TW201145552A - Photovoltaic module manufacture - Google Patents

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Markus Gloeckler
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Description

201145552 六、發明說明: 優先權之請求 此申請案係請求2010年3月1日提申之美國臨時專利 申請案第61/309,064號之優先權,在此併入其之全部内容 以供參考。 I:發明戶斤屬之技術範圍3 發明領域 本發明係有關於光伏打模組以及生產之方法。 t先前技術;1 發明背景 光伏打元件可包括亦為電荷導體的透明薄膜。光伏打 元件於功能上可建立於一被視為η型之多電子區域與一被 視為ρ型之高電洞密度區域之緊密接觸之形成的基礎上。過 去的光伏打元件在製造期間與之後會由於曝露至光而被可 逆地或不可逆地影響。 圖式簡單說明 第1圖係一光伏打模組之一示意圖。 第2圖係一光伏打模組之一示意圖。 第3圖係一光伏打模組之一示意圖。 第4圖係一用於製造一光伏打模組之一系統之一示意 圖。 第5圖係一用於製造一光伏打模組之一系統之一示意 圖。 第6圖係一用於製造一光伏打模組之一系統之一示意 201145552 【發明内容】 發明概要 光伏打元件可包括形成於一基板(或蓋板)上之數層。例 如,一光伏打元件可包括在一基板上形成一堆疊之一阻隔 層、一透明導電氧化(TC0)層、一緩衝層、一半導體窗層、 與一半導體吸收體層。每一層可依次包括多於一層之層或 薄膜。例如’該半導體窗層與半導體吸收體層可共同被視 為一半導體層。該半導體層可包括一建立(例如,形成或 沉積)在該TCO層上之第一薄膜與一建立在該第一薄膜上 之第二薄膜。此外,每一層可覆蓋該元件之全部或一部分, 且/或可覆蓋該層或該位於該層之下的基板之全部或一部 分。例如,一”層”可表示任何數量之接觸一基板之全部或 一部分的任何材料。 諸如該等包括銅-銦-鎵-硒(CIGS)、碲化鎘(cdTe)、與 非晶矽(a - S i)等之薄膜太陽能電池通常在長期時間(大於〇 5 小時-數天)之光的曝露之後顯示其等之電流-電壓特性的變 化。諸如CIGS太陽能電池等一些結構顯示完全可逆的暫態 降解。諸如a-Si太陽能電池等一些結構顯示不可逆的降解, 且通常被稱為穩定。在CdTe太陽能電池,二種現象皆可被 觀察到,即在短暫曝露至光之後其效率會增加且穩定或降 低。目前,如此可逆或不可逆的變化係造成對於相關元件 性能之適當評價的爭論’即該位於該製造程序末端之元件 可能處於一非代表該被期待之現場性能的狀態。_製造程 4 201145552 序與其相關系統係被發展作為一替代方法以使用光曝露以 引起該元件内的該等變化。 諸如CIGS、CdTe、與a-Si等薄膜太陽能電池通常在長 期時間(大於0.5小時-數天)之光的曝露之後顯示其等電流_ 電麼特性的變化。一增加的溫度可加速該等變化。此外, 一於該光伏打元件内建立一偏壓之外部電力供應之應用可 足夠降低這些變化。該由於製程溫度導致的加速,係於光 曝露期間藉由增加溫度而被測試。當該元件係被保持在— 高溫下,其相同效果可在一恆定電流負載下達成^在—恆 定電流負載下增加溫度可加速該變化。該等變化使該製程 成為可製造的。於一些具體實施例中,這些製程可與一層 壓製程結合,該層壓製程係具有相同週期時間且可提供引 起該等必要變化之需要的熱。 於—層壓製程中,藉由被設計以共同密封和維持該模 、’且之材料溥膜光伏打元件可被封裝在該模組内部達數年 且在數種情況下。藉由在該模组之結構内部形成可固定 化、螫合、吸收、且/或固定鎘、且/或其他重金屬之低溶解 度化合物’該封裝材料可幫助保持出現在該模組内部之重 金屬以協助操作與配置。 在一觀點中,—種用於製造一光伏打模組之方法可包 括加熱-光伏打模組至—高於⑽t之溫度以及施加一電 氣偏壓至該被加熱的光伏打模組。該發生在—層壓製程期 間之加熱該域打模組之步料包財加触光伏打模組 之前放置-絲_組巾間層與—光⑽了馳基板接觸, 201145552 以及該中間層與該基板擠壓在一起。施加電氣偏壓至該光 伏打模組可於加熱該光伏打模組之後發生。施加電氣偏壓 至該光伏打模組可於加熱該光伏打模組期間發生。施加電 氣偏壓至該光伏打模組可於該層壓製程期間發生。施加電 氣偏壓至該光伏打模組可於該層壓製程之後發生。 施加電氣偏壓可具有一持續時間,其係較長於加熱該 光伏打模組之持續時間。施加電氣偏壓可具有一持續時 間,其係較短於加熱該光伏打模組之持續時間。施加電氣 偏壓可具有一持續時間,其實質上等同於加熱該光伏打模 組之持續時間。施加該電氣偏壓可包括供給具有一上電壓 極限之恒定電流。施加該電氣偏壓可包括供給具有一上電 流極限之恆定電壓。該電氣偏壓可產生一為該光伏打元件 之短路電流之0.3-5倍範圍内之電流。 加熱該光伏打模組可包括加熱該光伏打模組至一在 100至220°C範圍内之溫度。加熱該光伏打模組可包括加熱 該光伏打模組至一在120至180°C範圍内之溫度。加熱該光 伏打模組可包括加熱該光伏打模組至一在120至160°C範圍 内之溫度。該層壓製程可具有一 1至60分鐘的持續時間。該 層壓製程可具有一 1至30分鐘的持續時間。該層壓製程可具 有一 1至20分鐘的持續時間。該層壓製程可具有一5至20分 鐘的持續時間。 施加該電氣偏壓之步驟可包括施加該電氣偏壓達1至 60分鐘。施加該電氣偏壓之步驟可包括施加該電氣偏壓達1 至20分鐘。施加該電氣偏壓之步驟可包括施加該電氣偏壓 201145552 達5至20分鐘。 在一觀點中,一種用於製造一光伏打模組之系統可包 括一調節台,其包括一被構型以加熱一光伏打模組至一高 於100°C之溫度的加熱器以及一被構型以施加一電氣偏壓 至該光伏打模組的電源。該系統可包括一被構型以在一光 伏打模組被加熱之後將一光伏打模組中間層與光伏打模組 基板擠壓在一起之層壓機。該系統可包括一傳送裝置以自 該層壓機傳送一光伏打模組。 該層壓機可包括該被構型以加熱一光伏打模組至一高 於100°C之溫度的加熱器,與一被構型以共同施力於一光伏 打模組中間層與一光伏打基板之沖壓機。該電源可被構型 以於該加熱器加熱該光伏打模組之後施加該電氣偏壓至一 光伏打模組。該電源可被構型以於該加熱器加熱該光伏打 模組時同時施加該電氣偏壓至一光伏打模組。該電源係被 設定在一具有一上電壓極限之恆定電流。該電源係被設定 在一具有一上電流極限之恆定電壓。 該電氣偏壓可產生一為該光伏打元件之短路電流之 0.3-5倍範圍内之電流。該加熱器可被構型以加熱一光伏打 模組至一在120至180°C範圍内之溫度。該層壓機可被構型 以層壓一光伏打模組達1至20分鐘之間。該系統可包括一包 括一薄膜光伏打元件之光伏打模組。該系統可包括一包括 一包括一碲化鎘光伏打元件之光伏打模組。該系統可包括 一包括一 CIGS光伏打元件之光伏打模組。該系統可包括一 包括一非晶矽光伏打元件之光伏打模組。 201145552 【實'式】 詳細說明 參考第1圖’光伏打模組101可包括前基板100。前基板 100可包括任何合適的材料,包括玻璃,例如,納弼玻璃。 一或多層之層110可被設 置鄰近於前基板100,該等層110係 可作為一許多層可被添加於其上之第一基板。該(等)層110 可包括一或多層元件層。例如,該(等)層110可包括一或多 層薄膜光伏打元件層。光伏打元件層可更包括一鄰近於基 板100之透明導電氧化層、一鄰近於該透明導電氧化層之半 導體窗層、以及一鄰近於該半導體窗層之半導體吸收層。 在一些具體實施例中’該(等)層uo可包括碲化鎘(cdTe) 光伏打元件層^ CdTe光伏打元件層可更包括一透明導電氧 化層 半導體窗層、以及一CdTe吸收層。在一些具體實 施例中,該(等)層Π0可包括銅銦鎵硒(CIGS)光伏打元件 層。CIGS光伏打元件層可更包括一透明導電氧化層與一 CIGS吸收層。該(等)層11〇可包括任何合適的光伏打吸收材 料,包括,例如,諸如非晶矽等的矽。 該(等)層110可包括附加的鄰近於該半導體吸收層之金 屬層。一或多金屬固定劑層可被設置鄰近於該(等)層丨⑺。 例如,一金屬固定劑層120可被設置鄰近於該(等)層丨⑺。 部分半導體材料與其他塗層可自該包含一系列相連之 光伏打元件之光伏打模組的邊緣去除。該半導體材料可藉 由任何合適的方法自該邊緣被去除。該半導體材料已被去 域可被使用以m成、或沉積—鄰近於該基板 201145552 之中間層材料。參考第2圖,部分該(等)層n〇與該(等)層12〇 可藉由包括雷射切割等的機械方法自該光伏打元件1〇1被 去除。 參考第3圖’光伏打模組1〇1可包括一或多與該(等)層 110及該(等)層120接觸的中間層138。一光伏打模组1〇1亦可 包括一背基板130。背基板130可包括任何合適的材料,包 括玻璃,例如,鈉妈玻璃。背基板13〇可於中間層138之添 加後被添加至光伏打模組101。或者,背基板13〇可於中間 層138被添加之前,被添加至光伏打模組1〇1。例如,背基 板130可被設置鄰近於該(等)層100與該(等)層12〇以形成一 础鄰前基板100與背基板130之邊緣部分的空間。中間層材 料可被設置於此空間以形成中間層138。 光伏打模組101之該等層可藉由一層壓製程被定位、加 • 熱、與共同結合。層壓係封裝該等半導體層、TCO、金屬 • 導體、以及光伏打模組101之任何其他層,且層壓係密封該 光伏打元件與環境分離。該前基板100與該背基板130可經 由一層壓製程與該等中間層138共同結合。該等中間層可包 括一熱塑性中間層。該熱塑性中間層可包括一丙烯腈-丁二 烯-苯乙烯(ABS)、一丙烯酸塑料(PMMA)、一赛璐珞、一醋 酸纖維素、一環烯烴系共聚物(COC)、一聚乙烯丁醛 (PVB)、一矽樹脂、一環氧樹脂、一乙酸乙烯酯(EVA)、一 伸乙基乙烯醇(EVOH)、一氟塑料(PTFE)、一多離子聚合 物、KYDEX®、一液晶聚合物(LCP)、一聚縮醛(POM)、一 聚丙烯酸酯、一聚丙烯腈(PAN)、一聚醯胺(PA)、一聚醯胺 201145552 -醯亞胺(PAI)、一聚芳醚酮(PAEK)、一聚丁二烯(PBD)、一 聚丁烯(PB)、一聚對苯二曱酸丁二酯(PBT)、一聚己内酯 (PCL)、一聚氣三氟乙烯(PCTFE)、一聚對苯二甲酸乙二酿 (PET)、聚對苯二曱酸環己烷對二曱醇酯(PCT)、一聚碳酸 酯(PC)、一聚羥基烷酸鹽(PHA) ' —聚酮(PK)、一聚酯、一 聚乙烯(PE)、一聚二醚酮(PEEK)、一聚醚酮酮(PEKK)、一 聚醚醯亞胺(PEI)、一聚醚(PES)、一氣化聚乙烯(PEC)、一 聚醯亞胺(PI)、一聚乳酸(PLA)、一聚曱基戊烯(PMP)、一 聚苯醚(PPO)、一聚苯硫(PPS)、一聚鄰苯二甲醯胺(PPA)、 一聚丙烯(PP)、一聚苯乙烯(PS)、一聚颯(PSU)、一聚對笨 二甲酸丙(PTT)、一聚氨基曱酸酯(pu)、一聚乙烯乙酯 (PVA)、一聚氣乙烯(PVC)、一聚二氣亞乙烯(PVDC)、或一 苯乙烯-丙烯腈(SAN) ’或任何其他合適的材料,或任何其 等的組合。在某些具體實施例中,熱塑性中間層可包括一 乙酸乙烯酯(EVA)、一聚乙烯丁醛(Pvb)、一矽樹脂、或一 環氧樹脂。 參考第4圖,光伏打模組1〇1的前基板1〇〇、背基板13〇 與中間層138可被擠壓在一起。擠壓前基板1〇〇、背基板13〇 與中間層138的方法可包括一可包括一沖壓機之層壓機 200。當層壓機200之頂部板21〇與底部板22〇將前基板1〇〇與 背基板130擠壓在一起時,層壓機2〇〇可藉由 自該面對背基 板130之層壓機200之該底部加熱板22〇加熱而於層壓腔室 230中處理光伏打模組1〇丨。中間層138可藉由此製程被熔 解,被允§午流動與填滿於間隙中,以及被固化。層壓腔室 10 201145552 23〇可為一真空腔室。 在些具體實施例中,於該層壓製程中,除了在層壓 機200裡之處理之外,光伏打模組1〇1還可被一紅外線輻射 (IR)之來源加熱。一IR加熱器可在中間層138被增加至光伏 打元件101之前或之後被使用。 參考第5圖與第6圖,一製造一光伏打模組之系統可包 括用以層壓光伏打模組101之層壓機200、在層壓機200之後 用以調節模組101之調節台300、以及用以施加一電氣偏壓 至光伏打模組101之電源4〇〇。在一些具體實施例中如第6 圖所顯示,電源4〇〇可被構型以施加一電氣偏壓至位於調節 台300上的光伏打模組1G1。該製造—光伏打模組之系統可 包括傳送裝置500。調節台3〇〇可被構型以調節位於層壓機 200與傳送裝置500之間的光伏打模組1(H。 在一些具體實施例中,該系統可於相同的溫度循環中 執仃層壓與調節(例如’該光伏打模組之加熱與偏壓)。典型 的層壓溫度係位於12(Μ8(Γ(^圍内達_5_2〇分鐘之時間週 期。於此系統中’該電氣偏壓可經由一電源供應提供在 該溫度循射,該電源供應係被設定在—具有—上電壓極 限之但定電流或在-具有—上電流極限之怪定電壓。該電 流可為該光伏打元件之短路電流之Q3_5倍的範圍内。該電 流可為該光伏打元件之短路電流之G3_3倍的範圍内。 些具體實施财,《統可於—單—溫度循環中提供封襄 之層壓以及光伏打模組之—調節,其係經由在該層壓之溫 度循環中一電氣偏壓的應用而提供。 201145552 在一些具體實施例中,該調節之過程可在層壓之後經 由電氣偏壓與熱的施加而發生。間接熱可藉由該層壓循環 被部分地或完全地提供。自層壓卫具2_開時之典型触 溫度可為12(M6(TC,且該偏壓可在該溫度被維持時或自層 壓溫度線性下降時被施加。製程時間可在“2〇分鐘之範圍 内0 在一些具體實施例中,«統可在該層壓循環之完成 之後’提供該封裝之層壓與該半導體之_調節。該調節過 程可維持該層壓工具之循環時間,且該模組在該過程令自 層壓工具200離開後可保持穩定。不需要第二個熱源。 &施加-電氣驗线光伏打元件可發生找層壓循環 之别、之後或軸間。施加—電氣偏壓至該光伏打元件的 時間長度可長於或短於該層壓循環之加熱的時間長度。施 加一電氣偏壓至該紐打模組可與騎壓循環之加熱具有 相同的時間長度。 如第6圖所顯示,_用於製造__光伏打模組之系統可包 括層壓機200、調節台300、電源4〇〇、與傳送裝置5〇〇。層 聖機200可包括一用以加熱一光伏打模組之力口熱器與一用 以層壓一光伏打模組之沖壓機,例如,藉由將一光伏打模 組中間層與-光伏打模組基板擠壓在—起。該被加熱的光 伏打模組可被放置於可提供電氣接觸與偏壓之調節台 300。藉由層壓機200之該層壓循環完成之後,模組可被維 持於調節台300内。層壓機200可於次一個光伏打模組1〇1上 開始該層壓循環。 12 201145552 在一光伏打模組之製造期間’電氣接觸墊可被施加至 光伏打模組101,以置放該模組為並聯或串聯。電源4〇〇可 被使用以妹定電流或怪定電壓模式下操作該等模組。一 典型處理窗可為一在該光伏打元件之短路電流之03_5倍 (例如,0.3-3倍)範圍内之電流,以及—短於該層壓循環之 施加的製程時間。在此期間’光伏打模組1〇1可被主動地加 熱、冷卻、或簡單地曝露至大氣以達到一理想的溫度分佈。 當一先刖的光伏打批次模組的模組越過調節台3〇〇時,該層 壓循環係完成該次一個光伏打批次模組,且該次一個模組 可進入緊鄰調節台300的傳送裝置5〇〇。 如上所述,藉由施加一電氣偏壓之該光伏打模組之調 節可發生於該光伏打模組被加熱之期間,或發生於該光伏 打模組已經被加熱之後。該調節可發生於該層壓製程期間 或該層壓製程之後。該光伏打模組可被層壓,包括加熱該 光伏打模組。在該光伏打模組已經被加熱且係於冷卻時, 該被加熱的光伏打模組可藉由施加一電氣偏壓而被調節。 與一未被調節的光伏打模組比較,該藉由該新方法與系統 被加工的光伏打模組,可具有一約5-20%的效率提昇,例如 一約在效率上之15%的改善。在—些具體實施例中,該製 造一光伏打元件之新方法可達到一成本與生產時間的降 低。 本發明之一些具體實施例係被描述。然而,其係應被 了解在不背離本發明之精神與範疇下,許多調整可被實 行。其係亦應被了解,該附加之圖式係不需符合比例,且 13 201145552 係呈現一本發明基本原理之許多較佳特徵的簡單代表。 I:圖式簡單說明3 第1圖係一光伏打模組之一示意圖。 第2圖係一光伏打模組之一示意圖。 第3圖係一光伏打模組之一示意圖。 第4圖係一用於製造一光伏打模組之一系統之一示意 圖。 第5圖係一用於製造一光伏打模組之一系統之一示意 圖。 第6圖係一用於製造一光伏打模組之一系統之一示意 圖。 210…頂部板 220…底部板 230···層壓腔室 300...調節台 400…電源 500···傳送裝置 【主要元件符號說明】 100···前基板 101···光伏打模組 110…層 120···金屬固定劑層 130···背基板 138···中間層 200…層壓機 14

Claims (1)

  1. 201145552 七、申請專利範園: 1·—種用於製造一光伏打模組之方法,其包含: 加熱一光伏打模組至一高於1〇〇aC之溫度;以及 施加一電氣偏壓至該被加熱的光伏打模組。 2.如申請專利第!項之方法,其_該加熱該光伏 打杈組之步驟係發生於一層壓製程時,該層壓製程更包含. 在加熱該光伏打模組之前,放置—光伏打模組中間層 與一光伏打模組基板接觸;以及 曰 將該中間層與該基板擠壓在一起。 3·如申請專利範圍第旧之方法,其中施 至該光伏打触係於加肋絲打馳之後料。壓 4.如申請專利範圍第i項之方法’其中施加 至该光伏打模組係於加熱該光伏打模组時發生。 /·如申請專利範圍第2項之方法,其中施 至邊光伏打模組係於該層壓製程時發生。 6丄如申請專利範圍第2項之方法其中施 至该光伏打模_於該層壓製程之後發生。電礼偏壓 二ST圍第1項之方法’其中施加電氣偏壓 時間。時間,其係較長於加熱該光伏打模組之持續 β"第1項之方法,其中施加電氣偏 時間有-持續日㈣,其練短於加熱該統打模組之持 9. 如申請專利_第丨項之方法 其中施加電氣偏壓 15 201145552 ^持續時^續時間’其實#上係㈣於加熱該光伏打模組 】〇·如申請專利範圍第】項之方法,其_施加該電氣偏 差係包括供給具有—上電塵極限之值定電流。 申輸細糊之方法,射施加該電氣偏 括供給具有—上電流巍之恆定電塵。 12.如申請專利範圍第】項之方法其中該電氣偏塵係 =生一為該光伏打元件之短路電流之G3_5倍範圍内之電 度 r二3人如申請專利範圍第1項之方法,其中加熱該光伏打 、匕3加熱该光伏打模組至一在_至2机範圍内之溫 14.如申請專利範圍第 .Λ 乐J負之方法,其中加熱該光伏 在120至18〇°C範圍内 之 打槟..·且包^加熱該光伏打模組至一 溫度。 15·如申請專利範圍第13 h & 項之方法,其中加熱該光伏 在120至16〇。(:範圍内 之 打模組包3加熱該光伏打模組至一 溫度。 纟巾專利&圍第2項之方法,其中該層壓製程係 具有一 1至60分鐘的持續時間。 =Μ請專利範圍第16項之方法,其中該層壓製程 係具有一 1至30分鐘的持續時間。 ^㈣請㈣_第16項之方法,其中該層壓製程 係具有-1至2G分鐘的持續時間。 16 201145552 19. 如申請專利範圍第16項之方法,其中該層壓製程 係具有一 5至20分鐘的持續時間。 20. 如申請專利範圍第1項之方法,其中該施加該電氣 偏壓之步驟係包含施加該電氣偏壓達1至60分鐘。 21. 如申請專利範圍第20項之方法,其中該施加該電 氣偏壓之步驟係包含施加該電氣偏壓達1至20分鐘。 22. 如申請專利範圍第20項之方法,其中該施加該電 氣偏壓之步驟係包含施加該電氣偏壓達5至20分鐘。 23. —種用於製造一光伏打模組之系統,其包含: 一調節台,其包括一被構型以加熱一光伏打模組至一 高於100°C之溫度的加熱器以及一被構型以施加一電氣偏 壓至該光伏打模組的電源。 24. 如申請專利範圍第23項之系統,更包含一被構型 以在一光伏打模組被加熱之後將一光伏打模組中間層與光 伏打模組基板擠壓在一起之層壓機。 25. 如申請專利範圍第24項之系統,更包含一傳送裝 置以自該層壓機傳送一光伏打模組。 26. 如申請專利範圍第24項之系統,其中該層壓機包 含: 該被構型以加熱一光伏打模組至一高於10 0 °C之溫度 的加熱器;與 一被構型以共同施力於一光伏打模組中間層與一光伏 打基板之沖壓機。 27. 如申請專利範圍第24項之系統,其中該電源係被 17 201145552 構型以於該加熱器加熱該光伏打模組之後施加該電氣偏壓 至一光伏打模組。 28. 如申請專利範圍第24項之系統,其中該電源係被 構型以於該加熱器加熱該光伏打模組時,同時施加該電氣 偏壓至一光伏打模組。 29. 如申請專利範圍第23項之系統,其中該電源係被 設定在一具有一上電壓極限之恒定電流。 30. 如申請專利範圍第23項之系統,其中該電源係被 設定在一具有一上電流極限之恆定電壓。 31. 如申請專利範圍第23項之系統,其中該電氣偏壓 係產生一為該光伏打元件之短路電流之0.3-5倍範圍内之電 流。 32. 如申請專利範圍第23項之系統,其中該加熱器係 被構型以加熱一光伏打模組至一於12 0至18 0 °C範圍内之溫 度。 33. 如申請專利範圍第24項之系統,其中該層壓機係 被構型以層壓一光伏打模組達I至20分鐘之間。 34. 如申請專利範圍第23項之系統,更包含一光伏打 模組,其包括一薄膜光伏打元件。 35. 如申請專利範圍第23項之系統,更包含一光伏打 模組,其包括一碲化編光伏打元件。 36. 如申請專利範圍第23項之系統,更包含一光伏打 模組,其包括一CIGS光伏打元件。 37. 如申請專利範圍第23項之系統,更包含一光伏打 18 201145552 模組,其包括一非晶矽光伏打元件。 38.如申請專利範圍第34項之系統,其中該中間層係 包含一熱塑性材料。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI492407B (zh) * 2012-05-24 2015-07-11 Sunshine Pv Corp 薄膜太陽能電池的退火裝置

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9202964B2 (en) 2010-03-01 2015-12-01 First Solar, Inc. System and method for photovoltaic device temperature control while conditioning a photovoltaic device
US8940556B2 (en) 2010-03-01 2015-01-27 First Solar, Inc Electrical bias methods and apparatus for photovoltaic device manufacture
DE102011056843A1 (de) * 2011-12-21 2013-06-27 Centrotherm Photovoltaics Ag Verfahren zur Stabilisierung eines Wirkungsgrades von Siliziumsolarzellen
EP2711990A1 (en) 2012-09-21 2014-03-26 Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) Solar module and its production process
US9276147B2 (en) 2012-12-13 2016-03-01 First Solar, Inc. Methods of fabricating a photovoltaic module, and related system
BR112015023519A2 (pt) * 2013-03-15 2017-08-22 First Solar Inc Sistema e método para controle de temperatura do dispositivo fotovoltaico condicionado enquanto um dispositivo fotovoltaico
CN108604614B (zh) * 2015-12-09 2021-07-13 第一阳光公司 光伏设备和制造方法
US11207731B2 (en) 2016-04-07 2021-12-28 First Solar, Inc. Devices and methods for making polycrystalline alloys
CN106313862A (zh) * 2016-09-28 2017-01-11 中山瑞科新能源有限公司 一种层压装置及层压方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3436275A (en) * 1965-03-03 1969-04-01 Thomas K Tsao Method of treating solar cells
US6077722A (en) * 1998-07-14 2000-06-20 Bp Solarex Producing thin film photovoltaic modules with high integrity interconnects and dual layer contacts
US6787012B2 (en) * 2001-09-20 2004-09-07 Helio Volt Corp Apparatus for the synthesis of layers, coatings or films
US7351480B2 (en) * 2002-06-11 2008-04-01 Southwest Research Institute Tubular structures with coated interior surfaces
US7521292B2 (en) * 2004-06-04 2009-04-21 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Stretchable form of single crystal silicon for high performance electronics on rubber substrates
KR100819861B1 (ko) * 2007-04-19 2008-04-08 다울이엔씨(주) 태양광 추적장치
US20090014057A1 (en) * 2007-07-13 2009-01-15 Miasole Photovoltaic modules with integrated devices
JP4539704B2 (ja) * 2007-09-28 2010-09-08 富士ゼロックス株式会社 画像形成装置
DE102008020815A1 (de) * 2008-03-14 2009-10-15 Ersol Solar Energy Ag Photovoltaisches Solarmodul
WO2009117083A2 (en) * 2008-03-17 2009-09-24 Nanopv Technologies, Inc. Photovoltaic device and method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI492407B (zh) * 2012-05-24 2015-07-11 Sunshine Pv Corp 薄膜太陽能電池的退火裝置

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