TW201140103A - Test device and test module - Google Patents

Description

201140103 37289pif 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種測試裝置及測試模組。 【先前技術】 對被測試元件（Device Under Test，DUT)進 的測試裝置包料侧試模組。多個測試模組中的各= 試模組包括多個測試部。多個測試部中的各 = DUT的-個端子連接，_耐進行賴。^與 又，平行地對多個DUT進行測試的測試裝置包 多個DUT中的各個丽相對應的多個站點控制器（― contmlleO。多個站點控制器中的各個站點控㈣對與相對 應的DUT連接的職部進行控制，從㈣ 執行測試。 Ui 而且’測試裝置是以測試模組為單位來分配多個站點 控制器中的各個站點控帝j器所控制的測試部。然而，於以 測試模組為單絲將賴部分配錢點控㈣的情形時， 有可能會產生不被任何站點控制器使用的測試部。 例如，當使用包括U個類比（anal〇g)測試部的測試 ，組來對包括8個類比輸入輸出端子的DUT進行測試 時，該測試模組不使用12個類比測試部中的4個 部。如此，對於先前的測試裝置Μ，有時無法 使用測試模組所具有的資源（res〇urce )。 【發明内容】 為了解決上述問題，於本發明的第丨形態中提供一種 201140103 j/2»ypif 測試裝置及該測試裝置中的測試模組，該測試裝置是對至 少一個被測試元件進行測試的測試裝置，包括：具有多個 測試部的測試模組，上述多個測試部與被測試元件之間傳 輸信號’對上述被測試元件進行測試；以及對上述多個測 試部進行控制的多個測試控制部，上述測試模組可對於上 述多個測試部中的各個測試部，獨立地設定上述多個測試

部中的各個測試部受到上述多個測試控制部中的哪一個測 試控制部的控制。 ^ 又，於本發明的第2形態中提供一種測試裝置，該測 試裝置是對至少一個被測試元件進行測試的測試裝置，包 括：對被測試元件的測試進行控制的測試控制部；與被測 試元件之間傳輸信號且進行測試的多個測試模組；以及將 上述測試控制部及上述多個測試模組之間予以連接的連接 部:上述測試控制部包括：執行用以對上述被測試元件的 測试進行控制的程式（pr〇gram )的控制處理哭 (匕職謙）；以及通信介面（interface)，根據上述控制^ 理益的控制來對上制試㈣部及上述連接部之間的通传 =處理，鼓於自上述多個賴模組中的-個測試模i f收應傳送至其他職歡的訊息（m籠ge)時，將上述 Λ息經由上述連接部而傳送至上述其他測試模組。 _再者’上述發明的概要並未列舉本發明的全部的必要 :發;:這些特徵群的次組合(-一-)亦可 為濃本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯 5 201140103 37289pif 易懂’下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說 明如下。 【實施方式】 以下’根據發明的實施形態來對本發明進行說明，但 以下的實施形態並不對申請專利範圍的發明進行限定，而 且’實施形態中所說明的特徵的全部組合對於發明的解決 方案而言不一定必需。 圖1 一併表示本實施形態的測試裝置100的功能構成 以及多個被測試元件（DUT) 10。測試裝置100對至少一 個被測試7G件10進行測試。亦即，測試裝置1〇〇可為對一 個被測試7G件10進行測試的測試裝置，亦可為平行地對多 個被測试元件1 〇進行測試的測試裝置。 測4裝置100包括系統（system)控制部11〇、一個或 ^個測試模組120、多個測試控制部13〇、以及連接部14〇。 系統控制部110與多個測試控制部13〇連接，對上述測試 ，置100的整體進行控制。作為一例，藉由通用或專用的 同速串列匯流排（senal bus)等來將系統控制部11〇與多 個測试控制部13 〇之間予以連接。 一個或多個測試模組120巾的各個測試模組例如為裝 :=]試碩（test head)内的基板。一個或多個測試模組 ”η Γ的各烟試池包括多伽靡卩21G。多個測試部 中的各個測試部連接於上述測試裝置1〇〇的測試對象 :全=被測試元件1G中的任—個被測試元件1〇的端 子。接者’多個職部21()中的各個測試部與所連接的被 201140103 3/28ypif 測試兀件10之間傳輸信號，對該被測試元件1〇進行測試。 ο Ο 多個測試控制部130中的各個測試控制部是與上述測 試裝置10 0的測試對象即至少一個被測試元件丨〇中的任一 個或多個被測試元件10相對應。多個測試控制部13〇中的 各個測試控制部根據系統控制部110所給予的控制命令及 測試程式等’對連接於相對應的被測試元件10的一個或多 個測試部210進行控制，從而對相對應的被測試元件1〇 的測試進行控制。亦即，多侧試控制部13()中的各個測 試控制部將—個或多個測試部21()用作資源，對相對應的 破測試元件10的測試進行控•連接部⑽將測試控制部 130及一個或多個測試模組12〇之間予以連接。 此處，一個或多個測試模組12〇中的各個測試模組可 =於多個職部210巾的各烟試部，獨立地蚊該測試 美、、且120戶斤具有的多個測試部中的各個測試部受到多 個測試控制部13〇巾的哪一個測試控制部13〇的控制。藉 b例如，一個或多個測試模組12〇中的各個測試模組可 以=下=式來進行設定，即，使多個測試部21〇十的一部 2到第1測試控制部13〇的控制，且使多侧試部21〇 、八他部分受到第2測試控制部13〇的控制。 域’峨裝i⑽可分翻立且任意地設賴一個 =Γκ核組1加戶斤具有的多個測試部21 〇進行控制的測試控 1i:/30。藉此’根據測試裝置1〇0 ’可效率良好地使用测 忒模組120内的資源來進行測試。 圖2表示多個測試控制部⑽中的-個測試控制部 7 201140103 37289pif 130的構成. 组—個或多個測試模組12〇中的一個測試模 。測試模組12〇包括多個測試部210、設定 5己隐βΡ 220、以及介面部230。 元件7的G+的各则試部連接於任—個被測試 測。多個測試部21〇中的各個測試部包括執行 器或定序器(―等。而且，多個 門科盎#4·的各個測試部與所連接的被測試元件10之 二予的測試程式相對應 % 又從而對上述被測試元件10進行測試。 22G記憶著使多個職部2财的各侧 :上ί:測試控制部130中的哪一個測試控制部130相 2;/又疋。於本例中，言史定記憶部220針對多個測試部 試松中Γ各個測試部而記憶著識別號，該識職對多個測 fi Ρ 130中的與測试部21〇相對應的測試控制部 /亍識另j亦即，3又疋s己憶部220針對多個測試部21〇中 =各個測試部而記憶著對連接於該測試部則的被測試元 A 10的測試進行控制的測試控制部130的識別號。此種設 弋於測试之前，例如先藉由系統控制部11()來寫入。 么_ )丨面4 230連接於多個測試部210。而且，介面部230 、、'<由連接部140而與多個測試控制部丨之間收發各種存 取請求、中斷請求及訊息等。 处例如，介面部23〇經由連接部M0而接收自多個測試 ^制部130中的一個測試控制部13〇朝上述測試模組12〇 發送的存取請求及訊息。接著，介面部23〇基於記憶於設 201140103 37289pif 定記憶部220的設定’來將已接收的自一個測試控制部 朝上述測試模組120發送的存取請求及訊息，給予多 試部210中的與一個測試控制部130相對應的—個測試^ 210。 。丨 又，例如，介面部230將自多個測試部21〇中的— 測試部210給予一個測試控制部130的與存取請求相對= 的存取結果及中斷請求，經由連接部14〇而發送至多個、‘、I、 〇 試控制部13〇中的各個測試控制部。又，例如，介面部

將自多個測試部210中的一個測試部210給予其他測試才^ 組120所具有的測試部21〇的訊息，經由連接部14〇 ^笋 送至多個測試控制部130中的各個測試控制部。 X 測試控制部130包括控制處理器240、與通信介面 250。控制處理器240執行用以對被測試元件1〇的測試 行控制的程式。 、° 通k介面250根據控制處理器240的控制來對測試控 制部丨30及連接部140之間的通信進行處理。例如，通信 介面250將朝一個測試模組12〇所含的一個測試部21〇發 送的存取請求，經由連接部140而發送至一個測試模^ 120又，例如，通彳5介面250接收自一個測試模組12〇 所含的一個測試部210朝上述測試控制部13〇發送的存取 結果及訊息。 又，例如，通信介面250自一個測試模組12〇接收應 自多個測s式模組120中的一個測試模組12〇朝其他測試模 組120傳送的訊息。通信介面25〇於接收如上所述的訊息 201140103 37289pif 的M形時’經由連接部140而將該訊息傳送至其他測試模 組 120。 ' _圖3表示自一個測試控制部13〇朝連接於與該一個測 式控制。p 130相對應的被測試元件的測試部發送上 述存取請求時’上述存取請求的流㈣—例。—個測試控 制^ m於對連接於與該—個測試控制部丨叫目對應的被 二個測試部210進行控制時’朝該-個測試 口Ρ 210發达該存取請求。 '过凊开^日守，—個測试控制部130將對該一個測試 控制部130進行識別的識別號附加於 部Μ0而將該存取請求發送接 ==:=;有的介面部230接收來自-個測試 一個測試餘m所具有的介面部2 二收的存取請求的識別號相= 將已接收的存取請求給予已讀出的各 =介面部細給予了存取請求的各一個測試部⑽ 、—予的存取請求是否為發送給自己的請求 # 所給予的存取請求為發送給自己的請求 ，耆，右 210執行與該存取請求相對應的處理。藉此測試部 制部m中的各侧試控制部可對連接於* ，试控 13〇相對應的被測試树1Q的職部別進行^制控制部 10 201140103 37289pif 圖4表示從已自一個測試控制部13〇接收了存取請求 的一個測試部210朝一個測試控制部13〇發送存取^果 Ν'，δ亥存取結果的流程的一例。自一個測試控制部接 收了存取請求的一個測試部210執行與該存取請求相對應 的處理。接著，該一個測試部210將與執行的處理相對 的存取結果發送至一個測試控制部130。 於該情形時，一個測試部210將與所給予的存取請求 Ο 相對應的存取結果給予介面部230。該介面部23〇自設定 記憶部220讀出對與-個測試部21〇相對應的測試控^部 130進行識別的識別號。介面部23〇將對一個測試控制部 130進行識別的識別號附加於與存取請求相對應的一個測 試部210的存取結果。接著，介面部23〇將附加有識別號 的存取結果經由連接部140而發送至多個測試控制部13〇 中的各個測試控制部。 多個測試控制部Π〇中的各個測試控制部經由連接部 140而接收存取結果。多個測試控制部13〇中的各個測 控制部判斷附加於已接收的存取結果的識別號是否與該測 試控制部13〇的識別號一致。多個測試控制部13〇中的各 個測減控制部於附加於已接收的存取結果的識別號是與該 測試控制部130的識別號不一致時，將已接收的存取Ϊ果 予以撤銷。 卞％'口禾 、又，多個測試控制部130中的各個測試控制部於附加 於收的存取結果的識別號是與該測試控制部130的識 別號一致時，根據已接收的存取結果來對測試模組12〇進 11 201140103 37289pif °藉此，朝一個測試部210發送了存取請求的一個 J ώ Γ制°Ρ130 ▼自一個測試部210接收該存取結果，執 仃/、所接收的存取結果相對應的下一處理。 圖5表示自一個測試部21〇朝與連接於該一個測試部 被测s式元件10相對應的一個測試控制部130發送中 ^求時’中斷請求的流程的，。一個測試部21〇可朝 ί Γ该—個測試部21G的被測試元件1 g相對應的一個 部Z上述情形時’一個測試部210將中斷請求給予介面 i邱介面部230自設定記憶部220讀出對與一個測 π目對應的測試控制部130進行識別的識別號。介 於:一^將，—個測試控制# 13G進行識別的識別號附加 K部2K)朝―個測試控制部⑽發送的中斷請 i邱tr介面部230將附加有識別號的中斷請求經由連 部。耐送至多個測試控制部130中的各個測試控制 ΜΠ ίΓ測試控制部m中的各個測試控制部經由連接部 請求。多個測試控制部130中的各個測試 試收π請求的識別號是否與該測 )為别號一致。多個測試控制部130中的各 部於附加於已接收的中斷請求的識別號與該測 識別號不—致時，將已接收的中斷請求予 又’多個測試控制部13〇中的各個測試控制部於附加 12 201140103 37289pif 於已接收的中斷請求的識別號與該測試控制部 號一致時，對已接收的中斷請求進行處理。藉此，多 試控制部130中的各個測試控制部可對來自相 ，二 部210的中斷請求進行處理。 ❹

圖6表示由多個測試模組120中的一個測試模组12〇 所具有的測試部210朝其他測試模組12〇的測試部發 送Λ息時，訊息的流程的一例。多個測試模組Do中的一 個測試模組120所具有的一個測試部21〇可根據處理的結 果，來朝其他測試模組120内的測試部210發送％拿。 於上述情形時’一個測試模組120内的—個測試^ 21〇 將訊息給予一個測試模組120内的介面部23〇。該介面部 230自設定記憶部220讀出對與一個測試部21〇相對應的 測試控制部130進行識別的識別號。介面部23〇將對一個 測試控制部130進行識別的識別號附加於自一個測試部 210朝一個測試控制部130發送的訊息。接著，介面部23〇 將附加有識別號的訊息經由連接部14〇而發送至多個測試 控制部130中的各個測試控制部。 如此，設置於多個測試模組12〇的一個測試模組12〇 内的一個測試部210經由介面部23〇及連接部14〇，將相

對於其他測試模組120所具有的其他測試部21〇的訊息發 送至一個測試控制部13〇。 X 多個測试控制部130中的各個測試控制部經由連接部 mo而接收訊息。多個測試控制部130中的各個測試控制 部判斷附加於已接收的訊息的識別號是否與該測試控制部 13 201140103 37289pif 130的識別號一致。多個測試控制部13〇中的各個測試控 制部於附加於已接收的訊息的識別號是與該測試控制部 130的識別號不一致時，將已接收的訊息予以撤銷。 又，多個測試控制部130中的各個測試控制部於附加 於已接收的訊息的識別號是與該測試控制部13〇的識別號 一致時，經由連接部14 0而將訊息發送至其他測試模組12 〇 内的其他測試部210。 被傳送了訊息的其他測試模組120所具有的介面部 230接收來自一個測試控制部13〇的訊息。其他測試模組 120所具有的介面部230自設定記憶部220讀出與附加於 已接收的訊息的識別號相對應的各測試部210。接著，一 個測試模組120所具有的介面部230將已接收的訊息給予 已讀出的各測試部210。 由介面部230給予了訊息的各測試部210判斷所給予 的訊息疋否為發送給自己的請求。接著，若所給予的訊息 為發送給自己的請求，則各測試部210執行與該訊息相對 應的處理。藉此，一個測試模組120内的一個測試部21〇 可朝其他測試模組120内的測試部210發送訊息。 圖7表示由多個測試模組120中的一個測試模組12〇 所具有的測試部210朝多個其他測試模組120的測試部 21 〇廣播（broadcast)訊息時，訊息的流程的一例。多個 測試模組12〇中的一個測試模組12〇所具有的一個測試部 210亦可將訊息廣播至多個其他測試模組120内的測試部 210。 14 201140103 ^ /zoypif 於上述情形時’直至多個測試控制部130中的各個測 試控制部自一個測試模組12〇接收訊息為止，與圖6的處 理相同。附加於已接收的訊息的識別號與該測試控制部 130的識別號不一致的測試控制部130將已接收的訊息予 以撤銷。

附加於已接收的訊息的識別號與該測試控制部13〇的 識別號一致的一個測試控制部130 ’於自一個測試模組120 接收應廣播至多個測試模組120的訊息時，經由連接部14〇 而將該訊息傳送至多個測試模組120。亦即，一個測試控 制部130將已接收的訊息廣播至多個測試模組12〇。 而且，被傳送了訊息的多個其他測試模組12〇中的各 個其他測試模組所具有的介面部23 0接收自一個測試_制 部130廣播的訊息。多個其他測試模組12〇中的各個其他 測試模組所具有的介面部230自設定記憶部22〇，讀/出與 附加於已接收的訊息的識別號相對應的各測試部21〇。^ 著，多個其他測試模組120中的各個其他測試模組所具有 的介面部230將已接收的訊息給予已讀出的各測試部21〇。 由介面部230給予了存取請求的各測試部21〇判斷 給予的存取請求是否為發送給自己的請求。接著，若所給 予的存取請求為發送給自己的請求，則各測試部21〇 = 與該存取請求相對應的處理。藉此，—個測試模繞12〇戶= =有的-個測試部2H)可將訊息廣播至多個其他測試 120内的測試部210。 、、' 圖8表示本實施形態的變形例的测試模組的構 15 201140103 37289pif 成。本變形例的測試模組120採用與圖2所示的測試模組 120大致相同的構成及功能，因此，對構成及功能是與圖2 所示的構件大致相同的構件標記相同的符號，以下，除了 不同點之外，省略說明。 ” 本變形例的測試模組120更包括共用資源31〇、盥獨 佔控制部320。共用資源3H)是為了對被測試元件1〇進行 測試而使用的資源（例如電路、定序器等），該丘用資原 310由多個測試部21〇中的至少兩個測試部210^丘用 獨佔控制部320對共用資源310的獨佔使用權進·制。 亦即’獨佔控制部320根據來自多個測試控制部13〇 控綱賴佔使㈣請求，餘—_試控制部 130獨佔使用該共用資源31〇。 於如上所述的變形例中，—個峨控制部⑽經 面部230而朝獨佔控制部32〇發送獨佔請求。接 ^試控制部13〇以已雜齡使„為條件 ㈣料接於-個測試控制部130戶斤控制的 部協動地對連接於一個測試部貝二二：τ〇 ，仃測試。藉此’多個測試控制部130中的各 邛可分時地共同使用一個共用資源310。 控制 此外’獨佔控制部320亦可對多個測試 個測試部的獨佔使用權進行控制。 G中的各 根據來自多個測試控制部13〇中的 :口 使用的請求’使多個測試部21。中的各個以 16 201140103 3/2»ypif 任一個測試控制部130。 於上述情形時，一個測試控制部130經由介面部230 而朝獨佔控制部320發送與多個測試部210中的各個測試 部相關的獨伯請求。接著，-個測試控制部13〇以已確保 獨佔使用權為條件，將多侧試部21〇中的各個測試部連 接於與该—個測試控制部130相對應的被測試元件1〇。 Ο ο 一然後，、連接於與一個測試控制部13〇相對應的被測試 兀件1〇的測試部210根據一個測試控制部130的控制，對 被測試元件10進行測試。藉此，多個測試控制部130中的 可分時地共同使用測試模組12。内的多個 八用貝源31〇中的各個共用資源。 者，實施形態的測試部210的構成的-例。再 成。_亚不限於如上所述的構成，亦可為其他構 盘接=3 :試部21G包括發送側區塊（祕）U、 〆、接收側Q塊14〇測試部21〇亦 或接收側區塊14中的一個區塊的^成，括議區塊12 發送侧區塊丨2按照封包列 順序來將封包發送至被測試元件1〇P^Y1St)所指定的 測試元件10接收封包，對封 接收側區塊14自被 的封包進行比較，從而對被表:斤指定的封包與已接收 首先，對發送側區塊12 1〇的好壞進行判定。 括封包列表記憶部2 〇、封包=兒明。發送側區塊12包 憶部24、封包資料列記憶部26 =部”命令列記 位定序器28、資料處 201140103 37289pif 理部32、資料轉換部34、以及 部20記憶著所供給的多個封包列表 6。封包列表記憶 20 ^ 被測試元件_的各：^ 22根據自外部接收的位址㈤職)來執行二 =理部 俊序指定發送至被測試元件1〇的封包。、匕 且 的封^ mm理部22對記憶著用以產生指定 定。而且，作為-例記 =24上的位址進行指 件-間進行通信4==== 該封包所会的咨极X, 彳^貝了卞^<隐邛26内的 (咖add卿止（例如資料列的勒始位址 命令=位1 包^個別地指定肋產生封包的 該情形時，當在g歹的Γ料列的位址。再者，於 令列或資料顺指^中，2個以上的封包所共用的命 2個以上的私勺封包列表處理部22亦可針對上述 列的位址:、⑽指定同—個命令列的位址或同™個資料 ，包巧令列錢部24按照封包的種類而 二各個封包的命令列。作為-例： 生讀取=特以產生寫人封包的命令列、用以產 封包資“ 產生閒置封包的命令列等。 、 匕邻26按照封包的種類而記憶著多種 18 201140103 i/28ypif 封U的各個封包所含的資料列。作為一例，封包資料列 。己隐426可包含寫入封包所含的資料列、讀取封包所含的 資2列、及閒置封包所含的資料列等。又，作為一例，封 包f料列記憶部26亦可對針對每個封包而發生變更的個 記封包所共用的共用資料加以區別而記憶於 Ο Ο U 送側的封包資料列記憶部26自接收側區塊 轉換部34，將接收侧區塊14内的接收部82 的的接收資料予以接收。接著，發送側 Ϊ 對接收侧區塊14内的接收部82 之已接收的封包所含的接收資料進行記憶。 严理=2^28自封包命令列記憶部24讀取封包列表 2部°22來指工f，命令列、即，位址由封包列表處 含的各命令。然後P的命令列所 包資料列記憶部26依序將:包列Γ處:^二， ==、即，位址由封包= 又下位疋序器28每當執行命 ± 資料及指示實施針對共用資料而夺=項出的個別 轉換）的控制資料給予#料處异或資料 藉此，下位定序器28可將 及貝枓轉換部34。 包中的指定的資料部分，設為實施 里^所指定的封 貫麵針對已碩出的資料而指 19 201140103 37289pif 定的處理的資料。 一 #又二封包列表處理部22所指定的封包的命令列的勃-元成之後，下位定序器28 的執仃 表處理部22。藉此，的^^紅束通知給予封包列 精此封包列表處理部22可根攄下你〜产 ^ 28之對命令觸執行的進展來依序指定封包。 跡送側區塊12所具有的發送側的下位定序号28 =發送部36，缺魏域職 序^ =—)。作為-例，下位定序器2=Ϊ 號給予發送部36，針對每贿包來 ，序仏 又’發送_下蚊抑 的接收侧的下蚊序！i 28進行狀。㈣ϋ所具有 序'28可與接收側的下位定序器28進行交握 ^令=斜從而與接收_下位定序器28 _也執行 ^為例，發送止侧的下位定序器28通知接收侧的下位 二序=28㈣預先指定㈣包的職資 =0。藉：’發送側的下位定序器⑶可 】 #止對⑽㈣f料_好壞進行判定，直 至接收來自發送侧的下位定序器28的通知為止。 又’作為一例，發送侧的下位定序器2 8自接收侧的 位定序器28接收如下的通知，該通知麵已接收了盘產生 =試資料列-致的資料列，然後產生預先指定白㈣包的 測^料列。藉此，發送側的下位定序器Μ可於自被測試 兀件10錄規定的封包之後，將·指定的封包發送至被 20 201140103 3/2«ypif 測試元件10。 =料處理部32自封包資料列記憶部26讀出封包列表 處理4 22所指定的封包的資㈣，職產生鎌被測試元 件1〇的測試的測試資料列。於該情形日寺，發送側的資料處 ^部32可在與發送至被測試元件1G的封包相對應的測試 -貝料列中’包括與接收側區塊14内的接收部82之已接收 的封包所含的接收資料相對應的值。 ο

例如，發送側的資料處理部32自發送侧的封包資料列 =部2Μ«好以讀出’然後產生如下的測試資料列， 该測试貧料列是以發送至彬戦元件1()的封包的資料列 旨定的部分作為與接收#料相對應的值（例如接 3 =值或對接收資料實施某些處理所得的值）。如上所 _處理部32可使與自被職元件ι〇魏 =化所3的接收㈣相對應的值包含於封包且發送該 $賴料錢由下岭相叫 自，處理部32輸出_試資料列進行資料轉換。作為一 例，資料轉換料根據針對測試資料列而預先設定^格 (table)等來進行8b-l〇b轉換箄。& 轉換部34亦、可對測試資料列進行’作為一例’貧料 接著，料轉換部料經轉- = 至被:==貢料轉換部34產生的測試資料列發送 接著，對接收側區塊14進行說明。接收側區塊14具 21 201140103 37289pif 有與發送側區塊12大致相同的構成及功能，因此，關於該 接收侧區塊14，對與發送侧區塊12的不同點進行說明。 接收側區塊14包括封包列表記憶部20、封包列表處 理部22、封包命令列記憶部24、封包資料列記憶部26、 下位定序器28、資料處理部32、資料轉換部％、接收部 82 '以及判定部84。接收部82自被測試元件 的資料列。 玎匕 接收側的資料轉換部34按照由接收側的下位定序器 =指定的時序，對接收部82之已接收的資料列進行資料 ，換。作為一例’接收側的資料轉換部34根據針對已接收 的倉料列而預先設定的表格等來進行8b_1%轉換等。而 為接收側的資料轉換部34亦可對已接收的資 枓列進仃解拌碼（descrambling)處理。 至判Ϊΐ’ί收侧的資料轉換部34將經轉換的資料列供給 的資料列供认又’接收側的資料轉換部34亦可將經轉換 的封包資料;至側的封包資料列記憶部26或發送侧 、/ “己憶部26中的至少一個封包資料列圮憶 包列表收：ί定包==2-:行由外部所指定： =_料處理部 的封==序，器28將預期自被測試元件1。輸出 封包，賴射4列自接收側的 ]。仏部26輸出。又，接收側的下蚊序器28 22 201140103 ό /z^ypif 對於接收部82而指定用來取得自被測試元件10輸出的信 號的資料值的選通時序（strobe timing )。 Ο ❹ 判定部84自接收側的資料處理部32接收測試資料 列’並且接收自接收侧的資料轉換部34接收的資料列。判 =部84基於對已接收的資料列與測試資料列進行比較所 =的果’來對與被測試元件10之間的通信的好壞進行判 定。2為一例，判定部84包括對接收部82之已接收的資 疋否與測試資料列一致進行比較的邏輯比較部、與記 憶，比較結果的失效記憶體（fail memory )。又，作為一例， 判定部84亦可通知接收侧的下位定序器28 :由接收部 接收的資料列是與指定的資料列一致。 w又接收侧的下位定序器、28與發送側白勺下位定序器 、仃通信。藉此，接收側的下位定序器28可盥發 定序位 資料列一蔹的咨社幻# j疋斤态28產生的測試 接二猎此’發送側的下位定序器28可自 接收侧的下位定序器28接收如下的通知 =與產生的測試資料列一致的資料列，接Π 疋的封包的測試資料列。 生預先才日 又’作為一例’接收侧的下位定序哭 來對接收部82已接收的資料列的二 至自細㈣咖峨㈣ 23 201140103 37289pif 表不已將預先指定的封包的測試資料列發送至被測試元件 10藉此、’接收側的下位定序器28可於將規定的封包發送 至被測試7〇件1G之後，狀與魏定的封包㈣應的塑應 是否已自被測試元件10輸出。 θ 接收侧的封包資料列記憶部26自接收侧區塊14侧的 ΐ料轉換部34 ’將接收部82之已接收的封包所含的接收 貝料予以接收。接著，接收側的封包資料列記憶冑2 6對接 收部82之已接收的封包所含的接收資料進行記憶。 此外，接收側的資料處理部32使與接收部82之已接 ^的^ tit物t細目職祕，包含於職自被測 心件10輸出的封包所含的測試資料列。例如，接收側的 貝料處理部32自接收_封包㈣列記憶部26將資料予 1出，’然後產生如下的測試資料列，該測試資料列是以

Si二:件1〇接收的封包的資料列中的預先指定 料相對應的值（例如接收資料的值或 貫施某些處理所得的值）。 ^ ㈣m射憤理部32可在絲自制試元件 82 、# 1封⑽含❾接收魏械應的值。藉 2，根據接收側的資料處理部32，_ =接收的封包所含的標識(Ide— 應包3於接下來的封包的ID是否正確。 如上所述’根據本實施形態的職裝置⑽，可於比 乂罪近被_讀1G的位置進行如下的處理，該處理使與 24 Ο ο 201140103 JV2^plf 已接收的封包所含的接收資料相對 封包内。藉此，根據測試裝置10Q r於接下來的 試元件10之間的資訊交換 0可兩速地響應與被測 運算ί理，，置⑽較佳為包括藉由動作頻率比較高的 運异處理早70 (umt)等來實現的資料處理部32。蕤二 測試裝置100可高速地進行如下的處理，該= =封包所含的資料來產生包含於接下來的封 以上，使用實施形態來對本發明進行 定於上述實施形態所揭;的範C 3 解可對上述實施形態添加多種變更或 的形態顯然亦可包含於本發明的技術範圍。了文更或改良 對=請專利範圍、說明書、以及圖式中所示的裝置、 ϋΓ以及方法中的動作、順序、步驟、以及階段 3各;理的執行順序而言，並不特別地明示為「先於」、 夕«而且，應當留意只要並非於之後的處理中使用 4利則能夠以任意的順序來實現。關於ΐ 圍、說明書、以及圖式中的動作 童嗅菩乂須> 先」接者，」4來進行說明，亦並不 思未者必須袄照該順序來實施。 限定發佳實!議露如上’然其並非用以 和範圍内，告^热習此技勢者，在不脫離本發明之精神 田可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保講 25 201140103 37289pif 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 圖1 —併表示本實施形態的測試裝置1〇〇的功能構成 以及多個被測試元件10。 圖2表示多個測試控制部130中的一個測試控制部 130的構成、及一個或多個測試模組12〇中的一個測試模 組120的構成。 圖3表示自一個測试控制部130朝連接於與該一個測 試控制部130相對應的被測試元件10的測試部210發送存 取請求時，該存取請求的流程的一例。 圖4表示從已自一個測試控制部130接收了存取請求 的一個測試部210朝一個測試控制部130發送存取結果 時，該存取、结果的流程的一例。 圖5表示自一個測試部210朝與連接於該一個測試部 210的被測試元件10相對應的一個測試控制部130發送中 斷請求時，中斷請求的流程的一例。 圖6表示由多個測试模組120中的一個測試模組1 所具有的測試部210朝其他測試模組120的測試部21〇發 送訊息時，訊息的流程的一例。 圖7表示由多個測試模組丨2〇中的一個測試模組ι2〇 所具有的測試部210朝多個其他測試模組120的測試邹 210廣播訊息時，訊息的流程的一例。 圖8表示本實施形態的變形例的測試模組120的構成。 圖9表示本實施形態的測試部210的構成的一例。 26 201140103 ό/ZQypif 【主要元件符號說明】 10 :被測試元件 12 :發送側區塊 14 :接收側區塊 20 :封包列表記憶部 22 :封包列表處理部 24 :封包命令列記憶部 q 26 :封包資料列記憶部 28 :下位定序器 32 :資料處理部 34 :資料轉換部 36 :發送部 82 :接收部 84 :判定部 100 :測試裝置 110 :系統控制部 〇 120:測試模組 130 :測試控制部 140 :連接部 210 :測試部 220 :設定記憶部 230 :介面部 240:控制處理器 250 :通信介面 27 201140103 37289pif 310 :共用資源 320 :獨佔控制部

Claims (1)

1. 201140103 J /ZQ^pif 七、申請專利範圍： 1.種測试裝置，對至少一個被測試元件進行測試， 該測試裝置包括： …具有多個測試部的測試模組’上述多個測試部與被測 试7L件之間傳輸信號，對上述被測試元件進行測試；以及 對上述多個測試部進行控制的多個測試控制部，

   上述測試模組可對於上述多個測試部中的各個測試 獨立地設定上述多侧試部中的各細彳試部受到上述 夕個測試控制部中的哪一個測試控制部的控制。 2·如申請專利範圍第1項所述之測試i置，立中 上述測試模組包括： ~ 上述多個測試部； —設定記憶部，記歸使上料侧試部巾的各個測試 1二上述多伽m控卿巾的哪—铜試控制部相對應的 設定 以及 O 介面部，連接於上述多個測試部，且將自上述多個測 2制部中的-個賴控制部朝上賴試模組發送的存取 ^ 、、ό予/、上述夕個測試部中的上述一個測試控制部相 對應的一個測試部。 1々日 3·如申請專利範圍第2項所述之測試裝置，其中 部，定記憶部針對上述多侧試部巾的各個測試 ’兄憶著對上料個職控制部巾的相對應的測 ^進行識別的識別號， J 上述-個測試控制部將對上述一個測試控制部進行識 29 201140103 37289pif 別的識別號附加於上述存取請求且予以發送， 上述介面部自上述設定記憶部讀出與附加於已接收的 上述存取請求的識別號相對應的上述一個測試部，且將上 述存取請求給予上述一個測試部。 4·如申請專利範圍第2項所述之測試裝置，其中 、上述，Φ部將上述—侧試控制部的朗號附加於與 上，存取請求相對應的上述__伽m部的存取結果且予= 發送’ 上述多個測試控制部中的各個測試控制部接收上 =測試部的上述存取結果’於附加於已接收的上述存取姓 果的硪職是與上述職控制部的識職不-致時，將上 趨鎖，於附加於已接收的上述存取結果的 ί it;; 試控制部的識別號—致時，根據上述存 取、、，σ果來對上述測試模組進行控制。 5’如申凊專利範圍第2項所述之測試裝置，其中 F附加^13將，上述—個測試控制部進行識別的識別 中斷請求iit;;測試部朝上述-個測試控制部發送的 個測個測試控制部接收上述- 求的識別號是盘付加於已接收的上述中斷請 述中斷請求扣檄銷，的識別财;;致f，將上 識別號是與上述__制4 i :已接收的上34中斷請求的 請求進行處理。 j相識別號—致時，對上述中斷 30 201140103 ^>/Z6ypxf 〇·如曱請專利範圍 上述測試模組更包括對上述多其中 部的獨佔使用權進行控制的卿控中的各個測試 制部控制部經由上述介面部而朝上述獨佔控 未’以已確保獨佔使用權為條件來使用上 Ο 〇 7·如申請專利範圍第2項所述之測 上述測試模組包括： ^ T 源；=多個測試部中的至少兩個測試部所共用的共用資 部，對上述共用資源的齡使用權進行控制的獨佔控制 制部ίΪ獨ST控制，上述介面部而朝上述獨佔控 ^身源連接於上述—個測試控制部所控制的上述一個測 二=:=共_與上述-個測 8.如申請專利範圍第2項所述之測試裝置，更包括. 多個上述測試模組；以及 的連^述測試控制部及上述多個測試模組之間予以連接 上述多個測試模組的一個上述測試模組所具有的上 固測試部經由上述介面部及上料接部，將相對於其他 31 201140103 37289pif =:組所具有的其他測試部的訊息發送至上述一個 送至控制部經由上述連接部而將上述訊息發 送上U測试模組内的上述其他測試 9. 一種測試模組，其是如申 σ — 項中任一項所述之測試裝置中的測試模Γ弟1項至第8 試，输元件進行測 =測試元件的測試進行控制的測試控制部； 組元件之間傳輸信號且進行測試的多個測試模 的連^述測試控制部及上述多個測試模纽之間予以連接 上述測試控制部包括： 控制述被測試元件的測試進行控制的程式的 控連處:器的控制來對上述測試 將上述—部峨= 汗如申請專利範㈣10項所述之測試裝置，其 、f ^述杨介面於自以—烟賴組純麟播至上 述夕個測試模組的訊息時，將上述訊息經由上述連接部而 32 201140103 -J /^o^pif 傳送至上述多個測試模組。

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