TW201027088A - Signal testing apparatus - Google Patents

Description

201027088 Λ ‘ 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種訊號測試裝置，特別係關於一種主機介 . 面之訊號測試裝置。 【先前技術】

主機介面一般包括DVI(Digital Visual Interface，即數位視 頻)介面、VGA(Video Graphics Array，視頻圖形陣列)介面、USB (Universal Serial Bus，通用串列匯流排）介面及HDMI (扭妨

Definition Multimedia Interface，高清晰度多媒體介面）等。為 保證與該等主機介面相連之外部設備正常使用，需要對該等主 機介面之電氣性能進行訊號完整性測試。先前技術中對該等主 機介面之測試—般是將域介面待測引腳輸出之訊號引到一專 用之測試裝置上，利用探棒（比如示波^之兩健針）對主機 之待測引腳輸出之訊號進行量測。由於在測試過程中需要 更改主機介面制⑽輸出之峨，比如更改主機職介面 肋纽監視R崎度，故需要重拔測試裝置 及i視盗與VGA介面之連 機介面蛊探榛之#用.八複插技浪費時間、減少了主 伽魅 及容轉致探棒與主機介面之測 武點接觸不良*影響測試精度等。 【發明内容】 201027088 一種訊號測試裝置，包括： 複數二選一開關，每一二選一開關包括一靜態觸點、一第 . 一動態觸點及一第二動態觸點，該等二選一開關之靜態觸點對 . 應與一主機介面之複數待測引腳相連，該等二選一開關之第一 動態觸點對應與一外設介面之複數引腳相連，該主機介面之複 數待測引腳對應適配於該外設介面之複數引腳； 一多選一開關’包括複數動態觸點及—靜態觸點，該多選 ❹-開關之每-動態觸點分別與-二選—開關之第二動態觸點對 應相連；以及 -測試端’包括-第-職點及―第二測試點，該第一測 試點與該多選-關之靜_點树，該第二職點接地； 當每-二選-_之靜態觸點與其第—動態觸點相連時， 該主機介面之制引哺料設介^__連接；當每一 ❿ 二選一開關之靜態繼與其第二動_點彳目耕，該主機介面 f 一待測引腳分別與該多選—_之—動態觸闕應相連， =舰多選—開關之靜態觸點選擇性地與其-動態觸點相連 來測試該线介©之對應侧⑽如之訊號。 祕訊，m裝置透過該等H相控制該线介面與 ^ = 梅選i __祖機介面之一 寺f丨腳輸出之峨，戦了測处置與外部設備之重複插拔 辑在測試端上之重複插拔，延長主機介面及示波 器探針之使用哥命，縮短測試時間，提古、則1於产 201027088 '【實施方式】 請參閱圖1，本發明訊號測試裴置之較佳實施方式包括一 主機介面連接器、-外設介面連接器·、―第—開關S1、 第一開關S2、-第三開關S3、—第四開關S4、一第五開關 S5第一電阻R1、一第二電阻R2、-第三電阻R3、-第四 電阻R4以及一測試端η。 該主機介面連接器100用於連接一主機介面1〇1。該外設 ”面連接ϋ 2〇〇用於連接與該主機介面1〇1相適配之一外部設 備之介面（簡稱外設介面）肌。本實施例中，該主機介面連接 器100有八個引腳m〜m，其分別對應與該制主機介面1〇1 之八個引腳似〜⑽相連。該外設介面連接器2〇〇有八個引腳 Τ11〜Τ18，其分別對應與該外設介面2〇1之八個引腳T21〜Τ28 相連。本實施例中該主機介面101之引腳P21〜P24為待測引

腳，即需要對該主機介面101之待測引腳p21〜P24進行訊號完 整性測試。 ~ 該第-關S1至第四開關S4均為-二選—開關，比如一 單刀雙擲開關。該第-_ S1至第四_ S4均包括—靜態觸 點1、一第一動態觸點2、一第二動態觸點3。該第五開關沾 為-多選-關’比如-單刀多擲_ ’本實施例中該第五開 關S5為一四選一開關，其包括一個靜態觸點a及四個動^ S1 點A1〜M。該第一開關S1至第四開關S4之靜態觸點工分:與 該主機介面連接器100之引腳P11〜P14相連。該第〜門刀胃” 6 201027088 w 至第四開關S4之第一動態觸點2分別與該外設介面連接器2〇〇 之引腳T11〜T14相連’該第一開關S1至第四開關54之第二動 、態觸點3分別與該第五開關S5之四個動態觸點A1〜A4相連。 • δ亥第一電阻R1至第四電阻R4之一端分別與該第一開關S1至 第四開關S4之第二動態觸點3相連，該第一電阻尺1至第四電 阻R4之另一端均接地。該第一電阻R1至第四電阻R4均為終 結電阻，用於防止該主機介面1〇1之待測引腳p2l〜p24輸出之 • 訊號反射。該第五開關S5之靜態觸點A與該測試端J1之一第 一測試點P1相連’該測試端J2之一第二測試點p2接地。該測 試端π為一具有兩針頭之插件。該待測主機介面1〇1不需要測 δ式之其他引腳P25〜P28與該外設介面2〇1之對應引腳T25〜T28 透過該主機介面連接器以及外設介面連接器2〇〇正常連接。 當该第一開關S1至第四開關S4之靜態觸點1均對應與其 第一動態觸點3相連時’談主機介面1〇1之待測引腳pa〜ρ24 ®之汛號傳輸給該第五開關S5之四個動態觸點Α1〜Α4 ,此時， 該第五開關S5之靜態觸點a選擇性地與其四個動態觸點 A1〜A4連接即可選擇測試該主機介面皿之待測引腳π〗〜p24 輸出之訊號，比如選擇測試該主機介面1〇1之待測引腳p21輸 出之訊號，則將該第五開關S5之靜態觸點A與第一動態觸點 A1連通。之後，將一示波器之正負探針分別連接到該測試端 π之第一測試點P1、第二測試點P2上以對該主機介面1〇1之 待測引腳P21輸出之訊號進行訊號完整性測試。 7 201027088 ‘ 當需要更改該主機介面101之待測引腳P21輸出之訊號， 比如透過更改-與該外設介面201相連之監視器之解析度從而 ，更改該主機介面101之待測引腳m輸出之訊號時，則將該第 .1關S1至第四開關S4之靜態觸點丄及第一動態觸點2連 通，從而使得該主機介面101之待測引腳p21〜p24祕主機介 面連接器100及外設介面連接器200與該外設介面2〇1之對應 引腳T21〜T24連接’此時’該主機介面1〇1與外設介面可 φ正常使用。之後’即可透過更改該監視器之解析度來改變該主 機介面1〇1之待測引腳P21輸出之訊號。完成更改之後，再將 該第-開關之靜態觸點1與其第二動態觸點3連通，此時即可 對該主機介面1G1之待測引腳P21輸出之職進行檢測。 前述訊號測試裝置透過該第―_ S1至第四_ S4控制 該主機介面1〇1與外設介面201之連接，並透過該第五開關沾 選擇測試該主機介面1〇1之一待測引腳輸出之訊號，避免了測 ❹試裝置與外部設備之重複減以及示波器探針麵試端几上 之重複插拔，延長主機介面101及示波器探針之使用壽命，縮 短測試時間’提高測試精度。 ▲綜上所述’本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申 4。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，舉凡熟悉本案 技，之人士’在爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應 涵蓋於以下之申請專利範圍内。 【圖式簡單說明】 201027088 二 • 圖1係本發明訊號測試裝置之較佳實施方式之電路圖。 【主要元件符號說明】 主機介面連接器 100 主機介面 101 外設介面連接器 200 外設介面 201 二選一開關 S1-S4 多選一開關 S5 電阻 R1-R4 測試端 J1 主機介面連接器引腳 P11-P18 主機介面引腳 P21-P28 外設介面連接器引腳 T11-T18 外設介面引腳 T21-T28 φ -選開關之靜態觸點1 二選一開關之動態觸點2、3 多選-開關之靜態觸點A 多選1關之動態觸點 A1-A4

Claims (1)

1. 201027088 ，七、申請專利範圍： 1· 一種訊號测試裝置，包括： • 複數二選一開關，每一二選一開關包括一靜態觸點、—第—動熊 ； 觸點及一第二動態觸點，該等二選一開關之靜態觸點對應與—主 機介面之複數待測弓丨腳相連，該等二選一開關之第—動態觸點對 應與一外設介面之複數引腳相連，該主機介面之複數待測弓丨腳對 應適配於該外設介面之複數引腳； | 一多選一開關，包括複數動態觸點及一靜態觸點，該多選一開關 之每一動態觸點分別與一二選一開關之第二動態觸點對應相 連；以及 須J ”式端，包括一第一測試點及一第二測試點，該第—測試點與 該多選一開關之靜態觸點相連，該第二測試點接地；

   虽每一二選一開關之靜態觸點與其第一動態觸點相連時，該主機 介面之待測引腳與該外設介面之引腳對應連接；當每—二選—開 關之靜態觸點與其第二動態觸點相連時，該主機介面之每—待測 引腳分別與該錢—咖之—_觸麟應相連，透過將該多選 開關之靜_點轉性地與其—動賴姉連來測試該主機、 )1面之對應待測引腳輪出之訊號。 2.如申睛專利範圍第β所述之訊細試裝置，其中每一二琴 開關之第二動_點還分別透過—電阻接地。 、 3·如申請專利賴第1销述之訊號戦裝置，其中該二、 開關之靜態觸點是透過—主機介面連接器與該主機介面之^ 201027088 引腳相連。 4.如申請專利範圍第i項所述之減測試奸，其巾該二選一 開關之第-動_點是透過—外設介面連接器_外設介面之 引腳相連。 5·如申請專利範圍第1項所述之訊號測試I置，其中該二選一 開關為單刀雙擲開關。

   6·如申請專利範圍第1項所述之訊號測試裝置，其中該多選 開關為單刀多擲開關。 、 7. 如申請翻範圍第1項所述之訊制題置，其巾該測試端 為一具有兩個針頭之插件，其兩個針頭分別作為該第一測試點 第二測試點。

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