示經由採用本發明的某實施形態之太陽模擬 器之太陽能電池檢查裝置而測定之大型太陽能電池與小型 太陽能電池之測定結果圖表,電流電壓特性圖(圖7(a) ),和電力特性(圖7 ( b ))。 【主要元件符號說明】 100 :太陽能電池檢査裝置 1 〇 :太陽模擬器 2 :光源之配列 2A :光源單元 2B :光源的像 2 0 :光量控制部 22 :發光面 24 :範圍 26,26A :點狀光源 28,28A :光線 200 :太陽能電池 220 :受光面 3 〇 :電性計測部 4 :有效照射域 42 :周緣部附近 -27- 201219690 44 :中央部 46 :外緣 48 :天板 6 :反射鏡 62 :面 70 :面範圍 8 :照射面 -28-
Claims (1)
- 201219690 七、申請專利範圍·· 1. —種太陽模擬器,其係具備: 在某範圍,具有平面狀排列之複數之點狀光源的光源 之配列; 於該光源之配列中,從排列有點狀光源之面遠離地配 置,接受來自該光源之配列之光線,於至少一部分配置有 檢査對象之太陽能電池之受光面的有效照射域;以及 包圍位在該光源之配列之前述範圍而配置之反射鏡。 2. —種太陽模擬器,其係具備: 在某範圍,具有平面狀排列之複數之點狀光源的光源 之配列; 於該光源之配列中,從排列有點狀光源之面遠離地配 置,接受來自該光源之配列之光線,於至少一部分配置有 檢查對象之太陽能電池之受光面的有效照射域;以及 包圍該有效照射域而配置之反射鏡。 3. —種太陽模擬器,其係具備: 在某範圍,具有平面狀排列之複數之點狀光源的光源 之配列; 於該光源之配列中,從排列有點狀光源之面遠離地配 置,接受來自該光源之配列之光線,於至少一部分配置有 檢查對象之太陽能電池之受光面的有效照射域;以及 包圍從該光源之配列朝向該有效照射域之光線所橫斷 之面範圍而配置之反射鏡。 4. 如申請專利範圍第1項至第3項之任一項記載之太陽 • 29 - 201219690 模擬器,其中,前述點狀光源於前述範圍,以一定之間隔 加以排列, 前述點狀光源中位於前述範圍之最外部之點狀光源之 中心位置與前述反射鏡之光反射面之間的距離係成爲前述 點狀光源之前述間隔之一半。 5 .如申請專利範圍第1項至第3項之任一項記載之太陽 模擬器,其中,前述點狀光源於前述範圍,以一定之間隔 加以排列, 前述點狀光源中位於前述範圍之最外部之點狀光源與 前述反射鏡之光反射面之間的距離係較位於最外部之各點 狀光源本身之寬度之一半爲大,較前述點狀光源之前述間 隔之一半爲小。 6·如申請專利範圍第1項至第3項中任一項記載之太陽 模擬器,其中,前述點狀光源係單色之發光二極體、或螢 光體與單色發光之晶片一體化之發光二極體。 7 ·如申請專利範圍第1項至第3項中任一項記載之太陽 模擬器’其中’前述點狀光源係鹵素燈、氙氣燈,或金屬 鹵素燈。 8.如申請專利範圍第1項至第3項中任一項記載之太陽 模擬器’其中’前述點狀光源係僅由同一之發光形態之光 源所成。 9 · 一種太陽能電池檢查裝置,其係具備:如申請專利 範圍第1項至第3項中之任一項記載之太陽模擬器、 和連接於該太陽模擬器,控制經由該太陽模擬器之前 -30- 201219690 述光源之配列所照射之光量的光量控制部、 和電性連接於在該太陽模擬器之前述有效照射域之至 少一部分配置受光面之檢查對象之太陽能電池,供予電性 負荷之同時,測定該太陽能電池之光電變換特性之電性計 測部。 -31 -
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010129208 | 2010-06-04 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201219690A true TW201219690A (en) | 2012-05-16 |
Family
ID=45066470
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW100118284A TW201219690A (en) | 2010-06-04 | 2011-05-25 | Solar simulator and solar cell examination apparatus |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20130063174A1 (zh) |
JP (1) | JP5354100B2 (zh) |
KR (1) | KR20130036168A (zh) |
CN (1) | CN102472462A (zh) |
DE (1) | DE112011100041T5 (zh) |
TW (1) | TW201219690A (zh) |
WO (1) | WO2011152081A1 (zh) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8736272B2 (en) * | 2011-11-30 | 2014-05-27 | Spire Corporation | Adjustable spectrum LED solar simulator system and method |
JP2013164354A (ja) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Nisshinbo Mechatronics Inc | ソーラシミュレータ |
CN102721841B (zh) * | 2012-06-15 | 2014-10-01 | 深圳市创益科技发展有限公司 | 一种用于测试太阳能电池的太阳模拟器 |
US9410669B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-08-09 | The Boeing Company | Multi-lamp solar simulator |
JP6186569B2 (ja) * | 2013-09-18 | 2017-08-30 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 疑似太陽光照射装置及び該装置用蛍光体粉末 |
JP6273513B2 (ja) * | 2013-12-02 | 2018-02-07 | シーシーエス株式会社 | 面発光装置 |
WO2016142153A1 (en) * | 2015-03-12 | 2016-09-15 | Koninklijke Philips N.V. | Illumination unit for digital pathology scanning |
EP3091274B1 (en) | 2015-05-05 | 2018-03-14 | Pasan Sa | Solar testing device |
US10720883B2 (en) | 2017-04-24 | 2020-07-21 | Angstrom Designs, Inc | Apparatus and method for testing performance of multi-junction solar cells |
JP7117585B2 (ja) * | 2018-08-06 | 2022-08-15 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 照明器具 |
CN109660208A (zh) * | 2019-01-31 | 2019-04-19 | 泸州金能移动能源科技有限公司 | 一种太阳模拟器不均匀度的测试模具及测试方法 |
DE102020102494A1 (de) | 2020-01-31 | 2021-08-05 | Heliatek Gmbh | Verfahren zum Überprüfen eines photovoltaischen Elements, sowie ein photovoltaisches Element,überprüft nach einem solchen Verfahren |
CN117335745B (zh) * | 2023-11-29 | 2024-04-09 | 龙焱能源科技(杭州)有限公司 | 电池组件测试装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11214165A (ja) * | 1998-01-23 | 1999-08-06 | Kansai Electric Power Co Inc:The | 人工太陽光装置 |
JP2001091567A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-06 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 太陽電池評価装置 |
CN1260576C (zh) * | 2000-10-17 | 2006-06-21 | 施密德技术系统有限公司 | 用于检测太阳能电池的设备 |
JP5256521B2 (ja) * | 2003-03-14 | 2013-08-07 | 独立行政法人科学技術振興機構 | Ledを用いた太陽電池の評価方法及びその評価装置 |
JP5236858B2 (ja) * | 2005-02-01 | 2013-07-17 | 日清紡ホールディングス株式会社 | 太陽電池の出力特性の測定方法。 |
KR100567391B1 (ko) * | 2005-02-04 | 2006-04-04 | 국방과학연구소 | 수은램프와 할로겐램프 조합 방식을 이용한 솔라 시뮬레이터 |
US7309850B2 (en) * | 2005-08-05 | 2007-12-18 | Sinton Consulting, Inc. | Measurement of current-voltage characteristic curves of solar cells and solar modules |
JP5054326B2 (ja) * | 2006-05-01 | 2012-10-24 | 昭和シェル石油株式会社 | Cis系薄膜太陽電池モジュールの改良された耐久性試験方法 |
-
2011
- 2011-02-14 KR KR1020127003408A patent/KR20130036168A/ko not_active Application Discontinuation
- 2011-02-14 DE DE112011100041T patent/DE112011100041T5/de not_active Withdrawn
- 2011-02-14 US US13/390,102 patent/US20130063174A1/en not_active Abandoned
- 2011-02-14 WO PCT/JP2011/052989 patent/WO2011152081A1/ja active Application Filing
- 2011-02-14 JP JP2012518270A patent/JP5354100B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2011-02-14 CN CN2011800032011A patent/CN102472462A/zh active Pending
- 2011-05-25 TW TW100118284A patent/TW201219690A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102472462A (zh) | 2012-05-23 |
WO2011152081A1 (ja) | 2011-12-08 |
DE112011100041T5 (de) | 2012-06-21 |
JPWO2011152081A1 (ja) | 2013-07-25 |
KR20130036168A (ko) | 2013-04-11 |
JP5354100B2 (ja) | 2013-11-27 |
US20130063174A1 (en) | 2013-03-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW201219690A (en) | Solar simulator and solar cell examination apparatus | |
JP5270160B2 (ja) | 照明システム | |
US7738054B2 (en) | Liquid crystal display device | |
JP5940157B2 (ja) | 面光源装置及び液晶表示装置 | |
US8746943B2 (en) | LED backlighting system with closed loop control | |
US7402940B2 (en) | Surface light emitting apparatus | |
US10352531B2 (en) | Optical diffusion plate and light source module | |
US8869419B2 (en) | Efficient irradiation system using curved reflective surfaces | |
KR101444019B1 (ko) | 측면조사식 백라이트 모듈 | |
TW201219691A (en) | Solar simulator and solar cell examination apparatus | |
JP2008286874A (ja) | 表示装置および照明装置 | |
JP2006252958A (ja) | 照明装置、及びこれを備えた液晶表示装置 | |
KR102605189B1 (ko) | 발광 기구 및 백라이트 모듈 | |
EP1653149A4 (en) | LEVEL LIGHT SOURCE AND ITS USE IN A DISPLAY DEVICE | |
CN102419414B (zh) | 太阳光模拟器 | |
WO2019075935A1 (zh) | 光源系统及照明设备 | |
CN106990608A (zh) | 光源装置 | |
JP2007265716A (ja) | 面状光源及び液晶表示装置 | |
RU2478872C2 (ru) | Устройство освещения, устройство отображения и телевизионный приемник | |
JPH08179318A (ja) | 液晶用照明装置 | |
JP2009145254A (ja) | 擬似太陽光照射装置 | |
NO335108B1 (no) | Reflektor og LCD-anordning av refleksjonstype som utnytter denne | |
JP2009264991A (ja) | 擬似太陽光照射装置 | |
US20130279146A1 (en) | Pseudo-sunlight irradiation apparatus | |
US20150076367A1 (en) | Efficient radiating system using curved reflective surfaces |