TW201042242A - Apparatus and method for measuring total luminous flux - Google Patents

Description

201042242 • OBJ〜對象物。 特徵的化學式·· 五、^案若有化學式時，請揭示最能顯示發明 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 Ο 〇 本發㈣關於詩測定從對象物放㈣ 束測定裝置及全光束測定方法， β 之王光 兀具疋關於適用於、、日，丨h 狀發光體發出的全光束之構成。 、疋棒 【先前技術】 一直以來’全光束（1 m :流明）姑祐田从# /现月j被使用作為評估用於昭 明器具等的光源的性能指 、、 " θ你匕知有使用積分球的球形 光束計作為以更高精密度敎上述全光束的裝置。該球形 光束計中，在積分球内配置了點亮的光源，用塗布於積‘ 求内的擴散反射材料（例如，硫酸鋇或PTFe Cp〇iytetrafiuoroethylene))來重複反射來自該光源的光 束。藉由此反覆的反射，使積分球内壁面的照度均一。基 於該積分球内壁面的照度和光源的全光束成比例的事實， 而測定積分球内壁面的照度，並將該測定值和由事先取得 之標準光源測定得到的照度比較，來算出來自測定對象的 光源的全光束。 此種球形光束計的相關習知技術為，在特開平 3 201042242 w號公報中’揭露了具傷 裝置的全光束測定裝置。兮入弁…年積刀球的冷卻 这全先束測定裝置 、 定電力點亮測定的燈時使積分球冷卻到 難’以 執行穩定且精度佳的測定。 ，皿度’错此， 另外，特開平06~1 67388號公報 # Ψ I+- ^ 揭露了光束計， /、使用半球狀的内壁上塗布 了九擴放材料的積分半玻， 及通過該積分半球的内邻车 、 ’ 人 K球的曲率中心，覆蓋該積分半 “ K十岐構成丰球型的積分王求。 ， 藉由使用如上述之破來伞由 丄政 料先束计，也能夠針對如直管馨 狀的光源測定全光束。但是，在此情況下，必項 球的内側直徑為光源長度的1.2倍以上。此俘由 於：光源的發光部，越接折#八+ 係由 射M u 接近積分球壁面，則由於壁面之反 生誤差。 身^成影子’因此而使得測定值產 例如，欲測定學校或M a 一 π 吉其恶丄 至寺通常使用的權（瓦）的 直e螢光燈的全光束時， 長度約為" 因為该直官螢光燈的長邊方向的 κ反、、、]马1. 2 m，所以堂亚士〜， L 而要有内側直徑為1.5,以上的積分 衣而且，車站箄i甬堂祐田 、 使用的n〇W的直管螢 方向的長Mat 2ϋ7^ 巧先燈，其長邊 去 ^ 為了測疋此種直管螢光燈的全光 束’就必須要有内側直 罝仫達3m以上的大型積分球。 因此’若要評估螢光燈之棒狀光源 有相對較大型的積分球，為制Α 米h員要 及赤 在或搬運等方面要耗費人力 間。 傩保為了设置它所需要的足夠空 201042242 【發明内容】 本發明係為解決上述問韻，坌曰从^ 細 碭其目的為，提供能夠#由 更簡潔的構成而更正確地測定全光 = 全光束測定方法。 束“裝置及 依據本發明之一例之全朵 敎裝置，其包括：本體， ，、構成為可裝設棒狀發光體夕斜务 Ο

G 上诚…“物；積分部，其具有讓 上述對象物之長邊方向貫穿 雄如 的弟1及第2孔；相對移動機 構’在該對象物貫穿該積分 谓刀口p的狀態下，使該對象物 積分部相對移動；測定部， μ 該第1及第2孔的位置之觀、、則L 稹刀々的 <規測齒，測定該積分部内的昭产. 處理部，在使該對參私ι 4 # …及’ —使〆對象物和该積分部相對移動，以使得 象物貫際的所有發光面露出 ° 出於該積刀部的内部空間的情況 下，依據由該測定部測得 J侍的度，异出該對象物放出的全 光束。 以此為佳·積分都由红. 半球部；及配晉氣 匕括.内壁面具有光擴散反射層的 ”、、塞住該半球部的開口的平面鏡。 更以此為佳：兮楚彳 ^ ^ ^ 人 设置於該平面鏡上的該半球部 的實質曲率中心； 第2孔設置於通過設置該第丨孔的位 置之该平面鏡的法線和該半球部的交黑卜 更以此為佳：争念人 3用以限制該對象物的發光面露出 於該積分部的内部处η ^ 〇 二間的同狀之限制部’該限制部，和該 第2孔連通且露出於 ;該積为部的内部空間的面上具有反射 層0 5 201042242 更以此為佳：限制部係構成為，使得露出於該積分部 的内部空間的該對象物的發光面的長邊方向上的長度，為 該半球部的半徑的5/6以下。 或者，以此為佳：積分部句# . θ p匕括.内壁面具有光擴散反 射層之球體部；以及兮署切^ # ° 對象物的發光面和該觀測窗 之間的擋板；該全光束測定奘罟# 术j疋裝置更包括筒狀的第1及第2 2部’用以限制露出於該積分部的内部空間的該對象物 的發光面；該第1限制部’和該第1孔連通，並且，於露 出該積分部的内部空間之面具有反射層；該第2限制部， 和該第2孔連通，並且，於露 露出5玄積分部的内部空間之面 具有反射層。 以此為佳··更包括至少1個 访体\ 们又先部’用以測定存在於 h積为部的外部的該對象物 考^ 豕物的發先面發出的光的照度；該 處理部，依據上述至少彳 為 x ^ 又先。卩測得的照度測定結果， 如正該對象物之發光特性的變 初错以异出該全光束。 或者，相對移動機構，使該對鱼礼i >fiL W ^ 對象物和該積分部的相對 置Y進式變化，每次變化的 处門嘈“ ^㈣距離相同於該積分部的内部 二間露出的該對象物的發光 却⑽ J仗透方向之長度；該處理 。，冬於該對象和和該積分部 g , U的相對位置測定之照度 累加，藉此以算出上述全光束。 依據本發明另一例之全光束測 . rl^. S* -k 方去，其包括：將棒 X先體之對象物裝在測定裝 含.穑八加^ 衣罝之步驟，該測定裝置包 積刀口 P，其具有讓上述對象 及第？a . 長邊方向貫穿的第1 及弟2孔，以及測定部，透過設 夏&不同於該積分部的該 201042242 第1及第2孔的位置之觀測窗’泪[定該積分部内的照度； 在該對象物貫穿該積分部的狀態下，使該對象物和該積分 部相對移動，以使得該對象物實際之所有發光面於該積分 部的内部空間露出的步驟；在複數個相對位置上使用該測 定部測定照度的步驟；依據在該複數個相對位置上測得之 複數個照度，舁出該對象物發出的全光束的步驟。 本發明之上述及其他的目的、特徵、例子及優點，可 參照附圖並由後述詳細說明而理解。 【實施方式】 茲參照圖式詳細說明本發明實施型態。另外，圖中之 同一或相當的部分，係標以同一符號且不重複說明。 [實施型態1 ] 參照第1圖，本實施型態之全光束測定裝置i 〇〇包括 配置於框40的本體20。本體20係構成為可裝設棒狀發光 〇 體之測定對象的光源（以下亦稱之為「對象物0BJ」）。再 者，在以下之說明中，係例示直管螢光燈以作為棒狀發光 體之典型例，但使用本發明之全光束測定裝置i00測定全 光束的對象物，並不限於直管螢光燈。例如，也可以適用 於在長邊方向配置複數個如發光二極體（Light Emitting Diode ’ LED)等的發光元件的光源等。 具體言之，本體20具有點燈治具11及ι2。點燈治具 11及1 2，係對向配置於相距特定距離的位置，並且，其各 個端面上，設置用以提供電力給直管螢光燈的連接器。因 201042242 此，當對象物謝之直管瑩光燈裝在點燈治具^點燈治 具12之間時，就開始對該直管螢光燈供電。再者，為了能 夠自由裝設複數的尺寸(長度)的直管螢光燈，也可以二 用以變更點燈治具U和點燈治具12之間的距離的機構。 具體言之’點燈治具11和點燈治* 12中至少一者設置汽 紅等的伸縮機構，對應於對象物術的長度而使㈣機^ 動作，藉此，能夠針對複數長度的直管f光燈測定盆 束。 全光束測定裝置100更包括：積分部1〇，其具有讓對 象物謝於長邊方向貫穿的一對試料孔（第2圖之符號^及 4);及測定器2卜其透過設置於不同於積分部μ 對試料孔的位置之觀測窗(第2圖之符號5) 二 10内的照度。 刀1 參照第2圖’說明積分部10及測定器21的詳細構成。 如第2圖所示，依據本實施型態的積分部1〇 光積分器。具體言之，積分部10包括：内 呈古球型的 反射層U的半球部丨，·及配置為塞住半球；=光擴散 丨·！的開口的圓 板狀的平面鏡2。典型的光擴散反射層u為將疏酸鋇或 PTFE(polytetrafluoroethylene)等的弁撼 、二 布或吹附等方式而形成。平面鏡2配w Α 寸错由塗 的實質曲率中Ή且塞住半球部！的心部=半球部1 部^的實質曲率中^係為以半球部 的中心為代表。 田又4何學 再者’在平面鏡2上，形成用以 Μ 1的内部空 201042242 間和半球部1外部間 置於半⑽9 試料孔3。該試料孔3,係設 鏡2上的半球部1的實質曲率中心。再者，在半 :表部1上之與試料孔3相對向的位置上，《用以將半球 邛1的内部空間和半球, 牛衣邛i的外部之間連通的試料孔4。 具體言之’該試料孔4传勃_苗# 保叹置於通過設置試料孔3的位 之平面鏡2的法線和半球部i的交點。 ❹ ❹ 依據本實施型態的積分部10,使得配置於其内部空間 的對象物0BJ發出的光束在其内壁面重複反射。藉由此重 複反射，使積分部Π)内壁面的照度均―。再者，此經過均 一化的照度係、為，與對象物_發出的（部分）全光束成比 例之值即’即使是半球型的積分部丨0，也能夠發揮和 習知的積分球同樣的功能。其理由如下述。 配置於積分部10的内部空間之對象物0BJ發出的光束 P伤的光束入射到半球部丨的内壁面（光擴散反射層 h)’並在此擴散反射。另—方面，殘餘的光束入射到平面 鏡2’並在此鏡面反射。此時，平面鏡2,以光學方式形成 半球部i的内壁面的虛像。如上述，平面謂配置為通 ，半球部1的實質曲率中心〇,因此，在平面鏡2和半球 郤1之間，形成具有一定曲率的半球空間。因此，藉由半 求邛1的内壁面（光擴散反射層la)所定義的半球空間内的 實像和平面鏡2所形成之虛像，能夠得到和使用實質的球 體的積分球時相等當的照度分佈。換言之，可以當作是好 像在球體的積分球内，彼此對稱配置之2個對象物〇BJ分 引發出光束，因此，依據本實施型態的半球型的積分部1 〇， 9 201042242 具有和習知的積分球相同的光積分器的功能。 因此’上述的「半球部i的實質曲率申心〇」為，除 了半球部1的整個的曲率中心的情況之外，還包含了能夠 得到和如上述之使用球體的積分球實質相當的照度分佈的 附近位置之概念。 在平面鏡2設置了用以測定積分部10的内壁面照度的 觀測窗5。觀測窗5，使半球部i的内部空間和半球部工的 外部連通，並且，在半球部i的外側，設有取出耦合器24 以和觀測窗5連通。觀測窗5係觀測包含於特定的視野角 的範圍之半球部1的内壁面的照度，並透過取出耦合哭24 取出此觀測到的照度所對應的光。再者，透過取出耦合器 24從積分部10取出的光，通過光纖23而向測定器η傳 遞。 ^ 另外，可以將觀測窗5設在半球部】的任一個位置。 但是，在此情況下，必須要讓對象物〇BJ沒有直接置入觀 測窗5的視野範圍中。 測定器21，測定透過光纖23輸入的光之照度，並將 其輪出傳給處理部50。再者，可以採用檢測測定波長範圍 全體的照度之測定器作為測定器21，或者，也可以採用能 夠檢測各波長的照度之分光型的測定器。在採用分光型的 測定器的情況下，能夠測定考慮了對象物〇BJ的波長依 性之全光束。 、又子 再者，積分部10的内部空間中，設有遮光筒6，其相 當於用以限制對象物OBJ的發光面（發光部）於積分部丨〇的 10 201042242 :間露出的部分之限制部。遮光筒6，其筒内和試料 、通，並且’露出於積分部ίο的内部空間的面上且有 :射層。更具體言之，遮光筒6，其外表面被加工為鏡面， 雜=構成為其内徑從試料孔4向平面鏡2緩緩變細的圓 錐口狀。此係為了降低，遮光筒6的筒内部分，亦即 在積分部10的内部空間露出的部分的光束漏到積分部10 的内部空間中。Α去,^ 1 1 υ 再者，也可以採用能夠降低未 Ο Ο 的内部空間露出的部分之光束的漏入之其他的替代; 遮^筒6係為，使對象物QB:的發光面（發光部）配置 在積分部10的内部光·門由认者你 円°卩二間内的貫像、和其内部空間所對應的 虛像所形成的光學的球&办 叫 字的球狀工間的中心部。亦即，遮光 使對象物OBJ的發井止 發先面（發先部）與積分部10的壁面及盆虛 像的壁面相距特定距離，以降低測定誤差。 ’、 :見第3圖’考慮對象物OBJ的發光面(發光部)接近 面的清况。例如’從對象物0BJ發出的光 束L1入射到半破邱1 J牛求。卩1的内壁面（光擴散反射層ia)時，里 一部份的擴散反射光L2 射到和對象物OB J不同的方向， 但疋，另一個擴散及勒伞τ 、 L3，再入射到對象物〇BJ。 物OBJ的表面，不艰於 了豕 ;吏用擴散反射材料或鏡面反射材 科’因此，再入射刭斜金 物物0BJ的擴散反射光L3，被對象 物OBJ吸收。亦即，斟彔 P對象物0BJ本身為影子，因此而產生 測定值的誤差。 U仏吨座玍 因此’在本實施型離中 對象物謝實質上離開;;li猎由使用遮光冑6,能夠使 汗積π空間的壁面，藉此，能夠降低 11 201042242 因為如上述之斟金 物OBJ本身的光吸收而造成測定誤差。 益」者’於積分部1〇的内部空間露出的對象物謝的光 發面的長邊方向的長 ， ）灾度’構成為半球部1的半徑之5 / 6以 下為佳。亦即，# 右使用第2圖所示對象物〇BJ的露出距離

La、及遮光筒6的實暂 耳貝長度Lb來表現，即為適當地設計對 象物OB J的露ψ ^ 離La及遮光筒6的長度Lb等，以使得 La/(La + Lb)g 5/6 較佳。 再次參見第1圖，全光束測定裝置100更包含驅動台 22 :其係用以使積分部10及測定器21沿著移動執13移 ^ 積刀邛10及測定器21，係一體地固定在驅動 f 22上。驅動台22依據後述之處理部50發出的指令，沿 著：：軌13的軸方向移動。更具體言之，使積分部i。及 測定器21，沿著對象物〇BJ裝在點燈治具"及η時的該 對象物OBJ的長邊方南兹缸十日

運万向移動。亦即，用以供電給對象物OBJ 的點燈治具1 ] ；5 ! 9 ,, , 形成於通過設於積分部1 〇的一對試 料孔的中心之直線上將對象物_裝在點燈治具11及 12的情況下’點燈治具u、對象物〇bj及點燈治具以配 置於一直線上。

+办亦卩驅動口 22及移動軌13相當於，在使對象物OBJ 貫穿積分部10的狀態下，使對象物OBJ和積分部i。相對 移動的相對移動機構。 依據本實施型態的全光束測定裝置i 〇〇中，使得對象 物OBJ實際上所有的發光面於積分部）。的内部空間露出， 使對象物’和積分部10相對移動的情況下，依據由測定 12 201042242 器21測定的照度，算出對象 將對象物0 B J配置為從試料孔 出的王先束。亦即， 部10之後，洌定董…“ 5到试料孔4而貫穿積分 部W 象物0Bj位於積分部10之内部空間的 邛/刀之先束，繼之走 间的 同樣地測定對象物w二積對=象物0BJ相對移動， 束。如此-來，•由將㈣ p10内部空間的部分之光 動而測定之光束？，— 旳毛光面適田地依序移 Ο Ο 八U 糟此算出對象物OBJ的全光束。 =測定震置刚’更包含處理部 為負責關於上述的全氺击+、a, 你 一 d夂的各種控制及演算處理的

为文向 S ，可* VI Μ: .ΐ L J 精由在泛用的個人電腦中安裝用以 k仏依據本實施型態之全 都ςη L ^ 九束測疋方法之程式而提供處理 :。此情況中的硬體構成係為f知因此在此不詳細說 二二者，也可以用硬體來實現處理部50所提供的功能的 全部或一部份。 六全光束測定袭置100更包含受光部25、26,用以測定 存在於積分部Π)的外部的對象物，的發光面發出的光的 輝度。典型的受光冑25、26由光二極體或⑽（charge e_ledDeVlee)等構成’該敎得到的輝度值被傳送到處 P 50處理。p 5〇依據該受光部μ、μ的輝度測定結果， 修正對象物0BJ之發光特性的變動，藉以算出來自對象物 OBJ的全光束。 亦P依據本果施型態的全光束測定裝置中，對象物 謝的—部份被包在積分部10的内部，因此，該内包部分 ‘、’、特丨生心化。因此，對象物OBJ的最冷點溫度變動（一 13 201042242 般而言是上升），來自對象物OBJ的光束可能會減少。在 此，在直官螢光燈等的情況下，因為最冷點溫度變動的發 光特性的變動，能夠視為是表現於發光面全體，因此，藉

由監視對象物OBJ的輝度的變動，就能夠檢測出對象物〇BJ 的發光特性的變動。因此，依據此輝度變動，來修正測定 的照度（和光束成比例），藉此能夠以高精密度來測定對象 物OBJ的全光束。 再者，依據本實施型態的全光束測定裝置1〇〇，在各 個相對位置上，只要沒有外亂光侵入到積分部的内部空 間及光束從積分部10的内部空間漏出，就能夠正確地測定 對象物OBJ的全光束’因此，不一定需要使對象物術從 外部遮敝(遮光）。但是’如上述之修正對象物謝之發光 特性的變動的情況下，在受光部25、26必須要以更高精密 度測定職’因此，採用能夠將對象物〇BJ從外部空間遮 光的構成作為框40較佳。 、繼之，參見第4及5圖說明依據本實施型態之全光束 測定裝置甲的測定程序。 首先’如第4圖所示，將斟參私壯士 村對象物OB J裝在點燈治呈J j 及點燈治具12之間，並將1 &古 ^ "

將其點冗。繼之，等待對象物0BJ 發出的光穩定。在此初期壯能士 』狀態中，積分部10設定在其内邱 二間僅有點燈治具11露出的位置。 對象物OBJ發出的夯击接^ 的九束穩定之後，藉由受光部25、 分別測定對象物〇Bj的輝声 蜱度將泫測定結果儲存為稃定# 的輝度（基準值）。繼之，開锶疋時 開始對象物OBJ發出的全光束的 201042242 測定。 亦即’藉由從處理部5〇對酿私Α 0 对驅動台22發出指令，使對 象物OBJ和積分部1 〇的相對位置步進★ 17進式變化，每次變化的 距離相同於積分部1 0的内部空n # 1二間路出的對象物OBJ的發光 面的長邊方向之長度（第2圖所示夕言山 口所不之路出距離La)。因此， 如第5圖所示，積分部1 〇步進式士 進式地攸紙面左側向紙面右側 移動。 Ο Ο 繼之，在各個相對位置，由測 疋态11測定積分部10 内的度。此時，依序移動積分邻1n 双丄 檟“"0 ’使得對象物OBJ的 發先面於積分部！0的㈣空間適當地露出。換 給予驅動台22指令，以使得將測 口 " 對象物OBJ的露出面相接起來時， 级丄 和對象物OBJ所具有的 卷先面的全體實質上一致。繼之， 八却！ n 错由將對象物OB J和積 刀口P 10的各個相對位置上測定 對象物_發出的全光束。 ’、、、度累加，而算出從 再者，依據由測定器21測定

發出的入止击u * …度而异出對象物OBJ 和測定$ ”要事先使用同樣的積分部10 邓疋益21測定產生已知光束 知光束釦制…〃曰 下旱先/原，以取得從該已 I、 仔到的照度之關係算出的換”(換笪孫 數）。亦即，事弁敌 式（換异係 換算係數，依#、sf + ^ 禊异係數，使用該 双依據測定得到的照度而曾 如卜、+、 ^出對象物OBJ的光束。 上述，蜊定器21測定積分 光部2 5、？ β ., 内的照度時，使受 26測定對象物0BJ的輝度。 ^ 15 1 5、2 6測得的裡 、，依據受光部 J伃的輝度，修正對應的測定哭 、J疋态21的測定結果（和 201042242 對象物OBJ之光束成比例的照度）。再者，受光部 之設置係為了 ’依據積分部1〇的位置會有各受5 26 野範圍中不含對象物〇BJ而包含積分部i 〇的情 ,.L (|i ,y _ 即使在 此It况下，也能夠正確地取得對象物〇bj的輝度。再者 ”要疋不丈積分部i 〇位置之影響，能夠適當地測 OBJ發出的輝度之構成，受光部的數量並不以2個為限。 第6圖顯示依據本發明實施型態i之處理部5〇义。 構造之示意圖。參見第6圖，處理部5。，以、控:; 測定之照度E和由受光部25及/或26測定之 ：： 入，而輸出對象物0BJ的全光束①。更且 為輸 5〇其㈣構造包含：指令產生謂、乘法器；部 累積益502、修正係數算出部5〇6。 指令產生部5 0 〇，產味用w & ^ Λ 之門…， 產生用以使對象物〇BJ和積分部10 之間的相對位置步進式變化的移動指令， 22輪出。再者，此移動指令 Μ動台 對位置的資訊，亦可以為表二 移動軌13上的絕 務… 為表不驅動台22的各步進移動中的 移動置（位置偏移）的資訊。 甲的 乘法器5 01為，將由制中„„ 0 以攸 1測定的照度Ε，乘以用 Μ修正對象物0BJ之發 人以用 之發先特性的變動的修正係數]U。再 者，乘法器501，依據指令 再 ,、，u ΰ U 0發出的觸發，叙你 以檢知對象物〇Bj和積分 動作 且节t 積“ 1〇的相對位置變化的時間。而 且’乘法H训，料㈣修正後 ，而 積器5〇2。 xUlxE)傳送到累 累積器502,將從乘法器5〇1輸出的修正後的照度累 201042242 加。再者，累積器502,係在從乘法器5〇1有任何輪出時 更’、體5之，累積器5〇2包含加法器5〇3和暫存器 5〇4 °暫存器504，在測定開始時接㈣重設信號而將其值 歸零，並且，儲存測定中的累加值。加法器5〇3，當乘法 ⑽輸出新的修正後的照度時，從暫存器5。4中棟取到 目刚為止的累加值’並將該新輸出的修正後的照度加算之 後’再將加算後的累加值儲存於暫存器中。 Ο Ο 乘法器505’將儲存於暫存器5〇4的（修正後的）照度 的累加值乘以事先取得的換算係數Κ2，藉此，算出對象物 OBJ的全光束φ。如上 上所迷換异係數K2係使用產生已知 f束的標準光源而取得。再者’在對象物OBJ測定後，再 算出該換算係數K2亦可。 變勤^正：數算出冑5〇6 ’係算出用以修正之發光特性的 ，之換舁係數κι。具體言之’修正係數算出部5〇6包括： 選取器507'除法器5〇8、暫存器5〇9。選取器…，將受 1部中：及/或26測定之輝度輸出至除法器1 2 3°4及暫存器 任一方。亦即，在初期狀態中，將由受光部25及/ ^6測定之輝度儲存到暫存器5〇9中，在這之後的測定 俜二：定得到的輝度輸出到除法1 5〇8。暫存器1。5 係儲存對象物0BJ的穩定時 17 1 。4,和測……度£的測定二 除法器 2 的測疋同時，將儲存於暫存界 3 度（基準值）LS除以受光部25及/或26測定之輝度 4 ，糟此算出換算係數K1(蝴。再者，也可以 5 器’用以從由受光部25所測定之輝度和由受光部Μ所測 201042242 =之輝度中，其中值較大者，以使得在即使受 輝度。 干擾^ ’也能夠取得正確的 第7圖顯示依據本發明實施型態】之全光束測定方法 : 之流程圖。參見第7圖，首先，處理部5。取得 用於將由敎器21測得之照度換算為對象物_的輝戶之 換算係數（步驟S2)。旦體+夕. X之 處理部5〇,讀取事先登錄 的換异係數、或敦促使用者輸入換算係數。或者，如 迷’使用標準光源來算出換算係數亦可。 繼之，使用者將欲測定全光束的對象物⑽ :具11及點燈治具12之間(步叫等候直到來自對； 物_的光束穩定為止（步驟S6)。再者，積分部1〇位於 初期位置(第4圖所示之只有點燈治具U在其内部空間露 出的位置）。等待結束之後，使用者對處理部 開始指令。 』疋 處理部50，當其接收到使用者下達的測定開始指令 時’將受光部25及/或26測定之輝度儲存作為對象物㈣ 的穩定時的輝度（基準值）Ls(步驟S8)。 繼之，處理部50,對驅動台22下達移動指令，將積 分部1。移動到使得對象物0BJ的發光面從開始端到特定距 離之處於積分部1G的内部空間露出的位置（步驟si〇)。繼 之’處理冑50取得由測定器21測定得到的照度(步驟 S12)’而且，取得由受光部25及⑶測定得到的輝度（步驟 叫）。繼之，處理部5〇 ’從步驟叫中取得的輝度和步驟 18 201042242 S8中取付的輝度（基準值）Ls ^ ^ τ ... 出 L 正係數 Κ1 (步驟 si 6)， 依據該修正係數K1，修正在步 此修正後的照度儲存料件的照度，並將 縣作為初期的累加值（步驟S18)。 a繼之’處理部50對驅動台22下達移動指令，使積分 部10移動於積分部丨0的内部 L二从e I 间路出的對象物OB J的發 光面的長邊方向之長度（第2 Q9n, ^ 圖所不路出距離La)(步驟 S20)。繼之，處理部50取得由 心益z i列疋侍到的照度（步 Ο 〇 驟S22)，在取得由受光部25 列疋之輝度（步驟S24)。 繼之’處理部5G從步驟S24 t取得的輝度和步驟％中取 得的輝度（基準值）Ls算出修正係數K1(步驟s26)。處理部 50依據該修正係數κΐ，修正在步驟ς99 隹步驟S22中取得的照度，並 將此修正後的照度和目前為止的 π系加值加异，並儲存作為 新的累加值（步驟S28)。 再者，處理部50判斷對象物〇BJ的發光面的終端是否 包含在積分部1〇的内部空間中(步驟S3〇)。亦即，判斷對 象物OBJ具有的所有發光面是否已經都完成在積分部^的 内部空間之露出。在對象物0BJ的發光面的終端未包含於 積分部Π的内部空間的情況下（在步驟伽中為N〇的的情 況）’再次重複步驟S20以下之處理。 月 相對於此，在對象物0BJ的發光面的終端包含於積分 部1 〇的内部空間的情況下（在步驟S3〇中為yes的的情 況）’處理部50判斷對象物0BJ具有的所有發光面都已經 完成測定，將用以將照度換算成輝度的換算係數乘以目= 時點的累加值，並輸出作為對象物〇BJ的全光束（步驟 19 201042242 S32)。繼之，處理結束。 依據本發明的實施型態！，藉由採用半徑3〇c 積分部，能夠以實用上充分的精度測定全光束。因此，忙 據本實施型態的全光束測定裝置所佔的長度， ： 對象物的長邊方向的長度加上積分部的半徑在 m)及附屬機器的長度左右。亦即，不需要採_ 將整個對象物包在其内的相對較大的積分器，㈣知的;; 成相比’能夠使光積分器的尺寸小到1/51/1〇。而且 為是使用半球型的積分部，即使是同樣半#，相較於球形 的積分裔’可以使全體的尺寸達1/2。因此，能夠實現更 小巧的全光束測定裝置。 π依據本發明的實施型態卜因為是採用半球型的積分 益，所以能夠在對象物0BJ的光束不會直接入射的位置* 置觀測窗。因此’從對象物0BJ的發光面到觀測窗之間^ 不需要設置遮光板（標板）。亦即，當設置此«板時，光 吸收的影響相對較大而對測定精度產生不良料，但依據 本實施型態的全光束測定裝置中，不需要設置此種擋板。 防止了積分部中的積分效率低下，其結果為，能夠 提南全光束的測定精度。 [第2實施型態] 错在上述實施型態1中，係例示採用半球型的積分部之 冓成’但亦可採用全球型的積分部。以下，例示採㈣全 球型的積分部之構成。依據本發明的實施型態2的全光束 測定裝置的概略構成1 了積分部的構成之外，和依據實 201042242 施型態！的全光束測定裳置100有相同的構成，因此，不 重複詳細說明。 第8圖顯示依據發明實施型態2之積分冑3〇及測定部 21之更詳細構成的示意圖。參見第8圖，依據本實施型態 的積分部30,基本上係由内壁面具有光擴散反射層仏的 全球部構成。此光擴散反射層…，和依據上述本發明 的實施型態1的光擴散反射層la 一樣，係為將硫酸鎖或 〇 PTFE(PQlytetraf luQrQethyiene)等的光擴散材料藉由塗 布或吹附等方式而形成。全球部31，設有用以使對象物_ 的長邊方向貫通的一對試料孔27及28。而且，在全球部 31上與一對試料孔27及以不同的位置上設有觀測窗29。 典型的試料孔27及28,係配置於通過全球部31的内面中 心點的直線和全球部31的各交點，而且，觀測窗29配置 於，通過全球部31的内面中心點而且和試料孔27及28所 載之直線垂直相交的直線和全球部31的交點。 0 、*依據本實施型態的全光束測定裝置，更包含透過該觀 測窗29而測定積分部3〇内的照度之測定器2卜測定器21 的構成和上述實施型態1相同，因此不重複詳細說明。另 外、在積分部30的内部空間中，設有設置於對象物〇bj的 發光面和觀測窗29之間的遮光板（擋板）22。此擋板22, 為了提向測定精度，降低來自對象物GBJ光束直接透過觀 測窗29入射到測定器21。 再者，在積分部3〇的内部空間中，配置有遮光筒6 ’其係為用以限制該對象物OBJ的發光面露出於積分 21 201042242 、勺内。p工間的限制部。遮光筒6A，其筒内和試料孔 27連通，並且在露出積分部3G的内部空間的面具有反射 0同‘地’遮光筒6β ’其筒内和試料孔28連通，並且 在路出積刀。ρ 30❺内部空間的面具有反射層。更且體卞 之：遮光筒6Α及⑽其外表面都加工為鏡面，並且'、其： 構成為其内徑從試料孔27或28向中心部緩緩變細的圓錐 :狀。此係為了降低’遮光筒筒内部分亦即 二在：刀“Ο的内部空間露出的部分的光束漏到積分 :30的内部空間中。再者，也可以採用能夠降低未在積分 部 3 0 的内部* pq *山 二01路出的部分之光束的漏入之其他的替代 手段。 y自八

之所以要配置此種遮光筒“及6B，係如上述 中說明的同揭If B 門二”，使對象物OBJ與積分空間的壁 貝貝上刀開，以降低因卑# 氐口為對象物OBJ本身的光吸 的測定誤差。依據本實施型態的全光束測定裝置 積分部3。的内空間露出的對象物〇BJ的發 Θ 之長度為，全球部31的直徑之5/6以下之構成較佳邊方向 使用本貫施型態的全光束測定裝置的測定程 構造、處理程床莖，心一 佐制 重複詳細說明 述貫施型…的相同，因此不 依據此實施型態2,因為能夠採用直控比 =向的長度短的積分部，所以不需要像習知的全光庚 疋裝置，把對象物的全體都包含在其内之大型八挪 因此’能夠實現更小巧的全光束敎裝置。、刀球。 201042242 [其他型態] 上述之實施型態丨及2中之例 、 化對象\ 、二為’以步進方式變 化對象物和積分部的相對位置 内的照度之構成，作θ t 各相對位置測定積分部 置連續變化• 可使對象物和積分部的相對位 置連續變化，並連續地測定積分 結果，來束。亦即，在使㈣此測定 位置連續# p t對象物和積分部的相對 Ο Ο J連續變化時，將連續測定得到的照度積分，再以相對 :度相關的係數將此照度的積分結果規格化，界來自對象 物的全光束。 木自對象 在上述之實施型態！及2中之例示係為，將對象物OB】 -而使積分部移動之構成，但是，也可以將積分 而將對象物OBJ移動。 上述之實施型態i及2中之例示係為，依據對象物_ 、輝度修正對象物〇BJ之發光特性的變動之較佳構成，但 在溫度依存性低的發光體等的全光束測定的情況下，也可 以不一定要執行此種修正。 以上雖已詳細說明本發明，但此僅為例示，並非作為 限制，本發明的精神及範圍係為專利申請範圍所記载者。 【圖式簡單說明】 第1圖顯示依據本發明實施型態1的全光束測定裝置 之概略構成的示意圖。 第2圖顯示第1圖所示積分部及測定部之更詳細構成 的示意圖。 23 201042242 第3圖顯示說明第2圖所示限制部之降低測定誤差的 效果之示意圖。 第4圖及第5圖為說明依據本發明實施型態1的全光 束測定裝置中的測定裎序的圖。 第6圖顯不依據本發明實施型態1之處理部的控制構 造之示意圖。 第7圖顯示依據本發明實施型態1之全光束測定方法 的處理程序之流程圖。 第8圖顯示依據發明實施型態2之積分部及測定部之 更詳細構成的示意圖。 【主要元件符號說明】 1〜半球部； 2〜平面鏡； 5 ' 2 9〜觀測窗； H 3 0〜積分部； 13〜移動執； 21 ~測定器； 22〜擋板； 24〜取出輛合器； 31~全球部； 5 0〜處理部； 500〜指令產生部； 502〜累積器； la、31&~光擴散反射層； 3、4、27、28〜試料孔； 6、6A、6B〜遮光筒； 11、1 2〜點燈治具； 20〜本體； 22〜驅動台； 23〜光纖； 25、26〜受光部； 40〜框； 1 0 0〜全光束測定裝置； 50卜乘法器； 5 0 3〜加法器； 201042242

504〜暫存器； 505〜乘法器； 506〜修正係數算出部； 507〜選取器； 508〜除法器； 508〜除法器； 509〜暫存器； OBJ〜對象物。 25

Claims (1)

1. 201042242 七、申請專利範圍： 1 · 一種全光束測定裳 本體，其構成為可裝 積分部，其具有讓上 及第2孔； 置’其包括： 設棒狀發光體之對象物； 述對象物於長邊方向貫穿的 第1 相對移動機構’在兮料务a 使該對象物和該積分部_移^穿該積分部的狀態下’ 1疋邠透過叹置於不同於該 孔的位置之觀測窗’測定該積分部内的照度广及第2 :處理二，在使該對象物和該積分部相對移動，以使得 物Li的所有發光面露出於該積分部的内部空間的 I::束依據由該測定部測得的照度，算出該對象物放出 1項所述之全光束測定裝置，該 2.如申請專利範圍第 積分部包括： 内壁面具有光擴散反射層的半球部；及 配置為塞住該半球部的開口的平面鏡。 3·如申請專利範圍帛2項所述之全光束測定裝置，立 中： ’、 該第1孔設置於該平面鏡上的該半球部的實質曲率中 心；及 第2孔設置於通過設置該第1孔的位置之該平面鏡的 法線和該半球部的交點。 4.如申請專利範圍第3項所述之全光束測定裳置，更 26 201042242 W用以限制該對象物的發光 間的筒狀之限制,…出於該積刀4的内部空 兮… 制部，和該第2孔連通且露出於 該積分部的内部空間的面上具有反射層。 *出於 5. 如申凊專利範圍第4 限制部係槿士 * 4 <王尤束测疋裝置，該 '' ”、，使得露出於該積分部的内部*門Μ 象物的發光面的長邊方Α μ从 1的内h間的該對 5/6以下。 。@長度’為該半球部的半徑的 Ο 6. 如申請專利範圍第j項所述之 積分部包括： 尤束測疋裴置，該 内壁面具有光擴散反射層之球體部；以及 =該對象物的發光面和該觀測窗之 、該王光束測定裝置更包括筒狀的第， 用以限制露出於$ 2限制部， 面；出於该積分部的内部空間的該對象物的發光 Ο 該第1限制部’和該第1孔連通，並且 分部的内部空間之面具有反射層，· ’於露出該積 、该第2限制部’和該第2孔連通，並且 *部的内部空間之面具有反射層。 ’於露出該積 7’如申請專利範圍帛1〜6項中任通 測定裝置’更包括至幻個受光部，用二述之全光束 分部的外部的哕對意 測疋存在於該積 ㈣對象物的發光面發出的 積 該處理部，依據上述至 又’ 結果，修正該對象铷+ & 先。卩硎得的輝度測定 束。 冑象物之發光特性的變動，藉以算出該二 2Ί 201042242 8·如申請專利範圍第1〜6項中任__ 測定裝置，該相對移動機構，使該對象二==光束 對位置步進式變化’每次變化的距離刀邛的相 』％遠積分邮& + 部空間露出的該對象物的發光面的長邊方向之長/的内 該處理部，將於該對象和和該積分部各 測定之照度累加，藉此以算出上述全光東。 相對位置 9. 一種全光束測定方法，其包括： 將棒狀發光體之對象物裝在測定裝置之 裝置包含：積分部，其具有謓上# 乂驟，該測定 …及第2孔;二上::::::，穿 部的該第1及第2孔的位置之觀測窗：：積分 照度； Ζ積刀部内的 在該對象物貫穿該積分部的狀態下 積分·*β dtB #4· # 4 便·該對象物和該 積竭對移動，以使得該對象物實際 積分部的内部空間露出的步驟； “面於該 2複數個相對位置上使用該測定部測定照度. 依據在該複數個相對位 ' 嗲料h 对位置上測侍之複數個照度，笪Φ '^對象物發出的全光束的步驟。 异出